IR-2型双波段发射率测量仪
双激光红外 (IR) 测温仪
用户手册双激光红外 (IR) 测温仪型号 42570简介恭喜您购买 42570 型红外测温仪。
该型红外测温仪可采用非接触式技术来测量和显示温度，可测温度高达 3992°F/2200°C（经认证的测温上限为 2000°F/1100°C）。
其内置双激光笔可从 50 英寸的距离处汇聚成直径为 1 英寸的光斑，以准确锁定目标，方便测温。
这款测温仪提供 USB PC 接口和软件、100 毫秒响应时间、最高/最低/平均/差值显示、可调整发射率和高温/低温报警等多项高级功能。
正确并小心使用此仪表，您便可常年享受其可靠服务。
安全∙启用激光笔后，应保持高度警惕∙不要将激光束指向任何人的眼睛，或让激光束从反射面照射眼睛∙不要在爆炸性气体附近或其他潜在爆炸区使用此激光束仪表描述1. 红外传感器和激光笔2. LCD 显示屏3. 向下按钮4. 测量扳机5. MODE 按钮6. 电池仓7. 背光/激光笔按钮8. 向上按钮9. K 型热电偶输入（侧面）10. USB 端口（侧面）显示屏1. SCAN，表示正在测量2. 条形刻度3. 激光笔启用4. 自动关闭锁定功能开5. HOLD，表示锁定并显示上一次测量值6. 最高/最低温度显示或存储位置显示7. 主温度显示区8. 高温/低温报警9. USB 连接10. 电池状态11. 发射率或 K 型或存储值显示12. 已安装热电偶探针13. 发射率设置14. 已记录内存操作说明红外测温1. 握住仪表的手柄，将其朝向待测量表面。
2. 扣住扳机，打开仪表并开始测试。
大显示屏上将出现“SCAN”图标和温度读数。
上方和下方的副显示屏将显示以前使用的值/设置。
3. 松开扳机，读数将持续显示约 7 秒（LCD 显示屏上将出现“HOLD”图标），随后仪表自动关闭。
唯一例外情形即锁定开关（“LOCK”模式处于“ON”位置）打开时。
MODE 按钮的功能选项扣动扳机后（显示“SCAN”），按 MODE 按钮可查看并滚动显示：MAX： 最高测量值MIN： 最低测量值DIF： Max 与 Min 之间的差值AVG： 测量值的平均值LOG： 上方的小显示屏显示存储位置，下方的小显示屏显示存储在这一位置的值。
钴掺杂摩尔分数对二氧化钛粉体热致变色变发射率性能的研究
钴掺杂摩尔分数对二氧化钛粉体热致变色变发射率性能的研究相杉杉;徐晨;徐国跃;郭腾超;刘初阳
【期刊名称】《兵器材料科学与工程》
【年(卷),期】2019(42)1
【摘要】采用固相合成法制备不同摩尔分数Co的TiO_2粉体,用X射线电子显微镜、扫描电子显微镜、紫外可见吸收光谱、IR-2双波段发射率测量仪对粉末进行结构表征和变色变发射率性能测试。
结果表明:掺杂CoO的摩尔分数不超过5%时,Co能完全进入TiO_2晶格,超过5%时会形成第二相CoTiO_3;随掺杂CoO摩尔分数的增加,Co/TiO_2粉末的晶粒尺寸逐渐增加,颜色由宝绿色向鲜绿色转变,从浅绿逐渐变深;在测试温度从25℃逐渐升高到800℃时,粉体都是从绿色变到黄色,降至室温时,又会恢复至原来的绿色;从室温升到800℃时,发射率变化量随掺杂摩尔分数的增加逐渐变大,从0.139增大到0.376。
【总页数】5页(P36-40)
【作者】相杉杉;徐晨;徐国跃;郭腾超;刘初阳
【作者单位】南京航空航天大学材料科学与技术学院
【正文语种】中文
【中图分类】TQ0625.4
【相关文献】
1.有关钴掺杂氧化镍电致变色薄膜的电化学制备和性能探讨
2.Co掺杂比例对ZnO 热致变色变发射率性能的影响
3.钨掺杂二氧化钒粉体的制备和热致变色性能
4.Fe
掺杂摩尔分数对ZnO热致变色变发射率性能研究5.BCG/CaCl_2/PEG-g-CDA粉体及涂层的热致变色变发射率性能研究
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飞机隐身涂层ppt课件
激光隐身技术采取的主要手段
•
实现激光隐身技术的途径主要有外形技术和
材料技术，其中外形技术是通过目标的非常规外形
设计降低其雷达散射截面（LRCS）；而材料技术
是采用能吸收激光的材料或在表面上涂覆吸波涂层
使其对激光的吸收率大，反射率小，以达到隐身的
目的。因为外形设计只能散射30%左右的雷达波，
且很难找到LRCS与气动力学俱佳的外形，因此要
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• 隐身涂层要求在尽量宽的频带内，用尽量 薄的涂层，尽量轻的材料，所得到涂层的 吸雷达波能力最强，即追求薄涂层、宽频、 强吸收的效果。
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• 按材料损耗机理，吸波材料可分为电损耗 型和磁损耗型。电损耗型包括电阻型和电 介质型两种。
• 按吸收机理，吸波材料可分为吸收型和干 涉型两类。
• 按化学成分，吸波材料可分为无机吸波材 料和有机高分子吸波材料。
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• 材料的红外辐射特性决定于材料的温度和 发射率。红外隐身材料也可相应分为两类： 控制发射率的材料和控制温度的材料。
• 红外隐身涂层具有低发射率，高反射率， 在红外线辐射频段才有良好的隐身效果。
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• 红外隐身涂料的构成一般由填料和黏结剂两部分 组成。
• 目前用于热红外隐身涂料配方中的填料大致分为 如下几类:金属填料、着色填料、半导体填料等。
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测试方法
