第一章 常用半导体

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常用半导体器件

常用半导体器件

1.特点:非线性
I
反向击穿 电压U(BR)
反向电流 在一定电压 范围内保持 常数。
P– + N 反向特性
外加电压大于反向击 穿电压二极管被击穿, 失去单向导电性。
正向特性
P+ – N
导通压降
硅0.6~0.8V 锗0.1~0.3V
U
硅管0.5V, 开启电压
锗管0.1V。
外加电压大于开启 电压二极管才能通。
+ + ++ + + + + ++ + + + + ++ + +
P IF
内电场 N
外电场
+–
P接正、N接负
动画
内电场被 削弱,多子 的扩散加强, 形成较大的 扩散电流。
PN 结加正向电压时,PN结变窄,正向电流较 大,正向电阻较小,PN结处于导通状态。
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PN 结加反向电压(反向偏置) P接负、N接正
掺杂性:往纯净的半导体中掺入某些杂质,导电 能力明显改变(可做成各种不同用途的半导 体器件,如二极管、三极管和晶闸管等)。
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一、本征半导体
完全纯净的、具有晶体结构的半导体,称为本征 半导体。
价电子
Si
Si
共价健
Si
Si
晶体中原子的排列方式
硅单晶中的共价健结构
共价键中的两个电子,称为价电子。
是保证二极管不被击穿而给出的反向峰值电压, 一般是二极管反向击穿电压UBR的一半或三分之二。 二极管击穿后单向导电性被破坏,甚至过热而烧坏。

01常用半导体器件练习题

01常用半导体器件练习题

第1章常用半导体器件一.选择题1、半导体导电的载流子是____C____,金属导电的载流子是_____A__。

A.电子B.空穴C.电子和空穴D.原子核2、在纯净半导体中掺入微量3价元素形成的是___A_____型半导体。

A. PB. NC. PND. 电子导电3、纯净半导体中掺入微量5价元素形成的是____B____型半导体。

A. PB. NC. PND. 空穴导电4、N型半导体多数载流子是B,少数载流子是 A ;P型半导体中多数载流子是A ,少数载流子是B 。

A.空穴B.电子C.原子核D.中子5、杂质半导体中多数载流子浓度取决于 D ,少数载流子浓度取于 B 。

A.反向电压的大小B.环境温度C.制作时间D.掺入杂质的浓度6、PN结正向导通时,需外加一定的电压U,此时,电压U的正端应接PN结的 A ,负端应接PN结 B 。

A.P区B.N区7、二极管的反向饱和电流主要与 B 有关。

(当温度一定时,少子浓度一定,反向电流几乎不随外加电压而变化,故称为反向饱和电流。

)A.反向电压的大小B.环境温度C.制作时间D.掺入杂质的浓度8、二极管的伏安特性曲线反映的是二极管 A 的关系曲线。

A.V D-I D B.V D-r D C.I D-r D D.f-I D9、用万用表测量二极管的极性,将红、黑表笔分别接二极管的两个电极,若测得的电阻很小(几千欧以下),则黑表笔所接电极为二极管的 C 。

