透镜组节点和焦距的测定

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三种测量正负透镜焦距的方法及原理

三种测量正负透镜焦距的方法及原理

课程名称应用光学题目名称测量透镜焦距的方法及原理姓名潜力股测量透镜的方法及原理摘要:透镜是光学仪器中最基本的光学元件,而焦距是透镜的重要参量之一。

本文介绍了三种测量凸透镜和凹透镜焦距的实验方法,分别是自准直法,贝塞尔法,透镜成像公式法。

关键词:焦距自准直法贝塞尔法透镜成像公式法一:自准直法光线通过位于物镜焦平面的分划板后,经物镜形成平行光。

平行光被垂直于光轴的反射镜反射回来,再通过物镜后在焦平面上形成分划板标线像与标线重合。

1.1自准直法测凸透镜焦距1.1.1实验器材光学实验平台,光具座,白光源,物屏,待测凸透镜,全反射镜(平面镜)。

1.1.2实验原理当物屏处在凸透镜的焦平面时,它发出的光线通过透镜后将成为一束平行光。

若用与主光轴垂直的平面镜将此平行光反射回去,反射光再次通过透镜后仍会聚于透镜的焦平面上,其会聚点将在发光点相对于光轴的对称位置上。

1.1.3实验步骤(1)如图1-1,沿光具座装好各器件,并调至共轴;(2)将物屏置于白光源前约50毫米处,被测凸透镜和反射镜尽量靠近,并在物屏前后移动,观察物屏上像的变化情况,知道物屏上出现清晰,倒置的字像为止;图1-1 自准直法测量凸透镜焦距装置图1.2自准直法测凹透镜焦距1.2.1实验器材光学实验平台,光具座,白光源,物屏A ,凸透镜L1,待测凹透镜L2,全反射镜M (平面镜),像屏N 。

1.2.2实验步骤及原理凸透镜L1将物A 发出的光成像于像屏N ,将待测凹透镜L2置于L1与像屏N 之间,当移动L2并使其光心到屏N 的间距等于凹透镜L2的焦距时,光线经L2后将成为平行光束,这时,若在L2与N 之间放一平面镜M ,这束平行光被M 反射,将在物平面上成一与物A 等大倒立的实像。

因此,只要测量L2与N 之间的距离(ON),即是凹透镜L2的焦距。

图1-2 自准直法测量凹透镜焦距[1]二:贝塞尔法贝塞尔法也叫两次成像法,大意就是通过改变被测透镜的位置来确定透镜的焦距。

透镜组节点和焦距的测定

透镜组节点和焦距的测定
将光具组旋转ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ80此时原来的节点成为二实验原理二实验原理四透镜组节点位置和焦距的理论计算公式设两薄透镜的像方焦距分别为两透镜之间的距离为则透镜组的像方焦距可由下式求计算时注意是从第二透镜光心量起测定透镜组节点和焦距设计光路装置图三实验仪器三实验仪器型光学平台溴钨灯毫米尺物镜测节器测微目镜白屏若干光学支架和底座
先用白屏找到光具组后焦点 F '位置,再以光具 组主轴上某点为轴转动光具组(亦即改变入射光束 与主轴的夹角),并注意观察白屏上亮点的位置变 化,同时慢慢改变转轴的位置。这样,在光具组的 主轴上总可以找到一点,当以此点为轴转动光具组 时,焦点 F '的位置不变,即所成像无横向移动,这 点就是后节点N '。找到了 N ',后主点的位置就被确
定了,后焦距 f '亦可测出。将光具组旋转180°,此
时原来的节点 N ' 成为 N , 同上测量。
二、实验原理
(四)透镜组节点位置和焦距的理论计算公式
设两薄透镜的像方焦距分别为 f1' 和 f 2',两透镜之 间的距离为 d ,则透镜组的像方焦距 f '可由下式求
出:
f'
f1' f2' f1' f2' d
2、所有光学元件固定在光学支架上时,光学元件位 置要放正,固定螺丝不要旋得过紧,以防镜片受压 变形和损坏。实验完毕,应将所有光学元件取下, 按顺序放回光学附件盒中。
五、实验注意事项
3、溴钨灯长时间使用会发热,并且光强过高,因此 在调节光路过程中注意不要让头部靠的过近,眼睛 不要直视发光出射口。
4、实验完成后,不可调动仪器,要等老师检查完数 据并认可后才能关掉光源和电源。同时应把各光学 元件按顺序摆放好,养成良好的实验习惯。

