X射线衍射分析的应用

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X射线衍射分析

X射线衍射分析

X射线衍射分析X射线衍射分析是一种重要的材料表征方法,它能够帮助科学家研究物质的结构和性质。

X射线衍射分析技术被广泛应用于材料科学、化学、生物学等领域。

本文将介绍X射线衍射分析的原理、仪器设备,以及在实际应用中的一些案例。

X射线衍射分析的原理基于X射线与物质相互作用的规律。

当X射线照射到物质上时,X射线与物质中的原子发生散射,形成衍射图样。

这些衍射图样包含了物质的晶体结构信息。

通过分析这些衍射图样,我们可以了解物质的晶体结构、晶格参数以及晶体中的原子位置。

X射线衍射实验通常使用X射线衍射仪进行。

X射线衍射仪由X射线源、试样台和衍射检测器组成。

X射线源产生高能量的X射线束,试样台用于放置待测样品,而衍射检测器则用于检测经过试样台衍射的X射线。

在实验中,我们需要调整X射线源和试样台的相对位置,使得试样台上的样品能够受到均匀的X射线照射,并且衍射信号能够被检测器准确地记录下来。

X射线衍射实验的结果通常以X射线衍射图样的形式呈现出来。

X射线衍射图样是一系列强度和角度的关系曲线。

通过对衍射图样的分析,我们可以确定材料的晶体结构。

根据布拉格方程,我们可以计算出晶面的间距,从而推导出晶体中原子的位置和晶格参数。

X射线衍射分析可以应用于各种各样的材料。

例如,材料科学家可以通过X射线衍射分析来研究金属的晶体结构和晶格缺陷。

化学家可以使用X射线衍射分析来确定化合物的晶体结构,从而帮助他们理解化学反应的机理。

生物学家可以利用X射线衍射分析来研究蛋白质的三维结构,从而揭示生物分子的功能和活动机制。

除了单晶衍射分析,还有一种称为粉末衍射分析的技术。

粉末衍射分析可以用于不规则形状的晶体或非晶体材料的结构分析。

在粉末衍射分析中,试样通常是细粉末状的物质。

通过对粉末衍射图样的分析,我们可以推导出材料的平均晶体结构。

总之,X射线衍射分析是一种重要而强大的材料表征技术。

它可以帮助科学家研究物质的结构和性质,并为材料科学、化学、生物学等领域的研究提供有效的工具和方法。

X射线衍射技术在材料分析中的应用

X射线衍射技术在材料分析中的应用

X射线衍射技术在材料分析中的应用沈钦伟126406324 应用化学1引言X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。

当某物质( 晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象, 物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。

X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。

因此,X射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法, 已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。

2X射线衍射基本原理X射线同无线电波、可见光、紫外线等一样,本质上都属于电磁波,只是彼此之间占据不同的波长范围而已。

X射线的波长较短, 大约在10-8~10-10cm之间。

X 射线分析仪器上通常使用的X射线源是X射线管,这是一种装有阴阳极的真空封闭管, 在管子两极间加上高电压, 阴极就会发射出高速电子流撞击金属阳极靶,从而产生X射线。

当X射线照射到晶体物质上,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射, 衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关,不同的晶体物质具有自己独特的衍射花样, 这就是X射线衍射的基本原理。

