电子产品加速寿命试验技术
电工电子产品加速寿命试验
电工电子产品加速寿命试验之一1概述寿命试验是基本的可靠性试验方法，在正常工作条件下，常常采用寿命试验方法去评估产品的各种可靠性特征。
但是这种方法对寿命特别长的产品来说，不是一种合适的方法。
因为它需要花费很长的试验时间，甚至来不及作完寿命试验，新的产品又设计出来，老产品就要被淘汰了。
因此，在寿命试验的基础上形成的加大应力、缩短时间的加速寿命试验方法逐渐取代了常规的寿命试验方法。
加速寿命试验是用加大试验应力(诸如热应力、电应力、机械应力等)的方法，激发产品在短时间内产生跟正常应力水平下相同的失效，缩短试验周期。
然后运用加速寿命模型，评估产品在正常工作应力下的可靠性特征。
加速环境试验是近年来快速发展的一项可靠性试验技术。
该技术突破了传统可靠性试验的技术思路，将激发的试验机制引入到可靠性试验，可以大大缩短试验时间，提高试验效率，降低试验耗损。
2 常见的物理模型元器件的寿命与应力之间的关系，通常是以一定的物理模型为依据的，下面简单介绍一下常用的几个物理模型。
2.1失效率模型失效率模型是将失效率曲线划分为早期失效、随机失效和磨损失效三个阶段，并将每个阶段的产品失效机理与其失效率相联系起来，形成浴盆曲线。
该模型的主要应用表现为通过环境应力筛选试验，剔除早期失效的产品，提高出厂产品的可靠性。
2.1 失效率模型图示：O1典型的失效率曲线规定的失效率随机失效早期失效磨损失效t2.2应力与强度模型该模型研究实际环境应力与产品所能承受的强度的关系。
应力与强度均为随机变量，因此，产品的失效与否将决定于应力分布和强度分布。
随着时间的推移，产品的强度分布将逐渐发生变化，如果应力分布与强度分布一旦发生了干预，产品就会出现失效。
因此，研究应力与强度模型对了解产品的环境适应能力是很重要的。
2.3最弱链条模型最弱链条模型是基于元器件的失效是发生在构成元器件的诸因素中最薄弱的部位这一事实而提出来的。
该模型对于研究电子产品在高温下发生的失效最为有效，因为这类失效正是由于元器件内部潜在的微观缺陷和污染，在经过制造和使用后而逐渐显露出来的。
电子产品温度加速寿命试验方案的分析
1 明确试验方案的具体目的在电子产品温度加速寿命试验中，主要目的就是明确产品的实际寿命情况，根据试验结果进行合理的研究与分析，开展管理工作，提升寿命管理工作效果。
对于寿命较长的产品而言，在温度试验的过程中，可实现合理的管理工作，开展合理的分析工作，在明确试验条件下具体情况之后，了解应力水平之下的寿命特点，开展正常应力水平之下的分析工作，以此形成良好的寿命管理工作模式。
对于电子产品而言，在实际试验的过程中，会受到应力方面与可靠性方面的因素影响，因此，需建设加速应力模型，开展温度类型、湿度类型与电场类型的试验工作，在试验期间了解具体的平衡性与寿命特征，了解无故障时间的平衡情况。
电子产品寿命试验，主要针对产品的应力情况与可靠性特点等进行严格分析，建立加速模型，例如：阿伦纽斯与逆幂率等模型，能够通过模型的支持，全面优化整体试验工作体系，了解当前电子产品的寿命特点与具体情况，提高整体试验工作的应用效果。
2 电子产品温度加速寿命试验概念与理论分析在电子产品温度加速寿命试验的过程中，需了解具体的概念与理论内容，实现合理的管理工作，了解当前产品寿命试验的内容与特点，全面提高整体工作效果。
■2.1 概念分析在加速寿命试验的过程中，需开展工程与统计假设等工作，合理试验物理失效等管理方式创建统计模型，了解正常情况下的具体情况，开展加速环境之下的信息转换管理工作，明确额定应力之下的具体产品特点，开展数值估计的管理工作，提升应力管理工作效果。
在实际工作中，应开展失效机制的管理工作，明确应力情况，筛选最佳的试验方式，提高管理工作效果。
管理工作，明确参数情况，提升整体管理工作效果，优化整体参数的管理模式。
在加速寿命方程建设过程中，需创建合理的管理体系，建设先进模型。
对于产品剩余寿命而言，在实际试验的过程中，应开展合理的假设工作，实现寿命数据的计算工作。
