无损检测仪器校验规程
监测仪器使用与校验制度范本
监测仪器使用与校验制度范本一、概述本制度旨在规范监测仪器的使用与校验，确保监测数据的准确性和可靠性。
所有使用监测仪器的人员必须遵守本制度，严格按照规定进行操作和校验。
二、仪器使用1. 使用前准备a) 在使用仪器前，检查仪器是否存在损坏或故障，如有问题应及时报修或更换。
b) 确保仪器已经校准，校准证书应与仪器一同存放。
c) 准备好所需的试剂、标准品、标准溶液等实验材料。
d) 检查仪器所需的环境条件是否满足要求。
2. 仪器操作a) 仔细阅读仪器使用说明书，了解操作步骤和注意事项。
b) 切勿强行操作，如遇到问题应及时咨询专业人员。
c) 操作中应佩戴个人防护装备，避免发生意外事故。
d) 操作完毕后，将仪器进行清洁和维护，保持仪器的良好状态。
3. 数据记录与保存a) 在使用仪器时，准确记录相关数据和实验条件。
b) 数据记录应包括日期、仪器型号、实验方法、测量结果等信息。
c) 数据应保存在安全可靠的存储介质中，建议备份至多个存储位置。
三、仪器校验1. 校验计划a) 制定仪器校验计划，包括校验的频率和方法。
b) 高精度仪器应定期进行校准，普通仪器应定期进行功能验证。
2. 校验步骤a) 校验前应准备好校验标准品和校验方法。
b) 按照校验方法进行仪器校验，确保校验环境的稳定性。
c) 校验结果应与标准值进行对比，记录校验结果。
3. 校验记录与处理a) 将校验结果进行记录，包括校验日期、校验人员、校验方法等信息。
b) 如果仪器校验不合格，应立即停止使用并进行维修、更换。
c) 合格的仪器应继续使用，并在下一次校验前保持良好状态。
四、质量控制1. 定期质控a) 每天开始工作前进行定期质控，确保仪器的准确性和稳定性。
b) 定期质控应包括仪器复检、标准品检测等步骤。
2. 不符合处理a) 如果定期质控结果不符合要求，应立即停止检测并进行故障排除。
b) 不符合处理包括校准、维修、更换等措施，直到满足质控要求为止。
五、培训与考核1. 培训计划a) 制定监测仪器使用和校验的培训计划。
超声波探伤校验规程
超声波探伤校验规程1适用范围本规程适用于本公司新购置和使用中的超声波探伤仪与探头的系统性能的检验。
2检验周期2.1探伤仪性能（水平线性、垂直线性、动态范围）每隔半年进行校验一次；2.2探伤仪和探头的系统性能（灵敏度余量、始脉冲宽度及盲区、分辨力）使用前需进行校验，相关数据录入报告即可，不需专门检验报告。
3人员要求3.1超声波探伤仪校验人员都应经过专业培训，并持有国家质量技术监督局的II级或II 级以上的超声波检验人员资格证书；3.2超声波探伤仪校验人员应熟悉设备的各部分的作用及本规程；3.3超声波探伤仪校验人员应严格按照本规程操作超声波探伤仪，并对设备使用的安全性负责。
4认可需用标准器具4.1标准试块CSK-IA试块及200/①2平底孔试块；4.2所用试块必须是具有相应认证企业生产。
5操作步骤5.1.垂直线性5.1.1.5MHZ或其它频率的常用直探头，用压块将探头固定在200/Φ2平底孔试块上并对准中2孔（或其它试块25mm底面）。
调节探伤仪使示波屏上显示的孔的反射波幅度为垂直刻度的100%（满刻度），作为“0”dB,且衰减器至少有30dB余量；5.1.2.调节增益，依次记下每衰减2dB时相应的波高值Hi,并将实测相对波高值填入表1中，直至底波消失。
上表中：理论相对波高%=Hi(衰减adB后波高)/H0(衰减OdB时波高)X100%；实测相对波高％=10(-Δi∕20)×100%5.1.3.算垂直线性误差D=(∣d(÷)∣+∣d(-)∣)X100%式中d(+) ---- 最大正偏差；d(-) ---- 最大负偏差。
5.2.水平线性5.2.1..将直探头置于CSK-IA上，对准25mm厚的大平底面。
5.2.2.节探伤仪使示波屏上出现六次底波Bl到B6,且使Bl前沿对准0,B6对准10.0。
记录B2、B3、B4、B5与水平刻度值20、40、60、80的偏差值α2、α3、a4、α5。
无损检测设备操作规程
γ射线探伤机操作规程1．操作人员必须经过卫生防疫部门培训学习取得上岗证后，才可从事γ射线探伤机操作工作。
2．上岗人员必须穿戴防护用品（防护服等），携带报警仪，佩戴个人计量笔。
3．根据规范要求，计算出曝光时间，划定安全区域，设置警界标志。