透镜组节点和焦距的测定

透镜组节点和焦距的测定

透镜组节点和焦距的测定透镜组是由多个透镜组成的一个整体,可以用来调整光线的方向和焦距。

在光学研究和实验中,透镜组的节点和焦距是最基本的参数,因为它们直接影响着透镜组的光学性能和应用范围。

节点是指透镜组中心光线与光轴交点的位置,正常情况下,节点会在透镜组中心位置处,但是在实际使用中,由于透镜组的制造和安装误差,节点的位置可能会有偏差。

所以需要测定透镜组的节点位置,以确保透镜组的光学性能。

测定透镜组节点的方法有很多,其中比较常用的方法是借助投影仪或望远镜等光学仪器。

下面以利用望远镜测量透镜组节点为例进行简要介绍。

首先,将望远镜放在平稳的平台上,并将目镜准确对准测试透镜组。

然后在物镜的前方放置一张具有均匀刻度的板,例如显微镜中使用的刻度片,使其与透镜组垂直平面相交且和透镜组的光轴保持一定距离。

将透镜组沿着光轴方向移动,同时在目镜中观察光强分布的变化,当透镜组移动到节点处时,光强分布最小,即为节点位置。

测定透镜组焦距也是非常重要的,焦距是指透镜组光学系统的最大聚焦能力,也是透镜组应用的重要参数。

常用的测量方法有自准法、射线对准法和物像距法等。

以下以物像距法为例进行简单介绍。

物像距法的基本原理是利用准确测量物体和像的距离,计算透镜组的焦距。

首先选择一个清晰的物体,将其放在透镜组的一侧,以光轴垂直于透镜组为基准线,测量物体与光轴的距离(实物距离)。

然后将透镜组调整到合适的位置,使物体成像清晰且无畸变,测量像与透镜组光轴的距离(像距离)。

根据物像距离公式即可求得透镜组的焦距。

总之,测量透镜组节点和焦距是光学研究和实验中非常重要的基本工作,需要根据不同的情况和需求选择合适的测量方法和仪器设备,以保证测量结果的准确性和可靠性。

测量透镜及透镜组参数

测量透镜及透镜组参数

测量透镜及透镜组参数实验目的1.了解光学器件共轴的粗调方法2.掌薄透镜焦距的几种测量方法3.掌透镜组基点的测量方法实验基本原理按成像性质,透镜可分为两类,一类是会聚透镜也叫凸透镜;另一类是发散透镜也叫凹透镜.透镜表面有两个光学面,会聚透镜中心部分比边缘部分厚.发散透镜则相反,边缘部分比中心部分厚.一. 关于薄透镜成像规律的几个概念1.光心:光线通过透镜中心,其方向不改变,这个透镜的中心点称为光心,图1中O为光心.2.主轴:通过透镜的光心且与透镜相互垂直的轴称为透镜的主轴,透镜的主轴是唯一的.副轴:通过光心且与主轴成一小角度的轴称为副轴,副轴有无穷多个.3.焦点:平行于主轴的平行光线通过透镜折射后,会聚于一点,这一点称为透镜的焦点,凸透镜的焦点是实焦点,凹透镜的焦点是虚焦点.在透镜的两侧,各有一个焦点.分别称为透镜的第一焦点和第二焦点,如图1中和.4.焦平面:通过焦点与主轴垂直的平面称为透镜的焦平面.焦平面的性质:平行于任一副轴的平行光,通过透镜后会聚于这一副轴与焦平面的交点,这一交点对应于这一副轴的副焦点,焦平面就是由许许多多这样的副焦点构成的平面.在透镜的两侧各有一个焦平面,分别称为前焦平面和后焦平面.5.焦距:从光心到焦点的距离称为焦距.对于薄透镜来说,如果透镜两侧的介质相同,那么第一焦距和第二焦距相等. |f|=|f'|6.高斯公式透镜本身的厚度d比起其焦距f、物距s、像距s’的长度小得多的透镜叫薄透镜.薄透镜的成像公式即高斯公式为:(1)s ,,分别为物距、像距、透镜第二焦距.二.透镜组成像规律的几个概念两个以上透镜组成的系统称为透镜组,如果所有透镜的主轴都在同一直线上,则这组透镜称为共轴系统,而该直线称为系统的主光轴. 在成像过程中,前一个折射面所成的像是后一个折射面的物.为了方便地描述透镜组的成像规律,引入基点(即焦点、主点、节点),将系统看成一个整体来处理成像问题.只要能确定系统的基点,便可用公式法(高斯公式、牛顿公式)或作图法求解系统成像问题.1.主焦点、主焦平面如果平行光束从系统左边平行于主光轴入射(系统入射光的一边称为物空间),光束通过透镜组后,会聚在系统右侧(系统出射光一侧称为像空间)光轴上F’点,F’称为系统像空间的主焦点(或第二主焦点),如图2所示,通过F’作垂直于光轴的平面,该平面称为系统像空间的焦平面或第二主焦平面.因为光路是可逆的,如果从像空间、平行于系统光轴射入平行光,会聚在光轴的F点,则F点称为系统物空间的主焦点或第一主焦点.通过F作垂直于光轴的平面称为系统空间的焦平面或第一焦平面,如图3所示.错误!未找到引用源。

