能量色散X射线荧光光谱法测定贵金属首饰中的铅、汞
能量色散X射线荧光光谱仪现场快速测定多金属矿中17种组分
家一级标准物质验证 ， 分析 结果与标准值基 本符合 ； 密度试 验表 明， 组分的相 对标 准偏差 （ Ｓ ｎ＝１ ） 小于 １ ％ ， 精 各 Ｒ Ｄ， ２ 均 ２
能够 满 足 矿 山和 野 外 现 场 快 速 测 定 的要 求 。 关 键 词 ： 携 式 能 量 色散 ｘ射 线 荧光 光 谱 仪 ；粉 末 样 品 ；多 元 素 同 时 分 析 便 中 图分 类 号 ： ６７ ３ ０ ５ ．４ 文献标识码 ： Ｂ
２１ ０ ０年 ６月 Ｊ ｎ ０ ０ ｕ Nhomakorabeaｅ２ １
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Ｖｏ１２ ． ９． Ｎｏ． ３ ３１ ～３１ ３ ５
Ｒ０ ＣＫ ＡＮＤ ＭＩ ＮＥＲＡ Ｌ ＡＮＡＬ Ｓ Ｓ Ｙ Ｉ
文 章 编 号 ： ２ ４— ３７ ２ １ ）３— ３ ３ ３ ０ ５ ５ ５ （０ ０ ０ ０ １ —０
ｏ ｒｔｏ ｅ ｐ ａｉｎ，ｈ ｇ ｆｉｉｎ ｙ ａ ｄ ｓ ｉａ ｌ ｏ ｈｅ ｏ ｓｔ ｈ ｍｉａ ｏ ｏ ｓｔ ｎ ａ ａｙ ｉ ｆｏ ｅ ｎ ｍｉ ｅ ａ ｄ ｉ ｅｄ． ｉｈ ｅ ｃｅ ｃ ｎ ｕ ｔ ｅ ｆｒｔ ｎ—ｉ ｃ ｅ ｃ ｃ ｍｐ ｉｉ ｌｓｓｏ ｒ ｓｉ ｎ ｎ ｎ ｔ ｆ ｌ ｂ ｅ ｌ ｏ ｎ ｈｅ ｉ
ｒｓｌ ｅｅｉ ｇｅｍｅ ｔｗ ｔ ｅ ｉｅ ａｕ ｓ ｗｔ ｒｃｓ ｎ ｏ ２ Ｒ Ｄ（ ＝ １ ． Ｔ ｅ ｍｅｈ ｄ ｐｏ ｉｅ ｈ ｄ ａ ｔｇｓ ｏ ｉ ｌ ｅｕｔ ｗ ｒ ｎａ ｒｅ ｎ ｈ ｃｒｆ ｄ ｖ ｌｅ ｉ ｐｅｉｉ ｆ １％ Ｓ ｎ ｓ ｉ ｔｉ ｈ ｏ ２） ｈ ｔｏ ｒｖｄ ｓ ｔｅ ａｖ ａ ｅ ｆ ｓ ｅ ｎ ｍｐ
Ｌ Ｎ ｈ ｎ —ｕ ， Ｉ ｉｏ１ Ｚ Ａ Ｇ Ｑｎ ， ＩＧ ｏｈ ｉ Ｏ Ｇ Ｃ ａｇｙ Ｌ ａ ． Ｘ ． ｉ， Ｈ Ｎ ｉ Ｌ ｕ —ｕ ．
基于X射线荧光光谱仪的金属元素含量测定及精确度评价
148化学化工C hemical Engineering基于X 射线荧光光谱仪的金属元素含量测定及精确度评价王进玺（甘肃省地质矿产勘查开发局第四地质矿产勘查院，甘肃 酒泉 ７３５０００）摘 要：常规测试手段在对矿物进行金属化分析时，无法依据金属元素含量的工作曲线对金属元素含量中的异常值范围进行限定，导致测试结果精度不高。
本文对Ｘ射线荧光光谱仪的金属元素含量测定及精确度评价进行了系统分析，对金属元素含量检测和Ｘ射线荧光光谱仪的应用原理、结构、分类、优缺点等进行了系统概述，接着，对ＸＲＦ法测定金属元素含量的问题进行了探讨，提出了用Ｘ射线荧光光谱仪测定矿石中金属元素含量的方法。
通过检测地质矿物样品，对矿物中的金属元素含量和精确度进行确定，以供相关人士参考。
关键词：Ｘ射线荧光光谱仪；金属元素；含量测定；精确度评价中图分类号：ＴＳ９４１．７９ 文献标识码：Ａ 文章编号：１００２－５０６５（２０２３）１９－０１４８－３Measurement and Accuracy Evaluation of Metal Element Content Based on X-ray Fluorescence SpectrometerWANG Jin-xi（Ｔｈｅ Ｆｏｕｒｔｈ Ｇｅｏｌｏｇｉｃａｌ ａｎｄ Ｍｉｎｅｒａｌ Ｅｘｐｌｏｒａｔｉｏｎ Ｉｎｓｔｉｔｕｔｅ ｏｆ Ｇａｎｓｕ Ｐｒｏｖｉｎｃｉａｌ Ｇｅｏｌｏｇｉｃａｌ ａｎｄ Ｍｉｎｅｒａｌ Ｅｘｐｌｏｒａｔｉｏｎ ａｎｄ Ｄｅｖｅｌｏｐｍｅｎｔ Ｂｕｒｅａｕ，Ｊｉｕｑｕａｎ ７３５０００，Ｃｈｉｎａ）Abstract: Ｃｏｎｖｅｎｔｉｏｎａｌ ｔｅｓｔｉｎｇ ｍｅｔｈｏｄｓ ｃａｎｎｏｔ ｌｉｍｉｔ ｔｈｅ ｒａｎｇｅ ｏｆ ａｂｎｏｒｍａｌ ｖａｌｕｅｓ ｉｎ ｍｅｔａｌ ｅｌｅｍｅｎｔ ｃｏｎｔｅｎｔ ｂａｓｅｄ ｏｎ ｔｈｅ ｗｏｒｋｉｎｇ ｃｕｒｖｅ ｏｆ ｍｅｔａｌ ｅｌｅｍｅｎｔ ｃｏｎｔｅｎｔ ｗｈｅｎ ｃｏｎｄｕｃｔｉｎｇ ｍｅｔａｌｌｉｚａｔｉｏｎ ａｎａｌｙｓｉｓ ｏｎ ｍｉｎｅｒａｌｓ， ｒｅｓｕｌｔｉｎｇ ｉｎ ｌｏｗ ａｃｃｕｒａｃｙ ｏｆ ｔｅｓｔｉｎｇ ｒｅｓｕｌｔｓ． Ｔｈｉｓ ａｒｔｉｃｌｅ ｐｒｏｖｉｄｅｓ ａ ｓｙｓｔｅｍａｔｉｃ ａｎａｌｙｓｉｓ ｏｆ ｔｈｅ ｄｅｔｅｒｍｉｎａｔｉｏｎ ａｎｄ ａｃｃｕｒａｃｙ ｅｖａｌｕａｔｉｏｎ ｏｆ ｍｅｔａｌ ｅｌｅｍｅｎｔ ｃｏｎｔｅｎｔ ｉｎ Ｘ－ｒａｙ ｆｌｕｏｒｅｓｃｅｎｃｅ ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｅｒｓ． Ｉｔ ｐｒｏｖｉｄｅｓ ａ ｓｙｓｔｅｍａｔｉｃ ｏｖｅｒｖｉｅｗ ｏｆ ｔｈｅ ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ ｐｒｉｎｃｉｐｌｅｓ， ｓｔｒｕｃｔｕｒｅ， ｃｌａｓｓｉｆｉｃａｔｉｏｎ， ａｄｖａｎｔａｇｅｓ ａｎｄ ｄｉｓａｄｖａｎｔａｇｅｓ ｏｆ ｍｅｔａｌ ｅｌｅｍｅｎｔ ｃｏｎｔｅｎｔ ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ ａｎｄ Ｘ－ｒａｙ ｆｌｕｏｒｅｓｃｅｎｃｅ ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｅｒｓ． Ｓｕｂｓｅｑｕｅｎｔｌｙ， ｔｈｅ ｐｒｏｂｌｅｍ ｏｆ ｄｅｔｅｒｍｉｎｉｎｇ ｍｅｔａｌ ｅｌｅｍｅｎｔ ｃｏｎｔｅｎｔ ｕｓｉｎｇ ＸＲＦ ｍｅｔｈｏｄ ｉｓ ｄｉｓｃｕｓｓｅｄ， ａｎｄ ａ ｍｅｔｈｏｄ ｆｏｒ ｄｅｔｅｒｍｉｎｉｎｇ ｍｅｔａｌ ｅｌｅｍｅｎｔ ｃｏｎｔｅｎｔ ｉｎ ｏｒｅｓ ｕｓｉｎｇ Ｘ－ｒａｙ ｆｌｕｏｒｅｓｃｅｎｃｅ ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｅｒｓ ｉｓ ｐｒｏｐｏｓｅｄ． Ｂｙ ｄｅｔｅｃｔｉｎｇ ｇｅｏｌｏｇｉｃａｌ ｍｉｎｅｒａｌ ｓａｍｐｌｅｓ， ｔｈｅ ｃｏｎｔｅｎｔ ａｎｄ ａｃｃｕｒａｃｙ ｏｆ ｍｅｔａｌ ｅｌｅｍｅｎｔｓ ｉｎ ｔｈｅ ｍｉｎｅｒａｌｓ ａｒｅ ｄｅｔｅｒｍｉｎｅｄ ｆｏｒ ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ ｂｙ ｒｅｌｅｖａｎｔ ｐｅｒｓｏｎｎｅｌ．Keywords: Ｘ－ｒａｙ ｆｌｕｏｒｅｓｃｅｎｃｅ ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｅｒ； Ｍｅｔａｌ ｅｌｅｍｅｎｔｓ； Ｃｏｎｔｅｎｔ ｄｅｔｅｒｍｉｎａｔｉｏｎ； Ａｃｃｕｒａｃｙ ｅｖａｌｕａｔｉｏｎ收稿日期：２０２３－０８作者简介：王进玺，男，生于１９８７年，汉族，甘肃靖远人，本科，地质实验测试工程师，研究方向：地质实验测试。
X射线荧光光谱法测定首饰中金含量的不确定度评定
第１１期 收稿日期：２０２０－０４－０７作者简介：姜 莹（１９９０—），女，吉林长春人，长春黄金研究院有限公司，工程师，硕士研究生，主要从事化学分析及贵金属检测等工作。
Ｘ射线荧光光谱法测定首饰中金含量的不确定度评定姜 莹１，２，陈永红１，２，郭嘉鹏１，２，王继尧１，２（１．长春黄金研究院有限公司，吉林长春 １３００１２；２．国家金银及制品质量监督检验中心（长春），吉林长春 １３００１２）摘要：本文采用Ｘ射线荧光光谱法测定首饰中金含量的数学模型，对其不确定进行评定。
贵金属首饰中金的含量在９９．９２０％时，结果的扩展不确定度为０．０８％（ｋ＝２）。
对ＧＢ／Ｔ１８０４３－２０１３《首饰贵金属含量的测定Ｘ射线荧光光谱法》标准方法测定首饰中贵金属的不确定度来源进行分析，使测量结果更具科学性，从而能够规范、定量的进行首饰中贵金属含量测定。