4．工作必须在划定的区域内进行，并设置明显标志或信号，并设专人负责现场保卫，防止无关人员误入危险区，造成事故照射。
5．用剂量仪检查源是否在装置内，然后按下列步骤工作：5.1．根据需要的条件确定用几根输源管然后铺设输源管，但不允许用多于两根输源管进行工作，管与管连接要牢固，弯曲半径不得小于300mm，并检查有无损坏或砸扁现象，防止卡源事故。
5.2．将输源管端部曝光头用固定夹（架）牢固安放到曝光焦点处。
5.3．将探伤机主件放在输源管与之相连处，将源顶鞭卸下插入主机端部一小管内，接上输源管。
5.4．铺设控制导管，弯曲半径不得小于200mm，检查控制部件阳接头是否磨损（弯曲），操作是否灵活，有无卡死现象。
5.5．将锁打开，旋转选择到连接位置，卸下端盖。
5.6．在垂直方向，将控制部件驱动点一端的阳接头插入源组件阴接头内。
5.7．将驱动缆转90度与源组件成180度，严禁未装到位乱扭，防止接头被扭弯。
5.8．合上连接爪，将定位环推上，插入主件孔内，旋转选择到工作位置。
5.9．将源送到曝光位置，在摇动过程中，监视行程计数器，源快到位置时手柄摇动不得用力过猛，摇不动即到位，并检查行数器数字是否与输源管长度相符。
同时记录曝光时间。
6．回程时的工作步骤6.1．到预定曝光时间后，反向摇动曲柄，直到曲柄摇不动为止，行程计算数字应为0，在此过程中用剂量计监测，读数逐步升高，然后又回到本底值，此时源已回到探伤机主件内。
6.2．用剂量仪进一步检查源是否回到安全屏蔽位置。
6.3．旋转选择到连接位置，取下连接爪定位环。
6.4．打开连接爪，将驱动缆旋转到90度，从阴接头内取出阳接头。
6.5．将端盖上旋转选择环转到锁紧位置。
无损检测仪器设备计量检定规程校准规范
序号 规程编号
名称
1 JJF 1273-2011 磁粉探伤机校准规范
2 JJF 1458-2014 磁轭式磁粉探伤机校准规范
3 JJG 1049-2009 弱磁场交变磁强计
4 JJG 242-1995
特斯拉计
5 JJG 245-2005
光照度计
6 JJG 879-2002
18 JJG 452-2006
黑白密度片
19 JJG 962-2010
X、r辐射个人剂量当量率报警仪
20 JJF 1430-2013 X射线计时器校准规范
21 JJG 480-2007
X射线测厚仪
22 JJF 1126-2004 超声波测厚仪校准规范
23 JJF 1306-2011 X射线荧光镀层测厚仪校准规范
24 JJG 591-1989
γ射线辐射源（辐射加工用）
25 JJG 818-2005
磁性、电涡流式覆层厚度测量仪检定规程
26 北车标准
观片灯
27 CNAS-CL14：2010 检测和校准实验室能力认可准则 在无损检测领域的应用说明
28 铁科技[2006]31号 “关于公布《铁路专用计量器具管理目录》的通知”
规程/校准规范
Байду номын сангаас备注
超声波探伤用试块、提升力重力试块、黑
X射线探伤机
13 JJG 933-1998
γ射线探伤机
14 JJG 1059-2010 个人与环境监测用X、r辐射热释光剂量计
15 JJG 393-2003
辐射防护用X、γ 辐射剂量当量(率)仪和监测仪
16 JJG 1009-2006 直读式X、γ辐射个人剂量当量（率）监测仪
无损检测仪器设备的期间核查方法.docx
管电压（KV）无损检测仪器设备的期间核查方法一、射线检测1、曝光曲线的核查方法1.1核查周期射线设备均应制作曝光曲线，曝光曲线每年至少核查一次；射线设备更换重要部件或经较大修理后，应及时对曝光曲线进行核查。
1.2准备准备一块阶梯试块（图1）和2块补充试块，材料与被透照工件相同或相近。
其中补充试块尺寸长*宽*高为210*100*10（mm）。
胶片、增感屏等材料与制作曝光曲线时一致。
图1 制作曝光曲线的阶梯试块1.3 透照各机型按表一选择低、中、高三个管电压进行曝光三次，曝光时其他参数（曝光时间、焦距）与制作曝光曲线时一致。
得到一组胶片。
表一机型低中高1605 60 100 1402005 80 130 1802505 120 180 2303005 140 210 2801.4 暗室处理：按照制作曝光曲线时的暗室处理条件进行冲洗胶片。
1.5 测定：分别测定底片黑度为3.0（该黑度值与曝光曲线一致）时，对应的阶梯试块厚度。