A.正极B.负极C.无法确定10、下列器件中, B 不属于特殊二极管。

A.稳压管B.整流管C.发光管D.光电管11、稳压二极管稳压,利用的是稳压二极管的 C 。

A.正向特性B.反向特性C.反向击穿特性12、稳压管的稳定电压V Z是指其 D 。

A .反向偏置电压B .正向导通电压C .死区电压D .反向击穿电压13、光电二极管有光线照射时,反向电阻 A 。

(反压下,光照产生光电流)A .减少B .增大C .基本不变D .无法确定14、三极管的主要特征是具有____C____作用。

第1章+常用半导体器件

第1章+常用半导体器件

第1章 常用半导体器件
《模拟电子技术基础》
三、本征半导体中的两种载流子
若 T ,将有少数价
T
电子克服共价键的束缚成
为自由电子,在原来的共 +4
+4
价键中留下一个空位——
空穴。
空穴
自由电子和空穴使本 +4
+4
征半导体具有导电能力,
但很微弱。
+4
+4
+4 自由电子
+4
+4
空穴可看成带正电的
载流子。
图 1.1.2 本征半导体中的 自由电子和空穴
《模拟电子技术基础》
三、 PN 结的电流方程
PN结所加端电压u与流过的电流i的关系为
qu
i IS(ekT 1)
u
i IS(eUT 1)Fra bibliotekIS :反向饱和电流
UT =
kT q
:温度的电压当量
在常温(300 K)下,
UT 26 mV
第1章 常用半导体器件
《模拟电子技术基础》
四、PN结的伏安特性
u
i = f (u )之间的关系曲线。 i IS (eUT 1)
电容效应包括两部分 势垒电容 扩散电容
第1章 常用半导体器件
《模拟电子技术基础》
1. 势垒电容Cb 是由 PN 结的空间电荷区变化形成的。
空间
P
电荷区
N
I
V UR
+
(a) PN 结加反向电压
势垒电容与外加电压的关系
第1章 常用半导体器件
2. 扩散电容 Cd
《模拟电子技术基础》
扩散电容是由多子扩散后,在 PN结的另一侧面积累而形成的。 因PN结正偏时,由N区扩散到P区 的电子,与外电源提供的空穴相 复合,形成正向电流。刚扩散过 来的电子就堆积在P区内紧靠PN 结的附近,形成一定的多子浓度 梯度分布曲线。反之,由P区扩散 到N区的空穴,在N区内也形成类 似的浓度分布曲线,如右图所示。

半导体、二级管和三极管概述

半导体、二级管和三极管概述

PN结加反向电压
PN结加反向电压时, 内建电场被增强,势垒 高度升高,空间电荷区 宽度变宽。这就使得多 子扩散运动很难进行, 扩散电流趋于零;
而少子漂移运动处于优势,形成微小的反向的电流。
流过PN结的反向电流称为反向饱和电流(即IS), PN结呈现为大电阻。由于IS很小,可忽略不计,所 以该状态称为:PN结反向截止。 总结 PN结加正向电压时,正向扩散电流远大于漂移电 流, PN结导通;PN结加反向电压时,仅有很小的 反向饱和电流IS,考虑到IS≈0,则认为PN结截止。
基区空穴 的扩散
扩散运动形成发射极电流IE,复合运动Байду номын сангаас成基极电 流IB,漂移运动形成集电极电流IC。
电流分配:
IE=IB+IC
IE-扩散运动形成的电流 IB-复合运动形成的电流 IC-漂移运动形成的电流
直流电流 放大系数
IC IB
iC iB
交流电流放大系数
I CEO (1 ) I CBO
稳压管的伏安特性
稳压管的主要参数 稳定电压Uz:Uz是在规定电流下稳压管的反向击 穿电压。 稳定电流IZ:它是指稳压管工作在稳压状态时, 稳压管中流过的电流,有最小稳定电流IZmin和最大 稳定电流IZmax之分。
(6)其它类型二极管 发光二极管:在正向导通其正向电流足够大时, 便可发出光,光的颜色与二极管的材料有关。广 泛用于显示电路。
图4 本征半导体中 自由电子和空穴
本征半导体的载流子的浓度 本征激发:半导体在热激发下产生自由电子和空 穴对的现象称为本征激发。 复合:自由电子在运动过程中如果与空穴相遇就 会填补空穴,使两者同时消失。 在一定的温度下,本征激发所产生的自由电子与 空穴对,与复合的自由电子与空穴对数目相等,达 到动态平衡。即在一定温度下本征半导体的浓度是 一定的,并且自由电子与空穴浓度相等。

第一章半导体基础知识

第一章半导体基础知识

第一章半导体基础知识〖本章主要内容〗本章重点讲述半导体器件的结构原理、外特性、主要参数及其物理意义,工作状态或工作区的分析。

首先介绍构成PN结的半导体材料、PN结的形成及其特点。

其后介绍二极管、稳压管的伏安特性、电路模型和主要参数以及应用举例。

然后介绍两种三极管(BJT和FET)的结构原理、伏安特性、主要参数以及工作区的判断分析方法。

〖本章学时分配〗本章分为4讲,每讲2学时。

第一讲常用半导体器件一、主要内容1、半导体及其导电性能根据物体的导电能力的不同,电工材料可分为三类:导体、半导体和绝缘体。

半导体可以定义为导电性能介于导体和绝缘体之间的电工材料,半导体的电阻率为10-3~10-9Ω∙cm。

典型的半导体有硅Si和锗Ge以及砷化镓GaAs等。

半导体的导电能力在不同的条件下有很大的差别:当受外界热和光的作用时,它的导电能力明显变化;往纯净的半导体中掺入某些特定的杂质元素时,会使它的导电能力具有可控性;这些特殊的性质决定了半导体可以制成各种器件。

