数字电子技术实验1-4要点

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数字电子技术试验

数字电子技术试验

实验二 三态门和OC门的研究
一、实验目的
(1) 熟悉两种特殊的门电路:三态门和OC门;
(2) 了解“总线”结构的工作原理。
二、实验原理
数字系统中,有时需把两个或两个以上集成逻辑门的输出端连接起来,完成一定的
辑 功 能 。 普 通 TTL门 电 路 的 输 出 端 是 不 允 许 直 接 连 接 的 。 图 2_1示 出 了 两 个 TTL门 输 出 短
低电平两种输出状态外,还有第三种输出状态——高阻态。处于高阻态时,电路与负载
之间相当于开路。图( a ) 是使能端高电平有效的三态与非门,当使能端EN =1时,电为正
常的工作状态,与普通的与非门一样,实现y =
;当EN =0时,为禁止工作
状态,y输出呈高阻状态。图(b)是使能端低电平有效的三态与非门,当
图3_2_7 三态门总线传输方式
表3_2_1 单向总线逻辑功能
表3_2_2 双向总线逻辑功能
三、预习要求 (1)根据设计任务的要求,画出逻辑电路图,并注明管脚号。 (2)拟出记录测量结果的表格。 (3)完成第七项中的思考题1、2、3。
四、实验内容图3_2_8 设计要求框图 1、用三态门实现三路信号分时传送的总线结构。框图如图3_2_8所示,功能如表 3_2_3所示。
Rc值 的 大 小 会 影 响 输 出 波 形 的 边 沿 时 间 , 在 工 作 速 度 较 高 时 ,Rc的 取 值 应 接 近
Rc(min)。
2.三态门
三态门,简称TSL(Three-state Logic)门,是在普通门电路的基础上,附加使能控和
控制电路构成的。图3_2_6所示为三态门的结构和逻辑符号。三态门除了通常的高电和
图1.2
表1.2

数字电子技术实验指导

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《数字电子技术基础》实验指导书广东海洋大学信息学院二0一五年二月目录实验一TTL集成与非门的逻辑功能与参数测试 (3)实验二74LS138译码器逻辑功能测试及应用 (7)实验三触发器逻辑功能测试及应用 (11)实验四计数器逻辑功能测试及应用 (14)附录《数字电子技术基础》实验报告的撰写格式与要求 (18)实验一TTL集成与非门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1.掌握TTL与非门逻辑功能;2.掌握TTL与非门逻辑功能和主要参数的测试方法。

二、实验内容及步骤被测与非门74LS20电路图如图1-1所示。

图1-11、检查集成门电路的好坏,将测试的逻辑值填入表1中。

表12、TTL与非门的主要参数测试:(1)低电平输出电源电流I CCL= 。

测试条件:VCC=5V,输入端悬空,输出空载,如图1-2(a)所示。

(2)高电平输出电源电流I CCH= 。

测试条件:VCC=5V,两输入端悬空,两输入端接地,输出空载,如图1-2(b)所示。

(3)低电平输入电流I IL= 。

测试条件:VCC=5V,被测输入端通过电流表接地,其余输入端悬空,输出空载,如图1-2(c)所示。

(4)高电平输入电流I IH= 免测(无微安表)。

测试条件:VCC =5V,被测输入端通过电流表接VCC,其余输入端接地,输出空载,如图1-2(d)所示,每个输入端都测一下。

图1-23、(1)测试与非门74LS20的输出端允许灌入的最大负载电流I OL=。

测试方法:如图1-3所示,V CC=5V,门的输入端全部悬空,输出端接灌电流负载R L,调节R L,使I OL增大,V OL随之增高,当V OL达到V OLm(0.4V)时的I OL就是允许灌入的最大负载电流。

