影像测量仪校准规范
影像测量仪怎么校正【详解】
为了适应不同的需要，许多不同原理的坐标测量机探头得到开发。
探头根据测量方法分为接触式探头和非接触式（光学）探头。
光学探头中又分为一维光学探头和二维光学探头（影像探头）。
影像探头采用光学成像系统和图像分析软件，利用图像提取被测样品表面边界点的坐标集，计算各种参数。
影像探头坐标测量机与传统光学仪器的主要差别在于，传统光学仪器需要调整被测样品的测量线对准仪器基准进行测量。
例如：测量圆的直径，传统光学仪器利用Y轴示值找到圆在X轴方向的直径位置，测量圆的直径。
而影像探头坐标测量机则可以在圆周上任意采样n个点坐标，计算圆的直径和中心坐标。
影像测量仪的特点;影像测量仪，通过捕捉工件表面影像的边缘，进行图像处理，获得影像几何要素的数据。
影像特征点在测头坐标系中的坐标（x'，y'）与探头参考点在坐标测量机基础坐标系中的坐标（x"，y"）合成，构成被测点坐标（X，Y）。
作为光学成像探头，成像光路质量、成像器件的质量、照明的强度、照明的均匀性、被测物体的颜色和、质地、阈值的大小、灰尘的影响等，均会对测量结果造成影响。
成像光路质量，指受影像探头采用的光学镜头、镜头安装系统等影响下的成像质量。
这些影响通常会引起枕形歧变或桶形歧变，梯形歧变，成像锐度下降（彗差）等问题。
当照明强度变化时，由于阈值保持不变，信号边沿的变化影响测量结果。
而成像锐度的变化，也会使测量结果不同影像测量仪的计量特性和评定方法：而成像歧变的探测误差则采用标准圆在仪器视场中完整成像，圆形影像直径占视场边长的约2/9，并且对影像在视场内9个点进行测量（图6），计算其圆心坐标的变化。
成像歧变的探测误差反映了成像光路造成的歧变、成像元件刻划不均匀造成的误差，坐标测量机运动误差等对测量结果造成的影响。
实际校准过程描述1 : 多点测量的探测误差将标准图形板安置在水平工作台上，采用轮廓光照明。
镜头选择大的放大倍数，以保证测量只能通过多个局部圆弧（规定采用15个局部圆弧）测量计算圆参数。
影像测量仪校准规范的实际应用研究
影像测量仪校准规范的实际应用研究引言随着科技的发展，影像测量仪在工业生产、医学影像和地理测量等领域得到了广泛的应用。
影像测量仪的测量结果准确性直接影响产品质量和科研成果的可信度，因此对影像测量仪进行校准是非常必要的。
本文旨在通过实际应用研究，探讨影像测量仪校准规范的实际应用情况和影响因素，并提出相应的解决方案。
1.1 校准方法影像测量仪的校准方法通常包括内参数和外参数的校准。
内参数主要包括摄像机的焦距、主距离和径向畸变等参数的校准，外参数主要包括相机姿态和位置等参数的校准。
常见的校准方法有标定板法、棋盘格法和多视图法等。
影像测量仪的校准精度对其测量结果的准确性有着直接的影响。
校准精度一般通过重复测量同一标定板或标定点来评估，常见的评估指标有重投影误差和畸变系数等。
1.3 校准结果的稳定性影像测量仪的校准结果的稳定性也是影响其实际应用的重要因素。
在实际使用过程中，可能会受到环境因素和设备磨损等因素的影响，导致校准结果的变化。
二、影像测量仪校准规范的应用影响因素2.1 设备选型不同品牌、型号的影像测量仪在校准方法和精度上可能存在差异，因此在选择影像测量仪时需考虑其校准规范的适用性。
2.2 校准环境校准环境的稳定性对影像测量仪的校准结果有着直接影响。
尤其是在多视图法等校准方法中，环境的光照和背景对校准结果的稳定性有着重要影响。
2.3 操作人员技术水平影像测量仪的校准需要操作人员具备一定的技术水平，特别是在进行复杂校准方法时，如多视图法需要操作人员对摄像机参数的调整有一定的经验。
