X荧光光谱分析培训内容
X射线荧光光谱分析
特征X射线线系
并不是对应于所有能级组合 的谱线都能出现，而是必须遵 守电子跃迁的选择定则进行跃 迁，才能辐射出特征X射线。 Δn=1的跃迁产生的线系命名 为α线系，Δn=2的跃迁产生的 线系命名为β线系，依次类推 。 各系谱线产额依K，L，M系顺序递减，因此原子序数 <55的元素通常选K系谱线做为分析线，原子序数>55的 元素，选L系谱线做为分析线。
布拉格方程
X射线荧光分析中利用晶体对X射线分光，分光晶体起 光栅的作用。晶体分光 X射线衍射的条件就是布拉格方程：
2d sinθ = nλ
波长为 λ 的 X 射线荧光入射到晶面间距为 d 的晶体上， 只有入射角θ 满足方程式的情况下，才能引起干涉。也就是 说，测出角度θ ，就知道λ ，再按莫斯莱公式便可确定被测 元素。
元素特征X射线的强度与该元素在试样中的原子数量 （即含量）成比例，因此，通过测量试样中某元素特征X 射线的强度，采用适当的方法进行校准与校正，便可求出 该元素在试样中的百分含量，即为X射线荧光光谱定量分 析。
X射线荧光光谱分析的特点
• 分析元素范围广 Be — U
• 测量元素含量范围宽 0.000x% — 100%
位置：准直器面罩架在样品和准直器之间。 目的：使只有从样品发出的荧光被测到，而避免 由试样杯罩产生的干扰线。
准直器面罩的直径比样品杯口再小2mm。
5 准直器 (Collimators)
准直器由一组薄片组成，目的是使从样品发出的 X射 薄片间距越小，通过的荧光强度越弱。因此准直器 可以通过与晶体共同选择来消除这个问题，晶面间距 线以平行光束的形式照射到晶体。薄片之间的距离越小， d小的晶体有更好的分辨率，两者相结合应用，可以既 的选择存在分辨率与灵敏度互相消长的情况，即分辨 越容易形成平行光，产生的谱线峰形也更锐利，更容易 率提高，则灵敏度下降。 降低荧光强度的损耗，又可提高分析的灵敏度。 与附近的谱线区分。 准直器以薄片间距来分类
第3章 X射线荧光光谱(XRF)PPT课件
MC1-5 68.5 6.85 5.08 3.52
14.4
0.04 0.73 0.00 0.44
MC1-6 39.40 13.10 0.96 1.20
44.80
0.10 0.07 0.02 0.02
MC1-7 70.58 0.74 9.36 4.23
-
0.08 1.82 0.09 0.25
（5）制样简单，固体、粉末和液体样品都可测定，样品 在分析中不受破坏，属于无损分析法；
（6）多元素同时分析，分析自动化程度高，分析速度快， 几分钟内可同时给出一个样品种所含的几十种元素的定 性、定量分析；
（7）仪器分析计算机操作，计算机计算输出元素百分含 量结果。
尤其是合于地质样品的分析，因而，在地质科学研究中是 不可缺少的仪器设备
三、XRF分析的特点
X射线荧光光谱在元素的定性和定量分析中得到广泛应 用，它的突出特点是： （1）谱线简单，多元素间干扰比发射光谱小，除少数轻 元素外，它基本不受化学键和元素在化合物中状态影响； （2）分析灵敏度高，大多数元素检出限达到10-5-10-8g/g; 分析元素的范围宽，从硼到铀（5-92）元素都可以分析， 常用的元素分析范围是氟到铀（9-92） （3）定量分析响应范围宽，从常量到微量mg/kg （4）分析方法的精密度高，误差一般在5%以内；
1. TXRF分析仪工作原理：
TXRF利用全反射技术 会使样品荧光的杂散本底比 XRF降低约四个量级 从而大大提高了能量分辨率和灵 敏率 避免了XRF和WXRF测量中通常遇到的本底增强 效应 大大缩减了定量分析的工作量和工作时间 同时提 高了测量的精确度
2. TXRF元素分析仪主要性能指标
（1）最低绝对检出限：pg 级 （2）最低相对检出限：ng/ml级 （3）单次可用时分析元素数量：20多种 （4）测量元素范围：可以从11号元素到92号元素 （5）样品用量：μl，μg级； （6）可以进行无损分析 （7）测量时间：一般1000秒 （8）输入功率：小于2kw （9）从测量操作到分析出结果全部自动化 （10）主体尺寸：180×80×95（高）cm3
X荧光光谱分析培训内容
X 荧光光谱分析培训内容一、X 荧光原理1、 X 射线荧光的基本概念X 射线是一种电磁波，其波长在0 . 1~100∑之间(1∑=10↓≠︒m)，根据波粒二相性原理，X 射线也是一种粒子，其每个粒子根据下列公式可以找到其能量和波长的一一对应关系。
E ＝hv=h c/λ式中h 为普朗克常数，v 为频率，c 为光速，λ为波长。
①X 射线产生的几种方法a 、 高速电子轰击物质，产生韧致辐射和标识辐射。
其产生的韧致辐射的X 射线的能量取决于电子的能量，是一个连续的分布。
而标识辐射是一种能量只与其靶材有关的X 射线。
这是X 光管的基本原理。
b 、 同位素X 射线源，释放的射线的能量也是量化的,而不是连续的。
c 、 同步辐射源。
