大学物理实验PN结正向压降与温度特性的研究实验报告(完整)
PN结正向压降与温度关系的研究和应用

PN结正向压降与温度关系的研究和应用引言:PN结是半导体器件中常见的结构之一,其正向压降与温度之间的关系对于半导体器件的设计和应用具有重要意义。
本文将对PN结正向压降与温度关系的研究和应用进行探讨。
一、PN结正向压降与温度关系的研究PN结的正向压降是指在正向偏置电压下,PN结两端电势差的大小。
正向压降与温度之间的关系直接影响到PN结的工作性能和稳定性。
因此,研究正向压降与温度关系对于PN结器件的性能优化至关重要。
1.1PN结正向压降随温度的变化规律实验研究表明,PN结的正向压降随温度的增加而减小。
这是由于温度升高,PN结内部的载流子浓度增加,导致正向压降减小。
但是,在一定范围内,正向压降与温度之间存在一个非线性的关系。
当温度升高到一定程度时,由于热激发效应和载流子迁移速度的变化,正向压降开始增大。
1.2温度对PN结的载流子浓度分布的影响温度的改变会引起PN结内的载流子浓度分布的变化,从而影响其正向压降。
一般来说,温度升高会导致载流子浓度的增加,进而减小正向压降。
这是因为升高温度可以提高载流子的能量,从而使得更多的电子和空穴从价带跃迁到导带,增加了导电性能。
1.3温度对PN结的载流子迁移率的影响温度的变化还会影响PN结内载流子的迁移率,进而改变其正向压降。
一般来说,温度的升高会导致载流子的迁移率减小,从而增加了载流子在PN结内的停留时间,减小了正向压降。
二、PN结正向压降与温度关系的应用2.1温度补偿电路由于温度变化对PN结正向压降的影响,可以利用温度补偿电路来校正正向压降的变化。
温度补偿电路的原理是利用与温度成反比的电压源在PN结上产生一个与温度变化补偿相等的电压,从而实现对正向压降的补偿,保持其稳定性。
2.2温度传感器根据PN结正向压降与温度的关系,可以设计成温度传感器。
通过测量正向压降的变化,就可以推算出所测量的温度。
这种基于正向压降的温度传感器具有结构简单、成本低廉等优点,在很多领域有广泛的应用。
PN结正向压降温度特性的研究

PN 结正向压降与温度特性的研究0419 PB04204051 刘畅畅实验目的1. 了解PN 结正向压降随温度变化的基本关系式。
2. 在恒流供电条件下,测绘PN 结正向压降随温度变化曲线,并由此确定其灵敏度和被测PN 结材料的禁带宽度。
3. 学习用PN 结测温的方法。
实验原理PN 结正向压降是有关电流和温度这两个量的函数表达式,它是PN 结温度传感器的基本方程。
令F I =常数(实验中取50F I A μ=),则正向压降只是温度的函数,即其只随温度而变化,且在一定的范围内是线性的关系。
而且其线性关系比较好,但当温度变化范围较大时,温度响应的非线性误差将有所递增。
根据V T ∆-的曲线斜率便可以算出PN 结正向压降随温度变化的灵敏度S ()/mV C 。
在忽略非线性误差后可以估算被测PN 结材料的禁带宽度()()00g g E qV =电子伏。
数据处理与分析一.测量实验初始状态开启测试仪电源,预热10~15分钟。
将“测量选择”开关K 拨到F I ,用“F I 调节”旋钮使显示屏上的示数为50A μ,此时50F I A μ=。
将K 拨到F V ,记下F V 的值。
再将K 拨到V ∆档,用“V ∆调零”旋钮使0V ∆=。
测得的数据记录如下: 实验起始温度:16.5Ts C = 工作电流:50F I A μ=起始温度为Ts 时的正向压降:()641F V Ts mV =二.测定V T∆-曲线,并求得灵敏度S∆-曲线的斜率即为PN结正向压降随温度变化的灵敏度S。
V T1.升温过程打开控温电流,使其由0.1A开始缓慢增大,最大不要超过0.7A。
记录下F V每变化(减小)10mV所对应的温度值T。
