屏蔽效能测试方案

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电子管玻璃外壳的电磁屏蔽性能测试与分析

电子管玻璃外壳的电磁屏蔽性能测试与分析

电子管玻璃外壳的电磁屏蔽性能测试与分析引言:电子设备的快速发展和广泛应用对设备的可靠性和稳定性提出了更高的要求。

在电子器件中,电磁辐射是一种常见的干扰来源,它会对设备的正常工作产生不利影响,甚至引起性能故障。

因此,电子器件的设计中要考虑提高电磁屏蔽性能,避免干扰对设备造成的影响。

本文将具体介绍如何对电子管玻璃外壳的电磁屏蔽性能进行测试与分析,并进行相应的改进措施。

一、电磁屏蔽性能测试方法1. 环境干扰测试在电磁屏蔽性能测试前,我们需要先了解设备所处的电磁环境。

可以使用频谱分析仪或场强仪等仪器进行测试,以获取设备所在区域的电磁干扰频谱和电磁场强度信息。

这些数据将为后续测试提供基准值。

2. 屏蔽效能测试屏蔽效能测试是评估电子管玻璃外壳电磁屏蔽性能的关键一步。

可以使用屏蔽箱或电磁屏蔽房进行测试,具体测试方法如下:(1)辐射屏蔽测试:通过在外部施加连续波信号,测量内部信号的强度来评估辐射屏蔽性能。

可以使用频谱分析仪、示波器等设备进行测量。

(2)导电屏蔽测试:通过在外部施加脉冲信号,测量内部信号的强度来评估导电屏蔽性能。

可以使用示波器、高频串扰仪等设备进行测量。

3. 分析测试结果通过上述的测试方法,我们可以获得电子管玻璃外壳的屏蔽效能值。

在分析测试结果时,可以根据实际应用环境和标准要求,对测试数据进行合理的比较和评估。

同时,结合设备的工作电磁环境,将测试结果进行量化分析,确定是否符合要求。

二、电磁屏蔽性能分析与改进1. 分析测试结果根据测试结果,对电子管玻璃外壳的电磁屏蔽性能进行分析。

首先,比较测试结果与相关标准的要求,判断性能是否达标。

其次,分析测试数据,确定性能不达标的原因。

2. 改进措施(1)优化材料选择:电子管玻璃外壳的材料选择直接关系到其电磁屏蔽性能。

可以通过更换导电性能更好的材料,提高外壳的导电屏蔽性能。

例如,采用具有高导电性能的金属材料或者另外添加导电材料。

(2)改善结构设计:通过改善外壳的结构设计,增加屏蔽结构的路径,提高屏蔽效果。

电磁屏蔽室屏蔽效能检测作业指导书

电磁屏蔽室屏蔽效能检测作业指导书

电磁屏蔽室屏蔽效能检测作业指导书一、目的为规范实施电磁屏蔽室屏蔽效能检测,参照国标《电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法》(GB /T 12190-2006),结合我单位检测设备,制定《电磁屏蔽室屏蔽效能检测作业指导书》。

二、范围测试频率范围为9kHz~18GHz。

根据需要,频率向两端可以扩展到50Hz和100GHz。

三、测量方法环形天线检测(30MHz以下频段)1、连接①发射部分发射时,请将发射机通过电缆和发射环HR2030A连接,请确保是正确的无损的连接.我公司的成套设备HR1612A,是发射机的良好设备,信号输出强度为25dbm,可以保证,接收频谱仪最高可接收到18dbm的信号,最高可以测试到140db的衰减值.②接收部分接收时,请将接收通过电缆和接收环HR2030A连接,请确保是正确的无损的连接.我公司的成套设备接收机,是作为接收频谱的良好设备,信号灵敏度最高可达158dbm,可以保证,接收频谱仪最高可接收到18dbm的信号,最高可以测试到140db的衰减值.如果使用灵敏度更高的频谱设备,可以测试更低的衰减值。

但如果选用接手灵敏度低的接收机或者频谱仪,测试的衰减值会显著降低。

所有的要求,都是需要紧密连接,并保证信号在传输过程中无泄漏低衰减。

③支撑三脚架三脚架应选用木制品,不可选用金属构件,因为传导到地面会导致非常结果的出现,请特别注意。

如果不便选型,可以向我们购买。

其中底座的配套螺钉和我们购买的是一致的,如果自行购买,请确定紧固螺钉是否合适,如果不合适,请加转换螺钉,以便于和三脚架牢固和紧密连接2、检测①按医院给定的频率设计检测方案,确定天线选择。

