origin 分峰法计算薄膜的结晶度
origin聚合物结晶度
origin聚合物结晶度聚合物是一种由长链（或网络）形成的高分子化合物，其结晶度是指在固态下，聚合物分子链的有序排列程度。
高结晶度的聚合物具有较高的力学强度和热稳定性，而低结晶度的聚合物则具有较高的透明度和柔韧性。
因此，聚合物结晶度的控制对于合成具有特定性能和应用的聚合物材料非常重要。
1. 聚合物结晶度的定义与表征方法聚合物的结晶度是指其分子链在固态下呈现的有序排列程度。
可以通过多种方法来表征聚合物的结晶度，其中较常用的方法有：a) 热分析法：如差示扫描量热法（DSC）、热重分析法（TGA）等；b) 表面形貌观察法：如扫描电子显微镜（SEM）观察；c) X射线衍射法：通过测量聚合物样品在X射线照射下的衍射图样。
2. 影响聚合物结晶度的因素聚合物结晶度受多种因素的影响，主要包括：a) 聚合物的化学结构：聚合物分子链的长度、支化度、取代基等会影响其分子间相互作用，从而影响结晶度的形成；b) 冷却速率和熔融温度：快速冷却或高熔融温度有利于结晶度的提高；c) 添加剂的存在：例如添加核化剂可促进聚合物的结晶过程。
3. 聚合物结晶度的控制方法a) 熔融法控制：通过选择适当的熔融温度和冷却速率来控制聚合物的结晶度。
高熔融温度和快速冷却有助于提高结晶度。
b) 添加剂调控：添加核化剂、增容剂等，能够改变聚合物的结晶行为，从而控制结晶度。
c) 压制或拉伸法：对聚合物进行压制或拉伸处理，可以改变其分子链的排列方式，从而控制结晶度。
4. 聚合物结晶度对性能的影响聚合物的结晶度直接影响其性能表现。
高结晶度的聚合物通常具有较高的力学强度、刚性和热稳定性，但较低的柔韧性和透明度。
而低结晶度的聚合物则表现出较高的柔韧性和透明度，但力学性能和热稳定性相对较低。
5. 应用前景与展望聚合物结晶度的控制在聚合物材料科学与工程领域具有广泛的应用前景。
通过调控聚合物的结晶度，可以合成具有特定性能和应用的聚合物材料，如高强度的工程塑料、高透明度的光学材料等。
x 射线衍射曲线拟合计算分峰法计算薄膜的结晶度
x 射线衍射曲线拟合计算分峰法计算薄膜的结晶度X射线衍射曲线拟合计算分峰法计算薄膜的结晶度X射线衍射技术是一种常用的材料表征方法，通过研究晶体的衍射现象，可以获取材料的结晶结构信息。
在薄膜材料研究领域，X射线衍射技术被广泛应用于分析薄膜的结晶度。
本文将介绍X射线衍射曲线的拟合计算方法，重点讨论了分峰法在计算薄膜结晶度方面的应用。
一、X射线衍射曲线的特点X射线衍射曲线是材料在X射线照射下产生的衍射峰的强度与衍射角度的关系曲线。
每个衍射峰对应着晶体中某一晶面的衍射。
通过分析衍射峰的位置、强度和形状，可以推断出材料的结晶结构和晶体学有关参数。
二、分峰法的原理分峰法是通过对X射线衍射曲线进行拟合，找到各个衍射峰的位置和强度，进而计算出材料的结晶度。
常用的分峰法包括高斯拟合、洛伦兹拟合等。
三、分峰法的步骤1. 导入X射线衍射曲线数据2. 预处理数据，去除背景噪声3. 初步确定衍射峰的位置4. 进行拟合计算，得到各个衍射峰的位置和强度5. 根据拟合结果计算薄膜的结晶度指标，如FWHM、晶粒大小等四、结晶度的计算结晶度是描述材料中结晶程度的参数，通常用全宽半最大值（FWHM）或晶粒大小等指标来表示。
FWHM越小，表示材料的结晶度越高；晶粒大小越大，结晶度也越高。
五、应用实例以某种薄膜材料为例，通过X射线衍射分峰法计算其结晶度。
经过数据处理和拟合计算，得到了薄膜中几个主要衍射峰的位置和强度，进而计算出了薄膜的FWHM值和晶粒大小。
通过对比不同样品的结晶度参数，可以评估材料的结晶性能。
六、结论X射线衍射曲线拟合计算分峰法是一种有效的方法，用于分析薄膜材料的结晶度。
通过分析衍射峰的位置和强度，可以准确地评估材料的结晶性能，为薄膜材料的研究和开发提供重要参考。
通过以上介绍，我们可以看到X射线衍射曲线拟合计算分峰法在计算薄膜的结晶度方面具有重要的应用意义，为研究人员提供了一种准确、有效的表征方法。
希望本文的介绍能够对相关领域的研究人员有所帮助。
