jtag标准 引脚定义
JTAG接口引脚定义
标准的JTAG当然是20Pin，但JA TG实际使用的只有4根信号线，再配合电源、地，故又有了很多不同的接口形式，而且现在也渐成标准1.TCK Programmer JTAG Clock（JTAG管脚中的输入时钟信号，对编程和边界扫描都需要）2.GND1 Signal Reference（信号地）3.TDO Target Board Test Data Output（JTAG管脚中串行的输出数据信号，对编程和边界扫描都需要）4.VTref 接开发板电源5.TMS Programmer Test Mode Select（JTAG管脚中的测试选通信号，对编程和边界扫描都需要）6.VJTAG Target Board JTAG Supply V oltage（目标板JTAG电源）7.VPUMP2 Programmer/Target Board Programming Supply V oltage（目标板JTAG电源）8.nTRST Programmer JTAG Test Reset (Hi-Z with 10 kΩ pull-down, HIGH, LOW,ortoggling)（JTAG管脚中异步复位信号，对编程和边界扫描都需要，用10K电阻上拉到Vddp）9.TDI Programmer Test Data Input（JTAG管脚中串行的输入数据信号，对编程和边界扫描都需要）10.GND1 Signal Reference（信号地）Notes：1. Both GND pins must be connected.（所有的地引脚都要连接）2. FlashPro3 can provide VPUMP if there is only one device on the target board.（如果目标板只有一个芯片，则VPUMP可以由FlashPro3提供。
JTAG接口
JTAG接口
JTAG口(Joint Test Action Group，联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试及对系统进行调试和仿真。
标准的JTAG接口是4线:TMS、TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。
JTAG模块采用了10PIN仿真调试接口，如图所示，表为对应管脚定义。
20PIN的插座连接C8051F360芯片的JTAG接口，插座的信号配置要和ARM LM LINK调试器接口一致。
JTAG调试电路设计如图所示。
136
79
248
5
10
JTAG插针示意图
F360的JTAG插座管脚定义
PIN号名称
1 VDD
2 ,
3 , 9 GND
5 /RST
7 /RST/C2CK
6 P4.6/C2D
10 NC
使用方法：调试程序以及下载程序时将JTAG接口按照缺口方向接上。
不使用时拔下。
anlogic jtag pin定义
anlogic jtag pin定义
AN-Logic JTAG接口的引脚定义如下：
1. TDI（Test Data Input）- 用于向目标设备发送测试数据的输入引脚。
2. TDO（Test Data Output）- 从目标设备接收测试数据的输出引脚。
3. TCK（Test Clock）- 用于提供时钟信号以控制数据传输的引脚。
4. TMS（Test Mode Select）- 用于选择测试模式的引脚。
5. RST（Reset）- 用于重置目标设备的引脚。
以上是常用的AN-Logic JTAG接口的引脚定义，具体的定义可能会根据不同的设备和应用而有所变化。
如果您要使用
AN-Logic JTAG接口，建议查阅相关文档或参考目标设备的数据手册以获取准确的引脚定义。
14针与20针jtag接口介绍
JTAG接口定义JTAG(Joint Test Action Group ，联合测试行动小组 ) 是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试， JTAG 技术是一种嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路 TAP （ Test Access Port ，测试访问口），通过专用的 J TAG 测试工具对内部节点进行测试。
目前大多数比较复杂的器件都支持 JTAG 协议，如 ARM 、 DSP 、 FPGA 器件等。
标准的JTAG 接口是 4 线： TMS 、 TCK 、 TDI 、 TDO ，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。
JTAG 测试允许多个器件通过 JTAG 接口串联在一起，形成一个 JTAG 链，能实现对各个器件分别测试。
JTAG 接口还常用于实现 ISP （ In-System Programmable 在系统编程）功能，如对 FLASH器件进行编程等。
通过 JTAG 接口，可对芯片内部的所有部件进行访问，因而是开发调试嵌入式系统的一种简洁高效的手段。
目前 JTAG 接口的连接有两种标准，即 14 针接口和 20 针接口，其定义分别如下所示。