要保证比对测试环境的空旷,事实上要做到完全空旷是有困难的,但应该做到,前后左右1.2米范围内,没有墙体和遮挡物。

根据GB12190-2006对30MHz以下频段的测试要求,作为模拟场比较数据时,环形天线之间应相距60cm加墙体厚度。

调谐范围约为100KHZ,在调谐是务必注意,精心细调。

屏蔽效能测试方案

屏蔽效能测试方案

屏蔽室屏蔽效能 测试频率
测试频率应该参考国家或军队无线电管理机构提供的频率列表
建议从供工业、科学和医疗设备(ISM)使用的频率或推荐频率表选择
屏蔽室 低频段测量(9kHz-20MHz)
屏蔽室 谐振频段测量(20MHz-300MHz)
屏蔽室 高频段测量(300MHz-1GHz)
屏蔽室 高频段测量(1GHz-18GHz)
DSA800+TG 或DSA1000+TG
方案二 2
DR-S01+测试支架 北京鼎容实创
DR-S02
3
Rigol
RF Attenuator Kit
4
Rigol
CB-NM-NM-75-L-12G
设备名称 频谱分析仪 射频信号源 法兰同轴屏蔽效能测试装置 法兰同轴屏蔽效能测试仪 10dB衰减器*2 射频连接电缆*2
应用领域
应用领域
什么是屏蔽效能(Shielding Effectiveness)?
定义:在同一激励电平下,有屏蔽材料与无屏蔽材料时所接收到的功率 或电压之比,并以对数表示。
SE = 20lg(V0/V1) = 10lg(P0/P1 )
式中,SE—屏蔽效能,dB; V0—无屏蔽材料时的接收电压; V1—有屏蔽材料时的接收电压; P0—无屏蔽材料时的接收功率; P1—有屏蔽材料时的接收功率。
屏蔽效能 典型测试结果
标准法规
SJ 20524:1995 材料屏蔽效能的测量方法 GJB 6190:2008 电磁屏蔽材料屏蔽效能测量方法 GB/T 25471:2010 电磁屏蔽涂料的屏蔽效能测量方法 GB/T 12190:2006 电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法 GJB 6785-2009 军用电子设备方舱屏蔽效能测试方法 GJB 3039:1997 舰船屏蔽舱室要求和屏蔽效能测试方法 IEEE Std 299:2006 IEEE standard method for measuring the effectiveness of electromagnetic shielding enclosures. ASTM D4935:2010 Standard Test Method for Measuring the Electromagnetic Shielding Effectiveness of Planar Materials. IEEE Std 1302:2008 IEEE Guide for the Electromagnetic Characterization of Conductive Gaskets in the Frequency Range of DC to 18 GHz. MIL-DTL-83528C:2001 Gasketing Material,Conductive,Shielding Gasket, Electronic,Elastomer,EMI/RFI. SAE ARP 1173:2004 Test procedure to measure the RF shielding characteristics pf EMI gaskets. SAE ARP 1705A:2006 Coaxial test procedure to measure the RF shielding characteristics of EMI gasket materials. DESC 92017 DEF STAN 59-103

电磁屏蔽室效能检测

电磁屏蔽室效能检测

电磁屏蔽室效能检测EMC 屏蔽效能的测试方案 实验原理:GJB5792-2006 军用涉密信息系统电磁屏蔽体等级划分和测量方法: 指测试过程中,除了与特定设施有关的频率之外,为考核屏蔽室屏蔽效能而选取的典型测试频率范围,分以下三个频段(见表1)。

表1GJB5792 屏蔽效能1)在20-300MHz 频段内由于天线尺寸和屏蔽室的谐振效应,使测量结果常常会因测试方法的微小变动产生极不正常的变化,所以在该频段内未推荐测试方法。

如确有必要侧试,本标准的小环法或频段II 测试方法可供参考。

2)侮个频段仅测一个频率点,用以粗略估计屏蔽室的屏蔽效能。

屏蔽效能的表示:在频段I ,屏蔽效能由右式表示:SE=20log12E E→→,在频段II ,屏蔽效能由右式表示:SE=20log12HH →→,在频段III ,屏蔽效能根据指示器方式的用右式表示:SE=10log12P P 。