■2.3 加速寿命试验类型分析在加速寿命试验的过程中，应开展可靠性的试验工作，针对电子产品的寿命进行严格控制，筛选最佳的试验方法，创建合理的电子产品管理机制，提升加速寿命试验管理工作效果，满足当前的工作要求。
电子元器件加速寿命试验方法的比较
电子元器件加速寿命试验方法的比较电子元器件都有其使用寿命。
在实际运用中，人们对电子元器件的寿命进行了不断地探索，试图找出可以延长其使用寿命的方法。
其中之一就是对电子元器件进行加速寿命试验。
本文将比较并分析三种电子元器件加速寿命试验方法，分别是Heights法、Arrhenius法和Challenger法。
一、Heights法这种试验方法是将元器件进行高温急冷处理，使组件的物理、电学参数变化。
之后将组件进行可靠性测试。
这种试验方法的主要思想是消耗某些组件的“故障”的过程，加剧这个过程来提前测试某个元器件早期失效的发生与否。
该方法在某些情况下比较适用，但操作比较复杂，需要严格的温度控制。
二、Arrhenius法这种试验方法是在一定温度下进行直流电压加注，使组件失效。
然后根据统计数据，计算出在一定条件下损坏的元器件数，从而预测元器件在实际使用条件下的寿命。
这种方法常用于电子元器件的温度应力寿命试验，通过考察元器件的失效率和失效机理，发现寿命瓶颈，从而改进元器件设计、制造和应用。
三、Challenger法这种试验方法是在特定应力水平下进行电子元器件的应力寿命试验，用时间温度容量定位法和时间流窝分析法来确定寿命特征参数并进行分布拟合。
然后基于寿命分布模型推测元器件的寿命，从而预测元器件在实际使用条件下的寿命。
该方法具有可靠性高、效率高和准确性高等特点，但是复杂且成本高。
总结：三种试验方法各有其适用范围。
在实际应用中，需要根据不同元器件的特点和试验目的，选择应用合适的方法进行加速寿命试验。
在其中，Arrhenius法和Challenger法应用比较广泛，已经成为了很多企业在进行电子元器件寿命试验时的首选方法。
同时，还需要指出的是，无论哪种试验方法均不可能完全包括现实的应力环境，因此需要在多方面结合考虑，预测电子元器件的寿命。
此外，还应当注意刻意规避高电压、高温等对电子元器件造成的伤害，以保障元器件在实际使用过程中的稳定性和寿命。
(电子产品)可靠性试验-高加速试验(HALT)简介
高加速试验（HALT）
不同阶段可靠性工作对成本的影响差异巨大
问题发现越早，所需成本越少
高加速试验
HALT 高加速寿命试验 -High Accelerated Life Test
HASS 高加速应力筛选 -High Accelerated Stress Screen
HASA 高加速应力抽选 -High Accelerated Stress Audit
HAST 高加速应力试验 -High Accelerated Stress Test
HALT的作用
快速发现产品的设计缺陷 评估和改善产品的设计裕度 减少产品的研发时间和成本 在产品销售前消除设计问题 降低评估产品的成本
HALT的作用就是帮助公司省钱和赚钱
为什么进行HALT
任何产品皆有缺点 故障发生时往往已超过时效, 且须付出昂贵的代价. 所以,必须借增加环境应力,早期发现故障 解決问题, 必先发现问题 一定要改进产品，消除故障 产品可靠性成长,基于早期发现问题，解决问ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ. 反馈/沟通时测量和改善可靠性的第一要务 HALT是快速发现产品缺陷，提高产品可靠性的有效手段
综合应力试验方法
试验中温度变化程序 为快速温变的参数；
温度试验中配合步进 的振动参数
试验中样品开机并进 行功能测试
以上试验参数为建议值
综合应力试验方法
综合应力试验
综合应力试验故障
综合应力试验故障
前期试验中的故障在综合应力试验中都有出现的可能。
综合应力试验中，前期试验中的故障在综合应力试 验中都有出现的可能。
HALT的目的
HALT的目的就是在于提高产品的整体可靠性水平
HALT/HASS设备
电子元器件加速寿命试验方法的对比分析
电子元器件加速寿命试验方法的对比分析◎赵霞（作者单位：江苏长电科技股份有限公司）电子产品市场中电子元器件厂商想要拥有良好的市场竞争力，就需要保证电子元器件的可靠性，否则一旦电子元器件质量发生问题，会对整个系统的运行产生影响。