测得的数据记录如下:C T16.521.1得到升温过程的V T ∆-图:-200-180-160-140-120-100-80-60-40-20020 V /m VLinear Regression for Data1_B: Y = A + B * XParameter Value Error------------------------------------------------------------ A 31.65452 0.1919 B -1.97965 0.00285------------------------------------------------------------R SD N P------------------------------------------------------------ -0.99998 0.3434 19 <0.0001------------------------------------------------------------从以上数据中可以得到: 斜率B= 1.97965/mV C - 线性拟合相关系数0.99998R =-即:PN 结正向压降随温度变化的灵敏度 1.97965/S mV C =-T/C斜率的标准差为:()31.979653.0310/mms ms mV C-==-∴=-⨯所以PN结正向压降随温度变化的灵敏度最终结果是:()1.97970.0030/S mV C=-±2.降温过程关闭控温电流,打开样品室,使其自然冷却。
3.13 pn结正向压降与温度关系的研究和应用 1

3.13 pn结正向压降与温度关系的研究和应用 13.13pn结正向压降与温度关系的研究和应用-1实验3.13 PN结正向压降与温度关系的研究与应用常用的温度传感器有热电偶、测温电阻器和热敏电阻等,这些温度传感器均有各自的优点,但也有它的不足之处,如热电偶适用温度范围宽,但灵敏度低、且需要参考温度;热敏电阻灵敏度高、热响应快、体积小,缺点是非线性,且一致性较差,这对于仪表的校准和调节均感不便;测温电阻如铂电阻有精度高、线性好的优点,但灵敏度低且价格较贵;而pn结温度传感器则有灵敏度高、线性较好、热响应快和体积轻巧易集成化等优点,所以其应用势必日益广泛。
但是这类温度传感器的工作温度一般为-50℃-150℃,与其它温度传感器相比,测温范围的局限性较大,有待于进一步改进和开发。
【实验目的】1.了解PN结正向压降与温度的基本关系。
2.在恒流小电流条件下,测绘pn结正向压降随温度变化曲线,并由此确定其灵敏度和被测pn结材料的禁带宽度。
3.学习曲线改直的数据处理方法。
4.学习用excel进行曲线拟合的方法。
【实验仪器】PN结正向压降温度特性测试仪、温度传感器实验装置、加热炉、PT100温度传感器、PN结温度传感器和导体。
[实验原理]理想pn结的正向电流if和压降uf存在如下近似关系式:如果Isexp(QUF)(3.13.1)KT,其中q是电子电荷;K是玻尔兹曼常数;T为绝对温度;Is是反向饱和电流(与PN结材料的带隙和温度有关),可以证明is?ctexp(??qus(0)kt)(3.13.2)式中,C是与结面积和杂质浓度相关的常数;?也是一个常数;当us(0)为绝对零时,PN结材料的导带底部和价带顶部之间的电位差。
对应的QUS(0)是PN结材料的带隙宽度。
将式(3.13.2)代入式(3.13.1),两边取对数可得uf?美国(0)?(U1在哪里?美国(0)?(ktcktln)?lnt??u1?un1(3.13.3)QIFQKTCLNT?ln),un1??Qqif这是PN结正向压降随电流和温度变化的表达式。
大学物理实验:PN结

三 、实 验 装 置 实
PN结样品架 1、PN结样品架
A为样品室,是一个可 为样品室, 卸的筒状金属容器, 卸的筒状金属容器, 筒盖内设橡皮圈盖与 筒套具相应的螺纹, 筒套具相应的螺纹, 可使两者旋紧保持密 封。 待测PN PN结样管采用 待测PN结样管采用 3DG6晶体管 3DG6晶体管
P1
P2
H A D
T B
待测PN PN结 A-样品室 B-样品座 D-待测PN结 P1T-测温元件 H-加热器 P1-D、T引角 线 P2P2-加热电源插座
PN结样品架外形 PN结样品架外形
加热线
信号线
2、测试仪结构
恒流源:
一组提供I 电流输出范围为0 一组提供IF,电流输出范围为01000µ 连续可调; 1000µA连续可调; 一组用于加热,其控温电流为0.1 一组用于加热,其控温电流为0.1 1A,分为十档, 一1A,分为十档,逐档递增或递 0.1A。 减0.1A。
IF P-N结
N
qV IF = IS ex F p kT
(1)
其中q为电子电荷; 为玻尔兹曼常数; 为绝对温度; 其中q为电子电荷;k为玻尔兹曼常数;T为绝对温度; 为反向饱和电流。 IS为反向饱和电流。
可以证明:
qVg (0) r ) IS = CT exp(− kT
