光电检测技术课件 第二章

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《光电检测技术》第2课PPT课件

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假定人眼同时观察2个在同一位置的辐射体A和B,它 们在观察方向的辐射强度相等,A的波长为λ,B的波 长为555nm,则人眼对A的视觉强度与人眼对B的视觉 强度之比为波长λ的A辐射体对人眼的视见函数。
V(λ)是个无量纲的物理量
将555nm所对应的黄绿光波长的光谱光视效率值定为1,
所以V(λ)<1
.
18
能源与动力工程学院
2.2 辐射度参数与光度参数的关系
2、视见函数曲线:
暗视觉
明视觉
.
19
能源与动力工程学院
2.2 辐射度参数与光度参数的关系
二、辐射度参数与光度参数的转换:
XVKmV()Xe
光功当量常数= KmV()
明视觉条件:Km=683 lm/w
暗视觉条件:Km′=1725 lm/w
整个可见光范围内:
单位:lm(流明)
.
6
能源与动力工程学院
2.1 辐射量和光学量及其单位
3、辐射出射度与光出射度:
• 辐射出射度: Me
面积为A的有限辐射体,表面某点面元处dA向半
球空间内发射的辐射通量dΦe
定义式:
Me
de
dA
• 光出射度: Mv
均匀辐射:
M
e
e A
面光源单位元表面内向外所发射的光通量
公式:Mv=dΦV/dA 发光均匀:Mv=Φv/A
第二章 光辐射的光度学基础
.
1
.
2
可见光区波长分布
光色 红(Red) 橙(Orange) 黄(Yellow) 绿(Green) 青(Cyan) 蓝(Blue) 紫(Violet)
波长λ(nm) 780~630 630~600 600~570 570~500 500~470 470~420 420~380

《光电检测技术》课件

《光电检测技术》课件

生物医学
光电检测技术在生物医学领域的 应用包括光谱分析、荧光成像、 激光共聚焦显微镜等,有助于疾 病的诊断和治疗。
工业生产
光电检测技术在工业生产中的应 用包括产品质量检测、生产线自 动化控制等,可以提高生产效率 和产品质量。
光电检测技术的发展趋势
智能化
随着人工智能技术的发展,光电检测技术 将逐渐实现智能化,能够自动识别和分类
目标,提高检测精度和效率。
微型化
随着微纳加工技术的发展,光电检测器件 将逐渐微型化,能够应用于更广泛的领域
,如生物医疗、环境监测等。
高光谱成像
高光谱成像技术能够获取目标的多光谱信 息,有助于更准确地分析物质成分和状态 ,是光电检测技术的重要发展方向。
多模态融合
将多种光电检测技术进行融合,实现多模 态信息获取和分析,能够提高检测的准确 性和可靠性。
利用光电检测技术快速读取条形码的设备
详细描述
光电式条形码阅读器通过发射光源和接收装置,快速扫描条形码并将光信号转 换成电信号,实现快速、准确地读取条形码信息。广泛应用于超市、图书馆、 物流等领域,提高信息录入效率和准确性。
光电式指纹识别系统
总结词
利用光电检测技术进行指纹识别的系统
详细描述
光电式指纹识别系统通过发射光源和图像传感器,获取指纹的反射光信号,再转换成电信号进行处理。系统能够 实现高精度、高速度的指纹识别,广泛应用于身份认证、门禁控制等领域,提高安全到探测器表面时,光子与材料中的电子相 互作用,使电子从束缚状态跃迁到导带,形成光生电压或电流,从而实现对光 信号的探测。
03
常见的光伏探测器有硅、锗等。
光子探测器
光子探测器是利用光子效应制成的探测器,主要应用于紫外、可见和近红外波段的探测。