近年来，伴随着电子信息产业的快速发展与进步，各类型的电子元器件质量以及可靠性都随之提升。
一、加速寿命试验的理论基础所谓的加速寿命试验是指在不改变产品失效机理的前提下，对试验条件进行调整和增强，例如增强应力、提升温度和电压、增加转速等，进而达到让接受试验的产品在短时间内失效的效果。
试验条件中包括：增大应力、提高温度、提高电压、增加转速等等。
加速寿命试验的主要目的在于能够让产品在正常条件下的使用寿命、可靠性得以展现，从而在短时间内获取到必要信息，无需进行长时间的试验。
产品寿命属于一种随机变量，想要寻求其规律，就需要在不同的条件下对其进行测量。
在可靠性试验的过程中，寿命分布情况有以下几种：指数分布、正态分布、对数正态分布、威布尔分布等等。
一般来说威布尔分布和对数分布较为常见。
（一）威布尔分布威布尔分布是在可靠性试验的过程中一种较为常见的寿命分布方式，这种分布方式主要应用于局部失效并且导致整体机能出现问题的反应模型。
威布尔分布中主要包括了三大未知数，形状参数m，位置参数r，尺度参数t。
当这三大参数出现了变化后，将会导致概率密度函数也随之发生变化。
只有形状参数的数值接近3。
5，威布尔分布才能够趋近于正态分布。
（二）对数正态分布对数正态分布的优点在于能够使用图表表示，使用对数分布曲线就能够展现出寿命分布，一般来说函数曲线的函数公式为：F （t ）-lgt。
如果在寿命试验结束之后函数的分布接近一条直线，那么则表示此电子元器件的寿命分布符合对数正态分布要求。
直线的倾斜率与对数分布的参数有着正比例关系，经过分析发现曲线上50%累计失效率相对应的时间就是电子元器件寿命的中位值。
所谓的寿命中位值也就是被测器件发生了50%失效时所需要运行的测试时间，一般来说这一数值用于表示平均寿命。
电子元器件加速寿命试验方法的比较
电子元器件加速寿命试验方法的比较电子元器件作为现代电子技术的核心组成部分，其寿命和可靠性是电子产品质量的重要指标。
为了确保电子产品的质量和性能，必须对电子元器件进行加速寿命试验，以模拟元器件在长期使用过程中的老化和损耗，以及各种环境因素对元器件的影响，从而预测元器件的寿命和可靠性，为电子产品的研发和生产提供重要的依据。
本文将对常见的电子元器件加速寿命试验方法进行比较，并对其优缺点进行分析，以提供指导和参考。
一、温度循环试验法温度循环试验法是一种常用的电子元器件加速寿命试验方法。
该方法通过将电子元器件置于高温和低温交替的环境中，以模拟元器件在实际使用过程中遇到的温度变化，从而加速元器件老化和损耗。
优点：1. 温度循环试验法能够较好地模拟元器件在实际使用过程中的温度变化，具有较高的实用性和可靠性。
2. 该方法的试验条件比较容易控制和操作，试验设备的成本相对较低。
1. 该方法只能模拟元器件在温度变化环境下的老化和损耗，无法考虑其它因素对元器件寿命的影响。
2. 模拟的温度循环周期时间较长，需要较长的试验时间，导致试验成本较高。
二、加速老化试验法加速老化试验法是一种加速元器件老化和损耗的方法，可通过提高元器件的工作电压和温度来加速元器件的老化和损耗。
优点：1. 该方法能够较好地加速元器件老化和损耗，使试验时间得到缩短，试验效果较好。
2. 试验设备通常比较简单，成本不高。
缺点：1. 不同的元器件在加速老化过程中的变化速度和机理可能不同，需要根据具体元器件进行试验参数的选择和控制。
2. 加速老化试验法的试验结果可能受电压和温度的不均匀性等因素的影响。
三、湿热老化试验法湿热老化试验法是一种模拟元器件在潮湿环境下老化和损耗的方法，将元器件置于高温高湿环境中进行试验。
1. 湿热老化试验法能够较好地模拟元器件在潮湿环境中的老化和损耗，对某些元器件如电容器等的老化产生较大的影响。
2. 试验方法易于操作，试验设备的成本相对较低。
电子元器件加速寿命试验试验报告
试验报告1、引言加速寿命试验(Accelerated life test，ALT)是一种对受试品施加不同应力，从而快速暴露产品的缺陷，进而确定产品工作极限和破坏极限，以及发现并消除缺陷及潜在缺陷的试验程序，它利用阶梯应力方式施加在受试品上，施加在受试品上的应力有振动、高低温、湿度、电应力开关循环、极限电压及极限频率等。
