20111031 基于MINITAB下对半导体照明产品光电测量不确定度的分析
测量不确定度与数据处理课件

对于某些测量对象,其内部不 同部位可能存在差异,这也会 导致测量结果的不确定度增加
。
测量不确定度的评估方法
根据历史数据建立不确定 度评估模型
通过对历史数据进行统计分析 ,可以建立不确定度评估模型 ,用于预测未来测量结果的不 确定度。
利用仪器设备的校准证书
仪器设备的校准证书通常会提 供有关仪器设备的不确定度信 息,可以用于评估测量结果的 不确定度。
数据整理包括对采集到的数据进行清洗、整理和转换等操作,使其满足后续分析的 要求。
制定数据采集计划:根据研究目的和范围,制定详细的数据采集计划,包括数据采 集的方法、时间、人员和预算等。
数据清洗与预处理
数据清洗包括去除重复数据、处 理缺失值、检测并处理异常值等 操作,以提高数据的质量和准确
性。
数据预处理包括对数据进行转换 、标准化和归一化等操作,以消 除数据间的尺度差异和提高数据
不确定度的来源
分析实验过程中可能产生的误差和不确定度的来源,如仪器设备的 精度、环境因素、操作误差等。
不确定度的计算
根据实验数据的分布和误差传递公式,计算实验结果的合成不确定 度和扩展不确定度。
实际生产中的数据处理与不确定度评估
实际生产中的数据处理
对实际生产过程中的数据进行处理和分析,以发现潜在的 质量问题并采取措施进行改进。
根据标准物质进行比较分 析
通过将测量对象与标准物质进 行比较分析,可以估算测量结 果的不确定度。
采用概率统计方法进行评 估
对于某些测量,可以采用概率 统计方法对测量结果的不确定 度进行评估,如通过重复测量 获取平均值和标准差等。
02
数据处理基础
数据采集与整理
明确数据采集的目的和范围:在数据采集前,需要明确研究的目的和数据的需求, 选择合适的数据来源和采集方法。
半导体照明产品失效检测与分析技术

19
可靠性测试与评价
寿命试验
IES TM-28-14 Projecting Long Term Luminous Flux Maintenance of LED Lamps and Luminaires
3000小时法
每500小时一个数据点
需要: 1. 光源LM-80测试报 告; 2. Ts温度; exp t t B exp b
ln r t t b
B ln b 0.7 L70
3
20
可靠性测试与评价
目前存在的问题: 1. 环境测试无法预估LED照明产品的实际使用寿命,且行业内没有统一的 测试方案。 2. 常用的用于预估LED照明产品寿命的可靠性测试方法试验周期过长。 解决方案:开发实用创新的LED照明产品寿命加速衰减试验方法
半导体照明产品失效检测与分析技术
报告人: 钱诚 常州市武进区半导体照明应用技术研究院 半导体照明联合创新国家重点实验室常州基地 2015.12.16
主要内容
1. 照明产品失效检测与失效分析 2. 照明产品可靠性评价与快速预估 3. 照明产品设计优化解决方案 4. 研究院技术服务方向与范围
2
① 照明产品失效检测与失效分析
4
LED产品失效表征:光通量衰减
光通量的计算
例如,对于1W的光源, 555nm = 683 lm 470nm = 683 lm×0.1 = 68.3 lm
光衰临界值(L70):LED照明产品光通量降至初始值的70%。
70% 80% 90% 100%
根据美国半导体照明系统和技术联盟(ASSIST) 的调查,LED照明产品的光通量在初始值70% 以上时,人眼不会有明显察觉。 5
照度计示值误差测量值的不确定度分析

度计 的照度 值 。
2 测 量模 型
其标准不确定度 “ , 为:
】: :0. 6 0%
4 . 2 标 准灯 与接 收器 调整 的影 响 引入 : 从 有关 资料 及 实 验 估 计 限 为 0 . 3 %, 按 三 倍 标 准 差
D O I : 1 0 . 1 5 9 8 8 / j . e n k i . 1 0 0 4— 6 9 4 1 . 2 0 1 7 . 0 8 . 0 3 9
