CMOS 数控振荡器设计
基于标准CMOS工艺压控振荡器(VCO)设计

基于标准CMOS工艺压控振荡器(VCO)设计
基于标准CMOS工艺压控振荡器(VCO)设计
摘要:近年来随着无线通信系统的迅猛发展和CMOS工艺的不断进步,对CMOS 无线射频收发机要求越来越高。
低成本、小型化、宽频带、低噪声、更高的工作频段是未来射频收发机设计所要努力的方向。
压控振荡器(voltage-controlled oscillator, VCO)作为频率综合器的关键组成部分,对频率综合器的频率覆盖范围、相位噪声、功耗等重要性能都有直接影响,文章经过对VCO性能参数的分析,介绍了一些压控振荡器性能优化方法。
关键词:振荡器、施密特触发器、环形振荡器、CSA
一、引言
压控振荡器(voltage-controlled oscillator, VCO)是一种以电压输入来控制振荡频率的电子振荡电路,是现代无线电通信系统的重要组成部分。
在当今集成电路向尺寸更小、频率更高、功耗更少、价格更低发展的趋势下,应用标准工艺设计生产高性能的压控振荡器已是射频集成电路中的一个重要课题。
尤其在通信系统电路中,压控振荡器(VCO)是其关键部件,可以毫不夸张地说在电子通信技术领域,VCO 几乎与电流源和运放具有同等重要地位。
二、压控振荡器(VCO)原理。
模拟CMOS集成电路设计:震荡器

為了在溫度和製程變化下能確保振盪出現,一般來說我 們選擇迴路增益至少為所需值的二或三倍。
類比CMOS積體電路設計 第十四章 振盪器
682
振盪回授系統
振盪回授系統的不同觀點。
類比CMOS積體電路設計 第十四章 振盪器
683
例題 14.1
益可被導出為
A0
1
1
OSC 0
2
那就是說A0=√2。如預期地,此數值比三級環形振盪器還小。
類比CMOS積體電路設計 第十四章 振盪器
695
例題 14.3〈續〉
答: 利用每級 45o 相位偏移,振盪器提供了四個相位及其互補組態。如圖 14.16所示。
類比CMOS積體電路設計 第十四章 振盪器
696
例題 14.4
維持於飽和區時,我們得到 ISSRP≦VTH,也就是在每個汲極之峰對峰振
幅不可超過 VTH。
如何決定最小供應電壓呢?如果 VDD 被降低時,在每個差動對之共 源極節點電壓會下降,如圖14.17(a)之 VP,且最後會驅使繼承電晶體進 入三極管區。因此我們必須計算最差情況之 VP 值,注意 VP 的確隨時間 變化,因為當輸入差變大時,M1 和 M2 所攜帶之電流不同。
答:
如果每級電路增益比 2 大,則振幅會成長直到每個差動對遇到完全的切 換,那就是說直到 ISS 在每半個週期中完全被導入其中一邊。所以在每 個節點之振幅為 ISSR1,從圖14.12之波形來看,我們也觀察到每級電路 都在一部份週期中位於其高增益區中(舉例來說當 |VX-VY| 很小時)。
類比CMOS積體電路設計 第十四章 振盪器
691
基于CMOS工艺的晶体振荡器设计及频率校准的研究的开题报告

基于CMOS工艺的晶体振荡器设计及频率校准的研究的开题报告一、研究背景和意义晶体振荡器是一种用于产生稳定的电信号或时钟信号的电子设备,广泛应用于数字电路、无线通信、计算机系统等领域。
当前,晶体振荡器具有体积小、功耗低、频率稳定等优点,成为了电子产品中必不可少的核心部件之一。
基于CMOS工艺的晶体振荡器是当前的研究热点之一,其具有低功耗、波形纯净和可集成等优点,能够满足微型化、集成化和便携化的发展需求。
在此基础上,如何进行频率校准也成为了当前研究中的重要问题。
因此,本研究旨在基于CMOS工艺的晶体振荡器设计并探究其频率校准的方法,为电子产品的应用和制造提供更加可靠和稳定的时钟信号,具有重要的研究价值和应用前景。
二、研究内容和目标本研究的主要内容和目标包括:1. 分析现有的晶体振荡器的结构和特点,研究基于CMOS工艺的晶体振荡器的设计原理和方法;2. 设计并实现基于CMOS工艺的晶体振荡器电路,分析其性能和特点;3. 探究基于CMOS工艺的晶体振荡器的频率校准方法,分析频率误差产生的原因,提出解决方案;4. 实验验证晶体振荡器的频率校准方法的有效性和可行性,以实验数据为依据对研究成果进行评估。
