FFS(边缘场切换)广视角技术
几种宽视角技术(广视角技术)-网上搜集

一、几种宽视角技术(广视角技术)LCD的宽视角技术通常有以下几种:1)TN+Film (TFT-Twisted Nematic +Film ,普通TN+视角扩大膜)2)IPS (In-Plane-Sweitching ,板内切换)3)VA (Vertical Alignment,垂直排列)4)FFS(Fringe-Field Switching ,边缘场切换),属IPS系。
AFFS+( Advanced FFS +),HFFS(High aperture FFS)技術。
5)CPA (Continuous Pinwheel Alignment,连续焰火状排列。
就是常被称为ASV的技术),属V A系。
一般来说,LCD的宽视角技术分为两大类,一类是TN模式+WV Film,另一类就是各种宽视角模式技术。
而宽视角模式里面主要有两大系,即IPS系和VA系。
因FFS(属IPS 系)和CPA(属V A系)技术目前应用比较多而且技术相对先进,所以上面特意列出来了。
1)TN+WV Film这个是最早期的宽视角技术。
因LCD是靠液晶分子旋转控制光线的,造成先天性视角狭小的缺点,尤其是在大尺寸屏幕上,视角狭小的问题随之显著。
早期,最简单的方法就是在普通TN上贴广视角膜,但由于这种膜材是由富士通独家提供,成本相对较高。
另外,即使加了宽视角的膜,视角也有限,而且色彩还原能力欠佳,侧面一定角度观看时失真明显。
因此,各大LCD厂商研发了新的材料和工艺,改善LCD显示,提高可视角度。
优点:技术成熟,良率高;液晶分子偏转容易提高,响应速度快。
缺点:对比度提高不容易,色彩单薄,视角有限。
主要厂商:TMD,CMO,AUO,BOE-HYDIS,Tianma 等。
2)IPS(In-Plane-Sweitching)& FFS(Fringe-Field Switching)IPS是由Hitachi最先开发出来的技术。
IPS与使用TN+Film技术不同的地方是液晶分子的方向平行于基板,而且是在平行于玻璃基板的平面旋转(如图1)。
莨菪烷基添加剂对FFS模式中残像的影响

第36卷㊀第4期2021年4月㊀㊀㊀㊀㊀㊀㊀液晶与显示㊀㊀㊀C h i n e s e J o u r n a l o fL i q u i dC r y s t a l s a n dD i s p l a ys ㊀㊀㊀㊀㊀V o l .36㊀N o .4㊀A pr .2021㊀㊀收稿日期:2020G09G24;修订日期:2020G12G01.㊀㊀∗通信联系人,E Gm a i l :y .h u @jn c Gs z .c o m.c n 文章编号:1007G2780(2021)04G0504G05莨菪烷基添加剂对F F S 模式中残像的影响胡叶廷1∗,周雷勇1,李晓娜1,远藤浩史2,森崇德2(1.捷恩智液晶材料有限公司,江苏苏州215011;2.J N C 石油化学株式会社,日本千叶市原290G8551)摘要:残像的存在严重影响液晶显示器的画面品质.但由于其发生的机理较复杂,目前还没有较好的解决方案.本文以负性液晶材料为基础,在其中加入新型莨菪烷基添加剂,研究其在F F S 模式中对残像的影响.通过闪烁漂移㊁D C 残留电压释放以及棋盘格残像测试,系统分析并讨论了添加剂的使用对负性液晶残像的影响.研究结果表明,加入添加剂后,样品的闪烁漂移得到改善;残留D C 偏置积聚量减小30%且释放速度提升了95%;V c o m 漂移由0.7V 改善至0.02V ,V c o m 亮度变化由8c d /m 2降低至2c d /m 2;线残像由L 3改善至L 1.本研究对从液晶材料方面改善残像具有一定的指导意义.