材料测试答案1(1).doc
材料分析测试习题及答案1

1.计算0.071 nm (MoK α)和0.154 nm (CuK α)的X 射线的振动频率和能量。
解:由公式max 0hceU h νλ==得 将题目中数据带入= = =892.998100.15410-⨯⨯= = == = 考虑相对论效应,220/1cv m m -=,结果会有小许不同。
2.计算当管电压为50 kv 时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。
解:已知U=50kV ,电子的质量为m0 =9.1×10-31kg ,光速为c=2.998×108m/s ,电子电量e=1.602×10-19C ,普朗克常数:h=6.626×10-34J.s电子从阴极飞出到达靶的过程中所获得的总动能为E=eU=1.602×10-19C ×50kv=8.01×10-15J由于所以电子与靶碰撞时的速度为=1.32×108m/s所发射连续谱的短波限=12400/U=0.248Å 辐射出来的光子的最大动能为= = 8.01×10-15J3.分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么? (1)用CuK α X 射线激发CuK α荧光辐射; (2)用CuK β X 射线激发CuK α荧光辐射; (3)用CuK α X 射线激发CuL α荧光辐射。
解:(网上参考答案)根据经典原子模型,原子内的电子分布在一系列量子化的壳层上,在稳定状态下,每个壳层有一定数量的电子,他们有一定的能量。
最内层能量最低,向外能量依次增加。
根据能量关系,M 、K 层之间的能量差大于L 、K 成之间的能量差,K 、L 层之间的能量差大于M 、L 层能量差。
由于释放的特征谱线的能量等于壳层间的能量差,所以 K β的能量大于 K α的能量,K α能量大于L α的能量,即 。
因此在不考虑能量损失的情况下: CuK α能激发CuK α荧光辐射;(能量相同) CuK β能激发CuK α荧光辐射; (K β>K α)cνλ=0M ν892.998100.07110-⨯⨯1814.2310s -⨯Cu ν1811.9510s -⨯O M eU 34186.62610 4.2310-⨯⨯⨯152.810J -⨯Cu eU 34186.62610 1.9510-⨯⨯⨯151.2910J-⨯2012E mv =12002E v m ⎛⎫= ⎪⎝⎭0λ0E 00hc h νλ=CuKα能激发CuLα荧光辐射;(Kα>Lα)解:假设E K为K壳层的能量,E L为L壳层的能量,E M为M壳层的能量,CuKαX射线的能量为E K-E L,CuKβX射线的能量为E K-E M,CuKα荧光辐射的能量为E K-E L,CuLα荧光辐射的能量为E L-E M,(1)不可能,用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射,需要E K的能量;(2)不可能,用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射,需要E K的能量;(3)有可能,用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射,需要E L的能量,具体能不能还要比较E K-E L 和E L的大小。
材料测试技术第一章习题答案

材料测试技术第一章习题答案2.计算当管电压为50kV时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。
解:由eU=mv2, 得v===1.33×108m/sE k=eU=1.6×10-19×50×103=8×10-15J由eU=,得=hc/eU==0.248×10-10m=0.0248nmE max=E k=8×10-15J3. 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?(1)用CuKα X 射线激发CuKα荧光辐射;(2)用CuKβ X 射线激发CuKα荧光辐射;(3)用CuKα X 射线激发CuLα荧光辐射;答:CuKα X射线可以激发CuLα荧光辐射。
因为:Cu的K层电子的逸出功W K=8979eV,对应的吸收限为λk=0.138nm。