通过以上研究,旨在设计出具有更优性能和更高稳定性的CMOS晶体振荡器,并探究其频率校准方法,为晶体振荡器的性能提升和制造提供技术支持。
三、研究方法和步骤本研究的方法和步骤主要包括:1. 研究文献资料的综述和分析,了解晶体振荡器的基本原理和当前研究状况;2. 设计并实现基于CMOS工艺的晶体振荡器电路,进行仿真和测试,分析其性能和特点;3. 分析和实验验证晶体振荡器的频率误差产生的原因,提出并验证频率校准方案的有效性和可行性;4. 根据实验结果和分析,对研究成果进行总结和评估,提出进一步的改进和优化方法。
四、预期成果本研究的预期成果包括:1. 设计出具有更高稳定性和更优性能的基于CMOS工艺的晶体振荡器电路;2. 探究基于CMOS工艺的晶体振荡器的频率校准方法,提出有效和可行的解决方案;3. 实验验证频率校准方案的有效性和可行性,为晶体振荡器的制造提供技术支持和指导;4. 发表相关研究论文,为晶体振荡器的研究和应用提供新思路和新技术。
一种基于CMOS工艺的高稳定片内振荡器的设计

Ab t a t A k n fo - h p o cl tr w t i l tu tr n s e s o i t g ae wa e in d u i g o s n s r c : i d o n c i s i ao i smp e s cu e a d i a y t n e r t sd sg e s c n t t l h r n a c re ts u c h r e d s h r e a d t mp r t r o e s t n tc n lge . h e lme to h ic i i a u r n o r e c a g - ic ag n e e au e c mp n a i e h oo is T e k y ee n f t e cr u t s o t mp r t r d p n e t a d a u r n o r e g n r td fo t e s p r o i o f T T a d NT u e t A e e au e i e e d n n g p c re t u c e e ae m u e p st n o A— n AT c r n s. n b s r h i P c p c tn e wa h r e d d s h g d a c r tl y t e c re ts u c h l e t e d f r n e b t e h g a a i c s c a g d a ic a e c u a ey b h u n o r e w i h i e e c ewe n t e Hi h a n r - f
t a n sa d d s u t n t i d u e o e s A 6 3 1 h ti t a i a i h s mo - l f r . 2 MHz co k s a . a d i’ e e au e c e ce ti o l n r t o lc i 1 n g n t S tmp r t r o f in s n y i 4 p r/C f m - 0 ̄ O  ̄ 2 pn ̄ o r 2 2 t I 0 C. o
两种高频CMOS压控振荡器的设计与研究

两种高频CMOS压控振荡器的设计与研究锁相环在通讯技术中具有重要的地位,在调制、解调、时钟恢复、频率合成中都扮演着不可替代的角色。
可控振荡器是锁相环的核心部分。
最近,鉴于对集成电路低功耗和高集成度的追求,越来越多的研究人员投人到基于CMOS工艺的压控振荡器的设计。
环形压控振荡器因为具有宽的调谐范围和小的芯片面积,在电路的精心设计下也可以具有不错的相位噪声性能,从而在数字通信系统中得到广泛的应用。
而随着CMOS工艺特征尺寸的不断减小,根据CMOS工艺按比例缩小理论,电源电压也要同比例降低。