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红外隐身涂层隐身测试 雷达波反射率测试
激光后向散射特性测试
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一 红外隐身涂层隐身测试
• 我们主要从三太方面检验红外隐身涂层隐 身效果:
• 1是可见光和近红外波段反射率检测 • 2是8～14μ m波段发射率的检测 • 3是材料的导热系数测量
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隐身技术
填料形貌对涂层红外发射率的影响_谭淑娟
文章编号:0427-7104(2009)05-0545-05 收稿日期:2008-11-12 基金项目:国家自然科学基金重大研究计划资助项目(90505008-06-Z ZT 2) 作者简介:谭淑娟(1979—),女,博士,讲师,E -mail :tanshujuan @nuaa .edu .cn .填料形貌对涂层红外发射率的影响谭淑娟,管先统,余慧娟,徐国跃(南京航空航天大学材料科学与技术学院,南京210016)摘 要:以A l 、Cu 、Sn 以及Bi 2O 3粉体为原料,通过球磨改变其形貌和粒径,并以聚氨酯(P U )和三元乙丙橡胶(EPDM )为粘合剂,制备成复合涂层,研究了填料形貌对填料粉体本身以及复合涂层的红外发射率的影响.实验结果表明:不同填料经过球磨后形貌和发射率发生了不同的变化,填料形貌对涂层红外发射率的影响与对粉体本身的影响不尽相同,当填料形貌有利于增强其与粘合剂间的结合状况和成膜性能时,涂层的红外发射率明显降低,甚至低于填料和粘合剂本身的发射率.关键词:涂层;填料;形貌;复合;发射率中图分类号:T Q 630;TB 43 文献标志码:A随着经济的发展和节能减排意识的增强,低红外发射率涂料由于具有低吸收、低发射的特性,不论在建筑[1-2]、隔热[3-4]等民用领域还是武器装备红外隐身[5-8]等军事领域都受到越来越广泛的重视.影响涂料热红外性能的因素有很多,如颜填料、粘合剂和涂装工艺等,其中填料作为涂料的主要成分之一,是影响涂料热红外性能的重要因素.由于涂料中所使用的有机粘合剂大多具有较高的热红外发射率,如国外研制的红外透明粘合剂Krato n 树脂,许多资料报道,其具有优良的红外透明性,但在8～14μm 波段的平均红外发射率仍然高达0.84[9],因此,多年来,涂料的低红外发射率主要依靠颜填料的调节作用来实现[10-12].目前用于低红外发射率涂料的填料主要有金属填料、着色填料和半导体填料.其中报道最多的是金属填料,其颗粒形态、尺寸、含量和种类等均显著影响涂层的光学性能[13-16].因此,深入研究填料的形貌、种类等因素对涂层红外发射率的影响具有非常重要的意义.本文选用常见的金属填料A l 、Cu 、Sn 粉以及着色颜料Bi 2O 3粉体为原料,通过机械球磨的方法改变填料粉体的形貌和粒径,并且以聚氨酯和三元乙丙橡胶为粘合剂,制备成复合涂层,研究了不同填料的形貌对填料粉体本身以及复合涂层的红外发射率的影响.1 实验部分1.1 主要原料Al 粉,Cu 粉,Sn 粉,Bi 2O 3粉,聚氨酯,三元乙丙橡胶,无水乙醇.1.2 实验过程以各种粉体为物料,无水乙醇为助剂与磨球混合进行球磨.其中,球、料、无水乙醇的比例为1.5∶1∶1,球磨速度为200r /m in ,取出磨球,过滤掉助剂,在恒温干燥箱中将粉体烘干,然后将取出的粉体进行研磨,获得待测的填料.在粘结剂PU 或EPDM 中分别加入不同球磨时间的Sn 粉和Bi 2O 3粉,经研磨后,加入固化剂混合均匀,超声震荡后在马口铁上涂片,室温固化3d ,获得待测涂层.1.3 分析表征采用中科院上海技术物理研究所研制的IR -2双波段发射率测量仪测量样品在室温下8～14μm 波段的红外发射率;采用荷兰Quanta 200扫描电子显微镜对样品形貌进行表征;采用英国M astersizer 2000第48卷 第5期2009年10月复旦学报(自然科学版)Journal of Fudan University (Natural Science )Vo l .48No .5Oct .2009DOI :10.15943/j .cn ki .fd xb -jns .2009.05.007激光粒度分析仪对样品的粒径分布进行表征.2 结果和讨论2.1 球磨对填料粉体红外发射率的影响图1 球磨时间对不同填料粉体红外发射率的影响Fig .1 The effect of milling time on emissivity of pigment pow ders通过改变球磨时间,不同形貌和粒径的Al 粉,Cu 粉,Sn粉和Bi 2O 3粉在室温下8～14μm 波段的红外发射率的变化如图1所示.可见,随着球磨时间的延长,4种填料粉体在8～14μm 波段的红外发射率呈现完全不同的变化趋势:Al 粉的红外发射率基本保持不变;Cu 粉的红外发射率略有减小;S n 粉的红外发射率显著降低;而Bi 2O 3粉的红外发射率则明显增加.为了进一步研究填料经过球磨后其红外发射率发生不同变化的原因,本实验对4种填料粉体球磨前后的形貌进行了S EM 分析.2.2 填料粉体球磨前后形貌的变化四种填料粉体经球磨前后的形貌变化如图2所示.可见,在相同的球磨条件下,由于填料粉体的性质和初始形貌不同,经过球磨15h 后,四种填料粉体的形貌和粒径发生了不同的变化.如图2(a )所示,球磨前Al 粉颗粒呈棒状,经15h 的湿式球磨后,A l 粉的原有形貌被完全破坏,粉体呈不规则的颗粒状,并有少量片状结构,如图2(b )所示.虽然Al 粉经过球磨后形貌和粒径都发生了很大的变化,但是由图1可知,Al 粉在8～14μm 波段的红外发射率却保持不变,始终为0.76.