第三章 X射线衍射原理
X射线晶体学(第三章)

Ee 0
kr
f是k的函数,而 k 4 sin ,所以是 sin
的函数
右图是f与 sin 的
关系曲线,各元素的原 子散射因子可从书后附 录中查出。
.
§3-5 晶胞对X射线的散射
一、系统消光 假设一束单色X射线以θ
角投射到简单立方晶胞的 (001)面上产生衍射时,11′ 和22′之间的光程差为一个 波长的整数倍(假设为1倍), 所以1′和2′是同位相的, 为干涉加强,如图(a)。
.
二、厄瓦尔德图解 1、衍射矢量三角形
由 衍s射、矢量s 0 方和程的s图解s表0达形g式是三
个矢量构成的等腰矢量三角形, 它表明了入射线方向、衍射线方 向和倒易矢量之间的几何关系。
.
2、厄瓦尔德图解法的依据
当一束X射线以一定的角度投射到晶体上时,可 能会有若干个晶面族满足衍射条件,在若干个方向
第三章 X射线衍射理论
.
当X射线光子投射到试样上,对于被原子核束缚 得较紧的电子而言,将在入射波的电磁场作用下 作受迫振动,并成为新的电磁波源,向四周发射 出与入射线相同频率的电磁波,而且这些电磁波 互相干涉,被称之为相干散射波。
晶体中每个原子都是这样的相干散射波波源。 这些相干波相互干涉的结果,在空间的某些方向 上各波始终是互相加强的,而在另一些方向上各 波互相抵消。这样,一束X射线照射到试样上,不 仅在直射方向有X射线,而在某些特定方向(始终 加强的方向)也可能有X射线,把这种现象称为X 射线在晶体上的衍射现象,特定方向的X射线称为 衍射X射线,简称为衍射线。
si2n4a22 H2K2L2
而四方晶系为 sin242H2a2K2 cL22
可见。对不同晶系,或同一晶系而晶胞大小不同 的晶体,其衍射花样是不同的,所以说,布拉格方 程可以反映出晶体结构中晶胞大小及形状的变化。
材料科学研究方法 第三章 X射线衍射方法

根据衍射几何关系,偏 装法固定了两个圆孔位 置后就能求出相机的真 实圆周长度。 由图可见, C有效 = A+B=2π R, 其中R就是真实半径。 则: 2L 4R 4 = C有效 2R 2 偏装法可以消除底片收缩、试样偏心、相机直径不准等 造成的误差。
德拜法的试样制备
首先,试样必须具有代表性;其次试样粉末尺寸大小要 适中(250-300目),第三是试样粉末不能存在应力 脆性材料可以用碾压或用研钵研磨的方法获取;对于塑 性材料(如金属、合金等)可以用锉刀锉出碎屑粉末 德拜法中的试样尺寸为φ 0.4-0.8×5-10mm的圆柱样品。 制备方法有: (1)用细玻璃丝涂上胶水后,捻动玻璃丝粘结粉末。(2) 将粉末填入石英毛细管或玻璃毛细管中即制成试样。或 用胶水将粉末调成糊状注入毛细管中,从一端挤出2-3mm 长作为试样。 (3)直接用金属丝作试样
X射线衍射仪
布鲁克公司生产的D8X射线衍射仪
控制及数据收集计算机
3.2.1 测角仪:核心部件
1. 测角仪的构造:
测角仪圆中心是样品台 H。样品台可以绕中心O 轴转动。平板状粉末多 晶样品安放在样品台H 上,并保证试样被照射 的表面与O轴线严格重 合。 测角仪圆周上安装有X 射线辐射探测器D,探 测器亦可以绕O轴线转 动。 工作时,探测器与试样 同时转动,但转动的角 速度为2:1的比例关系 (θ~2θ连动)。
3. 测角仪的光路布置
线状焦点 S 的长边方向与测角仪中心 轴平行,采用联合光阑(窄缝光阑a +梭拉光阑S1)控制X 射线在两个方 向上的发散。
窄缝光阑 a:控制与测角仪平面平行方向的发散度。 梭拉光阑 S1:由一组互相平行、间隔很密的重金属薄片组成 (长32mm, 薄片厚0.05mm,薄片间距0.43mm),用于 控制与测角仪平面垂直方 向的发散度。 窄缝光阑 b:控制试样上的照射面积。 狭缝光阑 F:控制衍射线进入计数器的辐射能量。
[]第三章X射线衍射原理
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M
反 射 面 法 线
N
