激光粒度分析技术基础
激光粒度分析仪课件
02
03
光路设计
采用开角式、闭角式或光 纤式等不同光路设计，以 满足不同测量需求。
光学元件
反射镜、聚焦
保持光束质量稳定，以提 高测量精度和重复性。
检测器
检测器类型
光电倍增管、光电二极管 等，根据测量需求选择合 适的检测器。
动态范围
检测器的动态范围需满足 测量需求，以提高测量精 度和线性度。
进行测量
将标准样品放入仪器中，进行 测量并记录结果。
分析结果
根据标准样品的已知粒径，分 析仪器的测量结果是否准确。
结果评估与误差分析
结果评估
将仪器测量的结果与标准样品的已知粒 径进行比较，评估仪器测量的准确性。
VS
误差分析
分析仪器测量结果与标准样品已知粒径之 间的误差，找出误差来源，如仪器误差、 样品制备误差等。
动态光散射法
通过测量颗粒在运动状态时散射光的频率变化来分析颗粒粒径。
动态光散射法利用了颗粒在溶液中做布朗运动的现象，当颗粒运动时，散射光的 频率发生变化。通过测量散射光的频移，可以反推出颗粒的粒径分布。该方法具 有较高的测量精度，适用于测量较窄粒径范围，尤其适用于小颗粒的测量。
透射法
通过测量光线通过颗粒悬浮液时透射光的光强来分析颗粒 粒径。
电信号经过处理后，可 以输出颗粒大小的分布 结果。
应用领域
01
02
03
04
化工
用于研究化学反应过程中颗粒 大小的变化，以及催化剂、填
料等颗粒的粒度分布。
制药
用于研究药物颗粒的粒度分布 ，以及制备微粉、纳米药物等
。
陶瓷
用于研究陶瓷材料的颗粒大小 和分布，以及烧结过程中的变
化。
环境
mütek pcd05工作原理
mütek pcd05是一种广泛应用于工业生产中的高精度粒度分析仪器。
它采用先进的光学技术和精密的控制系统，能够快速、准确地对固体颗粒进行粒度分析，并广泛用于食品、化工、医药等行业。
本文将对mütek pcd05的工作原理进行详细介绍，帮助读者更好地理解这一先进仪器的工作原理。
一、激光粒度分析技术1.1 原理概述激光粒度分析技术是利用激光光源照射在待测颗粒上，根据颗粒对激光的散射或透射情况来推断颗粒的大小、形状和分布。
该技术具有非接触、无损伤、高精度等优点，因此在颗粒表征领域得到了广泛应用。
1.2 mütek pcd05的激光粒度分析原理mütek pcd05采用双角度散射技术进行粒度分析。
在仪器中，样品被分散在透明的液体介质中，然后通过激光光源照射样品，检测样品对激光的散射情况。
根据激光在样品中的散射角度和光强的变化，结合激光的衍射原理，可以计算出样品中颗粒的大小和形状信息。
另外，mütek pcd05还可以根据不同的颗粒介质和浓度，选择合适的激光波长和探测角度，以获得更准确的粒度分析结果。
二、粒度分析仪器的工作原理2.1 样品处理mütek pcd05在进行粒度分析之前，需要对待测样品进行适当的处理。
一般情况下，样品会被加入适量的分散液中，并通过超声或搅拌等方式将颗粒分散均匀，避免颗粒团聚对分析结果的影响。
还可以通过过滤等步骤去除样品中的大颗粒或杂质，以确保分析结果的准确性。
2.2 光学系统mütek pcd05的光学系统包括激光光源、透镜、探测器等部件。
激光光源发出高亮度、单色、准直的激光光束，经过透镜聚焦后照射到样品上。
探测器则用于检测样品对激光的散射光信号，并将信号转换为电信号输出。
通过精密的光学系统设计和控制，mütek pcd05能够实现对颗粒微观结构的高精度分析。
2.3 数据处理mütek pcd05采集到的散射信号经过放大、滤波、数字化等处理后，通过内置的算法计算出样品中颗粒的大小分布、体积分数、表面积等参数。
激光粒度仪的工作原理分析 激光粒度仪工作原理
激光粒度仪的工作原理分析激光粒度仪工作原理激光粒度仪是通过测量颗粒群的衍射光谱经计算机处理来分析其颗粒分布的。
它可用来测量各种固态颗粒、雾滴、气泡及任何两相悬浮颗粒状物质的粒度分布、测量运动颗粒群的粒径分布。
激光粒度仪是依据颗粒能使激光产生散射这一物理现象测试粒度分布的。
由于激光具有很好的单色性和极强的方向性，所以一束平行的激光在没有阻拦的无限空间中将会照射到无限远的地方，并且在传播过程中很少有发散的现象。
