数字电子技术实验报告汇总
数字电子技术 实验报告

实验一组合逻辑电路设计与分析1.实验目的(1)学会组合逻辑电路的特点;(2)利用逻辑转换仪对组合逻辑电路进行分析与设计。
2.实验原理组合逻辑电路是一种重要的数字逻辑电路:特点是任何时刻的输出仅仅取决于同一时刻输入信号的取值组合。
根据电路确定功能,是分析组合逻辑电路的过程,一般按图1-1所示步骤进行分析。
图1-1 组合逻辑电路的分析步骤根据要求求解电路,是设计组合逻辑电路的过程,一般按图1-2所示步骤进行设计。
图1-2 组合逻辑电路的设计步骤3.实验电路及步骤(1)利用逻辑转换仪对已知逻辑电路进行分析。
a.按图1-3所示连接电路。
b.在逻辑转换仪面板上单击由逻辑电路转换为真值表的按钮和由真值表导出简化表达式后,得到如图1-4所示结果。
观察真值表,我们发现:当四个输入变量A,B,C,D中1的个数为奇数时,输出为0,而当四个输入变量A,B,C,D 中1的个数为偶数时,输出为1。
因此这是一个四位输入信号的奇偶校验电路。
图1-4 经分析得到的真值表和表达式(2)根据要求利用逻辑转换仪进行逻辑电路的设计。
a.问题提出:有一火灾报警系统,设有烟感、温感和紫外线三种类型不同的火灾探测器。
为了防止误报警,只有当其中有两种或两种以上的探测器发出火灾探测信号时,报警系统才产生报警控制信号,试设计报警控制信号的电路。
b.在逻辑转换仪面板上根据下列分析出真值表如图1-5所示:由于探测器发出的火灾探测信号也只有两种可能,一种是高电平(1),表示有火灾报警;一种是低电平(0),表示正常无火灾报警。
因此,令A、B、C分别表示烟感、温感、紫外线三种探测器的探测输出信号,为报警控制电路的输入、令F 为报警控制电路的输出。
图1-5 经分析得到的真值表(3)在逻辑转换仪面板上单击由真值表到处简化表达式的按钮后得到最简化表达式AC+AB+BC。
4.实验心得通过本次实验的学习,我们复习了数电课本关于组合逻辑电路分析与设计的相关知识,掌握了逻辑转换仪的功能及其使用方法。
数字电路实验实验总结归纳

数字电路实验实验总结1.【数电实验报告】交通信号灯故障检测系统一、实验目的1、熟悉各种逻辑门的使用;2、锻炼学生应用各种逻辑门设计组合逻辑电路的能力•二、实验原理组合逻辑电路的设计方法,三、实验内容及要求交通信号灯的正常工作情况为:红灯(A)亮表示停车、黄灯(B)亮表示注意、绿灯(C)亮表示通行,任何时刻只有一盏灯亮;交通信号灯的故障情况为:任意两盏灯同时亮,三盏灯都亮或三盏灯都不亮,请将故障状态以指示灯亮显示出来,要求如下:1,列出逻辑状态表;2,写出逻辑表达式;3,对表达式化简或变换;4.画出实验电路图;5.在数字实验仪上实现.四、预习要求设计电路;列出所用元件清单;制定实验方案;记录实验结果,五、报告要求有详细设计步骤、逻辑图、实验结果分析2.数字电路实验心得体会原发布者:tqgqiaoe7342数字电子技术实验总结心得数字电子技术是一门理论与实践密切相关的学科,如果光靠理论,我们就会学的头疼,如果借助实验,效果就不一样了,特别是数字电子技术实验,能让我们自己去验证一下书上的理论,自己去设计,这有利于培养我们的实际设计能力和动手能力。
通过数字电子技术实验,我们不仅仅是做了几个实验,不仅要学会实验技术,更应当掌握实验方法,即用实验检验理论的方法,寻求物理量之间相互关系的方法,寻求最佳方案的方法等等,掌握这些方法比做了几个实验更为重要。
在数字电子技术实验中,我们可以根据所给的实验仪器、实验原理和一些条件要求,设计实验方案、实验步骤,画出实验电路图,然后进行测量,得出结果。