电子在同步加速器中运动，作圆周运动，有一个恒定的加速度，电子在加速运动时，会释放出X 射线，所以用这种方法得到的X 射线叫同步辐射X 射线。
②基本概念a 、 X 射线荧光：通常把X 射线照射在物质上而产生的次级X 射线叫X 射线荧光（X —Ray Fluorescence ），而把用来照射的X 射线叫原级X 射线。
所以X 射线荧光仍是X 射线。
b 、 特征X 射线：它是由原子外层电子向内层跃迁，释放出能量以X 射线的形式表现出来，其能量只与元素本身有关，因此称为特征X 射线。
由不同能级跃迁产生的能量是不同的，因此，特征X 射线分为K α、K β、L α、L β……c 、 X 射线对物质产生的作用：可产生特征X 射线，散射，光电子，其他作用，在用X 射线分析物质时，特征X 射线是分析的关键，其他的作用将产生本地效应，应该尽量避免或减小它。
③荧光强度与物质含量的关系，可以用以下的表达式说明：I i =f （C 1,C 2…C i …）i=1,2…Ii 是样品中第i 个元素的特征X 射线的强度,C 1,C 2,……是样品中各个元素的含量.。
反过来，根据各元素的特征X 射线的强度，也可以获得各元素的含量信息。
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8
Other Sources
Several other radiation sources are capable of exciting material to produce x-ray fluorescence suitable for material analysis.
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Source Modifiers
Several Devices are used to modify the shape or intensity of the source spectrum or the beam shape
▪ Source Filters ▪ Secondary Targets ▪ Polarizing Targets ▪ Collimators ▪ Focusing Optics
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10
Source Filters
Filters perform one of two functions
–Background Reduction –Improved Fluorescence
Source Filter
Detector
X-Ray Source
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X 射线荧光分析
导论
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1
电子波谱
1Hz - 1kHz 超低频率 电磁波
无线电波
1kHz - 1014Hz 微波
1014Hz - 1015Hz 1015Hz - 1021Hz
红外线 紫外线 X射线 伽马射线
可见光
Low energy
High energy
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X射线荧光光谱(XRF)分析
消除基体效应
基体效应会影响XRF的测 量结果，因此需要采取措 施消除基体效应，如稀释 样品或添加标准物质。
固体样品的制备
研磨
将固体样品研磨成细粉，以便进行XRF分析。
分选
将研磨后的样品进行分选，去除其中的杂质和粗 颗粒。
压片
将分选后的样品压制成型，以便进行XRF测量。
液体样品的制备
1 2
稀释
将液体样品进行稀释，以便进行XRF分析。
定性分析的方法
标样法
01
通过与已知标准样品的荧光光谱进行比较，确定样品中元素的
种类。
参考法
02
利用已知元素的标准光谱，通过匹配样品中释放的X射线荧光光
谱来识别元素。
特征谱线法
03
通过测量样品中特定元素的特征谱线，与标准谱线进行对比，
确定元素的存在。
定性分析的步骤
X射线照射
使用X射线源照射样品，激发 原子中的电子跃迁并释放出X 射线荧光光谱。
XRF和ICP-AES都是常用的元素分析方法，ICP-AES具有更高的灵敏度和更低 的检测限，适用于痕量元素分析，而XRF具有更广泛的应用范围和更简便的操 作。
XRF与EDS的比较
XRF和EDS都是用于表面元素分析的方法，EDS具有更高的空间分辨率，适用于 微区分析，而XRF具有更广泛的元素覆盖范围和更简便的操作。
XRF分析的局限性
01
元素检测限较高
对于某些低浓度元素，XRF的检 测限相对较高，可能无法满足某 些应用领域的精度要求。
02
定量分析准确性有 限
由于XRF分析基于相对强度测量， 因此对于不同样品基质中相同元 素的定量分析可能存在偏差。
03
对非金属元素分析 能力有限
X射线荧光光谱仪培训课件..