关键词：Ｘ射线荧光光谱法；首饰；贵金属；不确定度中图分类号：Ｏ６５７．３ 文献标识码：Ａ 文章编号：１００８－０２１Ｘ（２０２０）１１－００９３－０２ＥｖａｌｕａｔｉｏｎｏｆＵｎｃｅｒｔａｉｎｔｙｉｎＤｅｔｅｒｍｉｎａｔｉｏｎｏｆＰｒｅｃｉｏｕｓＭｅｔａｌｓｉｎＪｅｗｅｌｌｅｒｙｂｙＸ－ｒａｙＦｌｕｏｒｅｓｃｅｎｃｅＳｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙＪｉａｎｇＹｉｎｇ１，２，ＣｈｅｎＹｏｎｇｈｏｎｇ１，２，ＧｕｏＪｉａｐｅｎｇ１，２，ＷａｎｇＪｉｙａｏ１，２（１．ＣｈａｎｇｃｈｕｎＧｏｌｄＲｅｓｅａｒｃｈＩｎｓｔｉｔｕｔｅＣｏ．，Ｌｔｄ．，Ｃｈａｎｇｃｈｕｎ １３００１２，Ｃｈｉｎａ；２．ＮａｔｉｏｎａｌＱｕａｌｉｔｙＳｕｐｅｒｖｉｓｉｔｉｏｎａｎｄＩｎｓｐｅｃｔｉｏｎＣｅｎｔｅｒｆｏｒＧｏｌｄａｎｄＳｉｌｖｅｒＰｒｏｄｕｃｔｓ（Ｃｈａｎｇｃｈｕｎ），Ｃｈａｎｇｃｈｕｎ １３００１２，Ｃｈｉｎａ）Ａｂｓｔｒａｃｔ：ＴｈｉｓｐａｐｅｒｕｓｅｓＸ－ｒａｙｆｌｕｏｒｅｓｃｅｎｃｅｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙｔｏｅｓｔａｂｌｉｓｈａｍａｔｈｅｍａｔｉｃａｌｍｏｄｅｌｆｏｒｄｅｔｅｒｍｉｎｉｎｇｔｈｅｃｏｎｔｅｎｔｏｆｐｒｅｃｉｏｕｓｍｅｔａｌｓｉｎｊｅｗｅｌｒｙ，ａｎｄｅｖａｌｕａｔｅｓｉｔｓｕｎｃｅｒｔａｉｎｔｙ．Ｗｈｅｎｔｈｅｇｏｌｄｃｏｎｔｅｎｔｉｎｐｒｅｃｉｏｕｓｍｅｔａｌｊｅｗｅｌｒｙｉｓ９９．９２０％，ｔｈｅｅｘｐａｎｄｅｄｕｎｃｅｒｔａｉｎｔｙｏｆｔｈｅｒｅｓｕｌｔｉｓ０．０６％（ｋ＝２）．ＴｈｅＧＢ／Ｔ１８０４３－２０１３＂ＤｅｔｅｒｍｉｎａｔｉｏｎｏｆＰｒｅｃｉｏｕｓＭｅｔａｌｓｉｎＪｅｗｅｌｌｅｒｙｂｙＸ－ｒａｙＦｌｕｏｒｅｓｃｅｎｃｅＳｐｅｃｔｒｏｓｃｏｐｙ＂ｓｔａｎｄａｒｄｍｅｔｈｏｄｉｓｕｓｅｄｔｏａｎａｌｙｚｅｔｈｅｓｏｕｒｃｅｓｏｆｕｎｃｅｒｔａｉｎｔｙｉｎｍｅａｓｕｒｉｎｇｐｒｅｃｉｏｕｓｍｅｔａｌｓｉｎｊｅｗｅｌｒｙ，ｓｏｔｈａｔｔｈｅｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｒｅｓｕｌｔｓａｒｅｍｏｒｅｓｃｉｅｎｔｉｆｉｃ，ｓｏｔｈａｔｔｈｅｐｒｅｃｉｏｕｓｍｅｔａｌｓｉｎｊｅｗｅｌｒｙｃａｎｂｅｓｔａｎｄａｒｄｉｚｅｄａｎｄｑｕａｎｔｉｔａｔｉｖｅｌｙａｎａｌｙｚｅｄ．Ｃｏｎｔｅｎｔｄｅｔｅｒｍｉｎａｔｉｏｎ．Ｋｅｙｗｏｒｄｓ：Ｘ－ｒａｙｆｌｕｏｒｅｓｃｅｎｃｅｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙ；ｊｅｗｅｌｒｙ；ｐｒｅｃｉｏｕｓｍｅｔａｌ；ｕｎｃｅｒｔａｉｎｔｙ 近些年来，贵金属首饰市场异常火热，因此对于其检测也需要更严谨，更规范的测量方法。
X射线荧光分析技术无损检测贵金属首饰含量中的技巧
X射线荧光分析技术无损检测贵金属首饰含量中的技巧随着国内黄金交易市场的全面开放，无损验货接踵而来。
本文从贵金属首饰无损检测应用x荧光分析技术的角度，提出一些避免误区的观点。
一、x射线荧光分析基本原理所谓荧光，就是在光的照射下发出的光。
x射线荧光就是被分析样品在x射线照射下发出的x射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述x射线荧光的分析，确定被测样品中各组份含量的仪器就是x射线荧光分析仪。
用x射线荧光分析仪测量贵金属首饰含量是一种不接触、非破坏的测试方法。
这种方法是将一束初级x射线照射被分析的样品，使样品中的每种元素的原子都发射出各自特征的x射线荧光。
于每一种元素的原子能级结构都是特定的，它被激发后跃迁时放出的x射线的能量也是特定的，称之为特征x射线。
通过测定特征x射线的能量，便可以确定相应元素的存在，而特征x射线的强弱(或者说x射线光子的多少)则代表该元素的含量。
二、x射线荧光分析仪的分类1.根据分光方式的不同，x射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类，也就是通常所说的能谱仪和波谱仪。
通过测定荧光x射线的能量实现对被测样品分析的方式称之为能量色散x射线荧光分析，相应的仪器称之为能谱仪，通过测定荧光x射线的波长实现对被测样品分析的方式称之为波长色散x射线荧光分析，相应的仪器称之为X射线荧光光谱仪。
2.根据激发方式的不同，x射线荧光分析可分为源激发和管激发两种:用放射性同位素源发出的x射线作为原级x射线的x射线荧光分析仪称为源激发仪器，其特点是体积较小、结构简单，价格低廉;用x射线发生器(又称x光管)产生原级x射线的x射线荧光分析仪称为管激发仪器，特点是体积较大、输出强度高且可调，价格也较昂贵。