测量的一般要求 一般要求a.在正式侧量之前可对屏蔽室进行初测,找出性能差的门、接缝和安装不良的电源滤波器及通风孔,以便正式测量之前子以修补。

对于新建的屏蔽室,尤其有必要进行初测;b.在测试之前,应把金属设备或带金属的设备搬走,如桌子、椅子、柜子和不用的仪器等;c.屏蔽室的电源滤波器及室内电源线只给检测仪器及照明供电;d.在测试中,所有的射频电缆、电源和其他平时要求进人屏蔽室的设施均应按正常位置放置;e.电磁环境应满足GJB5792的要求,检测仪器本身应满足抗干扰要求,f.为了不致发生生理危害,应采取专门的预防措施,这对频段Ⅲ的测量尤为重要;9.测量中,对各种导线、电缆的进出口、门、观察口及板与板之间的接缝应特别注意;h.有些测试方法要求在不同的位置、不同的极化条件下对某一结构要素作多次测量,i.测试报告应记录可接近的屏蔽壁数目、受试屏蔽壁的数目,以及局部测试区的数目和位置。

测试用天线本标准对不同频段的测试天线规定如下:a.频段I:环形天线,b.频段I:偶极子天线,c.频段III:微波喇叭及其等效天线。

材料屏蔽效能的测量方法

材料屏蔽效能的测量方法

材料屏蔽效能的测量方法材料的屏蔽效能是指材料对外部电磁波或辐射的吸收和阻挡能力。

测量材料的屏蔽效能可以帮助人们了解和评估不同材料在防护电磁波和辐射方面的能力。

下面将介绍几种常用的材料屏蔽效能测量方法。

1.透射法测量透射法是一种常见的测量材料屏蔽效能的方法。

该方法通过分别测量原始电磁波或辐射源的电磁波强度和透过材料后的电磁波强度,计算出材料的透射系数,从而评估材料的屏蔽效能。

透射法的测量步骤一般包括:确定透射样品的尺寸和准备样品;将电磁波或辐射源放置在样品的一侧,测量源侧和接收侧的电磁波或辐射强度,计算透射系数。

2.散射法测量散射法是一种基于材料散射电磁波的测量方法。

该方法通过测量散射波的方向、强度和能谱,来评估材料的屏蔽效能。

散射法的测量步骤一般包括:将电磁波或辐射源照射到待测材料上,测量材料表面和散射波方向上的电磁波或辐射强度,计算材料的散射系数和散射横截面。

3.反射法测量反射法是一种通过测量待测材料对电磁波或辐射的反射来评估材料屏蔽效能的方法。

该方法一般包括:将电磁波或辐射源照射到材料上,测量材料的反射波方向、强度和能谱,并计算材料的反射系数和反射横截面。

4.射频测试方法射频测试方法主要用于测量材料对射频电磁波的屏蔽效能。

该方法通过将待测材料置于封闭的射频测试室内,测量材料表面和室内的电磁场强度和频谱,进而计算材料的屏蔽效能。

在射频测试中,常用的测量设备包括功率计、频谱分析仪等。

5.辐射损耗测试方法辐射损耗测试方法主要用于测量材料对高能辐射的屏蔽效能。

该方法通过将待测材料置于辐射源附近,测量源侧和样品侧的辐射能量,计算材料的辐射损耗。

总的来说,材料屏蔽效能的测量方法多种多样,具体选择哪种方法要根据待测材料的特性和需要测量的参数来决定。

以上介绍的测量方法只是其中的一部分,随着科技的不断发展,可能还会出现更加先进和精确的测量方法。

结构体屏蔽效能计算与测试

结构体屏蔽效能计算与测试
原理 图 方面通过 尖端 放 电产 生 的点 源辐射 电磁波 ,类似于 球面波 ,在测 试过程 中没有 方
向性 ,对 整个测 试 更加有 利 ;一 方面利 用高 压放 电 ,可 以提 供较 大 的瞬时功 率 ,平均 电
源消耗并不高 ;另一方面也省去了复杂的信号产生、功率放大等 电路和天线 ,体积可以 很小,也有利于机箱的测试 。测试时将宽频信号发生器放在被测体 内,由天线接收,在 频谱仪上可以看到众多谱线 ,移开被测体宽频信号发生器在空间辐射产生电磁场频谱, 通 过 比较 ,可 以得 出被测 体 的屏蔽效 能 。
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维普资讯
电信 技术研 究
20 0 8年第 5 期