ALT试验的主要目的是增加产品的设计极限值，迅速找出产品设计及制造的缺陷，通过根因分析并消除缺陷，从而增加产品可靠度并缩短研发时间和减少研发费用目前，加速寿命试验已在电子元器件研发制造中广泛应用。
所以加速寿命试验是在进行合理工程及统计假设的基础上,利用与物理失效规律相关的统计模型对在超出正常应力水平的加速环境下获得的信息进行转换,得到产品在额定应力水平下的特征可复现的数值估计的一种试验方法。
目前应用最广的加速寿命试验是恒加试验。
恒定应力加速度寿命试验方法已被IEC标准采用。
其中加速试验程序包括对样品周期测试的要求、热加速电耐久性测试的试验程序等，可操作性较强。
恒加方法造成的失效因素较为单一，准确度较高。
国外已经对不同材料的异质结双极晶体管（HBT）、CRT阴极射线管、赝式高电子迁移率晶体管开关（PHEMT switch）、多层陶瓷芯片电容等电子元器件做了相关研究。
恒加试验一般需要约1000 h，总共要取上百个样品，要求应力水平数不少于3个。
每个应力下的样品数不少于10个，特殊产品不少于5只。
每一应力下的样品数可相等或不等，高应力可以多安排一些样品。
步加试验只需1组样品，最好至少安排4个等级的应力，每级应力的失效数不少于3个，这样才能保证数据分析的合理性。
另外一种方法是步进应力加速寿命试验。
步加试验时，先对样品施加一接近正常值的应力，到达规定时间或失效数后，再将应力提高一级，重复刚才的试验，一般至少做三个应力级。
恒加试验已经成熟地应用于包括航空、机械、电子等多个领域。
步加试验往往作为恒定应力加速寿命试验的预备试验，用于确定器件承受应力的极大值。
电子产品整机高加速寿命试验技术应用分析
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厂 厂一、
英研究显示 “ 神奇材料”石墨烯可自我修复
夫 等 人尝 试 让 石 墨 烯 薄 层 与 金 属 不 断 接 触 ．这个 过 程 在 石 墨 烯 薄层 上 造 成 了许 多 孑 洞 研 究 人 员 用 电 子 显 微 镜 观 察 Ｌ 这 些 孑 洞 发 现 ．孔 洞 中 可 能 会 嵌 入 金 属 原 子 ．但 如 果 孔 洞 Ｌ
电子 产 品可 靠 性 与 环境 试 验
２ ２年 ０１
的激 发 与分析 也是 卓有 成效 的 。
参 考文 献 ：
【１陈 奇 妙 ． 国 可 靠性 强 化 试 验 技 术 发 展 点 评 【 质量 与 １ 美 Ｊ 】．
可靠 性 ， １ ９ ， （ ） ４ ４ ． ９８ ４ ：４ — ７
பைடு நூலகம்
英 国 曼 彻 斯 特 大 学 科 学 家 诺 沃 肖洛 夫 和 同 事 因为 在 世 界 上 最早制成石墨烯而荣获 ２ １ ０ ０年 诺 贝 尔 物 理 学 奖 ．他 所 参 与 的 一个 研 究 小 组 在 新 一 期 英 国 《 米 通 讯 》 杂 志 上 报 告 了 纳
本 次 最 新 的 发 现 为 了进 一 步 探 索 石 墨 烯 在 电学 方 面 的 特 性 ．诺 沃 肖 洛
修 复 能 力 ．这 将 可 以提 高 石 墨 烯 的 应 用 价 值 ．进 一 步 拓 宽 这 种 “ 奇 材 料 ”展 示 身 手 的 舞 台 神 （ 自千 龙 科 技 ） 摘
ＤＩ ＡＮＺ｜ＣＨＡＮＰＩ ＫＥＫＡＯＸｌ ＹＵ ＡＮ ＮＧ Ｎ ＮＧ ＨＵ Ｊ Ｉ ＳＨＩ ＡＮ Ｙ
周 围还 存 在 额 外 的 碳 原 子 ．这 些 碳 原 子 会 将 金 属 原 子 “ ” 赶 出来 ． 自 己嵌 入 孑 洞 之 中 ．并 与 石 墨 烯 薄 层 中 原 有 的 碳 原 Ｌ 子 相 连 接 ．使 整个 石 墨烯 薄 层 修 复 如初 研 究 人 员 认 为 ．这 一 现 象 说 明石 墨 烯 具 有 良好 的 自我
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电子产品加速寿命试验技术
招生对象