以上我们介绍了x射线荧光分析仪的基本原理及其主要类型，下面我们着重阐述一下用x射线荧光分析技术无损检测贵金属首饰含量所应注意避免的误区。
误区1:强调“荧光”。
过分迷信依赖大型仪器。
许多用户错误地认为只有用x光管作为激发源的管激发仪器才是x荧光仪，一味地强调所谓“荧光”。
能量色散X射线荧光光谱法测定贵金属首饰中的铅,汞
能量色散 X射线荧光光谱法测定贵金属首饰中的铅 ,汞摘要：应用能量色散x荧光光谱法分析，采用基本参数法，较好地解决了样品的大小、光洁度、形状和成分等对检测结果的影响，检测仪的高性能较好地解决了黄金饰品纯度在环境和测量条件有较大改变时对检测结果的影响，并具有较好的精密度和准确度。
在能量色散X射线荧光光谱仪上对金首饰和铂首饰的空白标样进行检测，得出铅和汞的检出限。
本文阐述了用X射线荧光光谱法进行金首饰合金中铅、镉元素的检测。
同等条件下,对各种金合金样品进行铅、镉含量的分析测试,获得检测值。
结合仪器检出限,评估检测值的校正系数,给出判定结果,最后,本文对方法实验中的影响因素进行了讨论。
关键词能量色散X荧光光谱法；金首饰；铂首饰；铅；汞0 引言x射线荧光EDXRF光谱仪，采用si-PIN探测器并具有高稳定性、高精度、高分辨率、同时分析和基于Windows2000/XP的强大分析软件功能,建立起基本参数法数学校正模型，利用该方法对基体元素的吸收增强效应进行校正，同时由于在其浓度归一化的过程中能够消去测量面积和探测立体角项,因此具有校正样品测量面积和形状影响的能力。
通过标准样品实验验证和不同黄金饰品验证以及不同检测仪器和方法的比对，证明该方法对检测黄金饰品纯度具有较好的精密度和准确度。
本方法采用能量色散X射线荧光光谱仪测定贵金属饰品中铬、镉、汞、铅、镍元素的含量。
此方法所用的仪器能率低，对人体伤害小，且样品无需过多预处理，检测快速、准确且满足GB28480-2012中定量筛选的要求。
1 方法原理当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发，使原子内层电子电离而出现空位，原子内层电子重新配位，较外层的电子跃迁到内层电子空位，并同时放射出次级X射线光子，此即X射线荧光。
较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能级的能量差。
测量特征X射线能量及其强度，即可对样品进行定性和定量分析。
2 实验方法2.1 仪器与条件仪器：日本岛津EDX-720X射线荧光光谱仪；条件：温度20℃±5℃；相对湿度20%RH~80%RH；电源50~60Hz。
X-射线荧光测试作业指导书
能量色散X-射线荧光光谱仪(ED-XRF)作业指导书1.0目的规范ED-XRF的定性测试过程，避免由于不规范操作引起设备故障及分析误差。
2.0适用范围本测试规定了用X射线荧光仪对电子信息产品中规定的有害元素铅、镉、铬、汞、溴的筛选测定方法。
3.0职责本仪器操作人员应严格依本作业指引对有害元素进行定性测试。
4.0样品制备X射线荧光分析对试料有很严格的要求，这些要求因样品形态不同而异。
4.1.1块状匀质试料：对各种块、板或铸件等不定形试样，可用切割机、研磨机等加工成一定尺寸的试料，试料的照射面应能代表试料整体。
4.1.2膜状材料：用薄膜制备膜状试料时要特别注意薄膜厚度的一致性及组成的均匀性，测量时为使薄膜平整铺开，可加内衬物作为支撑物，尽量选用背景低的内衬材料。
4.1.3电子专用材料(非匀质材料)：对电子专用材料可用切割机将样品切割破碎，用研磨机将破碎后的样品研磨成粒径不超过1mm的粉末状样品；也可用剪刀、剪钳等工具对样品进行剪碎，粒径不超过1mm。
4.1.4液体试料：测定液体样品时要定量分取试液装入液杯，测定时要注意避免试液挥发、泄漏、产生气泡或沉淀等现象。
5.0测试步骤5.1.1仪器准备:按仪器厂家提供的说明书安装仪器，只要有可能，仪器应连续运转以保持最佳的稳定性。
每周做一次MCA校正(使用MCACAL校正片，有字体一面向上，校正时要选用Mca-9017方法)。
5.1.2样品测试：5.1.2.1打开电脑进入WINDOW窗口后，再开荧光分析仪电源和打印机电源，然后在电脑桌面上双击Routine Dialog软件进入仪器操作界面。