要在散射方向互相加强,程差应该是波长的整数倍,因此 在晶体产生衍射的条件是:
2dsinθ=nλ
2dsinθ=nλ
这就是著名的布拉格方程,它表示不同晶 面的反射线若要加强,必要的条件是相邻 晶面反射线的程差为波长的整数倍。
式中的θ为入射线(或反射线)与晶面的夹 角,称为掠射角或者反射角;入射线与衍 射线之间的夹角为2θ,称为衍射角;d为晶 面间距,λ为X射线的波长,n为反射的级。
小结
劳埃方程是利用衍射几何原理,利用晶体在三维 空间中周期排列的特点推导出来的一组方程; 劳埃方程中只有三个未知量,但实质上它包括四 个方程式,因此一般情况下是无解的;这意味着当 用单色 X 射线照射不动的单晶体时,一般不可能获 得衍射; 获得衍射的方法有劳埃法、旋转晶体法和粉末法; 其中用劳埃方程组可以计算劳埃法获得的衍射花样, 但是不能确定衍射的级和衍射斑的强度。
晶体可以看成是由平行的原子面堆垛而成,所 以晶体的衍射线也应当是由这些原子面的衍射 线叠加而得。因此问题变为,晶体在某些方向 能否产生衍射,取决于处于反射面位置的晶面 能否使反射线方向的X射线互相加强的问题。
既然出现衍射时,一定会有一个实际存在的晶 面,正好处于入射线和反射线的反射平面位置; 那么反过来,当用单色X射线照射固定的单晶体 时,能不能产生衍射,取决于晶体中所有晶体 学平面在反射线位置能否加强,如果有加强的, 就有可能产生衍射(还要考虑消光)。 而对于某一个平面来讲,能否产生衍射,取决 于各层原子面在它的反射方向能否加强。
A
B
C M
D
N
E F
O
P
Q
原子面的入射束和反射束具有如下的特点: 同光程的入射束经原子面反射以后,仍然是同光程的; 晶体要在反射方向产生衍射,只需要相邻的两层原子面 中任意两支光线的程差等于X射线波长的整数倍即可。
X射线衍射分析原理及应用

X射线衍射分析原理及应用一、X射线衍射分析的原理X射线衍射的基本原理是当X射线入射到晶体表面时,由于晶体具有定向排列的原子或离子,X射线与晶体中的电子发生相互作用并散射,形成不同方向上的干涉条纹,通过测量和分析这些干涉条纹的位置和强度可以推断出晶体的结构特征。
具体来说,X射线衍射分析的原理可以归纳为以下几个方面:1. 布拉格法则:当入射角θ和出射角θ'满足布拉格方程nλ = 2d·sinθ,即入射的X射线与晶体晶面的倾角和衍射角满足特定的关系时,会发生衍射。
2.动态散射:在晶体中,入射的X射线会与晶格中的电子发生相互作用,散射成各个方向上的次级波,波的振动方向垂直于入射方向。
3.干涉:次级波在不同晶面的散射电子之间发生干涉,产生特定的干涉条纹。
4.衍射图样:干涉条纹的位置和形状与晶体的晶胞结构、晶面间距以及晶体取向有关,通过测量和分析衍射图样可以确定这些信息。
二、X射线衍射分析的应用1.晶体结构分析:通过在不同角度下测量样品的X射线衍射图样,可以推断出材料的晶体结构,包括晶胞参数、晶面间距、原子位置等信息。
这对于理解材料的物理、化学以及电子结构等性质非常重要。
2.晶体取向分析:X射线衍射分析可以用来确定晶体中不同晶向的取向分布,即晶体中晶面的取向。
这对于材料工艺和性能的控制具有重要意义,例如金属的冷轧、挤压等过程中,晶体的取向对材料的力学性能有很大影响。
3.晶体缺陷分析:晶体中存在着各种缺陷,如位错、晶界、析出相等。
通过观察和分析X射线衍射图样中的峰形和峰宽等信息,可以确定晶体的缺陷类型和含量,进而了解材料的机械、电学以及热学性质。
4.应力分析:在材料的变形过程中,晶体中会引入应力场。
应力会引起晶格的畸变,从而导致X射线衍射图样的形状和位置发生变化。
通过分析这些变化可以得到材料中的应力分布和大小,对于材料的力学性能的评估和优化具有重要意义。
总之,X射线衍射分析是一种非常重要的材料表征方法,可以提供丰富的关于晶体结构、晶胞参数、晶体取向以及晶体缺陷等信息。
第3节 X射线衍射原理

(a) 体心立方 a-Fe a=b=c=0.2866 nm
(b) 体心立方 W a=b=c=0.3165 nm
