半导体功率器件的散热计算
散热器散热量计算

散热器散热量计算散热器散热量计算00散热量是散热器的一项重要技术参数,每一种散热器出厂时都标有标准散热量(即△T=64.5℃时的散热量)。
但是工程所提供的热媒条件不同,因此我们必须根据工程所提供的热媒条件,如进水温度、出水温度和室内温度,计算出温差△T,然后根据各种不同的温差来计算散热量,△T的计算公式:△T=(进水温度+出水温度)/2-室内温度。
现介绍几种简单的计算方法:(一)根据散热器热工检验报告中,散热量与计算温差的关系式来计算。
在热工检验报告中给出一个计算公式Q=m×△Tn,m和n在检验报告中已定,△T可根据工程给的技术参数来计算,例:铜铝复合74×60的热工计算公式(十柱)是:Q=5.8259×△T (十柱)1.标准散热热量:当进水温度95℃,出水温度70℃,室内温度18℃时:△T =(95℃+70℃)/2-18℃=64.5℃十柱散热量:Q=5.8259×64.5 =1221.4W每柱散热量1224.4 W÷10柱=122 W/柱2.当进水温度80℃,出水温度60℃,室内温度18℃时:△T =(80℃+60℃)/2-18℃=52℃十柱散热量:Q=5.8259×52 =926W每柱散热量926 W÷10柱=92.6W/柱3.当进水温度70℃,出水温度50℃,室内温度18℃时:△T =(70℃+50℃)/2-18℃=42℃十柱散热量:Q=5.8259×42 =704.4W每柱散热量704.4W ÷10柱=70.4W/柱(二)从检验报告中的散热量与计算温差的关系曲线图像中找出散热量:我们先在横坐标上找出温差,例如64.5℃,然后从这一点垂直向上与曲线相交M点,从M点向左水平延伸与竖坐标相交的那一点,就是它的散热量(W)。
(三)利用传热系数Q=K·F·△T一般来说△T已经计算出来,F是散热面积,传热系数K,可通过类似散热器中计算出来或者从经验得到的,这种计算方法一般用在还没有经过热工检验,正在试制的散热器中。
可控硅散热能力的大小对技术参数的影响

可控硅散热能力的大小对技术参数的影响一、发热因素1、可控硅管芯发热半导体器件在工作时都有一定的损耗,大部分的损耗变成热量。
可控硅发热源是它的管芯PN结。
小功率半导体器件损耗小,发热量也很小,不需要外加散热装置。
而大功率半导体器件损耗大,发热量也很大,若不采取特殊散热措施,则管芯的温度可达到或超过允许的结温,半导体器件将受到损坏。
最常用的散热措施就是将半导体功率器件安装在散热器上,利用散热器将热量散到周围空间,必要时再加上散热风扇,以一定的风速加强冷却散热。
2.环境温度由于电热恒温干燥箱工作温度往往比较高,一般都工作在80°℃-250°℃之间。
虽然控制箱与发热工作室之间有隔热层分隔,但在长时间的工作过程中部分热能会传递到控制箱侧,使其大功率可控硅环境温度亦会升高,达到40°℃-60℃,甚至更高。
二.散热计算散热计算就是在给定的工作条件下,通过计算来选择合适的散热措施及散热器。
半导体功率器件安装在散热器上,它的主要热传导方向是由管芯传导到器件的底部,底部再传导到散热器,散热器将热量传导到周围空间。
若没有风扇以一定风速冷却,这称为自然风冷却或自然对流冷却。
电热恒温干燥箱温度控制用的大功率可控硅散热方式主要选择自然风冷散热系统。
自然风冷散热系统主要由大功率可控硅与散热器组成。
它主要的功能是把可控硅管芯中因功耗而产生的热量传导出来,传到相对温度较低的散热器翅片上;流动的空气与散热片充分接触,把散热器中的热量传到空气中带走,起到降温作用。
在自然风冷状态下,空气与散热器之间的热交换依靠空气对流的形式来完成的。