Cu的LⅢ层电子的逸出功W LⅢ=933eV,对应的吸收限为λLⅢ=1.33nm。
CuKα射线的λ=0.154nm,CuKβ射线的λ=0.139nm,产生荧光辐射的条件是入射X射线的能量大于电子的逸出功,对K系电子,即λ≤λk,又CuKα和CuKβ都大于λk,小于λLⅢ∴CuKα和CuKβ射线不能激发CuKα荧光辐射,可以激发CuLα荧光辐射。
5. 计算空气对CrKα的质量吸收系数和线吸收系数(假设空气中只有质量分数80%的氮和质量分数20%的氧,空气的密度为1.29×10-3 g/cm3)?解:查表(附录2)知:N对Cr Kα 的质量吸收系数μm1=27.7cm2/g,O对Cr Kα 的质量吸收系数μm2=40.1cm2/g,于是,空气对Cr Kα 的质量吸收系数μm=W1μm1+ W2μm2=0.8×27.7+0.2×40.1 =30.18 cm 2/g线吸收系数μ=μm ×ρ=30.18×1.29×10-3=3.89×10-2 cm -16.为使CuK α线的强度衰减1/2,需要多厚的Ni 滤波片?解:查表知:Ni 对Cu K α 的质量吸收系数μm =49.2cm 2/g ,由I x =I 0e -μm ρx ,得x=ρμI I ln m 0x-,代入相应数值,解得, X=90.82.9421ln ?-=0.00158cm。
纺织科学技术:纺织材料学考试答案(最新版)_1.doc

纺织科学技术:纺织材料学考试答案(最新版) 考试时间:120分钟 考试总分:100分遵守考场纪律,维护知识尊严,杜绝违纪行为,确保考试结果公正。
l 接触角及浸润滞后性 本题答案: 26、问答题 皮辊棉特点. 本题答案: 27、名词解释 高分子聚合物 本题答案: 28、名词解释 初始模量 本题答案: 29、填空题 聚氨基甲酸酯纤维的商品名称是( ),英文缩写是( )。
本题答案: 30、名词解释 松经 本题答案: 31、问答题 成熟度与成纱质量及纺纱工艺的关系 本题答案: 32、名词解释姓名:________________ 班级:________________ 学号:________________--------------------密----------------------------------封 ----------------------------------------------线----------------------缺经本题答案:33、问答题纱线的拉伸断裂机理。
本题答案:34、名词解释纱线毛羽本题答案:35、问答题试述羊毛纤维的形态结构特征。
本题答案:36、名词解释棉织物的丝光处理本题答案:37、问答题简述棉纤维的结构层次和各层次的结构特点?本题答案:38、名词解释疵点本题答案:39、填空题丙纶吸湿性,在使用过程中容易起静电和起球。
细旦丙纶具有较强的(),水汽可以通过纤维中的毛细管来排除。
本题答案:40、填空题用于服装的天然纤维有()。
本题答案:41、问答题什么是彩棉,它和普通的棉有什么区别?本题答案:42、问答题急弹性,缓弹性和塑性三种变形的特点是怎样的?本题答案:43、问答题羊毛纤维的卷曲是怎样形成的?卷曲对羊毛的弹性抱合力和缩绒性有什麽影响?本题答案:44、名词解释结晶度本题答案:45、问答题从拉伸曲线上可求得哪些指标?各指标与纤维性质关系如何?本题答案:46、名词解释抽丝本题答案:47、名词解释织物的易护理性及安全性本题答案:48、名词解释错纱本题答案:49、名词解释织物的舒适性本题答案:50、名词解释生丝本题答案:51、名词解释紧经本题答案:52、名词解释原纤(fibril)本题答案:53、名词解释布端色差本题答案:54、名词解释特克斯(tex)本题答案:55、名词解释熔体纺丝法本题答案:56、填空题蚕茧由()、()、()、()四部分组成。
材料科学:材料分析测试技术考试卷及答案(最新版).doc

材料科学:材料分析测试技术考试卷及答案(最新版) 考试时间:120分钟 考试总分:100分遵守考场纪律,维护知识尊严,杜绝违纪行为,确保考试结果公正。
1、问答题 简述X 射线产生的基本条件。
本题答案: 2、问答题 测角仪在采集衍射图时,如果试样表面转到与入射线成300角,则计数管与入射线所成角度为多少?能产生衍射的晶面,与试样的自由表面是何种几何关系? 本题答案: 3、单项选择题 洛伦兹因子中,第二几何因子反映的是( )A 、晶粒大小对衍射强度的影响 B 、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响 C 、衍射线位置对衍射强度的影响 D 、试样形状对衍射强度的影响 本题答案: 4、问答题 你如何用学过的光谱来分析确定乙炔是否已经聚合成了聚乙炔? 本题答案: 5、问答题 说明多晶、单晶及厚单晶衍射花样的特征及形成原理。