在数字电子技术实验的过程中,我们也遇到了各种各样的问题,针对出现的问题我们会采取相应的措施去解决,比如:1、线路不通一一运用逻辑笔去检查导线是否可用;2、芯片损坏一一运用芯片检测仪器检测芯片是否正常可用以及它的类型;3.数电实验总结最低0∙27元开通文库会员,查看完整内容›原发布者:zxyl21380数字电子技术实验总结本学期一共进行了六次实验:L常用集成门电路逻辑测试。
数字电子技术实训报告(精选3篇)

数字电子技术实训报告(精选3篇)数字电子技术实训报告篇1这一课程设计使我们将课堂上的理论知识有了进步的了解,并增强了对数字电子技术这门课程的兴趣。
了解了更多电子元件的工作原理,如:7448等。
同时也发现自对数电知识和电子设计软件掌握得不够。
其次在此次设计过程中由于我们频繁的使用一电子设计软件如:Proteus、protel等,因此使我进一步熟悉了软件的使用,同时在电脑的电子设计和绘图操作上有了进一步提高。
我认识到:数电设计每一步都要细心认真,因为任何一步出错的话,都会导致后面的环节发生错误。
比如在protel中画SCH电路时,就一定要细心确保全部无误,否则任何一个错误都会导致生成时发生错误,做成实物后就无可挽救了。
在的设计中,焊盘的大小,线路的大小,以及线间的距离等参数都要设置好,因为这关系到下一步的实物焊接。
在设计过程中遇到了一些问题,使得我查找各种相关资料,在增长知识的同时增强解决问题和动手的能力,锻炼我做事细心、用心、耐心的能力。
这一课程设计,使我向更高的精神和知识层次迈向一大步。
在以后的学习生活中,我会努力学习,培养自己独立思考的能力,积极参加多种设计活动,培养自己的综合能力,从而使得自己成为一个有综合能力的人才而更加适应社会。
数字电子技术实训报告篇2时间飞逝,在不知不觉中,我的实训生活结束。
通过实训,让我真正感觉到了做一个教师的难处,特别是幼儿教师的难处,不过在这次实训中,也让我收益颇丰。
在实训过程中,让我懂得了,要因人施教,不能一个模式一刀切,面对不同的幼儿用不同的方法。
因为每个孩子都有差异,都有自己的内心世界,他们好比一把锁,老师就是开启那把锁的主人。
真正走进他们的内心世界,去改变他们,教育他们,那么,这个世界就是天才的世界。
活动不能死板硬套,要因地制宜,因环境的改变而改变。
我们要用心去捕捉每个幼儿身上的可爱之处,及不足之处,并帮助他们去改正,不仅要关心和照顾幼儿,和幼儿家长的沟通也尤为重要,而且需要艺术。
数字电子技术基础实验报告册

《数字电子技术基础》
实验报告册
班级:
姓名:
学号:
唐山学院信息与控制工程实验教学中心
2012年3月
《数字电子技术基础》课程实验报告(一)
《数字电子技术基础》课程实验报告(二)
《数字电子技术基础》课程实验报告(三)
《数字电子技术基础》课程实验报告(四)
《数字电子技术基础》课程实验报告(五)
姓名合作者
实验人
学号实验小组第组
实验性质□验证性□设计性□综合性□应用性
实验成绩:
评阅教师签名:
一.555型集成时基电路芯片介绍见实验指导书
二.555定时器构成施密特触发器
按下图连线,输入信号由函数信号发生器提供,预先调好v S的频率为1KHz,接通电源,
逐渐加大vs的幅度,观测并绘出输出波形,同时测绘电压传输特性,算出回差电压△U。
vo
vi
三.555定时器组成多谐振荡器。
按下图接线,用双踪示波器观测v c与v o的波形,测定频率;并绘制出vc、vo波形。
vc
t
vo
t
《数字电子技术基础》课程实验报告(六)
《数字电子技术基础》课程实验报告(七)
《数字电子技术基础》课程实验报告(八)
《数字电子技术基础》课程实验报告(九)
《数字电子技术基础》课程实验报告(十)
《数字电子技术基础》课程实验报告(十一)。
数字电子技术实验报告

数字电子技术实验报告学号:姓名:班级:实验一组合逻辑电路分析一、实验用集成电路引脚图74LS00集成电路:74LS20集成电路:二、实验内容1.ABCD接逻辑开关,“1”表示高电平,“0”表示低电平。
