实验报告移相
实验报告移相剖析
实验四移相实验一、实验目的了解移相电路的原理和应用。
二、实验仪器移相器、信号源、示波器（自备）三、实验原理由运算放大器构成的移相器原理图如下图所示：图4-1 移相器原理图通过调节Rw，改变RC充放电时间常数，从而改变信号的相位。
四、实验步骤1．将“信号源”的U S100幅值调节为6V，频率调节电位器逆时针旋到底，将U S100与“移相器”输入端相连接。
2．打开“直流电源”开关，“移相器”的输入端与输出端分别接示波器的两个通道，调整示波器，观察两路波形。
3．调节“移相器”的相位调节电位器，观察两路波形的相位差。
4．实验结束后，关闭实验台电源，整理好实验设备。
五、实验报告根据实验现象，对照移相器原理图分析其工作原理。
（1）当两波形的相位差最大时：（2）当两波形的相位差最小时：六、注意事项实验过程中正弦信号通过移相器后波形局部有失真，这并非仪器故障。
实验五相敏检波实验一、实验目的了解相敏检波电路的原理和应用。
二、实验仪器移相器、相敏检波器、低通滤波器、信号源、示波器（自备）、电压温度频率表三、实验原理开关相敏检波器原理图如图5-1所示，示意图如图5-2所示：图5-1 检波器原理图图5-2 检波器示意图图5-1中Ui为输入信号端，AC为交流参考电压输入端，Uo为检波信号输出端，DC为直流参考电压输入端。
当AC、DC端输入控制电压信号时，通过差动电路的作用使、处于开或关的状态，从而把Ui端输入的正弦信号转换成全波整流信号。
输入端信号与AC参考输入端信号频率相同，相位不同时，检波输出的波形也不相同。
当两者相位相同时，输出为正半周的全波信号，反之，输出为负半周的全波信号。
四、实验步骤1．打开“直流电源”开关，将“信号源”U S1 00输出调节为1kHz，Vp-p＝8V的正弦信号（用示波器检测），然后接到“相敏检波器”输入端Ui。
2．将直流稳压电源的波段开关打到“±4V”处，然后将“U+”“GND1”接“相敏检波器”的“DC”“GND”。
移相键控实验报告
一、实验目的1. 了解移相键控（PSK）调制解调原理，掌握其调制和解调方法。
2. 掌握M序列的性能、实现方法及其在通信系统中的应用。
3. 学习使用移相键控实验设备，验证实验原理和实验方法。
4. 掌握2PSK系统主要性能指标的测试方法。
二、实验原理移相键控（PSK）是一种数字调制方式，通过改变载波的相位来传输数字信息。
PSK 调制和解调原理如下：1. 调制：将数字信息映射到载波的相位上，实现数字信息的传输。
常用的PSK调制方式有BPSK、QPSK、8PSK等。
2. 解调：对接收到的信号进行相位检测，恢复出原始数字信息。
常用的解调方法有相干解调和非相干解调。
M序列是一种具有良好自相关特性的伪随机序列，广泛应用于通信系统中的同步、码分复用等场合。
三、实验仪器1. 移相键控实验设备：包括M序列发生器、调制器、解调器、示波器等。
2. 直流稳压电源、信号发生器、频率计等。
四、实验内容1. M序列性能测试（1）观察M序列发生器输出波形，记录M序列的周期、自相关特性等。
（2）使用示波器观察M序列与参考信号之间的相位差，验证M序列的自相关特性。
2. 2PSK调制解调实验（1）将M序列信号作为输入，通过调制器实现2PSK调制。
（2）使用示波器观察调制后的信号波形，记录信号的主要参数。
（3）将调制后的信号作为输入，通过解调器实现2PSK解调。
（4）使用示波器观察解调后的信号波形，记录信号的主要参数。
3. 同相正交环实验（1）观察同相正交环电路的组成，了解其工作原理。
（2）将调制后的信号作为输入，通过同相正交环电路实现相位检测。
（3）使用示波器观察同相正交环电路输出波形，记录信号的主要参数。
4. 性能指标测试（1）测量调制信号的频率、幅度等参数。