姓名:________________ 班级:________________ 学号:________________ --------------------密----------------------------------封 ----------------------------------------------线----------------------本题答案:6、问答题什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”?本题答案:7、问答题你如何用学过的光谱来分析确定乙炔是否已经聚合成为聚乙炔?本题答案:8、问答题球差、像散和色差是怎样造成的?如何减小这些像差?哪些是可消除的像差?本题答案:9、问答题假定需要衍射分析的区域属于未知相,但根据样品的条件可以分析其为可能的几种结构之一,试根据你的理解给出衍射图标定的一般步骤。
本题答案:10、问答题试述X射线衍射单物相定性基本原理及其分析步骤?本题答案:11、单项选择题由于电磁透镜中心区域和边缘区域对电子折射能力不同而造成的像差称为()A、球差B、像散C、色差D、背散本题答案:12、问答题试总结德拜法衍射花样的背底来源,并提出一些防止和减少背底的措施。
工程材料期末考试试题及答案.doc

工程材料试题及答案一、判断题1、合金渗碳钢经最终热处理后的组织全部是回火马氏体。
(X)2、热加工与冷加工的主要区别在于是否有加工强化现象产生。
(X)3、铸铁是含碳量小于2.11%的铁碳合金。
(X)4、二元共晶相图是指合金两组元在液态和固态均能无限互溶所构成的相图。
(X)5、感应加热表面淬火一般只改变钢件表面层的组织,而不改变心部组织。
(V)6、一个合金的室温组织为a+0u+(a+B),则它山二相组成。
(X)7、将金属加热到再结晶温度以上时,金属将发生回复、再结晶及晶粒长大等变化。
(V)8、金属在塑性变形后产生的纤维组织能使金属具有各向异性。
(V)9、碳钢的塑性和强度都随着含碳量的增加而降低。
(X)10、金属的再结晶转变,也要经历形核与晶核长大的过程。
(V)二、选择适宜材料并说明常用的热处理方法(30分)三、(20分)车床主轴要求轴颈部位硬度为HRC54—58,其余地方为HRC20—25,其加工路线为:下----- ►锻造一►正火一机加工一►调质---------------- 机加工(精)----- ►轴颈表面淬火 ----- ►低温回火------ 磨加工指出:1、主轴应用的材料:45钢2、正火的目的和大致热处理工艺细化晶粒,消除应力;加热到Ac3+ 50°C保温一段时间空冷(a ) 60钢渗碳淬火后低3、 调质目的和大致热处理工艺 强度硬度塑性韧性达到良好配合淬火+高温回火4、 表面淬火目的提高轴颈表面硬度5、 低温回火目的和轴颈表面和心部组织。
去除表面淬火热应力,表面M + A'心部S 回四、选择填空(20分)1、 合金元素对奥氏体晶粒长大的影响是(d )(a )均强烈阻止奥氏体晶粒长大 (b )均强烈促进奥氏体晶粒长大 (c )无影响(d )上述说法都不全面2、 适合制造渗碳零件的钢有(c )o(a ) 16Mn 、15、20Cr 、lCrl3、12Cr2Ni4A (b ) 45、40Cr 、65Mn 、T12 (c ) 15、20Cr 、18Cr2Ni4WA 、20CrMnTi3、 要制造直径16nmi 的螺栓,要求整个截面上具有良好的综合机械性能,应选用(c )(a ) 45钢经正火处理 (b ) 60Si2Mn 经淬火和中温回火(c ) 40Cr 钢经调质处理 4、 制造手用锯条应当选用(a )(a ) T12钢经淬火和低温回火 (b ) Crl2Mo 钢经淬火和低温回火(c ) 65钢淬火后中温回火5、 高速钢的红硬性取决于(b )(a )马氏体的多少(b )淬火加热时溶入奥氏体中的合金元素的量(c )钢中的碳含量 6、 汽车、拖拉机的齿轮要求表面高耐磨性,中心有良好的强韧性,应选用(c )(b ) 40Cr 淬火后高温回火 (c ) 20CrMnTi 