经典实验讲义-测节点位置及透镜组焦距 (测量实验)

经典实验讲义-测节点位置及透镜组焦距 (测量实验)

测节点位置及透镜组焦距 (测量实验)一、实验目的了解透镜组节点的特性,掌握测透镜组节点的方法。

二、实验原理光学仪器中的共轴球面系统、厚透镜、透镜组,常把它作为一个整体来研究。

这时可以用三对特殊的点和三对面来表征系统在成像上的性质。

若已知这三对点和三对面的位置,则可用简单的高斯公式和牛顿公式来研究起成像规律。

共轴球面系统的这三对基点和基面是:主焦点(F,F')和主焦面,主点(H,H')和主平面,节点(N,N')和节平面。

如附图1,1附图附图2实际使用的共轴球面系统——透镜组,多数情况下透镜组两边的介质都是空气,根据几何光学的理论,当物空间和像空间介质折射率相同时,透镜组的两个节点分别与两个主点重合,在这种情况下,主点兼有节点的性质,透镜组的成像规律只用两对基点(焦点,主点)和基面(焦面,主面)就完全可以确定了。

根据节点定义,一束平行光从透镜组左方入射,如附图2,光束中的光线经透镜组后的出射方向,一般和入射方向不平行,但其中有一根特殊的光线,即经过第一节点N的光线PN,折射后必须通过第二节点N'且出射光线N'Q平行与原入射光线PN。

设NQ与透镜组的第二焦平面相交于F''点。

由焦平面的定义可知,PN方向的平行光束经透镜组会聚于F''点。

若入射的平行光的方向PN与透镜组光轴平行时,F''点将与透镜组的主焦点F'重合,如附图3附图3综上所述节点应具有下列性质:当平行光入射透镜组时,如果绕透镜组的第二节点N'微微转过一个小角 ,则平行光经透镜组后的会聚点F'在屏上的位置将不横移,只是变得稍模糊一点儿,这是因为转动透镜组后入射于节点N的光线并没有改变原来入射的平行光的方向,因而NQ的方向也不改变,又因为透镜组是绕N'点转动,N点不动,所以 N'Q线也不移动,而像点始终在N'Q 线上,故F''点不会有横向移动,至于NF''的长度,当然会随着透镜组的转动有很小的变化,所以F''点前后稍有移动,屏上的像会稍有模糊一点。