关㊀键㊀词:边缘场切换广角技术;残像;负性液晶;莨菪烷基添加剂中图分类号:T N 141㊀㊀文献标识码:A㊀㊀d o i :10.37188/C J L C D.2020G0254I n f l u e n c e o f t r o pa n eb a s e d a d d i t i v e s o n t h e i m a g e s t ic k i n g fo rF F Sm o d e l HU Y e Gt i n g 1∗,Z HO U L e i Gy o n g 1,L IX i a o Gn a 1,E N D O H i r o s h i 2,MO R IT a k a n o r i 2(1.J N CL i q u i dC r ys t a lM a t e r i a l sS u z h o uC o .,L t d .,S u z h o u 215001,C h i n a ;2.J N CP e t r o c h e m i c a l sC o .,L t d .,I c h i h a r a 290G8551,J a pa n )Ab s t r ac t :T h e e x i s t e n c e o f t h e i m a g e s t i c k i n g s e r i o u s l y a f f e c t s t h e q u a l i t y o f t h e l i q u id c r y s t a l d i s p l a y,a n d t h e r e a r en o g o o ds o l u t i o n sb e c a u s eo f i t sc o m p l e x m e c h a n i s m a t p r e s e n t .I nt h i s p a pe r ,an e w t y p e of t r o p a n eb a s e da d d i t i v ew a sa d d e dt ot h en eg a t i v e l i q u i dc r y s t a l t os t u d y i t se f f e c to ni m a g e s t i c k i n g i nF F S m o d e .Th ei m a g es t i c k i n g w a ss y s t e m a t i c a l l y a n a l y z e db y F l i c k rd r i f t ,R D Cr e l e a s e a n d c h e c kb o a r d t e s t .T h e r e s u l t s s h o w e d t h a t f l i c k e r d r i f t h a d s i g n i f i c a n t i m pr o v e m e n t ;t h e a c c u m u l a Gt i o no fD C r e d u c e d b y 30%a n d t h e r a t e o f r e s i d u a l D C r e l e a s e i n c r e a s e d b y 95%;t h e V c o mv o l t a g e d r i f t d e c r e a s e d f r o m0.7Vt o0.02Va n db r i g h t n e s ss h i f tw h i c hc a u s e db y A Ci m a g es t i c k i n g i m pr o v e d f r o m8c d /m 2t o2c d /m 2;t h e l i n e i m a g es t i c k i n g i m p r o v e df r o m L 3t oL 1.T h i s s t u d y h a sac e r t a i n g u i d i n g s i g n i f i c a n c e f o r i m p r o v i n g t h e i m a g e s t i c k i n g o f l i q u i d c r y s t a lm a t e r i a l s .K e y wo r d s :f r i n g e f i e l d s w i t c h i n g ;i m a g e s t i c k i n g ;n e g a t i v e l i q u i d c r y s t a l ;t r o p a n e a d d i t i v e1㊀引㊀㊀言㊀㊀液晶显示器由于其轻薄㊁低功耗㊁高品质以及高信赖性的特点使其在显示领域中得到广泛应用[1].