《光耦检测》.(DOC)

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光藕检验标准与规范

光藕检验标准与规范
2 .合格质量水平(AQL):
A类不合格:严重缺点(CRI) AQL:0
B类不合格:主要缺点(MAJ) AQL:0.65
C类不合格:次要缺点(MIN) AQL:1.0
3.常规项目检验标准及检验方法 表一
检验项目
抽样水平
检验方法
检验标准
不良描述
不良判定
检验工具
CR
MA
MI
外观
外包装
全数包装
目视全数外包装
5.检验环境
5.1在本标准中,除气候环境试验和可靠性试验外,其他试验均在下述正常大气条件下进行:
温度:10~35℃
相对湿度:35%~75%
大气压力:86~106kPB
5.2在本标准中,所有目视检验均在40W灯管下1.0米处,1.0以上视力距材料15cm检查10S.
6.相关表格
《进料检验报表》
《进料品质异常单》

直流电源 电流表
输入与输出端耐压测试
1-2PCS
把高压仪的两端引线分别夹到光耦输入输出端,然后跟据测试条件给光耦测试耐压
与规格书资料要求测试项目符合
与要求不符

高压测试仪
输入与输出端绝缘电阻测试
1-2PCS
把绝缘电阻仪的两端引线分别夹到光耦输入输出端,根据条件测试绝缘电阻
与规格书资料要求测试项目符合
与要求不符

绝缘电阻测试仪
XXXX股份有限公司
文件编号
版 次
原材料检验标准与规范
修 订 码
生效日期
2016-5-23
原材料名称:光耦
页 码
4/4
续上表一:
检验项目
抽样水平
检验方法
检验标准

光耦测量方法

光耦测量方法

用两个万用表就可以测了。

光电耦合器由发光二极管和受光三极管封装组成。

如光电耦合器4N25,采用DIP-6封装,共六个引脚,①、②脚分别为阳、阴极,③脚为空脚,④、⑤、⑥脚分别为三极管的e、c、b极。

以往用万用表测光耦时,只分别检测判断发光二极管和受光三极管的好坏,对光耦的传输性能未进行判断。

这里以光耦4N25为例,介绍一种测量光耦传输特性的方法。

1.判断发光二极管好坏与极性:用万用表R×1k挡测量二极管的正、负向电阻,正向电阻一般为几千欧到几十千欧,反向电阻一般应为∞。

测得电阻小的那次,红笔接的是二极管的负极。

2.判断受光三极管的好坏与放大倍数:将万用表开关从电阻挡拨至三极管hFE挡,使用NPN型插座,将E孔连接④脚发射极,C孔连接⑤脚集电极,B孔连接⑥脚基极,显示值即为三极管的电流放大倍数。

一般通用型光耦hFE值为一百至几百,若显示值为零或溢出为∞,则表明三极管短路或开路,已损坏。

3.光耦传输特性的测量:测试具体接线见下图,将数字万用表开关拨至二极管挡位,黑笔接发射极,红笔接集电极,⑥脚基极悬空。

这时,表内基准电压2.8V经表内二极管挡的测量电路,加到三极管的c、e结之间。

但由于输入二极管端无光电信号而不导通,液晶显示器显示溢出符号。

当输入端②脚插入E孔,①脚插入C孔的NPN插座时,表内基准电源2.8V经表内三极管hFE挡的测量电路,使发光二极管发光,受光三极管因光照而导通,显示值由溢出符号瞬间变到188的示值。