2、本征半导体的结构及其导电性能本征半导体是纯净的、没有结构缺陷的半导体单晶。

制造半导体器件的半导体材料的纯度要达到99.9999999%,常称为“九个9”,它在物理结构上为共价键、呈单晶体形态。

在热力学温度零度和没有外界激发时,本征半导体不导电。

3、半导体的本征激发与复合现象当导体处于热力学温度0K时,导体中没有自由电子。

当温度升高或受到光的照射时,价电子能量增高,有的价电子可以挣脱原子核的束缚而参与导电,成为自由电子。

这一现象称为本征激发(也称热激发)。

因热激发而出现的自由电子和空穴是同时成对出现的,称为电子空穴对。

游离的部分自由电子也可能回到空穴中去,称为复合。

在一定温度下本征激发和复合会达到动态平衡,此时,载流子浓度一定,且自由电子数和空穴数相等。

4、半导体的导电机理自由电子的定向运动形成了电子电流,空穴的定向运动也可形成空穴电流,因此,在半导体中有自由电子和空穴两种承载电流的粒子(即载流子),这是半导体的特殊性质。

第一章常用半导体器件 (2)

第一章常用半导体器件 (2)

Cb
• d
S
式中ε是介质常数,S是PN结的面积,d是PN结的宽度。
❖ 扩散电容Cd
Cd是PN结正向电压变化时, 多数载流子在扩散过程中积累 引起的。反向偏置时,以扩散 电容Cd为主。
PN结正偏时,多数载流子扩 散到对方成为对方区域中的“少 子” (称为“非平衡少子”)这 些少子在正偏电压变化时,也有 堆积与泄放的过程。
+4
+4
+4
电流是电子电流和空穴电流之和,
(而导体只有自由电子导电)。
图 1.1.2 电子-空穴对的产生和空穴的移动
在本征半导体中不断地进行着激发与复合 两种相反的过程, 当温度一定时, 两种状态 达到动态平衡,即本征激发产生的电子-空穴对, 与复合的电子-空穴对数目相等,这种状态称为 动态平衡状态(热平衡)。 半导体中自由 电子和空穴的多少分别用浓度(单位体积中载 流子的数目)ni和pi来表示。处于热平衡状态 下的本征半导体,其载流子的浓度是一定的, 并且自由电子的浓度和空穴的浓度相等。
第一章 常用半导体器件
1.1 半导体的基本知识 1.2 半导体二极管 1.3 双极型晶体管 1.4 场效应管
有关半导体的基本概念
• 本征半导体、杂质半导体 • 施主杂质、受主杂质 • N型半导体、P型半导体 • 自由电子、空穴 • 多数载流子、少数载流子
§ 1.1 半导体基础知识
自然界的物质按其导电能力可分为导体、半导 体和绝缘体三类。常用的半导体材料有硅(Si)和 锗(Ge)。半导体导电能力介于导体和绝缘体之间。
1.2.4. 二极管的等效电路
(a)理想二极管
(b)正向导通时端电压为常量 (c)正向导通时端电压与电流成线性关系
图1.2.4由伏安特性折线化得到的等效电路

11半导体基础知识

11半导体基础知识

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25
多余 电子
磷原子
+4 +4 +5 +4
N 型半导体中 的载流子是什 么?
1、由施主原子提供的电子,浓度与施主原子相同。 2、本征半导体中成对产生的电子和空穴。
掺杂浓度远大于本征半导体中载流子浓度,所以,自 由电子浓度远大于空穴浓度。自由电子称为多数载流 子(多子),空穴称为少数载流子(少子)。
变薄
+ P
-+ -+ -+ -+
内电场被削弱,多子 的扩散加强能够形成 较大的扩散电流。
_ N
外电场
R
内电场
E
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38
2、PN 结反向偏置
变厚
_ P
-+ -+ -+ -+
内电场被被加强,多子
的扩散受抑制。少子漂
移加强,但少子数量有
限,只能形成较小的反
向电流。
+
N
内电场
外电场
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二、P 型半导体
在硅或锗晶体中掺入少量的三价元素,如硼
(或铟),晶体点阵中的某些半导体原子被杂质
取代,硼原子的最外层有三个价电子,与相邻的
半导体原子形成共价键时, 空穴
产生一个空穴。这个空穴 可能吸引束缚电子来填补,
+4
+4
使得硼原子成为不能移动
的带负电的离子。由于硼 原子接受电子,所以称为
比掺杂前载流子增加106,即一百万倍。
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29