测节点位置及透镜组焦距实验报告

测节点位置及透镜组焦距实验报告

测节点位置及透镜组焦距实验报告测节点位置及透镜组焦距实验七测节点位置及透镜组焦距 (测量实验)一、实验目的了解透镜组节点的特性,掌握测透镜组节点的方法。

二、实验原理光学仪器中的共轴球面系统、厚透镜、透镜组,常把它作为一个整体来研究。

这时可以用三对特殊的点和三对面来表征系统在成像上的性质。

若已知这三对点和三对面的位置,则可用简单的高斯公式和牛顿公式来研究起成像规律。

共轴球面系统的这三对基点和基面是:主焦点(F,F')和主焦面,主点(H,H')和主平面,节点(N,N')和节平面。

如附图1,附图1附图2实际使用的共轴球面系统——透镜组,多数情况下透镜组两边的介质都是空气,根据几何光学的理论,当物空间和像空间介质折射率相同时,透镜组的两个节点分别与两个主点重合,在这种情况下,主点兼有节点的性质,透镜组的成像规律只用两对基点(焦点,主点)和基面(焦面,主面)就完全可以确定了。

根据节点定义,一束平行光从透镜组左方入射,如附图2,光束中的光线经透镜组后的出射方向,一般和入射方向不平行,但其中有一根特殊的光线,即经过第一节点N的光线PN,折射后必须通过第二节点N'且出射光线N'Q 平行与原入射光线PN。

设NQ与透镜组的第二焦平面相交于F''点。

由焦平面的定义可知,PN 方向的平行光束经透镜组会聚于F''点。

若入射的平行光的方向PN与透镜组光轴平行时,F''点将与透镜组的主焦点F'重合,如附图3附图3综上所述节点应具有下列性质:当平行光入射透镜组时,如果绕透镜组的第二节点N'微微转过一个小角?,则平行光经透镜组后的会聚点F'在屏上的位置将不横移,只是变得稍模糊一点儿,这是因为转动透镜组后入射于节点N的光线并没有改变原来入射的平行光的方向,因而NQ的方向也不改变,又因为透镜组是绕N'点转动,N点不动,所以 N'Q线也不移动,而像点始终在N'Q 线上,故F''点不会有横向移动,至于NF''的长度,当然会随着透镜组的转动有很小的变化,所以F''点前后稍有移动,屏上的像会稍有模糊一点。

透镜组节点和焦距的测定

透镜组节点和焦距的测定

透镜组节点和焦距的测定教学目的 1、了解测节器测定透镜组基点的工作原理,加深对光具组基点的理解和认识;2、学会自组搭建共轴球面系统光路,并能用其测定透镜组的节点和焦距;3、形成实事求是的科学态度和严谨、细致的工作作风。

重难点 重点:组装测定透镜组节点和焦距的光路设计和调节难点:1)对共轴球面系统基点的理解和认识;2)透镜组节点位置的测定教学方法 讲授、讨论、演示相结合 学时 3学时一、实验简介从单个折射球面、单个透镜乃至多个透镜构成的复杂组合,无论其结构是简单还 是复杂,都可以把它看成是理想的光具组。

对于理想的光具组,物像之间共轭关系完全 可由几对特殊的点和面所决定,这些特殊的点和面称基点、基面。

简言之,给入射线的 出射线定位的那些点和面称基点、基面。

如图所示,一般来说,理想光具组基点有物方 主点H 和象方主点'H ,物方节点N 和像方节点'N ,物方焦点F 和像方焦点'F ,所有 这些点都在光具组的主光轴上。

过这些点垂直主光轴的平面分别为物方主平面(HM ) 和像方主平面(''M H ),物方节平面和象方节平面,物方焦平面和像方焦平面,统称基 面。

二、实验目的1、了解测节器可以测定光具组的工作原理,加深对共轴球面系统基点的认识;2、学会利用测节器及平行光测定光具组的节点和焦距;3、通过实验理解高斯公式对薄透镜和透镜组均适用,学会对透镜组用成像作图法。

三、实验原理本实验中用两个透镜组成的共轴球面系统,其物和像的位置可由高斯公式确定。

''111f s s =- (1) 式(1)不仅适用于单薄透镜,也适用于厚透镜及透镜组。

对单薄透镜,物距s 、像距's 和像方焦距'f 的量度的参考点均为薄透镜的光心。

对于透镜组,当基面和基点确定以 后,物距s 为物方主平面至物的距离,像距's 为像方主平面至像的距离,像方焦距'f 为 像方主平面至像方焦点的距离,物方焦距f 为物方主平面至物方焦点的距离,并保持单 透镜成像公式中所规定的符号法则。