5.1.2.2 试验前先根据需要设定仪器参数，并建立相应的试验方法(本仪器已经内置了一个Wee-9017方法，可直接调用)。
5.1.2.3将样品盘安装在样品室里(1号位对应射线入口)，并拧紧中间旋钮螺钉，将剪碎的样品放至塑料杯里(样品尽量在半杯以上，且对有毒物质、挥发性物质或液体类物质要合上杯盖)，按顺序将样品放到样品盘位置上，(对平板试样可裁取一块约φ30mm 的样品，一般塑胶类样品要求厚度在3mm以上，此时要取出样品盘，在样品室的射线入口处垫上一块金属圆环，样品放在金属圆环上)，然后合上样品室门。
X荧光光谱法测定玩具饰品中的重金属含量
全标 准 Ａｓ ／ＮＺ Ｓ ８ ２ ＳＩ Ｏ １ ４等标 准 ， 均对玩 具表 面涂 层 中的铬 、 、 、 等可 迁 移 重 金属 元 素 有严 格 的 镉 铅 汞 要求 。重金属 铬 的超 量 摄入 ， 对皮 肤 熟 膜 有 刺激 作 用， 引起 皮 炎 、 疹 、 炎 、 管 炎 ， 有 致 癌 可 能 。 湿 鼻 气 并 铅 的摄 入超标 将 引 起贫 血 ， 害神 经 系统 。长期 摄 损 人 微量 镉易 引起 骨 痛 病 。汞 中 毒诱 发 肝 炎 和血 尿 。 超 标重 金属 儿童 玩具对 儿童 的健康 成长 构成 严重 的 威 胁 。因此 重金 属作 为影 响玩具材 料安 全性 的重要 因素 ， 含量 的测 定 显 得 尤 为 重要 。 目前 常 用 于测 其
预 热 初 始 化 后 ， 不 同大 小 ， 同形 状 ， 同 属性 的 样 品 无需 做 任 何 的预 处 理 ， 接 无 损 测 定 其 表 面 重 金 属 的 含 量 。 对 不 不 直 单个样品测定时间为 ２ ～３分 钟 ， 连 续不 间 断测 定 ， 测 限低 ， 达 ２ ／ ｇ 相 对 标 准 偏 差 低 于 ４ ６ 。所 用 仪 器 可 检 可 ｍｇ ｋ ， ． 为 国产 仪 器 ， 器 成 本 及 运 行 和 维 护 成 本 低 ， 用 于 现场 实 时分 析 ， 于 推 广 。该 法 具 有 分 析 速 度 快 、 作 简 单 、 仪 应 便 操 对
光光度 法口 。Ｘ 荧 光 光 谱 法 测 定 重 金 属 含 量 无 需 对样 品做 任何 的预处 理 ， 同时测 定多 种重金 属 ， 分析
速度 快 ， 定 限小 ， 器 成 本及 运 行 和 维护 成 本 低 ， 测 仪
观察 ， 择合适 的工作 曲线 ， 入 样 品 名称 ， 置 扫 选 输 设 描 时间 （ 一般为 １ ０ ０ ｓ ， 始 扫描 样 品 ， Ｏ ～２ ０ ） 开 软件 系 统将 自动记 录处理数 据 。
X射线荧光光谱仪校准操作规程
X 射线荧光光谱仪适用范围本规范适用于使用中和修理后的能量色散X 射线荧光光谱仪的校准。
参考文献JJG 810-1993 波长色散X 射线荧光光谱仪检定规程SN/T2003.1：2005 X 射线荧光光谱法测铅，汞，铬，镉，溴SJ/T11365-2006 电子信息产品中有毒有害物质的检测方法概述能量色散X 射线荧光光谱仪用于固体、粉末或液体物质的元素分析。
工作的基本原理是X 射线管发出的初级X 射线激发试样中的原子，测定由此产生的X 射线的荧光的能量强度，根据各种元素特征X 荧光光谱线的能量强度进行元素的定性和定量分析。
工厂购买能量色散X 射线荧光光谱仪，主要用来确定产品中有害物质含量是否超标，主要依据是欧盟委员会先后颁布的( 2002/95/EC )指令和2005/618/EC 决议。
其中铅(Pb)、汞(Hg)、六价铬(Cr6+)、多溴联苯(PBB)、多溴二苯醚(PBDE)的最大允许含量为0.1%(1000mg/kg)，镉(cd)为0.01%(100 mg/kg)该限值是制定产品是否符合RoHS 指令的法定依据。
金属材质只需要做重金属检测(铅、汞、镉、六价铬)，塑料材质需要做规定的六项(铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯、多溴二苯醚)，其它材质只需做重金属测试。
X 射线荧光光谱仪主要作用是做有害物质总含量的分析，对产品起到快速筛选的作用。
基体matrix含有或附有被分析物的材料或物质。