影像测量仪的维护状况也会影响其校准结果的稳定性，定期的维护保养工作对于确保校准结果的稳定性非常重要。
根据实际需求和设备特点，选择适合的校准方法是保证校准结果准确的关键。
3.2 校准过程的控制加强校准过程的控制，包括环境控制、操作规范和设备维护保养等，可以提高校准结果的稳定性。
对校准结果进行验证，例如通过重复测量和比对，可以评估校准结果的准确性和稳定性。
影像测量仪校准规范
影像测量仪校准规范影像测量仪校准规范一、目的影像测量是一种精确测量方法，为确保测量结果的准确性和可靠性，需要对影像测量仪进行定期校准。
本规范的目的是明确影像测量仪的校准要求和步骤，以保证测量结果的准确性和可比性。
二、影像测量仪的校准对象和要求1. 影像测量仪的光学系统：校准该系统的几何畸变、畸变误差和像差等影响测量结果的因素，保证测量结果的准确性。
2. 影像测量仪的机械系统：校准该系统的运动轴向误差、定位误差和重复性误差等，保证测量结果的可靠性。
3. 影像测量仪的图像处理系统：校准该系统的亮度、对比度和色彩等参数，保证测量结果的可比性。
三、影像测量仪的校准步骤1. 校准前的准备工作：确认校准设备的可靠性和准确性，检查校准样品的完好性和准确度，准备好校准记录表格和校准指导书。
2. 校准光学系统：使用光栅标尺或标准样品对影像测量仪的光学系统进行标定，通过测量标尺或样品的特定位置和尺寸，计算和记录系统的畸变和误差等参数。
3. 校准机械系统：使用标准测量样品对影像测量仪的机械系统进行标定，通过测量样品的位置和尺寸，计算和记录系统的轴向误差、定位误差和重复性误差等参数。
4. 校准图像处理系统：使用标准图像或标准样品对影像测量仪的图像处理系统进行标定，通过测量图像的亮度、对比度和色彩等参数，计算和记录系统的处理误差等参数。
5. 校准结果的评估和分析：根据校准记录表格和校准指导书，对校准结果进行评估和分析，判断影像测量仪是否符合校准要求，如果不符合，需要进行调整和再校准。
6. 校准结果的记录和报告：将校准结果和评估分析记录在校准记录表格中，并编写校准报告，报告中需要包括校准的日期、校准人员和校准设备的信息，以及校准的过程和结果等。
四、校准的频率根据影像测量仪的使用频率和测量结果的重要性，一般建议影像测量仪的校准频率为每年一次，对于使用频率较高或要求较高的仪器，可以根据实际情况适当增加校准频率。
总结：影像测量仪的校准是保证测量结果准确性和可靠性的必要步骤。
影像测量仪第三方检定规程
影像测量仪第三方检定规程影像测量仪是一种具有高精度、高效率的测量仪器，广泛应用于机械加工、电子制造、航空制造等领域。
然而，为了保证影像测量仪的测量精度和可靠性，需要进行第三方检定。
下面我们将介绍影像测量仪第三方检定规程。
一、检定前准备1. 检定前需要准备的器材：（1）参考标准（光栅尺、水平仪等）（2）加工工件（3）标准量具（千分尺、短规等）2. 检定前需要准备的文件：（1）测量仪器检定证书（2）使用说明书（3）影像测量仪结构图（4）影像测量仪的原始数据及其处理方法二、检定要求1. 检定机构应根据国家、行业规定和技术标准进行检定，建立相应的检定标准、报告和记录等。
2. 影像测量仪应当正常使用和调整，如有故障需要说明，并确保在检定期间能够进行测量。
3. 检定环境温度应在18℃~28℃之间；湿度应在40%～70%之间，同时保证环境无振动、无电磁干扰、无尘垢污染等干扰。
4. 影像测量仪应进行内部和外部的检查和清理，确保清洁、整洁无杂物。