（2）测量解调信号的频率、幅度等参数。
（3）计算调制信号和解调信号的误码率。
五、实验结果与分析1. M序列性能测试实验结果表明，M序列发生器输出波形符合预期，周期、自相关特性等参数符合理论分析。
移相器的设计与测试试验报告
本科学生综合性、设计性
实验报告
项目组长学号
成员
专业电气工程与自动化班级班
实验项目名称移相器的设计与测试
指导教师及职称
开课学期至学年一学期
上课时间年11 月23 日
一、实验设计方案
实验名称：移相器的设计与测试实验时间：2009.11.23
小组合作：是○否○小组成员：
1、实验目的：（1）学习设计移相器电路的方法。
（2）掌握移相器电路的测试方法。
（3）通过设计、搭接、安装及调式移相器，培养工程实践能力。
2、实验场地及仪器、设备和材料：交流电源，电阻2个，滑动电容2个，滤波器，开关，导线。
3、实验思路（实验内容、数据处理方法及实验步骤等）
1）．实验内容：设计一个RC电路移相器，该移相器输入正弦信号源电压有效值U1 =1V，频率为2kHz，由函数信号发生器提供。
要求输出电压有效值U2 = 1V，输出电压相对于输入电压的相移在45°至180°范围内连续可调。
2）. 试验步骤：a. 设计出试验线路图。
b. 计算出所需参数。
c. 验证和测试线路图。
指导老师对实验设计方案的意见
指导老师签名：年月日
二、实验结果与分析
1、实验目的、场地及仪器、设备和材料、实验思路等见实验设计方案
2、实验现象、数据及结果。
当C=16.489nf时
当C为无穷大时
3、对实验现象、数据及观察结果的分析与讨论
4、结论: 通过对滑动电容的调节，使输出电压相对于输入电压相移在
45°—180°连续可调，从而达到试验要求。
移相器实验报告lq
移相器实验报告lq摘要：移相器是一种非常重要的电路组件，被广泛应用于各种领域。
本实验利用集成电路LM566，设计并制作了一种可自由调节频率的移相器电路，并对其进行了实验验证。
实验结果表明，所设计的移相器具有较高的准确性和可靠性，频率可调范围较大，具有一定的推广价值。
关键词：移相器；LM566；频率；实验验证一、实验目的1、了解和掌握移相器的基本原理及工作特性；2、利用集成电路LM566设计移相器电路；3、通过实验验证设计的移相器电路的性能，检验所制作的移相器电路是否符合设计要求。
二、实验原理移相器是一种可以使电压波形在时间上发生位移的电路组件。
它具有多种特性，如频率可调、相位差可调、相位变换、相位保持等。
在信号处理、调制、解调、振荡以及滤波等电路系统中，移相器被广泛应用。
常见的移相器电路有RC相移器、LC相移器以及集成电路移相器。
其中，集成电路移相器具有电路简单、相位准确、相位变化范围大等优点，被广泛运用。
本实验采用的是集成电路LM566来设计移相器电路，该芯片具有三角波振荡器、相位比较器以及跟随器等功能。
本实验的设计思路是利用LM566产生三角波信号，通过相位比较器将输入信号与三角波信号进行比较，产生相位差，最后再通过跟随器进行输出。
实验原理图如下所示：其中，LM566的钳制电压可以任意调整，从而实现了输出信号频率可调的目的。
需要注意的是，当调整频率较高时，应适当增加对应数值的电容值，以保证移相器的稳定性。
三、实验步骤1、将电路连接好，电源电压为12V。
接下来依次调整和观察以下几个参数：（1）调整 R1 电阻值，观察输出波形频率的变化；四、实验结果及分析1、输出波形概述根据调整的参数，本实验得到了移相器输出的三角波及正弦波形，如下图所示：其中，图（a）为移相器输出的三角波形，可以看出波形经过了60°相位变化，频率为1kHz；图（b）为移相器输出的正弦波形，可以看出波形相位经过了60°的变化。
RC移相电路实验报告