1.6 核查结果判定：当上述测定的三个厚度值，与低、中、高管电压查原曝光曲线的厚度值之差在±2mm范围内，曝光曲线合格。
否则为不合格，应重新制作。
1.7 曝光曲线核查记录，按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL120”的表格进行记录。
2、黑度计（光学密度计）的核查方法2.1. 适用范围本规程用于对射线照相底片的黑度测量的黑度计的校验，使黑度计能够对射线底片黑度作出可靠的测定。
黑度计应每6个月校验一次，标准黑度片应每2年送计量单位检定一次。
2.2. 校验需用标准器具检定合格的标准黑度片一个。
2.3 操作步骤2.3.1 接通黑度计电源和测量开关，预热10min 左右。
2.3.2 用标准黑度片的零黑度点校准黑度计零点。
校准后顺序测量黑度片上不同黑度的各点的黑度，记录测量值。
2.3.3 按3.2的规定反复测量三次。
2.3.3 计算出各点测量值的平均值，以平均值与黑度片该点的黑度值之差作为黑度计的测量误差。
无损检测仪器使用方法说明书
无损检测仪器使用方法说明书一、前言无损检测是一种非破坏性的检测方法，通过使用专门的仪器设备对材料、构件或产品进行检测，以发现内部缺陷、结构损伤或材料性能问题，而无需对被测物体进行任何损伤或改变。
本使用方法说明书旨在向用户提供清晰明了的操作指南，以确保仪器的正确使用和高效运行。
二、仪器概述无损检测仪器是一种先进的技术设备，广泛应用于工业领域，包括航空航天、汽车制造、建筑工程、金属加工等。
仪器主要由以下组成部分构成：1. 主机：提供仪器的核心功能，包括信号处理、数据采集、图像显示等；2. 传感器/探头：用于将信号引入被测物体并获取返回信号；3. 显示屏/显示界面：用于显示检测结果、参数设置等；4. 操作按钮/接口：用户通过操作按钮进行参数设置和功能操作；5. 电源/充电器：提供仪器的电力供应。
三、使用步骤为了正确、高效地使用无损检测仪器，用户应按照以下步骤进行操作：1. 准备工作在使用仪器之前，用户应先检查仪器与附件是否完好无损，确保主机、传感器、显示屏等各部分正常工作。
同时，检查电源是否充足，如需更换电池或充电，应确保电量充足。
2. 开机与初始化将电源插头插入合适的电源插座，按下开机按钮，等待仪器进行启动和初始化。
在此过程中，用户应耐心等待，并确保仪器显示屏上出现正常的启动界面。
3. 参数设置根据被测物体的特点和检测要求，用户可以通过操作界面上的相关按钮进行参数设置。
包括但不限于检测方式选择、灵敏度调节、扫描范围设置等。
用户应根据实际需求和经验进行合理的参数设置。
4. 传感器/探头连接根据被检测物体的类型和形态，选择合适的传感器/探头，并将其连接到主机上。
确保连接牢固、接触良好，并避免出现松动、断裂等现象，以确保检测信号的准确采集。
5. 开始检测将传感器/探头置于被测物体表面，根据实际情况选择合适的检测模式和方法，开始进行检测。
在检测过程中，用户应密切关注仪器显示屏上的波形、图像等信息，以及可能出现的报警提示。
检验设备仪器量具校验管理制度范本
检验设备仪器量具校验管理制度范本一、目的和适用范围本制度旨在规范检验设备仪器量具的校验管理工作，确保设备仪器量具的准确性和可靠性，并适用于本单位的所有检验设备仪器量具。
二、基本要求1. 检验设备仪器量具的校验工作应符合国家有关标准和法规的要求。
2. 所有检验设备仪器量具的校验工作应由经过培训合格的专职校验人员进行。
3. 检验设备仪器量具的校验周期应按照规定进行，确保校验的及时性。
4. 校验人员应制定详细的校验方案和记录完整的校验结果。
5. 发现有异常或故障的检验设备仪器量具应及时进行维修或更换，确保校验的准确性和可靠性。
三、校验工作流程1. 校验计划制定（1）校验人员根据检验设备仪器量具的使用情况和标准要求，制定校验计划。
（2）校验计划应包括校验周期、校验内容、校验方法等详细信息。
2. 校验准备工作（1）校验人员应保证校验设备仪器量具的完好性和可靠性。
（2）校验人员应核对校验标准和校验工具的准确性和有效性。
3. 校验操作（1）校验人员应按照校验计划和标准要求进行校验操作。
（2）校验过程中应注意记录校验数据和结果，确保数据的准确性和可靠性。
4. 校验结果分析与处理（1）校验人员应对校验结果进行分析和评估，判断校验设备仪器量具的合格与否。