背景background 叠加在分析线上的连续谱，主要来自试料对入射辐射的散射。
检出限limit of detection在一定置信水平下能检出的最低含量。
干扰线interference lines与分析线重叠或部分重叠，从而影响对分析线强度进行准确测量的谱线。
4 计量性能要求 4.1 外观4.1.1 仪器应有仪器名称、制造厂、出厂日期和编号的标志。
4.1.2 所有部件连接良好、动作正常。
4.1.3 面板上的仪表、指示灯和安全保护装置工作正常。
X射线荧光光谱法检测银首饰合金中的铅含量
X射线荧光光谱法检测银首饰合金中的铅含量黄国芳;金俊;吴奕阳;许雅【摘要】This paper introduces the determination of lead(Pb) in silver alloy by XRF(X-ray fluorescence spectrometry).Using the blank materials of different types of silver alloy, we obtain LOD(the limit of detection) of Pb separately by WDXRF and EDXRF. Under the same conditions, we test the samples and get the contents of Pb. Combined with the LOD, estimating the uncertainty of the results, we make the determination of Pb. Compared with the results of ICP method, XRF method is proved available. On the end of this paper, the factors that may influence the result are discussed.%阐述应用X射线荧光光谱法（XRF法）检测银首饰合金中的铅元素。
针对不同纯度银合金的工作标样，分别利用波长色散X荧光光谱仪和能量色散X荧光光谱仪对银合金空白工作标样进行实验，从而获得铅元素的检出限。
在同等条件下，对各种银合金样品进行铅含量的分析测试以获得检测值。
结合仪器检出限，评估检测值的校正系数，给出判定结果，与ICP法验证实验分析判定结果进行比较，证明XRF方法可行。
分析讨论可能影响检测的因素。
首饰金、银覆盖层厚度的测定 x 射线荧光光谱法
首饰金、银覆盖层厚度的测定 X 射线荧光光谱法一、概述首饰在人们生活中具有重要的地位，而金、银饰品由于其高雅的外观和不易氧化的特性，一直受到人们的喜爱。
然而，随着仿制品和劣质产品的泛滥，人们对首饰品的质量与真伪也越来越关注，确定首饰金、银覆盖层的厚度成为了一项重要的技术。
二、X 射线荧光光谱法的基本原理X 射线荧光光谱法是一种通过激发样品产生荧光来分析样品成分的分析技术。
当样品受到能量高的X 射线照射时，样品中的原子会被激发，产生荧光。
根据不同元素的能级分布，可以通过测量样品荧光的强度和能谱来确定样品中各种元素的含量。
利用X 射线荧光光谱法，可以非破坏性地快速、准确地分析样品的成分和厚度。
三、首饰金、银覆盖层厚度的测定步骤1. 样品制备：需要选择代表性的样品，并在样品表面做好清洁处理，去除表面的污垢和氧化物。
2. 仪器校准：在进行检测之前，需要对X 射线荧光光谱仪进行校准，确保仪器的准确性和稳定性。
3. 检测测量：将样品放入X 射线荧光光谱仪中，利用X 射线照射样品，测量样品表面的荧光强度和能谱分布。
4. 数据分析：根据测得的荧光强度和能谱，利用仪器内置的分析软件对数据进行处理，计算出金、银覆盖层的厚度。
四、X 射线荧光光谱法在首饰金、银覆盖层厚度测定中的应用1. 非破坏性检测：X 射线荧光光谱法无需对样品进行破坏性取样，可以直接对首饰表面进行测量，不会对样品造成任何损伤。
2. 高准确性和精度：X 射线荧光光谱法能够测量出金、银覆盖层的厚度，且具有较高的准确性和精度，可以满足首饰质量控制的需要。
3. 高效快速：X 射线荧光光谱法测量速度快，对于大批量的首饰产品，可以快速进行测量，提高生产效率。