第1章 光电检测技术PPT课件

第1章 光电检测技术PPT课件
…… 检测器件:传感器、检测仪器、检测装置、检测系统 检测过程:信号采集、信号处理、信号显示、信号输出
10
测量:将被测的未知量与同性质的标准量进行比较,确
定被测量对标准量的倍数,并通过数字表示出这个倍
数的过程
直接测量:对仪表读数不经任何运算,直接得出被测量
的数值。例如:
– 长度:直尺、游标卡尺、千分尺
4.3 光电信号检测电路的动态计算
4.4 光电信号检测电路的噪声
4.5 前置放大器
4.6 光电检测电路举例
第五章 光电直接检测系统
5.1 光电直接检测系统的基本工作原理
5.2 光电直接检测系统的基本特性
5.3 直接检测系统的距离方程
5.4 光电直接检测系统举例
第六章 光外差检测系统
6.1 光外差检测原理
• 电子检测系统:一般由传感器、信号调理器和输出环 节三部分组成。
15
光电检测系统



光变 电
存储

学 系 统
光 载
测 对
波象
光 信
电 传
换 电
息感路
信 号 处
显示
理 控制
光学变换
光电转换
电路处理
16
• 光学变换 – 时域变换:调制振幅、频率、相位、脉宽 – 空域变换:光学扫描 – 光学参量调制:光强、波长、相位、偏振 – 形成能被光电探测器接收,便于后续电学处理的光 学信息。
– 电压:万用表
– 质量:天平
间接测量:测量几个与被测量相关的物理量,通过函数
关系式计算出被测量。例如:
– 电功率:P = I × V(电流×电压)
– 重力加速度:单摆测量(L:摆的线长,T:摆动

《光电测量技术》PPT课件 (2)

《光电测量技术》PPT课件 (2)
热运动的能量,产生光电发射的条件是:光子能量
h·f超过表面逸出功A0。光子能量超过表面逸出功的部 分,表现为电子的能量。
mv2/2=hf-A0
v-电子逸出时的速度;
m-电子的质量。
mv2/2=hf-A0
爱因斯坦光电方程说明光电发生服从以下定律: 1)物体表面发射的电子数(光电流)与光强成正比; 2)光电子的动能随光的频率成正比的增加,而与光强无关; 3)要使光电子逸出物体表面,必须 h·f>A0。对于每种物体
从实验中知道,负载电阻越小,光电流与照度之 间的线性关系越好,且线性范围越宽。
对于不同的负载电阻,可在不同的照度范围内,使 光电流与光强保持线性关系,所以应用光电池作测量 元件时,所用负载电阻的大小,应根据光强的具体情 况而定。总之,负载电阻越小越好。
③光电池的频率特性 光电池在作为测量、计数、接收元
x2
对光量的调制方法:
X1——被测量直接引起光源光量的变化
X2——被测量在光传播过程中调制光量
光电传感器的物理基础是光电效应。
光电效应分两大类型:外光电效应和内光电效应
外光电效应
光照
金属
电子逸出物体表
金属氧化物 面
光照
内光电效应
半导体
电子在物体内部运 动
物体在光的照射下产生电子发射的现象称为光电发射 效应或外光电效应。
( i—光电阴极的光电流)
光电倍增管的电流放大倍数β=I/i=δin
②光电阴极灵敏度和倍增管总灵敏度
◆光电阴极的灵敏度
一个光子在阴极上打出的平均电子数。
◆光电倍增管的总灵敏度
一个光子在阳极上产生的平均电子数。
◆极间电压越高,灵敏度越高;但极间电压也不能太高, 太高反而会使阳极电流不稳。由于光电倍增管的灵敏度很高,所 以不能受强光照射,否则将会损坏。