1.1 半导体基础知识

1.1 半导体基础知识

2. 本征半导体中的两种载流子 本征半导体中的两种载流子
运载电荷的粒子称为载流子。 运载电荷的粒子称为载流子。 无外加电场,电子和空穴运动是 无外加电场 电子和空穴运动是 随机、无规则的,不形成电流 不形成电流。 随机、无规则的 不形成电流。 有外加电场, 有外加电场,自由电子做定向 运动形成电子电流; 运动形成电子电流;价电子按 一定方向填补空穴,等效成空穴 一定方向填补空穴 等效成空穴 运动形成空穴电流。 运动形成空穴电流。 载流子 本征半导体中有两种载 本征半导体中有两种载 流子:自由电子和空穴。 流子:自由电子和空穴。
P区空穴 区空穴 浓度远高 于N区 区
N区自由动使靠近接触面P区的空穴浓度降低、靠近接触面 扩散运动使靠近接触面 区的空穴浓度降低、靠近接触面N 区的空穴浓度降低 区的自由电子浓度降低, 区出现负离子区, 区的自由电子浓度降低,P 区出现负离子区,N 区出现正离子 形成空间电荷区, 不利于扩散运动的继续进行。 区,形成空间电荷区,产生内电场 不利于扩散运动的继续进行。 形成空间电荷区 产生内电场,不利于扩散运动的继续进行
PN 结的形成
模拟电子技术基础
第四版 童诗白 华成英 主编
高等教育出版社
第一章 常用半导体器件
1.1 1.2 1.3 1.4 半导体基础知识 半导体二极管 晶体三极管 场效应管
1.1 半导体基础知识
1.1.1本征半导体 1.1.1本征半导体
一、半导体 自然界物质按其导电能力分为导体、半导体、绝缘体。 自然界物质按其导电能力分为导体、半导体、绝缘体。 1.导体 自然界中很容易导电的物质称为导体, 1.导体 自然界中很容易导电的物质称为导体,金属一般 都是导体。 都是导体。 2.绝缘体 有的物质几乎不导电,称为绝缘体, 2.绝缘体 有的物质几乎不导电,称为绝缘体,如惰性气 橡皮、陶瓷、塑料和石英。 体、橡皮、陶瓷、塑料和石英。 3.半导体 有一类物质的导电特性处于导体和绝缘体之间, 3.半导体 有一类物质的导电特性处于导体和绝缘体之间, 称为半导体,如锗、 砷化镓和一些硫化物、氧化物等。 称为半导体,如锗、硅、砷化镓和一些硫化物、氧化物等。 常用的半导体材料是硅(Si)和锗(Ge)。 和锗(Ge) 常用的半导体材料是硅(Si)和锗(Ge)。
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1.1 半导体基础知识
☆半导体:导电能力介于导体和绝缘体之间的物质 称为半导体。
☆常用的半导体材料: (1)元素半导体: 硅14(Si)、锗32(Ge); (2)化合物半导体:砷化镓(GaAs)。
常用的半导体有单原子,也有化合物的,我们常 见的半导体材料为单原子中的硅(Si)和锗(Ge)。
价电子
一、半导体的导电特性
二、二极管的伏安特性
半导体二极管的伏安特性曲线如图所示。处于 第一象限的是正向伏安特性曲线,处于第三象限的 是反向伏安特性曲线。
U/V
根据理论推导,二极管的伏安特性曲线可用下式表示
I I S (e
U
UT
1)
式中IS 为反向饱和电流,U 为二极管两端的电 压降,UT =kT/q 称为温度的电压当量,k为玻耳 兹曼常数,q 为电子电荷量,T 为热力学温度。对 于室温(相当T=300 K),则有UT=26 mV。
热激发产生 的自由电子 Si Si P Si 掺杂磷产生 的自由电子
Si
Si
Si
杂质原子提供 电子,故称为 施主原子
掺杂磷产生的自由电子数>>热激发产生的自由电子数
N型半导体中自由电子数>>空穴数 自由电子为 N型半导体的多数载流子(多子), 空穴为N型半导体的少数载流子(少子) 简化图: 多 子
二、半导体的分类
半导体
本征半导体 杂质半导体 P型半导体 (空穴型) N型半导体(电子型)
三、半导体的结构及导电方式
本征半导体: 对半导体提纯,使之成为单晶体结构,这种纯 净的晶体叫本征半导体。