可见Al 粉由棒状到不规则颗粒状形貌和粒径的改变并不能带来粉体发射率的变化,且不随球磨时间的增加而改变.图2 球磨前后填料粉体的SEM 图球磨前:(a )Al ;(c )Cu ;(e )Sn ;(g )Bi 2O 3;球磨15h 后:(b )A l ;(d )Cu ;(f )Sn ;(h )Bi 2O 3Fig .2 SEM images of pigment pow ers before and after millingbefore milling :(a )Al ;(c )Cu ;(e )S n ;(g )Bi 2O 3;milling for 15h :(b )Al ;(d )Cu ;(f )Sn ;(h )Bi 2O 3对于Cu 粉,球磨前Cu 粉呈团聚的球状颗粒分布,如图2(c )所示,经球磨后,Cu 粉中团聚的球状颗粒546复旦学报(自然科学版)第48卷被挤压磨削形成片状,如图2(d )所示.可见,当Cu 粉由团聚的球状分布变成片状结构时,其红外反射率有所增大,因而发射率稍有降低.但由于片状化程度不高,其中夹杂大量的微小颗粒状Cu 颗粒,因而填料铺展的严密性并不高,红外发射率下降幅度并不大.对于Sn 粉,如图2(e )和(f )所示,未经球磨的Sn 粉呈球状和短棒状形态,而球磨15h 后,延展性非常优良的Sn 粉被研磨成薄片状结构,平均粒径由150μm 增加到470μm ,粒径分布如图3(a )和(b )所示.相比于Al 粉和Cu 粉,这种铺展性良好的薄片状结构的形成使Sn 粉的红外发射率显著降低,随着球磨时间的增加,薄片状Sn 粉的尺寸增大,径厚比也随之增大,粉体发射率进一步降低,从0.71迅速下降到0.19.可见,铺展性良好的薄片状结构有利于提高粉体的反射率,从而降低红外发射率.对于Bi 2O 3粉,如图2(g )和(h )所示,未球磨的Bi 2O 3粉为不规则的晶状颗粒,平均粒径为14μm ,其表面较为平整规则.经过15h 球磨后,Bi 2O 3颗粒的晶状结构被粉碎成更为细小的不规则颗粒,平均粒径为4μm ,并且有大量纳米级尺寸的小颗粒,如图3(c )和(d )所示.随球磨时间的增长,颗粒的粒径越小,比表面积越大,从而增大了粉体的红外吸收率,因而其红外发射率从0.78不断升高至0.93.图3 球磨前后填料粉体的粒径分布球磨前:(a )Sn ,(c )Bi 2O 3;球磨15h 后:(b )Sn ,(d )Bi 2O 3Fig .3 Particle size dist ribution of pigment pow ers before and after millingbefore milling :(a )Sn ,(c )Bi 2O 3;milling for 15h :(b )Sn ,(d )Bi 2O 3由以上结果可以看出,形貌和粒径对填料红外发射率的影响非常大.薄片状结构有利于提高粉体的反射率,因此可以使填料的红外发射率明显低于球状、棒状以及无规则结构,而且,在一定范围内填料粉体颗粒的片状化程度越高,径厚比越大,铺展性越好,填料的红外发射率就越低.此外,填料粉体的粒径越小,比表面积越大,其红外发射率就越高.对比Al 粉、Cu 粉和Sn 粉的实验结果看,金属的延展性越好,越容易获得铺展性良好的薄片状结构,从而有效降低填料粉体的红外发射率.因此,采用球磨等机械方法改变填料的形貌和粒径,对于延展性能良好的金属粉体而言,可以通过形成片状结构而有效降低红外发射547 第5期谭淑娟等:填料形貌对涂层红外发射率的影响率;而对于氧化物等延展性差的脆性填料粉体,则因为易形成小粒径的不规则颗粒而增大红外发射率.2.3 填料形貌对复合涂层的红外发射率的影响为了进一步研究填料的形貌对复合涂层红外发射率的影响,本实验中分别以PU 和EPDM 为粘合剂,以Sn 粉和Bi 2O 3粉为填料,在镀锌马口铁上制备厚度约80μm 的涂层,填料质量含量为50%,测定复合涂层在室温下8～14μm 波段的红外发射率.由图4和图5可见,以不同球磨时间的Sn 粉和Bi 2O 3粉作为填料,PU 涂层和EPDM 涂层的红外发射率均随填料球磨时间的延长而明显降低,这说明填料的形貌和粒径对复合涂层的红外发射率也有着非常重要的影响.以Sn 粉作为填料时,复合涂层与粉体的红外发射率随球磨时间的变化趋势相似,而以Bi 2O 3粉作为填料时两者的变化趋势则相反.可见,填料粉体的形貌对复合涂层与填料粉体本身的红外发射率的影响并不完全相同.这主要是因为复合涂层的红外发射率不仅与填料有关,还在很大程度上受到粘合剂的性能、填料在粘合剂中的分散状况以及涂料的成膜性能等因素的影响.与PU 相比,EPDM 是饱和碳氢化合物,在8～14μm 波段没有强的吸收基团,具有良好的红外透明性,与填料一起形成复合涂层时,能够很好地体现出填料的红外性能,因此,以EPDM 作为粘合剂的Sn /EPDM 涂层和Bi 2O 3/EPDM 涂层的红外发射率均明显低于复合PU 涂层.Sn 粉经球磨形成的薄片状结构使Sn 粉在PU 和EPDM 等粘合剂中受到较大的浮力作用,能够很好的分散铺展在粘合剂中,形成表面光滑的复合涂层,反射性增强,从而有利于降低红外发射率.对于颗粒状的Bi 2O 3粉体,随着粒径的减小,其在粘合剂中的分散状况以及涂料的成膜性能均得到一定的改善,在粘合剂的作用下,小粒径的Bi 2O 3粉体在涂层中更易形成高反射层,从而有效降低红外吸收.此外,由图4和图5可见,以EPDM 作为粘合剂时,复合涂层的红外发射率均低于填料和EPDM 粘合剂本身的发射率,这一方面是因为EPDM 优良的红外透明性能够使填料的低红外发射性能充分体现出来,另一方面,EPDM 的粘合作用改善了填料粉体的表面粗糙不平的堆积状态,形成表面光滑的高反射涂层,从而降低了能量的吸收.因此,在复合涂层中,当填料的形貌和粒径有利于增强其与粘合剂间的结合状况和成膜性能时,即使导致填料的红外发射率有所增加,复合涂层的红外发射率仍然能够得到一定的降低,甚至低于填料和粘合剂本身的发射率.