但随着时代的发展,人们除了对液晶显示器高性能的需求外,对其信赖性的要求也越来越严苛.残像作为影响液晶显示器信赖性的一个重要因素,它的产生会严重损害液晶显示器的画面品质.残像主要表现为液晶显示器长时间显示同一个画面,把画面切换到下一个画面时,先前的画面会残留在下一个画面中.而根据残像状态的不同,残像可分为面残像与线残像.残像的发生受很多因素影响,包括液晶㊁配向膜㊁框胶㊁生产工艺等.残像产生机理主要包含两个并存因素,一个是液晶面板中的离子型不纯物,另一个是直流偏置电压[2].目前,在液晶显示领域中,边缘场切换广角技术(F F S)模式作为一种广泛使用的显示模式,其根据用途的不同会分别使用正性或负性液晶.正性液晶具有响应速度快,信赖性好的特点,因此被车载等显示领域所青睐.而负性液晶由于其出色的透过率与对比度,更多地被应用于高品质F F S 模式液晶显示器[3].但由于负性液晶单体分子结构本身的原因,导致其含有的离子型不纯物偏多,同时在紫外光照射和高温环境下比正性液晶更易发生分解和破坏,会进一步导致其离子型不纯物增多,所以负性液晶的残像问题更容易发生且更严重[4].此外,由于F F S模式具有不对称的横向电场,容易形成横向直流偏置电压(D C偏置),进而致使F F S模式出现残像的情况尤为严重[2,5].关于残像的研究中,B O E公司在低ΔV H R 条件下,降低配向膜材料的电阻率使存储电荷释放加快,残像得到改善[6],同时还提出了降低型号线数量㊁降低信号线与公共电极线的交叠面积㊁增大信号线与公共电极的距离㊁外围电路补偿等残像改善方案[7].I V O公司研究了配向膜对液晶分子的锚定力与残像的关联[8].本公司通过电子自旋共振谱仪(E S R)与紫外G可见光谱仪(U VGV i s)研究了从配向膜中产生的游离聚酰亚胺阴离子对残像的影响[9],并有研究提出通过添加纳米颗粒材料可以吸附液晶中的杂质离子[10].本文通过在负性液晶中添加新型莨菪烷基添加剂,旨在减小液晶盒中残留D C偏置电压的累积且加速电荷的释放,以达到改善残像的目的,为负性F F S模式中残像改善提供一种新的方向.2㊀实㊀㊀验2.1㊀实验样品本实验选用的封胶材料为日本三键紫外线硬化胶,型号3052B.莨菪烷基添加剂,盒厚3.2μm 的液晶盒以及实验用量产负性液晶均为捷恩智液晶材料公司生产.液晶的相关物性参数如表1所示.表1㊀液晶参数T a b.1㊀P r o p e r t i e s o fL C m i x t u r e参数样品A样品BT n i/ħ7070Δn0.1090.109Δε-5.7-5.7K1112.812.8K3314.614.6添加剂(ˑ10-6)01002.2㊀实验设备本实验对闪烁漂移㊁残留D C与面残像测试采用色彩分析仪(日本K O N I K A M I N O L T A,型号C AG310)测定;线残像由自动控制器(美国N aGt i o n a l I n s t r u m e n t s,型号P X l eG1071)进行实验.2.3㊀闪烁漂移测试将测试用液晶盒施加L255灰阶电压30m i n,然后切换至L127灰阶电压进行闪烁测试,循环测试4次.2.4㊀D C残留电压测试在常温下对测试用液晶施加L127灰阶交流电压120s,然后在施加L127交流电压同时施加3V直流电压1h后,撤去直流电压,测试其亮度变化,测试时间为30m i n.2.5㊀面残像测试将测试用液晶盒施加L255灰阶电压30m i n,然后切换至L127灰阶电压进行亮度测试,505第4期㊀㊀㊀㊀㊀胡叶廷,等:莨菪烷基添加剂对F F S模式中残像的影响偏置电压范围设置为ʃ0.2V ,测定间隔为0.02V ,循环测试4次.2.6㊀线残像测试在室温条件下,利用4ˑ4棋盘格对面板的线残像特性进行评估.