电路图如下:A=B=C=D=1时(注:逻辑指示灯:灯亮表示“1”,灯不亮表示“0”。
)表格记录:结果分析:由表中结果可得该电路所实现功能的逻辑表达式为:F=AB+CD。
在multisim软件里运用逻辑分析仪分析,可得出同样结果:2.密码锁的开锁条件是:拨对密码,钥匙插入锁眼将电源接通,当两个条件同时满足时,开锁信号为”1”,将锁打开。
否则,报警信号为”1”,则接通警铃。
试分析密码锁的密码ABCD是什么?电路图如下:A=B=C=D=1时A=B= D=1,C=0时2.5 VA= D=1,B=C=0时记录表格:结果分析:由表可知,只有当A=D=1,B=C=0时,开锁灯亮;其它情况下,都是报警灯亮。
因此,可知开锁密码是1001。
三、实验体会与非门电路可以实现多种逻辑函数的功能模拟,在使用芯片LS7400和LS7420时,始终应该注意其14脚接高电平,8脚接地,否则与非门无法正常工作。
利用单刀双掷开关,可以实现输入端输入高/低电平的转换;利用LED灯可以指示输出端的高低电平。
实验二组合逻辑实验(一)半加器和全加器一、实验目的熟悉用门电路设计组合电路的原理和方法步骤。
二、预习内容1.预习用门电路设计组合逻辑电路的原理和方法步骤。
2.复习二进制数的运算。
①用与非门设计半加器的逻辑图。
②完成用异或门、与非门、与或非门设计全加器的逻辑图。
③完成用异或门设计的三变量判奇电路的原理图。
三、参考元件74LS283: 74LS00:74LS51: 74LS136:四、实验内容1.用与非门组成半加器,用异或门、与或非门、与非门组成全加器。
实验结果填入表中。
(1)与非门组成的半加器。
电路图如下(J1、J2分别代表Ai、Bi,图示为Ai、Bi分别取不同的电平时的仿真结果):2.5 V2.5 V2.5 V记录表格:(2)异或门、与或非门、与非门组成的全加器。
数字电子技术实验报告

专业:班级:学号:姓名:指导教师:电气学院实验一集成门电路逻辑功能测试一、实验目的1. 验证常用集成门电路的逻辑功能;2. 熟悉各种门电路的逻辑符号;3. 熟悉TTL集成电路的特点,使用规则和使用方法。
二、实验设备及器件1. 数字电路实验箱2. 万用表3. 74LS00四2输入与非门 1片 74LS86四2输入异或门 1片74LS11三3输入与门 1片 74LS32四2输入或门 1片 74LS04反相器 1片三、实验原理集成逻辑门电路是最简单,最基本的数字集成元件,目前已有种类齐全集成门电路。
TTL集成电路由于工作速度高,输出幅度大,种类多,不宜损坏等特点而得到广泛使用,特别对学生进行实验论证,选用TTL电路较合适,因此这里使用了74LS系列的TTL成路,它的电源电压为5V+10%,逻辑高电平“1”时>2.4V,低电平“0”时<0.4V。
实验使用的集成电路都采用的是双列直插式封装形式,其管脚的识别方法为:将集成块的正面(印有集成电路型号标记面)对着使用者,集成电路上的标识凹口左,左下角第一脚为1脚,按逆时针方向顺序排布其管脚。
四、实验内容㈠根据接线图连接,测试各门电路逻辑功能1. 利用Multisim画出以74LS11为测试器件的与门逻辑功能仿真图如下按表1—1要求用开关改变输入端A,B,C的状态,借助指示灯观测各相应输出端F的状态,当电平指示灯亮时记为1,灭时记为0,把测试结果填入表1—1中。
表1-1 74LS11逻辑功能表输入状态输出状态A B C Y0 0 0 00 0 1 00 1 0 00 1 1 01 0 0 01 0 1 01 1 0 01 1 1 1悬空 1 1 1悬空0 0 02. 利用Multisim画出以74LS32为测试器件的或门逻辑功能仿真图如下按表1—2要求用开关改变输入端A,B的状态,借助指示灯观测各相应输出端F的状态,把测试结果填入表1—2中。