与采用1.8 V电源电压的0.18 μm CMOS工艺相比,传统全差分延时单元结构的输出信号的摆幅被限制在非常小的区域内,不但降低了输出信号的信噪比(SNR),而且必须经过放大等一系列处理后才能送给下一级电路。
文中分析了影响压控振荡器性能的重要参数,同时设计实现了两种多谐压控振荡器,给出了相应的实验结果。
1 VCO的工作原理与性能指标VCO是一个电压/频率转换电路,在环路中作为被控振荡器,它的输出频率应随控制电压线性地变化。
一个理想的VCO其输出频率和输入频率的关系ωout=ω0+KVCOVcont (1)式中,ω0是控制电压Vcont为零时的振荡器的固定频率,KVCO为VCO的增益或灵敏度(单位为rad/s·V-1)。
由式(1)可以推导出VCO的传输函数由式(2)可以得出,当VCO被放在锁相环中时,其输出经分频器后接到鉴相器的输入,对鉴相器输出起作用的不是其频率,而是相位。
所以在锁相环中VCO通常被看作输入为控制电压,输出为相位的系统。
所以VCO在锁相环系统中就像一个理想的积分器,其传输函数可以表示为在实际应用中,VCO的线性范围有限,超出这个范围之后,环路的参数就会变化较大,不利于环路设计。
通常,评价VCO的好坏主要有以下特征:(1)低抖动或低相位噪声:由于电路结构、电源噪声、地噪声等因素的影响,VCO的输出信号并不是理想的方波或正弦波,其输出信号存在一定的抖动,转换成频域后可看出信号中心频率附近也会有较大的能量分布,即相位噪声。
CMOS数控振荡器设计

CMOS数控振荡器设计
周国飞;龚敏;邬齐荣
【期刊名称】《电子与封装》
【年(卷),期】2010(10)8
【摘要】设计并讨论了一种新颖的完全基于CMOS静态逻辑反相器设计的数字控制振荡器DCO结构(Digitally-Controlled Oscillator),这种数字控制振荡器采用全数字电路构成,较之LC振荡器更加易于设计和制造,适合于高频高性能数字锁相环的应用.电路结构的仿真采用Spectre仿真器,基于STMicroelectronics CMOS 90nm工艺,在1.2V电源电压下实现了1GHz~6GHz的数控振荡频率变化范围,功耗为0.1mW~3mW,10MHz的频率偏移处的相位噪音约为-114dBc/Hz.
【总页数】4页(P27-30)
【作者】周国飞;龚敏;邬齐荣
【作者单位】四川大学物理科学与技术学院微电子技术四川省重点实验室,成都,610064;四川大学物理科学与技术学院微电子技术四川省重点实验室,成
都,610064;四川大学物理科学与技术学院微电子技术四川省重点实验室,成
都,610064
【正文语种】中文
【中图分类】TN43
【相关文献】
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CMOS宽频带和极低功耗压控振荡器设计与研究的开题报告

CMOS宽频带和极低功耗压控振荡器设计与研究的
开题报告
首先,我们将介绍所选研究课题的背景和意义。
随着移动通信、物
联网、无线传感器等应用的快速发展,对于射频集成电路(RFIC)的需
求也越来越高。
其中,压控振荡器(Voltage Controlled Oscillator,VCO)被广泛应用于频率合成、频率调制、时钟恢复等领域。
由于压控振荡器需要产生频率稳定、相位噪声低的输出信号,因此
其设计需要考虑一系列因素,如宽频带、低相位噪声和极低功耗等要求。
由于CMOS工艺的不断进步,已经可以实现较高的集成度和较低的成本。
然而,CMOS VCO的设计需要克服多种挑战,如体效应、功耗、噪声等。
因此,我们选取CMOS宽频带和极低功耗压控振荡器设计与研究作为研
究课题。
接下来,我们将阐述所选研究课题的研究内容和方法。
首先,我们
将通过学习相关文献和已有的成果,深入了解压控振荡器的基本原理、
常见设计方法和优化技术。
接着,我们将进行CMOS振荡器电路的建模
与仿真,并进行不同的设计方案和电路参数的分析和比较。
最后,我们
将通过实验验证所设计的压控振荡器的性能指标,包括频率稳定性、相
