实验八、透射电子显微镜及扫描电子显微镜的使用资料讲解
透射电子显微镜使用说明书
透射电子显微镜使用说明书一、介绍透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, TEM）是一种高性能的显微镜，通过使用电子束而非光束，可以提供高分辨率的样品图像。
本使用说明书将详细介绍透射电子显微镜的使用方法，以帮助您正确操作该设备。
二、安全操作指南1. 请确保在操作透射电子显微镜之前，您已经受过相关培训并明确了安全操作指南。
2. 使用透射电子显微镜时，请务必佩戴适当的个人防护装备，包括眼镜、手套和防护服。
3. 在操作过程中，严禁将任何物体直接接触到样品表面，以免损坏样品或损伤设备。
4. 当调整透射电子显微镜参数时，请小心操作，避免过度拉伸或扭曲设备部件。
三、样品准备1. 在进行透射电子显微镜观察之前，样品应该经过适当的预处理和制备。
例如，必要时使用透明薄膜包裹样品，以防止样品受到污染。
2. 样品应该足够薄，并且尺寸适中，以确保电子束能够透射样品并产生清晰的图像。
3. 在将样品放置在透射电子显微镜上之前，请确保样品表面干净且无杂质，并注意避免静电带来的干扰。
四、设备操作1. 打开透射电子显微镜之前，请先确认所有电线和连接器已正确插入并固定。
2. 根据需要，选择适当的电子束加速电压和焦距，以获得所需的图像清晰度。
3. 在操作设备时，请遵循制造商提供的操作手册，以确保正确的设备设置和参数调整。
4. 当使用透射电子显微镜时，应避免长时间持续使用，以防止设备过热或电子束损坏样品。
五、图像捕获与分析1. 在透射电子显微镜观察过程中，可以使用相机或其他图像捕获设备记录图像或视频。
2. 使用图像分析软件来处理和分析捕获的图像，以获得所需的数据和结论。
3. 在进行图像分析之前，请确保校准所有测量工具，以保证测量结果的准确性和可靠性。
六、设备维护和清洁1. 在每次使用透射电子显微镜之后，请仔细清理设备表面，以去除样品残留物和有害物质。
2. 定期检查设备的电线和连接器，确保其处于良好状态，没有磨损或损坏。
电子显微镜的使用方法
电子显微镜的使用方法电子显微镜是一种高分辨率的显微镜，用于观察和研究微观尺度的样品。
它可以提供比光学显微镜更高的放大倍数和更好的分辨率，使我们能够更清晰地观察微观结构和表面形态。
以下是使用电子显微镜的基本步骤：1. 准备样品：选择需要观察的样品，通常是固体材料、生物组织或细胞等。
样品应被制备成非水合状态，以避免电子束和水分之间的相互作用。
2. 准备实验室：确保实验室环境整洁、无尘，并且具备必要的安全措施，例如戴手套、护目镜和实验室外套。
3. 启动电子显微镜：打开电子显微镜的主电源，然后按照设备说明书的要求进行启动和预热，通常需要几分钟的时间来使仪器达到工作状态。
4. 调整参数：根据样品的性质和需要，调整电子显微镜的参数。
这些参数包括电子加速电压、聚焦、对比度和亮度等。
5. 定位样品：将样品放置在电子显微镜台上，并使用显微镜台的控制杆来精确定位和调整样品的位置，以保证观察区域处于电子束的焦点范围内。
6. 探测模式选择：根据需要选择透射电子显微镜（TEM）或扫描电子显微镜（SEM）的模式。
TEM适用于观察内部结构，SEM适用于观察表面形貌。
7. 开始观察：通过电子显微镜的镜头，将电子束聚焦在样品上，并启动相应模式的观察。
使用台面上的控制装置，通过微调参数来调整焦距、放大倍数，并观察样品。
8. 拍摄图像：如果需要，可以使用电子显微镜的图像记录系统来拍摄样品的图像。
根据设备类型的不同，可选择通过数码相机、CCD相机或者其他图像捕获设备来获取高质量的图像。
9. 数据处理和分析：根据实验需要，对获取的图像进行进一步的处理和分析。
可以使用图像软件进行后期处理，如调整对比度、增强细节等。
10. 关闭电子显微镜：观察结束后，关闭电子显微镜的电源，并按照设备说明书的要求进行后续的清洁和维护工作，以确保仪器的正常运行和长寿命。
总结：使用电子显微镜需要准备样品、启动仪器、调整参数、定位样品、选择观察模式、观察样品、拍摄图像、数据处理和分析，最后关闭电子显微镜。
电子显微镜使用指南
电子显微镜使用指南引言:电子显微镜是一种高分辨率的显微镜，广泛应用于材料科学、生物学和纳米科技等领域。
本文将为读者提供一份电子显微镜的使用指南，旨在帮助读者更好地理解和掌握这一复杂的科学工具。