评分无源可变相移网络××[学号]××大学××学院实验原理本次试验电路设计如图1所示：Vp-p.信号发生器端电压为U 2，电容端测电压为U 1，即如图2所示：下面对 图2 所示的电路进行分析：U 2 =U 1×(1/jWC)/(R+1/jWC)化简得U 1/U 2 =1+jWCRθ=arctanWCR即U 2和U 1的相位差为ϕ∆=θ=arctanWCR∴可得：R=tan θ/wc …… ①图2 实验原理图图1 电路设计图实验内容：说明：如图一实验中选用的电源为5v-1000Hz，实验中选用的电容大小均为10nf，可以分别计算出移相30°、45°、60°时电阻的大小如下：1.移相30°由①式即R=tan /wc=tan30°/（2π×1000×1E-8）≈9.18KΩ。
闭合开关SW1，打开SW2、SW3，使用Tina 仿真将电容两端接至示波器的两端。
即得仿真图形如图3所示：图3 移相30°时的波形图说明：图3中绿色（即Qut1）为电源电压的波形，红色部分（即Qut2）为电容器两端电压的波形。
2.移相45°同理由①式即R=tan /wc=tan45°/（2π×1000×1E-6）≈15.9kΩ。
闭合开关SW2，打开SW1、SW3使用Tina 仿真将电容两端接至示波器的两端。
即得仿真图形如图4：图5 移相45°时的波形图说明：图3中绿色（即Qut1）为电源电压的波形，红色部分（即Qut3）为电容器两端电压的波形。
3.移相60°同理由①式即R=tan /wc=tan60°/（2π×1000×1E-8）≈27.57kΩ。
闭合开关SW3，打开SW1、SW2使用Tina 仿真将电容两端接至示波器的两端。
90度精密移相器实验报告
目录第一章课程设计目的与要求 (2)1.1、课程设计的基本目的 (2)1.2、课程设计的基本要求 (2)1.3 本实验设计目的与要求 (2)第二章一些概念的简单介绍 (3)2.1锁相环 (3)2.2移相器 (3)第三章实验设计过程 (4)第四章实验电路设计 (6)第五章实验心得 (9)参考文献 (10)第一章课程设计目的与要求1.1、课程设计的基本目的：通过课程设计，使学生加强对高频电子技术电路的理解，学会查寻资料﹑方案比较，以及设计计算等环节。
进一步提高分析解决实际问题的能力，创造一个动脑动手﹑独立开展电路实验的机会，锻炼分析﹑解决高频电子电路问题的实际本领，真正实现由课本知识向实际能力的转化；通过典型电路的设计与制作，加深对基本原理的了解，增强学生的实践能力。
1.2、课程设计的基本要求：1.2.1、培养学生根据需要选学参考书，查阅手册，图表和文献资料的自学能力，通过独立思考﹑深入钻研有关问题，学会自己分析解决问题的方法。
1.2.2、通过实际电路方案的分析比较，设计计算﹑元件选取﹑安装调试等环节，初步掌握简单实用电路的分析方法和工程设计方法。
1.2.3、掌握常用仪表的正确使用方法，学会简单电路的实验调试和整机指标测试方法，提高动手能力。
1.2.4、了解与课程有关的电子电路以及元器件工程技术规范，能按课程设计任务书的技术要求，编写设计说明，能正确反映设计和实验成果，能正确绘制电路图。
1.2.5、培养严谨的工作作风和科学态度，使学生逐步建立正确的生产观点，经济观点和全局观点。
1.3 本实验设计目的与要求本课程的课程设计是设计一个精密的90°移相器电路，通过本次设计，让学生掌握高频电子线路的设计方法，并将其与仿真联系起来，理论与实践相结合，培养学生的设计能力。
1.3.1做仿真部分：课程设计的实验环境；硬件要求能运行Windows XP操作系统的微机系统。
EWB仿真操作系统。
1.3.2 课程设计的预备知识：熟悉EWB仿真操作系统，及通信电子线路课程。
移相键控实验 实验报告
移相键控实验实验报告移相键控实验实验报告摘要：本实验通过移相键控技术，研究了光的干涉现象。