位噪声和功耗等。
最后,我们总结一下我们的研究目标和意义。
通过对CMOS宽频带
和极低功耗压控振荡器的设计与研究,可以为射频集成电路设计提供新
的思路和方法,并为相关应用领域提供优秀的、高性能的电路解决方案。
CMOS模拟集成电路设计-ch14振荡器

4.1 环形振荡器调节(续)
正反馈引起的延时变化
半边电路等效: I1↑→|-1/gm3,4|↓ →( -1/gm3,4)||R1,2=R/(1-gm3,4R)↑ →fosc ↓
缺点:R1R2上的电流在控制过程 中会发生变化,输出摆幅在调节 范围内变化
-2/gm
半边等效
4.1 环形振荡器调节(续)
保证变容二极管反偏或正偏较弱
4.2 LC振荡器的调节(续)
变容二极管
N阱与衬底的电容 减小串连电阻
4.2 LC振荡器的调节(续)
变容二极管 消除N阱与衬底的电容的影响 采用PMOS器件电路
5、VCO的数学模型
相位与频率
d
dt
dt 0
VCO
Vout (t) Vm cos(out dt 0 ) Vm cos(0t KVCO Vcont dt 0 )
谐振时,Av gm1RP
接成反馈形式,谐振时,总相移 等于180,所以不能振荡
3.3 交叉耦合振荡器
起振条件: 谐振时,总相移为0
gm1RP1gm2 RP2 1
定义
4、压控振荡器
中心频率 调节范围ω2- ω1
调节线性度 输出摆幅 功耗 电源与共模抑制
输出信号纯度: 信号抖动(Jitter);相位噪声
剩余相位
ex KVCO Vcont dt
ex (s) KVCO
Vcont
s
积分器的传输函数
正反馈引起的延时变化(续) 利用差动对,使IT=ISS+I1, 保证输出振幅为2R1,2IT
为了避免M1M2没有电流通 过,在P点增加一个小恒流 源IH,以避免因此造成振 荡停止。 缺点:消耗了额外的电压余度
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CMOS 数控振荡器设计1 引言随着数字信号处理数字信号处理越来越广泛的应用,数字锁相环DPLL(Digital Phase Lock Loop)在现代集成电路设计中也越来越普遍,特别是在数字信号处理器DSP 和微处理器这类高性能数字电路应用中,数字锁相环更是一种必不可少的电路。
与传统的模拟锁相环(Analog Phase-Locked Loop)相比,由于数字锁相环较少采用高阻值电阻、电容以及电感等非线性器件,可以采用与高速数字逻辑电路相兼容的制造工艺来设计和制造,也更加容易在数字系统中应用。
一个典型的数字锁相环结构,数控数控振荡器振荡器DCO(Digital-Controlled Oscillator)是其中最关键和核心的部分。
数控振荡器DCO 输出了可变频率的振荡波形,决定了整个锁相环的噪声性能和功耗。
数字时间转换器(Time - to - DigitalConverter)输出了参考时钟和反馈来的输出时钟之间的相位差,一个数字环形滤波器(Digital LoopFilter)代替了模拟环形滤波器来控制DCO,由与参考时钟的相位差来控制DCO 输出或高或低的振荡频率,输出振荡信号由负反馈送到数字时间转换器,使相位差减小,最终让输出信号频率与参考时钟频率一致,即达到相位锁定。
整个DCO 因此不再需要含有电容或电感,同时也减少漏电流和电源噪音的问题。
图1 数字锁相环的基本结构2 电路结构和原理数控振荡器有多种实现结构,本文设计了一种完全采用静态CMOSCMOS 逻辑电路的DCO 结构,该DCO基于由CMOS 反相器构成的环形振荡器,其电路结构。
图2 电路结构图,每一级环形振荡器均是5 个CMOS反相器串联,并构成闭环负反馈回路,每个反相器的输出也与下一级环形振荡器对应的反相器输出相连。
根据巴克豪森准则:振荡器要产生振荡,那么环路增益必须大于等于一且总相移有360°。
因此环路中进行反相的次数必须是奇数,三个以上的奇数个CMOS 反相器串联闭环回路,在一个微小的激励下都能够产生振荡。