衢州学院化学与材料工程学院
Intensity (%) 100 90 80 70 60 50 40 30 20 10 0 35 40
1,1,0 (44.68,100.0)
b(cosβ2-cosα2)= Kλ 也可写成 a · ( S-S0)= Hλ b· ( S-S0)= Kλ
• 这表明构成平面的两列原子产生的衍射圆锥的交线才是衍射方向。
衢州学院化学与材料工程学院
• 三维劳厄方程——考虑三维晶体的衍射方向 劳厄方程 • 只有同时满 足三个方程 的方向上才 会出现衍射 a(cosβ1-cosα1)= Hλ b(cosβ2-cosα2)= Kλ c(cosβ3-cosα3)= Lλ 也可写成 a · (S -S0)= Hλ b· (S -S0)= Kλ c· (S -S0)= Lλ • 三个方向直线 点阵的衍射圆 锥交成衍射线 S ,衍射方向 由衍射指标 hkl表征。
任选两相邻面,反射线光程差
δ=ML+LN= 2dsinӨ 干涉一致加强的条件为: δ=nλ 即 2dsinӨ =nλ (布拉格方程)
式中:n-任意正整数,称反射级数。
布拉格方程 的导出
衢州学院化学与材料工程学院
布拉格方程( 2dsinӨ=nλ)的讨论
① 选择反射 • 衍射线的方向恰好是原子面 对入射线的反射,类似可见光镜 面反射的入射及反射束、反射 面法线均处于同一平面的特点。• 故借用镜面反射几何描述 X 射线 的衍射。
衢州学院化学与材料工程学院
衢州学院化学与材料工程学院
•
衍射方向理论小结
第三章 X射线衍射的基本原理

X射线衍射的基本原理
X射线的衍射实质上就是经过相互干涉而 加强的大量散射线所组成的射线 本章主要讨论内容: ⒈X射线衍射的条件? ⒉衍射线的方向? ⒊X射线衍射与晶体结构之间的关系?
§3-1 一个晶胞对X射线的散射
假设: ① 所研究的晶体是理想晶体,晶体内部没有任何缺陷或畸变. ② 不考虑温度的影响,晶体中各个原子均处于静止状态,没有热 运动. ③ 由于X射线的折射率近似等于1,可以认为X射线在传播时,光 程差等于程差. ④ 入射X射线是单色的严格平行的射线,不考虑X射线的吸收衰减 问题. ⑤ 晶体中各个原子的散射线不会再被其它原子散射. ⑥ 由于晶体的点阵常数都很小,在实验中,X射线源与试样的距离 和探测器与试样的距离相对于点阵常数均可视为无穷远.所以 衍射线和入射线相同,均是平行光.
n =1 n=2 n=3 M
λ
2d ( hkl )
θ1 θ2 θ3 M
θ3 θ2 θ3 θ2 θ1
θ1
d(hkl)
2
θ1
d (hkl ) n
sinθ = λ
θ1
θ2 θ2 θ3 θ3
d(hkl)/2 d(hkl)/1
2
r r r a(σ - σ 0 )
r r r b(σ - σ 0 )
r r r c(σ - σ 0 )
λ
从三维干涉函数中可以看出,一个单晶体的衍射线强度与衍射线的方向 有关,也与点阵常数,晶体大小有关. 如果认为,在B处接收的所接收到的散射线都是彼此加强的,强度取得最 大,则此时必须是分母为最小
r r r a (σ - σ 0 ) r r r b (σ - σ 0 ) r r r c (σ - σ 0 )
r* r r r G( HKL ) = Ha + Kb + Lc
材料研究方法-第三章X射线衍射分析

X射线衍射分析的优势和局限性
1 优势和应用价值
X射线衍射分析能够提供高分辨率的晶体结构信息,可用于研究材料相变、配位化学、催 化作用等领域。
2 局限性
X射线衍射分析只对晶体材料适用,对非晶态和纳米材料无法应用。
X射线衍射分析实例
1
研究锂离子电池电解质固体界面的晶体结构
Hale Waihona Puke 用单晶X射线衍射仪分析高效锂离子电解质与电极材料的交界面结构。
材料研究方法-第三章X射 线衍射分析
欢迎来到材料研究方法-第三章:X射线衍射分析。在这个演示中,我们将介 绍X射线衍射分析的原理、应用及其优势和局限性。让我们来探索这项有趣的 技术!