当光束碰到颗粒阻拦时，一部分光将发生散射现象。
散射光的传播方向将与主光荣的传播方向形成一个夹角。
散射理论和结果证明，散射角的大小与颗粒的大小有关，颗粒越大，产生的散射光的角就越小；颗粒越小，产生的散射光的角就越大。
激光粒度仪经典的光路由发射、接受和测量窗口等三部分构成。
发射部分由光源和光束处理器件构成，紧要是为仪器供应单色的平行光作为照明光。
接收器是仪器光学结构的关键。
测量窗口紧要是让被测样品在完全分散的悬浮状态下通过测量区，以便仪器获得样品的粒度信息。
接收器由傅立叶选镜和光电探测器阵列构成。
所谓傅立叶选镜就是针对物方在无限远，像方在后焦面的情况除去像差的选镜。
激光粒度仪的光学结构是一个光学傅立叶变换系统，即系统的察看面为系统的后焦面。
由于焦平面上的光强分布等于物体（不论其放置在透镜前的什么位置）的光振幅分布函数的数学傅立叶变换的模的平方，即物体光振幅分布的频谱。
激光粒度仪将探测器放在透镜的后焦面上，因此相同传播方向的平行光将聚焦在探测器的同一点上。
据测器由多个中心在光轴上的同心圆环构成，每一环是一个独立的探测单元。
这样的探测器又称为环形光电探测器阵列，简称光电探测器阵列。
激光器发出的激光束经聚焦、低通滤波和准直后，变成直径为8～25 mm的平行光。
平行光束照到测量窗口内的颗粒后，发生散射。
散射光经过傅立叶透镜后，同样散射角的光被聚焦到探测器的同一半径上。
一个探测单元输出的光电信号就代表一个角度范围（大小由探测器的内、外半径之差及透镜的焦距决议）内的散射光能量，各单元输出的信号就构成了散射光能的分布。
激光粒度测定实验报告
一、实验目的1. 了解激光粒度测定原理及方法。
2. 掌握激光粒度仪的使用方法和操作步骤。
3. 通过实验，学会利用激光粒度仪测定粒度分布，并对实验结果进行分析。
二、实验原理激光粒度测定法是利用激光束照射到颗粒上，颗粒对激光的散射和衍射现象来测定颗粒粒度分布的一种方法。
当激光束照射到颗粒上时，颗粒会发生散射和衍射，散射光的强度与颗粒的粒度有关。
通过测量散射光的强度，可以确定颗粒的粒度分布。
实验中，激光束通过颗粒悬浮液，散射光经过透镜聚焦后，进入检测器。
检测器将散射光转换为电信号，经放大、处理和计算后，得到颗粒的粒度分布曲线。
三、实验仪器与试剂1. 仪器：激光粒度仪、粒度分布测试软件、显微镜、恒温水浴锅、超声波分散器、样品池、分析天平、滴管等。
2. 试剂：蒸馏水、无水乙醇、颗粒悬浮液（已知粒度分布）。
四、实验步骤1. 样品制备：将已知粒度分布的颗粒悬浮液用分析天平称量，加入适量蒸馏水，用超声波分散器分散均匀，制成待测样品。
2. 样品处理：将待测样品放入样品池中，用恒温水浴锅加热至室温。
3. 激光粒度仪操作：打开激光粒度仪，按照仪器说明书进行操作，设置相关参数，如激光波长、散射角、测量范围等。
4. 测量：将样品池放入激光粒度仪中，开始测量。
待测量完成后，记录数据。
5. 数据处理：将测量数据导入粒度分布测试软件，进行数据处理，得到颗粒的粒度分布曲线。
6. 结果分析：比较实验测得的粒度分布曲线与已知粒度分布曲线，分析实验结果。
五、实验结果与分析1. 实验测得的粒度分布曲线与已知粒度分布曲线基本吻合，说明实验结果可靠。
2. 通过分析实验结果，可以得出以下结论：（1）激光粒度测定法是一种快速、准确、可靠的粒度测定方法。
（2）实验过程中，样品制备、处理和操作步骤对实验结果有较大影响，应严格控制。
（3）激光粒度仪在测定粒度分布时，应注意仪器的操作和参数设置，以保证实验结果的准确性。
六、实验总结本次实验通过对激光粒度测定法的原理、仪器操作和数据处理的学习，掌握了激光粒度测定方法。
马尔文激光粒度仪-颗粒表征技术原理及介绍
a mn
x( d 1 ... x(dn
) )
• f(q):在角度 qi 的单位检测器面积上的衍射光强度 • aij: 在角度 qi 和粒径 dj 的衍射模型 • x(dj): 在粒径 dj的分布幅度
但是衍射矩阵的解不是惟一的… 类似于:
› 问: 6 x 7 =?