5. 影像测量仪所选的检定工件应当有典型性，符合国家标准或行业标准，且测量范围内基本相同，保证检定数据的可比性。
6. 检定数据采用多点校正法，包括零偏误、线性误差和非线性误差。
三、检定步骤和内容1. 检定前应先对参考标准和量具进行检查和校准，确保其精度和可靠性。
2. 所检工件应先进行检测，确定其几何形状和精度；3. 在检定前，应先进行预热处理4. 影像测量仪的检定应采用多点校正法，包括零点误差、线性误差和非线性误差等；5. 在影像测量仪检定完成后，应对影像测量仪进行调整和清洁，并进行统计分析和处理。
6. 完成检定后，应按要求填写检定报告，包括影像测量仪的参数、测量精度、误差分析和处理，以及检测员的签名等。
以上就是影像测量仪第三方检定的一般规程和要求。
影像测量仪在工业生产和科学研究中具有重要应用价值，其检定应严格按照有关技术标准和规范进行，以保证其测量精度和可靠性。
影像测量仪第三方检定规程
影像测量仪第三方检定规程影像测量仪是一种重要的测量工具，广泛应用于各个领域。
为了确保其精度和可靠性，需要对其进行定期的检定。
本规程旨在规范影像测量仪第三方检定的流程和要求，保证检定结果的准确性和可信度。
2.检定机构影像测量仪的第三方检定应由具有相关资质和能力的检测机构进行。
检测机构应当具有国家认可的检测资质和实验室，并且能够提供完备的检定设备和标准。
3.检定项目影像测量仪的第三方检定应包括以下项目：(1)几何误差：包括平移误差、旋转误差、比例误差等；(2)像差：包括径向畸变、切向畸变等；(3)分辨力：包括空间分辨力、灰度分辨力等；(4)重复性和稳定性：包括偏差、重复性、稳定性等。
4.检定标准影像测量仪的第三方检定应依据国家有关标准和规范进行。
检定标准应当具有科学性、规范性和可操作性，能够保证检定结果的准确性和可靠性。
5.检定报告影像测量仪的第三方检定应出具详细的检定报告。
检定报告应包括以下内容：(1)检定机构的名称、地址、联系方式等信息；(2)影像测量仪的基本信息，包括型号、生产厂家、出厂日期等；(3)检定项目和标准；(4)检定结果和误差分析；(5)检定结论和建议。
6.检定周期影像测量仪的第三方检定周期应根据实际情况制定。
一般来说，检定周期应不超过一年，对于精度要求较高的影像测量仪，建议每半年进行一次检定。
7.结语影像测量仪的第三方检定是保证其精度和可靠性的重要手段。
遵循本规程，选择正规的检测机构进行检定，能够提高检定结果的准确性和可信度，为各行业的测量工作提供可靠保障。
影像测量仪校准规范-报批稿
图3
测量 P2D 的示例
用所有 25 个测量点的数据拟合最小二乘圆，得到圆心，25 个测量点到圆心的距离即 为半径 Ri，范围 RMAX-RMIN 即为探测误差。当需做符合性判定时，其值应不大于探测误差的 最大允许值。 7.7 影像测头探测误差（PV） 选择适当尺寸的圆形靶标（影像直径约为视场的 10%30%） ，将其放置在影像测量仪 工作台上，调整影像清晰。在仪器不产生运动的条件下，利用视场内不同点对标准器圆 周进行测量（见图 4） ，用所有 25 个测量点的数据拟合最小二乘圆，得到圆心，25 个测 量点到圆心的距离即为半径 Ri，范围 RMAX-RMIN 即为影像测头探测误差。当需做符合性判定 时，其值应不大于影像测头探测误差的最大允许值。
3
JJF xxxxxxxx 表1 序号 1 2 3 4 5 6 7 校准项目 聚焦平面尺寸测量示值误差（EXY） 光轴方向尺寸测量示值误差（EZ） 标准器及其它设备 标准器及其它设备 不确定度不大于 1/4MPEV 的线纹尺或二维掩模板 不确定度不大于 1/4MPEV 的量块或台阶规