无论在何种情况下,辐射传热是同样存在。
为了提高热辐射能力常把散热器表面做黑,可提高散热效率1%-2%左右。
但由于所占热能比重较小在计算中往往忽略。
MOSFET功率开关器件的散热计算

MOSFET功率开关器件的散热计算MOSFET(金属-氧化物-半导体场效应晶体管)是一种常用的功率开关器件,用于调节和控制电子电路中的功率输出。
在工作过程中,MOSFET 会产生一定的功耗,这会导致器件升温,为了保证器件的正常工作,需要进行散热计算。
散热计算的目的是确定器件的热阻和最大工作温度,以便选择适当的散热方式,以及确定散热器的大小和材料。
首先,我们需要了解MOSFET的功耗,计算器件的热阻和最大工作温度。
1.功耗计算:-静态功耗是指器件处于稳态工作时的功耗,主要是由电流引起的导通压降和漏极电流引起的静态功耗。
-动态功耗是指在开关过程中,由于MOSFET开关速度造成的功耗。
静态功耗可以通过电流和导通压降计算得出,动态功耗则需要根据MOSFET的开关速度和应用场景来进行估算。
一般来说,静态功耗较小,可以忽略不计,因此我们主要关注动态功耗。
2.热阻计算:热阻由两个组成部分构成:导热阻(junction-to-case thermal resistance)和散热阻(case-to-ambient thermal resistance)。
-导热阻是指热量从MOSFET结到器件封装外壳的传导阻力。
-散热阻是指热量从器件封装外壳传递到周围环境的散热阻力。
导热阻可以通过器件手册或厂商提供的数据手册来获得,散热阻可以通过热量传导理论和计算公式来估算。
3.最大工作温度:最大工作温度可以通过器件手册或厂商提供的数据手册来获得。
有了以上的基础知识,我们可以按照以下步骤进行MOSFET的散热计算:1.根据应用场景和数据手册提供的参数,计算出MOSFET的功耗。
2.根据功耗计算出MOSFET的热阻(包括导热阻和散热阻)。
3.确定最大工作温度,通常根据数据手册提供的温度参数来确定。
4.根据最大工作温度和热阻,计算出器件离开环境的温度差。
5.根据热耗的温度差和功耗,计算出散热器的尺寸和材料。
需要注意的是,散热计算是一个非常复杂的过程,涉及到多方面的因素,包括器件的封装类型、散热器的设计和材料选择等。
功率半导体元件的损耗计算分析方法

功率半导体元件的损耗计算分析方法导通损耗:导通损耗是在功率器件导通状态下消耗的功率,主要由导通电阻和开关元件的导通电压引起。
导通电流越大、导通压降越大,导通损耗也就越大。
关断损耗:关断损耗是在开关管和二极管关断时消耗的功率,主要由开关过程中的存储电荷和关断电压引起。
关断电流越大、关断压降越大,关断损耗也就越大。
2.导通损耗计算方法导通损耗的计算方法主要有两种:基于静态条件的方法和基于动态条件的方法。
基于静态条件的方法:即根据功率半导体元件的静态参数来计算导通损耗。
主要考虑的静态参数有导通电阻和导通电流。
导通损耗可以通过下式计算得到:Pcon = Rcon * Icon^2其中,Pcon为导通损耗,Rcon为导通电阻,Icon为导通电流。
基于动态条件的方法:即根据功率半导体元件的开关特性来计算导通损耗。
主要考虑的动态参数有开关时间和导通电压。
导通损耗可以通过下式计算得到:Pcon = Ucon * Icon * tsw其中,Pcon为导通损耗,Ucon为导通电压,Icon为导通电流,tsw 为开关时间。
3.关断损耗计算方法关断损耗的计算方法主要有两种:基于静态条件的方法和基于动态条件的方法。
基于静态条件的方法:即根据功率半导体元件的静态参数来计算关断损耗。
主要考虑的静态参数有关断电流和关断电压。