图 1屏蔽效能常规测试原理图
图 2屏 蔽效 能 曲线
本次屏蔽效能的测试是由外部天线发射利用场强探头来检测 的,由 于场强探头接收 的是宽频信号 ,一方面会因为某些频段的阻抗不匹配造成测试的不准确 ;另一方面场强 探头势必需要引线连接进入屏蔽机箱 ,从而带来 了意想不到的传导干扰 ;另外场强探头
关 键词 : 电磁 兼容
1引言
电磁 干扰
屏 蔽效 能
屏蔽是 电磁兼容技术得以实现的重要手段之一,屏蔽的目的就是要切断内外一切干 扰源相互间形成电磁骚扰的途径 ,原本它的计算非常复杂,一定要在有无屏蔽结构时对 比条件下求解麦克斯韦方程。近年来,由于数学计算软件和计算机应 用的发展 ,使数值 法在计 算上有 广泛 的应 用空 间 ,原 因是 数值法精 确且适 用于一 切 图形 ,但 是 ,工程师们 还是喜 欢用工 程计算 方法 ,毕竟 更适合现场 工作条 件 ,而且简单 、 方便 。
的测 试也是 根据这 个 定义 进行 的。 目前 因为没 有针对 屏蔽效 能相 应 的国家标 准 ,因此可 能有 不 同的测试 方法 ,虽然原 理相 同 ,但是测 试结果 可能 出入较大 ,为 了减 少外界 电磁

