实验报告半导体PN结的物理特性及弱电流测量
大学物理实验报告23-PN结温度传感器特性

天津大学物理实验报告姓名: 专业: 班级: 学号: 实验日期: 实验教室: 指导教师:【实验名称】 PN 结物理特性综合实验 【实验目的】1. 在室温时,测量PN 结电流与电压关系,证明此关系符合波耳兹曼分布规律2. 在不同温度条件下,测量玻尔兹曼常数3. 学习用运算放大器组成电流-电压变换器测量弱电流4. 测量PN 结电压与温度关系,求出该PN 结温度传感器的灵敏度5. 计算在0K 温度时,半导体硅材料的近似禁带宽度 【实验仪器】半导体PN 结的物理特性实验仪 资产编号:××××,型号:×××(必须填写) 【实验原理】1.PN 结的伏安特性及玻尔兹曼常数测量 PN 结的正向电流-电压关系满足:]1)/[ex p(0-=kT eU I I (1)当()exp /1eU kT >>时,(1)式括号内-1项完全可以忽略,于是有:0exp(/)I I eU kT = (2)也即PN 结正向电流随正向电压按指数规律变化。
若测得PN 结I U -关系值,则利用(1)式可以求出/e kT 。
在测得温度T 后,就可以得到/e k ,把电子电量e 作为已知值代入,即可求得玻尔兹曼常数k 。
实验线路如图1所示。
2、弱电流测量LF356是一个高输入阻抗集成运算放大器,用它组成电流-电压变换器(弱电流放大器),如图2所示。
其中虚线框内电阻r Z 为电流-电压变换器等效输入阻抗。
运算放大器的输入电压0U 为:00i U K U =- (3)式(3)中i U 为输入电压,0K 为运算放大器的开环电压增益,即图2中电阻f R →∞时的电压增益(f R 称反馈电阻)。
因而有:00(1)i i s f fU U U K I R R -+== (4) 由(4)式可得电流-电压变换器等效输入阻抗x Z 为001i f f x s U R R Z I K K ==≈+ (5) 由(3)式和(4)式可得电流-电压变换器输入电流s I 与输出电压0U 之间的关系式,即:图1 PN 结扩散电源与结电压关系测量线路图图2 电流-电压变换器i s fr U U I Z R ==- (6) 只要测得输出电压0U 和已知f R 值,即可求得s I 值。
PN结物理特性的测量实验

.::PN结物理特性的测量::.图一PN结物理特性的测量实验装置全图伏安特性是PN结的基本特性,测量PN结的扩散电流与PN结电压之间的关系,可以验证它们遵守波尔兹曼分布,并进而求出波尔兹曼常数的值.PN结的扩散电流很小,为10-6~10-8 A数量级,所以在测量PN结扩散电流的过程中,运用了弱电流测量技术,即用运算放大器对电流进行电流-电压变换。
图二PN结形成示意图.::实验预习::.1. LF356运算放大器介绍利用LF356运算放大器可以组成电流-电压变换器,如图1所示.LF356运算放大器是一个集成运算放大器,Rf为反馈电阻,若Rf → ∞时,输出电压U0与输入电压Ui的比值叫做运算放大器的开环增益K0.运算放大器的输入阻抗r很大,理想情况下r → ∞,可以认为反馈电流等于信号源的输入电流Is.Zr为电流—电压变换器的等效输入阻抗,因为反馈电流等于信号源的输入电流Is,输入电流Is可以写为【实验内容】实验线路图如图1所示.在常温和零温(冰水混合物)下测量硅三极管发射极与基极之间的电压U1和相应的LF356输出电压U2 .通过调节100可调电位器改变U1的值,尽量在线性区域多测量数据点.根据公式(7)拟合求波尔兹曼常数k B..::实验仪器::.【实验仪器】±15V 直流稳压电源,TIP31型硅三极管,LF356集成运算放大器,四位半数字万用表,电阻,电容,电位器,导线,实验接线板等.TIP31型硅三极管,LF356集成运算放大器的管脚如图2所示.图3.::思考题::.【思考题】1.得到的数据一部分在线性区,一部分不在线性区,为什么?拟合时应如何注意取舍?数据不在线性区有两种情况:1.u1较小时,2.u1较大时1).u1较小时,公式不满足2).u1较大时,p-n结所通过的电流虽可增加,但放大器的输出电压达到饱和。
2.减小反馈电阻的代价是什么?对实验结果有影响吗?反馈电阻减小使输出电压减小,在一定范围瑞影响不大.::参考资料::.有关PN结的介绍纯净的半导体称为本征半导体,为研究半导体的性质,必须对其掺杂形成P型半导体和N型半导体(掺杂的浓度可以达到1017个/cm3)。
半导体pn结的物理特性及弱电流测量实验