采用球磨等机械方法改变填料的形貌和粒径,对于金属等延展性能良好的粉体,可以通过形成片状结构降低红外发射率;而对于氧化物等脆性填料粉体,则因为易形成小粒径的不规则颗粒而增大红外发射率.填料的形貌和粒径对其红外发射率的影响非常大,在一定范围内,填料颗粒的片状化程度越高,铺展性越好,其红外发射率就越低;填料粉体的粒径越小,比表面积越大,其红外发射548复旦学报(自然科学版)第48卷率就越高.填料的形貌和粒径对涂层的红外发射率也有重要的影响,当填料的形貌和粒径有利于增强其与粘合剂间的结合状况和成膜性能时,即使填料的红外发射率有所增加,涂层的红外发射率仍能有所降低.参考文献:[1] 程 明,吉 静.近红外区具有高反射率的建筑节能涂料的研究进展[J ].化工进展,2008,27(1):12-15.[2] 程 明,吉 静,常雨鑫.热反射颜填料对建筑节能涂料的影响[J ].北京化工大学学报(自然科学版),2009,36(1):50-54.[3] 毕爱红,朱金华,黄正兵.铝粉对红棕色降温涂料性能的影响[J ].电镀与涂饰,2009,28(3):53-55.[4] 靳 涛,刘立强.颜填料研究现状及其在隔热涂料中的应用[J ].材料导报,2008,22(5):26-30.[5] 宋兴华,于定华,马新胜.涂料型红外隐身材料研究进展[J ].红外技术,2004,26(2):9-12.[6] 胡传炘.隐身涂层技术[M ].北京:化学工业出版社,2004.[7] Wang T W ,Cheng C L ,Zhang Q T .S tudy on lo w infra red emissivity o f co ating in 8-14μm [J ].Optica lT echnique ,2005,31(4):598-600.[8] 游毓聪,杜仕国,施冬梅,等.红外隐身涂料黏合剂的应用与研究[J ].特种涂料与涂装,2006,16(7):50-54.[9] 居滋善.涂料工业[M ].北京:化学工业出版社,1994.[10] 余慧娟,徐国跃,邵春明,等.EP DM 基涂层在8～14μm 波段红外低发射率的研究[J ].红外技术,2008,30(3):154-157.[11] 翁小龙,张 捷,刘孝会.热红外低辐射率涂料的研制[J ].表面技术,2001,10(4):36-38.[12] 宋兴华,於定华.红外低发射率A T O 粉末的制备及其特性研究[J ].红外技术,2003,25(6):49-54.[13] 王自荣,余大斌.IT O 涂料在8～14μm 波段红外发射率的研究[J ].红外技术,1999,21(1):41-44.[14] 费逸伟,黄之杰,唐卫红,等.颜料对低发射率涂料红外辐射特性的影响[J ].材料科学与工程,2002,20(3):449-452.[15] 汪小舟,周钰明,韩凤俊,等.胶原-In 2O 3纳米复合低红外发射率涂料的制备及性能研究[J ].涂料工业,2006,36(8):40-43.[16] 卢晓蓉,徐国跃,王 岩,等.纳米Z nO 的制备及红外发射率研究[J ].南京航空航天大学学报,2003,35(5):464-467.The Influences of Pigments Figure on the ThermalInfrared Emissivity of CoatingsTAN Sh u -juan ,GU AN Xian -ton g ,YU H ui -juan ,XU Guo -yue(College o f Material S cience and Technology ,Nanjing Universityof Aeronautics &Astronautics ,Nanj ing 210016,China )A bstract :The particle figure and size of Al ,Cu ,Sn and Bi 2O 3pow ders was changed through milling .With polyurethane (PU )and ternary polyethylene -co -propylene rubber (EPDM )as the binders ,the coatings w ere prepared and the influences of pigments on the infrared emissivity of the pigments themselves and the coatings w ere studied .The results indicated that the particle figure and size of all pigments changed obviously by milling and its infrared emissivity w as influenced respectively .In the coatings ,the effect of pigment figure and size on the infrared emissivity was quite different f rom the influence on pigments themselves .When the figure and size of the pigments were propitious to the com bination with the binder and the mem brane -making ,the infrared emittance of the coatings could be reduced effectively .Keywords :coating ;pigment ;figure ;milling ;infrared emissivity 549 第5期谭淑娟等:填料形貌对涂层红外发射率的影响。