当断开①脚阳极与C孔的插接时,显示值瞬间从188示值又回到溢出符号。

不同的光耦,传输特性与效率也不相同,可选择示值稍小、显示值稳定不跳动的光耦应用。

由于表内多使用9V叠层电池,故给输入端二极管加电的时间不能过长,以免降低电池的使用寿命及测量精度,可采用断续接触法测量。

817是常用的线性光藕,在各种要求比较精密的功能电路中常常被当作耦合器件,具有上下级电路完全隔离的作用,相互不产生影响。

光耦好坏的检测方法

光耦好坏的检测方法

光耦好坏的检测方法1. 引言光耦(Optocoupler)是一种能够将输入电信号和输出电信号进行隔离的电子器件。

它通常由一个发光二极管和一个光敏三极管组成,通过光的传导来实现输入与输出之间的隔离。

在电子设备中,光耦广泛应用于隔离、调节、控制等功能。

本文将介绍光耦好坏的检测方法,帮助读者了解如何判断一个光耦是否正常工作。

2. 光耦的工作原理在了解如何检测光耦好坏之前,我们首先需要了解光耦的工作原理。

一个基本的光耦由发光二极管(LED)和光敏三极管(Phototransistor)组成。

当外加电压施加到LED时,LED会发出可见或红外光。

这些发出的光线会被传输到与之相连的光敏三极管中,从而控制输出端口。

具体来说,在正常工作状态下,当输入端口施加一个高电平时,LED会发出高能量的光线并照射到接收端口上。

接收端口中的光敏三极管会受到光线的刺激,导致电流增加,从而使输出端口输出高电平。

反之,当输入端口施加一个低电平时,LED不会发出光线,接收端口中的光敏三极管不受到刺激,导致电流减小,从而使输出端口输出低电平。

3. 光耦好坏的检测方法接下来我们将介绍几种常用的光耦好坏检测方法。

3.1 使用万用表进行检测使用万用表可以快速检测光耦是否正常工作。

以下是具体步骤:1.将万用表调整为二极管测试模式。

2.将正极(红色探针)连接到LED的阳极,将负极(黑色探针)连接到LED的阴极。

3.如果万用表显示一个较小的电压值(通常在0.6V左右),则说明LED正常工作。

4.如果万用表显示一个无穷大或非常高的电阻值,则说明LED损坏。

3.2 使用示波器进行检测示波器可以帮助我们观察和分析光耦输入和输出信号的波形。

以下是具体步骤:1.将示波器的探头的接地线连接到光耦的接收端口。

2.将示波器的信号线连接到光耦的输入端口。

3.施加一个高电平或低电平信号到光耦的输入端口上。

4.观察示波器上输出信号的波形。

如果输出信号与输入信号相符,且幅度正常,则说明光耦正常工作。

光耦检验

光耦检验

电气特性1、High Level output Current I OH2、Low Level output Current I OL3、High Level output Voltage V OH4、Low Level output Voltage V OL5、输入正向电压V F6、输入级与输出级之间的绝缘电阻Rio7、电流传输比CTR开关特性一、输入特性光耦合器的输入特性实际也就是其内部发光二极管的特性。