（2）对于不合格的校验设备仪器量具，应及时进行维修或报废，并记录详细的处理过程。
5. 校验记录和报告（1）校验人员应做好校验记录，包括校验日期、校验人员、校验结果等信息。
（2）校验人员应制作校验报告，并上报至相关部门，以备后续引用。
四、责任与权利1. 校验人员应严格按照本制度的要求进行校验工作，并对校验结果负责。
2. 校验人员有权要求领导层提供必要的支持和资源，以保障校验工作的顺利进行。
3. 相关部门应积极配合校验人员的工作，提供必要的协助和支持。
五、培训与管理1. 新入职的校验人员应接受相关培训，并通过相关考核合格后方可从事校验工作。
2. 校验人员应不断提高专业技能，定期参加相关培训和学习。
无损检测设备操作规程
无损检测设备操作规程无损检测是一种非破坏性的测试方法，广泛应用于工业生产和科学研究领域。
随着科技的不断发展，无损检测设备的种类不断增多，操作规程的制定和遵守对于确保检测结果的准确性和可靠性至关重要。
无损检测设备操作规程的制定应该从以下几个方面进行考虑。
首先，操作人员应熟悉无损检测设备的基本原理和工作原理。
无损检测设备包括超声波检测仪、涡流检测仪、磁粉检测仪等，每种设备都有其独特的工作原理和适用范围。
操作人员需要了解每种设备的使用方法和注意事项，确保能够正确选择和操作设备。
其次，操作人员应掌握设备的操作步骤和操作流程。
无损检测设备的操作步骤是按照标准化的流程进行的，每个步骤都必须按照要求进行，不能随意省略或更改。
例如，针对超声波检测仪，操作人员需要按照“设置参数-校准仪器-选择探头-涂覆耦合剂-触发测量”等步骤进行操作，确保测量结果的准确性。
第三，操作人员应严格遵守安全操作规定。
无损检测设备的操作过程中存在一些潜在的危险因素，例如超声波检测时高频声波对人体的损伤、涡流检测时电磁场对人体的影响等。
操作人员需要佩戴相应的防护设备，如手套、护目镜、防护服等，确保自身和他人的安全。
第四，操作人员应及时维护和保养设备。
无损检测设备是昂贵而精密的仪器设备，需要定期维护和保养，以确保其正常运行和准确测量。
操作人员应定期清洁设备，检查电缆、探头和连接器的完整性，注意防潮防尘，确保设备的长期稳定运行。
最后，操作人员应不断提升自己的专业技能。
无损检测技术是一个不断发展和创新的领域，操作人员需要密切关注行业的最新进展，参加培训和学术交流活动，不断提升自己的技术水平和专业能力，以应对不同场景下的检测需求。
总之，无损检测设备操作规程是确保检测结果准确和可靠的重要保证。
操作人员应熟悉设备的原理和操作步骤，遵守安全操作规定，定期维护设备，不断提升自己的技术能力。
只有在严格遵守规程的前提下，才能够保证无损检测的有效性和可靠性，为工业生产和科学研究提供可靠的保障。
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无损检测仪器校验规程
BLTXY-2014
编制：徐立新
审批：
发布：2014年1月1日执行：2014年1月1日北京宝隆特设备检测有限公司
目录
BLTXY01-2014《X射线探伤机曝光曲线的制作与校验规程》BLTXY02-2014《超声波探伤仪校验规程》
BLTXY03-2014《磁轭式交流磁粉探伤仪校验规程》
BLTXY04-2014《超声波测厚仪校验规程》
BLTXY05-2014《黑度计校验规程》
X射线探伤机曝光曲线的制作与校验规程
BLTXY01-2014
1．编制依据
依据JB/T4730-2005标准要求,每台在用X射线机应制作经常检验材料的曝光曲线。
依据曝光曲线选择曝光参数。
2．适用范围
本规程适用于X射线机曝光曲线的制作的校验。
3．应用器材
3.1 阶梯试块：阶梯级差为2mm，每级宽度不少于15mm，试块长度和宽度应不小于胶片尺寸，且宽度不小于100mm，长度不小于300mm。
3.2 TD-210黑度计
3.3 胶片及暗室处理
3.4观片灯
4．制作步骤：
每台设备的曝光曲线，应不少于3个选定管电压的参数曲线
4.1设计透照参数
每台设备制作3条曲线，每条曲线应设计1张参数表，其管电压的选择应为设备的较低、中等以及较高管电压，如250KVX射线机，推荐选择150KV、200KV、240KV；
参数设计表
4.2曝光试验
根据选择的曝光参数进行透照,透照时暗盒背面要用1mm的铅板屏蔽.