通过改变光源的相位差，观察到了干涉条纹的变化。
实验结果表明，移相键控技术可以用于干涉仪的精确调节，对于光学测量和干涉现象的研究具有重要意义。
引言：光的干涉是光学中重要的现象之一，它揭示了光的波动性质和光的相干性。
在干涉实验中，相位差的调节对于干涉条纹的形成和变化起着关键作用。
移相键控技术是一种常用的方法，可以通过改变光源的相位差来调节干涉条纹，从而实现对干涉现象的精确研究。
实验装置：本实验使用了一套光学干涉装置，包括光源、分光镜、反射镜、透射镜和干涉屏。
光源通过分光镜分成两束光，分别经过反射镜和透射镜后再次汇聚到干涉屏上。
通过调节透射镜的位置和角度，可以改变光源的相位差，从而观察到干涉条纹的变化。
实验步骤：1. 将实验装置搭建好，确保光源、分光镜、反射镜、透射镜和干涉屏的位置准确。
2. 打开光源，调节分光镜和透射镜，使得两束光在干涉屏上出现干涉条纹。
3. 通过调节透射镜的位置和角度，改变光源的相位差。
观察干涉条纹的变化，并记录下来。
4. 重复步骤3，进行多次观测和记录，以得到更准确的实验结果。
5. 关闭光源，拆除实验装置。
实验结果：在实验过程中，我们观察到了干涉条纹的变化。
当光源的相位差为0时，干涉条纹呈现出均匀、明亮的条纹。
随着相位差的增加，干涉条纹逐渐变暗，最终出现黑暗的条纹。
当相位差为π时，干涉条纹消失，只剩下均匀的亮度。
讨论：通过实验结果可以看出，移相键控技术对于干涉现象的调节具有重要意义。
通过改变光源的相位差，可以调节干涉条纹的亮度和形态，从而实现对干涉现象的精确研究。
在实际应用中，移相键控技术可以用于光学测量、干涉仪的调节和干涉图像的处理等方面。
结论：本实验通过移相键控技术研究了光的干涉现象。
实验结果表明，通过改变光源的相位差，可以调节干涉条纹的亮度和形态。
移相键控技术对于干涉仪的精确调节和干涉现象的研究具有重要意义。
移相器实验报告
一、移相器与相敏检波器实验【实验目的】1. 理解移相器和相敏检波器的工作原理。
2. 学习传感器实验仪和交流毫伏表的使用。
3. 学习用双踪示波器测量相移的方法。
【实验原理】1. 移相器的工作原理移相器是由电阻、电抗元件、非线性元件和有源器件等构成的一种电路，当正弦信号经过移相器时其相位会发生改变。
理想的移相器在调整电路参数时，可使通过信号的相位在0?~360?之间连续变化，而不改变信号的幅度，即信号可不失真地通过，只是相位发生了变化，图1为移相器的工作原理，其中相角?为经过移相器所获得的。
2. 相敏检波器的工作原理相敏检波器是一种根据信号的相位来提取有用信号的处理电路，在外部同频控制信号作用下，用控制信号来截取输入信号，相敏检波器输出的直流分量为反映输入信号与控制信号相位差的直流电压，经低通滤波器lpf滤除高频分量后得到直流输出信号e；相敏检波器的组成框图见图2。
t?10?t??2 设控制信号表达式为： u??t?0?t?t2? ?t??)，输入信号与控制信号在时域中的关系见图3。
设输入信号为：u?usin( 用控制信号截取输入信号后得到：u0?u?u，对u0积分并在一个周期内取平均得：1t/2ue?usin(?t??)dt??t0?t??t/20?t??)d(?t??)???sin(u/2[cos(?t??)]t0?tuuu[cos(???)?cos?]??[cos?cos??sin?sin??cos?]?cos?2?2?? ①由式①可以看出，相敏检波器经低通滤波器输出一个反映输入信号相位差的直流电压，当??0时，即输入信号与控制信号同相时e?交时，e?0。
利用相敏检波器可以消除信号中干扰噪声的影响。