关断损耗可以通过下式计算得到:Psw = Isw * Vsw其中,Psw为关断损耗,Isw为关断电流,Vsw为关断电压。
基于动态条件的方法:即根据功率半导体元件的开关特性来计算关断损耗。
主要考虑的动态参数有开关时间和存储电荷。
关断损耗可以通过下式计算得到:Psw = Qrr * Urr * fsw其中,Psw为关断损耗,Qrr为存储电荷,Urr为反向恢复电压,fsw 为开关频率。
4.总损耗计算方法总损耗为导通损耗和关断损耗之和。
根据上述导通损耗和关断损耗的计算方法,可以得到总损耗的计算方法:Ptotal = Pcon + Psw其中,Ptotal为总损耗,Pcon为导通损耗,Psw为关断损耗。
半导体功率计算

半导体功率器件的散热计算晨怡热管2006-12-31 0:58:06【摘要】本文通过对半导体功率器件发热及传热机理的讨论,导出了半导体功率器件的散热计算方法。
【关键词】半导体功率器件功耗发热热阻散热器强制冷却一、半导体功率器件的类型和功耗特点一般地说,半导体功率器件是指耗散功率在1瓦或以上的半导体器件。
按照半导体功率器件的运用方式,可分为半导体功率放大器件和半导体功率开关器件。
1、半导体功率放大器件半导体功率放大器又因其放大电路的类型分为甲类放大器、乙类推挽放大器、甲乙类推挽放大器和丙类放大器。
甲类放大器的理论效率只有50%,实际运用时则只有30%左右;乙类推挽放大器的理论效率也只有78.5%,实际运用时则只有60%左右;甲乙类推挽放大器和丙类放大器的效率介乎甲类放大器和乙类推挽放大器之间。
也就是说,半导体功率放大器件从电源中取用的功率只有一部分作为有用功率输送到负载上去,其余的功率则消耗在半导体功率放大器件上,半导体功率放大器在工作时消耗在半导体功率放大器件上的功率称为半导体功率放大器件的功耗。
半导体功率放大器件的功耗为其集电极—发射极之间的电压降乘以集电极电流:P D=U ce·I c(式1—1)式中P D为半导体功率放大器件的功耗(单位W)。
U ce为半导体功率放大器件集电极—发射极之间的电压降(单位V)。
I c为半导体功率放大器件的集电极电流(单位A)。
线性调整型直流稳压电源中的调整管是工作在放大状态的半导体功率放大器件,所以其功耗的计算和半导体功率放大器件的功耗计算是相似的。
例如一个集成三端稳压器,其功耗就是:输入端—输出端电压差乘以输出电流。
2、半导体功率开关器件半导体功率开关器件例如晶体闸流管、开关三极管等。
它们的工作状态只有两个:关断(截止)或导通(饱和)。
理想的开关器件在关断(截止)时,其两端的电压较高,但电流为零,所以功耗为零;导通(饱和)时流过它的电流较大,但其两端的电压降为零,所以功耗也为零。
(完整版)晶体管(或半导体)的热阻与温度、功耗之间的关系

晶体管(或半导体)的热阻与温度、功耗之间的关系为:Ta=Tj-*P(Rjc+Rcs+Rsa)=Tj-P*Rja下图是等效热路图:公式中,Ta表示环境温度,Tj表示晶体管的结温, P表示功耗,Rjc表示结壳间的热阻,Rcs表示晶体管外壳与散热器间的热阻,Rsa表示散热器与环境间的热阻。
Rja表示结与环境间的热阻。
当功率晶体管的散热片足够大而且接触足够良好时,壳温Tc=Ta,晶体管外壳与环境间的热阻Rca=Rcs+Rsa=0。
此时Ta=Tj-*P(Rjc+Rcs+Rsa)演化成公式Ta=Tc=Tj-P*Rjc。
厂家规格书一般会给出,最大允许功耗Pcm、Rjc及(或) Rja等参数。
一般Pcm是指在Tc=25℃或Ta=25℃时的最大允许功耗。
当使用温度大于25℃时,会有一个降额指标。