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特点:克服单频干涉仪的漂移问题; 细分变得容易; 提高了抗干扰性能。
3.2.1 光电外差检测的基本原理
两束入射光:偏振方向相同、传 播方向平行、重合后垂直入射到 光电探测器上,光波场的合成产 生了和频、差频光强信号。当差 频信号频率在探测器频率响应区 域时形成输出电信号。
3.2.1 光电外差检测的基本原理
3.2.2 光电外差检测的基本特性
(1)光外差探测增益 被探测信号光功率
本振光功率
Ps
E
2 s
2
PL
E
2 L
2
光外差检测输出功率
P IFi2R L2E s2 2 E L2R L2 h e 2P sP LR L
3.2.2 光电外差检测的基本特性
(1)光外差探测增益 光电直接探测输出功率为
3.2.2 光电外差检测的基本特性
(3)光外差探测的滤波特性 直接探测时用滤波片滤除背景光
1nm
对应的光频带宽度为
f
c
2
0.3
2
二氧化碳激光的10.6微米波长
f 3GHz
3.2.2 光电外差检测的基本特性
(3)光外差探测的滤波特性 光外差产生差频信号转换成电信号,频率远远低于探测光 的频率。光外差信号对应的频率宽度为
fIFf fSfL
CO2激光多普勒效应测物体运动速率 10m / s
fIF2cufL2uL 1.89MHz
3.2.2 光电外差检测的基本特性
(4)光外差探测的极限灵敏度
考虑到光电探测器的内部增益,散粒噪声、热噪声,光外 差探测器的噪声为
P n 2 G 2 e h eP s P b P L Id fIF R L 4 K T fIF R L
输出信号有效功率为

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第五章 光电检测系统 5.1 直接光电检测系统 5.2 光外差光电检测系统 5.3 典型的光电检测系统
第六章 光纤传感检测 第七章 光电信号的数据采集与微机接口 第八章 光电检测技术的典型应用
.
5
第一章 绪 论
.
6
1.光电系统描述
光是一种电磁波,电磁波谱包括:长波电震荡、无线 电波、 微波、光波(包括红外光、可见光、紫外光)、 射线等。光波的波长范围为1mm-10nm,频率为3x10113x1016Hz,它是工作于电磁波波谱图上最后波段的系统, 特点是波长短,频率高.(与电子系统载波相比,光电系 统载波的频率提高了几个量级,因此载波能量大,分 辨率高,但易受大气的吸收等影响,传输距离受限, 易遮挡)。
光电检测系统:是利用光电传感器实现各类检测。
它将被测量的量转换成光通量,再转换成电量,并综合 利用信息传送和处理技术,完成在线和自动测量
光电检测系统包括
– 光学变换
– 光电变换
– 电路处理
.
11
光学变换
– 时域变换:调制振幅、频率、相位、脉宽(干涉、 衍射)
– 空域变换:光学扫描(扫描盘)
事实上是光学参量调制:光强、波长、相位、偏振
在纯净的半导体中掺入一定的杂质,可以显著地控制半 导体的导电性质。
掺入的杂质可以分为施主杂质(磷)和受主杂质(棚)。 施主杂质电离后成为不可移动的带正电的施主离子,同
时向导带提供电子,使半导体成为多数载流子为电子的 n型半导体。 受主杂质电离后成为不可移动的带负电的受主离子,同 时向价带提供空穴,使半导体成为多数载流子为空穴的 p型半导体。
.
26
第二章 光电检测技术基础
.
27
光的基本性质 辐射与光度学量 半导体基础知识 光电效应

第二章光电检测技术基础

第二章光电检测技术基础
光电导器件常做成梳状电极,光敏面做成蛇形,即保证了较大的受光表面,又可减小电极间距离,从而减小载流子的有效极间渡越时间,也利于提高灵敏度.
光电导器件的光电导增益与带宽积为一常数,即MΔf=常数。表明,光电导增益越大,光电灵敏度越高,而器件的带宽越低。反之亦然。这一结论对光电效应现象有普遍性。
*
光信息科学与技术系
*
光信息科学与技术系
*
光对电子的直接作用是物质产生光电效应的起因
光电效应的起因: 在光的作用下,当光敏物质中的电子直接吸收光子的能量足以克服原子核的束缚时,电子就会从基态被激发到高能态,脱离原子核的束缚,在外电场作用下参与导电,因而产生了光电效应。 这里需要说明的是,如果光子不是直接与电子起作用,而是能量被固体晶格振动吸收,引起固体的温度升高,导致固体电学性质的改变,这种情况就不是光电效应,而是热电效应。
*
光信息科学与技术系
*
本征光电导效应
本征光电导效应:是指本征半导体材料发生光电导效应。 即:光子能量hv大于材料禁带宽度Eg的入射光,才能激发出电子空穴对,使材料产生光电导效应。针对本征半导体材料。即: hv>Eg 即存在截止波长:λ0=hc/Eg=1.24/Eg。
*
光信息科学与技术系
*
杂质吸收和自由载流子吸收
引起杂质吸收的光子的最小能量应等于杂质的电离能 由于杂质电离能比禁带宽度小,杂质吸收的光谱区位于本征吸收的长波方向. 自由载流子吸收是由同一能带内不同能级之间的跃迁引起的。载流子浓度很大时,导带中的电子和价带中的空穴产生带内能级间跃迁而出现的非选择性吸收
*
光信息科学与技术系
*
载流子的输运过程
扩散 漂移 复合
*
光信息科学与技术系