图1为面板老化画面,其中黑色方格为L 0灰阶电压下显示画面,白色方格为L 255灰阶电压下显示画面,维持该棋盘格画面96h 后,将面板驱动电压切换至L 127灰阶电压,在频率30H z 下对面板的线残像情况进行评价,其呈现的具体画面如图2所示.图1㊀4ˑ4棋盘格F i g.1㊀4ˑ4c h e c kb o a rd 图2㊀线残像示意图F i g .2㊀S c h e m a t i c d i a g r a mo f l i n e i m a g e s t i c k i n g3㊀结果与讨论3.1㊀闪烁漂移结果F F S 模式液晶显示器在驱动时,由于电极设计等因素造成实际正负帧的像素电压不完全对称,从而导致正负帧的透过率存在差异,出现闪烁现象.图3为样品A 和B 的闪烁随老化时间的增加而变化的结果.由图3可知,未添加莨菪烷基添加剂的样品A 随着老化时间增加,闪烁先逐渐增大,之后增大幅度逐渐趋缓.这是由于液晶盒内部存在的D C偏置使得液晶中的离子型不纯物图3㊀闪烁漂移曲线F i g.3㊀F l i c k e r d r i f t c u r v e s 产生积聚,进而形成残留D C 偏置,从而导致原先在V c o m (交流驱动电压的中心值)电压下对称的正负帧透过率出现差异.而加入质量分数为1ˑ10-4添加剂的样品B ,随老化时间的增加,其闪烁增大的幅度明显小于样品A .这表明添加剂的使用可以有效减小液晶盒内由驱动产生的残留D C偏置.3.2㊀D C 残留电压释放结果配向膜在D C 偏置作用下选择性地吸附液晶中的离子型不纯物,形成残留D C 偏置.通过在交流电驱动同时施加直流电可增大偏置作用,加速形成残留D C 偏置.在解除直流电后,积聚在配向膜上的离子型不纯物形成的残留D C 偏置会逐渐消失.图4㊀残留D C 释放特性F i g .4㊀P r o pe r t i e s of r e s i d u a lD Cr e l e a s e 图4是样品A 和B 中残留D C 偏置导致的亮度变化曲线.由图4可知,样品A 在交流驱动同时施加直流电1h 后,释放阶段最大亮度为750c d /m 2,且释放200s 后亮度恢复至初始亮度;而样品B 释放阶段最大亮度为550c d /m2,与样品A 相比D C 偏置累积减少30%,并在释放10s 后亮度恢复至初始亮度,相比样品A ,其释放时间约缩短了95%.这是因为未使用添加剂的样品A ,配向膜电阻远大于液晶的电阻,导致液晶盒内的电荷聚集在液晶与配向膜的界605㊀㊀㊀㊀液晶与显示㊀㊀㊀㊀㊀㊀第36卷㊀面,难以释放,并由电量公式Q =C V 可知,聚集的电荷增多会导致残留电压增大,进而使得亮度变大;而样品B 在使用了添加剂后,添加剂附着在配向膜表面,使得配向膜表面的电阻值下降,因此液晶与配向膜之间的电阻差减小,所以电荷可以较容易地释放至配向膜,积聚情况得到明显改善[11G12].3.3㊀面残像测试结果在F F S 模式中,交流电(A C )残像是因为液晶分子经过长时间的驱动,无法恢复到原先正确的排列位置,其表现为对应的灰阶亮度会发生变化;而D C 残像是由液晶盒中残留D C 偏置造成,并可通过调整V c o m 电压进行改善[5,12].图5㊀V c o mG亮度随老化时间的变化F i g .5㊀B r i g h t n e s s d e p e n d e n c y o f V c o ma f t e r a g i ng 图6㊀V c o mG亮度随老化时间的变化F i g .6㊀B r i g h t n e s s d e p e n d e n c y o f V c o m af t e r ag i n g 图5和图6分别是样品A 和B 在老化0,30,60,90m i n 后亮度与V c o m 的测试曲线图.由图5可知,随着老化时间的增加,样品A 的V c o m G亮度向右上方发生了明显的漂移,这表明样品A 中存在A C 与D C 残像.其中老化30m i n 后的V c o m G亮度向上漂移8c d /m 2,V c o m 向右漂移了0.7V .由图6可知,样品B 添加添加剂后,V c o m G亮度向上方漂移2c d /m 2,V c o m 电压向右漂移了0.02V .