影像探测系统尺寸测量示值误差（EV） 不确定度不大于 1/4MPEV 的线纹尺或掩模板 各截面测量结果一致性（ES） 探测误差（P2D） 影像测头探测误差（PV） 变倍探测误差（PZ） 专用台阶规（技术规格见附录 A） 标称直径（2050）mm，圆度不大于 1/4MPE 的圆 形靶标 标称直径（0.1 1）mm，圆度不大于 0.5m 的圆 形靶标 圆度不大于 0.5m 且标称直径在视场范围内的圆 形靶标
6
JJF xxxxxxxx
视窗 测量窗 圆靶标
图4
影像测头探测误差测量示意图
7.8 变倍探测误差 PZ 靶标的尺寸应保证最小倍率时靶标直径为视场大小的 10%-30%， 最大倍率时可以在视 场中获得完整的靶标像。将满足要求的靶标置于工作台面上，采用透射光照明，测量时 工作台不作任何移动。调整视场，使靶标的像在视场中的任意位置。更换不同的定倍镜 头，或调整变倍镜头使其倍率为 βmin、βmax 及该范围中点，测量靶标的中心坐标，得到坐 标点（、Yi） 。计算各 X、Y 坐标点的最大最小差，即 ∆X = max(Xi)-min(Xi) ∆Y = max(Yi)-min(Yi) 则 （1） （2） （3）
影像测量仪校准规范的实际应用研究
影像测量仪校准规范的实际应用研究影像测量仪是一种高效、精确的测量工具，在许多领域被广泛应用，例如工业制造中的尺寸检测、航空航天领域的部件测量、地质勘探中的形变量测量等。
对于影像测量仪的精度和准确性要求很高，因此校准是确保其精度和准确性的关键环节。
为此，本文对影像测量仪的校准规范进行了研究，并探讨了其实际应用。
1. 校准目标影像测量仪的校准目标是确定其内部参数和外部参数，以消除系统误差和提高精度。
其中，内部参数指相机的镜头焦距、畸变系数和像素大小等，外部参数指相机的位置和拍摄姿态。
对于不同的影像测量仪，其校准目标也会有所不同。
2. 校准方法常用的影像测量仪校准方法有相机标定法和外方位元素标定法两种。
（1）相机标定法该方法通过拍摄已知尺寸的标定板并测量其特征点坐标，来获取相机的内部参数（镜头焦距、畸变系数和像素大小）和外部参数（相机的位置和拍摄姿态）。
该方法适用于单目相机和立体相机的校准。
（2）外方位元素标定法3. 校准精度影像测量仪的校准精度是影响其测量精度和准确性的重要因素之一。
常见的校准精度指标有标定误差和重投影误差。
标定误差是指测量结果与真实值之间的差距。
常见的标定误差包括径向畸变、切向畸变和重合误差等。
通过对相机标定板的拍摄和特征点测量，可以获得标定误差。
（2）重投影误差重投影误差是指将真实世界中的点投影到图像平面后再反投影回真实世界中，得到的重投影坐标与真实坐标之间的差距。
通过拍摄已知三维空间点的坐标和该点在图像中的投影坐标，可以获得重投影误差。
影像测量仪在实际应用中，需要根据具体的测量任务进行校准和调试。
以下是影像测量仪校准规范的一些实际应用场景。
1. 工业制造中的尺寸检测影像测量仪在工业制造中，主要用于产品尺寸的测量。
例如，对于汽车轮毂的生产，需要采用影像测量仪对其轮缘尺寸进行测量和分析，以保证其尺寸和质量的准确性。
在进行轮缘尺寸测量之前，需要对影像测量仪进行校准，以确保测量精度和准确性。
影像测量仪校准规范【大全】
影像测量仪为制造业的必备精密测量设备，已经广泛的应用于各行各业，其拥有一个统一的标准是非常必要的。
国家在2012年已经实施了适用于影像测量仪的校准规范（JJF 1318-2011），该规范引用了几何测量设备校准中的不确定度评定指南和影像测量仪的验收监测和复检监测。