以ON公司的为例三级管2N5551举个实例:2N5551规格书中给出壳温Tc=25℃时的最大允许功耗是1.5W,Rjc是83.3度/W。
代入公式Tc=Tj- P*Rjc有:25=Tj-1.5*83.3可以从中推出最大允许结温Tj 为150度。
一般芯片最大允许结温是确定的。
所以,2N5551的允许壳温与允许功耗之间的关系为:Tc=150-P*83.3。
比如,假设管子的功耗为1W,那么,允许的壳温Tc=150-1*83.3=66.7度。
注意,此管子Tc =25℃时的最大允许功耗是1.5W,如果壳温高于25℃,功率就要降额使用。
规格书中给出的降额为12mW/度(0.012W/度)。
我们可以用公式来验证这个结论。
假设壳温为Tc,那么,功率降额为0.012*(Tc-25)。
则此时最大总功耗为1.5-0.012*(Tc-25)。
把此时的条件代入公式Tc=Tj- P*Rjc得出:Tc=150-(1.5-0.012*(Tc-25))*83.3,公式成立。
一般情况下没办法测Tj,可以经过测Tc的方法来估算Tj。
公式变为:Tj=Tc+P*Rjc同样以2N5551为例。
功率器件的散热计算及散热器选择详细说明

功率器件的散热计算及散热器选择H e a t D i s p e r s i o n C a l c u l a t i o n F o r P o w e r D e v i c e s a n d R a d i a t o r s S e l e c t i o n功率管的散热基础理论功率管是电路中最容易受到损坏的器件.损坏的大部分原因是由于管子的实际耗散功率超过了额定数值.那么它的额定功耗值是怎样确定的,还有没有潜力可挖呢?让我们来分析一下.晶体管耗散功率的大小取决于管子内部结温Tj. 当Tj 超过允许值后,电流将急剧增大而使晶体管烧毁.硅管允许结温一般是125~200℃,锗管为85℃左右(具体标准在产品手册中给出).耗散功率是指在一定条件下使结温不超过最大允许值时的电流与电压乘积.管子消耗的功率越大,结温越高.要保证结温不超过允许值,就必须将产生热散发出去.散热条件越好,则对应于相同结温允许的管耗越大,输出也就越大.因此功率管的散热问题是至关重要的.热阻为了描述器件的散热情况,引入热阻的概念.电流流过电阻R ,电阻消耗功率RI 2[W](每秒RI 2焦耳能量),导致电阻温度上升。
用隔热材料覆盖电阻,电阻产生的热量不能散发时,则电阻温度随着时间增加而上升,直至电阻烧坏。
一般而言,二物体间的温差越大,温度高的物体向低的物体移动量增多。
某电阻置于空气中(如图6.33所示),由于流过电流向电阻提供功率,这功率变为热能。
在使电阻温度生高的同时,部分热能散发于空气中。
开始有电流流过电阻时,电阻温度不高,因此散发的热也小,电阻温度逐渐上升,散发的热量也上升与用电阻表示对电流的阻力类似.热阻表示热传输时所受的阻力.即由U1-U2=I ×R 可有类似的关系T1-T2=P ×R T (1-1)其中T1-T2为两点温度之差,P 为传输的热功率,R T 是传输单位功率时温度变化度数,单位是℃/W.RT 越大表明相同温差下散发的热能越小.于是结温Tj,环境温度Ta,管耗PCM 及管子的等效热阻R T 之间有以下的关系 Tj-Ta=P CM ×RT (1-2)若环境温度一定(常以25℃为基准), Tj 已定,则管子等效热阻越小,管耗P CM 就越可以提高.下面我们来看看管子的散热途径及等效热阻的情况.以晶体管为例.图1-1(a)是晶体管散热的示意图.从管芯(J-Junction)到环境(A-Ambient)之间有几条散热途径: 管芯(J)到外壳(C-Case),通过外壳直接向环境(A)散热;或通过散热器(S)(中间有界面)向环境散热.