相较于样品A ,样品B 的V c o mG亮度向上以及V c o m 电压向右漂移的幅度明显减小,这表明添加剂使用后,A C 与D C 残像同时得到了改善.3.4㊀线残像测试结果图7和图8是样品A 和B 分别老化0h 与96h 后在L 127灰阶,30H z 条件下观察所得的线残像结果.图7㊀样品A 在0h (a ),96h (b)老化时间下线残像结果.F i g .7㊀L i n e i m a g es t i c k i n g o fs a m pl e A a t t =0h (a ),t =96h (b ).图8㊀样品B 在0h (a ),96h (b)老化时间下线残像结果.F i g .8㊀L i n e i m a g e s t i c k i n g o f s a m pl e B a t t =0h (a ),a n d t =96h (b ).从图7(a )和7(b )可看出,经过96h 驱动后样品A 在像素边缘处出现了明显的线残像.这是由于棋盘格老化过程中L 0与L 255的驱动电压不同,使得黑白像素内形成了大小不等的残留D C 偏置,切换至L 127灰阶,面内存在大小不等的残留D C 偏置使像素之间存在电压差,进而导致液晶盒内的离子型不纯物向边界聚集而形成了残留D C 偏置,透过率因此发生变化,表现为线残像.由图8(a )和8(b )可知,样品B 未出现线残像.由前述可知,添加新添加剂后,可有效减少液晶盒由于驱动导致产生的D C 残留电压积聚并加快释放速率,因此黑白格像素之间电压差减小,线残像得到改善.705第4期㊀㊀㊀㊀㊀胡叶廷,等:莨菪烷基添加剂对F F S 模式中残像的影响4㊀结㊀㊀论本文通过在负性液晶中添加一种新型莨菪烷基添加剂的方法,研究了其对F F S 模式中残像的影响.实验结果表明,莨菪烷基添加剂使用后,闪烁漂移得到改善;液晶盒中D C 残留累积量减少30%且释放速率提升95%;V c o m 漂移量由0.7V 改善至0.02V ,同时V c o mG亮度变化量从8c d /m 2改善至2c d /m 2;线残像由L 3改善至L 1.本研究在不改变电极设计的前提下通过使用添加剂,在一定程度上改善了残像现象,对提升面板的显示品质具有一定的指导意义.参㊀考㊀文㊀献:[1]㊀S C HA D T M.M i l e s t o n e i n t h eh i s t o r y o f f i e l d Ge f f e c t l i q u i d c r y s t a l d i s p l a y s a n dm a t e r i a l s [J ].J a p a n e s eJ o u r n a l o fA p p l i e dP h ys i c s ,2009,48:03B 001.[2]㊀马群刚.T F T GL C D 原理与设计[M ].北京:电子工业出版社,2011.MA Q G.P r i n c i p l e a n dD e s i g no f TF T GL C D [M ].B e i j i n g :P u b l i s h i n g H o u s eo fE l e c t r o n i c s I n d u s t r y ,2011.(i n C h i n e s e)[3]㊀OH E M ,Y O N E Y A M ,K O N D O 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FFS介绍

高画质、高反应之新型FFS-TFT LCD技术高弘毅1.前言虽最近几年出现几种可以改善LCD画质的技术,其中又以新型边界电场切换技术(简称为FFS:Fringe Field Switching)能同时实现高穿透性与大视角等要求,因此备受相关业者高度重视。
所谓的FFS技术是藉由边界电场使面内几乎均质排列的液晶分子的电极表层内部旋转,进而产生IPS(In Plane Switching) 技术无法达成的高穿透性效应(图1)。
IPS方式的电极幅宽w与cell间隙d之电极间距很小,施加电压时电极间会发生面内电场,液晶祇能在该部位产生光变频,光穿透领域因而受到限制。