渗碳淬火后低温回火7、 65、65Mn 、50CrV 等属于哪类钢,其热处理特点是(c )(a )工具钢,淬火+低温回火 (b )轴承钢,渗碳+淬火+低温回火(c )弹簧钢,淬火+中温回火 8、 二次硬化属于(d )(a )固溶强化 (b )细晶强化 (c )位错强化 (d )第二相强化9、 lCrl8Ni9Ti 奥氏体型不锈钢,进行固溶处理的目的是(b )(a ) 获得单一的马氏体组织,提高硬度和耐磨性 (b )获得单一的奥氏体组织,提高抗腐蚀性,防止晶间腐蚀(c )降低硬度,便于切削加工10、 推土机铲和坦克履带板受到严重的磨损及强烈冲击,应选择用(b )(a ) 20Cr 渗碳淬火后低温回火 (b ) ZGMnl3—3经水韧处理(c ) W18Cr4V 淬 火后低温回火11、 位错是一种 ____ 。
材料测试方法智慧树知到课后章节答案2023年下江苏大学

材料测试方法智慧树知到课后章节答案2023年下江苏大学江苏大学第一章测试1.点阵参数精确测定时,应尽可能选取高角度的衍射线。
答案:对2.材料的内应力分为三类,X射线衍射方法可以测定答案:第一类应力(宏观应力)3.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生答案:光电子;二次荧光;俄歇电子4.在衍射仪的光学布置中,梭拉狭缝由一组平行的金属薄片组成,其作用是限制射线在竖直方向的发散度对5.理论上X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相,而定量分析可以告诉我们这些物相的含量有多少。
答案:对第二章测试1.闪烁体计数器探测信号是基于信号作用于闪烁体产生光、所产生的光作用于光敏阴极而产生电信号来实现探测的。
答案:对2.对于给定原子,其Kα线的波长比Kβ线波长短。
答案:错3.下列哪些信号可通过电子束与固体物质作用产生?背散射电子;特征X射线;二次电子;俄歇电子4.电磁透镜可用于()的聚焦。
答案:电子束5.假设电子从灯丝上逸出时的能量为0,请问在加速电压为10000V时电子最终的能量大约是多少?答案:10000eV第三章测试1.X射线衍射法测定结晶度是通过测定样品中晶相与非晶相的衍射方位来实现的答案:错2.非晶物质的衍射图由少数漫散峰组成对3.脉冲高度分析器可以剔除那些对衍射分析不需要的干扰脉冲,从而达到降低背底和提高峰背比的作用答案:对4.X射线衍射方法有哪些?答案:劳埃法;周转晶体法;粉末法5.X射线衍射仪常规测量中衍射强度的测量方法有哪些?答案:步进扫描;连续扫描6.德拜相机底片安装方法有哪些?答案:正装法;反装法;偏装法第四章测试1.电子衍射与X射线衍射均是以满足______作为产生衍射的必要条件。
答案:null2.用爱瓦尔德球图解说明电子衍射过程中,以下错误的是()。
答案:k是衍射波的波矢量3.关于电子衍射与X射线衍射的说法,以下正确的是()。
材料测试答案1(1)
1.名词解释:相干散射(汤姆逊散射):入射线光子与原子内受核束缚较紧的电子(如内层电子)发生弹性碰撞作用,仅其运动方向改变而没有能量改变的散射。
又称弹性散射;不相干散射(康普顿散射):入射线光子与原子内受核束缚较弱的电子(如外层电子)或晶体中自由电子发生非弹性碰撞作用,在光子运动方向改变的同时有能量损失的散射。
又称非弹性散射;荧光辐射:物质微粒受电磁辐射激发(光致激发)后辐射跃迁发射的光子(二次光子)称为荧光或磷光,吸收一次光子与发射二次光子之间延误时间很短(10-8~10-4s)称荧光,延误时间较长(10-4~10s)则为磷光;(有待确定)俄歇效应:如原子的退激发不以发射X射线的方式进行则将以发射俄歇电子的德方式进行,此过程称俄歇过程或俄歇效应;吸收限:当入射X射线光子能量达到某一阈值可击出物质原子内层电子时,产生光电效应。
与此能量阈值相应的波长称为物质的吸收限。
晶面指数与晶向指数:为了表示晶向和晶面的空间取向(方位),采用统一的标识,称为晶向指数和晶面指数;晶带:晶体中平行于同一晶向的所有晶面的总体干涉面:晶面间距为d HKL/n、干涉指数为nh、 nk、 nl的假想晶面称为干涉面X射线散射:X射线衍射:X射线反射:结构因子:晶胞沿(HKL)面反射方向的散射波即衍射波F HKL是晶胞所含各原子相应方向上散射波的合成波,表征了晶胞的衍射强度;多重因子:通常将同一晶面族中等同晶面组数P称为衍射强度的多重性因数。