Un c e r t a i n t y Ev a l ua t i o n f o r Me a s ur e me nt Re s u l t s o f I l l u mi n a n c e Me t e r
Xi n Hui mi n
随着 光学 技术 的迅 速 发 展 , 光 度 计 量 已广 泛 的 应 用 在军 、 民两 个方 面 , 如各 类先 进 的光 电成像 系统 在完 成 观
4 . 1 标准 灯 不确定 度 引入 的 u 根据 检定 证 书 , 扩 展不 确 定 度 U=1 . 2 %( k=2 ) , 则
光轨 刻 度 显 示 的 分 辨 力 为 I mm, 其 半 宽 度 为
下 式计 算 :
E =/ /l
0 . 5 m m, 按 B类评定 , 假设为均匀分 布, 则相对标准不确 定度为:
:
式中: 一 测试 面上产 生 的照度 ( 1 】 【 ) , , _ 一 标 准灯 的发光 强度 ( c d ) , Z 一标 准 灯 的灯 丝 平面 离光 度头 测试 面 的距 离 ( m) 。
辛辉敏 : 照 度 升 示 值 误 差 测 量 值 的不 确 定 度 分 析
测量结果的不确定度分析

测量结果的不确定度分析发表时间:2020-12-25T11:38:11.783Z 来源:《城镇建设》2020年29期作者:郭媛媛,刘晓丽[导读] 机械零件加工的质量检查技术是一门高度技术性的学科。
质量检查人员必须逐一检查制造过程中的设计要求是否得到满足。
郭媛媛,刘晓丽商丘工学院机械工程学院,河南商丘 476000摘要:机械零件加工的质量检查技术是一门高度技术性的学科。
质量检查人员必须逐一检查制造过程中的设计要求是否得到满足。
精密机器最重要的是精度,精度除了静态和准静态精度还有动态精度,而动态精度由刚性保证,所以要关注的就变成精度和刚性,其中动态精度和刚性都表现为振动,而振动可以通过检测位移量来反映。
如何开始检查机械零件,如何选择测量工具和检查工具,以及使用哪些测试方法和手段来提高检查效率,以避免错误检测和漏检。
建立适当的检查过程是机械零件质量检查的首要前提。
本文主要研究机械零件的检测和质量控制系统。
关键词:机械零件;测量结果;不确定度0 引言研究机械零件测量的不确定度是新一代GPS(几何技术规范)发展的要求,是产品控制的要求。
随着新世纪测量不确定度技术水平的发展,新一代GPS系列标准逐渐被国内外科研人员和科研机构认同,其水平可以衡量国家层面的科技和制造业水平。
不确定度理论是新一代GPS标准体系的重要理论基础,研究和完善不确定度的工程应用技术,是当前新一代GPS标准应用研究的重点之一[1]。
1 测量结果的不确定度评估测量系统的不确定性一般源于自测量人员,测量装置,测量方法和外部环境四个部分,被分为A类不确定性和B类不确定性两种。
A类型不确定性可以通过分析一系列观测数据的统计规律来评估,一般集中在重复实验的测量结果中。
B类不确定性通常根据经验或相关标准确定的概率分布进行评估[2],一般源于测量系统本身和外部环境。
所以,研究人员在分析一个测量结果的不确定性时,第一要清楚影响测量结果不确定性的组成因素并分类;第二,根据合适的评估方法来进行评估,从而获取不确定性成分;最后也是最重要的,按照一定的步骤合成不确定度的分量,最终得到系统测量结果的不确定度和扩展不确定度的组合。
测量不确定度PPT

对任意实数x1 ,x2( x1< x2),有
P(x1 x2) P( x2) P( x1) F(x2) F(x1)
注:
若已知ξ的分布函数F(x),就可求出ξ落在 上的概率. 单独点的概率在连续情况下通常为0。
(x1,x2]
21
对随机变量所有可能的取值x(i=1,2,…),若可列出分布 函数
14
1.3.2 测量不确定度的分类
测量不确定度是与测量结果相关联的参数, 表示合理赋予的被测 量之值的分散性。该参数用标准偏差(或其倍数)表示,或用置信区 间的半宽表示。测量不确定度一般由多个分量组成,把用统计方法评 定的分量称为A类评定,用其它方法评定称为B类评定.