相较之下FFS方式是在画电极间距l下方设置一般电极,补助容量Cst 存在于光穿透领域,施加电压就会产生边界电场使液晶在电极上旋转,因此可获得高穿透率效果。
此外传统的TFT LCD通常使用负诱电率异方性液晶(以下简称为负液晶),其高黏度使的反应速度祇有50ms左右,加上液晶是在单一领域内单一方向的面内旋转,因此会有所谓的彩色移转现象发生。
如表1所示正诱电率异方性液晶(以下简称为正液晶)的低扭转黏性,具有高反应时间与低驱动电压优点,不过正液晶的光效率不如负液晶。
如果将液晶cell参数最佳化,正液晶也可获得等同于负液晶90%左右的光穿透效率。
此外像素电极如果电极作成褉形结构(wedge type)并使设计参数最佳化,如此一来data电极与像素电极之间的光泄漏便会自动的被抑制,其结果是黑矩阵(black matrix)实质上可以完全不用,同时还可以增加光线穿透率,达成25ms高速反应时亦不会减损LCD的辉度,利用FFS技术的TFT-LCD的画质除了足可比美CRT之外,这种技术非常适合应用于各种尺寸的液晶显示器。
2.cell与液晶的设计FFS技术具有以下特性:1.高穿透率。
2.视角宽广。
3.无失真(cross talk)。
4.耗电量低。
5.反应速度快6.耐压性高。
LCDASG技术资料简介

TFT-LCD 介绍:薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)是平板显示领域中最重要的一种,由于其具有众多优点,是唯一可跨越所有尺寸的显示技术,应用领域非常广泛,如电视、笔记本电脑、监视器、手机等。
TFT在LCD中起着传输和控制电信号的作用,即通过它确定施加在液晶层上的电压的大小。
当向液晶面板施加电压,液晶分子开始转动,光线穿过偏光片及液晶层后就可以形成一定画面。
TFT-LCD Panel 结构:TFT-LCD在技术原理及工艺制程方面均比TN和STN复杂得多。
简单地说,TFT-LCD的基本结构为两片玻璃基板中间夹着一层液晶层,主要由偏光片、玻璃基板、公共电极、像素电极、控制IC、彩色滤色膜等构成。
通常将具有彩色光阻的基板称为CF基板,制作了TFT阵列的基板称为array基板。
背光模组位于LCD面板下作为光源。
TFT-LCD面板结构及TFT基本结构示意图如图1和2所示。
图1 TFT-LCD panel结构图2 TFT 基本结构TFT-LCD 像素结构:TFT位于扫描电极和信号电极的交叉点处,它的漏极和源极分别与信号电极和像素电极相连,栅极与扫描电极相连。
TFT-LCD面板像素结构示意图如图3所示。
彩色滤色膜由红、绿、蓝三种颜色的光阻、黑矩阵,保护膜和公共电极几部分组成。
图3 TFT-LCD 基本结构TFT-LCD 三段主要制程:前段: 前段的 Array 制程与半导体制程相似,但不同的是将薄膜晶体管制作在玻璃基底上而非晶圆上。
中段:中段的Cell 是将前段Array基板与彩色滤光片的玻璃基板贴合,并在两片玻璃基板间滴入液晶(LC)后段(模组组装):后段模组组装制程是将Cell制程后的面板与其它如背光单元、电路、外框等多种零组件组装的过程。
1. 半反射半透射技术 (Transflective)半反射半透射式TFT-LCD可以同时保证户内和户外良好的信息可读性,其同时把透过式和反射式LCD的优点结合到一起,每一个像素中包括透过部分和反射部分。
TFT-LCD网点Mura的研究和改善

TFT-LCD网点Mura的研究和改善张定涛;李文彬;姚立红;郑云友;李伟;宋泳珍;袁明;张光明【摘要】为解决116.8 cm(46 in)广视角边缘场切换技术4mask面板生产中的阵列工艺中,发生的一种网点色斑缺陷,应用扫描电子显微镜、聚焦离子束、能谱仪、宏观微观观测仪和线宽测量仪等检测设备进行Mura及其结晶物成份分析,比较了TFT膜厚;进行了GI和PVX膜玻璃正反面1%HF酸腐蚀试验、下部电极温度升高10℃试验、工艺ash、n+刻蚀的后处理步骤和有源层BT试验.研究了沟道n+掺杂a-Si层的厚度对于Mura的影响.