4. 可追溯性强：X 射线荧光光谱法检测数据准确可靠，能够提供可追溯的检测结果，符合质量管理的要求。
五、结论X 射线荧光光谱法作为一种成熟的分析技术，已经在首饰金、银覆盖层厚度测定中得到了广泛应用。
它具有非破坏性、准确性高、快速高效、可追溯等特点，能够满足首饰质量控制的需求，对维护市场秩序和保护用户权益具有重要意义。
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能量色散X射线荧光光谱法测定贵金属首饰中的铅、汞
戴珏 王炯 吴奕阳 / 上海市计量测试技术研究院
摘 要 采用能量色散X射线荧光光谱法对金首饰和铂首饰中的有害元素铅和汞进行检测。
在能
量色散X射线荧光光谱仪上对金首饰和铂首饰的空白标样进行检测，得出铅和汞的检出限。
然后
以同样的方法对金首饰和铂首饰的标样进行检测。
结合检出限和其他判定规则对金首饰和铂首饰样
品中铅、汞元素的测试结果给出合格与否的判定。
该测定方法与ICP法的实验比对结果表明了该方
法的可行性。
关键词 能量色散X荧光光谱法；金首饰；铂首饰；铅；汞
0 引言
2003年2月13日，欧盟官方公报公布了《废旧电气电子电器（WEEE）》指令（2002/96/EC）和《电气电子设备中限制使用某些有害物质》（RoHS）指令（2002/95/EC），规定从2005年8月13起实施WEEE的生产者责任，从2006年7月1日起在电器中禁止使用铅（Pb）、镉（Cd）、汞（Hg）、六价铬（Cr Ⅵ）、多溴联苯（PBB）和多溴联苯醚（PBDE）六种有害物质。
全国首饰标准化委员会参照RoHS指令，并结合贵金属饰品的特点出台了有关饰品中有害元素含量限制的国家标准GB 28480-2012《饰品有害元素限量的规定》。
本方法采用能量色散X射线荧光光谱仪测定贵金属饰品中铬、镉、汞、铅、镍元素的含量。
此方法所用的仪器体积小，能率低，对人体伤害小，且样品无需过多预处理，检测快速、准确，方法检出限满足GB 28480-2012中定量筛选的要求。
1 方法原理
当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发，使原子内层电子电离而出现空位，原子内层电子重新配位，较外层的电子跃迁到内层电子空位，并同时放射出次级X射线光子，此即X 射线荧光。
较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能级的能量差。
测量特征X射线能量及其强度，即可对样品进行定性和定量分析。
2 实验方法
2.1 仪器与条件
仪器：日本岛津EDX-720 X射线荧光光谱仪；
条件：温度20 ℃±5 ℃；相对湿度20% RH ~80%RH；电源50~60 Hz。
以锰元素在5.89 keV能量位置的峰实测，分辨力小于150 eV。
2.2 实验方法
在EDXsoftware上利用仪器原有的、已被工作标样优化的有害元素程序，分别对金首饰、铂首饰合金的空白工作标样进行检测实验（以下简称EDXRF 法）。
每组样品测量10次，分别得到铅、汞元素的检出限。
再对金首饰合金样品和铂首饰样品进行检测得到检测值。
结合仪器的检出限对检测数据进行处理，采取合适的结果判定方式给出判定结果，并用ICP法分析测试样品，进行两者测试结果的比对。
3 结果与讨论
3.1 检出限实验
检出限是分析测试的重要指标，对于仪器性能的评价和方法的建立都是重要的基本参数之一。
通常检出限（LOD）= 3σ，σ是指一定条件下对空白样品多次测量（不少于7次）所得结果的标准偏差。
采用EDXRF法对不同金元素含量和不同铂元素含量的五件空白工作标样进行铅、汞元素检出限实验。
经ICP法检测，五种首饰合金空白工作标样中铅、
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国内统一刊号CN31-1424／TB
2017/2 总第258期
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汞元素的含量均小于5 mg/kg。
相同条件下，对每件空白标样中的铅、汞元素含量分别连续检测10次，得到铅和汞元素的检出限3σ值，结果如表1所示。
3.2 样品的测试