分峰拟合和结晶度计算优秀课件
结晶度的概念
• 水泥水化中的结晶度 硅酸盐水泥充分水化后的主要生成物
即水泥石的主要矿物组成有：结晶程度不 同和不同类型的水硅酸钙凝胶C－S－H，大 约占水泥总量的70%左右；硅酸钙水化生成 的 Ca(OH)2 约 占 20% 左 右 ， 为 结 晶 相 和 一 部 分半结晶相；还有7%的钙矾石和单硫型水 化硫铝酸钙的固溶体以及3%的其它产物。
相的重量
结晶度在XRD谱图中的体现
XRD（X射线粉末衍射）
X射线是波长介于紫外线和γ射线间的 电磁辐射，具有较强穿透力。
X射线衍射仪是利用衍射原理,精确测定 物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物 相分析,定性分析,定量分析.广泛应用于冶金, 石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等 领域。
结晶度在XRD谱图中的体现
X射线衍射法是测量结晶度的最常用的 方法之一，它是通过测量结晶部分和非晶 部分累积衍射强度Ia和Ic来计算的。根据X 射线定量相分析的基本公式可求出:
Xa 为非晶相的质量分数，常数k是一个与实 验条件、测量的角度范围以及晶态与非晶 态的比值有关的量。
结晶度在XRD谱图中的体现
分峰拟合和结晶度计算优秀课 件
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• 什么是结晶度 材料在晶化过程中，晶态物质的相含
量会发生变化，这种变化对材料的理化性 质有重要的影响所以材料结晶度的测量是 材料厂家中的一个重要课题。
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• 微晶玻璃中的结晶度 微晶玻璃是一种性能优异的结构材料，
自上世纪50年代微晶玻璃进人生产领域以 来，其各种各样的性能就被一一发掘出来， 近半个多世纪以来，对微晶玻璃的理论应 用、生产实践研究均取得了长足发展。麦 克米伦提到:微晶玻璃的性能和它的显微结 构(不仅包括结晶相，而且也包括剩余玻璃 相)之间的关系是头等重要的。
05cln4 黄正强 利用Origin 对聚合物X—射线衍射图进行分峰及其插件PFM的使用
《数据处理》课程作业利用Origin 对聚合物X—射线衍射图进行分峰及其插件PFM的使用系别： 材料学院年级： 2004姓名： 黄正强2005-12-7利用Origin 对聚合物X—射线图进行分峰及其插件PFM的使用几个单独的峰由于靠的很近，会导致形成一个重叠峰的形成。
如果想计算几个峰之间的 面积比例关系的话，就需要先把这个重叠峰分离成几个单独的峰。
譬如，比如在做聚合物多晶x射线衍射的时候，不同晶型的衍射峰与无定形部分的衍射峰彼此重叠，这些峰对应的面积比与他们之间的含量比成线性关系。
通过计算晶体衍射峰的面积与无定形衍射峰的面积，就可以大致的到聚合物的结晶度。
Origin、xpspeak、热分析、红外等设备随机附带软件都能实现分峰拟合。
这些软件在背景的扣除，峰的分离等方面各有所长。
一、Origin的分峰处理方法将数据作图后（注意，这里的数据一般间隔的非常近，所以作出的图点与点之间也比较 连续），检查菜单栏data中看是否需要分峰的数据被勾上了。
没勾的话就选中。
如果数据的x范围很大，而需要分峰的部分很小，比如，整个数据的x轴的范围是0-100,而需要分的重叠峰的位置在40-60，其他部分均为平的基线或其他无关的峰，那么我们就需要在worksheet表格里把0-40，以及60-100的数据都删掉，只留40-60这段范围的数据。
这步是一定要做的，否则分出来的峰非常不准。
删除不需要的数据后，在graph窗口中可以看到只留下了重叠峰的数据图， 这时点菜单栏中的analysis->fit multi peaks->guassian or lorentzian（这两个什么区别我也不是很清楚，感觉作出来的图是一样的）,选中一个拟和方法后，会跳出一个对话框number of peak,问你要分成几个峰，输入个数确定后，又跳出一个对话框问你估计的半峰宽。