测量凸透镜焦距的方法

测量凸透镜焦距的方法

测量凸透镜焦距的方法凸透镜是一种常见的光学元件,它具有使光线聚焦的作用,因此在实际应用中,我们经常需要测量凸透镜的焦距。

下面将介绍几种测量凸透镜焦距的方法。

首先,我们可以利用物体和像的关系来测量凸透镜的焦距。

具体操作方法如下,首先,将一个物体(如一支蜡烛或一根铅笔)放置在凸透镜的一个焦点上,然后在凸透镜的另一侧观察,会发现物体的像出现在凸透镜的另一个焦点上。

这时,我们可以测量物体和像之间的距离,然后利用公式1/f=1/v+1/u来计算凸透镜的焦距f,其中v为像的距离,u为物体的距离。

通过这种方法,我们可以比较准确地测量出凸透镜的焦距。

其次,我们还可以利用凸透镜成像的特点来测量焦距。

具体操作方法如下,首先,将一个远离凸透镜的物体放置在凸透镜的前方,然后在凸透镜的后方观察,会发现物体的像出现在凸透镜的焦点上。

这时,我们可以测量物体和像之间的距离,然后同样利用公式1/f=1/v+1/u来计算凸透镜的焦距f。

通过这种方法,我们同样可以比较准确地测量出凸透镜的焦距。

除了以上两种方法,我们还可以利用光屏法来测量凸透镜的焦距。

具体操作方法如下,首先,将凸透镜放置在光源的前方,然后在凸透镜的后方放置一个光屏。

当凸透镜的焦点与光屏重合时,会出现清晰的像。

这时,我们可以测量凸透镜与光屏之间的距离,然后同样利用公式1/f=1/v+1/u来计算凸透镜的焦距f。

通过这种方法,我们同样可以比较准确地测量出凸透镜的焦距。

综上所述,测量凸透镜焦距的方法有多种,我们可以根据实际情况选择合适的方法进行测量。

通过准确测量凸透镜的焦距,可以更好地应用凸透镜于实际生活和工作中,为我们的生活和工作带来便利。

希望以上介绍的方法对大家有所帮助。

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P
A S1
M
S
L
S2
B
P1
△x
x
P2
D
图 10-2
棱 脊
端面
棱角
图 10-3
将一块平玻璃板的上表面加工成两楔形板,端面与棱脊垂直,楔角 A 较小(一 般小于 1°)。从单色光源 M 发出的光波经透镜 L 会聚于狭缝 S,使 S 成为具有较 大亮度的线状光源。当狭缝 S 发出的光波投射到双棱镜 B 上时,经折射后,其波 前便分割成两部分,形成沿不同方向传播的两束干柱波。通过双棱镜观察这两束 光,就好象它们是由虚光源 S1 和 S 2 发出的一样,故在两束光源相互交叠区 P1 P2 内 产生干涉。如果双棱镜的棱脊和光源狭缝平行,且狭缝的宽度较小,便可在白屏 P 上观察到平行于狭缝的等间距干涉条纹。
7:三维平移底座 (SZ-01) 8:升降调整座(SZ-03) 9:二维平移底座 (SZ-02) 10:升降调整座(SZ-03) 11:普通底座(SZ-04)
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图 8-1
实验原理 开普勒望远镜所成的像是倒立的,对观察物体不习惯,如观察正像,一是可 以使用伽利略望远镜,二是可以借助直角棱镜(保罗棱镜、正像棱镜) 直角棱镜原理图如图 8-2,正立的像转换为倒立的像。
将随各组合透镜或折射面的焦距和系统的空间特性而异。下面以两个薄透镜的组
合为例进行讨论。设两薄透镜的象方焦距分别为 f1′ 和 f2′ ,两透镜之间距离为 d,
则透镜组的象方焦距 f ′ 可由下式求出
f′=
f1′f2′ , f = − f ′ .
( f1′ + f2′) − d
两主点位置
(7-3)
l′ = − f2′d ; ( f1′ + f 2′) − d
18
6、测节仪原理还应用在何处?
实验八 自组带正像棱镜的望远镜