电磁屏蔽效果验证方案

电磁屏蔽效果验证方案

电磁屏蔽效果验证方案
简介
本文档旨在提供一种电磁屏蔽效果验证方案。

电磁屏蔽是保护电子设备免受外界干扰的重要措施,因此验证电磁屏蔽效果的可靠性至关重要。

实验步骤
1. 选取测试设备
选择需要测试电磁屏蔽效果的设备,可以是电脑、手机或其他电子设备。

2. 创建测试环境
在实验室或无电磁干扰的环境中,保持测试场所的稳定性和一致性。

3. 测试前准备
确保测试设备和测试环境都处于正常工作状态。

4. 设置基准测试
通过在没有进行任何电磁屏蔽操作的情况下进行基准测试,记录测试设备的电磁辐射水平。

5. 进行电磁屏蔽操作
使用电磁屏蔽材料或其他电磁屏蔽装置,对测试设备进行屏蔽操作。

6. 重新测试电磁辐射水平
在进行电磁屏蔽操作后,重新测试设备的电磁辐射水平。

7. 分析和比较测试结果
将基准测试和屏蔽操作后的测试结果进行分析和比较,评估电磁屏蔽效果的可靠性和有效性。

实验注意事项
- 在进行测试时,确保测试环境没有其他电子设备或干扰源。

- 准确记录测试设备的型号、参数和测试结果。

- 尽量使用已验证的电磁屏蔽材料或装置进行测试。

- 多次重复测试以确保结果的可靠性和一致性。

结论
通过以上的实验步骤和注意事项,可以有效验证电磁屏蔽效果。

根据实验结果,可以评估和改进现有的电磁屏蔽措施,以提高电子
设备的防护性能。

---
请注意,本文档提供的步骤和注意事项仅为一种电磁屏蔽效果
验证方案,具体实施时应根据实际情况进行调整。

射频屏蔽室屏蔽效能的测试技术

射频屏蔽室屏蔽效能的测试技术

射频屏蔽室屏蔽效能的测试技术1前言这些年来,发表了很多关于射频屏蔽室和屏蔽小室的文章。

这些文章涉及到屏蔽室的购买、结构设计和安装,以及有关的接地和电气问题。

虽然这些文章提供了许多信息,但没有一篇文章说清了屏蔽室和屏蔽小室的屏蔽效能测试问题。

本文解释和描述了工业上所采用的屏蔽室屏蔽效能的测试过程。

2屏蔽效能测试屏蔽室或屏蔽小室的屏蔽效能测试或性能测试是安装的最后阶段,这也可能是最重要的阶段。

不幸的是,测试过程被认为是麻烦的或在某种程度上被认为是不可思仪的。

事实上,屏蔽效能测试很简单,并与MIL-STD-220也就是插入损耗测试标准是一致的。

主要的区别在于测试所用的设备不同。

屏蔽效能测试基本上等同于电子测试设备的校准。

与测试设备一样,当屏蔽小室的屏蔽效能降低时就需要对其进行校准。

当校准屏蔽小室或测定屏蔽小室的屏蔽效能时,要使用辐射测试技术。

所幸的是美国军方和安全部门已建立了相应的标准。

这些标准描述了特定频率和测试场地条件下的测试方法、设备和测试过程。

这些测试过程经过微小的调整,就能应用于任何屏蔽小室的安装,并满足用户要求。

测试屏蔽效能最经常用到的两个测试标准或测试程序是MIL-STD-285和NSA65-6。

这些文件描述了对设备配置和测试场地的要求。

每个程序中也规定了测试频率和衰减量。

3测试标准的描述3.1MIL-STD-285近年来,MIL-STD-285不但在工业界广为应用,而且迄今为止应用最为广泛。

MIL-STD-285规定的测试程序在屏蔽室规范上经常被引用,但其频率需根据用户要求进行调整。

MIL-STD-285是第一个颁布的用于测试射频屏蔽小室标准,它颁布于1956年6月,用于替代颁布于1954年8月的MIL-A-18123(SHIPS)。

MIL-STD-285标准的主要目的是为了建立一种标准或者方法,用于测NSA65-6可能是关于评价射频屏蔽室的最重要的标准,它发布于1964年10月。

NSA65-6也包括屏蔽室的装配、设计目标、屏蔽室的可靠性和电子滤波器要求等规范,并附加了对屏蔽性能的规定。

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推荐配置
DSA800/1000 频谱分析仪 DSG3000 射频信号源 射频功放(可选) 天线: 低频:环天线 谐振:双锥天线 高频300MHz-1GHz: 发射:半波长偶极子天线 接收:八分之一波长偶极子天线 高频1GHz-18GHz: 喇叭天线
典型测试案例-IC芯片封装(集成电路天线测量法)
• ASTM-ES-7双屏蔽盒测试法(近场) • ASTM-ES-7同轴传输线测试法(远场) • 改进的MIL-STD-285测试法(近场)
法兰同轴测试法(频谱分析仪+射频信号源)
频率范围:30MHz~1.5GHz 试样厚度:小于等于10mm 可测试电磁屏蔽材料对平面波的屏蔽效能
参考试样 负载试样
屏蔽效能 典型测试结果
标准法规
SJ 20524:1995 材料屏蔽效能的测量方法 GJB 6190:2008 电磁屏蔽材料屏蔽效能测量方法 GB/T 25471:2010 电磁屏蔽涂料的屏蔽效能测量方法 GB/T 12190:2006 电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法 GJB 6785-2009 军用电子设备方舱屏蔽效能测试方法 GJB 3039:1997 舰船屏蔽舱室要求和屏蔽效能测试方法 IEEE Std 299:2006 IEEE standard method for measuring the effectiveness of electromagnetic shielding enclosures. ASTM D4935:2010 Standard