设输入信号中包含有噪声信号un和有用信号us，即：u?us?un，则：u0?u?uc?ucus?ucun，对u0积分并在一个周期内1t1t取平均得：e??ucussin(?t??s)dt??ucunsin(?t??n)dt t0t0 ?1u?，当??90?，即输入信号与控制信号正?[uscos(?s??c)?uncos(?n??c)] 通过移相器调节控制信号uc的相位，使噪声信号与控制信号相差90°相角，此时：则：e??n??c?90?，us?cos(?s??c)，即相敏检波器的输出仅含有有用信号us分量，噪声信号被剔除。
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实验四移相实验一、实验目的了解移相电路的原理和应用。
二、实验仪器移相器、信号源、示波器（自备）三、实验原理由运算放大器构成的移相器原理图如下图所示：图4-1 移相器原理图通过调节Rw，改变RC充放电时间常数，从而改变信号的相位。
四、实验步骤1．将“信号源”的U S100幅值调节为6V，频率调节电位器逆时针旋到底，将U S100与“移相器”输入端相连接。
2．打开“直流电源”开关，“移相器”的输入端与输出端分别接示波器的两个通道，调整示波器，观察两路波形。
3．调节“移相器”的相位调节电位器，观察两路波形的相位差。
4．实验结束后，关闭实验台电源，整理好实验设备。
五、实验报告根据实验现象，对照移相器原理图分析其工作原理。
（1）当两波形的相位差最大时：（2）当两波形的相位差最小时：六、注意事项实验过程中正弦信号通过移相器后波形局部有失真，这并非仪器故障。
实验五相敏检波实验一、实验目的了解相敏检波电路的原理和应用。
二、实验仪器移相器、相敏检波器、低通滤波器、信号源、示波器（自备）、电压温度频率表三、实验原理开关相敏检波器原理图如图5-1所示，示意图如图5-2所示：图5-1 检波器原理图图5-2 检波器示意图图5-1中Ui为输入信号端，AC为交流参考电压输入端，Uo为检波信号输出端，DC为直流参考电压输入端。
当AC、DC端输入控制电压信号时，通过差动电路的作用使、处于开或关的状态，从而把Ui端输入的正弦信号转换成全波整流信号。
输入端信号与AC参考输入端信号频率相同，相位不同时，检波输出的波形也不相同。
当两者相位相同时，输出为正半周的全波信号，反之，输出为负半周的全波信号。
四、实验步骤1．打开“直流电源”开关，将“信号源”U S1 00输出调节为1kHz，Vp-p＝8V的正弦信号（用示波器检测），然后接到“相敏检波器”输入端Ui。
2．将直流稳压电源的波段开关打到“±4V”处，然后将“U+”“GND1”接“相敏检波器”的“DC”“GND”。
3．示波器两通道分别接“相敏检波器”输入端Ui、输出端Uo，观察输入、输出波形的相位关系和幅值关系。
4．改变DC端参考电压的极性（将直流稳压电源处的“U-”接到相敏检波器的“DC”端），观察输入、输出波形的相位和幅值关系。
5．由以上可以得出结论：当参考电压为正时，输入与输出同相，当参考电压为负时，输入与输出反相。
6．去掉DC端连线，将信号源U S1 00接到“移相器”输入端Ui，“移相器”的输出端接到“相敏检波器”的AC端，同时将信号源U S1 00输出接到“相敏检波器”的输入端Ui。
7．用示波器两通道观察、的波形。
可以看出，“相敏检波器”中整形电路的作用是将输入的正弦波转换成方波，使相敏检波器中的电子开关能正常工作。
8．将“相敏检波器”的输出端与“低通滤波器”的输入端连接，如图5-4（图5-3为低通滤波器的原理图），“低通滤波器”输出端接电压温度频率表（选择U）。
9．示波器两通道分别接“相敏检波器”输入、输出端。
10．调节移相器“相位调节”电位器，使电压表显示最大。
11．调节信号源U S1 00幅度调节电位器，测出“相敏检波器”的输入Vp-p 值与输出直流电压U O的关系，将实验数据填入下表。