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可靠性经理（主管）、技术部经理、可靠性工程师、质量经理、质量管理工程师、QC工程师、QA工程师、测试工程师、结构设计工程师、生产技术及工艺工程师等
【主办单位】中国电子标准协会
【咨询热线】0 7 5 5 – 2 6 5 0 6 7 5 7 1 3 7 9 8 4 7 2 9 3 6 李生【报名邮箱】martin# （请将#换成@）
课程内容
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【培训目标】
1.熟练掌握ALT的基本概念和基本理论
2.熟练掌握ALT的加速模型及数据分析方法
3.熟练掌握ALT的设计技术
4.熟练掌握整机产品的ALT技术
5.熟练掌握加速退化试验技术
6.掌握加速试验的最新技术
课程大纲：
课程大纲
本课程是中国工程物理研究院可靠性专家组成员、加速寿命试验（ALT）技术研究中心（筹建中）技术总负责人林先生多年ALT理论和实践研究总结而精心打造的融理论高度与实践高度为一体的课程；透过学员对本门课程的研习，帮助学员系统掌握开展加速寿命试验的方法和研究思路、加速寿命试验的设计与分析技术。
力求使学员能独立承担产品的ALT项目。
如您在工作中有ALT方面的疑难问题，请提前联系我们；林先生非常希望能在培训现场和您一块探讨，为您解忧！
【培训大纲】
一. 加速寿命试验概论
1.从寿命试验到加速寿命试验
1.1 什么是寿命试验
1.2 寿命试验分类
2.为什么要开展加速寿命试验
2.1什么是加速寿命试验
2.2 加速寿命试验的目的
2.3 开展加速寿命试验的意义
3.加速寿命试验的基本类型
3.1 恒定应力加速寿命试验
3.2 步进应力加速寿命试验
3.3 序进应力加速寿命试验
3.4 其它
4.加速寿命试验中常用的加速应力
4.1 应力概念
4.2 常用的应力
4.3 什么是应力水平
4.4 应力作用效果的决定因素
4.5 选择加速应力时主要考虑的问题
5.截尾寿命试验
5.1 什么是截尾寿命试验
5.2 常用的截尾寿命试验
5.2.1 定时截尾寿命试验
5.2.2 定数截尾寿命试验
二. 如何判断产品的失效过程具有加速性
1.什么是加速性
2.失效过程的加速性是加速寿命试验的前提
3.加速性的存在与否判断原则
3.1 失效机理的一致性
3.2 失效过程的规律性
3.3 失效分布的同一性
三. 加速模型
1.加速寿命试验的基本思想
2.什么是加速模型
3.加速模型的分类
3.1 物理加速模型
3.2 数学加速模型
4.阿伦尼斯模型
4.1 表达式
4.2 加速因子
4.3 激活能的意义
4.4 参数b的意义
4.5 阿伦尼斯－指数模型
4.6 阿伦尼斯－威布尔模型
4.7 阿伦尼斯－对数正态模型
4.8 阿伦尼斯模型的应用范围
5.逆幂率模型
5.1 表达式
5.2 加速因子
5.3 逆幂率－指数模型
5.4 逆幂率－威布尔模型
5.5 逆幂率－对数正态模型
5.6 逆幂率模型的应用范围
6.单应力艾林模型
6.1 表达式
6.2 加速因子
6.3 单应力艾林模型的应用范围
7.广义艾林模型
7.1 表达式
7.2 加速因子
7.3 广义艾林模型的应用范围
8.T-H模型
8.1 表达式
8.2 加速因子
8.3 T-H模型的应用范围
四. 如何进行加速寿命试验的设计
1.试验设计前的摸底试验
1.1 为什么要开展摸底试验
1.2 如何开展摸底试验
1.3 摸底试验结果如何分析
2.恒定应力加速寿命试验设计技术
2.1 恒定应力加速寿命试验设计需要考虑的问题
2.2 如何选择加速试验应力
2.3 如何选择应力水平个数ｋ
2.4 如何确定应力水平Ti（i=1，…，k）的值
2.5 如何确定每个应力水平下参试样品数
2.6 如何确定截尾方式
2.7 如何确定每个应力水平下截尾时间或截尾数
2.8 如何确定测试项目及测试间隔
7.案例学习：某电容器的加速退化试验
七. 如何开展整机产品的加速寿命试验
1.整机产品加速寿命试验面临的问题及解决途径
2.一种有效的方法——转化法
2.1 核心思想：水桶原理