不同的管芯(指材料、工艺不同)本身的散热情况不同,或者说热阻不同.外壳、散热器等的热阻也各不相同.我们可用一个等效电路来模拟这个散热情况,如图1-1(b)所示.散发的热能Pc 表示为电流的形式;两点的温度分别为结温Tj,和环境温度Ta;结到外壳的热租用Rjc 表示,外壳到环境用Rca 表示,外壳到散热器用Rcs 表示,散热器到环境用Rsa 表示,加散热器后有两条并存的散热途径.图1-1 晶体管散热情况分析(a)晶体管散热示意图 (b)散热等效电路对于小功率管,一般不用散热器,则管子的等效热阻为R T = Rjc+ Rca (1-3)而大功率管加散热器后,一般总有Rcs+ Rsa<<Rca,则R T ≈ Rjc+ Rcs+ Rsa (1-4) 不同的管子Rjc 不同,比如MJ21195的Rjc=0.7℃/W,而MJE15034的Rjc=2.5℃/W. Rca 与管壳的材料和几何尺寸有关. Rsa 与散热器的材料(铝、铜等)及散热面积等有关.并且发现将它垂直放置比水平放置散热效果好,表面钝化涂黑又可改进热外壳C 散热器S (a)Pc (b) 易腾科技有限公司w w w s r p .c o mRcs 是管壳与散热器界面的热阻.可分为接触热阻和绝缘层热阻.接触热阻取决于接触面的情况,如面积大小、压紧程度等.若在界面涂导热性能较好的硅脂可减少热阻.当需要与散热器绝缘时(如利用外壳、底座进行散热的情况),垫入绝缘层也会形成热阻.绝缘层可以是0.05~0.1mm 厚的云母片或采用阳极氧化法在表面形成的绝缘层.若已知管子的总热阻为R T ,则在环境温度为T A 时允许的最大耗散功率可由式(1-2)得出.在产品手册上给出的管耗只在指定散热器(材料、尺寸一定)及一定环境温度下的最大允许值.若散热条件发生变化,则允许的管耗也应随之改变.对于其它类型的器件(包括集成功放等),耗散功率和散热的关系均与此类似.因此在使用中必须注意环境温度及合适的散热器(同时要注意器件与散热器的压紧情况等),才能获得所需的功率.图1-2 铝散热板的热阻实际产品设计的散热计算目前的电子产品主要采用贴片式封装器件,但大功率器件及一些功率模块仍然有不少用穿孔式封装,这主要是可方便地安装在散热器上,便于散热。
功率MOSFET的功率损耗公式

功率MOSFET的功率损耗公式
MOSFET(金属氧化物半导体场效应管)是一种常用的功率器件,广泛
应用于各种电子设备中。
在工作过程中,MOSFET会产生一定的功率损耗,这些损耗大部分转化为热量,需要通过适当的散热手段进行散热,以保持
器件的正常工作温度。
因此,对功率损耗的准确计算和估算是至关重要的。
首先是导通损耗。
当MOSFET处于导通状态时,导通电流通过MOSFET
的导通电阻,导致功率损耗。
导通损耗可以使用以下公式进行计算:P_cond = I^2 * R_ds_on
其中,P_cond是导通损耗,单位为瓦特(W),I是MOSFET的导通电流,单位为安培(A),R_ds_on是MOSFET的导通电阻,单位为欧姆(Ω)。
其次是开关损耗。
当MOSFET从导通状态转为截止状态(或从截止状
态转为导通状态)时,会有一定的开关过程,这会产生开关损耗。
开关损
耗可以使用以下公式进行计算:
P_sw = 0.5 * V_ds * I * f_sw * (t_r + t_f)
其中,P_sw是开关损耗,单位为瓦特(W),V_ds是MOSFET的漏极-
源极电压,单位为伏特(V),I是MOSFET的导通电流,单位为安培(A),f_sw是开关频率,单位为赫兹(Hz),t_r是MOSFET的上升时间,单位为秒(s),t_f是MOSFET的下降时间,单位为秒(s)。