罗仑兹因子:系统消光:因︱F︱2=0而使衍射线消失的现象称为系统消光。
2.讨论下列各组概念中二者之间的关系:1)同一物质的吸收谱和发射谱;答:当构成物质的分子或原子受到激发而发光,产生的光谱称为发射光谱,发射光谱的谱线与组成物质的元素及其外围电子的结构有关。
吸收光谱是指光通过物质被吸收后的光谱,吸收光谱则决定于物质的化学结构,与分子中的双键有关。
2)X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。
材料性能学答案-最新整理版(1)
共 4 页 第 页1. 通过静载拉伸实验可以测定材料的 弹性极限、屈服极限、 抗拉强度、断裂强度、比例极限等(答对3个即可)强度指标,及 延伸率 、 断面收缩率 等塑性指标。
2.按照断裂中材料的宏观塑性变形程度,断裂可分为脆性断裂和韧性断裂;按照晶体材料断裂时裂纹扩展的途径(断裂方式),可分为穿晶断裂和沿晶断裂;按照微观断裂机理,可分为解理断裂和剪切断裂3. 单向拉伸条件下的应力状态系数为 0.5 ;而扭转和单向压缩下的应力状态系数分别为 0.8 和 2.0 。
应力状态系数越大,材料越容易产生 (塑性) 断裂。
为测量脆性材料的塑性,长采用压缩的试验方法4.在扭转试验中,塑性材料的断裂面与试样轴线 垂直 ;脆性材料的断裂面与试样轴线 成450角。
5. 低温脆性常发生在具有 体心立方或密排六方 结构的金属及合金中,而在 面心立方 结构的金属及合金中很少发现。
6. 材料截面上缺口的存在,使得缺口根部产生 应力集中 和 双(三)向应力或应力状态改变 ,试样的屈服强度 不变,塑性 降低 。
7.根据磨损面损伤和破坏形式(磨损机理),磨损可分为4类:粘着磨损、磨料磨损、腐蚀磨损和麻点疲劳磨损(接触疲劳)8.典型的疲劳断口有3个特征区:疲劳源、疲劳裂纹扩展区和瞬断区。
疲劳裂纹扩展区最典型的特征是贝纹线9. 在典型金属与陶瓷材料的蠕变曲线上,蠕变过程常由 减速蠕变 ,恒速蠕变 和 加速蠕变 三个阶段组成。
10.根据材料磁化后对磁场所产生的影响,可以把材料分为3类:抗磁性材料、顺磁性材料和铁磁性材料11.一般情况下,温度升高,金属材料的屈服强度下降;应变速率越大,金属材料的屈服应力越高。
12.温度对金属材料的力学性能影响很大,在高温下材料易发生沿晶断裂。
13. 拉伸试样的直径一定,标距越长则测出的断后伸长率会越小14.宏观断口一般呈杯锥装,由纤维区、放射区和剪切唇3个区域组成。
材料强度越高,塑性降低,则放射区比例增大。
期末考试卷:现代材料测试分析与答案
期末考试卷:现代材料测试分析与答案第一部分:选择题1. 现代材料测试的目的是什么?- (A) 确定材料的性能和质量- (B) 提高材料生产效率- (C) 减少材料成本- (D) 扩大材料市场份额2. 下列哪种测试方法适合用于测量材料的硬度?- (A) 扫描电子显微镜(SEM)- (B) 热分析仪(TA)- (C) 冲击试验机- (D) 压痕硬度计3. 现代材料测试中,以下哪种测试方法可以用于分析材料的化学成分?- (A) 电子万能试验机- (B) X射线衍射仪(XRD)- (C) 热膨胀仪- (D) 电子探针显微镜(EPMA)4. 现代材料测试中,下列哪个测试方法适合用于测量材料的电学性能?- (A) 热分析仪(TA)- (B) 磁力显微镜- (C) 电子万能试验机- (D) 电阻计5. 现代材料测试中,以下哪种测试方法可以用于测量材料的疲劳寿命?- (A) 冲击试验机- (B) 热分析仪(TA)- (C) 电子探针显微镜(EPMA)- (D) 疲劳试验机第二部分:简答题1. 请简要说明现代材料测试的重要性和应用领域。
现代材料测试的重要性在于帮助确定材料的性能和质量,以确保材料符合设计和生产要求。
它在各个领域都有广泛的应用,例如材料科学、工程、制造业等。
通过测试,可以评估材料的力学性能、耐热性、耐腐蚀性等关键特性,从而指导材料的选择、设计和优化。
2. 请简要介绍现代材料测试中常用的非破坏性测试方法。
非破坏性测试是指在不破坏材料完整性的情况下,对材料进行性能评估和分析的方法。
常用的非破坏性测试方法包括超声波检测、X射线检测、磁粉检测、涡流检测等。
这些方法能够通过对材料的声波、电磁波等进行检测和分析,评估材料的内部缺陷、组织结构等特征。
3. 请简要说明现代材料测试中的质量控制和质量保证的概念和作用。
质量控制是指通过对材料进行测试和监控,以确保材料符合规定的质量要求。