图1-3(2)根据实验中测得的I OL 和I IL求出TTL与非门的扇出系数N O 。

4、TTL与非门电压传输特性:(1)按图1-4接线,调节电位器R,使V i从0V向高电平变化,逐点测量V i和V o的对应值,记入表2中。

数字电子技术实验指导书(答案) ppt课件

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用全加器构成的n位二进制加法器
图中A和B是用来相加的两n位输入信号,Cn-1, Sn-1,Sn-2,· · · · · · S2,S1,S0是它们的和。在该电路中 对A0和B0相加是用一个半加器,对其它位都用全加 器。如果需要串接这些电路以增加相加的位数,那么 它的第一级也必须是一个全加器。
(2)设计步骤
交叉口通行灯逻辑问题的实现
(a)东一西灯任何时候都是绿的条件 (1)C和D线均被占用; (2)没有发现车辆; (3)当A、B线没同的占用时,C或D任一条线被占用; (b)南一北灯任问时候都是绿的条件 (1)A和B线均被占用,而C和D线均未占用或只占用 一条 线; (2)当C和D均未被占用时,A或B任一条线被占用。
二 、 TTL、HC和HCT器件的电压传输特性
(一)、实验目的 1.掌握TTL、HCT和 HC器件的传输特性。 2.掌握万用表的使用方法。 (二)、实验所用器件 1.六反相器74LS04片 2.六反相器74HC04片 3.六反相器74HCT04片 (三)、实验内容 • 1.测试TTL器件74LS04一个非门的传输特性。 • 2.测试HC器件74HC04一个非门的传输特性。 • 3.测试HCT器件74HCT04一个非门的传输特性。
选通 选择线 S B B
X0 数据输出 数据输入 X1 图1.9实验逻辑电路
实验二 组合逻辑电路部件实验
实验目的: 掌握逻辑电路设计的基本方法 掌握EDA工具MAX-PlusII的原理图输 入方法 掌握MAX-PlusII的逻辑电路编译、 波形仿真的方法Leabharlann 组合逻辑电路部件实验实验内容
(一)逻辑单元电路的波形仿真
三、逻辑门控制电路
1.用与非门和异或门安装如图所示的电路。 检验它的真值表,说明其功能。

数字电子技术实验报告

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数字电子技术实验报告学号:姓名:班级:实验一组合逻辑电路分析一、实验用集成电路引脚图74LS00集成电路:74LS20集成电路:二、实验内容1.ABCD接逻辑开关,“1”表示高电平,“0”表示低电平。

电路图如下:A=B=C=D=1时(注:逻辑指示灯:灯亮表示“1”,灯不亮表示“0”。

)表格记录:结果分析:由表中结果可得该电路所实现功能的逻辑表达式为:F=AB+CD。

在multisim软件里运用逻辑分析仪分析,可得出同样结果:2.密码锁的开锁条件是:拨对密码,钥匙插入锁眼将电源接通,当两个条件同时满足时,开锁信号为”1”,将锁打开。

否则,报警信号为”1”,则接通警铃。

试分析密码锁的密码ABCD是什么?电路图如下:A=B=C=D=1时A=B= D=1,C=0时2.5 VA= D=1,B=C=0时记录表格:结果分析:由表可知,只有当A=D=1,B=C=0时,开锁灯亮;其它情况下,都是报警灯亮。

因此,可知开锁密码是1001。

三、实验体会与非门电路可以实现多种逻辑函数的功能模拟,在使用芯片LS7400和LS7420时,始终应该注意其14脚接高电平,8脚接地,否则与非门无法正常工作。

利用单刀双掷开关,可以实现输入端输入高/低电平的转换;利用LED灯可以指示输出端的高低电平。

实验二组合逻辑实验(一)半加器和全加器一、实验目的熟悉用门电路设计组合电路的原理和方法步骤。

二、预习内容1.预习用门电路设计组合逻辑电路的原理和方法步骤。

2.复习二进制数的运算。

①用与非门设计半加器的逻辑图。

②完成用异或门、与非门、与或非门设计全加器的逻辑图。

③完成用异或门设计的三变量判奇电路的原理图。

三、参考元件74LS283: 74LS00:74LS51: 74LS136:四、实验内容1.用与非门组成半加器,用异或门、与或非门、与非门组成全加器。

实验结果填入表中。

(1)与非门组成的半加器。

电路图如下(J1、J2分别代表Ai、Bi,图示为Ai、Bi分别取不同的电平时的仿真结果):2.5 V2.5 V2.5 V记录表格:(2)异或门、与或非门、与非门组成的全加器。