0.10
0.05 2
Cd
Ag
0.02 9
0.01 8
初级光束滤片
改善峰背比 • 750 mm Al filter, Soil sample
角色散
• 角色散 (dQ/dl) • nl = 2d.sinQ (Bragg公式)微分后得到:
dQ n dl 2d cos Q
• 角色散随衍射级数(n)和衍射角(Q)的增加而增加 • 角色散随晶体面间距(d)的减小而增加
EDXRF 和WDXRF光谱仪的优缺点
EDXRF 元素范围 检测限 Na－U（钠－铀） 分析轻元素不理想分析重元素较好 WDXRF Be－U（铍－铀） 对铍和所有较重元素都较好
灵敏度
分辨率 仪器费用 功率消耗 测量方式 转动部件
轻元素不理想，重元素较好
轻元素不理想，重元素较好 相对价廉 5－1000W 同时 无
轻元素尚可，重元素较好
轻元素较好，重元素不是很理想 相对昂贵 200-4000W 顺序/同时 晶体，测角仪
波长色散
• 使用单晶或多晶来衍射所分析的波长
波长色散谱仪组成
• X光管
• 分光系统 • 探测系统
X光管
• 端窗
• 阳极材料 • 窗口材料
• 激发 kV, mA
• 冷却 • 滤片
超尖锐端窗 X-ray Tube
12 11 30 0.403
B
C N Be Te-K U-In
探测器
• 探测器将 X射线光子转化成测量电压脉冲
• 各种探测器需要测量一定的波长范围
0.04 - 12nm (0.1 - 30 keV).
U La - I La & Te Ka - Be Ka
第六章 X-射线荧光光谱分析-4
•①已知Cu的K系吸收限为1.38Å，求它的临界激发电压? 解：
1.24 4 1.24 VK 10 104 8.986 103 V 8.986kV λK 1.38
② 求LiF(200)晶体(2d=4.0276Å)对CuKα(1.542Å)的角色 散?如B=O.078º =0.0014rad时，能否分开CuKα双线 (λCuKα1=1.5414Å，λCuKα2=1.5406Å)? 解：角色散：
∴ 故不能激发样品中的WKα线。
VkBa 1.24 1.24 104 104 37.46kV 40kV λ aBa 0.331
∵
∴ 故能激发样品中的BaKα、SnKα线。
1.24 1.24 4 VkSn 10 104 29.18kV 40kV λ aSn 0.425
λ0 1.24 1.24 104 104 0.31Å V 40 103
∵ 0.141 Å <λ0； O.331 Å >λ0； 0.425 Å >λ0 ∴ 能激发样品中的BaKα、SnKα线；不能激发样品中 的WKα线。
方法2：∵
VkW
1.24 1.24 104 104 87.94kV 40kV λ aW 0.141
μ k μ LI μ LII μ LIII rk μ LI μ LII μ LIII
•吸收突变系数：在某一特定波长处的某一具体能级相关的吸收 份数与总吸收之比称为吸收突变系数J。
K系： J μ k rk 1 k
μ rk
通式:q系Jq Fra bibliotekμq μ
Δλ k λ CuKαu λ CuKαu 1.5414Å-1.5406Å=0.0008Å
射线荧光光谱分析精讲课件
射线荧光光谱仪器
02
射线源
特征X射线发生器
产生高能X射线，激发样品中的原 子产生荧光。
放射性同位素源
产生低能X射线，用于特定元素的 激发。
激发光源
光谱仪
将不同波长的光分开，用于光谱分析。
光源
产生连续或脉冲的光，以提供样品所 需的能量。
量。
同步辐射XRF能够提供高分辨率 和高灵敏度的元素分析，适用于 超薄薄膜、纳米材料等结构分析。
XRF结合其他技术如X射线衍射、 X射线吸收精细结构等，可进一 步解析材料的晶体结构和化学状
态。
材料性能表征
XRF可应用于材料电学、磁学 和光学等性能的表征。
通过测量元素的电离能、磁矩 等参数，可分析材料的电子结 构和化学键性质。
射线荧光光谱在环境科学中的 应用
05
环境污染物的检测
重金属污染