它涉及到从材料采购、加工、生产到最终产品的全过程控制。
材料力学实验训练题1答案(机测部分100题)
填空题1. 对于铸铁试样,拉伸破坏发生在横截面上,是由最大拉应力造成的。
压缩破坏发生在50-55度斜截面上,是由最大切应力造成的。
扭转破坏发生在45度螺旋面上,是由最大拉应力造成的。
2. 下屈服点s sl是屈服阶段中,不计初始瞬时效应时的最小应力。
3. 灰口铸铁在拉伸时,从很低的应力开始就不是直线,且没有屈服阶段、强化阶段和局部变形阶段,因此,在工程计算中,通常取总应变为%时应力一应变曲线的割线斜率来确定其弹性模量,称为割线弹性模量。
4. 在对试样施加轴向拉力,使之达到强化阶段,然后卸载至零,再加载时,试样在线弹性范围内所能承受的最大载荷将增大。
这一现象称为材料的冷作硬化。
5. 在长期高温条件下,受恒定载荷作用时材料发生蠕变和松驰现象。
6. 低碳钢抗拉能力大于抗剪能力。
7. 铸铁钢抗拉能力小于—抗剪能力。
8. 铸铁压缩受最大切应力破坏。
9. 压缩实验时,试件两端面涂油的目的是减少摩擦;低碳钢压缩后成鼓形的原因:两端面有摩擦。
10. 颈缩阶段中应力应变曲线下降的原因—此应力为名义应力,真实应力是增加的。
11. 已知某低碳钢材料的屈服极限为s,单向受拉,在力F作用下,横截面上的轴向线应变为1,正应力为,且s;当拉力F卸去后,横截面上轴向线应变为2。
问此低碳钢的弹性模量E是多少()1 212. 在材料的拉伸试验中,对于没有明显的屈服阶段的材料,以_ 产生%塑性变形时对应的应力作为屈服极限。
13. 试列举出三种应力或应变测试方法:机测法、电测法、光测法。
度最好的是杆 1 ,强度最好的是杆 218.通常对标准差进行点估计的方法有 高斯法和贝塞尔法等。
19•在拉伸和压缩实验中,测量试样的直径时要求在一个截面上交叉 90度测取两次是为了 消除试样的(椭圆化)。
而在三个截面平均直径中取其最小值的意义是( 正应力最大点为 危险点)。
20.在拉伸实验中引起低碳钢断裂的主要原因是 (最大切应力引起塑性屈服 )而引起铸铁断 裂的主要原因是(最大拉应力引起脆性断裂 ),这说明低碳钢的(抗拉)能力大于(抗剪 能 力 )。
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1.名词解释:相干散射(汤姆逊散射):入射线光子与原子内受核束缚较紧的电子(如内层电子)发生弹性碰撞作用,仅其运动方向改变而没有能量改变的散射。
又称弹性散射;不相干散射(康普顿散射):入射线光子与原子内受核束缚较弱的电子(如外层电子)或晶体中自由电子发生非弹性碰撞作用,在光子运动方向改变的同时有能量损失的散射。
又称非弹性散射;荧光辐射:物质微粒受电磁辐射激发(光致激发)后辐射跃迁发射的光子(二次光子)称为荧光或磷光,吸收一次光子与发射二次光子之间延误时间很短(10-8~10-4s)称荧光,延误时间较长(10-4~10s)则为磷光;(有待确定)俄歇效应:如原子的退激发不以发射X射线的方式进行则将以发射俄歇电子的德方式进行,此过程称俄歇过程或俄歇效应;吸收限:当入射X射线光子能量达到某一阈值可击出物质原子内层电子时,产生光电效应。
与此能量阈值相应的波长称为物质的吸收限。
晶面指数与晶向指数:为了表示晶向和晶面的空间取向(方位),采用统一的标识,称为晶向指数和晶面指数;晶带:晶体中平行于同一晶向的所有晶面的总体干涉面:晶面间距为d HKL/n、干涉指数为nh、 nk、 nl的假想晶面称为干涉面X射线散射:X射线衍射:X射线反射:结构因子:晶胞沿(HKL)面反射方向的散射波即衍射波F HKL是晶胞所含各原子相应方向上散射波的合成波,表征了晶胞的衍射强度;多重因子:通常将同一晶面族中等同晶面组数P称为衍射强度的多重性因数。
罗仑兹因子:系统消光:因︱F︱2=0而使衍射线消失的现象称为系统消光。
2.讨论下列各组概念中二者之间的关系:1)同一物质的吸收谱和发射谱;答:当构成物质的分子或原子受到激发而发光,产生的光谱称为发射光谱,发射光谱的谱线与组成物质的元素及其外围电子的结构有关。
吸收光谱是指光通过物质被吸收后的光谱,吸收光谱则决定于物质的化学结构,与分子中的双键有关。
2)X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。
答:可以选择λK刚好位于辐射源的Kα和Kβ之间的金属薄片作为滤光片,放在X射线源和试样之间。