42! 太简单, 因为答案是惟一的
› 颗粒粒径比激光波长大得多 › 颗粒是完全不透明的，在激光光束
中只有衍射现象存在
› 所有颗粒具有相同的衍射效率
衍射模型 - Mie理论
› 不象 Fraunhofer, Mie理论:
考虑到了光与物质的相互作用，适合 所有波长，衍射角度及粒径范围
Mie理论－预知光衍射
衍射光
入射光
吸收
折射
衍射光
衍射模型 - Mie理论
› 但是问: 42=?
21 x 2 40 + 2 126 ÷ 3 ………
衍射数据
粒度分布的计算
假设一个粒 度分布
粒度分布
改变假设的粒度 分布
Mie理论
反演出的衍 射数据
作为最终 粒度结果
差别最小
与测量的数 据比较
激光衍射—结果计算
› 数学反演过程中有两组数据… › 反演出的理论数据（红色） ，测量的原始衍射数据（绿色） › 两根曲线之间的区域被用来计算并得到残差
1. 一般对于小颗粒测试具有较高地灵敏度； 2. 不受待测物质折射率等光参影响； 3. 可以附加给出样品Zeta电位信息。
不足： 1. 一般只能测乳液或者悬液样品 2. 对于大颗粒样品测试效果不佳 3. 对于较宽分布的样品测量效果不佳；
图像分析法
图像分析的基本原理（可见光成像）
激光粒度分析的原理和方
激光粒度分析的原理和方
激光粒度分析是一种常用的粒度测量方法，在各种领域广泛应用。
其原理是利用激光器发出的一束单色激光照射到待测样品上，样品中的颗粒会散射部分光线，散射光线经过物镜聚焦到光敏探测器上。
根据散射光的强度和位置，可以通过光学原理计算出颗粒的直径和分布情况。
激光粒度分析的方案一般包括以下几个步骤：
1. 样品处理：待测样品需要经过预处理，例如去除杂质、分散均匀等。
不同样品需要不同的处理方法。
2. 激光器照射：用激光器照射待测样品，激光器可以发出单色激光，通过聚焦镜头对样品进行照射。
3. 光散射检测：样品中的颗粒会散射部分光线，通过光散射检测器检测散射光的强度和位置。
通常，可以使用光散射仪器来测量颗粒的散射光信号。
4. 数据分析：根据散射光的强度和位置数据，结合光学原理，利用适当的算法计算出颗粒的直径和分布情况。
常见的分析方法包括Mie散射理论、贝塞尔函数法等。
5. 结果展示：最后，将分析结果以直方图、光谱图等形式展示出来，可以直观地观察颗粒的粒径分布情况。
激光粒度分析具有测量范围广、分辨率高、准确性好等特点，适用于大部分颗粒样品的粒径分析。
同时，不同的仪器和方法也有一些差异和特殊要求，需根据具
体情况选择适合的分析方案。
简述激光粒度仪的基本原理
简述激光粒度仪的基本原理激光粒度仪是一种常用的颗粒分析仪器，利用激光散射原理来测量物料的颗粒大小。
它主要由激光源、物料流动系统、检测器和数据分析系统等几个部分组成。
激光粒度仪的基本原理是利用激光照射在物料颗粒上时，光与颗粒发生散射现象。
根据散射光的强度和散射角度的变化来推测颗粒的大小和分布情况。
以下是激光粒度仪的基本原理描述：1.激光源：激光粒度仪使用的激光器通常是低功率的、单频的激光器。
激光器发射的单一波长的光束，具有良好的单色性和方向性。
2.物料流动系统：物料通常以溶液或悬浮液的形式进入物料流动系统。
物料流动系统引导物料以细流的方式通过仪器，以保证每个颗粒都能被激光照射到。
3.散射角度的检测：激光粒度仪通常会设置多个探测器，用于检测散射光的强度和散射角度的变化。
常见的探测器包括正向散射光探测器和侧向散射光探测器。
正向散射光探测器用于检测颗粒在正向散射光中的散射强度，侧向散射光探测器用于检测颗粒在侧向散射光中的散射强度。
通过测量散射光强度的变化，可以推测颗粒的大小和分布情况。
4.数据分析系统：激光粒度仪的数据分析系统会根据散射光的强度和散射角度的变化来计算颗粒的大小和分布。
通过校准曲线，可以将散射光强度和散射角度映射到颗粒大小上。
常用的数据分析方法包括多峰分析、积分法和拟合法等。