底片冲洗干燥后,用观片灯观察,并用黑度计测量,选择黑度
3.0(或与之最相接近)的部位,填入参数设计表的对应栏.
4.3绘制曝光曲线
根据参数设计表中的数据,绘制曝光曲线。
曝光曲线用对数坐标纸绘制。
纵坐标为曝光量的常用对数，横坐标为透照厚度。
胶片、增感屏、底片黑度、透照焦距、暗室处理条件、射线机型号及编号均在曝光曲线中注明。
5．曝光曲线的校验
在用设备每年应对曝光曲线进行一次校验。
设备更换重要部件或经大修后，应及时对曝光曲线进行校验，经校验其曝光参数与曝光曲线不相符时，应重新制作曝光曲线。
曝光曲线试验记录
超声波探伤仪校验规程
BLTXY02-2014
1. 编制依据：JB/T9214-1999 A型脉冲反射式超声波探伤仪系统性能测试方法和JB/T4730-2005承压设备无损检测。
2. 适用范围： A型脉冲反射式超声波探伤仪的校验。
3. 技术要求
3.1 垂直线性误差≤5%。
3.2 动态范围≥26dB。
3.3 水平线性误差≤1%。
3.4 灵敏度余量﹥10dB。
4. 校验项目
4.1 外观
4.2 垂直线性误差
4.3 动态范围
4.4 水平线性误差
4.5. 灵敏度余量
5. 校验用器材
5.1 探头： 2.5P10×12K2 HB-50专用直探头
5.2试块：CSK-ⅠA，CSK-ⅢA
6. 校验方法
6.1 外观检查
配件齐全，外表不得有硬的碰伤和变形，所有紧固件不得松动和脱落。
6.2 垂直线性误差校验
6.2.1 连接HB-50专用直探头，抑制关，调节衰减器和增益使荧光屏上显示波形其中之一为垂直刻度的100%，且衰减器至少有30dB 的衰减余量，设该波为H。
6.2.2 调节衰减器，依次记下每次衰减2dB时H波的幅度值，直至衰减26dB。
然后将H波幅度实测值与表6.2.2中的理论值相比较，最大正偏差d+与最大负偏差d-的绝对值之和为垂直线性误差△d。
6.3 动态范围校验
6.3.1 连接HB-50专用直探头，调节探伤仪衰减器和增益使荧光屏上显示的波形中之一为垂直刻度的100%，且衰减器至少有30dB的衰减余量。
表6.2.2
6.3.2 调节衰减器，读取幅度自垂直刻度的100%下降至刚能辨认的最小值时的调节量，为探伤仪的动态范围。
6.4 水平线性误差校验
6.4.1 连接HB-50专用直探头，调节探伤仪使其显示多次底波。
6.4.2 分别将底波调到相同幅度（如垂直刻度的80%）的条件下，使第一次底波B1的前沿对准水平刻度“2”，第五次底波B5的前沿对准水平刻度“10”；然后再依次将每次底波调到上述相同幅度并分别读出第二、第三、第四次底波前沿与水平刻度“4”“6”“8”的偏差L，然后取其最大偏差Lmax，按下式计算水平线性误差△L：
×100%
△L=Lmax
0.8B
式中：△L－水平线性误差
B－水平全刻度数
6.5 灵敏度余量校验
连接斜探头并置于CSK-ⅢA试块上，将增益调到最大，移动探头使80mm，Φ1×6短横孔波最高，再调节衰减器使孔波幅度为满刻度的50%。
记下此时衰减器的读数So，该读数即为该探头和仪器组合的灵敏度余量。
7. 校验结果
7.1 校验合格的仪器要出具校验报告，校验不合格的要进行修理调试，重新校验，直至合格。
7.2 校验周期为3个月。
当停用超过3个月时，在使用前应进行校验。
超声波探伤仪校验记录