综上所述,功率MOSFET的功率损耗公式包括导通损耗和开关损耗两
个主要部分,分别计算了MOSFET在导通状态和开关状态时的功率损耗。
通过准确计算和估算功率损耗,我们可以更好地设计和优化电路,确保MOSFET的正常工作和可靠性。
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半导体功率器件的散热计算佛山职业技术学院陈荣光【摘要】本文通过对半导体功率器件发热及传热机理的讨论,导出了半导体功率器件的散热计算方法。
【关键词】半导体功率器件功耗发热热阻散热器强制冷却一、半导体功率器件的类型和功耗特点一般地说,半导体功率器件是指耗散功率在1瓦或以上的半导体器件。
按照半导体功率器件的运用方式,可分为半导体功率放大器件和半导体功率开关器件。
1、半导体功率放大器件半导体功率放大器又因其放大电路的类型分为甲类放大器、乙类推挽放大器、甲乙类推挽放大器和丙类放大器。
甲类放大器的理论效率只有50%,实际运用时则只有30%左右;乙类推挽放大器的理论效率也只有78.5%,实际运用时则只有60%左右;甲乙类推挽放大器和丙类放大器的效率介乎甲类放大器和乙类推挽放大器之间。
也就是说,半导体功率放大器件从电源中取用的功率只有一部分作为有用功率输送到负载上去,其余的功率则消耗在半导体功率放大器件上,半导体功率放大器在工作时消耗在半导体功率放大器件上的功率称为半导体功率放大器件的功耗。
半导体功率放大器件的功耗为其集电极—发射极之间的电压降乘以集电极电流:PD =Uce·Ic(式1—1)式中PD为半导体功率放大器件的功耗(单位W)。
Uce为半导体功率放大器件集电极—发射极之间的电压降(单位V)。
Ic为半导体功率放大器件的集电极电流(单位A)。
线性调整型直流稳压电源中的调整管是工作在放大状态的半导体功率放大器件,所以其功耗的计算和半导体功率放大器件的功耗计算是相似的。
例如一个集成三端稳压器,其功耗就是:输入端—输出端电压差乘以输出电流。
2、半导体功率开关器件半导体功率开关器件例如晶体闸流管、开关三极管等。
它们的工作状态只有两个:关断(截止)或导通(饱和)。
理想的开关器件在关断(截止)时,其两端的电压较高,但电流为零,所以功耗为零;导通(饱和)时流过它的电流较大,但其两端的电压降为零,所以功耗也为零。
也就是说,理想的开关器件的理论效率为100%(无损耗)。
但实际的半导体功率开关器件在关断(截止)时,其两端的电压最高,但电流不为零,总有一定的反向穿透电流IO,则其关断(截止)时的功耗为:POFF = Uce·IO(式1—2)式中:POFF为半导体功率开关器件在关断时的功耗(单位W)。
Uce为半导体功率开关器件集电极—发射极之间或阳极—阴极之间的的电压(单位V)。
IO为半导体功率开关器件的反向穿透电流(单位A)。
由于目前常用的半导体功率开关器件大多数是使用硅材料制造的,其反向穿透电流一般为微安级,所以半导体功率开关器件在关断时的功耗实际上是很小的,一般为毫瓦级。
实际的半导体功率开关器件在导通(饱和)时,其两端的电压很低,称为导通压降(饱和压降),对于常用的硅器件大约为0.3伏,但由于导通电流一般很大,约为几安到几十安,甚至几百安,所以其导通(饱和)时的功耗一般为几瓦到几十瓦。
实际的半导体功率开关器件在导通(饱和)时,其功耗为:Pon = US·IS(式1—3)式中:Pon为半导体功率开关器件在导通(饱和)时的功耗(单位W)。
US为半导体功率开关器件导通压降或饱和压降(单位V)。
IS为半导体功率开关器件的导通电流或饱和电流(单位A)。