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实验一. 数字逻辑电路仪器仪表的使用与脉冲信号的测量一.实验目的1.学会数字电路实验装置的使用方法2.学会双综示波器的使用方法3.掌握脉冲信号的测量方法二. 预习要求1.认真阅读(数字电路实验须知)2.阅读数字逻辑电路实验常用基本仪器仪表的使用方法3.熟悉脉冲信号的参数三.主要仪器仪表、材料数字逻辑电路实验装置、双踪示波器、数字万用表、74LS04四.实验内容及步骤1.脉冲信号周期和幅值的测量将双综示波器的Y1输入连接1KHz、0.5V的测试方波信号,Y1置0.1V档、Y2置0.2V档。

调整示波器相应的开关和旋钮,在示波器上显示出稳定的Y1、Y2两路信号。

分别用示波器的0.1ms、0.5ms、1ms时间档测量及记录波形,填表1-1表1-11.直流电平测量(1)用示波器Y1输入端连接数字逻辑电路实验装置的逻辑电平,分别用0.5V、1V、2V、5V幅度档测量并记录,填表1-2表1-2(2) 用示波器Y1输入端连接数字逻辑电路实验装置的单脉冲,1V幅度档测量并记录,填表1-3。

表1-3(3) 用数字万用表的5V直流电压档分别测量并记录数字逻辑电路实验装置的单脉冲、逻辑电平信号,填表1-4。

表1-41.逻辑门电路传输延时时间t pd 的测量用反相器接图1,输入1MHz 方波信号,用双综示波器测试电路输入信号、输出信号的相位差,计算每个门的平均传输延时时间t pd 。

Vi Vo五.实验报告要求 1、实验目的2、实验仪器、仪表、材料3、电路原理图、制作测试数据表、画出波形图等4、回答问题:简述示波器和数字逻辑电路实验装置的功能和使用方法。

实验二.门电路逻辑功能及测试一.实验目的1.掌握门电路逻辑功能及测试方法2.熟悉数字电路实验装置的使用方法3.熟悉双踪示波器的使用方法 二.预习要求1.复习门电路工作原理及相应的逻辑表达式2.熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途3.了解双踪示波器和数字电路实验装置 三.实验仪器及材料1.数字电路实验装置2.双踪示波器3.数字万用表4.器件:74LS00 74LS86 74LS04 四.实验内容及步骤1.TTL 与非门逻辑功能测试(1)将74LS00插入面包板,按图1-1接线,输入端A 、B 接S1、S2电平开关的输入插口,输出端Y 接电平显示LED 的输入插口。

数字电子技术实验报告

数字电子技术实验报告

专业:班级:学号:姓名:指导教师:电气学院实验一集成门电路逻辑功能测试一、实验目的1. 验证常用集成门电路的逻辑功能;2. 熟悉各种门电路的逻辑符号;3. 熟悉TTL集成电路的特点,使用规则和使用方法。

二、实验设备及器件1. 数字电路实验箱2. 万用表3. 74LS00四2输入与非门 1片 74LS86四2输入异或门 1片74LS11三3输入与门 1片 74LS32四2输入或门 1片 74LS04反相器 1片三、实验原理集成逻辑门电路是最简单,最基本的数字集成元件,目前已有种类齐全集成门电路。

TTL集成电路由于工作速度高,输出幅度大,种类多,不宜损坏等特点而得到广泛使用,特别对学生进行实验论证,选用TTL电路较合适,因此这里使用了74LS系列的TTL成路,它的电源电压为5V+10%,逻辑高电平“1”时>2.4V,低电平“0”时<0.4V。

实验使用的集成电路都采用的是双列直插式封装形式,其管脚的识别方法为:将集成块的正面(印有集成电路型号标记面)对着使用者,集成电路上的标识凹口左,左下角第一脚为1脚,按逆时针方向顺序排布其管脚。

四、实验内容㈠根据接线图连接,测试各门电路逻辑功能1. 利用Multisim画出以74LS11为测试器件的与门逻辑功能仿真图如下按表1—1要求用开关改变输入端A,B,C的状态,借助指示灯观测各相应输出端F的状态,当电平指示灯亮时记为1,灭时记为0,把测试结果填入表1—1中。

表1-1 74LS11逻辑功能表输入状态输出状态A B C Y0 0 0 00 0 1 00 1 0 00 1 1 01 0 0 01 0 1 01 1 0 01 1 1 1悬空 1 1 1悬空0 0 02. 利用Multisim画出以74LS32为测试器件的或门逻辑功能仿真图如下按表1—2要求用开关改变输入端A,B的状态,借助指示灯观测各相应输出端F的状态,把测试结果填入表1—2中。