这里用它的默认的就好了。
然后在图上观察你认为的几个单独峰的位置，双击你认为的位置后，会出现一条垂直的虚线，直至将几个峰的峰值位置选好后，可以看到这个重叠峰就被分成了几个单独的峰。
分峰拟合和结晶度计算
结晶度的概念
水泥水化中的结晶度 水化硅酸钙凝胶（CHS）的钙硅比较小，其有发达的内表 面和很高的分散度，这对水泥石的强度有决定性的影响， 对于硅酸盐石的强度亦是如此。
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什么是结晶度 结晶度 样品中结晶相的重量百分数（Xc）。 Xc ＝ Wc /（Wc＋Wa） Wc和Wa分别表示样品中结晶相和无定形相 的重量
分峰拟合和结晶度计算
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什么是结晶度 结晶度 材料在晶化过程中，晶态物质的相含量 会发生变化，这种变化对材料的理化性质有 重要的影响所以材料结晶度的测量是材料厂 家中的一个重要课题。 crystalline 结晶 amorphous 无定形
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微晶玻璃中的结晶度 微晶玻璃是一种性能优异的结构材料， 自上世纪50年代微晶玻璃进人生产领域以来， 其各种各样的性能就被一一发掘出来，近半 个多世纪以来，对微晶玻璃的理论应用、生 产实践研究均取得了长足发展。麦克米伦提 到:微晶玻璃的性能和它的显微结构(不仅包 括结晶相，而且也包括剩余玻璃相)之间的 关系是头等重要的。
结晶度在XRD谱图中的体现
X射线衍射法是测量结晶度的最常用的 方法之一，它是通过测量结晶部分和非晶部 分累积衍射强度Ia和Ic来计算的。根据X射线 定量相分析的基本公式可求出:
Xa 为非晶相的质量分数，常数k是一个与实 验条件、测量的角度范围以及晶态与非晶态 的比值有关的量。
结晶度在XRD谱图中的体现
Origin中的分峰拟合
步骤： 2、选择拟合方式:删除不需要的数据后，在graph窗口中可以
看到只留下了重叠峰的数据图， 这时点菜单栏中的 （ analysis ） （ fit multi peaks ） （ guassian or lorentzian）,选中一个拟和方法。 什么是拟合：根据曲线的形状您可以选择一个函数，例如： 是 弯 曲 的 可 以 选 择 y 是 x 的 多 项 式 函 数 ， 如 y=a*x*x*x+b*x*x+c*x+d等等，也可以是其他形式的函数类 型，然后利用最小二乘法或其他拟合方法求出系数a,b,c,d 等，即可得到y和x的关系，这个过程就是曲线拟合，这个 函数就是拟合函数。 由于实验有误差，选择的函数也不一定就很合适，拟合出来 的函数一般难以准确通过各点，但可以离各点尽量近，从 而近似地表示y和x的关系。类似与回归分析。
明胶α组分含量对明胶壳聚糖复合膜的影响
明胶α组分含量对明胶-壳聚糖复合膜的性能影响摘要选用明胶α组分含量分别为a％，b％和 c ％的A 、B 、C 3 种明胶作为原料，运用溶液共混法制备明胶-壳聚糖复合膜。
研究明胶α组分含量的不同对复合膜力学性能、吸湿性能、溶胀比、孔洞体积分率的影响。
运用X射线衍射和红外光谱分析复合膜的结构。
结果表明：明胶分子量的增加，共混膜的吸湿性、孔洞体积增大；随着共混膜中明胶质量分数的增加，吸湿性和孔洞体积增加，共混膜的溶胀比下降。
明胶与壳聚糖之间存在较强的相互作用，明胶壳聚糖共混可以改变壳聚糖结晶粒的大小，能降低壳聚糖的结晶度。
明胶与壳聚糖之间有良好的生物相容性。
关键词明胶；α组分含量；明胶-壳聚糖复合膜；力学性能；溶胀比；吸湿性能明胶来源广泛,价格低廉,具有良好的生物相容性和可降解性。
但是,它的成膜性、力学性能及抗水性较差。
壳聚糖价廉易得、易于加工,具有良好的生物相容性、可降解性、抗菌防腐性和成膜性等。
明胶-壳聚糖复合膜可用于生物医药、组织工程、食品等。