这时滤光片对Kβ射线强烈吸收,而对Kα吸收却少。
3.X射线的本质是什么?答:X射线是一种电磁波,有明显的波粒二象性。
4.如何选用滤波片的材料?如何选用X射线管的材料?答:选择λK刚好位于辐射源的Kα和Kβ之间的金属薄片作为滤光片,滤波片是根据靶元素确定的。
经验规律:当靶固定后应满足当Z靶<40时,则Z片=Z靶–1;当Z靶≥40时,则Z片=Z靶–2;若试样的K系吸收限为λK,应选择靶的Kα波长稍大于并尽量靠近λK,这样不产生荧光,并且吸收又最小。
经验公式:Z靶≤Z试样+1。
5.实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么?已知一个以Fe为主要成分的样品,试选择合适的X射线管和合适的滤波片。
答:实验中选择X射线管的原则是为避免或减少产生荧光辐射,应当避免使用比样品中主元素的原子序数大2~6(尤其是2)的材料作靶材的X射线管。
选择滤波片的原则是X射线分析中,在X射线管与样品之间一个滤波片,以滤掉Kβ线。
滤波片的材料依靶的材料而定,一般采用比靶材的原子序数小1或2的材料。
以分析以铁为主的样品,应该选用Co或Fe靶的X射线管,同时选用Fe和Mn为滤波片。
6.试画出下列晶向及晶面(均属立方晶系):[111],[121],[21],(00),[110],(123),(21)。
答:(晶面),[晶向],图见书16页7.下面是某立方晶系物质的几个晶面,试将它们的面间距从大到小按次序重新排列:(12),(100),(200),(11),(121),(111),(10),(220),(130),(030),(21),(110)。
答:,它们的面间距从大到小按次序是:(100)、(110)、(111)、(200)、(-210)、(121)、(220)、(2-21)、(030)、(130)、(-311)、(12-3)。
8.证明()、()、()晶面属于[111]晶带。
答:已知一个晶面(hkl) 和它所属的晶带[uvw],根据解析几何中直线与平面的关系,从很容易得到二者之间的关系:hu+kv+lw=0通常把这个关系式称为晶带定律。
9.判别下列哪些晶面属于[11]晶带:(0),(1),(231),(211),(01),(13),(12),(12),(01),(212)。
答:公式如8题。
10.晶面(110)、(311)、(132)是否属于同一晶带?晶带轴是什么?再指出属于这个晶带的其他几个晶面。
答:公式如8题,貌似题目有问题11.试计算(11)及(2)的共同晶带轴。
答:公式如8题,[112]12.试述布拉格公式2dHKLsinθ=λ中各参数的含义,以及该公式有哪些应用?答:d HKL表示HKL晶面的面间间距,θ角表示掠过角或布拉格角,即入射X射线或衍射线与面间间的夹角,λ表示入射X射线的波长。
该公式有二个方面用途:(1)已知晶体的d值。
通过测量θ,求特征X射线的λ,并通过λ判断产生特征X射线的元素。
这主要应用于X射线荧光光谱仪和电子探针中。
(2)已知入射X射线的波长,通过测量θ,求晶面间距。
并通过晶面间距,测定晶体结构或进行物相分析。
13.当波长为λ的X射线在晶体上发生衍射时,相邻两个(hkl)晶面衍射线的波程差是多少?相邻两个HKL干涉面的波程差又是多少?答:当波长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射,相邻两个(hkl)晶面的波程差是nλ,相邻两个(HKL)晶面的波程差是λ14.“一束X射线照射一个原子列(一维晶体),只有镜面反射方向上才有可能产生衍射线”,此种说法是否正确?答:不正确,因为一束X射线照射一个原子列上,原子列上每个原子受迫都会形成新的X射线源向四周发射与入射光波长一致的新的X射线,只要符合光的干涉三个条件(光程差是波长的整数倍),不同点光源间发出的X射线都可产生干涉和衍射。
镜面反射,其光程差为零,是特殊情况。
15.α-Fe属立方晶系,点阵参数a=0.2866nm。
如用CrKαX射线(λ=0.2291nm)照射,试求(110)、(200)及(211)可发生衍射的掠射角。
答:,2d HKL sinθ=λ,得θ16.原子散射因数的物理意义是什么?某元素的原子散射因数与其原子序数有何关系?答:原子散射因数f 是以一个电子散射波的振幅为度量单位的一个原子散射波的振幅。
也称原子散射波振幅。
