射频屏蔽室屏蔽效能的测试技术
屏蔽效能实验的实验原理
屏蔽效能实验的实验原理屏蔽效能实验是一种广泛用于研究电磁波屏蔽性能的实验方法。
其基本原理是将待测试的电子设备（被称为“发射端”）和试验用的电磁波接收系统（被称为“接收端”）分别放置于屏蔽室内，然后分别测量发射端和接收端的电磁波信号强度，在不同的频率下进行比较，以此评估屏蔽效能。
本文将介绍屏蔽效能实验的详细步骤和注意事项，以及如何解释实验结果。
一、实验步骤1、选择实验设备：首先需要选择待测试的电子设备和电磁波接收系统。
建议在实验开始前对设备进行充分的调试和漏洞修复，确保实验的稳定性和准确性。
2、设置实验条件：将待测试的电子设备放置于一个特制的屏蔽机箱内，保证在测量期间完全隔离环境中的干扰源。
同时将电磁波接收系统放置于另一个屏蔽机箱内，以确保只有要测试的信号能够被接收到。
3、准备实验设备：在测试前需要将所有的设备进行标定和测试，并确保发射端和接收端的信号源频率相同。
4、开始测量：开始测试前，需要确定测试频率、测试距离以及输入功率等参数。
在测量过程中，需要记录下发射端和接收端的信号强度，并计算出屏蔽效率。
5、分析实验结果：根据实验数据，可以绘制出屏蔽效率与频率的关系曲线。
通过分析曲线可以了解到电磁波在测试条件下的传输特性和屏蔽效能的优劣。
二、注意事项1、实验室环境：要求实验室内干燥、温度稳定，避免杂波和电磁干扰因素的干扰。
2、测试距离：测试距离与测试结果的准确性直接相关，太近会忽略屏蔽效应，而太远则会有其他因素影响结果。
3、添加加噪声：如果需要更准确的测试结果，则可以添加一定程度的加噪声来模拟现实环境中的实际情况，提高实验结果的可信度。
三、结果分析1、屏蔽效率：最终结果以屏蔽效率值作为评价指标，屏蔽效率值越高，表示该屏蔽室的屏蔽效能越好。
2、频率谱分析：通过频率谱分析可以了解到不同频段屏蔽效能的表现，对于研究电磁波屏蔽特性具有指导意义。
结论：在实际生产中，电子设备的屏蔽性能是非常重要的。
屏蔽效能实验是评估电子设备屏蔽效能的标准方法。
电磁屏蔽室屏蔽效能质量控制检测操作细则 (2)
电磁屏蔽室屏蔽效能质量控制检测操作细则为规范实施电磁屏蔽室屏蔽效能质量控制检测，参照国标《电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法》（GB /T 12190-2006），结合我单位检测设备，制定《电磁屏蔽室屏蔽效能质量控制检测操作细则》。
1.目的规定各边尺寸不小于2.0m的电磁屏蔽室屏蔽效能的测量和计算方法。
2.范围测试频率范围为9kHz~18GHz。
根据需要，频率向两端可以扩展到50Hz和100GHz。
3.测量位置1）测量设备布置位置如图所示。
发射环与接收环离屏蔽室的距离均为0.3m，两者应共面并垂直于屏蔽墙、天花板或其他待测平面。
在每一个频点和测试位置,信号源的输出值为5.6.4中测量参考场在没有屏蔽室时，将接收环天线与发射环天线相距；0.6m与屏蔽室壁厚度之和，并且使两个环天线处于同一平面。
2）在测试过程中,通常使发射环天线固定不动，而将接收环天线升高或降低(至少在共平面上移动接.缝总长的1/4)，以保证测得最坏的情况。
应使用检测仪器的最大读数来确定屏蔽效能。
在寻找最坏的情况时允许发射环和接收环近似共面，但最终测量时应保证两者共面。
3）对单扇门，应在图2 a)和图2 b)所示的14个位置上进行小环测试。
环面应垂直于门缝。
对于水平门缝，要求环位于拐角和门缝的中间;对垂直门缝,要求环分别位于拐角、距门顶部和门底部的1/3处。
垂直接缝的上端和下端应按图2b)进行测试。
4）对多扇门，上述的测试位置分别应用于每扇门，见图2b)和图2c)。