表1—2 74LS32逻辑功能表输入状态输出状态A B Y0 0 00 1 11 0 11 1 10 悬空 11 悬空 1悬空0 1悬空 1 1悬空悬空 13. 利用Multisim画出以74LS04为测试器件的非门逻辑功能仿真图如下按表1—3要求用开关改变电平开关的状态,借助指示灯观测各相应输出端F的状态,把测试结果填入表1—3中。
数电实验报告汇总

实验2组合逻辑电路(半加器全加器及逻辑运算)一、实验目的1.掌握组合逻辑电路的功能测试。
2.验证半加器和全加器的逻辑功能。
3.学会二进制数的运算规律。
二、实验仪器及材料1.Dais或XK实验仪一台2.万用表一台3.器件:74LS00三输入端四与非门3片74LS86三输入端四与或门1片74LS55四输入端双与或门1片三、预习要求1.预习组合逻辑电路的分析方法。
2.预习用与非门和异或门构成的半加器、全加器的工作原理。
3.学习二进制数的运算。
四、实验内容1.组合逻辑电路功能测试。
图2-1⑴用2片74LS00组成图2-1所示逻辑电路。
为便于接线和检查,在图中要注明芯片编号及各引脚对应的编号。
⑵图中A、B、C接电平开关,Y1、Y2接发光管显示。
⑶按表2-1要求,改变A、B、C的状态填表并写出Y1、Y2逻辑表达式。
⑷将运算结果与实验比较。
表2-1(5)实验过程及实验图:1)连线图:2)实验图:(6)实验总结:用两片74ls00芯片可实现如图电路功能2.测试用异或门(74LS86)和与非门组成的半加器的逻辑功能。
根据半加器的逻辑表达式可知,半加器Y是A、B的异或,而进位Z是A、B相与,故半加器可用一个集成异或门和二个与非门组成如图2-2。
图2-2⑴在实验仪上用异或门和与门接成以上电路。
A、B接电平开关S,Y、Z接电平显示。
⑵按表2-2要求改变A、B状态,填表。
表2-21)管脚图:2)实验图(4)实验总结:用异或门(74LS86)和与非门可组成半加器3.测试全加器的逻辑功能。
⑴写出图2-3电路的逻辑表达式。
⑵根据逻辑表达式列真值表。
⑶根据真值表画逻辑函数SiCi的卡诺图。
表 2-3Si=Ci=图 2-3⑷填写表 2-3 各点状态。
⑸按原理图选择与非门并接线进行测试,将测试结果记入表 2-4,并与上表进行比较 看逻辑功能是否一致。
表 2-4(6)实验过程及实验图:1)引脚图:2)实验图:(7)实验总结:3个74ls00芯片可构成全加器4.测试用异或、与或和非门组成的全加器的逻辑功能。
数电子技术实验报告

数电子技术实验报告一、实验目的本次数电子技术实验的目的在于深入理解数字电子技术的基本概念和原理,通过实际操作和实验观察,掌握数字电路的设计、组装和调试方法,提高对数字逻辑电路的分析和解决问题的能力。
二、实验设备与器材1、数字电路实验箱2、集成电路芯片:74LS00(四 2 输入与非门)、74LS86(四 2 输入异或门)、74LS138(3 线 8 线译码器)等3、示波器4、直流稳压电源5、万用表6、连接导线若干三、实验原理1、逻辑门电路逻辑门是数字电路的基本单元,常见的有与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等。
本实验中主要使用了与非门和异或门。
与非门的逻辑表达式为:Y =(A · B)',即当输入 A 和 B 都为1 时,输出 Y 为 0;否则输出 Y 为 1 。
异或门的逻辑表达式为:Y = A ⊕ B ,即当输入 A 和 B 不同时,输出 Y 为 1;否则输出 Y 为 0 。
2、组合逻辑电路组合逻辑电路是由逻辑门电路组合而成,其输出仅取决于当前的输入。
常见的组合逻辑电路有加法器、编码器、译码器等。
3、时序逻辑电路时序逻辑电路的输出不仅取决于当前的输入,还与电路的原有状态有关。
常见的时序逻辑电路有计数器、寄存器等。