(2)
PN结正向压降温度特性的研究
¿
电磁学系列
3及人们不断的探索, PN结以及在此基 及人们不断的探索, PN结以及在此基 础上发展起来的晶体管系列温度传感 巳经成为一种新的测温技术, 器,巳经成为一种新的测温技术,广 泛被应用在各个领域。 泛被应用在各个领域。 据实际应用,PN结作为温度传感器 据实际应用,PN结作为温度传感器 具有灵敏度高、 线性好、 具有灵敏度高、 线性好、热电效应快 和体积小等优点, 和体积小等优点,尤其是在温度数字 化、温度控制及用微机进行温度实时 讯号处理与控制等方面, 讯号处理与控制等方面,都是其它温 度传感器所不能相比的优越性。 度传感器所不能相比的优越性。
PN结正向压降与温度关系的研究

实验12 PN 结正向压降与温度关系的研究随着半导体工艺水平的不断提高和发展,半导体PN 结正向压降随温度升高而降低的特性使PN 结作为测温元件成为可能,过去由于PN 结的参数不稳,它的应用受到了极大限制,进入二十世纪七十年代以来,微电子技术的发展日趋成熟和完善,PN 结作为测温元件受到了广泛的关注。
温度传感器有正温度系数传感器和负温度系数传感器之分,正温度系数传感器的阻值随温度的上升而增加,负温度系数传感器的阻值随温度的上升而减少,热电偶、热敏电阻,测温电阻属于正温度系数传感器,而半导体PN 结属于负温度系数的传感器。
这两类传感器各有其优缺点,热电偶测温范围宽,但灵敏度低,输出线性差,需要设置参考点;而热敏电阻体积小,灵敏度高,热响应速度快,缺点是线性度差;测温电阻如铂电阻虽然精度高,线性度好,但灵敏度低,价格高。
相比之下,PN 结温度传感器有灵敏度高,线性好,热响应快和体积小的优点,尤其在数字测温,自动控制和微机信号处理方面有其独特之处,因而获得了广泛的应用。
一.实验目的1. 了解PN 结正向压降随温度变化的基本关系,测定PN 结F F V I -特性曲线。
2. 测绘PN 结正向压降随温度变化的关系曲线,确定其灵敏度及PN 结材料的禁带宽度。
3. 学会用PN 结测量温度的一般方法。
二.实验仪器.SQ-J 型PN 结特性测试仪,三极管(3DG6),测温元件,样品支架等。
三.实验原理1.PN 结F F V I -特性的测量由半导体物理学中有关PN 结的研究可以得出PN 结的正向电流F I 与正向电压F V 满足以下关系;F I =s I (expkTeV F-1) ⑴ 式中e 为电子电荷量、k 为玻尔兹曼常数,T 为热力学温度,s I 为反向饱和电流,它是一个与PN 结材料禁带宽度及温度等因素有关的系数,是不随电压变化的常数。
由于在常温(300K )下,kT/q=0.026,而PN 结的正向压降一般为零点几伏,所以exp kTeV F》1,上式括号内的第二项可以忽略不计,于是有kTeV Is I FF exp= ⑵ 这就是PN 结正向电流与正向电压按指数规律变化的关系,若测得半导体PN 结的F F V I -关系值,则可利用上式以求出e/kT.在测得温度T 后,就可得到e/k 常数,将电子电量代入即可求得玻尔兹曼常数k 。
PN结正向压降以及温度关系的研究实验学习报告计划

PN结正向压降与温度关系的研究实验报告班级:材物 41姓名:禇雨婷学号:01一、实验目的( 1)认识 PN结正向压降随温度变化的基本关系,测定PN结IFVF特征曲线及玻尔兹曼常数;(2)测绘 PN结正向压降随温度变化的关系曲线,确立其敏捷度及 PN结资料的禁带宽度;(3)学会用 PN结丈量温度的一般方法。
二、实验仪器SQ-J 型 PN结特征测试仪,三极管(3DG6),测温元件,样品支架等。
三、实验原理1.PN结IFVF特征及玻尔兹曼常数k的丈量:由半导体物理学中相关 PN结的研究能够得出 PN结的正向电流IF与正向电压VF 知足以下关系I F= I s( exp eV F-1 )⑴kT式中 e 为电子电荷量、 k 为玻尔兹曼常数, T 为热力学温度,Is为反向饱和电流,它是一个与 PN结资料禁带宽度及温度等要素相关的系数,是不随电压变化的常数。
因为在常温( 300K)下, kT/q=, 而 PN结的正向压降一般为零点几伏 , 所以exp eVF》,1 上式括号内的第二项能够忽视不计, 于是有kTI FeV F⑵Is expkT这就是 PN结正向电流与正向电压按指数规律变化的关系, 若测得半导体 PN结的I F VF关系值,则可利用上式以求出e/kT. 在测得温度 T 后 , 便可获得 e/k 常数 , 将电子电量代入即可求得玻尔兹曼常数k。