3 X射线衍射技术在材料分析中的应用由X射线衍射原理可知,物质的X射线衍射花样与物质内部的晶体结构有关。

每种结晶物质都有其特定的结构参数(包括晶体结构类型, 晶胞大小,晶胞中原子、离子或分子的位置和数目等)。

因此,没有两种不同的结晶物质会给出完全相同的衍射花样。

通过分析待测试样的X射线衍射花样,不仅可以知道物质的化学成分,还能知道它们的存在状态,即能知道某元素是以单质存在或者以化合物、混合物及同素异构体存在。

同时,根据X射线衍射试验还可以进行结晶物质的定量分析、晶粒大小的测量和晶粒的取向分析。

X射线衍射仪的原理与应用

X射线衍射仪的原理与应用

X射线衍射仪的原理与应用X射线衍射仪是一种重要的科学仪器,广泛应用于材料科学、生命科学和物理学等领域。

它通过射入样品的X射线,利用衍射现象来研究物质结构,为科学研究和工程应用提供了重要的手段。

本文将介绍X射线衍射仪的原理,以及其在材料科学和生命科学中的应用。

一、X射线衍射仪的原理X射线衍射仪的基本原理是利用物质中的晶格结构对入射X射线发生衍射。

当X射线通过物质时,部分X射线会与物质中的原子核和电子云相互作用,形成散射波。

这些散射波相互干涉,形成衍射图样。

根据衍射图样的特征,可以得到物质的晶格结构和晶体学信息。

X射线衍射的原理基于布拉格方程,即nλ = 2dsinθ,其中n为整数,λ为入射X射线波长,d为晶格常数,θ为入射角。

根据布拉格方程,可以通过测量衍射角θ和入射X射线波长λ的数值,在一定的条件下确定物质的晶格常数。

二、X射线衍射仪的应用1. 材料科学领域X射线衍射仪在材料科学领域有广泛的应用。

首先,它可以用于材料的结构分析。

通过测量物质的衍射图样,可以确定物质的晶体结构、晶格常数和晶面取向等信息。

这对于材料的研究和工程设计具有重要意义。

其次,X射线衍射仪还可以用于材料的质量检测和成分分析。

通过测量材料的衍射强度和位置,可以定量分析材料中的晶体相和非晶质相的含量,进而评估材料的质量和性能。

2. 生命科学领域X射线衍射仪在生命科学领域也有应用。

例如,它可以用于蛋白质晶体学研究。

蛋白质晶体学是研究蛋白质结构的重要手段。

通过将蛋白质溶液结晶,并利用X射线衍射仪测量蛋白质晶体的衍射图样,可以解析蛋白质的原子结构,从而揭示其功能和生理过程。

此外,X射线衍射仪还可以用于药物研究和生物医学领域。

通过测量药物晶体的衍射图样,可以确定药物的晶体结构和稳定性,为药物设计和制剂优化提供指导。

同时,X射线衍射仪还可以应用于X射线显像技术,用于肿瘤诊断和器官成像等医学应用。

三、总结X射线衍射仪是一种基于衍射原理的重要科学仪器,可以用于物质结构的研究和分析。

X射线衍射原理及应用

X射线衍射原理及应用

X射线衍射原理及应用X射线衍射是一种利用X射线与晶体相互作用产生的衍射现象研究物质结构的方法。

它是在19世纪末和20世纪初逐渐发展起来的。

在这个过程中,麦克斯·冯·劳厄和威廉·康拉德·伦琴分别做出了重要贡献。

X射线衍射的原理是基于能量很高、波长很短的X射线通过物质时,与物质中的原子或晶体晶格相互作用,形成一些衍射现象。

这些衍射现象可以由晶体的结构参数推导出来,从而获得物质结构的信息。

1.X射线的产生:通过射线管向靶发射高速电子,产生了能量很高的X射线。

2. X射线的散射:经过Fermi–Dirac分布后,X射线通过物质时,与物质中的电子和原子核相互作用。

3.X射线的衍射:在特定的角度下,经过物质散射后的X射线互相干涉,形成衍射图样。

4.衍射图样的测量:通过衍射图样的测量,可以获得物质结构的信息,如晶格常数、晶胞参数、晶体结构等。

1.确定晶体结构:X射线衍射可以确定晶体结构的各种参数,如晶胞参数、晶格常数、原子位置等,从而帮助人们了解晶体的组成和结构。

2.分析材料成分:X射线衍射可以通过衍射图样的特征峰值,来分析物质的成分和组成。

3.研究晶体缺陷:X射线衍射可以研究晶体中的缺陷,如晶体的位错和断裂等。

通过衍射图样的变化,可以推断出晶体的缺陷类型和密度。

4.相变和晶体生长研究:X射线衍射可以研究物质的相变过程和晶体的生长机制。