1、A类评定的不确定度称为A类不确定度。 2、B类评定的不确定度称为B类不确定度。
异常值系统误差41异常值概述42异常值剔除准则43系统误差概述44系统误差的发现45在测量过程中减小系统误差的常用方法46小结51概述52利用方差性质求合成方差53不确定度传播律54不相关的输入量55相关的输入量56小结61扩展不确定度的表示方式62算术平均值的扩展不确定度63包括因子k值的选择64有效自由度v65扩展不确定度的另一种表示方式66用简便方法选择包含因子k值67有效自由度是否大于10的判断68小结71概述72权与加权算术平均值73加权算术平均值的方差74加权算术平均值的实验标准偏差75小结81概述82最小二乘法原理83线性方程的参数最小二乘估计84小结第一章
(注:A类和随机,B类和系统不一定存在简单的对应关系)
15
1.3.3 测量不确定度的来源
1、被测量的定义不完整、定义值复现不理想及测量方法不 理想。
2、测量设备不完善,在数据处理时所引用常数及其他参数 值不准确。
1031基于MINITAB下对半导体照明产品光电测量不确定度的分析(可编辑修改word版)

基于M I N I T A B下对半导体照明产品光电测量不确定度的分析摘要:韩立成刘乃涛(南京汉德森科技股份有限公司南京211100)随着半导体照明技术的不断发展,以及大功率 LED 光源的光效的不断提高和 LED 驱动技术的不断成熟,半导体照明产品已经可以替代传统的白识灯及荧光灯,进入功能照明时代。
已经离我们实际生活越来越近,而根据半导体照明产品的特点,其光电性能的测量,存在较大的不确定度,本文就如何使用 MINITAB,以及与测量不确定度分析相结合,来保证测试系统获得稳定可靠的测量数据。
关键词:MINITAB、半导体照明产品、测量不确定度、IES LM-79引言半导体照明产品在功能照明领域的应用越来越广泛,对其光电性能测试的精确度也越来越强烈。
众所周知,半导体照明产品的光电测量中对设备要求,测试方法,测试环境因素的均有严格的要求,这对测试设备的精确性、稳定性,测试方法的正确性、统一性、可重复性,测试环境因素的符合性都需要达到标准的要求,而这些方面均需要考核其测试不确定度。
而这些烦琐的不确定因子也不能高效地计算总的合成不确定度。
如何找到一种便捷的方法来验证使用的这套测试系统的测量不确定度的稳定性和可靠性,是有效快捷得保证测量结果准确的关键。
幸运的是,随着计算机软件和统计技术工具的不断升级,MINITAB 统计工具为测量系统在测量过程中提供了可靠的技术支持,运用计算机软件和统计技术工具,通过对统计过程的分析,统计控制图的运用和过程能力指数的运用和控制,下面就汉德森光电实验室如何运用MINITAB 软件,以及与测量不确定度分析相结合,来保证测试系统获得稳定可靠的测量数据的。
主要以积分球测量系统来测试光通量及功率为例进行论述。
技术背景目前半导体照明产品的光电性能的测试标准主要还是依据“IES LM -79-2009 半导体照明产品的光电测量”,其中主要规定了半导体照明产品的测试项目,最重要的是规定了光电测试的测试方法及测试条件,这些方法及条件直接影响了测量结果的准确性。
光照度计校准结果测量不确定度评定
工 业 技 术54科技资讯 SC I EN C E & TE C HN O LO G Y I NF O R MA T IO N1 测量原理与环境照明与人们的生活有着密切的关系,充足的光照,可防止人们免遭意外事故的发生。
反之,过暗的光线可引起人体疲劳的程度远远超过眼睛的本身。
因此,不适或较差的照明条件是造成事故和疲劳的主要原因之一[1]。
光照度计作为照明测量中常用的测量仪器,广泛应用于工农业生产、建筑、影视和医疗卫生等行业中,为了对光照度计的不确定度进行分析,找出影响不确定度的因素,并对不确定度进行评估,给出不确定度,如实反映测量的置信度和准确性,应用测量不确定评定理论,该文以JJG245-2005为测量依据,通过建立的数学模型,对光照度计校准结果的不确定度进行了分析。