5）对尺寸超过1.5mX2.5m的门，应再增加一些测试位置以保证两个测量点问距不超过1m.6）采用板材构件的屏蔽室,其接缝区域的电性能是不均匀的。
不连续区域是指用铆接、螺接、钎焊或熔焊连接的部位。
不连续处的测试方法与门的测试方法基本相同，只是这时不论水平还是垂直接缝，环的中心都应位于每一接缝的中点（见图2d）。
7 7）通风孔，接口板或连接器板的屏蔽性能测试与接缝的测试方法相似。
核磁共振屏蔽室设计性能指标说明
核磁共振屏蔽室设计性能指标说明性能指标：屏蔽效能：10MHz~100MHz≥100dB测试方法按国标GB12190-90绝缘阻抗：＞1KΩ~10KΩ接地电阻：＜4Ω湿度：≤80%压：86~106Kpa照度：100-150L某应用领域：MRI型屏蔽室适用于永磁和超导核磁共振设备的射频屏蔽、核磁共振扫描成像仪(MRI)，防止外界电磁场干扰MRI正常工作以及和MRI产生的磁场泄漏至外场干扰其它设备正常工作的场所。
根据用户需要，可设计磁场屏蔽和射频屏蔽双重功能的屏蔽室。
1.被屏蔽物与屏蔽体内壁应留有一定间隙，防止磁短路现象发生；2.应使屏蔽体的接缝与孔洞的长边平行于磁场分布的方向，圆孔的排列方向要使磁路增加量最小，目的是尽可能不阻断磁通的通过；从磁屏蔽的机理而言，屏蔽体不需接地，但为了防止电场感应，一般还是要接地。
环境要求：1.MR磁体的强磁场与周围环境中的大型移动金属物体可产生相互影响，通常离磁体中心点一定距离内不得有电梯、汽车等大型运动金属物体，具体限制参见如下。
2.震动会影响MR的图像质量，对MR场地的震动要求为：制造工艺：1、结构：MRI型屏蔽室设计有拼装式和焊接式两种结构。
2、焊接工艺：0.5mm紫铜板作射频屏蔽层，焊接采用氩弧焊或铜焊，高导磁率钢板作磁屏蔽层3、龙骨架支撑采用铝合金，并与墙体间作绝缘处理。
手动锁紧屏蔽门屏蔽门，可拆卸式铍青传指型铜簧片。
4、高性能屏蔽观察窗双层铜网经特殊工艺制作，透光率好。
5、其它：电源滤波器、信号转接板，空气供应及通风系统的屏蔽接口处理、同轴连接器、光纤转接盒、医疗气体波导接口、气体灭火截止波导管、心电监护系统接口或其它医疗设备接口以及室内照明等。
屏蔽效能测试方案
屏蔽室屏蔽效能 测试频率
测试频率应该参考国家或军队无线电管理机构提供的频率列表
建议从供工业、科学和医疗设备（ISM）使用的频率或推荐频率表选择
屏蔽室 低频段测量（9kHz-20MHz）
屏蔽室 谐振频段测量（20MHz-300MHz）
屏蔽室 高频段测量（300MHz-1GHz）
屏蔽室 高频段测量（1GHz-18GHz）
DSA800+TG 或DSA1000+TG
方案二 2
DR-S01+测试支架 北京鼎容实创
DR-S02
3
Rigol
RF Attenuator Kit
4
Rigol
CB-NM-NM-75-L-12G
设备名称 频谱分析仪 射频信号源 法兰同轴屏蔽效能测试装置 法兰同轴屏蔽效能测试仪 10dB衰减器*2 射频连接电缆*2
应用领域
应用领域
什么是屏蔽效能(Shielding Effectiveness)？
定义：在同一激励电平下，有屏蔽材料与无屏蔽材料时所接收到的功率 或电压之比，并以对数表示。
SE = 20lg（V0/V1） = 10lg（P0/P1 ）
式中，SE—屏蔽效能，dB； V0—无屏蔽材料时的接收电压； V1—有屏蔽材料时的接收电压； P0—无屏蔽材料时的接收功率； P1—有屏蔽材料时的接收功率。
屏蔽效能 典型测试结果
标准法规