通过衍射图样的变化,可以观察到相变的相应信号,并得到相变的温度和压力等参数。

5.X射线衍射也可以应用于地球科学领域,如矿石的开采、火山活动的研究等。

总之,X射线衍射是一种非常重要的物质结构研究方法,通过测量衍射图样,可以了解物质的组成和结构。

在材料科学、结晶学、地球科学等领域都有广泛的应用前景,对于人类的科学研究和工业生产都具有重要的意义。

X射线衍射在材料分析当中的应用

X射线衍射在材料分析当中的应用

X射线衍射在材料分析当中的应用X射线衍射是一种重要的材料分析方法,广泛应用于材料科学、物理学、化学、地质学等领域。

它基于X射线与晶体中的原子相互作用而产生的衍射现象,通过测量衍射角度和强度,可以获得关于材料的结构、晶格参数、晶体形态、晶体质量、晶体缺陷等信息。

下面将详细介绍X射线衍射在材料分析当中的应用。

1.结构测量X射线衍射可以用来确定晶体的结构。

晶体的结构是由周期性排列的原子组成的,X射线可以通过与晶体中的原子相互作用而产生衍射现象。

测量X射线的衍射图样可以得到晶体的结构信息,包括晶胞参数、晶体对称性、原子位置等。

这对于研究固体结构和材料的物理、化学性质非常重要。

2.晶体质量分析X射线衍射可以用来评估晶体的质量。

晶体的质量对于材料的性能具有重要影响。

通过测量X射线衍射的强度和形状,可以判断晶体的纯度、晶格缺陷、晶体畸变等信息,从而评估晶体的质量。

这对于工业生产和材料品质控制非常重要。

3.相变研究X射线衍射可以用来研究材料的相变行为。

相变是材料中的原子或分子之间发生的结构转变。

通过测量相变前后X射线衍射的变化,可以确定相变的发生温度、相变类型、相变机制等信息。

这对于研究材料在不同温度、压力等条件下的结构变化和性质变化非常重要。

4.晶体的应力分析X射线衍射可以用来分析材料中的应力状态。

当晶体中存在应力时,晶胞参数会发生变化,进而影响X射线衍射的角度和强度。

通过测量X射线衍射的变化,可以计算材料中的应力状态。

这对于理解材料的力学性能、设计材料的使用条件非常重要。

5.晶体取向分析X射线衍射可以用来分析材料中晶体的取向情况。

当材料中存在多个取向的晶体时,不同晶面的衍射强度会有区别。

通过测量X射线衍射的强度和方向,可以确定晶体的取向分布。

这对于研究材料的制备方法、材料的性能分布等具有重要意义。

6.材料成像利用X射线衍射原理,可以实现材料的成像。

例如,X射线衍射成像技术可以用来观察材料的内部结构,如晶体的缺陷、晶体的结构变化等。

多晶体X射线衍射分析应用

多晶体X射线衍射分析应用

03
智能化与自动化
未来多晶体X射线衍射分析有望实现 更智能化和自动化的操作,减少人为 误差,提高分析效率和准确性。
对各领域的贡献与影响
材料科学研究
化学与生物学研究
环境科学与地球科学研究
医学研究
多晶体X射线衍射分析在材料 科学研究中具有重要作用,可 用于研究材料的晶体结构、相 变行为、微观应力等,为新材 料的发现和应用提供基础数据 。
高分子材料研究案例
总结词
多晶体X射线衍射分析在高分子材料研究 中具有重要应用,可用于确定高分子材 料的晶体结构、取向和相变行为等。
VS
详细描述
高分子材料广泛应用于化学、材料科学和 工程等领域。多晶体X射线衍射分析可以 精确测定高分子材料的晶体结构和取向, 进而影响其物理和化学性能,为高分子材 料的设计和优化提供重要依据。
02
多晶体X射线衍射分析原理
X射线衍射原理
X射线是一种电磁波,具有波粒二象性,能够穿透物质并在物 质内部发生散射。当X射线遇到晶体时,会与晶体中的原子或 分子相互作用,产生衍射现象。
衍射现象的产生是由于晶体中原子或分子的周期性排列,使 得X射线在某些方向上受到增强或减弱,形成特定的衍射图谱 。
多晶体X射线衍射的特殊性
高分子相分离与相容性
通过多晶体X射线衍射分析,可以研究高分子材 料中不同组分的相分离和相容性,有助于优化高 分子复合材料的性能。
高分子老化与降解过程
多晶体X射线衍射分析可以用于研究高分子材料 的老化和降解过程,有助于提高高分子材料的使 用寿命和稳定性。
生物医学领域的应用
生物矿化研究
多晶体X射线衍射分析可以用于研究生物矿化过程,如骨骼、牙齿等的形成机制,有助于了解生物矿化 的基本原理。