1.1测量方法光照度计的校准主要是对光照度示值误差的确认,采用光强标准灯法进行校准,由光强标准灯在一定距离的位置产生的光照度来校准被检表。
光照度测量示值误差检定装置主要由光强标准灯、带标尺光轨(含探测器小车、挡光屏、灯架小车)、直流稳流稳压电源(数显)组成,整个校准过程应在暗室进行。
通过移动光度头位置,调整光度头与光强标准灯之间的距离,使光强标准灯在光度头受光面上产生不同的光照度值E,根据光强和照度之间公式E=I/l2算出标准值直接和仪器读数对比,得出仪器示值误差,检定装置如图1所示。
1.2测量工具和仪器设备(1)直流稳流稳压电源(数显)WY12010:1台,电压(12~120)V,电流(1~10)A;电压稳定度小于0.02%/30min。
(2)发光强度标准灯:1支,284.1c d,U =0.8%,k =2;(3)测光导轨10m:1个,(0.1~10)m,MPE:±0.2mm/m(包括比高器、垂直平面对准装置、探头座小车、光阑、灯座小车)。
1.3环境条件校准实验室应为暗室,避免周围环境带来的杂散光进入测光系统,温度应保持在(20±5)℃。
LED光源灯具光通量测量的不确定度因素分析(最新整理)
c
2
i
u
2
i
[4]
i 1
根据数学模型式[1]可知传播系数 c2 i =1。即式[4]又可写作:
n
u
2 c
u
2
i
[5]
i 1
1.4 标准不确定度的A类评定
对一系列实测值进行统计分析的方法来评定的标准不确定度,称为不确定度的A 类评
定,用uA表示。A 类标准不确定度uA是由于每次安装不一致、仪器系统本身的不稳定因素而 造成的随机误差。由于该随即效应的存在,多次测量的结果都不相同,可以用统计的方法计
参考文献
[1] JJG1059-1999 测量不确定度评定与表示;
[2] CNAS—GL08 电器领域不确定度的评估指南。
合成标准不确定度: uc 1.276 lm ; 有效自由度: eff =77
根据公式[5]可计算得,由A类和B类标准不确定合成的标准不确定度:
uc
u
2 A
u12
u
2 2
u
2 3
u
2 4
u
2 5
u
2 6
0.3622 0.4602 0.0462 0.4602 0.6912 0.4602 0.6182 1.276 (lm)
重视,对检测实验室的要求不断增加。虽然检测实验室使用的单个仪器和设备都分别依据相
应的法定检定规程要求进行了检定或校准,但由多台或多种计量仪器设备组成的测量系统总
体的测量不确定度对测量结果有一定的影响,并且这种误差被实验室审核体系日益重视。 本文介绍对E27型LED光源球泡灯进行一致性检验时,使用积分球系统对光通量的测量不
79.772.1.5% 3
0.691
(lm)
误差理论第四章~~~测量不确定度
(8)三角分布 当估计值x受到两个独立且皆是具有均匀分布的因 素影响,则x服从在区间(x-a,x+a)内的三角分 布,其标准不确定度为
u
x
a 6
(9)反正弦分布 当估计值x服从在区间(x-a,x+a)内的反正弦分 布,其标准不确定度为
u
x
a 2
几种常见误差的分布情形及其标准不确定度估计
四、测量不确定度与测量误差
四、测量不确定度与测量误差
4.2 标准不确定度的评定
4.2.1 标准不确定度的A类评定
一、单次测量结果的标准差与平均值的标准差 对被测量X,在重复性条件下进行n次独立重复观测, 观测值为xi,算术平均值为 n
x 1 n
xi
i 1
σ为单次测量的标准差,由贝塞尔公式 计算得到
可靠程度
不确定度计算表达式中总和包含的项数减去其中各项 之间存在的约束条件数。
自由度的确定
一、 标准不确定度A类评定的自由度
用贝塞尔公式计算标准差时,若测量次数为n,则自由度 υ=n-1
表4-1 几种A类评定不确定度的自由度
2
Bessel 公式
3 2 2.6 1.8
4 3 3.3 2.7
5 4 3.9 3.6
【绪论】
研究不确定度的意义