《光电检测技术》课件

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总结
光电检测技术的应用广泛,原理简单而高效。随着技术的不断发展,它将在各个领域中发挥更重 要的作用,并为我们带来更多惊喜和机遇。
《光电检测技术》PPT课 件
欢迎各位参加今天的课程!本课程将介绍光电检测技术的应用、原理、种类 以及未来发展趋势。让我们一起探索这个令人兴奋的领域!
光电检测技术的应用领域
1 自动化工业
光电检测技术在工业生产中广泛应用,用于检测产品质量、生产过程控制等。
2 医疗诊断
通过光电检测技术,医生可以进行无创性、快速且准确的医学检查,有助于疾病早期诊 断。
3 环境监测
光电检测器可用于测量空气污染、水质监测以及气候变化等环境参数。
光电检测技术的原理
光电效应
当光照射到物质表面时,光的能量会激发物质中的电子跃迁,产生电流。
信号处理
通过电路将光电器件的输出信号转换为可测量或可视化的形式,方便分析和应用。
光电检测器的种类
光敏电阻
根据光照强度对电阻值进 行变化。
3 快速响应
光电检测器的响应时 间非常短,适用于需 要实时检测和控制的 应用。
光电检测技术的发展趋势
1
更高分辨率
光电检测技术将实现更高分辨率的
更小尺寸
2
光电传感器,提高检测和测量的精 度。
光电器件将变得更小巧紧凑,适用
于微型化和集成化的应用。
3
更广应用领域
光电检测技术将渗透到更多领域, 如智能家居、无人驾驶、虚拟现实 等。
光电二极管
将光能转换为电能的二极Байду номын сангаас管器件。
光电二极管阵列
由多个光电二极管组成的 二维阵列,可用于图像捕 捉和识别。
光电检测技术的优势
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§2-2
激光衍射计量技术
间隙法作移位和应变测量时,有两种基本计量方法:
绝对法。位移或应变值δ相当于w的变化值,即
nR nR 1 1 w w' nR ( ) xn xn ' xn xn '
测量位移前后n级衍射条纹中心距中央零级条纹中心的位 置xn及xn’就可以求得位移量。
§2-2
激光衍射计量技术
增量式。
n n' w w' ( n n' ) N sin sin sin sin
式中:△N=n-n’ 测量△N=n-n’,是通过某一固定的衍射角θ来记录 条纹的变化数。通过对干涉条纹的计数得到。
§2-2
激光衍射计量技术

§2-2
激光衍射计量技术
得到如下结论:
测量灵敏度随被测尺寸的减小而很快增加,而且,衍射级次大,更为 有利。
灵敏度与激光强度无关,不要求功率稳定,而且允许被测物体空间移 位而不影响测量。

测衍射条纹的间距比测衍射条纹的光强在方法上有利得多。而且记录 的角度尺寸θmn与ω的关系是单调函数,因而测量范围原则上不受限制。 衍射角与被测尺寸ω的关系取一级近似,则
图2-11 用间隙法作应变测量
xn’为加载后同一衍射条纹的中心位置值。
§2-2
激光衍射计量技术
压力传感器。具有一定压力的气流 进入膜盒,膜盒作为初级压力传感 器,将位移通过杠杆传到衍射传感 器上,缝隙的变化使衍射条纹移动, 由光电器件检测出来,灵敏地反应 压力及其变化。 各种压力,液面、温度、流量、加 速度、电磁场等物理量的变化都可 以用激光衍射技术来进行监测和控 制。
则有
2wx n xn (cos sin ) n R 2R
整理得
xn w nR / 2 xn (cos sin ) 2R
给定φ,已知R,λ,认定衍射条纹级次n,测定xn,就可求得ω。
由于反射效应,装置的灵敏度提高近一倍左右。
§2-2
激光衍射计量技术
表中的结果说明:

条纹级次越高,条纹位置与理论值趋于一致。

各级衍射条纹的间隔是近似等距的。误差对n=4时为
0.02λ(λ/50),此误差很小,可以略去。因此,直接测定条 纹间隔进行计算是精确的。 随着衍射级次的增加,亮条纹的光强迅速衰减,只有利用 大功率的激光器才能获得高级次的衍射条纹。
m,n (m n) / w
§2-2
激光衍射计量技术
实际上的测量系统大多利用物镜焦面上的衍射条纹,衍射极值间的线尺 寸Lmn与被测物尺寸ω 的关系是
Lm,n f (tg sin 1 m / w tg sin 1 n / w)
式中:f表示观察物镜的焦距。
右 图不同焦距f值时,规定m,n 和λ值时L与w的关系。显然,为 保证测量有最大的线性,必须正 确选定焦距f或f(m-n)的乘积。
激光衍射计量技术
测量,即 w n R 衍射条纹间隔 xn
。测量xn来计算w。
xn t n
式中:t为衍射条纹的间隔。 则
R w t
已知R,λ,测定两个暗条纹的间隔t,按式(2-27)就可求出w。 对生产具有实际意义。
§2-2
激光衍射计量技术
任意两个夫朗和费衍射条纹的间隔t是否相等?它对计量精度有什 么影响?
§2-2
激光衍射计量技术
间隙计量法是衍射技术的基本方法,主要适合于三种用途: (1 )作尺寸的比较测量(图2-8a) (2)作工件形状的轮廓测量(图2-8b) (3)作应变的传感器使用(图2-8c)
图2-8 间隙计量法的应用
§2-2
激光衍射计量技术
基本装置
图2-9 间隙计量法的基本装置
§2-2
图2-1 近场与远场衍射原理图
§ 2-1
激光衍射计量原理

衍射计量的原理图。 利用被测物与参考物之间的间隙所形成的远场衍射; 等效于单缝的远场衍射,长度为L,宽度为w的单缝上(L>W>λ ); 在观察屏E上记录或测量衍射条纹。
(a)计量原理图,(b)是等效衍射图。这时,在观察屏E上由单缝形成的 衍射条纹,其光强I的分布由物理光学知道有:
当θ增大(衍射级次增加),动态范围减小,因此,接近中央零级处具 有最大的动态范围。
§2-2
激光衍射计量技术
第二种基本方案是测量极值点之间的距离,通常是用最小强度(暗纹) 之间的角度θ mn来表示
mm sin 1 m / w sin 1 n / w
式中:m,n分别表示二维衍射条纹极小值的衍射级次,m,n±1,±2, ±3,…。
到0.05mm,那么,检测灵敏度最高达到0.1μm。衍射计量系统的放大比可能达到 1000~10000倍。
(2)精度有保证。这首先是激光下的夫琅和费衍射条纹十分清晰、稳定。其次,
这是一种非接触测量。能采用照相或光电系统测量衍射条纹,精度在微米级。
(3)装置简单、操作方便、测定快速。 (4)可实现动态的联机测量和全场测量,测定时物体不必固定,能为工艺过
图2-12 用作压力传感器的例子
§2-2
激光衍射计量技术
三、反射衍射法
反射衍射法主要是用反射镜形成 狭缝。
右图是反射衍射法的原理图,狭缝由 刀刃A与反射镜B组成。反射 镜的作 用是用以形成A的像A‘。 相当于以φ角入射的,缝宽为2ω的 单缝衍射。
显然,当光程差满足下式时,出现暗 条纹: 反射衍射法
2w sin 2w sin( ) n
式中:φ为激光对平面反射镜的入射角;θ为光线的衍射角;w 为试件A的边缘与反射镜之间的距离。
按三角级数将上式展开,则
§2-2
激光衍射计量技术
2w(cos sin 2 sin sin
对远场衍射,则
2