x射线在化学中的应用

x射线在化学中的应用

X射线在化学中有着广泛的应用,主要包括以下几个方面:
1. 晶体结构分析:X射线衍射技术是研究晶体结构的重要手段。

通过测量晶体对X射线的衍射强度和方向,可以得到晶体的结构参数,如原子间的距离、角度等。

这对于理解物质的性质和行为具有重要意义。

2. 元素分析:X射线荧光光谱法是一种常用的元素分析方法。

当物质受到X射线照射时,其内部的原子会被激发并发出特征性的X射线荧光。

通过测量这些荧光的波长和强度,可以确定物质中的元素种类和含量。

3. 分子结构分析:X射线衍射技术也可以用于研究分子的结构。

通过测量分子对X射线的衍射强度和方向,可以得到分子的结构参数,如键长、键角等。

这对于理解分子的性质和行为具有重要意义。

4. 表面分析:X射线光电子能谱(XPS)是一种常用的表面分析方法。

通过测量材料表面对X射线的光电效应,可以得到表面元素的化学状态和浓度分布。

这对于理解材料的表面性质和行为具有重要意义。

5.化学反应动力学:X射线小角散射技术可以用于研究化学反应的动力学过程。

通过测量反应过程中粒子的大小和形状的变化,可以得到反应速率常数和反应机理等信息。

综上所述,X射线在化学中有着广泛的应用,主要包括晶体结构分析、元素分析、分子结构分析、表面分析、化学反应动力学。

x射线衍射技术的应用

x射线衍射技术的应用

x射线衍射技术的应用以X射线衍射技术的应用为标题,我们将探讨X射线衍射技术在不同领域的应用。

X射线衍射技术是一种利用X射线在物质中的相互作用进行分析和研究的方法。

该技术已经被广泛应用于材料科学、生物医学、地质学等领域,为我们的科学研究和工程实践提供了重要的支持和突破。

在材料科学领域,X射线衍射技术被用于材料的结构分析和晶体学研究。

通过研究材料的衍射图案,可以获得材料的晶体结构、晶格常数以及晶体中原子的排列方式等信息。

这些信息对于材料的性能和应用具有重要意义。

例如,在材料研发过程中,研究人员可以利用X射线衍射技术来确定新合成材料的晶体结构,从而指导进一步的材料设计和优化。

在生物医学领域,X射线衍射技术被广泛应用于蛋白质结构研究。

蛋白质是生物体中最重要的功能分子之一,其结构与功能密切相关。

通过X射线衍射技术,研究人员可以获得蛋白质的三维结构信息,进而揭示其功能机制。

这对于药物研发、疾病治疗等具有重要意义。

例如,通过研究蛋白质的结构,科学家们可以设计出更加高效的药物分子,提高药物的选择性和疗效。

在地质学领域,X射线衍射技术被广泛应用于矿物成分的分析和研究。

地球是由各种不同的矿物组成的,研究矿物的成分和结构对于地质学家来说是十分重要的。

通过X射线衍射技术,可以准确地确定矿物的成分和晶体结构,从而推断地质过程和环境的演化历史。

例如,在石油勘探中,研究人员可以利用X射线衍射技术来分析地下岩石中的矿物成分,从而判断油气的储集情况和潜在资源量。

除了上述领域,X射线衍射技术还被应用于材料缺陷分析、晶体生长研究、纳米材料表征等领域。

例如,在材料缺陷分析中,通过研究材料的X射线衍射图案,可以检测和定量分析材料中的晶体缺陷,如晶格畸变、晶界、位错等。

这对于材料性能的改进和缺陷修复具有重要意义。

在晶体生长研究中,X射线衍射技术可以用于监测晶体生长动态过程,了解晶体生长机制和控制晶体质量。

在纳米材料表征中,X射线衍射技术可以用于研究纳米材料的晶体结构和尺寸分布,揭示其特殊的物理和化学性质。

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点阵常数(晶胞参数)测定 晶体结构分析 晶体对称性(空间群)的测定 等效点系的测定 晶体定向、非晶体结构分析、晶粒度测定、 宏观应力分析
9
第一节 物相分析


成份分析:可通过化学分析、光谱分析、X射线荧 光分析等方法来实现。 物相分析或结构分析:可通过X射线衍射分析和电 子衍射。
物相分析是指确定材料由哪些相组成(即
20
(1)数值索引