一、电子显微镜原理与分类电子显微镜利用电子束的特性来观察样品，相比光学显微镜，具有更高的分辨率。
根据不同的工作方式和应用，电子显微镜可以分为透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）和扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）两类。
二、准备工作在使用电子显微镜之前，我们需要进行一些准备工作。
首先，保持实验室环境干净，避免灰尘和杂质对显微镜的影响。
同时，使用前要确保显微镜内部的真空环境正常。
三、样品制备在样品制备过程中，我们需要注意以下几点。
首先，样品应选择合适的大小和形状，以便放入显微镜中观察。
其次，样品表面应光滑，尽量避免杂质和氧化物的存在。
最后，可以通过切片、离子薄化等方法来制备适合电子显微镜观察的样品。
四、操作步骤1. 打开显微镜系统并进行预热，确保各个部件正常工作。
2. 将样品安装在样品台上，注意调整好观察角度和位置。
3. 根据需要选择透射电镜或扫描电镜模式，调整电子束强度和聚焦度。
4. 开始观察，可以通过调节电子束的扫描速度、图像增强等参数来获得所需的图像效果。
5. 观察结束后，关闭显微镜，进行后续的数据处理和分析工作。
五、常见问题与解决方案1. 样品的准备过程中出现杂质：可以尝试重新制备样品，注意样品制备过程中的卫生和环境条件。
2. 图像分辨率不够高：可以尝试调整电子束的聚焦度和强度，检查显微镜系统是否存在故障。
3. 显微镜出现机械故障：将及时联系维修人员进行检修和维护。
六、安全注意事项在进行电子显微镜实验过程中，需要注意以下安全事项。
首先，遵守实验室的安全规定，佩戴上适当的防护装备。
其次，小心操作显微镜内部的部件，避免损坏设备或造成伤害。
透射电子显微镜的实验技巧与使用方法
透射电子显微镜的实验技巧与使用方法透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，简称TEM）作为一种重要的材料科学与纳米科学研究工具，广泛应用于物质的微观结构分析。
然而，使用TEM进行观察和分析需要一些实验技巧和操作方法，以确保获得高质量的显微图像和可靠的实验结果。
本文将介绍透射电子显微镜的实验技巧和使用方法，以帮助读者更好地掌握这一强大工具。
第一部分：样品制备在进行TEM观察前，样品制备是至关重要的一步。
以下是一些常用的样品制备技巧：1. 薄片制备：将待观察的材料制备成足够薄的薄片，常用的方法有机械切割、离子蚀刻和离心旋涂等。
制备薄片时需注意避免产生裂纹和杂质。
2. 薄片转移到网格：将薄片转移到透射电子显微镜网格上，通常使用细钳和转移介质（如水和乙醇）进行操作。
转移过程需要小心以避免薄片折叠或粘附杂质。
第二部分：透射电子显微镜操作1. 启动与预热：在开始使用TEM之前，需要对其进行启动和预热。
启动过程包括电源接通、真空泵抽取空气以及透射电子显微镜主机预热。
预热时间可根据设备型号和要求进行设定。
2. 对准和聚焦：必须对TEM进行准确的样品对准和聚焦。
首先，通过观察屏幕上的光学显微镜图像，调整样品位置，使其准确对应TEM光学通道。
然后，通过微调操纵仪或操作面板上的聚焦控制旋钮对样品进行聚焦。
3. 选择倍率和放大：根据需要选择适当的倍率和放大倍数。
通常，低倍率可以提供较大的视野和全局信息，高倍率则可以提供更高分辨率和详细信息。
倍率过高可能导致图像模糊，倍率过低则可能丧失微观细节。
4. 稳定电流和时间控制：在TEM操作过程中，保持稳定的电流和时间控制至关重要。
电流的稳定性直接影响到图像质量和分辨率。
合理选择电流和控制时间以避免样品损伤。
第三部分：图像采集和分析1. 图像采集：在获得良好对准和聚焦的样品后，可以开始进行图像采集。
根据需求选择适当的图像模式，如亮场、暗场、选区电子衍射等。
物理实验中透射电子显微镜的使用指南
物理实验中透射电子显微镜的使用指南透射电子显微镜（Transmission Electron Microscopy，简称TEM）是现代物理实验中一种非常重要的工具，它能够提供高分辨率的观测和分析样品的微观结构和成分。
本文将为您介绍透射电子显微镜的使用指南。
一、透射电子显微镜的原理与构造透射电子显微镜利用电子束通过样品并形成细致的图像，它的原理是基于电子的波粒二象性以及电子与样品相互作用的特性。