SJ 20524:1995 材料屏蔽效能的测量方法 GJB 6190:2008 电磁屏蔽材料屏蔽效能测量方法 GB/T 25471:2010 电磁屏蔽涂料的屏蔽效能测量方法 GB/T 12190:2006 电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法 GJB 6785-2009 军用电子设备方舱屏蔽效能测试方法 GJB 3039:1997 舰船屏蔽舱室要求和屏蔽效能测试方法 IEEE Std 299:2006 IEEE standard method for measuring the effectiveness of electromagnetic shielding enclosures. ASTM D4935:2010 Standard Test Method for Measuring the Electromagnetic Shielding Effectiveness of Planar Materials. IEEE Std 1302:2008 IEEE Guide for the Electromagnetic Characterization of Conductive Gaskets in the Frequency Range of DC to 18 GHz. MIL-DTL-83528C:2001 Gasketing Material，Conductive，Shielding Gasket， Electronic，Elastomer，EMI/RFI. SAE ARP 1173：2004 Test procedure to measure the RF shielding characteristics pf EMI gaskets. SAE ARP 1705A:2006 Coaxial test procedure to measure the RF shielding characteristics of EMI gasket materials. DESC 92017 DEF STAN 59-103
实验指导书1-屏蔽部件的屏蔽效能测试实验指导书
屏蔽部件的屏蔽效能测试实验指导书一、实验目的理解屏蔽的分类，加强对屏蔽效能概念理解，掌握屏蔽效能测试原理及方法。
二、实验原理屏蔽效能是同一地点无屏蔽存在时的电磁场强度与加屏蔽体后的电磁场强度之比。
（一）屏蔽效能计算方法后前P PSE lg 10=()12SE A A dB =－其中：SE 为屏蔽效能，P 前和A 1为自由空间校准接收功率值，P 后和A 2为屏蔽后接收到的接收功率值。
测量原理图如图1所示。
图1屏蔽效能测试原理图 （二）屏效测试使用天线测试频段 频率范围 标准测试天线 低频段100Hz~30MHz环形天线三、实验仪器1.电磁屏蔽室（含屏效测试窗口）2信号源SP1642B，信号源MG3694A；3.测试天线组：KSTM-1013环形天线，KSTM-2213对称振子天线，KSTH-0508微波喇叭天线（各一对）；4. 安捷伦N9020A微波频谱分析仪；5.测试电缆1#、2#、3#及附件；6.被试屏蔽材料样件。
四、实验内容及步骤实验内容：（一）磁场屏效测试（1）测试频点：250 kHz 、1MHz、30MHz（4）加屏蔽体后的测试。
（二）电场屏效测试（1）测试频点：300MHz、1GHz 。
（3）自由空间测试。
（4）加屏蔽体后的测试。
（三）平面波屏效测试（1）测试频点：4GHz、6GHz 。
（4）加屏蔽体后的测试。
测试具体步骤（以磁场频效测试为例）：1．按原理图连接测试系统，经检查系统连接正常后，将信号发生器的电源插头插入220V电源，按下“电源”开关，将信号源预热30分钟；2．自由空间测试，将信号源输出频率依次调为实验内容中的测试频点，输出功率为+20dBm；在每个频率点下，在频谱仪中读出接收到的相应频率点处的功率电平幅度dBm值记为A1；3．加屏蔽体后的测试，保持信号源输出功率不变，通过频谱仪读出有屏蔽时接收到的相应频率点处的功率电平dBm值记为A2；注：应保证受试屏蔽样件与屏蔽室测试窗口安装法兰的电连续，尤其注意安装螺栓的均匀紧固，减小安装孔缝对测试结果的影响。