X射线荧光光谱法可快速测定土壤、水体等环境样品中的重金属元素含量，如Cu、Pb、Zn、Cd等，为环境污染 的监测和预警提供数据支持。
有机污染物
该技术也可应用于有机污染物的检测，如多环芳烃、多氯联苯等，有助于评估土壤和水体的有机污染程度。
颗粒物
X射线荧光光谱法可分析大气中的颗粒物 成分，如PM2.5和PM10，了解颗粒物中 元素的种类和含量，为大气污染的防控 和治理提供帮助。
VS
气体污染物
该技术还可应用于气体污染物的监测，如 二氧化硫、氮氧化物等，为大气污染的预 警和防治提供数据支持。
射线荧光光谱在生物医学中的 应用
06
生物样品的元素组成分析
表面分析
1.C 射线荧光光谱可应用于表面分析，如研究材 料表面涂层、生物膜、吸附物等，了解表面 结构和化学信息。
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X荧光光谱分析培训内容、X荧光原理1、X射线荧光的基本概念X射线是一种电磁波，其波长在0 . 1~100之间(仁10m，根据波粒二相性原理，X射线也是一种粒子，其每个粒子根据下列公式可以找到其能量和波长的一一对应关系。
E= hv=h c/123964E{kev)= ---1式中h为普朗克常数，v为频率，c为光速，为波长①X射线产生的几种方法a 高速电子轰击物质，产生韧致辐射和标识辐射。
其产生的韧致辐射的X射线的能量取决于电子的能量，是一个连续的分布。
而标识辐射是一种能量只与其靶材有关的X射线。
这是X光管的基本原理。
b、同位素X射线源，释放的射线的能量也是量化的，而不是连续的。
c、同步辐射源。
电子在同步加速器中运动，作圆周运动，有一个恒定的加速度，电子在加速运动时，会释放出X射线，所以用这种方法得到的X射线叫同步辐射X射线。
②基本概念a X射线荧光：通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光(X—Ray Fluoresce nee，而把用来照射的X射线叫原级X射线。
所以X射线荧光仍是X射线。
b、特征X射线：它是由原子外层电子向内层跃迁，释放出能量以X射线的形式表现出来，其能量只与元素本身有关，因此称为特征X射线。
由不同能级跃迁产生的能量是不同的，因此，特征X射线分为K、K、L、L……c、X射线对物质产生的作用：可产生特征X射线，散射，光电子，其他作用，在用X射线分析物质时，特征X射线是分析的关键，其他的作用将产生本地效应，应该尽量避免或减小它。
③荧光强度与物质含量的关系，可以用以下的表达式说明:I i =f ( C l,C2 …C i…)i=1,2 …Ii是样品中第i个元素的特征X射线的强度，C i,C2, ••…是样品中各个元素的含量.。
反过来，根据各元素的特征X射线的强度，也可以获得各元素的含量信息。
这就是X射线荧光分析的基本原理。
2、荧光分析的特点X荧光光谱分析在分析测试领域内的发展非常快，根据其分析原理，可以看出X荧光分析具有以下特点：优点：(a)分析速度高。
测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2〜5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。
(b)X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。
(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。
特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。
波长变化用于化学位的测定。
(c)非破坏分析。
在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。
同一试样可反复多次测量，结果重现性好。
(d)X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。