Test Method for Measuring the Electromagnetic Shielding Effectiveness of Planar Materials. IEEE Std 1302:2008 IEEE Guide for the Electromagnetic Characterization of Conductive Gaskets in the Frequency Range of DC to 18 GHz. MIL-DTL-83528C:2001 Gasketing Material,Conductive,Shielding Gasket, Electronic,Elastomer,EMI/RFI. SAE ARP 1173:2004 Test procedure to measure the RF shielding characteristics pf EMI gaskets. SAE ARP 1705A:2006 Coaxial test procedure to measure the RF shielding characteristics of EMI gasket materials. DESC 92017 DEF STAN 59-103
屏蔽效果分类
SE(dB) 屏蔽效果 0 无 0-10 差 10-30 较差 30-60 中等 60-90 良好 >90 优
应用领域Байду номын сангаас
电磁屏蔽材料
屏蔽材料 吸波材料 电磁屏蔽漆 柔性屏蔽织物(电磁屏蔽防护服、屏蔽帐篷、屏蔽幕帘、屏蔽炮衣) 特种电磁屏蔽混凝土 IC芯片封装 ……
典型测试案例-防电磁辐射服装
法兰同轴测试法(频谱分析仪+跟踪源)
频率范围:30MHz~1.5GHz 试样厚度:小于等于10mm 可测试电磁屏蔽材料对平面波的屏蔽效能
参考试样 负载试样
法兰同轴测试法-试样制备
法兰同轴测试法-推荐配置
项目 1 Rigol 2 DSG3000 DR-S01+测试支架 方案一 3 北京鼎容实创 DR-S02 4 5 1 Rigol Rigol Rigol RF Attenuator Kit CB-NM-NM-75-L-12G DSA800+TG 或DSA1000+TG DR-S01+测试支架 方案二 法兰同轴屏蔽效能测试仪 10dB衰减器*2 射频连接电缆*2 频谱分析仪,带跟踪源 法兰同轴屏蔽效能测试装置 6dB亦可 N公头-N公头 射频信号源 法兰同轴屏蔽效能测试装置 二选一 制造商 型号 DSA800/DSA1000 频谱分析仪 设备名称 备注
2
北京鼎容实创
DR-S02 法兰同轴屏蔽效能测试仪 10dB衰减器*2 射频连接电缆*2
二选一
3 4
Rigol Rigol
RF Attenuator Kit CB-NM-NM-75-L-12G
6dB亦可 N公头-N公头
屏蔽室窗口测试法
屏蔽暗箱窗口测试法
双TEM室测试法
快沿电磁脉冲 时域测试(法兰同轴测试法)
屏蔽效能 测试方法
屏蔽材料(频域)
法兰同轴测试法
•频谱分析仪+射频信号源 •频谱分析仪+跟踪源 •网络分析仪
屏蔽材料(时域)
快沿电磁脉冲
•法兰同轴测试法 •GTEM小室测试法
屏蔽室
低频段
谐振频段 高频段
• F<1GHz • F>1GHz
屏蔽室窗口测试法 屏蔽暗箱窗口测试法 双TEM室测试法 其他测试方法
电磁屏蔽室
全电波暗室、半电波暗室、EMC屏蔽室、混响室 医疗成像和治疗设施(磁共振成像MRI/医用X射线摄影/计算机断层扫描CT) 屏蔽箱、电波暗箱、TEM/GTEM小室 军用方舱(军车、舰船屏蔽舱室) 电磁屏蔽机柜、屏蔽操作台 ……
应用领域
应用领域
什么是屏蔽效能(Shielding Effectiveness)?
参考试样 负载试样
快沿电磁脉冲 时域测试(GTEM小室测试法)
ASTM-ES-7双屏蔽盒测试法(近场)
ASTM-ES-7同轴传输线测试法(远场)
改进的MIL-STD-285测试法(近场)
屏蔽室屏蔽效能 测试频率
测试频率表

低频段测量(9kHz-20MHz) 谐振频段测量(20MHz-300MHz) 高频段测量(300MHz-1GHz) 高频段测量(1GHz-18GHz)
屏蔽室屏蔽效能 测试频率
测试频率应该参考国家或军队无线电管理机构提供的频率列表
建议从供工业、科学和医疗设备(ISM)使用的频率或推荐频率表选择
屏蔽室 低频段测量(9kHz-20MHz)
屏蔽室 谐振频段测量(20MHz-300MHz)
屏蔽室 高频段测量(300MHz-1GHz)
屏蔽室 高频段测量(1GHz-18GHz)
定义:在同一激励电平下,有屏蔽材料与无屏蔽材料时所接收到的功率 或电压之比,并以对数表示。 SE = 20lg(V0/V1) = 10lg(P0/P1 ) 式中,SE—屏蔽效能,dB; V0—无屏蔽材料时的接收电压; V1—有屏蔽材料时的接收电压; P0—无屏蔽材料时的接收功率; P1—有屏蔽材料时的接收功率。
RIGOL 屏蔽效能测试方案
Testing Solutions of Shielding Effectiveness
背景
电磁辐射:一种新的污染
电子设备对外辐射 电子设备受外界电磁干扰 对人体电磁辐射的危害 电磁信息泄漏:危害国家政治、军事及经济信息安全 ……
屏蔽机理
反射效应 吸收效应
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