单级环形振荡器的振荡频率由反相器个数和其本征延迟决定,用n 表示反相器个数,tr 表示反相器上升沿延迟,tf 表示反相器下降沿延迟,频率可以用下式表示为:反相器下降延迟t f 和上升延迟t r 根据下列公式定义,式中Rn、Rp 分别为图2(b)中反相器PMOS管M0、M1 和NMOS 管M2、M3 的等效电阻,Cout 为反相器输出电容。
设置电路中所有MOSFET的沟道长度都为90nm工艺设计规范的默认值0.1 μ m。
因为在常温下N 沟道中的电子迁移率大约是P 沟道中的空穴迁移率的2~3 倍,因此设置PMOS 管的宽度Wp 是NMOS 管宽度Wn 的2 倍,使反相器中NMOS 管和PMOS 管的等效电阻近似相等,即Rn=Rp,也就使tr=tf。
下降延迟t r 和上升延迟t f 相等可以让环形振荡器产生对称性比较好的波形,提高振荡器的抗噪声性能。
1 引言随着数字信号处理越来越广泛的应用,数字锁相环DPLL(Digital Phase Lock Loop)在现代集成电路设计中也越来越普遍,特别是在数字信号处理器DSP 和微处理器这类高性能数字电路应用中,数字锁相环更是一种必不可少的电路。
与传统的模拟锁相环(AnalogPhase-Locked Loop)相比,由于数字锁相环较少采用高阻值电阻、电容以及电感等非线性器件,可以采用与高速数字逻辑电路相兼容的制造工艺来设计和制造,也更加容易在数字系统中应用。
一个典型的数字锁相环结构,数控振荡器DCO(Digital-Controlled Oscillator)是其中最关键和核心的部分。
数控振荡器DCO 输出了可变频率的振荡波形,决定了整个锁相环的噪声性能和功耗。
数字时间转换器(Time - to - DigitalConverter)输出了参考时钟和反馈来的输出时钟之间的相位差,一个数字环形滤波器(Digital LoopFilter)代替了模拟环形滤波器来控制DCO,由与参考时钟的相位差来控制DCO 输出或高或低的振荡频率,输出振荡信号由负反馈送到数字时间转换器,使相位差减小,最终让输出信号频率与参考时钟频率一致,即达到相位锁定。
整个DCO 因此不再需要含有电容或电感,同时也减少漏电流和电源噪音的问题。
图1 数字锁相环的基本结构2 电路结构和原理数控振荡器有多种实现结构,本文设计了一种完全采用静态CMOS 逻辑电路的DCO结构,该DCO基于由CMOS 反相器构成的环形振荡器,其电路结构。
图2 电路结构图,每一级环形振荡器均是5 个CMOS反相器串联,并构成闭环负反馈回路,每个反相器的输出也与下一级环形振荡器对应的反相器输出相连。
根据巴克豪森准则:振荡器要产生振荡,那么环路增益必须大于等于一且总相移有360°。
因此环路中进行反相的次数必须是奇数,三个以上的奇数个CMOS 反相器串联闭环回路,在一个微小的激励下都能够产生振荡。
单级环形振荡器的振荡频率由反相器个数和其本征延迟决定,用n 表示反相器个数,tr 表示反相器上升沿延迟,tf 表示反相器下降沿延迟,频率可以用下式表示为:反相器下降延迟t f 和上升延迟t r 根据下列公式定义,式中Rn、Rp 分别为图2(b)中反相器PMOS管M0、M1 和NMOS 管M2、M3 的等效电阻,Cout 为反相器输出电容。
设置电路中所有MOSFET的沟道长度都为90nm工艺设计规范的默认值0.1 μ m。
因为在常温下N 沟道中的电子迁移率大约是P 沟道中的空穴迁移率的2~3 倍,因此设置PMOS 管的宽度Wp 是NMOS 管宽度Wn 的2 倍,使反相器中NMOS 管和PMOS 管的等效电阻近似相等,即Rn=Rp,也就使tr=tf。
下降延迟t r 和上升延迟t f 相等可以让环形振荡器产生对称性比较好的波形,提高振荡器的抗噪声性能。
每一级的5 个CMOS 反相器由一个高电平有效的输入信号控制,同时打开或者关闭,让DCO 中的环形振荡器逐级打开或者逐级关闭。
当打开的环形振荡器级数越多,电路中的振荡电流越强,电路输出的振荡频率就越快。