X射线衍射分析概述
定义和原理
X射线衍射分析是通过分析X射线穿过材料时的 衍射模式,探究材料的晶体结构和组成的技术。
仪器和设备
2
研究含铁亚铁酸盐的质子传导性质
通过Powder X射线衍射技术研究不同硅酸盐基质中铁亚铁酸盐的晶体结构和质 子导电机制。
3
研究金属氧化物的杂质掺杂过程
用Texture X射线衍射仪研究镉氧化物和钴氧化物的杂质掺杂过程,探究了掺杂 元素对材料结构的影响。
X射线衍射分析在材料研究领域中的应用
材料结构
材料相变
• 研究分子晶体的结构和 功能性固体材料的结构
• 探究半导体中的晶格畸变等
• 研究金属的相变和相变 动力学
• 分析材料在不同温度下 的相变特性
配位化学
• 研究金属络合物和配位 化合物的晶体结构和配
• 位探键究不同金属离子之间 的配位作用
新兴技术趋势-暴露在X射线下的人体结构
除了材料研究,X射线衍射技术还被应用于医学领域。最近,有研究者使用层析技术来分析复杂的人体结构, 如神经系统。这为神经疾病的诊断和治疗提供了新的思路。
x射线衍射 原理

x射线衍射原理x射线衍射是一种重要的物理现象,它在材料科学、结构分析和晶体学等领域具有广泛的应用。
本文将介绍x射线衍射的原理及其在科学研究和工程应用中的重要性。
一、x射线衍射的原理x射线衍射是指当x射线通过物质时,由于物质中的原子或分子对x 射线的散射作用,使得x射线在特定角度下发生衍射现象。
这种衍射现象是由于x射线与物质中的电子发生相互作用而产生的。
具体来说,当x射线通过物质时,它会与物质中的电子发生相互作用。
这种相互作用导致x射线的波长发生改变,从而使得x射线在特定角度下发生衍射。
根据衍射的特点,我们可以通过测量衍射角度和衍射强度来研究物质的结构和性质。
二、x射线衍射的应用1. 材料科学:x射线衍射在材料科学中具有重要的应用。
通过测量材料的衍射图样,可以确定材料的晶体结构、晶格常数和晶体缺陷等信息。
这对于材料的设计和性能优化非常关键。
2. 结构分析:x射线衍射在结构分析中也起着重要的作用。
通过测量物质的衍射图样,可以确定物质的分子结构、晶体结构和晶体取向等信息。
这对于研究分子和晶体的性质以及化学反应机理具有重要意义。
3. 晶体学:x射线衍射是研究晶体学的重要工具。
通过测量晶体的衍射图样,可以确定晶体的空间群、晶胞参数和晶体结构等信息。
这对于研究晶体的对称性和性质具有重要意义。
4. 工程应用:x射线衍射在工程领域也有广泛的应用。
例如,在材料加工过程中,通过测量材料的衍射图样,可以评估材料的晶粒尺寸和应力状态,从而指导工艺优化和质量控制。
三、x射线衍射的发展和挑战随着科学技术的不断发展,x射线衍射技术也在不断进步。
例如,近年来,高分辨率x射线衍射技术的发展使得我们能够更加准确地研究物质的微观结构和性质。
此外,结合计算模拟和数据处理技术,可以进一步提高衍射数据的分析和解释能力。
然而,x射线衍射技术也面临一些挑战。
例如,对于非晶态材料和纳米材料等复杂体系,衍射图样的解析和解释更加困难。
此外,x 射线衍射技术在实际应用中还存在成本高、设备复杂等问题,限制了其在一些领域的推广和应用。
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一、一个原子对X射线的散射
电子的散 射公式:
1 cos 2 2 e2 Ie I0 2 2 4 0 mRC
2
上式也适用于重粒子(例如质子或者原子核) 的散射,但由于质子质量是电子质量的1836倍, 代入上式可知其散射波的强度为电子散射波强 度的1/(1836)2 ,因而可以忽略不计。所以原子 对X射线的散射主要是电子的行为。
E E
X
E
P
E
E’
O 2θ
E// E//
E//
I I 0
e 4 0 mRC 2
2 2 2
2
e I I 0 cos 2 2 4 0 mRC 2
1 cos 2 2 e Ie I0 2 2 4 0 mRC
实际上原子中的电子是按电子云状态分布在核 外空间的,不同位置的电子散射波间存在周相 差。因为用于衍射分析的X射线波长与原子尺度 为同一数量级,这个周相差便不可忽略,它使 合成电子散射波的振幅减小。
在某方向上原子的散射波振幅与一个电子散射波 振幅的比值,用原子散射因数f表示。
一个原子相干散射波的振幅 Aa f = 一个电子相干散射波的振幅 Ae
E E
X
E
P
E
E’
O 2θ
E// E//
E//
实际应用的X射线一般不是偏振光。我们可以将 X射线的电场矢量(总是垂直于X射线传播方向) 分解成垂直于XOP平面和平行于XOP平面的分 量。容易理解:
2 2 E E; E E ; I 0 I 0 E E ; E 2 E 2 ; I I I0 2 I 2
晶体的衍射中,X射线主要是被电子散射;而 电子衍射时,原子核和核外电子同时对电子散 射;中子衍射时,主要是受到原子核的散射!