表1—2 74LS32逻辑功能表输入状态输出状态A B Y0 0 00 1 11 0 11 1 10 悬空 11 悬空 1悬空0 1悬空 1 1悬空悬空 13. 利用Multisim画出以74LS04为测试器件的非门逻辑功能仿真图如下按表1—3要求用开关改变电平开关的状态,借助指示灯观测各相应输出端F的状态,把测试结果填入表1—3中。

《数字电子技术》实验指导书

《数字电子技术》实验指导书

数字电子技术实验指导书电气与电子工程学院实验一门电路逻辑功能及测试一、实验目的1. 熟悉门电路逻辑功能2. 熟悉数字电路实验仪及示波器使用方法二、实验仪器及材料1. 双踪示波器2. 器件74LS00 二输入端四与非门 2片74LS20 四输入端双与非门 1片74LS86 二输入端四异或门 1 片三、实验内容1.测试门电路逻辑功能(1).选用双四输入与非门74LS20一只,插入14P锁& 紧插座上按图1.1接线、输入端接K1-K16(电平开关输出插口),输出端接电平显示发光二极管(L1-L16任意一个)(2).将电平开关按表1.1置位,分别测输出电压及逻辑状态。

表 1.1输出输出1 2 4 5 Y 电压(V)H H H HL H H HL L H HL L L HL L L L2.异或门逻辑功能测试(1).选二输入四异或门电路74LS86,按图1.2接线,输入端1、2、4、5接电平开关,输出端A、B、Y接电平显示发光二极管。

(2).将电平开关按表1.2置位拨动,将输出结果填入表中。

表 1.2输入输出A B Y Y电压L L L LH L L LH H L LH H H LH H H HL H L H3、逻辑电路的逻辑关系(1).用74LS00、按图1.3,1.4接线,将输入输出逻辑关系分别填入表1.3、表1.4中,表1.3输入输出A B YL LL HH LH H表1.4输入输出A B Y ZL LL HH LH H(2).写出上面两个电路逻辑表达式。

五、实验报告1.按各步骤要求填表并画逻辑图。

2.回答问题:(1)怎样判断门电路逻辑功能是否正常?(2)与非门一个输入接连续脉冲,其余端什么状态时允许脉冲通过?什么状态时禁止脉冲通过?(3)异或门又称可控反相门,为什么?实验二组合逻辑电路(半加器、全加器)一、实验目的1.掌握组合逻辑电路的功能测试。

2.验证半加器和全加器的逻辑功能。

3.学会二进制数的运算规律。

数电实验报告答案

数电实验报告答案

实验名称:数字电路基础实验实验目的:1. 熟悉数字电路的基本原理和基本分析方法。

2. 掌握数字电路实验设备的使用方法。

3. 培养动手实践能力和分析问题、解决问题的能力。

实验时间:2023年X月X日实验地点:实验室XX室实验仪器:1. 数字电路实验箱2. 万用表3. 双踪示波器4. 数字信号发生器5. 短路线实验内容:一、实验一:基本逻辑门电路实验1. 实验目的- 熟悉与门、或门、非门的基本原理和特性。