四、实验内容与步骤1、与非门和异或门逻辑功能测试(1)在实验箱上插入 74LS00 和 74LS86 芯片,按照芯片引脚图连接电路。
(2)使用逻辑电平开关分别输入不同的电平组合,用逻辑电平指示灯观察输出电平,记录并分析结果,验证与非门和异或门的逻辑功能。
2、利用与非门设计一个三人表决电路(1)根据表决逻辑(多数通过),列出真值表。
(2)根据真值表写出逻辑表达式,并化简。
(3)使用与非门搭建电路,进行实际测试。
3、 3 线 8 线译码器 74LS138 的功能测试(1)将 74LS138 芯片插入实验箱,按照引脚图连接电路。
(2)通过改变输入的地址码 A2、A1、A0 的电平组合,观察 8 个输出端 Y0 Y7 的电平状态,记录结果并分析译码器的功能。
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《数字电子技术》实验报告实验序号:01 实验项目名称:门电路逻辑功能及测试学号姓名专业、班级实验地点物联网实验室指导教师时间2016.9.19一、实验目的1. 熟悉门电路的逻辑功能、逻辑表达式、逻辑符号、等效逻辑图。
2. 掌握数字电路实验箱及示波器的使用方法。
3、学会检测基本门电路的方法。
二、实验仪器及材料1、仪器设备:双踪示波器、数字万用表、数字电路实验箱2. 器件:74LS00 二输入端四与非门2片74LS20 四输入端双与非门1片74LS86 二输入端四异或门1片三、预习要求1. 预习门电路相应的逻辑表达式。
2. 熟悉所用集成电路的引脚排列及用途。
四、实验内容及步骤实验前按数字电路实验箱使用说明书先检查电源是否正常,然后选择实验用的集成块芯片插入实验箱中对应的IC座,按自己设计的实验接线图接好连线。
注意集成块芯片不能插反。
线接好后经实验指导教师检查无误方可通电实验。
实验中改动接线须先断开电源,接好线后再通电实验。
1.与非门电路逻辑功能的测试(1)选用双四输入与非门74LS20一片,插入数字电路实验箱中对应的IC座,按图1.1接线、输入端1、2、4、5、分别接到K1~K4的逻辑开关输出插口,输出端接电平显图 1.1示发光二极管D1~D4任意一个。
(2)将逻辑开关按表1.1的状态,分别测输出电压及逻辑状态。
表1.1输入输出1(k1) 2(k2) 4(k3) 5(k4) Y 电压值(v)H H H H 0 0L H H H 1 1L L H H 1 1L L L H 1 1L L L L 1 12. 异或门逻辑功能的测试图 1.2(1)选二输入四异或门电路74LS86,按图1.2接线,输入端1、2、4、5接逻辑开关(K1~K4),输出端A、B、Y接电平显示发光二极管。
(2)将逻辑开关按表1.2的状态,将结果填入表中。
表1.2输入输出1(K1) 2(K2) 4(K35(K4) A B Y 电压(V)L H H H H L LLHHHHLLLHHLLLLLHH111111113. 逻辑电路的逻辑关系测试(1)用74LS00、按图1.3,1.4接线,将输入输出逻辑关系分别填入表1.3、表1.4中。
输入输出A B YL L 0L H 1H L 1H H 0图 1.4输入输出A B L ZL L 0 0H H 1 0H L 1 0H H 0 1(2)写出上面两个电路逻辑表达式,并画出等效逻辑图。
4. 利用与非门控制输出(选做)用一片74LS00按图1.5接线,S接任一电平开关,用示波器观察S对输出脉冲的控制作用。
图 1.55. 用与非门组成其它逻辑门电路,并验证其逻辑功能。
(1)组成与门电路A·得知,可以用两个与非门组成与门,其中一个与非门用作反相器。
由与门的逻辑表达式Z=A·B= B①将与门及其逻辑功能验证的实验原理图画在表1.5中,按原理图联线,检查无误后接通电源。