原子对X射线的散射主要取决于电子,如果一个 原子中的Z个电子都集中于一点,则各个电子的 散射波之间将不存在周相差。若以Ae 表示一个 电子散射波的振幅,则原子对X射线的散射波振 幅应为:Aa=ZAe,
fneiφn
FHKL
φn
φ
f1eiφ1
f2eiφ2 φ2
f3eiφ3 φ3
由欧拉公式: ei cos i sin 结构振幅可以展开成:
FHKL f j cos 2 ( HX j KY j LZ j ) i sin 2 ( HX j KY j LZ j )
2 2 j OA S S0 ) (
其Байду номын сангаас相差为:
j
在矢量方程的推导时我们已经指出,在满足布拉 格条件的衍射方向上,衍射矢量(S-S0)/λ等于与某 一实际晶体对应的倒易矢量 H*hkl。因此上面的周 相差可以写为:
j 2 ( X j a +Y j b Z j c)( H a* Kb* Lc* ) 2 ( HX j KY j LZ j )
自由电子对偏振化的X射线散射的强度公式:
e 2 Ie I0 sin 2 4 0 mRC
2 2
e: 电子的电荷;m:电子的质量;c:光速;
φ:散射方向与入射X射线电场矢量振动方向间 的夹角; ε0 :真空介电常数;R:与电子的距 离;I0:入射X射的强度; Ie:散射X射线的强度。
FHKL f j e
j 1 n i 2 ( HX j KY j LZ j )
1 ei ( H K L )
当H+K+L=奇数时,FHKL=0,点阵消光; 当H+K+L=偶数时,点阵不消光。
三、面心点阵(面心立方,面心正交)
面心点阵的四个阵点分别代表四组原子,如果第一 组中的某原子j的座标为(Xj ,Yj ,Zj),则其它各组 中的相应原子座标分别为: (Xj ,Yj+1/2 ,Zj+1/2); (Xj+1/2 ,Yj ,Zj+1/2); (Xj+1/2 ,Yj+1/2 ,Zj)。 所以结构振幅可以表示为:
j 1 n i j
引入一个反映晶胞散射能力的参量---结构振幅:
FHKL 一个晶胞所有原子的相干散射波振幅 Ab = 一个电子的相干散射波振幅 Ae
FHKL
因此结构振幅FHKL可 以表示成:
f
j 1
n
j
e
i j
FHKL
j 1
n
f je
i j
结构振幅的合成关系可以在复平面上表示。
如果晶胞内各原子在讨论的方向上的散射振幅 分别为f1Ae、f2Ae、 f3Ae …. fjAe .….. fnAe ,各原 子的散射波与入射波的周相差分别为φ1 、φ2 、 φ3…..φj……φn,则晶胞中所有原子的散射振幅的 合成就是一个晶胞的散射振幅Ab。
合成以后的晶胞散射振幅可以表示成:
Ab Ae f j e
FHKL f j e
j 1 n i 2 ( HX j KY j LZ j )
1 ei ( H K ) ei ( K L ) ei ( H L )
当H,K,L奇偶混杂时, FHKL=0,点阵消光; 当H,K,L全奇全偶时,点阵不消光。
中南大学 X射线衍射分析技术
X射线衍射强度
材料科学与工程学院 艾 延 龄 E-mail: ylai@
内容
4-1 单个电子与原子对X射线的散射 4-2 一个晶胞对X射线的散射 4-3 一个小晶体对X射线的散射
4-4 粉末多晶体的衍射强度
4-5 总结
一、一个电子对X射线的散射
小结
电子对X射线的散射可以由经典电磁波理论推导出来, 结果表明,电子对X射线的散射是有方向性的,在垂直于 X射线方向的强度只有沿X射线入射线方向强度的一半; 在某方向上原子对X射线的散射波振幅与一个电子对X 射线的振幅的比值,可以用原子散射因数来表示; f随 sinθ/λ增大而减小,只有在sinθ/λ=0处f的值才会等于Z, 在其它散射方向,总是f<Z。(θ是布拉格角或者掠射角); X射线的波长接近原子的吸收限时,X射线光子的能量 会与原子某一能级差接近,晶体会产生强烈的共振吸收, 从而引起显著的反常散射效应,f值显著减小,此时的原 子散射因数将变为:f-Δf。