在实质丈量中,二极管的正向IFVF关系虽能较好知足指数关系,但求得的k值常常偏小,这是因为二极管正向电流IF 中不单含有扩散电流,还含有其余电流成份。
如耗尽层复合电流 . 、表面电流等。
在实验中, 采纳硅三极管来取代硅二极管,复合电流主要在基极出现,三极管接成共基极线路(集电极与基极短接),集电极电流中不包括复合电流。
若选用性能优秀的硅三极管,使它处于较低的正向偏置状态,则表面电流的影响可忽视。
此时集电极电流与发射极—基极电压知足⑵式,可考证该式,求出正确的 e/k 常数。
PN结正向压降与温度关系的研究和应用
PN 结正向压降与温度关系的研究和应用一、 实验简介:众所周知,常用于温度的传感器有热电偶,测度电阻器和热敏电阻,红外测温仪等。
其中,PN 结温度传感器具有灵敏度高,线性好,响应快易于集成化等,其他传感器无法比拟的优点,工作温度范围一般在-50℃~150℃灵敏度可达100MV/℃。
而本实验PN 结只有2.2MV/℃左右。
二、 实验目的:1.了解PN 结正向压降随温度变化的基本关系式。
2在恒流条件下,测绘PN 结正向压降随温度变化曲线并由此确定其灵敏度和被测PN 结材料的禁带宽度。
3.学习用PN 结测温度的方法。
三、 实验原理:人们将高价元素(例如:P )掺杂到硅材料中,由于磷元素多电子,使材料主要以电子导电称P 型半导体,将三价的硼元素掺杂到硅材料中使材料中出现大量空穴称N 型半导体材料。
将P 型材料同N 型材料粘合在一起由于电子和空穴的扩散复合形成PN 结。
PN 结正向压降作为电流和温度函数的表达式:()()γT q KT T I c q k V V F g F ln ln 0-⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛-= 其中:V g (0)――绝对零度时PN 结材料的导带底和价带顶的电势差。
q ――电子的电荷。
K ――玻尔兹曼常数。
T ――绝对温度。
I f ――PN 结中正向电流。
γ――常数。
V F 中非线性项较小,(低温下)可忽略工其影响,而认为在恒流供电条件下PN 结的V F 对T 的依赖关系取决线性项,即正向压降几乎随温度 升高而线性下降,这就是PN 结测温依据。
四、实验装置:实验系统由样品架和测试仪两部分组成。
五、实验方法和内容:1.实验系统检查与连接。
A 、 取下样品室的筒套,查待测PN 结管和测温元件应分别放在铜座的左右两侧圆孔内,其管脚不与容器接触,然后拧紧筒套。
B 、 控温电流开关应放在“关”的位置,此时加热指示灯不亮,接上加热电源线和信号传输线。
2.VF(TR)的测量和调零开启测试仪电源预热数分钟后,将“测量选择”拔到IF 由“IF调节”使IF =50微安。
PN结正向压降温度特性的研究数据处理范例(1)
PN 结正向压降与温度关系的研究数据处理范例1. 实验起始温度时各参数纪录:实验起始温度时各参数纪录:实验起始温度:R T = 17.8 oC工作电流:工作电流:F I = 100 uA 起始温度为R T 时的正向压降:()R F T V = 677 mV 控温电流:控温电流:0.700 A 2. V T D -数据纪录表数据纪录表表一:PN 结材料正向压降随温度变化结材料正向压降随温度变化/V mV D 0 -10 -20 -30 -40 -50 -60 -70 -80 -90 /oT C17.824.128.834.439.444.750.155.460.866.0/V mV D -100 -110 -120 -130 -140 -150 -160 -170 -180 -190/oT C71.3 76.5 81.8 87.1 92.3 97.6 102.8 107.9 113.1 118.23. 以T 为横坐标,V D 为纵坐标,作V T D -曲线,曲线,102030405060708090100110120130-200-180-160-140-120-100-80-60-40-200delta V-TT/O C图1:PN 结正向压降随温度变化关系曲线结正向压降随温度变化关系曲线4. 用图解法求出被测PN 结正向压降随温度变化的灵敏度(/)oS mV C ,并正确表示不确定度。
