光伏组件生产四——EL检测
光伏组件质量检测技术有那些内容
光伏组件质量检测技术有那些内容下载温馨提示:该文档是我店铺精心编制而成，希望大家下载以后，能够帮助大家解决实际的问题。
文档下载后可定制随意修改，请根据实际需要进行相应的调整和使用，谢谢!并且，本店铺为大家提供各种各样类型的实用资料，如教育随笔、日记赏析、句子摘抄、古诗大全、经典美文、话题作文、工作总结、词语解析、文案摘录、其他资料等等，如想了解不同资料格式和写法，敬请关注!Download tips: This document is carefully compiled by theeditor.I hope that after you download them,they can help yousolve practical problems. The document can be customized andmodified after downloading,please adjust and use it according toactual needs, thank you!In addition, our shop provides you with various types ofpractical materials,such as educational essays, diaryappreciation,sentence excerpts,ancient poems,classic articles,topic composition,work summary,word parsing,copy excerpts,other materials and so on,want to know different data formats andwriting methods,please pay attention!光伏组件质量检测技术：确保绿色能源的高效与可靠随着全球对可再生能源需求的不断增长，太阳能光伏技术已经成为电力供应的重要组成部分。
浅谈并网光伏电站组件EL检测技术及应用
浅谈并网光伏电站组件EL检测技术及应用【摘要】光伏电站组件EL检测技术是一种重要的质量监测手段，通过电致发光效应检测太阳能电池片表面和内部缺陷，帮助提高光伏组件的性能和寿命。
本文从EL检测技术原理、在光伏电站中的应用、优势、挑战以及发展趋势等方面进行了深入探讨。
EL检测技术能够精准快速地发现电池片的瑕疵，提高光伏组件的质量和可靠性，对光伏电站的运行和维护具有重要意义。
EL检测技术在实际应用中还存在一些挑战，如高成本和复杂操作等。
随着技术的不断进步，EL检测技术的应用前景将更加广阔。
EL检测技术对于提升光伏电站的效率和可靠性具有重要作用，值得进一步研究和推广。
【关键词】关键词：光伏电站、EL检测技术、并网、原理、应用、优势、挑战、发展趋势、意义、应用前景、总结。
1. 引言1.1 背景介绍为了确保光伏电站的发电效率和运行安全，EL （Electroluminescence）检测技术被引入到光伏电站的运维管理中。
EL检测技术是利用组件在电场作用下发光现象来检测组件内部缺陷的一种无损检测技术，可以有效地提前发现并定位组件的隐患，帮助运维人员及时维护和处理问题组件，保障光伏电站的发电效率和安全运行。
通过对光伏电站组件EL检测技术的研究和应用，可以更好地了解组件的内部状况，及时发现问题并进行处理，提高光伏电站的发电效率和可靠性，推动光伏产业的健康发展。
部分至此结束。
1.2 研究意义：研究意义主要体现在以下几个方面：光伏电站组件EL检测技术的研究对于提高光伏组件的质量和效率具有重要意义。
通过EL检测技术可以快速、准确地检测光伏组件的质量，发现潜在的问题，及时进行修复和维护，提高光伏组件的寿命和稳定性，同时也可以提高光伏组件的能量转换效率。
光伏电站组件EL检测技术的研究也对于环境保护和可持续发展具有积极作用。
光伏电站作为清洁能源的重要组成部分，其质量和效率直接影响到清洁能源的利用效率和环境影响。
通过EL检测技术的研究和应用，可以提高光伏组件的质量和效率，减少光伏电站对环境的影响，推动清洁能源的发展和利用。
太阳能组件EL测试原理
图1 EL测试原理图
电致发光检测方法及其应用
Willurpimd, Jacky