以Hanawalt无机相数字索引为例。 其编排方法为:一个相一个条目,在索引 中占一横行,其内容依次为按强度递减顺 序排列的8条强线的晶面间距和相对强度值、 化学式、卡片编号和参比强度值。条目示 例如下:
X
21
Al6Si2O13 多铝红柱石
22
Fink (芬克) 无机数值索引与哈那瓦特数值索引相 类似,主要不同的是其以八强线条的d值循环排 列,每种相在索引中可出现8次。
实验一: X射线衍射仪演示与谱图分析
第六周不上课 第七周周三带实验指导书和课本来上课
1
3
The Bragg-Brentano diffractometer
The Bragg-Brentano :2 geometry is the most commonly used. The incident beam hits the sample in angle and reflected at the same angle. Hence the detector is placed at 2 from the incident beam. The detector rotates at twice angular speed than the sample.
23
(2)字母索引


以物相英文名称字母顺序排列。每种相一个 条目,占一横行。 条目的内容顺序为:物相英文名称、三强线 d值与相对强度、卡片编号和参比强度。条目 示例如下:
24
4.物相定性分析的基本步骤
(1)制备待分析物质样品; (2)用衍射仪法或照相法获得样品衍射花 样:d与I/I1(∆d=±0.01~0.02Å); (3)检索PDF卡片 (4)核对PDF卡片与物相判定。
一个混合样,有:
Ia K ( ) 50 / 50 Is
a s
于是,
Ia w (1 ws ) wa a a Ks Ks Is ws ws
' a
39



K值法比内标法要简单的多,并且这种K值对任何样品 都适用。因此,目前的X射线定量分析多用K值法。 困难之处在于要得到待测相的纯物质。 JCPDS选用刚玉Al2O3 (α-Al2O3)作为标准物质。测 定的许多物质与刚玉以1:1比例混合后,二者最强衍 射峰之间的比值:
I石英101/I萤石111
优点:原理简单,容易理解; 缺点:要作标准曲线,有一定的困难。
38
3、K值法
在内标法中,还必须作标准曲线得出比例常数。 能否不作标准曲线就可求得呢?
' Ia Ca s a Is Cs a s
Ca s K Cs a
a s
将这两种纯物质以各占50%的比例混合,制成
d/Å
1.04 0.98 0.91 0.83 0.81
I/I1
3 5 4 8 10
27
物质
卡片号 d/Å 相对强度I/I1 2.09 2.47 1.80 100 70 50 待测物质 2.09 1.81 1.28 100 50 20 Cu-2.4%Be 9-213 2.10 1.83 1.28 100 80 80 Cu 4-836 2.09 1.81 1.28 100 46 20 Cu-Ni 9-206 2.08 1.80 1.27 100 80 80 Ni3(AlTi)C 19-35 2.08 1.80 1.27 100 35 20 Ni3Al 9-97 2.07 1.80 1.27 100 70 50
物相定性分析或称物相鉴定)和确定各组成相的含 量(常以体积分数或质量分数表示,即物相定量分 析)。
10
一、物相定性分析 1、基本原理



组成物质的各种相具有各自的X射线衍射花样特征(衍射 线位置与强度),对于多相物质,其衍射花样则由其各 组成相的衍射花样简单叠加而成. 由此可知,物质的X射线衍射花样特征就是分析物质相 组成的“指纹脚印”. 制备各种标准单相物质的衍射花样并使之规范化,将待 分析物质(样品)的衍射花样与之对照,从而确定物质的 组成相,这就是物相定性分析的基本原理与方法.
12
13
图7-l所示为氯化钠(NaCl)的PDF卡片
14
15
16
17
18
19
3. PDF卡片索引
为方便、迅速查对PDF卡片,JCPDS编辑出版了多种 PDF卡片检索手册: Hanawalt无机物检查手册 Hanawalt有机相检查手册 Fink无机索引 无机相字母索引 矿物检索手册等。 检索手册按检索方法可分为两类,一类以物质名称为 索引(即字母索引),另一类以d值数列为索引(即数 值索引)。
28
4-836卡片Cu的衍射数据
d/Å 2.088 1.808 1.278 1.090
I/I1 d/Å 100 1.0436 46 0.9038 20 0.8293 17 0.8083
I/I1 5 3 9 8
29
剩余线条与Cu2O的衍射数据