半导体pn结的物理特性及弱电流测量实验半导体pn结是常见的半导体器件之一,由p型半导体和n型半导体构成。
与其它半导体器件相比,它有很多特殊的物理特性。
首先,当p型半导体和n型半导体结合时,两种材料的掺杂离子会互相扩散,导致接触面区域形成一个空间电荷区。
这个区域中没有载流子,因此是不导电的。
在pn结正侧和负侧形成了电位差,负侧形成了减小电位相对于正侧,就形成了内建电场。
这个电场会阻止载流子(即电荷)通过pn结。
当向pn结外加电压时,如果外加电压与内建电场方向相反,则内部电场减弱,载流子的移动就更容易了,流动性能增强;反之外部电场增强内部电场,丝毫不利指导电流的流动,参极熑阻挡作用,这就是pn结的整流特性,即所谓的势垒效应。
由于pn结的势垒效应,它可以将电流的方向限制在一个方向上,使其变成单向导电,即只有在正向电压下才能导通,反向电压下是不导通的。
这个特性非常有用,例如在电子电路中可以用它来作为整流器、稳压器、放大器等器件。
此外,由于pn结的导通特性,其本身也可以被用来制造发光二极管、太阳能电池等器件。
在弱电流测量实验中,pn结也被广泛应用。
由于pn结在反向偏置时具有可靠的硬特性,可以被用来作为电流表的电压比较器,在电流表中起到非常重要的作用。
这种电压比较器又称为伏安电路,可以将电流转换成电压,测量微弱电流。
具体而言,电流I进入测量电路,经过一个电阻R后进入远端的伏安电路(即pn结),由于其反向偏置,只有微小的正向漏电流I流经伏安电路,并引起一个微小的电压降U,这个电压降就是I通过伏安电路时所产生的电势差,按照欧姆定律,U/R=I,即可转化为电流的大小。
通过这种方法,研究者可以测量非常微小的电流,比如常常需要测量光电器件、二极管、甚至可以用来研究生物体内的电流等。
总之,半导体pn结的物理特性和其在弱电流测量实验中的应用对于电子学研究和工程实践具有非常重要的意义。
大学物理实验报告23-PN结温度传感器特性