可分析的元素范围从F到U。
能量色散的X荧光分析仪器的元素分析范围一般是Na 到U，含量范围为10PPm〜100% (根据样品的不同，其最低检出限不同。
(e)分析精密度高。
(f)制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。
缺点：(a难于作绝对分析，故定量分析需要标样。
(b)对轻元素的灵敏度要低一些。
二、X荧光分析仪器的构造和性能1、X荧光分析仪器的种类由于E= he/,表示了射线能量E与波长的关系。
其中h为普朗克常数、c为光速，因此E和可以反映同一特征X射线，因此，有两大类X荧光分析方法，即波长色散法和能量色散法。
以下就按这两类方法构成的仪器，分别讲述他们的原理及构造。
2、波长色散型这类仪器的基本方法是使用一分光晶体，先将不同波长的X射线按不同的衍射角色散，然后用探测器测量X射线的强度，这样从测角器的指示便能知道被测X射线的波长，从X射线的强度测量便能知道发射此种X射线的元素的含量。
其基本结构为：激发源系统、分光系统、探测器和记录分析器系统，如下图所示。
11、激发源2、样品3、分光系统3 4 5 4、探测器5、记录分析器2操作台由于分光系统中的晶体，窄缝等会随温度变化而变化，所以系统中必须要有恒温系统。
另外，X光管功率很大必须使用水冷却系统。
2. 1.波长色散的分光方法典型的分光方法是平行射束法和聚焦法，实际上是平行晶体和弯曲晶体的区别。
弯曲晶体可以达到射线聚焦的作用。
3、能量色散法能量色散法就是直接利用探测器的能量分辨本领和正比工作特性区分不同能量的X 射线。
其仪器的基本构成是：激发源、样品、、探测器和多道谱及运算处理器。
如图所示。
A A样品操作台B B激发源探测器多道谱仪运算处理器4、探测器的分类由上面的光谱分析仪器的结构可以看出，每类仪器均要使用探测器，探测器是X荧光分析仪器的重要部件，因此对探测器有以下的要求：1）好的能量分辨率和能量线性。
2〕探测能量范围宽。
3〕死时间短，有优良的高计数率特性。
4〕良好的能谱特性。
5〕使用方便、可靠、坚固常见的探测器有以下几种类型：A、正比计数器其外形有园筒型和鼓形，结构上又分密封式和流气式。
密闭式结构示意图：窗正高压电阻中心丝邙日极〕绝缘物金属圆筒（阴极）流气式结构示意图：进气正高压电阻荷敏放大器岀气结构是一金属外壳内有一根中心丝极，管内充气体，中心丝极与外壳之间被加上高电压后，约500〜1500V，则当有X射线进入侧面的窗口后，会产生气体电离，这样，每接收一个X光子后，就输出一个幅度与X光子能量成正比的电脉冲，它有很好的能量线性，但能量分辨率较差，约为15%〜18%，即900ev,能量色散系统的能量分辨率定义为：对Mn k峰，它的半高宽与Mn k峰能量之比。
B、闪烁计数器常用的闪烁计数器主要由一块薄的铊激活碘化钠晶体Nal (TI)和一只跟它紧挨的光电倍增管组成，当Nal晶体接收一个X光子后，相应X光子的能量便产生一定数量的可见光子。
然后，在光电倍增管的光阴极上轰击出一些光电子，经过加速与倍增，最后，在阳极上形成很大的电脉冲，通过对这个讯号的测量可以判断入射X 光子的能量，一般能量分辨率很差，对Fek分辨率为60%，通常达不到能散的目的。
X射线B、半导体探测器硅锂漂移半导体探测器分为PN结构的，和PiN结构的的两种结构；另外还对有探测器还有G-M计数管，高纯锗半导体探测器和化合物半探测器等。
PN结构的组成是将高浓度的金属锂扩散到P型半导体材料硅或锗，形成P-N 结，在加上反向偏压后，在X光子打击下，就会产生与X光子能量对应的电脉冲，这类探测器能量分辨率很高，但需加低温，常常工作在液氮罐中，很不方便。
硅PIN探测器，用半导体制冷，在常温下保存，分辨率已达到140EV以下。
体积很小，使用非常方便。
在波长色散的X荧光分析仪器内，多采用正比计数器，流气计数器和闪烁计数器。
这三种计数器能量分辨率不好，但在波长色散仪器中，主要用来记录探测的光子的个数，并不影响波长色散仪器的分辨率。