图3 单晶硅电池的隐裂EL图及区域放大图 但是由于多晶硅片存在晶界影响，有时很难区分其与隐裂，见图4的红圈区域。
所以给有自动分选功能的EL测试仪带来困
难。
图4 多晶片的EL图
2.断栅
印刷不良导致的正面银栅线断开，从
图5的EL图中显示为黑线状。
这是因为栅线
断掉后，从busbar上注入的电流在断栅附
近的电流密度较小，致EL发光强度下降。
图5 印刷断线的EL图
3.烧结缺陷
一般而言，烧结参数没有优化或设备
存在问题时，EL图上会显示网纹印(图6左)。
采取顶针式或斜坡式的网带则可有效消
除网带问题，图6右是顶针式烧结炉里出来
的电池，图中黑点就是顶针的位置。
电致发光检测方法及其应用
Willurpimd, Jacky
图6 有烧结问题的EL图
4.“黑心”片
图7 黑心片EL图 直拉单晶硅拉棒系统中的热量传输过
程对晶体缺陷的形成与生长起着决定性的
作用。
提高晶体的温度梯度, 能提高晶体
的生长速率, 但过大的热应力极易产生位
错。
图7就是我们一般所说的“黑心”片的
EL图。
在图中可以清楚地看到清晰的旋涡
缺陷, 它们是点缺陷的聚集, 产生于硅棒
生长时期。
此种材料缺陷势必导致硅的非
平衡少数载流子浓度降低，降低该区域的
EL发光强度。
5.“漏电”问题
图8 漏电电池片的EL图、红外图、局部放大图。
光伏行业EL具体判定标准
3.1 裂纹
成因 ：各种类型外力因素均可能造成电池片裂纹，可能造成电池片部分毁坏或电流的缺失。
特征：裂纹在 EL 测试下，产生明显的明暗差异的纹路（黑线）。
计算方法：计算裂纹的总长度。
3.2 碎片
成因：由于外力因素造成电池片裂纹，裂纹比较严重，会造成电池片一定区域完全失效。
特征：该区域为破片，在 EL 测试下，表现为以裂纹为边缘的一片区域呈阴影部分或完全的黑色。
Black Spot
序号
项目
0级 S≤1/16 Cell’s Aera
1级 1/16＜S≤1/8 Cell’s Aera
2级 1/8＜S≤1/4 Cell’s Aera
3级 S＞1/4 Cell’s Aera
4.6
黑斑
Cloudy
第 6 页，共 8 页
附件 C：组件 EL 检验规范
序号
项目
0级 Not limit
计算方法：计算全黑部分与阴影部分的总面积。
3.3 黑片
成因：电池片完全的黑片，一般大面积缺陷或短、断路原因。
特征：电池片大面积的全黑阴影。
计算方法：电池片超过 70%为黑影，判定为黑片。
3.4 电池过焊
成因：电池过焊一般为焊接工艺造成的，会造成电池部分电流的收集障碍，该缺陷发生在主栅线的旁边。
第 1 页，共 8 页
序号
项目
0级
N/A
版本号
1级 N/A
黑片 4.3
Dark Cell
V 2.0
2级 N/A
3级 S＞70% Cell’s Aera
序号
项目
0级 S≤1/16 Cell’s Area
1级 1/16＜S≤1/8 Cell’s Area
EL判定标准与检验指导书
度 L 的 1/4，不穿过主栅线。 缺陷超出 B 级标
2.允许有 4 处，同一电池片
准。
上只允许有 1 处，线状隐裂
长度不允许超过电池片长
度 L 的 1/5，不穿过主栅线。
第1页
交叉隐 裂（X 形、 Y 形）
不允许有隐裂，必须更换电 池片。
不允许。
不允许。
不允许。
序号
检验项目
黑心 4.4
片
4.5 断栅 4.6 网纹
允许数量≤4 片。
允许数量≤2 片。
允许数量≤4 片。
缺陷超出 B 级标 准。
第2页
注：焊接时 互连条虚
4.7 虚焊 焊，虚焊部 位有异样的 黑色区域。
缺陷超出 B 级标
单片虚焊面积≤10%；数量 单片虚焊面积≤10%；数量≤ 单片虚焊面积≤10%；数
准。
≤5 片。
3 片。
量≤5 片。
序号
检验项目
的规格类型需一致； 2.不同等级的电池片数量≤5
片； 3.不得影响整体光伏组件性
能。
层压后 C 级标准
缺陷超出 B 级标 准。
序号
检验项目
缺角裂 片
4.2 破片
显裂
EL 图片（例图）
层压前测试
层压后 A 级标准
层压后 B 级标准
层压后 C 级标准
不允许有破片，必须更换电 池片。
允许有任何深度≤1mm 的 U 型 缺口（杜绝 V 型缺口），一块
线。
1.栅线缺陷导致单片电池片 中不超过 3%的失效面积； 2.同一块组件内部栅线缺陷
电池片数量≤5 片； 3.不影响组件的 I-V 测试曲
线。
1.栅线缺陷导致单片电池 片中不超过 3%的失效面