14 针JTAG 接口定义：14 针 JTAG 接口定义引脚名称描述1 、 13 VCC 接电源2 、 4 、 6 、 8 、 10 、 14 GND 接地3 nTRST 测试系统复位信号5 TDI 测试数据串行输入7 TMS 测试模式选择9 TCK 测试时钟11 TDO 测试数据串行输出12 NC 未连接20 针 JTAG 接口定义引脚名称描述VTref 目标板参考电压，接电源2 VCC 接电源3 nTRST 测试系统复位信号4、6、8、10、12、14、16、18、20 GND 接地5 TDI 测试数据串行输入7 TMS 测试模式选择9 TCK 测试时钟11 RTCK 测试时钟返回信号13 TDO 测试数据串行输出15 nRESET 目标系统复位信号17 、 19 NC 未连接。
JTAG与SWD引脚对比
JTAG与SWD引脚对比JTAG与SWD引脚对于仿真ARM，TKScope仿真器家庭的AK100/AK100Pro、K8/K9等仿真器提供标准的20PIN调试接口。
接口管脚定义如下。
其中ARM芯片有两种调试模式，一种是JTAG，一种是SWD，二者在管脚上有复用。
具体所用的型号是否支持，需要查看数据手册。
JTAG调试接口引脚JTAG调试接口必须使用VCC、GND电源信号，以及TMS、TCK、TDI、TDO四根调试信号，可选TRST、RESET复位信号和RTCK(同步时钟)信号。
VRef ：目标板参考电压信号。
用于检查目标板是否供电，直接与目标板VDD联，并不向外输出电压；GND：公共地信号；TRST：JTAG复位，连接到目标CPU的nTRST引脚，用于复位CPU调试接口的TAP控制器；目标板上应将此脚上拉到高电位，避免意外复位；TDI：仿真器连接至目标CPU的数据输入信号，建议在目标板上将此脚上拉到Vdd；TMS：仿真器输出给目标CPU的JTAG模式设置信号。
必须在目标板上将此脚上拉； TCK：仿真器输出给目标CPU的JTAG时钟信号，建议在目标板上将此脚上拉； TDO：目标CPU返回给仿真器的数据信号；RTCK：目标CPU提供给仿真器的时钟信号。
有些目标要求JTAG的输入与其内部时钟同步。
仿真器利用此引脚的输入可动态地控制自己的TCK速率。
若不使z用此功能，在目标板上将此脚接地，有些芯片可能要求上拉；RESET：仿真器输出至目标CPU的系统复位信号。
’虽然TRST、RESET是可选的信号；但一般都建议接上，使得仿真器能够在连接器件前对器件进行复位，以获得较理想的初始状态，便于后续仿真。
SWD接口引脚SWD是ARM公司提出的另一种调试接口，相对于JTAG接口，使用更少的信号。
四根信号如下：VRef ：目标板参考电压信号。
用于检查目标板是否供电，直接与目标板VDD联，并不向外输出电压；GND：公共地信号；SWDIO：串行数据输入输出，作为仿真信号的双向数据信号线，建议上拉；SWCLK：串行时钟输入，作为仿真信号的时钟信号线，建议下拉；SWO：串行数据输出引脚，CPU调试接口可通过SWO引脚输出一些调试信息。
jtag插座标准定义
jtag插座标准定义JTAG插座标准定义：JTAG（Joint Test Action Group）插座标准是一种用于电子设备测试和编程的通信接口协议。
它提供了一种标准化的方法，使得工程师们可以通过简单的硬件和软件设置来进行测试、调试和编程操作。
JTAG插座标准主要由IEEE 1149.1标准定义，也被称为边界扫描标准。
它包括了一系列的分析技术，允许工程师们在电子设备的边界上访问内部的电路和信号。
JTAG插座标准的定义包括了如下几个重要组成部分：1. TAP控制器（Test Access Port Controller）：TAP控制器是JTAG插座中的核心部件，它负责与外部设备进行通信，并控制测试和编程操作的执行。
它包括了一个基于状态机的控制引擎，可以指导数据的进出和操作的执行。
2. TAP信号线（Test Access Port Signal Lines）：TAP信号线是连接TAP控制器与目标设备的物理接口，它包括了TCK（Test Clock）、TMS（Test Mode Select）、TDI（Test Data Input）、TDO（Test Data Output）等信号线。
这些信号线用于数据传输和控制指令的交互。
3. 边界扫描寄存器（Boundary Scan Register）：边界扫描寄存器是JTAG插座中的核心元素之一，它允许工程师们通过边界链路（Boundary Scan Chain）访问目标设备的边界上的芯片引脚。
这使得工程师们不需要直接探针访问芯片引脚，从而简化了测试和编程的过程。
4. 系统级测试：JTAG插座的标准定义还包括了一系列系统级测试功能，例如通过JTAG接口进行设备间的通信，通过测试模式选择（Test Mode Select）进行故障诊断，以及通过JTAG接口进行内部电路的数据采集和分析等。
总结而言，JTAG插座标准定义了一种通用的电子设备测试和编程接口，它提供了一套标准化的方法和指令，使得工程师们可以更加方便地进行测试、调试和编程操作。
JTAG基础知识
JTAG基础知识1.什么是JTAG：Joint Test Action Group；联合测试工作组JTAG是一种IEEE标准用来解决板级问题，开发于上个世纪80年代。
今天JTAG被用来烧录、debug、探查端口。
当然，最原始的使用是边界测试。
边界测试：举个栗子你有两个芯片，这两个芯片之间连接了很多很多的线，怎么确保这些线之间的连接是OK的呢，用JTAG，它可以控制所有IC 的引脚。