透射电子显微镜通常由电子源、透镜系统、样品台和显像系统等组成。
电子源是透射电子显微镜的核心部件，常用的电子源包括热阴极和场发射阴极。
透镜系统负责控制和聚焦电子束，它由透镜、磁透镜和计数器等组成。
样品台用于固定和转动样品，使得电子束可以满足不同角度的入射条件。
显像系统则负责收集电子束通过样品后的信息，并将其转化成可见图像。
二、透射电子显微镜的样品制备透射电子显微镜对样品制备要求极高，首先需要将样品制备成薄片，以保证电子束能够穿透样品并形成可观测的图像。
常用的样品制备方法有机械切割、电子束刻蚀和离子薄化等。
在样品制备过程中，还需要注意避免样品表面的污染和氧化。
在制备过程中，可以采用真空环境、惰性气体保护或氮气氛等方法来防止样品受到污染。
同时，也要注意避免样品上的含水气泡，可以通过超声震荡或去离子水清洗等方法去除。
三、透射电子显微镜的操作指南在使用透射电子显微镜时，需要注意以下几点：1. 系统预热：在使用透射电子显微镜之前，需要进行系统预热以达到稳定的工作状态。
预热时间通常为数小时，具体时间取决于仪器和操作要求。
2. 加热和冷却样品：透射电子显微镜可以在不同温度下观察样品。
在进行加热或冷却样品之前，需要确保样品和样品台可以承受相应的温度，并根据需要选择正确的加热或冷却装置。
3. 对溶液样品的观察：如果需要观察溶液样品，可以将样品制备在薄碳膜或其他透明基底上，并在观察前进行干燥。
同时，还应注意避免样品在高真空下蒸发或结晶。
电子显微镜实验报告
一、实验名称电子显微镜技术二、实验目的1. 了解扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）的基本原理和结构。
2. 掌握电子显微镜的样品制备和操作方法。
3. 通过观察样品的微观结构，了解材料的形貌、内部组织结构和晶体缺陷。
三、实验仪器1. 扫描电子显微镜（SEM）：型号为Hitachi S-4800。
2. 透射电子显微镜（TEM）：型号为Hitachi H-7650。
3. 样品制备设备：离子溅射仪、真空镀膜机、切割机、研磨机等。
四、实验内容1. 扫描电子显微镜（SEM）实验（1）样品制备：将待观察的样品切割成薄片，用离子溅射仪去除表面污染层，然后用真空镀膜机镀上一层金属膜，以增强样品的导电性。
（2）操作步骤：① 开启扫描电子显微镜，调整真空度至10-6Pa。
② 将样品放置在样品台上，调整样品位置，使其位于物镜中心。
③ 设置合适的加速电压和束流，调整聚焦和偏转电压，使样品清晰成像。
④ 观察样品的表面形貌，记录图像。
（3）结果分析：通过观察样品的表面形貌，了解材料的微观结构，如晶粒大小、组织结构、缺陷等。
2. 透射电子显微镜（TEM）实验（1）样品制备：将待观察的样品切割成薄片，用离子溅射仪去除表面污染层，然后用真空镀膜机镀上一层金属膜，以增强样品的导电性。
（2）操作步骤：① 开启透射电子显微镜，调整真空度至10-7Pa。
② 将样品放置在样品台上，调整样品位置，使其位于物镜中心。
③ 设置合适的加速电压和束流，调整聚焦和偏转电压，使样品清晰成像。
④ 观察样品的内部结构，记录图像。
（3）结果分析：通过观察样品的内部结构，了解材料的微观结构，如晶粒大小、组织结构、缺陷等。
五、实验结果与讨论1. 扫描电子显微镜（SEM）实验结果：通过观察样品的表面形貌，发现样品表面存在大量晶粒，晶粒大小不一，且存在一定的组织结构。
在样品表面还观察到一些缺陷，如裂纹、孔洞等。
2. 透射电子显微镜（TEM）实验结果：通过观察样品的内部结构，发现样品内部晶粒较小，且存在一定的组织结构。
电镜资料：电镜操作---透射电子显微镜、扫描电子显微镜
④ 抽真空(Air→Pump),查看真空状态
⑤ 旋转样品杆,在真空吸力的作用下
送入
⑥ 样品杆坐标清零(Stage neatral)
铜网 样品台 样品槽
样品杆
3. 电镜合轴
>100k
减少像差, 提高分辨率 操作方便 操作需要
① 开灯丝(Filament ON或BEAM按钮)
② 调物镜(样品)共心高度(STD FOCUS
注：在图象整个观察过程中，若对图象的对比度和亮度不满意，用鼠标点击
也可通过
进行手动调节。
3. 样品观察与拍照
h. 将所要放大的区域移到图象中心,同时顺时针旋转Magnification旋钮,把图象放大
到自己需要的倍数,调节Focus中的Fine旋钮
继续聚焦,调节到图象没有形变。