2
) n
xn sin R
第二章
§2-1 §2- 2 §2- 3
光电衍射检测技术与系统
激光衍射计量原理 激光衍射计量技术 实际的应用
§ 2- 1
一、概述
激光衍射计量原理
激光衍射计量方法是一种利用激光衍射条纹的变化来精密测量长
度、角度、轮廓的一种全场计量方法。
与干涉计量法、全息计量法、莫尔条纹法相比,具有简单、快速、 精密以及价廉的优点。
w sin n , (n 1,2,3,)
(2)
矩形孔的衍射
§ 2-1

激光衍射计量原理
(3)当θ不大时,从远场条件,有
xn sin tg R
式中:xn为第n级暗条纹中心距中央零级条纹中心的距离; R为观察屏距单缝平面的距离。
xn w n R
Rn w xn
(3)
测量方法的灵敏度是 m,n
m 2 2 n 2 2 S ( w) 2 {m[1 ( ) ] n[1 ( ) ] } w w w w
1 1
将上式用级数展开、并取前三项,则
2 4 3 3 15 5 3 5 S ( w) 2 [(m n) (m n ) 2 (m n ) 4 ] 2 8 w w w
利用间隙法作测量的例子。
应变测量,当构件被加载时,参考 物棱边位置发生变化,w值有△w的
改变,衍射条纹就发生移动,移动
对应的应变值ε
l w nR 1 1 ( ) l l l xn xn '
式中:△l为参考物两个固定点距离l的
变动量;
xn为加载前n级衍射条纹的中心距中央 零级条纹中心的位置值;
图2-2 衍射检测的原理图
§ 2-1
激光衍射计量原理
观察屏E光强 I 的分布
(2-1)
式中: (
光强度。

w ) sin ,θ为衍射角, I 0 是θ=0°时的光强,即光轴上的
衍射光强是随sinβ的平方而衰减。 当β=±π,±2π,±3π……±nπ处将出现强度为零的条纹,即I =0的暗条纹。 测定任一个暗条纹的位置变化就可以精确知道间隔w的尺寸和尺寸 变化。

2
表2-1远场衍射条纹的位置及光强
衍射级亮 条纹位置 和强度
n=±1
n± 2
n± 3
n± 4
wsinθ的 近似位置
wsinθ的 严格位置 条纹光强
±1.5λ
±1.43λ 0.047I0
±2.5λ ±3.5λ
±4.5λ
±2.46 ±3.47 ±4.48λ λ λ 0.017I0 0.008I0 0.005I0
在70年代开始形成,受到各方面的重视,逐步发展为一种专门的
计量测试技术学科。 一种新的非接触计量测试方法,特别适合于自动检测。
§ 2-1
激光衍射计量原理
二、 检测原理
衍射: a)近场衍射,也称为菲涅耳衍射。 b)远场衍射,观察屏E3处在较远的位置上, 利用透镜才能观察到的衍射,称夫琅和费 衍射。 激光衍射计量的基本原理是利用激光下 的夫琅和费衍射效应。 基本的远场衍射装置 。 平行光照射E1上的H孔时,远场衍射发 生在无穷远。用透镜接收后,在透镜的焦 点上就观察到十分清晰的远场衍射条纹。 (图c)
程提供反馈信号,显著提高工艺效率。
(5)绝对量程小,量程范围约0. 01~0.5mm。
§2-2 激光衍射计量技术
一、基本方案及其分析
(1) 利用衍射条纹进行精密测试,其方法归纳起来分为两大类:
记录固定点衍射强度的方法(图中A和B点); 记录衍射分布特征尺寸(指衍射分布极值点之间的距离或角量)的方 法(图中的t)。
图2-7 不同焦距时的L-w特性
§2-2
激光衍射计量技术
目前在实际应用中得到发展的技术方案大多属第二种基本 方案,这些技术方案归纳起来,主要有:
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