常见的参数有:1. 正向工作电压Vf(Forward Voltage)Vf是指在给定的工作电流下,LED本身的压降。

常见的小功率LED通常以If=20mA来测试正向工作电压,当然不同的LED,测试条件和测试结果也会不一样。

2. 反向电压Vr(Reverse Voltage )是指LED所能承受的最大反向电压,超过此反向电压,可能会损坏LED。

在使用交流脉冲驱动LED 时,要特别注意不要超过反向电压。

3. 反向电流Ir(Reverse Current)通常指在最大反向电压情况下,流过LED的反向电流。

4. 允许功耗Pd(Maximum Power Dissipation)LED所能承受的最大功耗值。

超过此功耗,可能会损坏LED。

5. 中心波长λp(Peak Wave Length)是指LED所发出光的中心波长值。

波长直接决定光的颜色,对于双色或多色LED,会有几个不同的中心波长值。

6. 正向工作电流If(Forward Current)If是指LED正常发光时所流过的正向电流值。

不同的LED,其允许流过的最大电流也会不一样。

7. 正向脉冲工作电流Ifp(Peak Forward Current)Ifp是指流过LED的正向脉冲电流值。

为保证寿命,通常会采用脉冲形式来驱动LED,通常LED规格书中给中的Ifp是以0.1ms脉冲宽度,占空比为1/10的脉冲电流来计算的。

二、输出特性光耦合器的输出特性实际也就是其内部光敏三极管的特性,与普通的三极管类似。

光耦合的检测方法

光耦合的检测方法

光耦合的检测方法
(1)检测发射管当向导电性能。

用万用表而R×1k档测量发射管的正向电阻,当红,黑表笔测正,反向电阻应有明显的差异,二者差值越大,说明发射管单向导电性越好。

若正,反向阻值无差别,说明发射管已经损坏
(2)检测接收管是否正常
因为光耦合的接收方式不尽相同,所以测试时应针对不同结构进行测量和判断。

测量接收管时,应按测试三极管的方法进行测量。

即用万用表R×1k挡或R×100挡分别测量接收管的集电极与发射极的正,反向电阻,均应有单向导通的特性。

另外,也要检查一下集电极C和发射极之间的电阻值,以判断穿透电流的大小。

(3)测量发射极与集电极之间的绝缘电阻。

用万用表的R×10k挡,依次测量输入端的两脚与输出端各引脚的电阻值都是无穷大。

发射管与接收管之间不应有漏电阻存在。

双万用表测量法
检测电路如图所示,表1和表2均设置于R×100挡。

先不接一表,只将2表的黑表笔接5脚,红表笔接4脚此时接收管处于在截止状态,表2电阻读数无穷大。

然后将表1接入,黑表笔接1脚,红表笔接2脚。

此时,表2的电阻值应有几百欧的电阻,表明接收管已经导通。

从表2指针摆动幅度可判断出被测光耦合器电流传送比的大小。

表2的指针偏转的角度越大,说明光耦合器的CTR值越高。

如果表2指针根本不摆动,说明光耦合器已经损坏。

如是数字万用表可看读数的变化。

光电耦合器的测试

光电耦合器的测试

光电耦合器的测试一:教学目的:掌握光电耦合器的测试方法。

二:教学重点:1、光电耦合器好坏的判加别。

2、光电耦合器性能的判别。

三:教学难点:光电耦合器性能的判别。

四:教学方法:讲授、现场。

五:教学过程:(一)导入1、据光耦内部电路图分析,它内部是由哪能两个元件构成的。

2、光电耦合器是一种电——光——电转换器件。

它是怎样实现转换的?(二)光耦内部的组成:光耦是一种电——光——电转换器件,它由发光源和受光器两部份组成,把发光源和受光器组装在同一密闭的壳体内、发光源的引脚为输入端、受光器的引脚为输出端、在输入端加上电信号,发光源发光,受光器在光照产生电流,电输出端引出。

(三)性能检测:1、静态检测:由于光耦中的发光管与光敏管是互相独立的,可用不同表单儿检测这两部份、测量分三步进行。

○1用万用表R×100或R×1K挡测量发光管的正反向阻值,正常正向阻值为几百欧、反向阻值为无穷大,测正反向阻值相近、表测发光二极管已坏。

注意,不能使用R×10K挡因为发光二极管工作电压为1.5V-2.3V,会导致发光二极管击穿。

○2检测穿透电流Iceo:应用R×10K挡、黑毛接集电极,红笔接发射极,表针应微动,对调两表笔再测,表针应不动,即测量其阻值均为无穷大。

否则光敏三极管已坏。

○3用万用表R×10K挡检测发光管与光敏管之间的绝缘电阻应为无穷大。

上述发光管与光敏管只要有一个损坏或它们之间绝缘不良,则光耦就不能正常工作。

2、检测:用两只万用表测动态特性:两只表均置二R×1挡,一只表测输入端正向电阻,加一只表测输出端正向电阻Rce,Rce的阻值为+n欧。

如测量的阻值符合上述数值,表明光耦是好的,如阻值偏差太大,说明该器件已损坏或性能欠佳,不能使用。

六、板书设计:一、(1)R×100测发光管的正反向电阻。

(2)检测穿透电流Iceo,用R×10K挡黑笔接c笔接e,表针微动,对调列针应为无穷大。

光耦检测仪的制作方法-概述说明以及解释

光耦检测仪的制作方法-概述说明以及解释

光耦检测仪的制作方法-概述说明以及解释1.引言1.1 概述概述光耦检测仪是一种用于检测光信号的仪器,它利用光电效应将光信号转化为电信号,从而实现对光信号的检测和分析。

光耦检测仪广泛应用于光电领域的研究和工程实践中,具有高灵敏度、快速响应和广泛应用范围等优势。

本文将介绍光耦检测仪的制作方法,包括其原理、制作所需的材料和工具,以及具体的制作步骤。

通过本文的阅读,读者将了解到如何制作一台简单的光耦检测仪,并理解其工作原理和应用前景。

本文的结构如下:首先,引言部分将对光耦检测仪的概述进行详细介绍。

接下来,正文部分将分为三个部分,分别介绍光耦检测仪的原理、制作所需的材料和工具,以及具体的制作步骤。

最后,结论部分将评估制作光耦检测仪的可行性,并展望其在光电领域的应用前景。

通过本文的阅读,读者将全面了解光耦检测仪的制作方法,为进一步深入研究和应用光耦检测仪提供了基础。

无论是在科学研究中还是在工程实践中,掌握光耦检测仪的制作方法都具有重要的意义。

1.2 文章结构文章结构:本文分为引言、正文和结论三个部分。

在引言部分,将概述光耦检测仪的概念和原理,并介绍文章的目的。

在正文部分,首先解释光耦检测仪的原理,然后详细说明制作光耦检测仪所需的材料和工具,并逐步介绍制作步骤。

在结论部分,对制作光耦检测仪的可行性进行评估,并展望光耦检测仪的应用前景。

最后,以结束语总结全文的内容。

通过这样的结构,读者可以全面了解光耦检测仪的制作方法,并对其应用前景进行探讨。

1.3 目的光耦检测仪是一种常见的光电检测设备,广泛应用于各个领域中。

本文的目的是介绍光耦检测仪的制作方法,帮助读者了解如何制作自己的光耦检测仪。

具体来说,本文的目的包括以下几个方面:1. 提供制作光耦检测仪的详细步骤:本文将详细介绍光耦检测仪的制作步骤,涵盖所需材料和工具的准备、电路连接的操作,以及光耦检测仪的组装调试等关键步骤。