粘结剂与颜料相容性对红外涂层发射率的影响研究
从 图 １可 以 看 出 ， Ｐ Ｍ 在 ８ １ ｍ（ ５ ～ ＥＤ ～４ １２ ０ ７ ５ａ ） 段基 本没 有 吸收 峰 ， １ ｍ 波 红外透 明性 非 常好 ： Ｅ Ｄ ｇ ＭＡ 在 １７ ４ ｃ 附 近 出 现 了 Ｃ一 ０ 的 Ｐ Ｍ— — Ｈ １ ｍ
。１ ・ ７
由 图 ２ａ（ 过 分 峰 ） 知 ， 粘 结 剂 中 的 Ｏ ｓ （）经 可 纯 ｌ
对应 的结 合 能为 ９ ３６ｅ 由于 Ｃ ５ ． Ｖ。 ｕ 具有 空轨道 ， 因
一
电子谱 线 有 ３ 峰 。分别 对 应 于羧 酸酐上 中间 的桥 个
氧 ， 基 上 的 Ｏ， 羧酸 基 中羟基 上 的 ０。根据 文献 羰 及
仪 （ Ｔ Ｒ） 定 样 品 的 红外 光 谱 ，ＨＩ ５ ＦＩ 测 Ｐ ０型 电子 能 ５ 谱仪 （Ｐ ） 试 Ｃ Ｘ Ｓ测 ｕ粉 和涂 层 剖 面处 的 Ｘ射 线 电子
单体 。
本 研 究 以 ＭＡ 接 枝 前 后 的 Ｅ Ｄ 为 粘 结 剂 。 Ｈ Ｐ Ｍ
能 谱 ， ｕ ｎａ２ ０扫描 电子 显 微 镜 （Ｅ 表 征 涂 层 Ｑ ａｔ ０ Ｓ Ｍ）
键 能（０ ６ ０ｋ／ ｏ 远 大 于 范德 华力 （～ ０ｋ／ １ ， ４ ～ ０ Ｊｔ １ ｏ ） １ ２ Ｊ ） ｍｏ
这 种化 学键 一 旦形 成 ，粘 结剂 与颜 料 的相容 性将 明 显 提高 ．与金 属颜 料 或底 材 间的 附着性 能也 会显 著 提 高ｌ ３ １ 。
Ｅ Ｄ ｇ ＭＡ 含 的氧 原 子 中含 有 孤 对 电子 ， Ｐ Ｍ— — Ｈ 而 金 属 又含 有 空轨 道 ，如 果在 Ｅ Ｄ ｇ ＭＡ 与金 Ｐ Ｍ— — Ｈ 属 的界 面处 生成 了配 位键 ．则 此界 面处 形成 配位 键
美国Fluke公司的iR2高性能2色比例光纤光学红外温度测量与控制系统说明书
00°C Up to 3000°C(572 to 5432°F)High Quality Ethernet andRS232/485 AvailableFull Autotune PID Control Unique Built-In “Through-the-Lens” Laser SightingHigh Accuracy2 Color or Single-Color Operation Fiber Optic Cable Assembly is Field ReplaceableEmbedded Internet on All Models RoHS 2 CompliantiR2P, 1⁄8 DIN panelmount, shown actual size.Unique“through-the-lens” laser sighting.IR probe, with 1 m (3') cable, no extra charge.iR2C, cast aluminum housing shown close to actual size.iR2C CompleteiR2P CompleteR2 Ultra-High Performance 2-Color Ratio Fiber Optic Infrared Temperature Measurement and Control SystemOptionalFiber OpticsThe iR2 comes with a compact NEMA 4 lensand a flexible fiber optic cable assembly. With the iR2, it’s possible to measure the temperature of targets that would simply not be visible with conventional instruments. The fiber optic cable and lens allow the instrument electronics to be kept away from the target environment where it would be subjected to higher temperatures, smoke, dust, steam, or powerful electromagnetic emissions such as those generated by induction heating.Both the stainless steel lens assembly and rugged cable assembly can be replaced in the field without returning the instrument for recalibration (a unique feature). The lens can operate in ambient temperatures up to 200°C (392°F) without external cooling. The variable-focus lens can focus on targets from any distance between 200 mm (8") and more than 4 m (14'). The 25:1 field of view is ideal for most applications.OMEGA also offers a wide selection of compatible application-specific lens assemblies