12．将“相敏检波器”的输入信号Ui从U S1 00转接到U S1 1800。
得出“相敏检波器”的输入信号Vp-p值与输出直流电压U O1的关系，并填入下表。
表5-1输入1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 Vp-p(V)输出U O（V）-0.27 -0.54 -0.86 -1.15 --1.44 -1.71 -2.0 -2.2 -2.5 -2.8 输出U O1（V）0.27 0.54 0.86 1.15 1.44 1.71 2.0 2.2 2.5 2.8 13．实验结束后，关闭实验台电源，整理好实验设备。
图5-3 低通滤波器原理图图5-4低通滤波器示意图五、实验报告根据实验所得的数据，作出相敏检波器输入—输出曲线（Vp-p—V o、V o1），对照移相器、相敏检波器原理图分析其工作原理。
（1)当相敏检波起的输入--输出曲线的V P-P--V0为+4V时，图为：（2）当相敏检波器的输入--输出曲线的V P-P--V0为-4V时，图为：（3）输入波形换成方波之后的输出波形为：六、移相器，相敏检波器的工作原理移相器：移相器主要是调节电压相位的装置。
相敏检波器：相敏检波器主要由施密特开关及运放组成的相敏检波电路.实验七 扩散硅压阻式压力传感器压力实验一、实验目的了解扩散硅压阻式压力传感器测量压力的原理与方法。
二、实验仪器压力传感器、气室、气压表、差动放大器、电压放大器、电压温度频率表 三、实验原理在具有压阻效应的半导体材料上用扩散或离子注入法，可以制备各种压力传感器。
摩托罗拉公司设计出X 形硅压力传感器，如图7-1所示，在单晶硅膜片表面形成4个阻值相等的电阻条。
将它们连接成惠斯通电桥，电桥电源端和输出端引出，用制造集成电路的方法封装起来，制成扩散硅压阻式压力传感器。
扩散硅压力传感器的工作原理如图7-1，在X 形硅压力传感器的一个方向上加偏置电压形成电流i ，当敏感芯片没有外加压力作用，内部电桥处于平衡状态，当有剪切力作用时（本实验采用改变气室内的压强的方法改变剪切力的大小），在垂直于电流方向将会产生电场变化i E ⋅∆=ρ，该电场的变化引起电位变化，则在与电流方向垂直的两侧得到输出电压Uo 。
i d E d U O ⋅∆⋅=⋅=ρ （7-1）式中d 为元件两端距离。
实验接线图如图7-2所示，MPX10有4个引出脚，1脚接地、2脚为Uo+、3脚接+5V 电源、4脚为Uo-；当P1>P2时，输出为正；P1<P2时，输出为负（P1与P2为传感器的两个气压输入端所产生的压强）。
图7-1 扩散硅压力传感器原理图图7-2 扩散硅压力传感器接线图四、实验内容与步骤1．按图7-2接好“差动放大器”与“电压放大器”，“电压放大器”输出端接电压温度频率表（选择U，20V档），打开直流电源开关。
（将“2~20V直流稳压电源”输出调为5V）2．调节“差动放大器”与“电压放大器”的增益调节电位器到中间位置并保持不动，用导线将“差动放大器”的输入端短接，然后调节调零电位器使电压温度频率表显示为零。
3．取下短路导线，并按图7-2连接“压力传感器”。
4．气室的活塞退回到刻度“17”的小孔后，使气室的压力相对大气压均为0，气压计指在“零”刻度处，调节调零电位器使电压温度频率表显示为零。
增大输入压力到0.005MPa，每隔0.005Mpa记下“电压放大器”输出的电压值U。
直到压强达到0.1Mpa；填入下表。
表7-1P(kP) 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 U（V）0.28 0.40 0.47 0.54 0.65 0.73 0.81 0.88 0.94 1.03 P(kP) 55 60 65 70 75 80 85 90 95 100 U（V） 1.10 1.16 1.22 1.28 1.34 1.40 1.45 1.50 1.55 1.60 5．实验结束后，关闭实验台电源，整理好实验设备。