下面让我们了解一下规范中都有哪些重要参数：1.平面尺寸测量误差(Exy)：该测量误差代表影像测量仪在二维平面上，任意方向摆放工件的二维尺寸示值误差。
2.在Z轴上的尺寸测量误差( Ez)：该测量误差代表影像测量仪垂直方向测量的示值误差。
3.镜头的尺寸测量误差(Ev)：在平台不移动的情况下，影像视场范围内测量平面上任意尺寸的示值误差。
4.各截面测量结果的一致性(Ec)：影像测量仪在光轴的不同截面上测量时，各截面坐标原点投影与XY平面的一致性。
简单的说是影像测量仪在z轴方向上下移动时，Z 轴与XY 水平面之间的垂直程度，也可以反映镜头在不同高度用影像测量特性的一致性。
5.二维探测误差(P2D)：用影像测量仪测量标准圆的半径变化幅度。
6.探测误差(PV)：影像测量仪在视场范围内测量标准圆的半径变化幅度。
7.变倍探测误差(Pz)：影像测量仪在不同倍率下测量标准圆心坐标的示值变化幅度。
扩展资料：影像测量仪选购方法：有许多客户都在为如何挑选影像测量仪的型号品牌所困扰，其实最担心就是影像测量仪的质量和售后。
国内影像测量仪的生产商大部分都集中在广东地区，研发的软件功能大部分相似，客户可以不用担心，挑选一款能够满足需要测量的产品行程就行了。
根据需要来选择要不要自动或者手动，手动的就比较便宜，全自动的大概要比手动贵一倍左右。
挑选影像测量仪最重要看显像是不是清晰，以及精度是否达标(一般精度选择标准为公差带全距的1/3~1/8)。
将所能捕捉到的图象通过数据线传输到电脑的数据采集卡中，之后由软件在电脑显示器上成像，由操作人员用鼠标在电脑上进行快速的测量。
有的生产商为了节约成本可能会采用国产的，造价比较低，效果就稍微差点。
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影像测量仪校准规范
篇一：011影像测量仪内校规范
篇二：2.测量仪器校准规程
1. 目的
对出货产品、过程产品和成品的规定的磁特性进行监视和测量，以保证经过检验的产品数据的准确性而制定本程序。
2. 范围
适用于公司磁性能检验仪器、等离子体发射光谱仪、氧氮分析仪、激光粒度仪、电子天平、 2.5次元影像测量仪、盐雾箱、恒温恒湿试验箱、PCT加速老化试验箱、电热鼓风干燥箱、箱式电阻炉、磁通计、永磁快速测试仪、高斯计等的校准或校验。
3. 职责
3.1 本文件由品管部负责编制、修订，并对执行情况进行监督、检查与指导。
3.2 品管部检验员负责仪器的校准执行。
4. 校准规程
4.1 磁测仪的校准规程 4.1.1 校准条件
NIM-200C永磁材料不同温度曲线精密测量装置测试温度要求：21.6℃（证书上的标样测试温度） 4.1.2 内校周期每周一次 4.1.3 校准方法
使用钕铁硼标准块（由中国计量科学研究院校准提供，证书编号GJcc2016-0399，每年外校一次）校准，仪器预热稳定后，对标样按检测条件和《永磁体高温测量操作规程》检测，记录检测结果，对照标样标准结果计算 Br，Hcj，（BH）max相对
偏差sigma，当Br sigma<1%，Hcj sigma<1.5%,时，（BH）max sigma<2.0%时，仪器正常。
4.1.4 标样管理
专人保管，保持洁净、干燥，两端面如有磨损，立即更换。
每年外校一次。
4.2 ICP等离子体发射光谱仪校准规程 4.2.1 测试条件
仪器内保持恒温30℃±0.5℃ 4.2.2 内校周期
每次测量 4.2.3 校准方法
内校标样：钕铁硼，分析结果由获得实验室资质证书的包头稀土研究院理化检测中心提供（标准值有测试范围）。