实验目的 1、了解望远镜的构造原理。 2、了解直角棱镜的性质。 3、掌握望远镜观察正像的方法。 实验装置(图 8-1) 1:溴钨灯 S 2:标尺 3:物镜L0(f 0,=225mm) 4:三维调节架 (SZ-16) 5:正像棱镜(保罗棱镜系统) 6:二维调节架 (SZ-07)
实验原理
光学仪器中常用的光学系统,一般都是由单透镜或胶合透镜等球面系统共轴
构成的。对于由薄透镜组合成的共轴球面系统,其物和象的位置可由高斯公式
1 = 1 −1 f ′ s′ s
(7-1)
确定。式中 f ′ 为系统的象方焦距,s′ 为象距,s 为物距。物距是从第一主面量到物
的距离,象距是从第二主面量到象的距离,系统的象方焦距是从第二主面量到象
20
实验九 杨氏双缝干涉
实验目的
1、理解干涉的原理
2、掌握分波阵面法干涉的方法
3、掌握干涉的测量,并且利用干涉法测光的波长。
实验装置(图 9-1)
1:钠灯(加圆孔光阑) 2:透镜(f ,=50mm)
8:测微目镜 9:光源二维调节架(SZ-19)
3:二维调节架(SZ-07)
10:二维平移底座 (SZ-02)
方焦点的距离。各量的符号从各测量起点,沿光线进行方向测量为正,反向为负。
16
又,共轴球面系统的物和象的位置,还可由牛顿公式表示,即
xx′ = ff ′( f = − f ′)
(7-2)
式中 x 为从物方焦点量起的物方焦点到物的距离, x′ 为从象方焦点量起的象
方焦点到象的距离。物方焦距 f 和象方焦距 f ′ 分别是从第一、第二主面量到物方
4:可调狭缝
11:三维平移底座 (SZ-01)
5:二维调节干版架(SZ-18) 12:二维平移底座 (SZ-02)
6:双棱镜
13:升降调节座(SZ-03)
7:三维调节架 (SZ-16)
另备凸透镜(f ,=190mm)及架、座
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图 10-1
23
实验原理 如果两列频率相同的光波沿着几乎相同的方向传播,并且这两列光波的位相 差不随时间而变化,那么在两列光波相交的区域内,光强的分布不是均匀的,而 是在某些地方表现为加强,在另一些地方表现为减弱(甚至肯能为零),这种现象 称为光的干涉。 菲涅耳利用图 10-2 所示装置,获得了双光束的干涉现象。图中双棱镜 B 是一 个分割波前的分束器,它的外形结构如图 10-3 所示
4:可调狭缝(SZ-07)
11:三维平移底座 (SZ-01)
5:干版架 (SZ-12)
12:二维平移底座(SZ-02)
6:双缝(在多缝板上)
13:升降调节底座(SZ-03)
7:二维干版架 (SZ-18)
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实验原理 杨氏双缝原理如图 9-2
图 9-1
21
x
s1
r1
θ
r2
1、单缝、双缝、必须平行,且单缝在双缝的中线上。 2、单缝的宽度要恰当。
22
3、测微目镜测量时,不能回转,防止回转误差。 实验讨论思考题 1、如果单缝和双缝不平行,则干涉条纹如何。 2、如果单缝不在双缝中线上,则干涉条纹如何。 3、如果双缝间距 d 改变,则干涉条纹如何。 4、双缝与测微目镜间距改变,则干涉条纹如何? 5、如果双缝的每一缝的宽度改变或宽度不对称,干涉条纹如何? 6、观察到的双缝干涉条纹强度(亮度)是否相等,为何? 7、观察到的双缝干涉条纹的间距(明纹或暗纹)是否相等,为何?
焦点和象方焦点的距离。符号规定同上。
共轴球面系统的基点、基面具有如下的特性:
1、主点和主面:若将物体垂直于系统的光轴放置在第一主点 H 处,则必成一
个与物体同样大小的正立象于第二主点 H ′ 处,即主点是横向放大率β = +1的一对共
轭点。过主点垂直于光轴的平面,分别称为第一、第二主面(图 7-2 中的 MH ,M ′H ′ )。
o s
s2
l
P
图 9-2
s—单缝 s1 ⋅ s2 —双缝 P——观察屏
如果 s 在 s1 ⋅ s2 的中线上,则可以证明双缝干涉的光程差
Δ
=
r2