采用EDXRF 法对不同金元素含量和不同铂元素含量的五件样品（编号G1~G3、B1及B2）进行分析测试，得到这五件样品中铅和汞的检测值W （mg/kg）。
依据GB 28480-2012，铅、汞元素的限量为1 000 mg/kg，并采用30%作为有害元素最大限量的分析校正系数，判定方法如下：
W ≤W max （1-30%）-3σ时，结果判定为合格；W ≥W max （1+30%）+3σ时，结果判定为不合格；
*ND——未检出。
W max （1-30%）-3σ<W <W max （1+30%）+3σ时，结果判定为待定，需要进一步进行化学法的检测来判定。
五件样品EDXRF 法的检测结果判定与ICP 法基本符合，结果如表2所示。
3.3 结果与讨论
在对金首饰、铂首饰合金进行有害元素检测时发现，样品本身的形状、表面光整度以及是否有焊口等因素会影响检测结果的变化，检出限也会发生改变，随着有害元素含量的减少，测量结果的误差会增大，而检出限越高的仪器误差也会越大。
在国家颁布实施GB 28480-2012以后，对于首饰中有害元素含量检测的重要性也越来越高，而能量色散X 射线荧光光谱法作为快速、有效、无损的分析方法，在对于首饰样品进行筛选测试中有其他分析技术无法比拟的优点。
4 结语
应用能量色散X 射线荧光光谱分析法对金首饰、铂首饰中的铅元素和汞元素进行测试，方法快速、准确度高，可以满足日常检测中的铅、汞元素的筛选测试。
参考文献
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[6] International Electrotechnical Commission.IEC 62321-2008[S].
Geneva，2008.
Determination of Pb,Hg in precious metal by energy dispersive X - ray fluorescence
spectrometry
Dai Jue ，Wang Jiong ，Wu Yiyang （Shanghai Institute of Measurement and Testing
Technology ）
Abstract : The harmful elements lead and mercury in gold jewelry and platinum jewelry are determined by energy dispersive X fluorescence spectrometry. In order to obtain the detection limits of the required test the different blank standard samples of gold jewelry and platinum jewelry are detected with the energy dispersive X ray fluorescence spectrometer. Then the standard samples of gold jewelry and platinum jewelry are detected with the same method. The qualification determination of the lead and mercury contents in the standard samples of gold jewelry and platinum jewelry is made according to the detection limits and other criterion rules. Compared with the experimental results of ICP method the feasibility of the energy dispersive X fluorescence spectrometry is proved.
Key words : energy dispersive X fluorescence spectrometry(EDXRF); gold jewelry; platinum jewelry; lead; mercury。