一、研究不确定度的必要性 误差概念和误差分析在用于评定测量结果时,有 时显得既不完备,也难于操作。
寻 求
一种更为完备合理、可操作性强的评定测量结果 的方法。
诞 生
测量不确定度
二、不确定度的由来
1927年德国物理学家海森堡提出不确定度关系,也称为测不 准关系。 1953年Y.Beers在《误差理论导引》一书中给出实验不确定度。 1970年C.F.Dietrich出版了《不确定度、校准和概率》。 1973年英国国家物理实验室的J.E.Burns等指出,当讨论测 量准确度时,宜用不确定度。 1978年国际计量局(BIPM)发出不确定度征求意见书,征求各 国和国际组织的意见。 1980年,国际计量局提出了实验不确定度建议书INC-1(1980) 1981年10月国际计量委员会提出了建议书(CI-1981),同 意INC-1。
【实用】产品测量结果的不确定度分析PPT文档
(9)与测量原理、测量方法和测量程序有关的的近似性或假定性
佛(((测( 不(测(测((((佛(佛测测不不((凡测佛山779量6确7量4量6831山4山量量确确97是量山)))) )))))0)))凡职 不 定 结 不 职 职 结 不 定 定 对 不 职)赋赋与仪 赋对仪引测对与赋业确度果确业业果确度度测确业在(( ( (是予予测器 予测器用量测测予技定(=定技技=定((量定技相测测量计测量计常所量量测4123对术度u被度术术被度uu结度术同)量量原量 量过量数取过原量nnn)))学的测的学学测的果的学的ccc测eee标标理性 标程性或样程理标对rrr院基量基院院量基产基院测对复测ttt准准、能 准受能其本受、准aaa量电本的本电电的本生本电量iiinnn测和和测上 和环上它的环测和被现量ttt子概估概子子估概影概子条yyy结标标量的 标境的参代境量标ooo量信念计念信信计念响念信件测被所fff准准方局 准影局量表影方准果mmm息值息息值的息下过物物法限 物响限的性响法物量测取eee系+系系+因系,aaa产质质和性 质的性不不的和质sss程不不数被的量样uuu的的测的认准够认测的rrr生eee确确,测受mmm标标量标识确识量标定定本定定均量eee影准准程准不不程准nnn环度度是重义义的ttt值值序值周周序值)))响测复境的的有的全全有的不的代的的的量观的不不关不,,关不定定定影不测完方表准准的准或或的准义义义因确值响确确的确对对的确整法性定的数近环环近的度随或不不似境境似,的机认性条条性不理够来变均或件件或识源化完想假的的假是。不定测测定善测性量量性周与与量全控控不制制,不不确或完完定善善对度环的境来条源件。的测量与控制不完善
测量结果带有的一个参数,用于表征合理地赋予被测量值的分散性。 (9)与测量原理、测量方法和测量程序有关的的近似性或假定性
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基于MINITAB下对半导体照明产品光电测量不确定度的分析
韩立成刘乃涛
(南京汉德森科技股份有限公司南京211100)
摘要:
随着半导体照明技术的不断发展,以及大功率LED光源的光效的不断提高和LED驱动技术的不断成熟,半导体照明产品已经可以替代传统的白识灯及荧光灯,进入功能照明时代。
已经离我们实际生活越来越近,而根据半导体照明产品的特点,其光电性能的测量,存在较大的不确定度,本文就如何使用MINITAB,以及与测量不确定度分析相结合,来保证测试系统获得稳定可靠的测量数据。
关键词:MINITAB、半导体照明产品、测量不确定度、IES LM-79
引言
半导体照明产品在功能照明领域的应用越来越广泛,对其光电性能测试的精确度也越来越强烈。
众所周知,半导体照明产品的光电测量中对设备要求,测试方法,测试环境因素的均有严格的要求,这对测试设备的精确性、稳定性,测试方法的正确性、统一性、可重复性,测试环境因素的符合性都需要达到标准的要求,而这些方面均需要考核其测试不确定度。
而这些烦琐的不确定因子也不能高效地计算总的合成不确定度。