(温度T 和正向压降V D 的示值误差取各自坐标最小刻度值的一半,置信概率p 取0.6830.683))0102030405060708090100110120130-220-200-180-160-140-120-100-80-60-40-20020P 1(26.2,-14)P 2(115.8,-185)T/OCdeltaV-T图2:图解法求解PN 结正向压降随温度变化的灵敏度S(1)被测PN 结正向压降随温度变化的灵敏度S 的最佳值计算:的最佳值计算:()()121218514171 1.91/89.6115.826.2O OO mV V V V mVS mV C C TT T C -+-D -=====-D --(2)被测PN 结正向压降V D 的不确定度的确定:的不确定度的确定:2225 4.133Vp m m mV ukmV D D +D ´=×==(m D 取纵坐标最小刻度值的一半)取纵坐标最小刻度值的一半)(3)被测PN 结温度变化T D 的不确定度的确定:的不确定度的确定:2220.50.4133OO Tp m m C uk CD D +D ´=×==(m D 取横坐标最小刻度值的一半)(4)(4)被测被测PN 结正向压降随温度变化灵敏度的相对不确定度和绝对不确定度的确定:结正向压降随温度变化灵敏度的相对不确定度和绝对不确定度的确定:22224.10.41()()()() 2.4%17189.6V T S u u E V T D D =+=+=D D2.4% 1.91/0.05/O O S S u E S mV C mV C =´=´-=(5)(5)所以被测所以被测PN 结正向压降随温度变化灵敏度的最后结果为:结正向压降随温度变化灵敏度的最后结果为:()1.910.05/O S S S u mV C =±=-± (P =0.6830.683)) 2.4%S E =5. 计算被测PN 结材料的禁带宽度。
PN结特性实验报告
专业:应用物理题目:PN 结特性(1)研究 PN 结正向压降随温度变化的基本规律。
(2)学习用 PN 结测温的方法。
(3)学习一种测量玻尔兹曼常数的方法。
DH-PN-2 型PN 结正向特性综合实验仪、DH-SJ 温度传感实验装置PN 结正向电流IF 和压降VF之间存在如下近似关系其中q 为电子电荷;k 为玻尔兹曼常数;T 为热力学温度;Is为反向饱和电流,它是一个和PN 结材料的禁带宽度以及温度等有关的系数其中 C 是与结面积、掺杂浓度等有关的常数; r 对温度的关系(通常取 r=3.4); V g (0)为 0K 时 联立二式可得是常数,其数值取决于少数载流子迁移率 PN 结材料的导带底和价带顶的电势差。
Vl 随温度线性变化, Vnl 为非线性变化,若忽略非线性部份,误差分析如下温度由 T 1 变为 T 时,正向电压由 V F1 变为 V F 时,正向电压理论值与忽略非线性部份值得 偏差为当温度变化范围较小时,该偏差可忽略(通过改变温度与I F 也可改善线度),令 I F =常数, 则正向压降只随温度升高线性下降,这就是 PN 结测温的依据。
1. 实验系统检查与连接关闭 DH-SJ 型温度传感器实验装置上的“加热电流”、“风扇电流”开关,接上加热电源 线。
插好 Pt100 温度传感器和 PN 结温度传感器,两者连接均为直插式。
PN 结引出线分 别插入 PN 结正向特性综合试验仪上的+V 、-V 和+I 、-I 。
打开电源开关,温度传感器实验装置上将显示出室温 T R ,记录下起始温度 T R 。
2. 玻尔兹曼常数 k 的测定测得 PN 结 I ~V 关系,求出玻尔兹曼常数 k 。
将 PN 结正向特性综合试验仪上的电流量 程置于适当档位,调整电流调节旋钮以改变正向电流 I F 输出示值,观察记录相应的正向电 压 V F 值读数。
3. 至少完成对一种 PN 结材料的 V ~T 曲线的测量及数据处理(1)测定 V ~T 关系曲线 选择合适的正向电流 I F (如 I F =50µA ,普通选小于 100μA 的 值,以减小自身热效应),并保持不变。
大学物理实验报告23——PN结温度传感器特性