价电子
共价键结构—每个 价电子为两个相邻 原子核所共有。
本征激发——在室温下,少数价电子因热激发 而获得足够的能量,因而脱离共价键的束缚成 为自由电子。同时在原来的共价键中留下一个 空位,称为“空穴”。 自由电子和空穴统称为 载流子
在一定的温度条件下,由 本征激发决定的少子浓度 是一定的,故少子形成的 漂移电流是恒定的,基本 上与所加反向电压的大小 无关,这个电流也称为反 向饱和电流。
PN结加反向电压时的导电情况
结论: PN结加正向电压时,呈现低电阻,具有较大的正 向扩散电流,电流方向由P指向N; PN结加反向电压时,呈现高电阻,具有很小的反 向漂移电流,且和温度有关。 由此可以得出结论:PN结具有单向导电性。
置时,二极管的管压降为零
伏;反向偏置时,认为它的 电阻无穷大,电流为零。
符号及等效模型:
S
S
正偏导通,uD = 0; 反偏截止, iD = 0
二极管基本电路如图所示,VDD=10V,应
用理想模型求解电路的VD和ID。
VD=0V
ID=(VDD-VD)/R
= (10-0)V/10KΩ
=1mA
◆恒压降模型 当流过二极管的电流 近似等于或大于1mA时,
按用途分
一、半导体二极管的结构类型
二极管按结构分有点接触型、面接触型和平面型 三大类,它们的结构示意图如图所示。 1、 点接触型二极管
PN结面积小,结电容小, 用于高频小电流电路。
2、面接触型二极管
3、平面型二极管
PN结面积大,用于 工频大电流整流电路。
往往用于集成电路制造工艺中。 结面积大,则用于大功率整流。 结面积小,则用于高频、脉冲 和开关电路中。
1、正向特性 当U>0即处于正向特性区域,正向区又分为两段:
当0<U<Uth时,正向电流为零 ,Uth称为死区电压,管子截止
U/V
U
当U>Uth时,开始出现正向电流 ,并按指数规律增长。管子导通
2、反向特性 当U<0时,即处于反向特性区域。反向区也分两 个区域: ①当VBR<V<0时,反向电流很小,且基本不随 反向电压的变化而变化,此时的反向电流也称反 向饱和电流IS 。 ②当V≤VBR时,反向电 流急剧增加,VBR称为反 向击穿电压。这个特性 也称反向击穿特性。
可以认为二极管导通后,
管压降是恒定的,且不随 电流而变;硅管为0.7伏, 锗管为0.2伏。
硅二极管基本电路如图所示,VDD=10V,
应用恒压降模型求解电路的VD和ID。
VD=0.7V
ID=(VDD-VD)/R= (10-0.7)V/10KΩ
=0.93mA
例1:设二极管的导通电压为0.6V,求uo
思考题
错误,均呈中性
1、N型半导体带负电,P型半导体带正电。这种说法是否 正确? 空穴
电子
2、N型半导体的多子是(),P型半导体的多子是()。
3、PN结中扩散电流的方向是从( P )区指向(N )区,漂 移电流的方向是(N )区指向(P )区。 4、 PN结外加正向电压时( 扩散 )电流大于 ( 漂移 )电流,此时耗尽层变( 窄 )。
从击穿的机理上看 ,硅二极管若|VBR|≥7V 时,主要是雪崩击穿;若 |UBR|≤4V时, 则主要是 齐纳击穿。当在4V-7V之 间两种击穿都有,有可 能获得零温度系数点。
三、半导体二极管的主要参数
极限参数:使器件损坏的参数
主要 参数
特征参数:使器件的某个特性 消失的参数
① 最大整流电流IF 指管子长期运行时,允许通过的最大 正向平均电流。 ② 最大反向工作电压URM 二极管允许承受的最大反向电压 ③ 最大反向工作电流IRM 在室温下,二极管未击穿时的反向电流
外电场
2、 PN结加反向电压时的导电情况 内电场
外加的反向电压有 一部分降落在PN结 区,方向与PN结内 电场方向相同,加 强了内电场。
外电场
内电场对多子扩散运动的阻碍增强,扩散电流 大大减小。此时PN结区的少子在内电场的作用 下形成的漂移电流大于扩散电流,可忽略扩散 电流,由于漂移电流是少子形成的电流,故反 向电流非常小,PN结呈现高阻性。 其理想模型:开关断开