and fiber optic probes developed during 3 decades of experience servicing the most demanding infrared temperature applications.Unique Built-In Laser SightThe iR2 features a unique built-in “through-the-lens” laser that shows the operator precisely what the lens is seeing (spot size). This innovative laser illuminates the precise spot on the target that the lens is viewing, and allows the operator to focus on the target with absolute precision. The laser can be turned on to sight the target and off to make a measurement with the simple pushbutton on the front panel, or remotely via network or serial communications. The cable and lens do not have to be disconnected and connected to a separate apparatus to provide a conventional or laser light for sighting.The OMEGA ® IR2 Series comprises state-of-the-artabsolute amount of infrared energy. The2-color ratio technique is essential for accurate measurements in many common applications: when the target is obscured by smoke or steam,when the target is viewed through a window or screen that reduces energy, or when the emissivity of the target is unknown or changes.Unlike a standard infrared thermometer that determines an average temperature for everything within its field of view, the iR2 does not require that the target completely fill the lens field of view as long as the temperature of the target is higher than the background or material in the foreground.This capability allows the iR2 lens to be installed farther from the target, or outside a window or screen, as well as to measure temperatures of small and moving targets more accurately. The iR2 can also be switched to 1-color operation if required.Cast-Aluminum or Panel-Mount EnclosureThe iR2 is available in 2 practical packages. The iR2C model is an extremely rugged cast-aluminum enclosure (with NEMA 4 rating) that can be mounted on any surface and is powered by 20 to 36 Vdc or 24 Vac. The iR2P model is a 1⁄8 DIN panel mount package with a NEMA 4 front bezel for rack or cabinet mounting with other instrumentation, and runs on 90 to 240 Vac or 110 to 375 Vdc power.Full PID ControlThe iR2 is much more than an infrared transmitter. It is a complete autotune PID temperature controller an extremely compact enclosure (an important, unique feature). The iR2 features a totally programmable analog output that can be programmed within a range of 0 to 10 Vdc or 0 to 20 mA. The analog output is selectable as either a control output or as a calibrated