- 学习逻辑门电路的测试方法。

2. 实验步骤- 连接实验箱,设置输入端。

- 使用万用表测量输出端电压。

- 记录不同输入组合下的输出结果。

- 分析实验结果,验证逻辑门电路的特性。

3. 实验结果与分析- 实验结果与理论预期一致,验证了与门、或门、非门的基本原理。

- 通过实验,加深了对逻辑门电路特性的理解。

二、实验二:组合逻辑电路实验1. 实验目的- 理解组合逻辑电路的设计方法。

- 学习使用逻辑门电路实现组合逻辑电路。

2. 实验步骤- 根据设计要求,绘制组合逻辑电路图。

- 连接实验箱,设置输入端。

- 测量输出端电压。

- 记录不同输入组合下的输出结果。

- 分析实验结果,验证组合逻辑电路的功能。

3. 实验结果与分析- 实验结果符合设计要求,验证了组合逻辑电路的功能。

- 通过实验,掌握了组合逻辑电路的设计方法。

三、实验三:时序逻辑电路实验1. 实验目的- 理解时序逻辑电路的基本原理和特性。

- 学习使用触发器实现时序逻辑电路。

2. 实验步骤- 根据设计要求,绘制时序逻辑电路图。

- 连接实验箱,设置输入端和时钟信号。

- 使用示波器观察输出波形。

- 记录不同输入组合和时钟信号下的输出结果。

- 分析实验结果,验证时序逻辑电路的功能。

3. 实验结果与分析- 实验结果符合设计要求,验证了时序逻辑电路的功能。

- 通过实验,加深了对时序逻辑电路特性的理解。

四、实验四:数字电路仿真实验1. 实验目的- 学习使用数字电路仿真软件进行电路设计。

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第三部分:数字电子技术实验实验一晶体管开关特性限幅器与箝位器一、实验目的1、观察晶体管的开关特性,熟悉外电路参数对晶体管开关特性的影响。

2、掌握现现限幅器的基本工作原理。

3、掌握箝位器的基本工作原理。

二、实验原理1、二极管的开关过程是结电容充、放电和存贮电荷建立与消散的过程。

二级管的开启和关断不可能在瞬间完成。

如图3-1-1所示,当加在二级管上的电压突然由正向偏置变为反向偏置时,二级管的截止过程存在反向恢复时间t R=t S+t F,其中t S称为存贮时间,t F称为下降时间。

t S和t F值的大小取决于二级管的结构,同时也与外电路的参数有关。

二级管正向电流越大,t S值越大;所加截止偏压越大,t S值越小。

由于t R的存在,限制了开关速度的提高,所以应合理地选择电路元件参数以减小二极管的开关时间,限制了开关速度的提高,所以应合理地选择电路元件参数以减小二极管的开关时间,提高开关速度。

图3-1-1二级管开关特性图3-1-2晶体管开关特性1、晶体管的开关过程主要与晶体管内部存贮电荷(主要是基区存贮电荷)的建立和消散过程有关,因此晶体管从截止到饱和与从饱和到截止状态的转换都需要时间。

晶体管的开关特性如图3-1-2所示,其中开启时间t on=t d(延迟时间)+t r(上升时间);关闭时间t off=t s (存贮时间)+t f(下降时间)。

与二级管的开关参数一样,这些差数也主要取决于晶体管的内部结构,同时与外电路的参数有关。

例如,加大基极正向驱动电流可以减小t r,但同时加深了晶体管的饱和程度,t c也随之增加;而若加大反向驱动电流,t s和t f都将减小,但截止程度也相应加深,对减小t d不利。

开关时间的存在使晶体管开关速度受到限制,为了减小开关时间,应选择合适的负载电阻R c,减小输出电容C o,此外,在基极串联电阻上并联一个加速电容,或在集电极接入限幅二极管D,都可以使输出波形的边沿得到明显的改善。

2、限幅器是一种波形交换电路,可以用二级管和晶体管等非线性器件构成。

二级管限幅器是利用二极管导通和截止时呈现的阻抗不同来实现限幅的,其限幅电平由外接偏压决定。

晶体管限幅使输出波形出现平顶,饱和限幅使输出波形出现平底,如同时利用这两个特性,可以实现双向限幅。

若使晶体管的静态工作点处于负载线线性区的中点,则能实现上下对称的线幅。

3、箝位的目的是将脉冲波形的顶部或底部箝制在一定的电平上,从而避免脉冲信号通过阻容耦合电路时产生的波形渐移现象。

利用二级管和晶体管的非线性特性均可实现对波形的箝位。

通常在阻容耦合电路后面并联一个二级管,并加上适当偏压,可以将输出波形的顶部(或底部)箝制在所需的电平上,这种箝位称位顶部(或底部)箝位。

三、实验设备与器件l、函数发生器2、双踪示波器3、晶体管直流稳压电源4、数字万用表5、数字电子技术试验箱6、器材:2AK2、2CP22、3DG6A、3DK2四、实验内容l、二级管反向恢复时间的观察按图3-1-3(a)连接电路,其中二极管选用2cp22将XC-13型脉冲信号发生器输出得矩形脉冲信号加到实验电路的输入端。

信号发生器的频率调至100kz,延迟和上升、下降沿调到最小,脉宽调节到5μs左右,调节幅度旋钮使V≈3V,极性开关置于一倒置位置,偏移旋钮顺时旋到底(即偏移为+1V)。