r1
=
d
sin ϑ
=
dx l
式 d 中双缝间距, ϑ 是衍射角,l 是双缝至观察屏的间距
由干涉原理,当 Δ
=
dx l
=
⎪⎧kλ ⎪⎩⎨(k +
1 )λ 2
l=
f1′d
.
( f1′ + f 2′) − d
(7-4)
计算时注意 l′ 是从第二透镜光心量起,l 是从第一透镜光心量起。
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(问:试证明,对于二凸透镜组成的光具组,当 d < f1′ + f2′ 时, l + l′ > d ; 分析此种情况下,第一、第二主面可能的位置。)
实验内容 1、仪器调共轴 2、选择合适的透镜焦距和透镜的间距组成光具组。 3、测出各光具组的 H、H’、F、F’、K、K’和焦距 f、f’ 4、计算各光具组的理论值,并与实验值比较。 5、用 1∶1 的比例画出被测透镜组及其各种基点的相对位置。 实验步骤 1)先借助平面镜调节微尺与准直物镜L0的距离,使通过L0的光束为平行光束 (“自准法”) 2)加入透镜组和测微目镜,调共轴,同时移动目镜,找到微尺的清晰像。 3)沿节点架导轨前后移动透镜组,同时相应地前后移动测微目镜,直到节点 架绕轴转动时,微尺像无横向移动为止(此时像方节点 K ′ 即在节点架的转轴上)。 4)用白屏取代测微目镜,接收微尺像。分别记下屏和节点架在米尺导轨上的位置 a 和 b,并从节点架导轨上记下透镜组中间位置(有标线)节点架转轴中心的偏移量 c。 5)将测节器转动 180。,重复 3、4 两步,测得另一组数据a’,b’,c’ 。 6) 测出透镜组两透镜的间距 d,并读出两透镜的焦距 f1′ 和 f2′ 。 数据处理 1)像方节点偏离透镜组中心的距离为 c 透镜组的像方焦距 f’=a-b 物方节点 N 偏离透镜中心的距离为 c’ 透镜组的物方焦距 f=a’-b’ 2)用 1∶1 的比例画出被测透镜组及其各种基点的相对位置。 实验注意事项 1、选择透镜及间距应能测到三对基点。 2、必须仔细寻找基点的位置。 3、平行光调节应细心。 实验讨论思考题 1、基点基面的性质如何。 2、测节仪的原理。 3、如何测三透镜组合的基点及焦距。 4、是否光具组满足条件 d < f1′ + f2′ ,一定能在光具组外找到焦点的位置。 5、要使光具组的基点 H、H’、F、F’、K、K’和焦距 f、f’ 都能测到,则 d、 f1′ 、 f2′ 及滑槽 L 的关系如何。
明纹 暗纹
相邻明纹或相邻暗纹的间距可以证明是相等的, Δx = dλ l
因此 λ = Δx ⋅ l ,用厘米尺测出 l,用显微镜测双缝间距 d,用测微目镜测相邻 d
条纹的间距 Δx ,计算可得光波的波长。
实验内容
1、调单缝、双缝,测微目镜平行且共轴。 2、调节单缝的宽度,三者之间的间距。在目镜中能看到干涉条纹。 3、测出 d、 Δx 、l,计算波长。 4、观察单缝宽度改变,三者间距改变干涉条纹的变化。并记录结果,分析变 化的原因。
测量方法,通过使用简单的米尺和测微目镜,进行毫米量级的长度测量,便可推
算出微米量级的光波波长。
由于干涉条纹宽度 Δx 很小,必须使用测微目镜,进行毫米量级的长度测量,
两虚光源间的距离 d ,可用一已知焦距为 f ′ 的会聚透镜 L′ 置于双棱镜与测微目镜
11:二维平移底座 (SZ-02) 12:三维平移底座 (SZ-01)
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