目前,对增塑及改性明胶-壳聚糖复合膜的性能与应用的研究较多[1~3],但有关未增塑及改性明胶-壳聚糖复合膜的结构与性能的研究很少[4]。
为了开发具有新性能的复合材料,使明胶-壳聚糖复合材料在可食性包装方面得到应用,有必要系统研究明胶-壳聚糖复合物的结构与性能,进一步了解其制备、结构与性能之间的关系,以制备性能特点互补、功能协同增效的绿色包装材料。
本文采用溶液共混法制备了一系列明胶-壳聚糖复合膜,并研究了复合膜的结构和性能1实验部分1.1原材料明胶A，工业级，明胶B和明胶C，照相级，去离子蒸馏水壳聚糖( 脱乙酰度m%)，冰醋酸（分析纯）、氢氧化钠（分析纯）、碳酸钾（分析纯）、氯化钠（分析纯）(市售)。
1.2 实验仪器Z 型微机控制电子万能试验机X 型傅立叶变换红外光谱仪Y 型紫外可见分光光度计1.4明胶/壳聚糖复合膜的制备将一定量的明胶α组分含量分别为a%,b%,c%的A,B,C三种明胶溶于去离子水中，然后用40℃的水浴加热，配置成10%的A,B,C三种明胶溶液；将一定量的壳聚糖溶于2%的冰醋酸溶液中配置成2%的壳聚糖溶液。
origin聚合物结晶度
origin聚合物结晶度
聚合物是一种高分子化合物，由许多单体分子通过化学键结合而成。
聚合物的结晶度是指其分子链在空间中排列的有序程度，是衡量聚合物晶体结构完整性的重要指标。
聚合物的结晶度与其分子量、结晶条件、晶核密度、结晶速率等因素有关。
一般来说，分子量越大、结晶条件越好、晶核密度越高、结晶速率越慢的聚合物，其结晶度越高。
聚合物的结晶度对其物理性质和加工性能有着重要影响。
高结晶度的聚合物通常具有较高的硬度、强度和刚性，但韧性和延展性较差。
低结晶度的聚合物则通常具有较好的韧性和延展性，但硬度和强度较低。
聚合物的结晶度可以通过一些实验方法进行测定。
例如，X射线衍射、差示扫描量热法、热重分析法等都可以用于测定聚合物的结晶度。
在工业生产中，控制聚合物的结晶度是非常重要的。
通过调节聚合物的加工条件、添加剂等方式可以改变聚合物的结晶度，从而获得所需的性能和加工性能。
总之，聚合物的结晶度是衡量其晶体结构完整性的重要指标，对其物理性质和加工性能有着重要影响。
在工业生产中，控制聚合物的结晶度是非常重要的。
本征非晶硅薄膜的准分子激光晶化
本征非晶硅薄膜的准分子激光晶化段国平;陈俊领;周德让;韩俊鹤;黄明举【摘要】In order to reduce the "S-W effect" of amorphous silicon thin film solar cells and increase its photoelectric conversion efficiency, intrinsic amorphous silicon thin films prepared by plasma enhanced chemical vapov deposition were crystallized with KrF excimer laser. The crystalline effect of the crystallized films under different laser energy density and repeated frequency was characterized with Raman spectroscopy, the morphologies of the samples before and after the crystallization was studied by means of scanning electron microscope. It is shown that the crystallization effect became better with the increase of laser energy density, maximum value of crystallization rate was 76. 34% when the energy density reached 268. 