待仪器点火预热稳定后，按检测钕铁硼方法步骤先检测标样，每个元素连续平行测定3次，记录结果，再测定待测试样。
如标样结果在测量范围内，无需校正，如不在范围内，按下列算式校正：试样值=标样已知值÷标样测试值×试样测试值
4.2.4标样管理
专人定期配制，专人保管。
有效期三年。
4.3氧、氮分析仪校准规程 4.3.1内校周期
每月一次 4.3.2 校准方法
校准使用钢铁标准样品（有合格证书）。
待仪器预热稳定后，按仪器分析操作步骤进行测定标准样品，记录结果，如测试值与标准值相对偏差
<2%，无需校正，如>2%按下列步骤操作校正：光标选住标样(显示黑色)，点上面菜单“编辑”中的“匹配标样”，选中使用的钢标值，进入“方法”，点“快速校准”，对“低
氧”“低氮”“高氮”进行选择确定，校准完毕，开始测试待测样品。
4.3.3 标样管理
专人保管，防潮，不能污染。
4.4激光粒度仪的校准规程
4.4.1内校周期
半月一次 4.4.2 校验条件
氮气压力：1bar，真空度：30mbar 4.4.3 校验方法
校验使用标准样品SiC-F1200，08（仪器厂家提供，有合格证书）
待仪器预热稳定后，按仪器分析操作步骤和标样测试条件进行测定并记录，结果在下述范围内D10(2.00-2.26um)D50(4.73-4.98um)D90(8.55-9.27um)，说明仪器正常。
4.4.4标样管理
专人保管，不能污染、受潮。
4.5 2.5次元影像测量仪的校准规程 4.
5.1内校周期半月一次 4.5.2 校准方法
待仪器预热稳定后，将标样块（仪器厂家提供，有外校合格证书）置于载物玻璃台上，按照仪器使用操作规程，测量标准圆的尺寸并记录，显示值与标准值偏差均在4um范围内，说明仪器正常。
4.5.３标样管理
专人保管，不能污染，常温干燥处保存。
4.6 TA102E磁通计校验规程 4.6.1 校验条件
2５℃±５℃ 4.6.2 校验周期每周一次 4.6.3 校验方法
相对标样由客户方安泰科技的功能理化检测中心提供，对方获资质证书，同款磁通计有校准证书，标样附带检测报告。
待仪器预热稳定后，按该仪器操作步骤测试标样，记录结果，测量值在标样值±3范围内，表示仪器稳定正常，可以测试试样。
4.6.4标样管理
4.6.4.1 带磁标样储存于非金属的隔磁盒子里，有专人保管。
4.6.4.2标样磁通值不在范围内且偏低时，可补充磁至饱和，继续使用。
4.6.4.3标样表面镀层磨损或裂缝，应重新更换标样。
4.6.4.４每月与客户方比对一次 4.7 HT701磁通计校验规程 4.7.1校验条件
2５℃±５℃ 4.7.2 校验周期每周一次 4.7.3 校验方法
相对标样：D4.4*D2.8*1.41扁平环，通过与客户方测试结果比对获得我方测试范围值。
待仪器预热稳定后，按该仪器操作步骤测试标样，记录结果，测量值在±0.03波动范围内，表示仪器稳定正常。
4.7.4标样管理
4.7.4.1 带磁标样储存于非金属的隔磁盒子里，有专人保管。
4.7.4.2标样磁通值不在范围内且偏低时，可补充磁至饱和，继续使用。
4.7.4.3标样表面镀层磨损或裂缝，应重新更换标样。
4.7.4.４每月与客户方比对一次 4.8 HT707磁通计校验规程 4.8.1校验条件
2５℃±５℃ 4.8.2 校验周期每周一次 4.8.3 校验方法
相对标样：D8.55*D4.3*0.65扁平环，通过与客户方测试结果比对获得我方测试范围值。
待仪器预热稳定后，按该仪器操作步骤测试标样，记录结果，测量值在±0.003波动范围内，表示仪器稳定正常。