另外,实际的半导体功率开关器件在导通(饱和)和关断(截止)状态之间转换时必然要经过一个中间过程,这个过程的电压和电流均较大,如果开关器件的开关特性良好,则这个过程时间很短,功耗较小;如果开关器件的开关特性较差,则这个过程时间较长,功耗较大。
以上三个过程的功耗之和,就是实际的半导体功率开关器件在一个工作周期内的功耗。
综上所述,无论是半导体功率放大器件还是半导体功率开关器件在工作时都不可避免地产生功率损耗,功耗的能量将以热量的形式散发出来,使半导体器件的温度升高。
二、功耗、热阻和温升如前所述,半导体功率器件的管耗将会使半导体器件的温度升高。
当半导体器件的温度升高到一定值时,其内部结构,即PN结将破坏而使器件失效。
例如,对于锗材料器件,结温度达到约90℃时PN结将会破坏,而对于硅材料器件,这个温度大约是200℃。
为了使半导体功率器件能正常工作,锗材料器件的极限工作温度一般规定为80℃,而硅材料器件的极限工作温度一般规定为150℃。
如果能把半导体功率器件工作时发出的热量及时散发到周围环境中去,则其工作温度就可能维持在极限工作温度以下,器件就可以处于安全的温度环境之中。
对于不同散热条件的器件,消耗同样功率时的温升是不同的。
我们把每单位功耗下器件系统的温升定义为热阻,一般用符号R θ表示,其单位是W/℃。
器件系统的热阻等于其管芯的热量传递到周围环境的传热途径上所有环节的热阻的总和,即:R jA θ=R jC θ+R CS θ+R SA θ (式2—1)式中:R jA θ— 器件外壳的总热阻 R jC θ— 管芯到外壳的热阻 R CS θ— 外壳到器件表面的热阻 R SA θ— 器件表面到周围环境的热阻 图2 — 1为半导体功率器件安装的示意图图2 — 1 半导体功率器件安装示意图图2 — 2为半导体功率器件的传热途径和热阻示意图图2 — 2 半导体功率器件的传热途径和热阻示意图在热传导过程中,功耗温升与热阻之间有以下关系: P D = ∑∆θR T(式2—2) 式中:P D — 半导体器件的功耗,单位:W ΔT — 芯片与环境的温度差,单位:℃∑ R θ—在ΔT 的温差下,传热系统各环节热阻的总和,单位:℃/W下面把(式2—1)中的各项热阻作如下说明: 1、R jA θ— 器件外壳的总热阻该项热阻主要由整个器件(包括管芯、底板、管壳)的材料、结构所决定。
表2 — 1给出了几种不同封装的半导体功率器件的R jA θ值。
表2 — 1几种主要外壳封装的半导体功率器件的R jA θ值。
2、R jC θ— 管芯到外壳的热阻该项热阻主要与器件的底座的材料和尺寸有关,铜底座和厚板结构者热阻较小。
表2 — 2给出了几种不同封装的半导体功率器件的R jC θ值。
表2 — 2几种主要外壳封装的半导体功率器件的R jC θ值。
3、R CS θ— 外壳到器件表面的热阻该项热阻主要由器件外壳的材质和厚度和封装方式决定。
铜质厚板的器件热阻最小,铁质薄板的次之,塑料封装的热阻最大。
该项热阻也和是否装有散热板以及管壳与散热板之间的导热介质有关。
表2 — 3给出了几种不同封装和不同导热介质的半导体功率器件的R CS θ值。
表2 — 3几种主要外壳封装的半导体功率器件的R CS θ值。
4、散热器的热阻R Tf该项热阻主要由器件的散热系统的材料和结构有关。
铜质的散热器热阻最小,铝质散热器热阻也较小,铁质散热器的热阻较大,而不外加散热器时热阻最大;采用自然空气冷却时的热阻较大,采用强制风冷时的热阻较小。
散热器的的表面积,即散热器与空气直接接触的面积是决定散热器热阻的主要参数。
此外,散热器的安装位置对热阻也有影响。