观察实验电路输出信号V0的波形,改变偏移大小,观察波形的t s与t f的变化规律。

(a)(b)图3-1-3观察二级管反向恢复时间的实验电路如果所使用的脉冲信号发生器的输出直流电平不可调,则可按图3-1-3(b)连接电路,用改变偏压E(由0V变化到2V)的方法观察输出信号V0波形的ts与t f的变化规律。

记录观察结果,并进行分析。

2、晶体管开关特性的观察实验电路如图3-1-4所示,其中晶体管选用3DG6A。

输入信号V i为周期T=10μs、幅度V p-p≈3V的方波信号。

(1)将B点接至负电源-E b。

调节负电源使-E b在0V~-4V内变化,观察并纪录输出信号V0波形的t d,t r,t s,t f的变化规律。

本项实验结束时,将B点接地。

(2)在R b1上并接加速电容C b=30pf,观察并记录输出波形的变化情况。

将C b更换为300pf,观察并记录输出波形的变化情况。

本项实验结束时,将并接的加速电容去掉。

(3)在电路的输出端接入负载电容C b=30pf,观察并记录输出波形的变化情况。

本项实验结束时,C b保留在电路上。

(4)在电路的输出端接入负载电阻R b=1kΩ,观察并纪录输出波形的变化情况。

本项实验结束时,将R b去掉。

图3-1-4 晶体管开关特性实验电图3、二级管限幅器实验电路如图3-1-5所示。

输入信号Vi为f=10KHz、V p-p=4V的正弦波。

按表3-1-1的要求改变E的数值,观察输出信号V o的波形,并纪录于表中。

表3-1-1 限幅器输出波形按图3-1-6连接电路。

输入T=10μs、V p-p≈3V的方波信号。

按表3-1-2的要求改变E 的数值,观察输出信号V0的波形,并记录于表中。

图3-1-5 二极管限幅器图3-1-6 二级管箝位器表3-1-2 箝位器输出波形五、实验预习要求1、复习二级管与晶体管的开关特性2、复习限幅器的工作原理,熟悉实验电路。

3、复习箝位器的工作原理,熟悉实验电路。

4、拟定各实验任务中使用示波器测试的测试方法。

六、实验报告1、实验测得的波形必须画在方格纸上,并对它们进行分析与讨论。

2、根据对晶体管开关特性的观察结果,总结外电路元件参数对晶体管开关特性的影响。

实验二门电路一、实验目的1. 掌握常见TTL集成门电路逻辑功能。

2. 掌握各种门电路的逻辑符号。

3. 了解集成电路的外引线排列及其使用方法。

二、实验原理集成逻辑门电路是最简单、最基本的数字集成元件。

任何复杂的组合电路和时序电路都可用逻辑门通过适当的组合连接而成。

目前已有门类齐全的集成门电路,例如“与门”,“或门”,“非门”,“与非门”等。

虽然,中、大规模集成电路相继问世,但组成某一系统时,仍少不了各种门电路。

因此,掌握逻辑门的工作原理,熟练、灵活地使用逻辑门是数字技术工作者所必备的基本功之一。

TTL门电路TTL集成电路由于工作速度高、输出幅度较大、种类多、不易损坏而使用较广,特别对学生实验论证,选用TTL电路比较合适。

因此,本书大多采用74LS(或74)系列TTL 集成电路。

它的工作电源电压为5V正负0.5V。

逻辑高电平1时>2.4V,低电平0时<0.4V。

图3-2-1为2输入“与门”,2输入“或门”,2输入4输入“与非门”和反相器的逻辑符号图。

它们的型号分别是74LS08 2输入端四“与门”,74LS32 2输入端四“或门”,74LS00 2输入端四“与非门”,74LS20 4输入二“与非门”和74LS04 六反相器(反相器即“非门”)。

各自的逻辑表达式分别是:与门Q=A·B,或门其Q=A+B,与非门Q=AB ,Q=ABCD,反相器Q= A。

图3-2-1TTL集成门电路外引脚分别对应逻辑符号图中的输入、输出端。

电源和地一般为集成块的两端,如14脚集成电路,则7脚为电源地(GND),14脚为电源正(Vcc),其余引脚为输入和输出,如图3-2-2所示。

外引脚的识别方法是:将集成块正面对准使用者,以凹口左边或小标志点“·”为起始脚1,逆时针方向向前数1,2,3……n脚,使用时,查IC手册即可知各管脚功能图3-2-2 集成电路管脚排列图3-2-3 TTL门电路实验接线图三、实验设备与器件1、数字电子技术实验台2、集成电路:74LS00,74LS02,74LS04,74LS08,74LS20,74LS32四、实验内容1、TTL门电路逻辑功能验证(1)按图3-2-1在实验系统(箱)上找到相应的门电路。