2.2 需要解决的关键问题
2.3 技术途径
2.4 工作程序
3.其它研究思路（途径）
3.1 性能参数退化法
3.2 利用可靠性增长试验理论
3.2.1 加速寿命试验是一种可靠性“负增长”的过程
3.2.2 理论基础
3.2.3 存在的问题及技术难点
4.案例学习：某电源系统的加速寿命试验
八. 加速试验的新发展――高加速寿命试验（HALT）
1.HALT的提出与发展
2.什么是HALT
3.HALT与传统试验的区别
4.HALT的优点
5.如何开展HALT
2.9 如何确定停试时间
2.10 如何确定失效判据
2.11 如何进行失效时间的估算
3.步进应力加速寿命试验设计技术
3.1 应力步进方式如何确定
3.2 步进试验结束时机如何确定
4.加速寿命试验设计的优化技术
5.案例学习：某电子产品的加速寿命试验设计某电子产品的恒定应力加速寿命试验流程
某电子产品的步进应力加速寿命试验流程
五. 如何进行加速寿命试验数据的分析
1.恒定应力加速寿命试验数据分析
1.1 如何进行试验数据预处理
1.2 分布检验
1.3 加速模型检验
1.4 参数估计
1.5 加速系数的估计
1.6 可靠性水平预测（估计）
2.步进应力加速寿命试验数据分析
2.1 如何进行试验数据预处理
2.2 分布检验
2.3 加速模型检验
2.4 失效时间如何折算
2.5 参数估计
2.6 可靠性水平预测（估计）
3.案例学习：某电容器件的加速寿命试验数据处理
六. 加速寿命试验的热点技术――加速退化试验技术
1.什么是加速退化试验
2.加速退化试验具有那些优点
3.目前国内外的一些研究现状
4.退化理论
4.1 基本假设
4.2 加速因子的确定
4.3 恒定应力加速退化试验激活能和加速因子的计算方法
4.4 步进应力加速退化试验激活能和加速因子的计算方法
5.工程途径
6.局限性及解决途径
5.1 试验夹具设计
5.2 试验剖面设计
5.3 试验程序
5.4 试验项目
6.美国QualMark加速可靠性试验中心的一个HALT例子
九. 加速试验的新发展――高加速应力筛选（HASS）
十. 案例研究
1.某引信加速寿命试验研究
2.某航空产品加速寿命试验研究
3.某二极管加速寿命试验
4.某陶瓷电容器加速寿命试验方法
5.某功率管的加速寿命试验
6.某塑封半导体器件加速寿命试验方法
7.某电源加速寿命试验方法
8.某防潮材料湿热加速老化试验研究
9.某非电零部件的可靠性加速寿命试验方法
10.某榴弹引信加速寿命试验设计
11.某轴承可靠性加速寿命试验研究
12.某弹药步进应力加速寿命试验数据处理方法探讨
13.基于加速寿命试验的某焊接头可靠性研究
14.某传送带的加速寿命试验研究
讲师介绍
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林老师，中国电子标准协会可靠性专家，可靠性委员会主任设计师
毕业于北京航天航空大学可靠性研究所，硕士，中国工程物理研究院可靠性专家组成员，加速寿命试验（ALT）技术研究中心（筹建中）技术总负责人。
长期从事电子产品的可靠性分析、可靠性评估、可靠性试验、ALT/HALT/HASS等方面的技术研究。
负责了多个型号产品的可靠性工作的顶层策划。
承担了系列型号研制过程中的可靠性试验、分析、评估等方面的课题。
承担了“库存加速寿命试验技术”、“库存可靠性增长技术”等多项国防重大预研项目。
在国内专业权威期刊及学术年会上发表论文二十余篇。
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【温馨提示】：本公司竭诚为企业提供灵活定制化的内部培训和顾问服务，培训内容可根据客户的需要灵活设计，企业内部培训人数不受限制，培训时间由企业灵活制定。
顾问服务由中国电子标准协会顶尖顾问服务团队组成，由专人全程跟进，签约型绩效考核顾问服务效果，迅速全面提升企业工艺技术水平、产品质量及可靠性、成本节约！
（注：文档可能无法思考全面，请浏览后下载，供参考。
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