retransmission of the temperature. The iR2 also offers a choice of 2 form "C" (SPDT) relays or solid state relays for controlling or alarms. The control functions feature the full suite of capabilities from simple on/off to full proportional integral derivative (PID) control. Instead of connecting a simple infrared transmitter to a separate temperature controller, the iR2 can do it all.Big, Bright DisplayThe iR2 features a big, bright LED dual display. The smaller numbers display the setpoints or alarm points. The larger numbers (a full 21 mm [0.83"] high) display the measuredtemperature. The display can be programmed to change color between GREEN, AMBER, and RED at any setpoint or alarm point, and the change in color is quickly seen from a distance.iR2C, cast aluminum housing.136 (5.4)iR Probe, with CO3 1 m (3') cable, no extra charge.Dimensions: mm (inch)Power: IR2P: 90 to 240 Vac or 110 to 375 Vdc IR2C: 20 to 36 Vdc or 24 Vac Display: 3-color dual display (AMBER, GREEN and RED ), programmable Operating Temperature: C ontroller: 0 to 50°C (32 to 122°F) Optical Assembly: 0 to 200°C (32 to 392°F), without cooling required; higher ambient temperature optical assemblies available Environmental Rating: NEMA 4 (IP65) (both the optical assembly and the front panel)Serial Communications: RS232 and RS485/422 or Ethernet and RS485/422Controller: On/off or PID controller with autotune iR2C cast aluminum enclosure.Outputs: 2 control or alarm outputs Output Type: Analog voltage or current, relay, DC pulse Analog Output Response: 1 second Pulse Output Response: 1 second Laser Sighting: Built into the controller for optical assembly alignment Wavelength (Color): 650 nm (red) Operating Distance:200 mm to 4 m (8" to 14')Maximum Laser Power Output: <1 mW Safety Classification: Class 2, complies with FDA 21 CFR 1040.10, EN60825-1/11.2001Laser Power Switch: Set via the controller menu Laser Indicator: Displays on the controller iR2P 1⁄8 DIN panel mount.SpecificationsAccuracy: 0.2% FSRepeatability: 0.2% FSTemperature Resolution: 1°Temperature Ranges:Single Color: 300 to 1300°C(572 to 2372°F)Dual Color: 450 to 1300°C(842 to 2372°F)600 to 1800°C (1112 to 3272°F):S ingle and dual color 1000 to 3000°C (1832 to 5432°F):Single and dual colorResponse Time: 10 ms(0 to 63% of final value)Spectral Response: 0.8 to 1.7 micronsInfrared Temperature Measurement :Selectable between single colorand dual colorEmissivity: Adjustable 0.1 to 1.0 (single color)Slope: 0.85 to 