i. 调节Stigma x和y旋钮，进行象散校正，需对x和y进行单独校正，可反复多次校正，
电镜操作
---透射电子显微镜、扫描电子显微镜
一、透射电子显微镜
目录
1 实验前准备
2 装入样品杆
3 电镜合轴
4 电镜实验
5 拔出样品杆
1. 实验前准备
01
选择样品 （制样）
UV-vis
02
了解仪器
03
检查仪器
空调、除湿机开启正常 冷肼液氮已添加 循环水供应正常 软件界面各项参数正常
JEOL JEM-2100
4. 电镜实验
③ 高分辨透射(HRTEM)
选定样品中感兴趣的区域(若是单晶样品,需倾转至正晶带轴); 取出物镜光阑;调整至合适放大倍数(SA),仔细调节共心高度; 仔细进行电镜合轴,尤其是Rotation Center ; 放大至350K或400K;CCD观察,用FFT判断象散及聚焦情况; 曝光时间设置为1s,拍摄图像并保存
透射电子显微镜的正确使用方法
透射电子显微镜的正确使用方法透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，简称TEM）是一种非常强大的显微镜工具，能够观察微小的物质结构，并提供高分辨率的图像。
然而，由于其复杂的操作和灵敏的性能，正确使用透射电子显微镜需要一些专业的技巧和注意事项。
第一部分：仪器准备在启动透射电子显微镜之前，首先要确保仪器的基本情况良好。
检查电子束的亮度和对角度的调整是否正常，以及是否有足够的真空保持在可靠的水平。
为了获得高质量的图像，还需要校准样品台的倾斜和旋转角度。
第二部分：样品制备样品制备是获得清晰图像的重要步骤。
首先，样品必须是极薄的，通常在纳米或亚纳米尺寸范围内。
常见的样品制备技术包括机械切片、离心旋涂、离子薄片制备等。
在制备过程中，还需要注意避免样品受到气体、粉尘或液体的污染。
第三部分：对样品的放置将样品放入显微镜的样品台中时，需要小心而谨慎。
必须保证样品完全平稳和对焦。
推荐的方法是使用化学钳夹取样品，并通过显微镜的观察窗口来定位和调整样品的位置。
第四部分：参数设置在开始观察样品之前，需要进行一些参数设置。
这包括加速电压、对比度、亮度、聚焦和孔径。
这些参数的选择将直接影响到所得到的图像的清晰度和对比度。
为了以最佳的方式捕捉样品的细节，需要根据样品的性质和所需分辨率进行调整。
第五部分：图像获取和分析一旦参数设置完毕，可以开始进行图像获取和分析。
透射电子显微镜可以提供高分辨率、具有深度和表面细节的图像。
拍摄图像时，要避免电子束超过样品所能承受的剂量，以免对样品造成损害。
此外，还需要注意调整对比度和亮度，确保获得清晰的图像。
第六部分：数据处理和解释通过透射电子显微镜，我们可以获得丰富的图像和数据。
为了更好地理解样品的结构和性质，需要对这些数据进行进一步的处理和解释。
常见的处理方法包括图像增强、3D重建和能谱分析。
这些方法可以使我们更全面地了解样品的微观结构和化学成分。
总结：透射电子显微镜是一种非常重要的科学工具，可以帮助研究人员深入研究物质的微观结构。
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超薄切片技术主要包括取材、固定、 包埋、切片、染色等步骤。
二、作业: 试比较电子显微镜与普通光学显 微镜的异同。
实验八 -2
细胞超微结构观察与扫描电子显微镜的使用
一、实验原理
利用二次电子信号成像来观察样品的表面形 态。电子“探针”扫描，激发样品表面放出 二次电子，探测器收集二次电子成像。
疟疾破坏的两个红细胞
二、作业
试描述扫描电子显微镜成像的基本原理
染色背景，衬托出样品的精细结构
冰冻蚀刻技术（Freeze etching） 冰冻断裂与蚀刻复型：主要用来观察膜断裂面的蛋白质颗粒 和膜表面结构。
电镜三维重构技术 电子显微术、电子衍射与计算机图象处理相结合而形成的 具有重要应用前景的一门新技术。
电镜三维重构技术与X-射线晶体衍射技术及核磁共振
分析技术相结合，是当前结构生物学（Structural Biology）
实验 八-1
细胞超微结构观察与透射电子显微镜的成像基本原理及其 应用
一、透射电子显微镜的成像基本原理
在真空条件下，电子束经高压加速后，穿 透样品时形成散射电子和透射电子，它们 在电磁透镜的作用下在荧光屏上成像。
主要电镜制样技术
超薄切片技术 用于电镜观察的样本制备 负染色技术（Negative staining）