总的来说，激光粒度仪的工作原理是通过激光照射物料颗粒，测量散射光的强度和散射角度的变化来推测颗粒的大小和分布情况。
这种技术无需进行样品的预处理，非常方便快捷。
同时，由于激光具有高亮度、直线传播和单一波长等特点，激光粒度仪具有高精度和高分辨率的特点，可以测量颗粒尺寸范围广、粒径分布广的样品。
因此，激光粒度仪广泛应用于材料科学、药剂学、环境监测、地质研究和生命科学等领域。
激光粒度分析原理
激光粒度分析原理激光粒度分析是一种常用的颗粒分析方法，通过激光的散射和透过性来确定颗粒在液体或气体介质中的大小和分布情况。
本文将探讨激光粒度分析的原理、应用和优势。
一、激光粒度分析是基于光散射原理的，主要包括散射角度、光强和颗粒直径之间的关系。
当激光束照射到颗粒上时，部分光线会被散射出去，其散射角度和颗粒的直径相关。
根据斯托克斯散射定律，散射强度与颗粒的直径的平方成正比。
在激光粒度分析中，通常使用激光束通过样品所产生的散射光进行测量。
散射光经过物镜聚焦，通过光电探测器接收，并将光信号转换为电信号。
通过分析电信号的强度和散射角度，可以确定颗粒的大小和分布。
二、激光粒度分析的应用1. 粒径分布分析：通过激光粒度分析，可以获得颗粒的粒径分布情况。
这对于研究颗粒材料的特性和性能具有重要意义。
例如，在制药工业中，可以通过粒径分布分析来控制药物颗粒的均匀性和稳定性。
2. 表面积分析：通过激光粒度分析，还可以获得颗粒的比表面积信息。
颗粒的表面积与其活性和吸附能力相关，因此在催化剂和材料科学领域具有重要的应用价值。
3. 聚集态分析：激光粒度分析可以用于研究颗粒的聚集行为。
聚集态的颗粒对于许多工业和环境应用具有重要影响，例如在大气污染中的颗粒聚集和生物颗粒的凝聚等。
三、激光粒度分析的优势1. 快速准确：激光粒度分析具有快速、准确的特点。
通过自动化仪器和精确的光学系统，可以实现对大量样品的快速测试和数据处理。
2. 宽测量范围：激光粒度分析方法适用于不同颗粒尺寸范围的样品。
从纳米级到数百微米的颗粒都可以进行粒度分析和测量。
3. 非侵入性：激光粒度分析是一种非侵入性的测量方法，不会破坏样品的结构和性质，适用于对颗粒样品进行重复分析。
4. 灵敏度高：激光粒度分析具有高灵敏度，可以检测到微小变化和细小颗粒的存在。
四、总结激光粒度分析是一种常用的颗粒分析方法，通过激光散射光线的特性来测量颗粒的大小和分布情况。
激光粒度分析具有快速准确、宽测量范围、非侵入性和高灵敏度等优势，广泛应用于材料科学、制药工业、环境监测等领域。
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总数 3524500 100.0
体积 百分比
99.96 0.03 0.01
100.0
激光粒度测试中的典型分布
－－－相同比例的 5nm 和 50nm 球形颗粒
NUMBER
VOLUME
=
4 3
pr3
INTENSITY =d6
11
1000
1,000,000
Relative % in class Relative % in class Relative % in class
的形状系数/因数恢复为原来特定的颗粒形状，增加结果的可靠性
最长直径
最短直径
等效沉降速率直径 筛分直径
等效重量直径 等效体积直径
等效表面积直径
粒子大小的定义
“粒子大小”定义方法有 许多种，根据定义方法， 大小关系有时能够逆转。
实际测量中仅选择 粒子的某一物理量 、几何量来表征。
用一元数值来表示粒子大小时， 这个值就叫做粒子的代表粒径。 对于有不同大小粒子分布的粉末 体，使用平均粒径统一分析实验 值。
同样大小投影 面积S
终点下落速度相同
激光
S = Dp2
X π/4
DP
同样大小体积V
X
V= Dp3π/6
Dp
X Ξ Dp
(a) 几何学的特性
X
Dp
X 相同图案
Ut
Ut
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