待测试样中的剩余线条 d/Å I/I1 观测值 归一值 3.01 5 7 2.47 70 100 2.13 30 40 1.50 20 30 1.29 10 15 1.22 5 7 0.98 5 7
35
2、内标法
若混合物中含有n 个相(n>2),此时可往试样中加入 标准物质,这种方法称为内标法,也称掺合法。显然, 该法仅适用于粉末试样。 如加入的标准物质用s 表示,其质量分数为ws;被分 析的a相在原试样中的质量分数为wa,加入标准物质 后为wa',则式变成:
I a Ca f Ca w / a Ca w I s Cs f s Cs ws / s Cs ws a
5
View of an instrument
6
7
第二章 衍射分析 之三、X射线衍射分析的应用
第一节 物相分析 第二节 点阵常数的精确计算 第三节 宏观应力的测量(选学) 第四节 晶体取向的测定(选学)
8
X射线衍射(XRD)的应用
单一物相的鉴定
物相定性分析 物相分析 混合物相的鉴定 (物相鉴定) 物相定量分析
三强线的d-I/I1值; 核对八强线的d-I/I1值; 全部d-I/Il值核对。
25
5. 多 相 物 质 分 析
26
待测相的衍射数据
d/Å
3.01 2.47 2.13 2.09 1.80
I/I1
5 72 28 100 52
d/Å
1.50 1.29 1.28 1.22 1.08
I/I1
20 9 18 5 20
上式说明,待测相分a 的某条衍射线强度Ia和标准物 质衍射线条Is之比,与待测相分a在原试样中的质量 分数wa成线性关系。用内标法进行定量分析时,需事 先配制一组试样绘制定标曲线。
37
内标法应用示例
试样由石英 和白云石组 成,先用纯 的石英和白 云石按不同 比例配制一 系列混合样, 再往其中掺 入一定量的 萤石作为标 准物质。
Ii K is ( )50 / 50 I cor
称为该物质的参比强度(I/Icor),列于它的JCPDS卡 片中。 有了这个参比强度,在定量分析中,只要用刚玉作标 准物质,就不必去测定它们的K值
40

4、任意内标法

是否也不用刚玉(α-Al2O3),而用另一种物质(Ksq已知) 作为内标物,实现对wa的测定? ' Ia w a 原样物相定量分析
1.基本原理


设样品中任意一相为j,某(HKL)衍射线强度为 Ij,其体积分数为fj,样品(混合物)线吸收系数 为;定量分析的基本依据是: Ij随fj的增加而增高;但由于样品对X射线的吸 收,Ij亦不正比于fj,而是依赖于Ij与fj及之间 的关系。
32

多相混合物样品,其可表示为
' a ' a ' a s
(7-6)
36
假如在每次实验中保持ωs不变,则(1-ωs)为常数, 而ωa'=ωa(1-ωs)。对选定的标准物质和待测相,ρs 和ρa均为常数,因此,式(7-6)可以写成:
Ia Ca (1 ws ) s '' ( ) wa C wa Is Cs ws a
5-667号的Cu2O衍射数据 d/Å I/I1 3.020 2.465 2.135 1.510 1.287 1.233 1.0674 0.9795 0.9548 0.8715 0.8216 9 100 37 27 17 4 2 4 3 3 3
30

6.应注意的几个问题
(1)实验条件影响衍射花样 在查核强度数据时,要注意样品实验条件与PDF卡片 实验条件之异同。 在定性分析过程中以d值为主要依据,而相对强度仅作 为参考依据。 在核查d值时,还应考虑到低角度衍射线的分辨率较低, 因而测量误差比高角度线条大的情况等。 (2)在分析工作中充分利用有关待分析物的化学、物 理、力学性质及其加工等各方面的资料信息 (3)固溶体相的鉴定 (4)计算机自动检索
11
2. PDF卡片



各种已知物相衍射花样的规范化工作于1938年由 哈那瓦特(J. D. Hanawalt)开创。 即将物相的衍射花样特征(位置与强度)用d和I数 据组表达并制成相应的物相衍射数据卡片。 卡片最初由“美国材料试验学会(ASTM)”出版, 故称ASTM卡片。 1969年成立了国际性组织“粉末衍射标准联合会 (the Joint Committee on Powder Diffraction Standards, JCPDS)”,由它负责编辑出版“粉末 衍射卡片”,称PDF (the powder diffraction file) 卡片。
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