通过清晰的步骤说明,读者可以一步步地跟随指导完成自己的光耦检测仪。

光耦合器测试方法

光耦合器测试方法

治肝病 ( 7 ) 防治血管疾病 ( 8 ) 防治血管 栓塞 ( 9 ) 防 治心与脑血管疾病 ( 10 )
抗肿瘤 ( 11 ) 抗化学毒物 等。天然来 源的生物黄酮分子量小,能被人体迅 速吸收,能通过血
脑屏障,能 时入脂肪组织,进而体现出 如下功能:消除疲劳、保护血管、防动脉硬化、扩张毛细血
管、疏通 微循环、活化大脑及 其他脏器细胞的功 能、抗脂肪氧化、抗 衰老。
LDL)受体数 量和活性 增加、 使血清胆 固醇清除 增加、水 平降低。 他汀类药 物还可抑 制肝脏 合成载
脂蛋白 B-100,从而减少富含甘油三酯 AV、脂蛋白的合成和分泌。
他汀类药物分 为天然化合
物(如洛伐 他丁、辛伐他汀、普伐他汀、美伐他汀)和完全人工合成化 合物(如氟伐他汀、阿托伐他汀 、
西立伐他汀、罗伐他汀、pitavastatin)是最为经典和有效 的降脂药物,广泛应用于高脂血症的治疗 。
电流,计算是否在规定范围。 2)最大正向二级管电压测试:
用电流源测试,电流设为 IF (一般为 20mA),正极接在 PIN1,负极接在 PIN2,测试输出电压 VF:范围(不能大于 1.4V) 3)输入端反向漏电流测试
用电压源在输入端(PIN1&2)加反向电压(按该器件的标准条件),测电流,电流小于最大反向漏 电流 IR:Reverse Leakage Current(10uA) 4)输出端击穿电压测试:
高速光耦合器
逻辑输出光电耦合器
光耦合器
MOSFET 输出光电耦合器 光隔离放大器
光电二极管输出光电耦合器
晶体管输出光电耦合器
三极与 SCR 输出光电耦合器
表一:光电耦合器的分类
输 最 大 最大集 绝 入 集 电 电极/发 缘 类 极 / 发 射极饱 电 型 射 极 和电压 压
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XXXXXXX有限公司检测标准
1.适用范围: 适合于816系列光电耦合器。

一. 外型尺寸图:
1.LTV-816光耦尺寸图:
二. 光耦实物图:
三. 测试电路图:
四. 输出波形图:
五.光电特性:
CTR=I
C /I
F
X100%
六. 传输特性:
七. 光耦检测项目:
1.包装标识:供应商应具有生产厂家的代理资格证书及相关质量保证书,内外包装应防静
电、防潮、密封,标识清楚,外箱包装具备下述内容:
a. 名牌商标
b. 型号规格
c. CTR 范围代码
d. 封装地
e. 数量
f. 制造年月、批号
2. 外观:元件本体商标、型号、CTR范围代码、批号应与外包装相符,表面不应该有锈
蚀、裂痕和其它损伤,形状规则大小统一,管脚分布整齐光洁,刻字圆点(表
示第一脚)清楚,耐清洗剂清洗。

3. 尺寸:符合供货方提供的我公司认可的尺寸要求。

(游标卡尺)
4. 可焊性:各管脚需有良好的可焊性,光亮易锡(30W 烙铁Φ 0.6锡丝)
5.电性能:
6. 万用表检测光电耦合器:
6.1 用RX100(或者RX1K)档测量发射管的正、反向电阻,检测单向导电性。

6.2 分别测量接收管的集电结与发射结的正、反向电阻,均应单向导电,然后测量穿透
电流Iceo 应等于零。

6.3 用RX10K 档检查发射管与接收管的绝缘电阻应为无穷大。

有条件者最好选兆欧表实
测绝缘电阻值,但兆欧表的额定电压不得超过光电耦合器的绝缘电压V DC 值,测量时间不超过一分钟。

6.4 光电耦合器的输入端和输出端之间是绝缘的,绝缘电阻根据封装形式有差异,一般
大于1010,耐压超过1KV 。

7. 半导体特性图示仪检测:
注:X 轴:0.2V/格,Y 轴:5mA/格。

测试输入端正向电压V F =1.2V ,反向耐压V R =6V 输出端电压V CEO =80V, V ECO =6V
参数 符号 数值 单位 输入
正向电流
I f
50 mA 反向电压 V R
6 V 功耗
P
70
mW
输出
集电极-发射极 电压 V CEO 80 V 发射极-集电极 电压
V ECO
6
V
集电极电流 I C
50 mA
集电极功耗 P c 150 mW
8. 耐压测试:
输入端两脚短接,输出端两脚短接后,输入与输出端打耐压5KV、1mA 、1min
9. 盐雾试验:检测光耦管脚是否生锈。

10. 在传输数字信号时还需考虑上升时间、下降时间、延迟时间和存储时间等参数。

(注:素材和资料部分来自网络,供参考。

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