它表示一个原子在某一方向上散射波的振幅是一个电子在相同条件下散射波振幅的f倍。
它反映了原子将X射线向某一个方向散射时的散射效率。
原子散射因数与其原子序数有何关系,Z越大,f 越大。
因此,重原子对X射线散射的能力比轻原子要强。
17.总结简单点阵、体心点阵和面心点阵衍射线的系统消光规律。
答:简单点阵不存在系统消光,体心点阵衍射线的系统消光规律是(h+k+l)偶数时出现反射,(h+k+l)奇数时消光。
面心点阵衍射线的系统消光规律是h,k,l 全奇或全偶出现反射,h,k,l 有奇有偶时消光。
18.洛伦兹因数是表示什么对衍射强度的影响?其表达式是综合了哪几个方面考虑而得出的?答:罗仑兹因数是三种几何因子对衍射强度的影响,第一种几何因子表示衍射的晶粒大小对衍射强度的影响,罗仑兹第二种几何因子表示晶粒数目对衍射强度的影响,罗仑兹第三种几何因子表示衍射线位置对衍射强度的影响。
19.试述衍射强度公式中各参数的含义?答:X 射线衍射强度的公式式中各参数的含义是:I 0为入射X 射线的强度;λ为入射X 射线的波长;R 为试样到观测点之间的距离;V 为被照射晶体的体积;V c 为单位晶胞体积;P 为多重性因子,表示等晶面个数对衍射强度的影响因子;F 为结构因子,反映晶体结构中原子位置、种类和个数对晶面的影响因子;A(θ)为吸收因子,圆筒状试样的吸收因子与布拉格角、试样的线吸收系数μl 和试样圆柱体的半径有关;平板状试样吸收因子与μ有关,而与θ角无关。
φ(θ)为角因子,反映样品中参与衍射的晶粒大小,晶粒数目和衍射线位置对衍射强度的影响;e -2M 为温度因子20.某斜方晶体晶胞含有两个同类原子,坐标位置分别为:(,,1)和(,, ),该晶体属何种布拉菲点阵?写出该晶体(100)、(110)、(211)、(221)等晶面反射线F 2值。
答:F=fe 2PI i (3/4H+3/4K+L )+fe 2PI i (1/4H+1/4K+1/2L )(100),F=0, F 2=0;(110),F=-2f, F 2=4f 2;(211),F=2f, F 2=4f 2;(221),F=0, F 2=021.说明原子散射因子、结构因子F 、结构振幅各自的物理意义。
答:原子散射因子:原子散射振幅与电子散射波振幅之比f=E_a/E_e结构因子:晶胞所含个原子相应方向上散射波的合成波。
结构振幅:晶胞散射波幅和电子散射波幅振幅之比│F│=E_b/E_e干涉函数:小晶体散射波强度与晶胞散射波强度之比│G│^2=I_m/I_b22.金刚石晶体属面心立方点阵,每个晶胞含8个原子,坐标为:(0,0,0)、(,,0)、(,0,)、(0,,)、(,,)、(,,)、(,,)、(,,)原子散射因子a ,求其系统消光规律(F 2最简表达式),并据此说明结构消光的概念。
答: = 21)(222][)l k h (∑=++⋅=n j lz ky hx i j j j j e f F π22c s F F ⋅式中|Fs|为晶体点阵中各结点的结构振幅,|Fc| 为晶胞的结构振幅。
由上式可知,|Fs|2=0 或|Fc|2=0均可使|F(hkl)|2=0,从而使上式晶体衍射线强度I c为零,这种满足布喇格方程条件但衍射线强度为零的现象称之为消光。
晶体所属的点阵类型不同,使|F c|2=0的h、k、l指数规律不同。
点阵相同,结构不同的晶体,|F c|2=0的指数规律相同,但|F s|2=0的指数规律不同,所以,称|F c|2=0的条件为点阵消光条件;|F(hkl)|2=0的条件为结构消光条件。
实际晶体中,位于阵点上的结构基元若非由一个原子组成,则结构基元内各原子散射波间相互干涉也可能产生F2=0的现象。
此种在点阵消光的基础上,因结构基元内原子位置不同而进一步产生的附加消光现象,称为结构消光(补充)。
23.“衍射线在空间的方位仅取决于晶胞的形状与大小,而与晶胞中的原子位置无关;衍射线的强度则仅取决于晶胞中原子位置,而与晶胞形状及大小无关”,此种说法是否正确?答:衍射线在空间的方位主要取决于晶体的面间间距,或者晶胞的大小。
衍射线的强度主要取决于晶体中原子的种类和它们在晶胞中的相对位置。
(有待补充)24.用单色X射线照射圆柱多晶体试样,其衍射线在空间将形成什么图案?为摄取德拜图相,应当采用什么样的底片去记录?答:用单色X射线照射圆柱多晶体试样,其衍射线在空间将形成一组锥心角不等的圆锥组成的图案;为摄取德拜图相,应当采用带状的照相底片去记录。