五、实验报告1.根据实验所得数据，计算压力传感器输入—输出（P—U）曲线，并计算其线性度。
实验九 电容式传感器位移特性实验一、实验目的了解电容传感器的结构及特点。
二、实验仪器电容传感器、电容变换器、测微头、电压温度频率表 三、实验原理电容式传感器是指能将被测物理量的变化转换为电容量变化的一种传感器它实质上是具有一个可变参数的电容器。
利用平板电容器原理：dSdSC r ⋅⋅==εεε0 （9-1）式中，S 为极板面积，d 为极板间距离，ε0为真空介电常数，εr 为介质相对介电常数，由此可以看出当被测物理量使S 、d 或εr 发生变化时，电容量C 随之发生改变，如果保持其中两个参数不变而仅改变另一参数，就可以将该参数的变化单值地转换为电容量的变化。
所以电容传感器可以分为三种类型：改变极间距离的变间隙式，改变极板面积的变面积式和改变介电常数的变介电常数式。
这里采用变面积式，如图9-1，两只平板电容器共享一个下极板，当下极板随被测物体移动时，两只电容器上下极板的有效面积一只增大，一只减小，将三个极板用导线引出，形成差动电容输出。
通过处理电路将电容的变化转换成电压变化，进行测量。
图9-1电容传感器内部结构示意图四、实验内容与步骤1． 电容传感器已经按图9-2安装在实验台。
图9-2 电容传感器安装示意图图9-3 电容传感器接线图2．将底面板上“电容传感器”与“电容变换器”相连，“电容变换器”的输出接到电压温度频率表（选择U）。
（注：此处应选用三根相同长度的实验导线，而且越短越好。
）3．打开“直流电源”开关。
调节“电容变换器”的增益调节电位器到中间位置，调节螺旋测微器使得电压温度频率表显示为0。
（增益调节电位器确定后不能改动）4．调节螺旋测微器推进电容传感器的中间极板（内极板）上下移动，每隔0.2mm将位移值与电压温度频率表的读数填入表9-1。
表9-1X(mm) -0.8 -0.6 -0.4 -0.2 0 0.2 0.4 0.6 0.8U (mV) 33 26 18 9 0 -8 -18 -27 -36五、实验报告1.根据表9-1的数据作做出电压—位移曲线。
2.试分析电容传感器转接电容变换器的导线为什么要长度一致。
实验十一霍尔传感器位移特性实验一、实验目的了解霍尔传感器的原理与应用。
二、实验仪器霍尔传感器、测微头、电桥、差动放大器、电压温度频率表、直流稳压电源（±4V）三、实验原理根据霍尔效应，霍尔电势U H=K H IB，其中K H为霍尔系数，由霍尔材料的物理性质决定，当通过霍尔组件的电流I一定，霍尔组件在一个梯度磁场中运动时，就可以用来进行位移测量。
四、实验内容与步骤1．将悬臂架上测微头向下移动，使测微头接触托盘。
按图11-1接线（将直流稳压电源的GND1与仪表电路共地），输出Uo接电压温度频率表。
2．将“差动放大器”的增益调节电位器调节至中间位置。
3．开启“直流电源”开关，电压温度频率表选择“V”档，手动调节测微头的位置，先使霍尔片处于磁钢的中间位置（数显表大致为0），再调节Rw1使数显表显示为零。
4．分别向上、下不同方向旋动测微头，每隔0.2mm记下一个读数，直到读数近似不变，将读数填入表11-1。
表11-1。
X（mm）1.0 0.8 0.6 0.4 0.2 0 -0.2 -0.4 -0.6 -0.8 -1.0U(V) -1.37-1.2-0.86-0.52-0.350 0.32 0.66 0.98 1.27 1.57图11-1 霍尔传感器位移接线图五、实验报告根据实验所得数据，作出U－X曲线。