激光
Ut = Dp2・g(ρp-ρ)/18μ
X Ξ Dp
Dp X Ξ Dp
(ｂ) 动力学的特性
(c) 光学的特性
等效直径
不规则形状的颗粒，颗粒大小取决于测 定方法
00..00000088--22,8,80000微微米米
非统计方法
分辨率高 代表性差, 动态范围窄 显微镜方法，重复性差
光学类： > 1微米 电子类：> 0.001微米 电阻感应法 0.5-1200微米
筛分技术
关键参数：筛孔大小，筛盘直径，筛框深度 Tyler系列：以目表示筛孔大小，200目为基准，最小为400目（38微米） ISO标准筛：直接标出筛孔直径，最小筛孔尺寸为45微米 设备包括试验套筛及振筛机，确保一定的圆周摇动和上下振动 优点：简单，便宜，易于分级，样品量大，结果表示为重量粒径分布
粒度的定义
n Feret 直径 - 平行切面之间的距离. n Martin 直径 - 等分线直径 n 最长直径 n 最短直径 n 等效周长直径 - 同等周长的圆圈直径 n 等效投影面积直径 - 与投影面积相同
的圆面直径 n 等效表面积直径 n 等效体积直径
颗粒形状
针状，角状，树枝状，纤维状，片状，粒状，不规则状，瘤状，球状等 形状系数：被测颗粒大小与其体积或面积之间的关系 形状因数：与颗粒等体积的圆球的表面积与颗粒的表面积之比 应用：颗粒形状千差万别。在实际测量中，根据某种测量特性，可利用颗粒
操作较为复杂，粒度分布范围较宽的样品容易堵塞小孔管 很难保证颗粒通过小孔瞬间的状态，易造成峰形拖尾或重叠，引起计数误差 必须在电解液中测量，不适合乳剂或有机材料，也不适合密度较大或者多孔
大体上同体积但是形状不同 的粒子在比较大小的时候， 根据比较的基准，大小关系 也不同。
能够通过的圆孔直径（μｍ） 能够通过的筛子眼（μｍ） 投影面积（×10-9ｍ2） 表面积（×10-8ｍ2） 体积（×10-11ｍ3）
球
100μｍ
100 100 7.85 3.14 5.23
立方体
80μｍ
80μｍ
80μｍ
显微镜
忽略了一个10µ的颗粒
10µ
1µ 相当于漏检了 1000个1µ 的小球
显微镜技术的缺点
取样量极其有限（0.01-0.1克），不具备代表性 样品制备麻烦，有时需要纳米级固定薄膜，测量成本高 测量过程人为因素影响过大，时间长，易疲劳 仅能用于质量或生产控制的简单判断，或用作其他测量方法的辅助工具（分
X50
: 50%径 (直径中值)
X mode : 模径 (最频粒子径,峰值)
但是， X50和 X mode等的值根据测量 粒子量 y的基准(个数，体积等)发生
变化，因此，有必要采用不同的标记 来区别个数模径和体积50%径等。
直径中值 50%
频率分布
Q%
数量、长度和体积/质量平均值
每一次的测量结果须注明测量手段和表达形式 不同的表达形式之间的转换差异巨大 使用电子显微镜测量时，指定以体积/质量表达测量结果，若忽视或丢失1个
2μm :8个
8/22→36％
Σn N=22
3μm :3个 4μm :1个
3/22→14％ 1/22→5％
頻度(%)
50 45 40 35 30 25 20 15 10
5 0
1234 粒子径（μm）
面积基准
＝(D/2)2π ＝（D2/4）π
12/4π×10个
＝10/4π
（10/4）π →12％
（85/4）π
测量方法：体积定量、时间定量、再计数定量、通道峰值数目定量等 测量精度高，有很好的准确性和重复性 优点：既能给出数量统计又能给出体积分布，特别适合于临床血细胞的分析
电阻感应法
吸引
+ -
细孔
电解质溶液
电阻感应技术的缺点
测量范围有限，一般下限为0.4微米，而且每个小孔管的动态范围仅为：2%60%
5 0
粒1子径2 （3μm4）
50 45 40 35 30 25 20 15 10
5 0
1 23 4 粒子径（μm）
银河系中天体个数与体积的对比转换
直径 (Km)
天体数量 （个）
数量 百分比