测试用射频屏蔽箱校准规范JJF(通信)048-2020
目录引言 (II)1范围 (1)2引用文件 (1)3术语和计量单位 (1)4概述 (1)5计量特性 (2)5.1频率范围 (2)5.2屏蔽效能 (2)5.3输入输出端口电压驻波比 (2)6校准条件 (2)6.1环境条件 (2)6.2标准及其它设备 (2)7校准项目和校准方法 (3)7.1外观及工作正常性检查 (3)7.2屏蔽效能 (3)7.3射频输入输出端口电压驻波比 (7)8校准结果 (8)9复校时间间隔 (8)附录A校准记录格式 (9)附录B校准证书内页格式 (10)附录C校准结果不确定度评定示例 (11)引言本规范依据国家计量技术规范JJF1071-2010《国家计量校准规范编写规则》、JJF1001-2010《通用计量术语及定义》、JJF1059.1-2012《测量不确定度评定与表示》编制。
本规范为首次制定。
测试用射频屏蔽箱校准规范1范围本规范规定了各边边长尺寸不大于2.0m的测试用射频屏蔽箱的校准项目、条件及结果处理，适用于射频屏蔽箱的校准。
2引用文件2.1GB/T12190-2006电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法2.2GJB8810-2015小屏蔽体屏蔽效能测量方法2.3ETR273-1-1Electromagnetic compatibility and Radio spectrum Matters(ERM); Improvement of radiated methods of measurement(using test sites)and evaluation of the corresponding measurement uncertainties;Part1:Uncertainties in the measurement of mobile radio equipment characteristics;Sub-part1:Introduction凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规范；凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本规范。
材料屏蔽效能的测量方法
材料屏蔽效能的测量方法材料的屏蔽效能是指材料对外部电磁波或辐射的吸收和阻挡能力。
测量材料的屏蔽效能可以帮助人们了解和评估不同材料在防护电磁波和辐射方面的能力。
下面将介绍几种常用的材料屏蔽效能测量方法。
1.透射法测量透射法是一种常见的测量材料屏蔽效能的方法。
该方法通过分别测量原始电磁波或辐射源的电磁波强度和透过材料后的电磁波强度，计算出材料的透射系数，从而评估材料的屏蔽效能。
透射法的测量步骤一般包括：确定透射样品的尺寸和准备样品；将电磁波或辐射源放置在样品的一侧，测量源侧和接收侧的电磁波或辐射强度，计算透射系数。
2.散射法测量散射法是一种基于材料散射电磁波的测量方法。
该方法通过测量散射波的方向、强度和能谱，来评估材料的屏蔽效能。
散射法的测量步骤一般包括：将电磁波或辐射源照射到待测材料上，测量材料表面和散射波方向上的电磁波或辐射强度，计算材料的散射系数和散射横截面。
3.反射法测量反射法是一种通过测量待测材料对电磁波或辐射的反射来评估材料屏蔽效能的方法。
该方法一般包括：将电磁波或辐射源照射到材料上，测量材料的反射波方向、强度和能谱，并计算材料的反射系数和反射横截面。
4.射频测试方法射频测试方法主要用于测量材料对射频电磁波的屏蔽效能。
