现代测试技术复习试题

一、选择

1．把连续时间信号进行离散化时产生混迭的主要原因是（）

a.记录时间太长；

b.采样时间间隔太宽；

c.记录时间太短；

d. 采样时间间

隔太窄

2.下述参量的测量属于间接测量法的是（）

a.用天平测量物体质量；

b.用弹簧秤称物体重量；

c.声级计测声强级；

d.

线圈靶测速

3．磁感应测速传感器中的速度线圈之所以用两个线圈串联而成，其作用主要为（）

a.提高传感器的灵敏度及改善线性；

b. 提高传感器的灵敏度及改善频响特性；

c.改善传感器的频响特性及补偿永久磁铁在线圈铁心垂直方向上的微小跳动对

感应电动势的影响；

d.提高传感器的灵敏度及补偿永久磁铁在线圈铁心垂直方向上的微小跳动对感应电动势的影响；

4.表示随机信号中动态分量的统计常数是（）

a.均方值；

b.均值；

c.均方差；

d.概率密度函数

5．半导体应变片是根据（ d ）原理工作的。

a.电阻应变效应；

b.压电效应；

c.热阻效应；

d.压阻效应

6.压电式加速度计测量系统的工作频率下限取决于（）

a.压电测压传感器的力学系统的频率特性；

b.压电晶体的电路特性；

c.测量电路的时间常数；

d.放大器的时间常数τ

7．二阶系统中引入合适的阻尼率的目的是（）

a.使得系统输出值稳定；

b.使系统不共振；

c.获得较好的幅频、相频特性；

d.获得好的灵敏度

8．带通滤波器所起的作用是只允许（）通过。

a.低频信号；

b.高频信号；

c.某一频带的信号；

d.所有频率分量信号

9．压电加速度测量系统的工作频率下限取决于（）

a.加速度力学系统的频率特性；

b. 压电晶体的电路特性；

c. 测量电路的时间常数

10. 自相关函数是一个（）函数

a.奇函数；

b.偶函数；

c.非奇非偶函数；

d. 三角函数

11．在光作用下，使物体的内部产生定向电动势的现象，称（）效应。

a.内光电；

b.外光电；

c.热电；

d.阻挡层光电

12．（）传感器是根据敏感元件材料本身的物理性质变化而工作的。

a.差动变压器式；

b.变间隙电容式；

c.变阻器式；

d. 电压式

14．如果一信号的自相关函数R x(τ)是一定周期性不衰减，则说明该信号（） a.均值不为0； b.含周期分量； c.是各态历经的； d.是各态不历经的

15．用方程法求解回归直线时，误差最小的方法是（）

a.图解法；

b.最小二乘法；

c.分值法；

d.端点连线法

16．半导体电阻应变片在测量某一构件应变时，其电阻的相对变化主要是由（）引起。

a.半导体电阻率的变化；

b.半导体几何尺寸的变化；

c.贴片位置的温度变化；

d.供桥电源的变化

17．压电传感器特别适宜于测量（）

a. 静态量；

b. 准静态量；

c. 动态量；

d. 三者均可以

18．不失真测量的条件除要求测量系统幅频特性是常值外，其相频特性要求满足（）

a.相移与频率成正比;

b.常值相移 ;

c.任意相移 ;

d.无特殊要求

19．将时域信号进行时移，则该信号对应的频域信号将会产生（）

a.扩展；

b.压缩；

c.不变;

d.仅有相移

20．一般来说，测试系统的灵敏度越高，则其测量范围（）

a.越宽；

b.越窄；

c.不变；

d.无规律可寻

21.半导体应变片在测量某一构件应变时，其电阻相对变化是由（）来决定的

a.变形；

b.电阻率的变化；

c.弹性模量的变化；

d. 泊松比的变化

22．金属丝应变片在测量某一构件的应变时，其电阻的相对变化主要由（）引起的。

a.贴片位置的温度变化；

b.电阻丝几何尺寸的变化；

c.电阻材料的电阻率的变化

23. 用方程法求解回归直线时，误差最小的方法是（）

a.图解法；

b.最小二乘法；

c.分值法；

d.端点连线法

24．半导体电阻应变片在测量某一构件应变时，其电阻的相对变化主要是由（）引起。

a.半导体电阻率的变化；

b.半导体几何尺寸的变化；

c.贴片位置的温度变化；

d.供桥电源的变化

25.对连续时间信号进行离散采样时，若采样的时间区间不变，采样频率越高，（）。

a. 采样点数就越多；

b. 频域分辨率就越低；

c. 泄漏误差就越大；

d. 量化误差越小

26.压电式传感器与一般电压放大器连接使用时，中间要加一级前置放大器，其

主要作用是（）。

a. 获得高的放大倍数；

b. 实现高阻抗输入、低阻抗输出的变换；

c. 实现低阻抗输入、高阻抗输出的变换

27.典型二阶测量系统中追求合适阻尼率的目的是（）。

a使系统的输出信号不发生振荡；b.获得更宽的工作频带；

c. 获得更高的灵敏度

28.用压电式加速度计组成的测量系统其工作频带下限频率取决于（）。

a.加速度计的机械结构特性；

b. 压电晶体的压电系数；

c. 测量等效电路的时间常数

二、填空

1.测试系统由、、、

等部分组成。

2.按测量手段分类，可以将测量分为、、

三种

3.按测量方式分类，测量可分为、、

、四种。

4.按被测量的性质区分，测量过程分为：、、

、。

5.测量误差包括、、。

6.按信号源的输出波形划分，可以将信号源分为、

、、。

7.基波抑制法测量失真度的误差来源主要为：、、

。

8.测量波形偏离系统的方法主要有：和

。

9.数字电压表需用、、来全面反映其测量范围。