如何找到一种便捷的方法来验证使用的这套测试系统的测量不确定度的稳定性和可靠性,是有效快捷得保证测量结果准确的关键。
幸运的是,随着计算机软件和统计技术工具的不断升级,MINITAB统计工具为测量系统在测量过程中提供了可靠的技术支持,运用计算机软件和统计技术工具,通过对统计过程的分析,统计控制图的运用和过程能力指数的运用和控制,下面就汉德森光电实验室如何运用MINITAB软件,以及与测量不确定度分析相结合,来保证测试系统获得稳定可靠的测量数据的。
主要以积分球测量系统来测试光通量及功率为例进行论述。
技术背景
目前半导体照明产品的光电性能的测试标准主要还是依据“IES LM -79-2009 半导体照明产品的光电测量”,其中主要规定了半导体照明产品的测试项目,最重要的是规定了光电测试的测试方法及测试条件,这些方法及条件直接影响了测量结果的准确性。
针对积分球测量系统来测试光通量及功率,内容如下:
1、测量时的环境温度应保持在25℃±1℃;
2、测量装置内的空气流动应足够小。
3、半导体照明产品在测量前应稳定,稳定时间一般为30min到2h,当产品在30min内
3次光输出和电功率的读数(15min间隔)变动不超过0.5%时,可认为已达到稳定状态。
4、对积分球的要求—光谱辐射计系统的要求:为减小挡板和自吸收的影响,为避免来
自光源的热使温度增加,需尺寸足够大的积分球(在4π几何中,半导体照明产品的总表面面积必须小于球体内壁总面积的2%,线性产品的最长物理尺寸必须小于球体直径的2/3。
在2π几何中,安装半导体照明产品的开口直径必须小于球体直径的1/3);球体内壁涂层反射率的推荐值为90%-98%。
5、对光谱辐射计的要求:最小的光谱范围为380-780mm;带宽和扫描间隔为5nm或更小。
备注:4π几何---适用于所有类型的半导体照明产品;
2π几何---只适用于向前发光(或者单一方向)的半导体照明产品。
以上列举的诸多方面因素都会导致测试误差,影响测量结果的精确度,在测量时均需考虑其测量不确定度。
与传统光源相比,其测量时的可控性和重复性已经复现性都比较困难。
所以,本文通过运用MINITAB对统计过程的分析,统计控制图的运用和过程能力指数的运用和控制,来保证测量时获得可靠的,符合要求的测量不确定度,主要以积分球测量系统来测试光通量及光效为例从以下几部分进行论述:
1、通过MINITAB获得符合正态分布的随机测试数据;
2、通过正态分布的测试数据建立I-MR控制图及CPK过程能力指数图;
3、基于符合CPK能力指数的测试数据,来计算分不确定度,总不确定度;
4、总结论证;
一、通过MINITAB获得符合正态分布的随机测试数据
1.1数据生成:
针对光通量的测量及功率的测量,依据一款LED灯泡的额定光通量和额定功率的标称值,设定正态分布的光通量均值和功率均值。
依据GB24908-2010中对光通量和功率标称值和实际测试值的偏差范围来定义光通量和功率的标准差,各生成25组符合正态分布的随机数据,如下图1、图2所示:
图1
图2
二、通过正态分布的测试数据建立I-MR控制图及CPK过程能力指数图;
2.1 通过以上的正态分布测试数据建立光通量的I-MR控制图,通过MINITAB软件计算出过程能力指数值,建立CPK过程能力指数图,如下图3、图4所示;
2.2 通过以上的正态分布测试数据建立功率的I-MR控制图,通过MINITAB软件计算出过程能力指数值,建立CPK过程能力指数图,如下图5、图6所示
3.3 通过对CPK过程能力指数值的理论计算,得出光通量的CPK值为1.06,功率的CPK
值为1.10, 表示其过程能力充足。
图3
图4
图5
图6
三、基于符合CPK能力指数的测试数据,来计算分不确定度,总不确定度。
3.1 主要测试仪器:
杭州远方公司:2M积分球,PMS-80光谱分析系统,
台湾固伟公司,APS-9102 交流稳压电源,GPM-8212交流功率计
3.2 测量方法:
依据IES LM -79-2009标准规定的测试方法(如本文技术背景中所列1-5条件,不再重复),在25℃±1℃的环境温度和无对流空气的环境中对被测灯以额定电压和频率供电,利用数字功率计和快速光谱仪分别测量功率和初始光通量。
3.3 不确定度的主要来源及其分析
3.3.1 由重复测量引起的不确定度分量
由于样品的不稳定性、仪器测试条件、读数误差等因数的波动造成测试结果的不确定度分量,可以用A类不确定度评定。
3.3.2 由测量仪器引起的不确定度分量
由于仪器的设计及制造精度的不同,会给测试结果带来误差。
测量主要有两个项目:初始光通量和功率。
因此只需考虑数字功率计和快速光谱仪的不确定度,这些分量用B类不确定度评定。
3.3.3 由实验室温度引起的不确定度分量
试验过程中,室温变化会引起LED灯泡输出的波动,这个分量用B类不确定度评定。
但是,在测试过程中,通过控制相关的温度调节设备,可以使室内温度稳定在25℃±1℃的范围内,而在测试单个样品时保证室温的变化小于1℃,符合标准规定的范围,对测试的影响可以忽略,因此可以不考虑由此引起的测试误差。
3.5不确定度的评定
本测试方法以一款LED灯泡为例,来考核整个测试系统的不确定度,测试条件为:电源220V/50Hz;测试温度:25℃±1℃;
测试条件设置完毕后,将以老炼100h的LED灯泡在积分球内燃点15min至稳定,在相同条件下用数字功率计和快速光谱仪分别测量功率和初始光通量,相同样品在间隔24小时,进行5次独立测量。
测试数据如表1.
表1 5次测量数据表
数据分析:以上测量数据值均在图3和图5的UB 和LB 区间内; 3.4.1功率的不确定评定
3.4.1.1 A 类标准不确定度计算 根据表1,得:
样品测试时功率重复测量的不确定度为:
22222
(5.86 5.87)(5.88 5.87)(5.88 5.87)(5.87 5.87)(5.87 5.87)51
PL U -+-+-+-+-=
=
- 3.4.1.2 B 类标准不确定度计算
功率不确定度分量:
由校准证书得 数字功率计标准不确定度为:UP=0.8w 3.4.1.3 功率测量总不确定度分量
将功率测量的A 类和B 类不确定度合成,得到功率测量总不确定度为:
pr U ==0.85W
3.4.2初始光通量的不确定度评定 3.4.2.1 A 类标准不确定度计算
根据表1,得出样品测试时初始光通量重复测量的不确定度为:2
(303.1301.1)(299.9l U Φ-+- =1.6lm 3.4.2.2 B 类标准不确定度计算
快速光谱仪不确定度分量:由校准证书得快速光谱仪的扩展不确定度为2.2% K=2,则标准不确定度为:
2.22
U Φ%
=
⨯301.1=364.47=2.75lm 3.4.2.3 初始光通量总不确定度分量
将初始光能量测量的A 类和B 类不确定度合成,得到初始光通量测量总不确定度为:
r U Φ==
3.25lm
3.4.5 结论
LED 灯泡通过对光通量和功率不确定度的量化和分析,可以看出由I-MR 控制图的UB 和LB 区间内的数据得出的总不确定度值是稳定受控的。
可以看出由数字功率计和快速光谱仪引起的不确定度(B 类不确定度)是LED 灯泡总不确定度的主要来源,其它分量的影响相对较小,故该两个设备需要定期点检维护。
四、总结论证
纵上所述,通过使用MINITABA ,形成光通量和功率的I-MR 控制图,通过MINITAB 计算出
确定可靠的CPK值,只要在实际的测量过程中,对指定的半导体照明产品进行重复性测量,只要测量值在I-MR控制图的UB和LB区间,就可论证其测量不确定度稳定。
而一般实验室就是依此方法,定期地(一般一天一次)对指定的半导体照明产品进行重复性测量,测量值均在I-MR控制图的UB和LB区间,可消除针对半导体照明产品测量的较大的不确定度的影响,在来保证测试系统获得稳定可靠的测量数据。
参考文献
[1] “IES LM -79-2009 半导体照明产品的光电测量”
[2] 《质量专业理论与实务》[S] 中国人事出版社 2008.02。