天津大学物理实验报告姓名: 专业: 班级: 学号: 实验日期: 实验教室: 指导教师:【实验名称】 PN 结物理特性综合实验 【实验目的】1. 在室温时,测量PN 结电流与电压关系,证明此关系符合波耳兹曼分布规律2. 在不同温度条件下,测量玻尔兹曼常数3. 学习用运算放大器组成电流-电压变换器测量弱电流4. 测量PN 结电压与温度关系,求出该PN 结温度传感器的灵敏度5. 计算在0K 温度时,半导体硅材料的近似禁带宽度 【实验仪器】半导体PN 结的物理特性实验仪 资产编号:××××,型号:×××(必须填写) 【实验原理】1.PN 结的伏安特性及玻尔兹曼常数测量 PN 结的正向电流-电压关系满足:]1)/[exp(0-=kT eU I I (1)当()exp /1eU kT >>时,(1)式括号内-1项完全可以忽略,于是有:0exp(/)I I eU kT = (2)也即PN 结正向电流随正向电压按指数规律变化。
若测得PN 结I U -关系值,则利用(1)式可以求出/e kT 。
在测得温度T 后,就可以得到/e k ,把电子电量e 作为已知值代入,即可求得玻尔兹曼常数k 。
实验线路如图1所示。
2、弱电流测量LF356是一个高输入阻抗集成运算放大器,用它组成电流-电压变换器(弱电流放大器),如图2所示。
其中虚线框内电阻r Z 为电流-电压变换器等效输入阻抗。
运算放大器的输入电压0U 为:00i U K U =- (3)式(3)中i U 为输入电压,0K 为运算放大器的开环电压增益,即图2中电阻f R →∞时的电压增益(f R 称反馈电阻)。
因而有:00(1)i i s f fU U U K I R R -+== (4) 由(4)式可得电流-电压变换器等效输入阻抗x Z 为001i f fx s U R R Z I K K ==≈+ (5)由(3)式和(4)式可得电流-电压变换器输入电流s I 与输出电压0U 之间的关系式,即:图1 PN 结扩散电源与结电压关系测量线路图图2 电流-电压变换器i s fr U U I Z R ==- (6) 只要测得输出电压0U 和已知f R 值,即可求得s I 值。
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PN 结正向压降与温度特性的研究一、实验目的1. 了解PN 结正向压降随温度变化的基本关系式。
2. 在恒流供电条件下,测绘PN 结正向压降随温度变化曲线,并由此确定其灵敏度和被测PN 结材料的禁带宽度。
3. 学习用PN 结测温的方法。
二、实验原理理想PN 结的正向电流I F 和压降V F 存在如下近似关系)exp(kTqV Is I FF = (1) 其中q 为电子电荷;k 为波尔兹曼常数;T 为绝对温度;Is 为反向饱和电流,它是一个和PN 结材料的禁带宽度以及温度等有关的系数,可以证明])0(ex p[kTqV CT Is g r -= (2)(注:(1),(2)式推导参考 刘恩科 半导体物理学第六章第二节)其中C 是与结面积、掺质浓度等有关的常数:r 也是常数;V g (0)为绝对零度时PN 结材料的导带底和价带顶的电势差。
将(2)式代入(1)式,两边取对数可得11)0(n r F g F V V InT q kT T IcIn q k V V +=-⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛-= (3) 其中()rn F g InT qKTV T Ic In q k V V -=⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛-=11)0(这就是PN 结正向压降作为电流和温度函数的表达式,它是PN 结温度传感器的基本方程。
令I F =常数,则正向压降只随温度而变化,但是在方程(3)中,除线性项V 1外还包含非线性项V n1项所引起的线性误差。
设温度由T 1变为T 时,正向电压由V F1变为V F ,由(3)式可得[]rn F g g F T T q kT T T V V V V ⎪⎪⎭⎫⎝⎛---=1111)0()0( (4) 按理想的线性温度影响,VF 应取如下形式:)(111T T TV V V F F F -∂∂+=理想 (5) TV F ∂∂1等于T 1温度时的T V F ∂∂值。