反之,当打开的环形振荡器级数越少,电路中的振荡电流减弱,但因为整个DCO中的环形振荡器总级数是一定的,因此整个DCO 中的等效电容并没有减少,所以输出的振荡频率就会下降。
因此,该数控振荡器是通过控制打开的环形振荡器级数,数字化地控制振荡频率,在DPLL中需要一个前置的数字环形滤波器提供输入信号,控制各级振荡器的打开或关闭。
当所有环形振荡器都打开时,无论该DCO 中总共有多少级环形振荡器,DCO 输出的振荡波形的最大频率fmax 都为式(1)表示的单个环形振荡器振荡频率。
输出的最小频率fmin 也就是当只有一级环形振荡器打开时的DCO 输出频率。
由此分析,DCO 的增益可以如下式表示,式中N 为电路中总的环形振荡器级数:由上述分析可见,当该DCO 中具有的总的环形振荡器级数越多,可以输出的fmin 越小,KDCO 也越小,也就是每一级环形振荡器开关所控制的频率增减也越小,振荡器线性度也就越好。
3 仿真结果本文基于STMicroelectronics的90nm CMOS混合信号工艺,采用Cadence Virtuoso 设计软件,使用Analog Environment 中的Spectre仿真器进行仿真。
由于电路完全与数字集成电路工艺兼容,因此也可以采用诸如硬件描述语言来设计电路。
由32 级环形振荡器构成的数控振荡器DCO 在Cadence Virtuoso 中的仿真电路,在本文的仿真中,是使用直流电压作为控制DCO 各级环形振荡器打开或者关闭的输入信号。
图3 32级的DCO结构仿真电路图电路中电源电压VDD=1.2V,所有MOSFET 均采用9 0 n m 工艺库中的标准电压晶体管S V T(Standard Vol tage Tr ansi st or ),其阈值电压为Vthn=0.3V,|Vthp|=0.3V。
当32级环形振荡器逐级打开,数控振荡器输出波形的振荡频率也逐级上升,整个数控振荡器的频率调节范围。
图4 DCO输出频率调节曲线当32 级DCO中的18 级环形振荡器打开的时候,DCO 的相位噪声。
相位噪声由Spectre 仿真器的pss 分析和pnoi se 分析测得。
图5 打开18 级时的DCO相位噪声该32 级数控振荡器的相位噪声和功耗如表1 所示,随着环形振荡器逐级打开,相位噪声和功耗都明显上升,这是获得高频率输出波形所付出的性能代价。
先测得单个反相器的平均电流,测得各个打开的反相器平均电流均约为14 μ A,由下式可以得到电路的总功耗,式中N 为打开的环形振荡器级数。
为了研究环形振荡器级数对频率调节范围的影响,将数控振荡器的级数减少至18 级或12 级,再分别测试其频率调节范围。
三种不同级数数控振荡器调节范围的对比,不同级数的数控振荡器fmax 相等,但fmin 随着数控振荡器的总级数增加而减小,且KDCO 也变小,调节线性度更好。
图6 不同级数数控振荡器的频率调节范围表1 数控振荡器不同级打开时的相位噪声和功耗进一步测试器件尺寸对数控振荡器性能的影响,当器件宽度Wn 和Wp 增加,反相器中的平均电流增加,可以输出更高的频率并减小电路中器件噪声导致的相位噪声,这对高性能电路是有意义的,但电路功耗也随之增加。
对于18 级数控振荡器,保持电路中全部MOSFET 的沟道长度不变,同时增大图2(b)中的NMOS 管M2、M3 的Wn和PMOS 管M0、M1 的Wp至原尺寸的1.5 倍后测得的频率调节范围,全部环形振荡器共18 级打开后的DCO 功耗及相位噪声如表2 所示。
表2 器件尺寸不同时测得的功耗及相位噪声图7 器件尺寸不同时测得的频率调节范围对比4 结论该数控振荡器结构采用全静态CMOS 逻辑电路来设计,获得了线性度较好的频率调节范围,在90nm混合信号工艺条件下全DCO电路功耗在3mV左右,10MHz处相位噪声低于-110 dBc/Hz,性能相比传统LC 压控振荡器有过之而无不及,非常适合应用于高性能数字电路中。
在用该数控振荡器结构设计DPLL 时,应进一步增加环形振荡器级数以提供线性度更好的可调输出频率范围,并需要前置数字环形滤波器提供相配合的控制信号。