EL检测及密栅光伏组件EL常见异常
EL检测及密栅光伏组件EL常见异常EL检测简介：EL全称为Electroluminescence，中文译为电致发光，亦叫做场致发光，其目的用于检测组件上电池片缺陷，以控制质量。
EL测试基本原理是晶体硅太阳电池片外加正向偏置电压，电源向晶体硅电池注入大量非平衡载流子，电致发光依靠从扩散区注入的大量非平衡载流子不断的复合发光，放出光子；再利用CCD相机捕捉这些光子，通过计算机处理后成图像，整个测试过程必须在暗室进行完成。
且成光为红外光。
EL图像的亮度正比与电流密度，故有缺陷的部位会呈现黑色、或者灰色的图像，进而可判断缺陷原因。
密栅光伏组件EL图像常见异常：经过在潞安10个月的观察跟踪，常见的EL图像异常现象包括了：断栅、漏电、黑心片、缺角、裂片、虚焊、短路，其中裂片包括细小隐裂、米字型隐裂、弧形裂痕、贯穿裂、爆炸裂。
由于每个客户现场的习惯不一样，对电池片定位坐标的叫法也不一样，所以首先我们自行定义一下图像位置：我们先看一下一张完好的密栅多晶组件EL检测图像：图5530再看一张完整的密栅单晶组件EL图像：图0035我们可以看到EL图像一般呈灰白色，其图像多分为三段，是由于一般EL检测设备是由三个相机拍照，在通过软件自行拼接而成。
图中间在图像拼接处可见两条灰色条状阴影，该阴影一般为支撑组件的玻璃支架，平时可以忽略此处阴影，但此处也是最容易被忽略问题的地方。
由于是三个相机拼接成的图像，所以如果拼接不合适会存在拼接处的电池片被拉长、变形，以及不同相机的焦距调节不一样，致使不同区域的图像清晰度不同。
我们进入正题，以下的EL图像异常类型不按照频率高低来说。
断栅此处断栅不是指的电池片栅线种类，电池片栅线种类里面的断栅会在主栅线两侧用少量的银浆使主栅线和细栅线进行连接，此处的断栅即主栅银浆印刷存在断点，导致电池片上的细栅线与主栅线成断路，无法导电，即该细栅所在的区域与主栅线断连，故在EL图像上会呈现垂直于主栅线的粗黑线。
EL操作说明书
沛德光电科技（上海）有限公司ASIC TECHNOLOGY(SHANGHAI)CO.,LTD太阳能电池组件电致发光缺陷检测仪操作手册机型:EL-1.4MD-A一．设备简介太阳能电池组件电致发光缺陷检测仪（EL），是依据硅材料的电致发光原理对太阳能电池组件进行缺陷检测及生产工艺监控的专用测试设备。
二．基本结构1 硬件：主要由5个部分组成。
1.1自动化控制此系统采用西门子PLC为主体的控制系统，主要的电控原件包括：继电器，接触器，马达，触摸屏，电磁阀，指示灯等。
PLC内部I/O点连接情况见附件1.2传输系统可与前后流水线衔接，实现自动进料—测试—出料整个过程。
前后机台的信号交接：Table Ready信号KA8 Normal openTest OKKA5 Normal open此设备采用双马达驱动，对组件能起到校正作用。
在入料过程中，组件接触到位置检知开关既能停止传动，等待另一侧到位后继续运转。
1.3气动系统本EL设备使用气动气缸有：Y归正气缸、X归正气缸、变轨气缸、顶升气缸、门气缸Y归正气缸：双气缸控制，通过气缸上固定的挡块，给组件提供Y 方向的归正。
磁性开关连接方式：动点两只磁性开关串联（I1.5），原点两只归正气缸串联（I1.4）。
*注意点：1，层前Y归正时，需留出少许（5mm-15mm）空间，避免挤伤组件2，跟换组件规格时，需调整Y归正块间距3，两侧的气缸速度需调节一致。
X归正气缸：双气缸控制，组件接触X归正气缸即刻停止，进行X 方向定位。
磁性开关连接方式：动点两只磁性开关串联（I2.1），原点两只磁性开关串联（I2.0）*注意点：两侧气缸速度一致顶升气缸：顶升气缸作用拉长组件到相机的距离，达到预设的拍摄光程磁性开关连接方式：每只气缸均有下检知（I2.2/I2.4）、中下检知(I3.4/I3.6)、中上检知(I3.5/I3.7)、上检知（I2.3/I2.5）磁性开关。
*注意点：1，两侧气缸伸缩必须保持同步性2，速度不宜太快变轨气缸：双气缸控制，测试时间轨道张开磁性开关连接方式：动点两只磁性开关串联（I0.7），原点两只磁性开关串联（I0.6）。
《用电致发光(EL)法分析检测晶硅太阳电池的工艺》范文
《用电致发光（EL）法分析检测晶硅太阳电池的工艺》篇一一、引言随着科技的发展，晶硅太阳电池已成为现代绿色能源领域的重要一环。