确定了Mura的发生源和影响因素,结果发现Mura形成机理,一为基板背部划伤,二为接触和不接触电极区域的温差异,三是刻蚀反应的生成物在有源层工艺黏附在基板背部,之后经过多层膜沉积、湿刻和干刻、剥离工艺后促使缺陷进一步放大.最后采用平板粗糙面下部电极、控制剩余a-Si厚度和升高温度的方法,消除了网点Mura,并使得整体Mura发生率降为0.08%.【期刊名称】《液晶与显示》【年(卷),期】2013(028)006【总页数】8页(P860-867)【关键词】色斑;薄膜晶体管;非晶硅;缺陷分析【作者】张定涛;李文彬;姚立红;郑云友;李伟;宋泳珍;袁明;张光明【作者单位】北京林业大学工学院,北京100083;北京京东方显示技术有限公司,北京100176;北京林业大学工学院,北京100083;北京林业大学工学院,北京100083;北京京东方显示技术有限公司,北京100176;北京京东方显示技术有限公司,北京100176;北京京东方显示技术有限公司,北京100176;北京京东方显示技术有限公司,北京100176;北京京东方显示技术有限公司,北京100176【正文语种】中文【中图分类】TN312.181 引言Mura是造成薄膜场效应晶体管液晶显示器(TFT-LCD)产品缺陷,如亮线、薄亮线等的常见缺陷,是所有显示缺陷中最难检测的种类之一。
广视角技术

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阵列工艺流程 盒工艺流程
2.3实验室基本测试手段 2.3实验室基本测试手段 • 显微镜 • 电学性能测试 • 盒光学性能测试 • 画面评价系统 2.4不良分析和改善 2.4不良分析和改善 • Image sticking • Flicker • DNU • Gray trace • Rubbing mura • PS mura • Pixel defect • Line defect
Normal FFS Pixel Brightness 165nits Contrast Ratio 450:1
A'
A B B'
设计 (A1 = 46.5µm, B(BM) = 22µm), A (…^ 宽 = 42.5 µm) …^ A’ = A + D=46.5 µm, B’(BM)=18µm
10.4” XGA with PCF polarizer 较
一、 TN+Film视角扩展膜(软屏)这种技术依然基于传统的TN模式液 晶,只是在制造过程中增加了一道贴膜工艺。TN+Film广角技术最大的 特点就是价格低廉,技术准入门槛低,应用广泛。总的来说,TN面板 是优势和劣势都很明显的产品,价格便宜,输出灰阶级数较少,液晶 分子偏转速度快,致使其响应时间容易提高,使其响应时间能满足游 戏要求是它的优势所在,可视角度不理想和色彩表现不真实是其明显 的劣势。因此现在市场中所出售的采用TN面板的液晶显示器普遍采用 改良型的TN+FILM(补偿膜)用于弥补TN面板可视角度方面的不足,同时 色彩抖动技术的使用也使得原本只能显示26万色的TN面板获得了 16.2M的显示能力。
暗态区域
来FFS (L255)
(Brightness < 165nits, CR 450:1)
液晶显示器的主要技术参数有哪些

液晶显示器的主要技术参数有哪些液晶显示器的主要技术参数有哪些(1)可视角度及广视角技术。
液晶显示器的可视角度左右对称,而上下则不一定对称。
举例来说,当背光源的入射光通过偏光板、液晶及配向膜后,输出光便具备了特定的方向特性,也就是说,大多数从屏幕射出的光具备了垂直方向。
假如从一个非常斜的角度观看一个全白的画面,我们可能会看到黑色或者色彩失真。
一般来说,上下角度要小于或等r左右角度。
如果可视角度为左右80度,表示在位于屏幕法线80度的位置时还白r以清楚地看见屏幕图像。
但是,由于人的视力范围不同,如果没有站在的可视角度内,所看到的颜色和亮度将会有误差。
现在不少厂商就采纳各种广视角技术,以改善液晶显示器的视角特性,目前已得到大规模应用的有如下两种:横向场模式技术,该模式技术又分为平面开关模式(InPlaneSwitchingMode,IPS)禾H边缘场开关模式(FringeFieldSwitchingMode,FFS)、多畴垂直趋向技术(MultidomainVerticalAlignment,MVA)等。