该方法通过将待测材料置于封闭的射频测试室内，测量材料表面和室内的电磁场强度和频谱，进而计算材料的屏蔽效能。
在射频测试中，常用的测量设备包括功率计、频谱分析仪等。
5.辐射损耗测试方法辐射损耗测试方法主要用于测量材料对高能辐射的屏蔽效能。
该方法通过将待测材料置于辐射源附近，测量源侧和样品侧的辐射能量，计算材料的辐射损耗。
总的来说，材料屏蔽效能的测量方法多种多样，具体选择哪种方法要根据待测材料的特性和需要测量的参数来决定。
以上介绍的测量方法只是其中的一部分，随着科技的不断发展，可能还会出现更加先进和精确的测量方法。
屏蔽机房的屏蔽效能及其测试方法
屏蔽机房的屏蔽效能及其测试方法屏蔽机房的屏蔽效能通常定义为：对于给定外干扰源进行屏蔽时，在屏蔽室某一点上进行干扰前后的电场强度或磁场强度之比。
我国目前各类高性能屏蔽室的屏蔽效能测量方法均采用MIL-STD-285和LEEE-299-1969标准。
在屏蔽效能测量时应注意的问题：
☆接收场强仪要有足够高的灵敏度和频率响应，目前国内能提供的场强仪特别在超高频和微波段灵敏度较差，以致于不能正常接收微弱信号。
☆微波频段的信号源要有足够的发射功率，喇叭天线要有很高的发射效率。
☆低频段磁环天线应严格遵守制作标准。
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射频屏蔽室屏蔽效能的测试技术１前言这些年来，发表了很多关于射频屏蔽室和屏蔽小室的文章。
这些文章涉及到屏蔽室的购买、结构设计和安装，以及有关的接地和电气问题。
虽然这些文章提供了许多信息，但没有一篇文章说清了屏蔽室和屏蔽小室的屏蔽效能测试问题。
本文解释和描述了工业上所采用的屏蔽室屏蔽效能的测试过程。
２屏蔽效能测试屏蔽室或屏蔽小室的屏蔽效能测试或性能测试是安装的最后阶段，这也可能是最重要的阶段。
不幸的是，测试过程被认为是麻烦的或在某种程度上被认为是不可思仪的。
事实上，屏蔽效能测试很简单，并与ＭＩＬ－ＳＴＤ－２２０也就是插入损耗测试标准是一致的。
主要的区别在于测试所用的设备不同。
屏蔽效能测试基本上等同于电子测试设备的校准。
与测试设备一样，当屏蔽小室的屏蔽效能降低时就需要对其进行校准。
当校准屏蔽小室或测定屏蔽小室的屏蔽效能时，要使用辐射测试技术。
所幸的是美国军方和安全部门已建立了相应的标准。
这些标准描述了特定频率和测试场地条件下的测试方法、设备和测试过程。
这些测试过程经过微小的调整，就能应用于任何屏蔽小室的安装，并满足用户要求。
测试屏蔽效能最经常用到的两个测试标准或测试程序是ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５和ＮＳＡ６５－６。
这些文件描述了对设备配置和测试场地的要求。
每个程序中也规定了测试频率和衰减量。
３测试标准的描述３.１ＭＩL－ＳＴＤ－２８５近年来，ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５不但在工业界广为应用，而且迄今为止应用最为广泛。
ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５规定的测试程序在屏蔽室规范上经常被引用，但其频率需根据用户要求进行调整。
ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５是第一个颁布的用于测试射频屏蔽小室标准，它颁布于１９５６年６月，用于替代颁布于１９５４年８月的ＭＩＬ－Ａ－１８１２３（ＳＨＩＰＳ）。
ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５标准的主要目的是为了建立一种标准或者方法，用于测ＮＳＡ６５－６可能是关于评价射频屏蔽室的最重要的标准，它发布于１９６４年１０月。