空 间 电 荷
P型半导体(空穴型半导体) 往本征半导体中掺杂三价杂质,如硼,形成 的杂质半导体。
热激发产生 的空穴
掺杂硼产生的 空位
杂质原子因能 吸收电子,故 称为受主原子
Si Si
B Si
Si Si
掺杂硼产生的空穴数>>热激发产生的空穴数 P型半导体中空穴数>>自由电子数 P型半导体中空穴是多数载流子,主要由掺杂形 成;自由电子是少数载流子,由热激发形成。 简 化 图 :
四、杂质半导体
本征半导体的导电能力是很弱的,如果在本征 半导体中掺入微量的其它元素就会使半导体的 导电性能发生显著变化。
杂质——一些微量元素的原子
杂质半导体——掺入杂质的半导体
杂质半导体分类——N型半导体、P型半导体
N型半导体(电子型半导体) 在本征半导体中掺入五价杂质元素,例如磷, 砷,锑,可形成 N型半导体,也称电子型半导体。
五、 半导体二极管的型号
国家标准对半导体器件型号的命名举例如下:
六、应用
二极管的单向导电性应用很广,可用于:检波、 整流、限幅、钳位、开关、元件保护等。
二极管是非线性器件,为了便于分析,常在一定 的条件下,用线性元件所构成的电路来近似模拟二极 管。该电路称为二极管的等效电路。
◆理想模型
电源电压远比二极管的 压降大时可以认为:正向偏
①Ui<3.7V时D截止, UO=Ui; ②Ui>3.7V时D导通, UO=0.7+3=3.7V
例4:设二极管的导通电压忽略,已知ui=10sinwt(V), E=3V,画uo的波形。
R
+ ui -
D E
R
+ uo -
例5:分析如图所示的硅二极管电路 已知Ui=10sinωt(V)时,利用恒压降模型绘出相 应的输出电压UO的波形。二极管的恒压降为0.7V。
复习 本征半导体 本征激发 自由电子 空穴 载流子
半导体
杂质半导体
N型 P型
自由电子(多子) 空穴(少子) 空穴(多子) 自由电子(少子)
掺杂 热激发
复习 PN结形成 单向导电性
多子扩散和少子漂移 达到动态平衡
正偏导通(多子的定向移动形 成较大的正向扩散电流,电流 方向由P指向N) 反偏截止(少子的定向移动形 成很小的反向漂移电流,且和 温度有关)
小结: 1、在杂质半导体中,多子主要由杂质原子提供, 少子是本征激发而产生的。 2、半导体的电流基本上是多子的电流。 3、少子对温度非常敏感;而多子的浓度基本上 等于杂质原子的浓度,所以受温度影响不大。
1.2 PN结
一、PN结的形成
内电场
P N
空穴 电子
空间电荷区
P
N
因 浓 度 差
多子产 生扩散 运动
形成空间 电荷区
形成内 电场 (NP)
形成 PN结
动态 平衡
阻止多子 扩散
促使少子漂移
二、PN结的特性——单向导电性
规定:P区接电源正,N区接电源负为PN结加正向电压 N区接电源正,P区接电源负为PN结加反向电压
PN结加正向电压时(正偏),导通 单向导电性
PN结加反向电压时(反偏),截止
P + + + + + + N
一定宽度的空间 电荷区
复习 多子扩散 少子漂移 外加电压 载流子数目
空间电荷区
电流大小
1.3 半导体二极管(Diode)
◆半导体二极管是
由PN结加上引出线 和管壳构成的。
半导体二极管的类型
按材料分
硅二极管 锗二极管
分类:
按结构分
点接触型 面接触型 平面型
整流二极管 稳压二极管 开关二极管 检波二极管
Si Si
B Si
Si Si
掺入杂质对本征半导体的导电性有很大 的影响。
一些典型的数据如下: T=300K室温下,本征硅的电子和空穴浓度: n = p =1.4×1010/cm3 掺杂后 N 型半导体中的自由电子浓度: n= 5×1016/cm3 本征硅的原子浓度:4.92×1022/cm3 以上两个浓度基本上依次相差106/cm3
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