1.15 (two color)Optical Field of View: 25:1,than 4 m distance (8" to 14'), std Laser Beam Diameter:2 mm (0.078") spot size @ 150 mm (5.90") distance-L2MM,3 mm (0.11") spot size @ 225 mm (8.85")distance-L3MM, smallest spot size, 8 mm (0.32"); minimal focus distance is 200 mm (8"), stdDimensions (Optical Assembly): 20 x 62 mm (0.79 x 2.43")maximum length Fiber Optic Cable: 1 m included, 2, 3 and 10 m optional (3, 6, 10 and 32')Shown smaller than actual size.。
单光束双波长ir传感器原理_理论说明
单光束双波长ir传感器原理理论说明1. 引言1.1 概述在现代科技发展中，红外传感器已经广泛应用于各个领域。
其中，单光束双波长红外（IR）传感器以其独特的工作原理和优势逐渐得到关注。
单光束双波长IR 传感器利用不同波长的红外辐射与目标物之间的相互作用，通过测量红外波长的变化来实现对目标物性质和状态的检测。
本文将对单光束双波长IR传感器的原理进行深入探讨，并对其在实际应用中的潜力进行分析。
1.2 文章结构本文共分为五个部分：引言、单光束双波长IR传感器原理、理论说明、实验验证与结果分析以及结论与展望。
下面将对每个部分所涵盖的内容进行简要介绍。
1.3 目的本文旨在全面阐述单光束双波长IR传感器的原理和工作机制，并通过理论说明和实验验证来揭示其优势和限制。
同时，我们还将探索单光束双波长IR传感器在不同应用领域中的具体应用情况，并提出一些后续研究的方向和展望。
通过这篇文章，读者将能够全面了解单光束双波长IR传感器的基本原理和应用前景，为相关领域的研究和应用提供一定的指导与参考。
2. 单光束双波长IR传感器原理：2.1 单光束传感器介绍：单光束传感器是一种使用单一光源发射出的光束进行测量的传感器。
它由一个发射器和一个接收器组成，通过测量接收到的光信号的强度或其他特性来获取被测目标物体的信息。
单光束传感器具有结构简单、成本低廉以及易于实施校准等优点，在工业控制、环境监测和安防领域得到了广泛应用。
2.2 双波长原理说明：在IR（红外线）传感器中，双波长原理是指使用两个不同波长的光源进行测量。
这样做的主要目的是提高测量的准确性和可靠性。
通过选择合适的发射波长，可以获得更好的信号-背景（signal-to-background）比例，从而提高传感器对目标物体反射或吸收红外辐射的灵敏度。
另外，采用双波长还可以排除环境噪声对测量结果产生影响的问题。
因为在不同波长下，环境中可能存在不同特性或反射率的干扰光源，通过测量两个波长下的信号差异，可以将环境噪声因素剔除，得到更准确的目标物体信息。
双波段发射率测量仪技术指标
双波段发射率测量仪技术指标双波段发射率测量仪型号：IR-2可在航天航空红外隐身、红外烘烤、建材、造纸、纺织等行业用于对材料红外辐射特性的测量研究。
发射率是材料热物性的基本参数之一。
新型发射率测量仪是采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率的。
它能测量常温样品在3μm-5μm，8μm-14μm和1μm-22μm三个波段的发射率。
当有特殊需要时，它可通过**用的控温装置在-100℃~600℃任何温度范围内加热或冷却样品，从而对样品进行发射率变温测量。
特点：1.仪器中装有小型标准黑体辐射源和六位高精度微机控温仪（能显示到1mK）不仅使它具有稳定的宽光谱测量范围，而且还**大地提高了其在测量时的可靠性和稳定性。
2.采用**特的光学调制技术，测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。
3.为了确保仪器的测量精度，在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，除镜反射（MR）探通道外，还增设了**门的漫反射（DR）补偿通道。
4.在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测，进一步提高了仪器性能。
5.操作简单，使用方便，测量速度快。
6.可按需更换滤光片，在多个红外光谱波段内进行测试。
7.在测量过程是不会损伤被测样品。
8.带RS-232串口及复位键RST。
主要技术指标：1.测量波段3～5μm，8～14μm、1～22μm（若用户有特殊要求，可定制不同波段滤光片）2.发射率测量范围：0.1～0.993.灵敏度NE△ε：0.0014.示值误差：±0.02（ε>0.50）5.重复性：±0.016.样品温度：常温(-100℃～600℃）7.样品尺寸：直径≥50mm8.测量时间：3秒9.显示方法：LED数字显示，末位0.00110.电源：交流22V 50H z。
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IR-2型双波段发射率测量仪
红外
【期刊名称】《《军民两用技术与产品》》
【年(卷),期】2004(000)012
【摘要】中国科学院上海技术物理研究所研制成功IR-2型双波段发射率测量仪。
【总页数】1页(P31)
【作者】红外
【作者单位】
【正文语种】中文
【中图分类】TN219
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