流气计数器主要为了提高对轻元素的探测效率。
在能量色散这几种探测器均可以用到，但在高档的能谱仪器中，多采用半导体探测器，以提高探测器的分辨率和对轻元素的探测效率。
计数器对高能元素的探测效率很高，多用在高能元素的探测和检测元素序数差距较大时使用。
如，在黄金珠宝中对金银铜三元素的测试就是采用了正比计数器。
5、波长色散与能量色散仪器的比较1〕波散系统结构复杂，对环境的要求较高，维护使用要求比较专业，多采用专人操作使用与维护，能散系统相对简单，对环境要求相对较低。
2〕波散对低能X射线分析结果好，而能散方法正相反3）波散的分辨率比能量色散的分辨率高，但随着半导体技术的成熟与发展，两者之间的差距越来越小。
4）波散的背景控制比能散低的多，所以波散的同类样品，波散的检出限要比能散高。
尤其在主元素含量较高时，差别更大。
5）能量色散仪器的定性分析比波散要方便，定性分析速度更快。
6）波散可以随意选择探测样品中的待测元素，能散只能选择某元素以上，或以下的所有元素同时进行探测，不能单独选择某一个元素。
&全反射X荧光光谱仪器全反射是利用了入射角度很小时，射线将被样品表面完全反射，它可以降低X荧光的吸收与增强作用，减小背景散射，提高对痕量元素的检出限（最低可以达到10- 12g），对超薄金属样品分析，表面粗糙度的测定又很好的效果。
全反射仪器是能量色散仪器。
它包括，光源的单色准直，样品夹紧、位移控制，角度调节装置等部件，探测器，检测电路，设备的结构比较复杂，控制系统要求精度很高，但实际操作使用很简单。
在X荧光光谱仪器的分类中，根据结构的不同还可以细分，如：波散的仪器还有单扫描型，扫描多道型，固定道型，同时还有旋转样品等方式。
在仪器中还有二次靶X光管，多种滤光片的存在，这些内容将在以后的内容中叙述。
三、X射线激发源的种类及X光管的结构原理与种类常见的X光源有三种，一种是同步辐射源。
它只有在回旋加速器的实验室使用。
一种X光管，在大型的能散和波散X荧光分析仪中都采用的是这种光源。
第三种，则是同位素X光源。
这里主要对后两种光源进行阐述。
（一）同位素光源1、同位素个基本概念1自然衰变。
同位素X荧光源自发地衰变，每时每刻，无论你用不用它，衰变时发出X光。
每衰变一个就减少一个。
2半衰期。
同位素衰变是以指数的速度而衰变的。
人们把同位素衰减到最初的一半的强度的时间称为半衰期。
所以每隔一个半衰期，其放射性强度就剩下原来强度的一半。
3放射性强度。
又叫放射性活度，是指放射源每秒钟放出的粒子数。
单位常常用居里表示，1居里=3.710个/秒4同位素X光源的X光能量是单色不连续的。
不同的同位素源其能量是各不一样。
不同的同位素源其能量是各不一样的。
下面是几种常见的同位素X光源的指标览表。
名称半衰期台匕旦冃匕量分析兀素范围探测器55Fe （铁） 2.7年MnK 线5.9kev Si-V Nb-Ce氖气224Cm（锔17.8 年PuL 线14.279kev Ti- Se La-Pb氩气109Cd（镉 1.3年AgK 线22.104kev Cr-Mo Tb-U氩气241Am（镅433年59.6kev 射线Zn-Nd Hf-U氩气238Pm（钋87.7 年11.6-21.7kev Ti-Y l-Bi氩气2、激发光源选择的原则1）、激发源的X射线的能量必须高到足以激发待测元素的特征X射线。
2）、在能激发的前提下，能量越低越好3）、半衰期长一些好，源将比较稳定。
3、放射性同位素的特点1）、能量单一，对能量相近的元素激发效率较高，不能兼顾高低能量的元素。
2）、短时间内，放射性同位素的激发稳定性非常高。
3）、由于同位素的长期放射性的问题，在储存，使用，报废等环节上的防护要求都很高，因此，使用的放射计量不能很高。
在半导体探测器（探测窗口比较小）中的应用很少，在正比计数器的探测器上应用较多。
4）、特定的放射源的半衰期较短，使用年限短（二） X 光管1、X 光管的基本原理高速电子轰击物质，产生韧致辐射和标 识辐射。