由(3)式可得r qk T V V T V F g F ---=∂∂111)0( (6) 所以()[]()r T T q kT T V V V T T r q k T V V V V F g g F g F 1111111)0()0(----=-⎥⎦⎤⎢⎣⎡---+=理想(7)由理想线性温度响应(7)式和实际响应(4)式相比较,可得实际响应对线性的理论偏差为()r F T T Ln q kT T T r q k V V )(11+--=-=∆理想 (8)设T 1=300°k ,T=310°k ,取r=3.4*,由(8)式可得∆=0.048mV ,而相应的V F 的改变量约20mV ,相比之下误差甚小。
不过当温度变化范围增大时,V F 温度响应的非线性误差将有所递增,这主要由于r 因子所致。
综上所述,在恒流供电条件下,PN 结的V F 对T 的依赖关系取决于线性项V 1,即正向压降几乎随温度升高而线性下降,这就是PN 结测温的依据。
必须指出,上述结论仅适用于杂质全部电离、本征激发可以忽略的温度区间(对于通常的硅二极管来说,温度范围约-50℃—150℃)。
如果温度低于或高于上述范围时,由于杂质电离因子减小或本征载流子迅速增加;V F —T 关系将产生新的非线性,这一现象说明V F —T 的特性还随PN 结的材料而异,对于宽带材料(如GaAs )的PN 结,其高温端的线性区则宽;而材料杂质电离能小(如Insb )的PN 结,则低温端的线性范围宽,对于给定的PN 结,即使在杂质导电和非本征激发温度范围内,其线性度亦随温度的高低而有所不同,这是非线性项V n1引起的,由V n1对T 的二阶导数dT dV T dT V d n n 12121可知=的变化与T 成反比,所以V F -T 的线性度在高温端优于低温端,这是PN 结温度传感器的普遍规律。
此外,由(4)式可知,减小I F ,可以改善线性度,但并不能从根本上解决问题,目前行之有效的方法大致有两种:1、对管的两个be 结(将三极管的基极与集电极短路与发射极组成一个PN结),分别在不同电流I F1,I F2下工作,由此获得两者电压之差(V F1- V F2)与温度成线性函数关系,即2121F F F F I I In q kT V V =- 由于晶体管的参数有一定的离散性,实际与理论仍存在差距,但与单个PN 结相比其线性度与精度均有所提高,这种电路结构与恒流、放大等电路集成一体,便构成集成电路温度传感器。
1.Okira Ohte 等人提出的采用电流函数发生器来消除非线性误差。
由(3)式可知,非线性误差来自T r 项,利用函数发生器,使I F 比例于绝对温度的r 次方,则V F —T 的线性理论误差为∆=0,实验结果与理论值颇为一致,其精度可达0.01℃。
三、实验方法与内容1. 实验系统检查与连接A . 取下样品室的简套(左手扶筒盖,右手扶筒套顺时针旋转),查待测PN 结管和测温元 件应分放在铜座的左、右两侧圆孔内,其管脚不与容器接触,然后放好筒盖内的橡皮0圈,装上筒套。
0圈的作用是当样品室在冰水中进行降温时,以防止冰水渗入室内。
B . 控温电流开关应放在“关”位置,此时加热指示灯不亮。
接上加热电源线和信号传输线。
两者连线均为直插式,在连接信号线时,应先对准插头与插座的凹凸定位标记,再按插头的紧线夹部位,即可插入。
而拆除时,应拉插头的可动外套,决不可鲁莽左右转动,或操作部位不对而硬拉,否则可能拉断引线影响实验。
实验仪器线路已接好,由老师演示,同学们无需再调。
2. V F (O )或V F (T R )的测量和调零将样品室埋入盛有冰水(少量水)的杜瓦瓶中降温,开启测试仪电源(电源开关在机 箱后面,电源插座内装保险丝),预热数分钟后,将“测量选择”开关(以下简称K )拨到I F ,由“I F 调节”使I F =50μA ,待温度冷却至0℃时,将K 拨到V F ,记下V F (0)值,再将K 置于∆V ,由“∆V 调零”使∆V=0。
本实验的起始温度T S 从室温T R 开始,只测Si 管,按上述所列步骤,测量V F (T R )并使∆V=0。
3. 测定∆V —T 曲线取走冰瓶,开启加热电源(指示灯即亮),逐步提高加热电流进行变温实验,并记录对 应的∆V 和T ,至于∆V 、T 的数据测量,可按∆V 每改变10或15mV 立即读取一组∆V 、T ,这样可以减小测量误差。
应该注意:在整个实验过程中,升温速率要慢。
且温度不宜过高,最好控制在120℃左右。
4. 求被测PN 结正向压降随温度变化的灵敏度S (mv/℃)。
作∆V —T 曲线(使用Origin 软件工具),其斜率就是S 。