ＮＳＡ６５－６也包括屏蔽室的装配、设计目标、屏蔽室的可靠性和电子滤波器要求等规范，并附加了对屏蔽性能的规定。
虽然ＮＳＡ６５－６没有打算替代ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５，但其已经成了一个标准。
ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５中建议的测试频率为１５０ＫＨｚ到４００ＭＨｚ（建议到１０ＧＨｚ），而ＮＳＡ６５－６规定的测试频率范围为１ＫＨｚ到１０ＧＨｚ。
和ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５一样，ＮＳＡ６５－６也含有一个包括频率点和场的分类表格（参见表１）。
与ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５相比，ＮＳＡ６５－６不但增加了大量被测频率点，而且明确规定了测试点的位置。
ＮＳＡ６５－６也指定了测试区域如门框（或周围）、接缝、滤波器和通风管。
它也规定至少需要在四个不同位置移动天线来确定屏蔽室泄漏的最大信号。
４测试大纲先不考虑具体采用哪个测试标准或程序，为了让最终用户充分了解测试过程，需要制订测试大纲。
测试大纲也能保证用户的要求得到满足。
如果内部需要涂覆，用户可以有两种选择。
频率和衰减量也可以调整。
除了在频率点的数目和测试点位置上有所不同，ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５和ＮＳＡ６５－６之间的一个主要区别是在测试过程中磁场天线的方向。
ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５规定，环状天线应垂直放置在屏蔽表面（平面的），而ＮＳＡ６５－６要求环状天线平行地（同轴的）放在屏蔽场的表面。
为了帮助理解测试过程，下面给出一个常规的测试大纲。
５测试程序５.１屏蔽性能要求衰减或屏蔽效能是屏蔽室的性能标准。
屏蔽效能由屏蔽体导致的电磁衰减量来定义。
电场屏蔽效能的定义为：ＳＥｄＢ＝２０log10Eb/Ea式中Ｅｂ是没有屏蔽的电场强度，而Ｅａ是加屏蔽后的电场强度。
磁场屏蔽效能定义为：ＳＥｄＢ＝２０log10Hb/Ha式中Ｈｂ是没有屏蔽的磁场强度，而Ｈａ是加屏蔽后的磁场强度。
５.２磁场和电场在进行磁场和电场屏蔽效能测试之前，需要确立参考电平和动态范围。
为了确立参考电平和动态范围，发射天线（测量磁场用可调的环状天线,测量电场用可调的棒状天线）应放在屏蔽室的外面,以确保接收机或频谱分析仪的外壳没有泄漏.天线相距２４英寸远,外加屏蔽介质约１英寸厚，总共相距２５英寸（参见图１）。
在确立参考电平和动态范围过程中天线应保持同轴。
图１测量参考电平和动态范围的测试装置接收信号电平值记录在屏蔽效能测试结果表（参见图２）的“参考电平”栏内。
参考电平值是由任何外部衰减和在频谱仪（或接收机）上显示的接收信号电平共同决定的。
屏蔽效能测试结果工作序号：工程：位置：合格测试验收测试其它场中心频率测试位置参考电平(dBm)接收机灵敏度(dBm)动态范围(dBm)接收机电平(dBm)衰减(屏蔽效能)(dB)指标(dB)H=磁场E=电场P=平面波MW=微波证明人：测试人员：日期：日期：图2 样品屏蔽效能测试结果表在确定和记录参考电平之后，接收机的灵敏度／噪声基准就确定了。
这可以通过把接收机天线放置在屏蔽室的内部并移去任何固定的衰减器和任何频谱仪／接收机内部的衰减器来完成。
如果接收信号要求前置放大，那么在测量中要保留前置放大器。
接收机灵敏度电平（以ｄＢ为单位）记录在测试结果表（参见图２）的“接收机灵敏度”栏内。