这些技术都能把液晶显示器的可视角度增加到160度,乃至更高。
(2)可视面积与点距。
液晶显示器所标示的尺寸虽然也以屏幕对角线给出,但它与实际可以显示的屏幕范围一致,这一点与CRT 锓示屏有所不同。
例如,一个15.1英寸的液晶显示器约等于17英寸CRT屏幕的可视范围。
液晶显示器的点距实际上就是屏幕上像素的问距。
它的计算方法是:r叮视宽度除以水平像素数,或者可视高度除以垂直像素数而得到。
举例来说,一般14英、j。
LCD的可视面积为285.7mm214.3mm,它的大分辨率为1024768,那么它的点距即为285.7mm/1024=0.279mm或者214.3mm/768=0.279mm。
(3)色度、对比度和亮度。
色度即彩色表现度,与第1章定义相同。
色度也是LCD显示器重要的参数之。
我们知道自然界的任何一种色彩都可以由红、绿、蓝三种基本色合成。
资料总结-FFS

液晶分子与下偏光板的透过轴平行存在,通过下偏光板的光的偏光状态不变 所以不能通过上偏光板的透过轴⇒ 常黑模式
加电压:
当电压超过门槛值Vth,正性液晶分子沿着电场方向排列 ⇒扭转变形 ⇒透光 IPS/FFS 光透过率公式: T = Tosin2(2Φ)sin2(πdΔn/λ) To平行偏振片所透过的光,d盒厚, Δ n 折射率各向异性,λ 波长
垂直与LC分子光轴方向时, λ ↑色偏黄.
解决办法: 两畴像素结构(UFFS)既提高视角又减小色偏
Yellowish LC
Bluish
IPS
FFS
Off state
On state
Off state
On state
TA
TA
Glass
Glass
E d
z
x
y
Common
electrode w
Glass
Pixel
l
electrode
Common electrode
Glass l’
Cst
l/d l/w Field Electrodes
IPS >1 >1 Ey(平面电场) Slit Metal/ITO
Change life with heart
广视角高对比度
FFS (+LC)
U-FFS (+LC)
CR = 100:1上下左右视角超过 70o CR > 10:1 所有方向可达到视角 80o以上(AUFFS)
Change life with heart
Color shift 色偏
色偏是指随着视角变化,光的色度发生异常. 原因:
暗态区域 BM
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FFS(边缘场切换)广视角技术
FFS(边缘场切换)广视角技术
如同PVA 模式跟MVA 模式的关系一样,FFS(Fringe Field Switching)严格来说应该IPS 模式的一个分支,主要改进是采用透明电极以增加透光率。
相对于已经比较完美的IPS 模式,FFS 可谓是”百尺竿头,更进一步”。
第一代FFS 技术主要解决IPS 模式固有的开口率低造成透光少的问题,并
降低了功耗。
第二代FFS 技术(Ultra FFS)改善了FFS 色偏现象,并缩短了回应时间。
第三代FFS 技术(Advanced FFS)则在透光率、对比度、亮度、可视角度、色差上均有明显提高。
FFS 一个致命的缺陷就是由于电场的畸变导致灰阶逆转,但新一代的FFS
技术AFFS(Advanced Fringe Field Switching)通过修改楔状电极和黑矩阵解决了这一问题。
AFFS 拥有极高的透光率,可以最大限度的利用背光源得到
高亮显示。
无论是水平还是垂直方向,AFFS 都能实现惊人的180°视角。
如图,如果在其他方向的视角也能有效得到提高的话,那液晶显示器可视角度
不如CRT 的说法就要成老皇历,也许以后的液晶显示器参数上再也不用标可
视角度一项。
由于AFFS 具自补偿特性,在不同视角下不会发生色差变化。
采用透明电
极和舍弃黑矩阵有利提高开口率和高清晰度。
事实上AFFS 除了回应时间稍
逊之外,在其他方面它都代表着目前液晶显示器高画质和广视角兼得的最高
水准。