北京宝隆特设备检测有限公司超声波探伤仪校验报告
BLTXY02-
磁轭式交流磁粉探伤机校验规程
BLTXY03-2014
1. 编制依据：JB/T4730-2005承压设备无损检测和JB/T8290-1998磁粉探伤机。
2. 适用范围：额定电源电压为交流220V，频率为50Hz的磁轭式交流磁粉探伤仪的校验。
3. 技术要求
3.1 电磁轭提升力≥45N。
3.2 灵敏度A-30/100型灵敏度试片刻槽清晰显示。
4. 校验项目
4.1 外观
4.2 提升力
4.3 灵敏度
5. 校验用主要器材
5.1 钢板试块：4.6㎏;
5.2 A-30/100型灵敏度试片;
6. 校验及评定
6.1 外观检查
配件齐全，外表不得有硬的碰伤和变形，所有紧固件不得有松动和脱落。
6.2 提升力校验
将电磁轭与提升力试块良好接触，按下开关键，测试提升力。
能平稳提起4.6㎏钢板试块为合格.
6.3 灵敏度校验
选用市售黑色磁粉膏，按说明书要求配制成磁悬液。
选用A-
30/100型磁粉探伤灵敏度试片，按标准要求贴于试块上，边通电边喷洒磁悬液，检查灵敏度试片磁痕显示情况,能清晰显示刻槽图形为合格。
7. 校验报告
7.1 校验合格的仪器要出具校验报告,校验不合格的仪器要进行修理，校验不合格的仪器不能用于磁粉检测。
7.2 校验周期为半年。
当停用超过半年时,应在使用前进行校验。
北京宝隆特设备检测有限公司
超声波测厚仪校验规程
BLTXY04-2014
1. 编制依据：
超声波测厚仪使用手册。
2. 适用范围：
对新购或年检的超声波测厚仪进行校验。
3. 技术要求
精度：1.2mm～200mm ±（0.5%厚度值+0.1mm）
4. 校验项目
4.1 外观
4.2 测量精度
5. 校验用器材
5.1
6. 校验方法
6.1 外观检查
配件齐全，外观不得有硬碰伤和变形，所有紧固件及接口件不得松脱和脱落。
6.2 测量精度
取最大误差. ︱仪器示值-标称值︱=误差
7.校验报告
7.1 最大误差在允许值范围内，则该超声波测厚仪合格;
最大误差超出说明书要求则为不合格;
校验合格的仪器,应出具校验报告，校验不合格的仪器不得使用. 7.2 超声波测厚仪校验周期为1年。
当测厚仪存放时间超过1年时，使用前必须重新校验。
当被测量材料的声速与普通钢声速（5900m/s）不同时,应用已知厚度的被测材料重新校验。
北京宝隆特设备检测有限公司
黑度计校验规程
BLTXY06-2014
1. 编制依据：JB/T473.2-2005
2.适用范围：黑度计
3技术条件：
测量底片黑度范围为≤4.5；
精度：最大误差≤±0.05
4.校验方法
4.1用标准黑度片校准黑度计。
4.2黑度片的黑度要有4点分别接近1.0、2.0、3.0、4.0。
4.3将黑度计用黑度片零位调零，用接近1.0、2.0、3.0、4.0的4个黑度值校验，记录其误差值。
4.4评定：最大误差≤±0.05为合格。
否则为不合格。
5．校验报告
校验合格的黑度计要出具校验报告。
校验不合格的黑度计不得使用。
校验周期为6个月。
当检测ASME产品时校验周期为3个月.
标准黑度片的有效期为2年。
北京宝隆特设备检测有限公司检测设备校验规程 Page 13 of 13
黑度计校验记录Record of Densitometer Calibration。