4.8.4标样管理同HT701
4.9 永磁快速检测仪校验规程 4.9.1校验条件
2５℃±５℃ 4.9.2 校验周期每周一次 4.9.3 校验方法
相对标样：D37*D19*5，用客户方测试结果校准，获得我方测试范围值。
待仪器预热稳定后，按该仪器操作步骤测试标样，记录结果，测量值在±3波动范围内，表示仪器稳定正常。
4.9(来自: 小龙文档网:影像测量仪校准规范).4标样管理同HT701
4.10 盐雾箱校准规程 4.10.1 校准条件
盐雾设置条件稳定。
4.10.2 校准周期及校准方法
1）温度：每月测量一次，将外校过有合格证的温度计插入恒温水箱，盖盖，两小时后取出，温度在35±2℃范围内为合格，记录测试值。
2）PH值：每次配制盐水需调节，盐水配好后，用5.5-9.0PH 精密试纸（用PH计校验）测试，值在6.5-7.2之间为合格，用0.5N NaOH溶液调制，记录调制后PH值。
3）雾化量（要求1-2mL/h）：接收雾化盐水量筒校准方法（校准一次即可）：量筒洗净，烘干，冷却至室温放在电子天平（用外校砝码校准）上，归零，加入纯水（已调到20℃）至25mL刻度线，称重。
实际体积=质量/纯水密度
（0.9982ɡ/mL），在25±0.5mL范围内为合格，继续加水至50mL刻度线，校准方法同上，在50±0.5mL范围内为合格，记录校准过程。
24H内雾化量在24 mL-48 mL之间为合格，每天记录一次。
4.10.3 标准管理
温度计、PH计、5.5-9.0PH精密试纸有专人保管， 5.5-9.0PH 精密试纸不能污染、受潮，放于干燥器中。
4.11电热鼓风加热箱内校规程 4.11.1校验周期三个月一次
4.11.2校验用仪器温度计（0-100°C，0-300°C，经过外校，有证书）
4.11.3内校方法将电热鼓风加热箱温度设置在常用温度段，用绳拴好温度计顶端挂于鼓风加热箱排风口处，水银端在箱内上下不同区域可测试，待温度升至设置温度时，拉出温度计至刚好看到测量温度即可，记录测量值，测试试样设置温度时进行修正。
4.11.4标准管理
温度计是玻璃仪器，需轻拿轻放，小心存放。
每年外校一次。
4.12箱式电阻炉内校规程 4.12.1校验周期半年一次
4.12.2校验用仪器温度计（0-300°C，经过外校，有证书）
4.12.3内校方法设置温度为250°C，炉膛内放置石棉板，将温度计置于石棉板上，水银头部位不能接触到炉膛壁，另一端用石棉包裹于炉门孔洞处，关上炉门，待温度升至设置温度时，过五分钟后将温度计轻轻拉出至刚好看到测试温度，记录测试值。
待测试试样设置温度时进行修正。
4.13恒温恒湿箱内校规程 4.13.1校验周期半年一次
4.13.2校验用仪器温湿度计（0-99°C，RH0-99%，经过外校，有证书）
篇三：关于量具校验的规定
浙江升宏机械
关于量具校验的规定
一、三大量具的校验
卡尺、千分尺、百分表三大量具由本公司计量室校验，校验周期为一年。
二、螺纹栓规及螺纹环规校验
螺纹栓规、螺纹环规送市技术质量监督局校验，校验周期根据使用频率区分：1、用于产品全检的螺纹规校验周期为三个月；2、正常使用的校验周期为一年；3、不常用螺纹规（一年少于八次）校验周期为二年。
三、计量标准器
计量室使用的标准量块、校验仪器需送市技术质量监督局校验，校验周期为一年。
四、其它量具量仪
三座标、轮廓仪、影像测量仪和气动量仪需进行第三方校验，校验周期为一年。
另外由于地面沉降的原因，三座标需每三个月做一次自校，并保存校验记录。
五、所有量具量仪每次校验时间必须在有效期前一个月开始进行。