例如水平放置的平板散热器的热阻比垂直放置的要大。
铝质平板散热器的热阻可参考表2 — 4铝质平板散热器的热阻也可参考图2 — 3选取图2 — 3 铝质平板散热器的热阻三、计算实例现有一只S — 7封装的硅功率半导体器件,查器件手册得知其极限运用温度T jM =150℃,现根据其工作条件决定工作环境温度T A =70℃。
1、求它在不带散热器时的极限功耗。
2、若它在实际工作时的功耗为750mw ,极限运用温度T jM 为125℃,求它在不带散热器时的极限环境温度。
3、若要求它的实际功耗为5.5W ,允许的最高器件工作温度为100℃,允许最高工作环境温度为40℃。
问该器件正常工作时是否需要加装散热器?如果要加装平板散热器,又要求散热器垂直放置,求所需的散热器面积。
解:1、查表表2 — 1,得S — 7封装的器件的热阻R jC =63 ℃/W 代入式2 — 2:P D =∑∆θR T =jA A jM R T T θ-=6370150-=1.27(W) 也就是说,S — 7封装的硅功率半导体器件不带散热器在极限运用温度为T jM =150℃,工作环境温度T A =70℃时的允许功耗不得超过1.27W 。
2、若它在实际工作时的功耗为750mw ,极限运用温度T jM 仍为150℃,据式2 — 2:P D =∑∆θR T=jAA jM R T T θ- 则: T A =T jM — R jA θ·P D=125 — 63×0.75 =77.75℃3、若要求它的实际功耗为5.5W ,这已经超出了它在不带散热器时的极限功耗,所以器件必须加装散热器。
加装了散热器之后,总热阻为管芯到外壳的热阻R jC θ、外壳到器件表面,即到散热器的热阻R CS θ及散热器热阻R Tf 之和,则式2 — 2应改写为:P D =TfCS jC A j R R R T T ++-θθ由表2 — 2、表2 — 3、分别查得S —7封装的器件的R jC θ=4 ℃/W 、 R CS θ=3 ℃/W ,把P D =5.5W 、R jC θ=4 ℃/W 、R CS θ=3 ℃/W 代入上式得: 散热器热阻R Tf 应为:R Tf =DAj P T T - — R jC θ — R CS θ=5.540100- — 4 — 3=3.9℃/W查表2 —4或图2 —3均可得铝平板散热器的面积S=200cm2(厚1.5mm)。
四、工艺问题在安装散热器时还应注意以下几点工艺问题::1、散热器与器件的接触面应平整,在整个接触面内测量,平面度误差不大于0.1mm。
2、在器件与散热器接触面之间最好涂一层硅脂或凡士林,以增加导热性能,减少热阻。
3、一般用M3或M4的螺拴将器件紧固在散热器上,相应的紧固扭矩大约是3 —4N·m。
扭矩太小会增加热阻,扭矩太大则会使螺拴—螺母系统产生非弹性变形,反而减小紧固力,甚至使螺拴—螺母系统滑扣而失效。
4、散热器经表面电氧化处理后表面呈黑色,可提高散热效果。
5、大部分的功率半导体器件的金属外壳同时作为一个电极使用,当器件的金属外壳对应的电极要求对散热器有电绝缘要求时,应使用专用的云母或聚脂绝缘垫片和绝缘垫圈紧固器件,并应在安装后检查确保绝缘良好。
6、如果设备的结构紧凑,空间位置不允许安装足够尺寸的散热器,或器件周围的空间较小,不能保证足够的空气对流,则应考虑使用强制冷却的方法,即在设备内安装冷却风扇。
使用体积较小而面积较大的翅式散热器可得到比平板散热器更好的散热效果。
一种内部充有优良导热液体的热管散热器,散热性能更为优良,已经逐步应用在高挡的音频功率放大器上。
—全文完—二00三年五月参考文献:1、清华大学电子工程系、工业自动化系编:《晶体管电路》。