这叫做芯片边界测试。
（没用过）2.JTAG引脚：JTAG发展到现在已经有脚了，通常四个脚：TDI，TDO，TMS，TCK，当然还有个复位脚TRST。
对于芯片上的JTAG的脚实际上是专用的。
TDI：测试数据输入，数据通过TDI输入JTAG口；TDO：测试数据输出，数据通过TDO从JTAG口输出；TMS：测试模式选择，用来设置JTAG口处于某种特定的测试模式；TCK：测试时钟输入；TRST：测试复位；更多吊炸天的用法：CPU和FPGA制造商允许JTAG用来端口debug；FPGA厂商允许通过JTAG配置FPGA，使用JTAG信号通入FPGA核。
3.JTAG怎么工作：PC控制JTAG：用JTAG电缆连接PC的打印端口或者USB或者网口。
最简单的是连接打印端口。
TMS：在每个含有JTAG的芯片内部，会有个JTAG TAP控制器。
TAP控制器是一个有16个状态的状态机，而TMS就是这玩意的控制信号。
当TMS把各个芯片都连接在一起的时候，所有的芯片的TAP状态跳转是一致的。
下面是TAP控制器的示意图：改变TMS的值，状态就会发生跳转。
如果保持5个周期的高电平，就会跳回test-logic-rest，通常用来同步TAP控制器；通常使用两个最重要的状态是Shift-DR和Shift-IR，两者连接TDI 和TDO使用。
IR：命令寄存器，你可以写值到这个寄存器中通知JTAG干某件事。
每个TAP只有一个IR寄存器而且长度是一定的。
DR：TAP可以有多个DR寄存器，与IR寄存器相似，每个IR值会选择不同的DR寄存器。
Jtag的各种引脚定义
使用过ARM芯片的人肯定都听过一个仿真器————JLINK，为什么ARM芯片现在能够这么流行？其中恐怕就有一个原因就是很多的ARM芯片都支持使用Jlink进行调试和仿真。
所以你只要有一个Jlink，不管是ARM7、ARM9、ARM11还是最新的ARM Cortex 系统都能下载和调试了。
以前的嵌入式开发者，可能使用什么公司的芯片就得买一个对应芯片的下载和仿真器，这样如果你只使用一种芯片，可能还好，不过恐怕没有那种芯片能够一直引领市场。
Jlink使用的是一种叫做JTAG的协议，JTAG原本是用于芯片内部测试的，现在大多用于芯片的程序下载和调试仿真。
由于现在Jlink用的比较多，所以有些人可能把Jlink就等同于JTAG了，实际上，JTAG是一种协议，只要满足这种协议的就可以叫做JTAG，比如H—JTAG、OpenJTAG、OSJTAG等等。
正版的Jlink是卖的很贵的。
大概是1000到2000RMB吧。
不过，中国的山寨能力是很强的，而且你硬件卖给别人了，你也没办法控制别人说你不许拆开我的东西看里面的电路是怎么样的。
所以Jlink就被破解了，破解之后的Jlink很便宜，网上五六十块钱就能买到一个能用的Jlink。
除了商业版的Jlink和H—JTAG，网上还有一些电子爱好者，他们参照开源软件的模式，设计了开源硬件，比如arduino。
还有人制作了开源版本的JTAG仿真器——OpenJTAG。
而一些芯片的开发商不像那些软件厂商，会给软件做很多的限制，他们对于开源硬件还是比较开明的，所以他们也支持了一些开源硬件。
比如TI公司的MSP430 LaunchPad、ST公司的STM Discovery 等等板子。
还有飞思卡尔公司的USBDM和OSJTAG。
他们把这些硬件的原理图、PCB还有固件都放在了网络上供人自由下载和制作，你也可以根据他的资料进行改进。
这样能使大家对于他们家的芯片有更多的了解，所以，他们也乐于开源一些评估板。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
jtag标准引脚定义
JTAG标准的引脚定义
JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试电子设备的标准接口。
它能够通过几根线路实现对设备内部的观察和控制，用于芯片的生产和维护。
在JTAG标准中，定义了一系列的引脚，用于实现与设备的通信和控制。
根据JTAG标准的定义，JTAG接口包括四根信号线（TMS、TCK、TDO和TDI）和一个共享引脚（TRST）。
这些引脚的定义如下：
1. TMS（Test Mode Select）：此引脚用于选择设备的测试模式。
在测试过程中，通过改变TMS引脚的状态，可以控制设备进入不同的测试状态。
2. TCK（Test Clock）：此引脚用于提供时钟信号，控制测试数据的传输速率。
TCK信号是通过在TCK引脚上周期性地切换高和低电平来控制的。
3. TDO（Test Data Out）：此引脚用于从设备读取测试数据。
在测试过程中，
设备通过TDO引脚将测试数据输出。
4. TDI（Test Data In）：此引脚用于向设备输入测试数据。
在测试过程中，通
过TDO引脚将测试数据输入给设备。
5. TRST（Test Reset）：此引脚用于将设备重置为初始状态，以便开始测试过程。
TRST引脚是一个共享引脚，可以在需要的情况下选择使用或不使用。
以上就是JTAG标准中定义的引脚及其功能的简要介绍。
这些引脚的正确使用
可以帮助测试人员有效地测试和调试电子设备。
JTAG接口已经成为现代电子设备
测试和调试的关键部分，并广泛应用于各个领域。