10 - 1000 7000 1 - 10 17500 0.1 - 1 3500000
0.2 0.5 99.3
颗粒大小表征 及激光粒度分析技术基础
内容简介
粒度及粒度的表征 各种粒度分析方法的比较 激光衍射法的原理及技术特点 纳米粒度测量技术 粒度分析实际操作 分析结果评估
关于颗粒的基本概念
• 晶粒：指单晶颗粒，即颗粒内为单相，无晶界。 • 一次颗粒：指含有低孔隙率的一种独立的粒子。它能被电子显
10微米的颗粒，则与忽视或丢失1000个1微米的颗粒结果相同 实测的和导出的结果，后者可用于批量样品测量的相对比较 根据实际工艺流程选择相对应的测量手段/测量特性
不同的粒径表达基准
1μm×10个 2μm×8个 3μm×3个 4μm×1个
总计=22个
数量基准
＝N
1μm :10个
10/22→45％
图像解析法
开始 取样
粒子像摄影 图像处理
平滑化、去除微粒子 （噪声）、分离、圆 形分离、细线化、强 调、边界检出等等
抽取特征处理
计算统计粒子径分布
面积(等效径)、周长、 最大长、形状参数等 等
结束
电阻感应技术
原理：在电解质溶液中，利用外加在小孔管内外的电极，在小孔管周围形成 恒电流设计的电阻感应区。在负压的作用下，通过小孔的每个颗粒取代相同 体积的电解液，产生电位脉冲，脉冲信号的强弱与通过小孔管的颗粒大小成 正比
散状态，絮凝与否）
空气透过技术（费氏法）
原理：粉末样品的气体透过能力与粉末的比表面有关，籍此求出样品的比表 面积并由此得到颗粒的平均粒度
样品要求：均匀干燥，形状等轴性好，施压时不易变形，破碎或聚结 取样量应为试样真密度的两倍以上，且真密度已知 常用于质量或生产控制的基本判断，设备简单，操作方便 缺点：分辨率低，重现性差，人为因素影响较大
中间值：把整个分布恰好平分的颗粒大小数值，一般表述为D〔X,0.5〕，D50 最频值：频率分布中最常出现的数值，即曲线的最高点 对于高斯分布，三者恰好会出现在相同位置；但若是多峰分布，则其差别较
大
代表性粒径的含义 模径
累计（积分）分布
表示粒径分布X的时候，作为他的代 表值，最大值 X max , 最小值 X min被 常常采用；50%中值粒径和模径（峰 值粒径）也被经常使用。
＜ 113 ＞ 80 ＞ 6.4 ＜ 3.84 ＞ 5.12
平均直径
简单数量平均值D〔1,0〕，D〔2,0〕，D〔3,0〕 1克大小均为1微米的二氧化硅（密度2.5）样品大约有760×109个颗粒 D〔3,2〕表面积力矩平均值，依赖于d3 D〔4,3〕体积或质量力矩平均值，依赖于d4 不同的测量方法给出不同的平均直径 所有的平均直径都是正确的
哪种表征或结果是“正确”的？
都正确，都反映了颗粒的某种特性 即使是球体，不同的方法也给出不同的平均值 在描述粒径大小时，必须同时指明测定方法才有意义 不同粒度测定方法之间的比较没有意义 不同方法之间的比较必须转化成同一粒径的定义
直径
粒度(直径) x
平均值、中间值和最频值
平均值：粒度分布的某种算术平均值，如D〔1,0〕，D〔2,0〕，D〔3,0〕， D〔3,2〕，D〔4,3〕等
5 10 50 100 Diameter (nm)
1
5 10 50 100 Diameter (nm)
1
5 10 50 100 Diameter (nm)
常见粒度分析方法
统计方法
代表性强,, 动动态态范范围围宽宽 分辨率低 ▪ 筛筛分分方方法法：：>>3388微微米米 ▪ 沉沉降降方方法法
00..0011--330000微微米米 ▪ 光光学学方方法法
各种方法对球体粒径平均值的不同表征
－－－对于三个直径分别为1、2、3单位的球体，表征它们的平均值
电子显微镜法：取长度平均值 —— D[1，0]
平均直径=（1+2+3）/3 = 2.00 =∑d/n
图像分析仪： 取面积平均值 —— D[2，0]
平均直径=Sq. rt. {(12+22+32)/3} = 2.16 = Sq. rt.(∑d2/n)