为了确保其性能的稳定和高效，对生产过程中的检测与分析显得尤为重要。
电致发光（Electroluminescence，简称EL）法作为一种有效的非破坏性检测手段，被广泛应用于晶硅太阳电池的工艺分析中。
本文将详细介绍用电致发光法分析检测晶硅太阳电池的工艺，以期为相关研究提供参考。
二、电致发光（EL）法基本原理电致发光法是一种通过在特定电压下激发太阳能电池的电子和空穴复合过程，从而产生光辐射的技术。
在晶硅太阳电池中，当施加电压时，电子和空穴在PN结内运动并发生复合，形成发光现象。
通过对这一过程的发光强度、颜色和发光图案的观察与分析，可以了解太阳电池内部的结构和性能状况。
三、EL法在晶硅太阳电池工艺分析中的应用1. 检测电池内部结构缺陷：通过EL图像，可以观察到电池内部的微小缺陷，如裂纹、杂质等。
这些缺陷会影响电池的光电转换效率。
通过分析EL图像，可以及时发现并修复这些缺陷，提高电池的效率。
2. 分析电池工艺过程：在晶硅太阳电池的生产过程中，EL法可以用于监测各个工艺环节的质量。
通过对不同工艺阶段的EL 图像进行比较和分析，可以找出生产过程中的问题，及时调整工艺参数，从而提高产品的质量。
3. 评估电池性能：EL法可以评估太阳电池的光电性能，如开路电压、短路电流等。
通过对EL图像的定量分析，可以了解电池的性能状况，为后续的优化提供依据。
四、EL法在晶硅太阳电池工艺分析中的优势1. 非破坏性检测：EL法是一种非破坏性检测方法，可以在不损坏太阳电池的情况下进行检测和分析。
2. 高灵敏度：EL法可以检测出微小的缺陷和结构变化，具有较高的灵敏度。
3. 快速便捷：EL法可以在短时间内完成对太阳电池的检测和分析，提高生产效率。
4. 适用范围广：EL法适用于各种类型的晶硅太阳电池，具有较广的适用范围。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
光伏组件生产四——EL检测太阳能电池组件缺陷检测仪——即EL测试仪是利用晶体硅的电致发光原理、利用高分辨率的CCD相机拍摄组件的近红外图像，获取并判定组件的缺陷。
EL 检测仪具有灵敏度高、检测速度快、结果直观形象等优点，是提升光伏组件品质的关键设备；红外检测可以全面掌握太阳电池内部问题，为改进生产工艺提供依据，提升产品质量，可以对问题组件进行及时返修，尽可能的降低损失。
方便层压前和层压后太阳能电池组件的测试，更换不同规格的太阳能电池组件后设备能方便地调整，保证太阳能电池组件的安全。
使用EL检测仪
通过EL测试仪可以清楚的发现太阳能组件电池片上的黑斑、黑心以及组件中的裂片，包括隐裂和显裂、劣片及焊接缺陷等问题，从而及时发现生产中出现的问题，及时排除，进而改进工艺。
对提高效率和稳定生产都有重要的作用，因而太阳电池电致发光测试仪被认为是太阳电池产线上的“眼睛”。
EL检查的生产工艺及注意事项
不同规格的电池片要使用不同的电流和电压，具体如下
注意事项
1.使用前确保太阳能电池组件规格是否有调整，严禁未经调整随意测试不同规格的组件。
2.太阳能电池组件在传输过程中不得随意拉动或者停止太阳能电池组件，确保人员和产品的安全。
3.在检查直流电源前，请在切断电源10分钟后再用万用表等确认进行工作。
4.禁止随意使用U盘拷贝数据，避免病毒传染，重要数据流失。
5.如一段时间不使用，应同时关闭电脑及所有电源。
6.打开直流稳压电源后,确认电源上面的数值是否符合规格。
7.请勿在暗箱内放置任何物体。
EL检测阶段常见问题及解决方法
1、破片
生产过程中由于铺设、层压操作不当导致热应力、机械应力作用不均匀都有可能出现破片现象。
2、黑芯
黑芯一般是由于原材料商在拉硅棒的时候没有拉均匀所致。
3、断栅
断栅的原因是丝网印刷参数没调好或丝网印刷质量不佳，或者是硅片切割不均匀，也有可能出现断层现象。
4、暗片
出现暗片的原因是由于硅片存在缺陷，导致少子数目变少，在电致发光的作用下，缺陷出发出的光相对比正常地方发出的光少，所以在相机的照片中显出黑暗。
5、低效片
若低电流、电压、FF可能是硅片和PN结的问题；也有可能是扩散的问题或原材料的问题如（铝浆）过刻的危害；减小有效光电池面积直接影响短路电流；增加电池材料的高频损伤、降低电池参数；会造成一定程度的漏电。
解决方法：组件测试中出现以上几种问题，都会对组件质量照成严重影响，必须做返工处理。