54mJ/cm2 and the optimum energy density range was from 204. 99mJ/cm2 to 268. 54mJ/cm2 in which the surface of film was crystallized well. In the range of lHz ~ lOHz, the crystallization effect got better with the increase of laser repeation frequency. Microcrystalline and polycrystal particles appeared obviously after the crystallization so that a good crystallization effect was achieved.%为了减低非晶硅薄膜太阳能电池的光致衰减效应和提高其光电转换效率,用等离子体化学气相沉积系统制备了本征非晶硅薄膜,用波长为248nm的KrF准分子激光器激光晶化了非晶硅表层,用共焦显微喇曼测试技术研究了非晶硅薄膜在不同的激光能量密度和不同的频率下的晶化状态,并用扫描电子显微镜测试晶化前后薄膜的形貌.结果表明,随着激光能量密度的增大,薄膜晶化效果越来越好,能量密度达到268.54mJ/cm2时晶化效果最好,此时结晶比约为76.34％；最佳的激光能量密度范围是204.99mJ/cm2～268.54mJ/cm2,这时薄膜表面晶化良好；在1Hz ～1OHz范围内,激光频率越大晶化效果越好；晶化后薄膜明显出现微晶和多晶颗粒,从而达到了良好的晶化效果.【期刊名称】《激光技术》【年(卷),期】2013(037)002【总页数】4页(P151-154)【关键词】激光技术;微晶硅;激光晶化;多晶硅;本征非晶硅【作者】段国平;陈俊领;周德让;韩俊鹤;黄明举【作者单位】河南大学物理与电子学院河南省光电信息材料与器件重点学科开放实验室,开封475004【正文语种】中文【中图分类】O484.4+1晶体硅太阳能电池的光电转换效率高，技术较为成熟，但其对硅原料的纯度要求高且使用量大，对晶体硅浪费很多，同时高纯度晶体硅制备工艺复杂且属于高耗能高污染行业，所以生产成本居高不下，不利于光伏发电技术的普及和应用。
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origin 分峰法计算薄膜的结晶度
Origin分峰法是一种计算薄膜结晶度的方法，其原理是利用计算机建立晶态部分和非晶态部分衍射曲线的数学模型，然后将两者拟合与实验曲线进行比较。
如果理论计算的线形与实验曲线相吻合，或在一定的误差范围内吻合，即可认为完成分峰，进而求出结晶度。
以下是使用Origin分峰法计算薄膜结晶度的基本步骤：
准备数据：收集薄膜样品的衍射数据，通常这些数据可以通过X射线衍射（XRD）实验获得。
数据导入：将收集到的数据导入Origin软件中。
建立模型：在Origin中，利用计算机建立晶态部分和非晶态部分衍射曲线的数学模型。
这通常涉及到数学函数的选择和参数的设定。
拟合曲线：将建立的晶态和非晶态模型与实验数据进行拟合。
这可以通过Origin的曲线拟合功能实现。
比较拟合结果：比较理论计算的线形与实验曲线是否吻合，或在一定的误差范围内吻合。
如果吻合度良好，则认为分峰完成。
计算结晶度：根据拟合结果，计算出薄膜的结晶度。
这通常涉及到对晶态和非晶态部分的面积或强度进行积分和比较。
需要注意的是，Origin分峰法计算薄膜结晶度是一种基于数学模型的方法，其准确性受到多种因素的影响，如实验数据的质量、模型的选择和参数的设定等。
因此，在进行计算时，需要仔细考虑这些因素，并尽可能提高数据的准确性和模型的适用性。
同时，Origin分峰法只是计算薄膜结晶度的一种方法，还有其他方法如X射线光电子能谱测试（XPS）等也可以用于评估薄膜的结晶度。
这些方法各有优缺点，可以根据具体需求和实验条件选择适合的方法进行测试和分析。