5. 估算被测PN 结材料硅的禁带宽度E g (0)=qV g (0)电子伏。
根据(6)式,略去非线性,可得T S V T TV V V F F F g ∆⋅+=∆+=)2.273()0()0( ∆T=-273.2°K ,即摄氏温标与凯尔文温标之差。
将实验所得的E g (0)与公认值E g (0)=1.21电子伏比较,求其误差。
四、数据处理初识温度=t C o9.20 有mV C V oF 601)9.20(= 加温电流0.3A)(mV ∆ )(C T o )(mV ∆ )(C T o-10 25.3 10 97.5 -20 29.9 20 94.7 -30 34.2 30 88.2 -40 38.5 40 83.9-50 42.9 50 80.6-60 47.3 60 74.2-70 51.7 70 70.2-80 56.3 80 66.2-90 60.8 90 61.4-100 65.2 100 57.4-110 69.7 110 52.2-120 74.2 120 48.6-130 78.7 130 43.1-140 83.1 140 39.5-150 87.6 150 34.6-160 92 160 29.7-170 96.6 170 25.1-180 101.1升温:Y = A + B * XParameter Value Error------------------------------------------------------------A 46.46894 0.18884B -2.24336 0.00281------------------------------------------------------------ R SD N P------------------------------------------------------------ -0.99999 0.27585 18 <0.0001-200-180-160-140-120-100-80-60-40-200 )(C T o (mv ∆ 升温灵敏度C C S oomV/24.2/-2.24336mV-== 由图线可知,VmV mV T S K V V F g 26.11259)2.273()24.2()46601()2.273()0(==-⨯-++=∆⨯+=eV qV E g g 26.1)0(==与公认值eV E g 21.1=比较,相对误差为0.05eV4%|21.1 1.21-1.26|(0)E g ==∆降温Y = A + B * XParameter Value Error------------------------------------------------------------ A 225.79224 0.96927 B -2.20463 0.0148------------------------------------------------------------R SD N P------------------------------------------------------------ -0.99966 1.35582 17 <0.0001------------------------------------------------------------20406080100120140160180 降温)(mv ∆ (C T o 灵敏度C C S oomV/20.2/-2.20463mV-== 由图线可知V mV T S K V V F g 25.1)2.273()20.2()226180601()2.273()0(=-⨯-++-=∆⨯+=eV qV E g g 25.1)0(==与公认值eV E g 21.1=比较,相对误差为0.04eV3%|21.1 1.21-1.25|(0)E g ==∆五、结果分析:灵敏度:C C S o o mV/24.2/-2.24336mV -==(升温) C C S o o mV/20.2/-2.20463mV -==(降温)禁带宽度:eV qV E g g 26.1)0(==(升温)4%|21.1 1.21-1.26|(0)E g ==∆eV qV E g g 25.1)0(==(降温)3%|21.1 1.21-1.25|(0)E g ==∆升温和降温的两个过程所得到的禁带宽度与标称值相当接近。