②当输入端A、B为表1.5的情况时,分别测出输出端Y的电压或用LED发光管监视其逻辑状态,并将结果记录表中,测试完毕后断开电源。
表1.5 用与非门组成与门电路实验数据逻辑功能测试实验原理图输入输出YA B 电压逻辑值0 0 1 00 1 0 01 0 0 11 1 0 0表1.6 用与非门组成或门电路实验数据逻辑功能测试实验原理图输入输出YA B 电压逻辑值0 0 0 00 1 1 11 0 1 11 1 0 1(2)组成或门电路根据De. Morgan 定理,或门的逻辑函数表达式Z=A+B 可以写成Z =B A •,因此,可以用三个与非门组成或门。
①将或门及其逻辑功能验证的实验原理图画在表1.6中,按原理图联线,检查无误后接通电源。
②当输入端A 、B 为表1.6的情况时,分别测出输出端Y 的电压或用LED 发光管监视其逻辑状态,并将结果记录表中,测试完毕后断开电源。
(3)组成或非门电路或非门的逻辑函数表达式Z=B A + ,根据De. Morgan 定理,可以写成Z=A ·B =B A •,因此,可以用四个与非门构成或非门。
①将或非门及其逻辑功能验证的实验原理图画在表1.7中,按原理图联线,检查无误后接通电源。
②当输入端A 、B 为表1.7的情况时,分别测出输出端Y 的电压或用LED 发光管监视其逻辑状态,并将结果记录表中,测试完毕后断开电源。
表1.7用与非门组成或非门电路实验数据逻辑功能测试实验原理图输入输出YAB 电压 逻辑值 0 0 1 0 1 0 1 1 0 1 0表1.8用与非门组成异或门电路实验数据逻辑功能测试实验原理图输入输出YA B 电压 逻辑值 00 0 0 1 1 1 0 1 11(4)组成异或门电路(选做)异或门的逻辑表达式Z=A B +A B =B A B A • ,由表达式得知,我们可以用五个与非门组成异或门。
但根据没有输入反变量的逻辑函数的化简方法,有A ·B=(A +B )·B=B A +·B ,同理有A B =A ·(A +B )=A ·AB ,因此Z=A B +A B=A AB B AB •,可由四个与非门组成。
①将异或门及其逻辑功能验证的实验原理图画在表1.8中,按原理图联线,检查无误后接通电源。
②当输入端A 、B 为表1.8的情况时,分别测出输出端Y 的电压或用LED 发光管监视其逻辑状态,并将结果记录表中,测试完毕后断开电源。
教师评语:签名: 日期:成绩《数字电子技术》实验报告实验序号:02 实验项目名称:组合逻辑电路 学 号姓 名专业、班级 实验地点 物联网实验室 指导教师时 间2016.10.17 一、实验目的1. 熟悉集成数据选择器、译码器的逻辑功能及测试方法。
2. 学会用集成数据选择器、译码器进行逻辑设计。
二、实验仪器及材料1.实验仪器设备:双踪示波器、数字万用表、数字电路实验箱2. 器件:74LS139 2-4线译码器 1片 74LS153 双4选1数据选择器 1片 74LS00 二输入端四与非门 1片三、实验内容及步骤1. 译码器功能测试将74LS139双2-4线译码器按图2.1分别输入逻辑电平,并填写表2、1输出状态。
图2-1表2.1输入输出使能选择1G 1B 1A Y0Y1Y2Y3H L L L L XLLHHXLHLH11111111111111112. 译码器转换将双2-4线译码器转换为3-8线译码器。
(1)画出转换电路图。
(2)在实验箱上接线并验证设计是否正确。
(3)设计并填表写该3-8线译码器功能表。
3. 数据选择器的测试及应用(1)将双4选1数据选择器74LS153参照图2.2接线,测试其功能并填写2、2功能表。
(2)找到实验箱脉冲信号源中S c,S1两个不同频率的信号,接到数据选择器任意2个输入端,将选择端置位,使输出端可分别观察到S c ,S1信号。
(3)分析上述实验结果并总结数据选择器作用并画出波形。