2
2
e: 电子的电荷;m:电子的质量;c:光速; 2θ:入射X射线与散射X射线之间的夹角; ε0:真空介 电常数;R:与电子的距离;I0:入射X射的强度; Ie: 散射X射线的强度。
1 cos 2 2 2
称为偏振因数或极化因数;它表 明电子对X射线散射时,散射波 的强度在空间是有方向性的,
在垂直于X射线方向的强度只有沿X射线入射线 方向强度的一半。
因此对于简单点阵而言,我们总是认为所有的晶 面都能产生衍射。
二、体心点阵(体心正交,体心四方,体心立方) 体心点阵有两个阵点,每个阵点包含一组n个原 子的话,则单胞包含二组共2n个原子;若第一组 中的某原子j的座标为(Xj,Yj,Zj),则必有第二组的 一个座标为(Xj+1/2,Yj+1/2,Zj+1/2)的原子与之对 应,这时结构振幅可表示为:
j 1 n
晶胞的衍射强度正比于│FHKL │2,其值等于结构 振幅乘以其共轭复数:
FHKL FHKL F
n
2
* HKL
f j cos 2 HX j KY j LZ j j 1
n 2
2
f j sin 2 HX j KY j LX j j 1
简单点阵的晶胞只有一个阵点,如果每个阵点只 含一个原子,则可以用原子的散射因数f来计算结 构因数;如果每个阵点包含一组原子(假设为n 个),则结构因子应该这样计算:
FHKL
f
j 1
n
j
e
i 2 ( HX j KY j LZ j )
一般情况下,(HKL)晶面都不会消光,除非由于 某种对称性缘故,这一组原子的散射振幅对于某 些晶面互相抵消,但这一部分消光应该算作结构 消光,这部分内容将在随后讨论;在讨论点阵消 光时,我们总是认为上述振幅是非零的。
四、侧心点阵(侧心单斜、侧心正交)
(以A心点阵为例),侧心点阵中的2个阵点代 表2组原子,如果第一组中的某原子j的座标为 (Xj ,Yj ,Zj), 则另 一 组中 相 应的 原 子座 标为 (Xj ,Yj+1/2 ,Zj+1/2);所以结构振幅可以表示 为:
FHKL f j e
j 1 n i 2 ( HX j KY j LZ j )
电子在入射X射线电场矢量作用下会产生受迫振 动,获得变加速运动的电子,作为新的波源向 四周辐射与入射X射线同频率的电磁波。J.J 汤 姆逊根据经典电动力学推导出:一个电荷为e、 质量为m、的自由电子,在强度为I0且偏振化了 的X射线(电场矢量始终在一个方向振动)作用 下,在距电子的距离为R的地方,散射波的强度 可以表示如下:
1 ei ( K L )
当K+L=奇数时, FHKL=0,点阵消光;
当K+L=偶数时, 点阵不消光。
五、菱面体点阵(以六角座标表示时)
内容
4-1 单个电子与原子对X射线的散射 4-2 一个晶胞对X射线的散射 4-3 一个小晶体对X射线的散射
4-4 粉末多晶体的衍射强度
4-5 总结
简单点阵,由同一种原子组成,且每个晶胞只有一 个原子,这时一个晶胞的散射强度就相当于一个原 子的散射强度。复杂点阵可以被认为是几类等同点 分别构成的几个简单点阵穿插而成。由于各简单点 阵可能的衍射方向应该是完全相同的,所以复杂点 阵的衍射,便由各简单点阵相同方向的衍射线互相 干涉而决定,强度或者加强或者减弱,在某些特殊 的情况下,一些方向的布拉格衍射可能消失。由于 不同类的等同点原子在复杂点阵晶胞内各占一个, 考虑了晶胞内代表各类等同点的原子种类、位置对 衍射强度的影响,便会得到复杂结构晶体的衍射规 律和在特定方向的衍射强度。