在这个测试过程中，发射机或源是关闭的。
此时，已经能确立系统或测量的动态范围。
动态范围就是参考电平值和接收机灵敏度值之间的数值之差。
在确立和记录参考电平、接收机灵敏度和动态范围的同时，将接收天线放在屏蔽室内事先确定的测试点处。
天线与屏蔽表面（面板）之间的距离是１２英寸，其方向与参考电平确立时保持一致。
发射天线放在屏蔽室外面相同的测试点，距屏蔽表面（面板）１２英寸处并与接收天线保持同样的方向（参见图３）。
在确立参考电平时使用的任何固定衰减器要从接收或发射线路上移出，并关上屏蔽室门。
在这个位置点的接收信号电平记录在测试结果表的“接收机电平”栏里。
参考电平与接收机电平之间的数值之差就是该位置点的衰减或屏蔽效能。
这个值记录在测试结果表的“衰减（屏蔽效能）"栏内。
发射和接收天线放置在其它的任何测试点位置，要记录接收信号电平。
在所有位置点测试完成后，为了保证源的增益或接收机灵敏度不发生变化，需要建立第二参考电平。
在某频率点上记录的最低值即为该频率点的衰减或屏蔽效能。
５.３平面波表１给出了平面波测量的测试频率点。
平面波的测试过程与磁场、电场的测试相同。
在进行屏蔽效能测试之前，先要确立参考电平和动态范围。
为了确立参考电平和动态范围，发射（偶极子或对数周期）天线和接收（偶极子或对数周期）天线放置在屏蔽室的外面，以确保接收机或频谱仪机壳没有泄漏。
天线相距７４英寸，加上屏蔽介质大约１英寸厚，总共相距７５英寸（参见图４）。
在参考电平和动态范围确立过程中，天线采用两种极化方向（水平或者垂直极化）。
图3 在事先确定的测试点放置的接收天线图4 平面波测量用测试装置接收信号电平值记录在屏蔽效能测试结果表中（参见图２）。
参考电平值由任何外部衰减和显示在频谱仪（或接收机）上的接收信号电平共同决定。
随着参考电平的确立和记录，接收机的灵敏度／噪声基准就被确定了。
这可以通过把接收天线放置于屏蔽室的内部并移去任何固定的衰减器和任何频谱仪／接收机内部的衰减器来完成。
如果接收信号要求前置放大，那么在测量中要使用前置放大器。
接收机灵敏度的电平（以ｄＢｍ为单位）记录在测试结果表（参见图２）的“接收机灵敏度”栏内。
在这个测试过程中，发射机或源是关闭的。
此时，已经确立了系统或测量的动态范围。
动态范围是参考电平值和接收机灵敏度值之间的数值之差。
在确立和记录参考电平、接收机灵敏度和动态范围的同时，接收天线放在屏蔽室事先确定的测试点处。
天线与屏蔽表面（面板）之间距离至少２英寸，方向与参考电平确立时保持一致。
发射天线放在屏蔽室外面相同的测试点，距离屏蔽表面（面板）７２英寸处并和接收天线保持同样的方向（参见图５）。
在确立参考电平时使用的固定衰减器要从接收或发射器线路上移去，并关上屏蔽室门。
图5 平面波屏蔽性能的测试装置在这个位置点的接收信号电平记录在测试结果表的“接收机电平”栏里。
参考电平与接收机电平之间的数值之差就是测试点的衰减或屏蔽效能。
这个值记录在测试结果表的“衰减（屏蔽效能）”栏内。
发射和接收天线可放置在任何测试点，接收的信号电平要记录。
在所有位置点完成测试后，为了保证源的增益或接收机灵敏度不发生变化，需要建立第二参考电平。
５.４测试点位置测试点位置包括以下一些区域：ａ.门的边框；ｂ.波导管穿透孔；ｃ.波导ＨＶＡＣ通风口（全扫描）；ｄ.电子和通信滤波器区域（全扫描）；ｅ.墙缝（缝的数量取决于屏蔽室的尺寸和在该位置点测试是否可行）。
至少要在门的六个位置点进行测试；如果屏蔽层的两个方向都可以进行测试，那么每面墙至少要测试一个缝隙。
实际测试点的位置到测试时确定。
６结论无论使用哪种测试标准和程序，制定测试大纲并实施是很重要的。
制定测试大纲后，实际测试要定期进行。
当重新校准屏蔽室时，如果只有轻微调整，还可使用同样的或原有的测试大纲。