图2-2接电平开关接电平显示表2.2选择端输入端输出控制输出A1 A0 D0 D1 D2 D3S Q X X X X X X H 0 L L L X X X L 0 L L H X X X L 1 L H X L X X L O L H X H X X L 1 H L X X L X L 0 H L X X H X L 1 H H X X X L L 0 H H X X X H L 1教师评语:成绩签名:日期:《数字电子技术》实验报告实验序号:03 实验项目名称:触发器学号姓名专业、班级实验地点物联网实验室指导教师时间2016.10.24一、实验目的1. 熟悉并掌握R-S、D、J-K触发器的特性和功能测试方法。
2. 学会正确使用触发器集成芯片。
3. 了解不同逻辑功能FF相互转换的方法。
二、实验仪器及材料1. 实验仪器设备:双踪示波器、数字万用表、数字电路实验箱2. 器件74LS00 二输入端四与非门 1片74LS74 双D触发器 1片74LS76 双J-K触发器 1片三、实验内容及步骤1. 基本RS 触发器功能测试:两个TTL 与非门首尾相接构成的基本RS 触发器的电路。
如图3.1所示。
(1)试按下面的顺序在S R 端加信号: d S =0 d R =1 d S =1 d R =1 d S =1 d R =0 d S =1 d R =1观察并记录触发器的Q 、Q _端的状态,将结果填入下表3.1中,并说明在上述各种输入状态下,RS 执行的是什么逻辑功能?表3.1S d R d QQ 逻辑功能 0 1 1 0 置1 1 1 1 0 保持 1 0 0 1 置0 011不定图4.1 基本RS 触发器电(2)d S 端接低电平,d R 端加点动脉冲。
(3)d S 端接高电平,d R 端加点动脉冲。
(4)令d R =d S ,d S 端加脉冲。
记录并观察(2)、(3)、(4)三种情况下,Q 、Q _端的状态。
从中你能否总结出基本RS 的Q 或 Q _端的状态改变和输入端d S 、d R 的关系。
(5)当d S 、d R 都接低电平时,观察Q 、Q _ 端的状态,当d S 、d R 同时由低电平跳为高电平时,注意观察Q 、Q _端的状态,重复3~5次看Q 、Q _端的状态是否相同,以正确理解“不定” 状态的含义。
2. 维持-阻塞型D 触发器功能测试 双D 型正边沿维持-阻塞型触发器74LS74的逻辑符号如图3.2所示。
图中d S 、d R 端为异步置1端,置0端(或称异步置位,复位端),CP 为时钟脉冲端。
试按下面步骤做实验:并记录Q 、Q _端的状态。
(1)分别在d S 、d R 端加低电平,观察(2)令dS、d R端为高电平,D端分别接高,低电平,用点动脉冲作为CP,观察并记录当CP为0、、1、时Q端状态的变化。
(3)当dS=d R=1、CP=0(或CP=1),改变D端信号,观察Q端的状态是否变化?整理上述实验数据,将结果填入下表4.2中。
(4)令dS=d R=1,将D和Q_端相连,CP加连续脉冲,用双踪示波器观察并记录Q相对于CP的波形。
表3.2dS d R CP D Q n Q n+10 1 X X 0 1 11 0 X X 01 01 1 0 0 1 11 1 1 01 01 1 0(1)X 0 11 0CPQ图4.2D逻辑符号3. 负边沿J-K 触发器功能测试双J -K 负边沿触发器74LS76芯片的逻辑符号如图3.3所示。
自拟实验步骤,测试其功能,并将结果填入表4.3中,若令J =K =1时,CP 端加连续脉冲,用双踪示波器观察Q ~CP 波形,试将D 触发器的D 和Q _端相连时观察Q 端和CP 的波形并与相比较,有何异同点?4. 触发器功能转换 (1)将D 触发器和J-K 触发器转换成T 触发器,列出表达式,画出实验电路图。