并把输入端接实验箱的逻辑开关,输出端接发光二级管,如图3-2-3(a)所示TTL与门电路逻辑功能验证接线图。

若实验系统上无门电路集成元件,可把相应型号的集成电路插入实验箱集成块空插座上,再接上电源正、负极,输入端接逻辑开关,输出端接LED发光二级管,即可进行验证实验,如图3-2-3(b)所示。

(2)按状态表3-2-1中“与门”一栏输入A、B(0、1)信号,观察输出结果(看LED备用发光二级管,如灯亮为1,灯灭为0)填入表3-2-1中3、用门电路完成下列逻辑变换,并画出逻辑线路图:(1)Q=AB+CD(2)Q= A B+C D(3)Q=(AB+CD)· EF五、实验报告1. 画出实验用门电路的逻辑符号,并写出其逻辑表达式2. 整理实验表格3. 画出门电路逻辑变换的线路图。

六、预习要求1. 复习门电路的逻辑功能及逻辑函数表达式。

2. 查找集成电路手册,画好进行实验用各芯片管脚图、实验接线图。

3. 画好实验用表格实验三 集电极开路门与三态门一、实验目的1. 掌握TTL 集电极开路门(OC 门)的逻辑功能及应用。

2. 了解集电极负载电阻R L 对集电极开路门的影响。

3. 掌握TTL 三态输出门(TSL 门)的逻辑功能及应用。

二、实验原理数字系统中有时需要把两个或两个以上集成逻辑门的输出端直接并接在一起完成一定的逻辑功能。

对于普通的TTL 门电路。

由于输出级采用了推拉式输出电路, 无论输出是高电平还是低电平, 输出阻抗都很低。

因此, 通常不允许将它们的输出端并接在一起使用。

集电极开路门和三态输出门是两种特殊的TTL 门电路, 它们允许把输出端直接并接在一起使用。

1. TTL 集电极开路门(OC 门)本实验所用OC 与非门型号为2输入四与非门74LS03, 内部逻辑图及引脚排列如图3-3-1(a)、(b)所示。

OC 与非门的输出管V 3是悬空的, 工作时, 输出端必须通过一只外接电阻R L 和电源E C 相连接, 以保证输出电压符合电路要求。

(a) (b)图3-3-1OC 门的应用主要有下述三个方面(1) 利用电路的“线与”特性方便的完成某些特定的逻辑功能。

图3-3-2所示, 将两个OC 与非门输出端直接并接在一起, 则它们的输出21212121B A B B A A B B A A F F F +=∙=∙=即把两个(或两个以上)OC 与非门“线与”可完成“与或非”的逻辑功能。

(2) 实现多路信息采集, 使两路以上的信息共用一个传输通道(总线)。

(3) 实现逻辑电平的转换, 以推动荧光数码管、继电路、MOS 器件等多种数字集成电路。

OC 门输出并联运用时负载电阻R L 的选择。

图3-3-3所示电路由n 个OC 与非门“线与”驱动有n 个输入端的N 个TTL 与非门,为保证OC 与非门输出电平符合逻辑要求, 负载电阻R L 阻值的选择范围为iLLM OL C Lmin iH OH OHC Lmax NI I U E R mI nI U E R +-=+-= 式中: I OH −− OC 门输出管截止时(输出高电平U OH )的漏电流(约50μA)I LM −− OC 门输出低电平U OL 时, 允许最大灌入负载电流(约20mA)I iH −− 负载门高电平输入电流(<50μA)I iL −− 负载门低电平输入电流(<1.6mA)E O −− R L 外接电源电压n −− OC 门个数N −− 负载门个数m −− 接入电路的负载门输入端总个数R L 值须小于R Lmax , 否则U OH 将下降, R L 值须大于R Lmin , 否则U OL 将上升, 又R L 的大小会影响输出波形的边沿时间, 在工作速度较高时, R L 应尽量选取接近R Lmin 。

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