天津大学物理实验报告姓名: 专业: 班级: 学号: 实验日期: 实验教室: 指导教师:【实验名称】 PN 结物理特性综合实验 【实验目的】1. 在室温时,测量PN 结电流与电压关系,证明此关系符合波耳兹曼分布规律2. 在不同温度条件下,测量玻尔兹曼常数3. 学习用运算放大器组成电流-电压变换器测量弱电流4. 测量PN 结电压与温度关系,求出该PN 结温度传感器的灵敏度5. 计算在0K 温度时,半导体硅材料的近似禁带宽度 【实验仪器】半导体PN 结的物理特性实验仪 资产编号:××××,型号:×××(必须填写) 【实验原理】1.PN 结的伏安特性及玻尔兹曼常数测量 PN 结的正向电流-电压关系满足:]1)/[ex p(0-=kT eU I I (1)当()exp /1eU kT >>时,(1)式括号内-1项完全可以忽略,于是有:0exp(/)I I eU kT = (2)也即PN 结正向电流随正向电压按指数规律变化。
若测得PN 结I U -关系值,则利用(1)式可以求出/e kT 。
在测得温度T 后,就可以得到/e k ,把电子电量e 作为已知值代入,即可求得玻尔兹曼常数k 。
实验线路如图1所示。
2、弱电流测量LF356是一个高输入阻抗集成运算放大器,用它组成电流-电压变换器(弱电流放大器),如图2所示。
其中虚线框内电阻r Z 为电流-电压变换器等效输入阻抗。
运算放大器的输入电压0U 为:00i U K U =- (3)式(3)中i U 为输入电压,0K 为运算放大器的开环电压增益,即图2中电阻f R →∞时的电压增益(f R 称反馈电阻)。
因而有:00(1)i i s f fU U U K I R R -+== (4) 由(4)式可得电流-电压变换器等效输入阻抗x Z 为001i f f x s U R R Z I K K ==≈+ (5) 由(3)式和(4)式可得电流-电压变换器输入电流s I 与输出电压0U 之间的关系式,即:图1 PN 结扩散电源与结电压关系测量线路图图2 电流-电压变换器i s fr U U I Z R ==- (6) 只要测得输出电压0U 和已知f R 值,即可求得s I 值。
PN结的物理特性—实验报告

半导体PN 结的物理特性实验报告姓名:陈晨 学号:12307110123 专业:物理学系 日期:2013年12月16日 一、引言半导体PN 结是电子技术中许多元件的物质基础具有广泛应用,因此半导体PN 结的伏安特性是半导体物理学的重要内容。
本实验利用运算放大器组成电流-电压变换器的方法精确测量弱电流,研究PN 结的正向电流I ,正向电压U ,温度T 之间的关系。
本实验桶过处理实验数据得到经验公式,验证了正向电流与正向电压的指数关系,正向电流与温度的指数关系以及正向电压与温度的线性关系,并由此与计算玻尔兹曼常数k 与0K 时材料的禁带宽度E ,加深了对半导体PN 节的理解。
二、实验原理 1、 PN 结的物理特性(1)PN 结的定义:若将一块半导体晶体一侧掺杂成P 型半导体,即有多余电子的半导体,另一侧掺杂成N 型半导体,即有多余空穴的半导体,则中间二者相连的接触面就称为PN 结。
(2)PN 结的正向伏安特性:根据半导体物理学的理论,一个理想PN 结的正向电流I 与正向电压U 之间存在关系 ①,其中I S 为反向饱和电流,k 为玻尔兹曼常数,T 为热力学温度,e 为电子电量。
在常温(T=300K )下和实验所取电压U的范围内, 故①可化为 ②,两边取对数可得 。
(3)当温度T 不变时作lnI-U 图像并对其进行线性拟合,得到线性拟合方程的斜率为e/kT ,带入已知常数e 和T ,便得玻尔兹曼常数k 。
2、反向饱和电流I s(1)禁带宽度E :在固体物理学中泛指半导体或是绝缘体的价带顶端至传导带底端的能量差距。
对一个本征半导体而言,其导电性与禁带宽度的大小有关,只有获得足够能量的电子才能从价带被激发,跨过禁带宽度跃迁至导带。
(2)根据半导体物理学的理论,理想PN 结的反向饱和电流Is 可以表示为③,代入②得 ,其中I 0为与结面积和掺杂浓度等有关的常数,γ取决于少数载流子迁移率对温度的关系,通常取γ=3.4,k 为玻尔兹曼常数,T 为热力学温度.E 为0K时材料的禁带宽度。
pn结特性测量

PN 结的伏安特性与温度特性测量半导体PN 结的物理特性是物理学和电子学的重要基础内容之一。
使用本实验的仪器用物理实验方法,测量PN 结扩散电流与电压关系,证明此关系遵循指数分布规律,并较精确地测出玻尔兹曼常数(物理学重要常数之一),使学生学会测量弱电流的一种新方法。
本实验的仪器同时提供干井变温恒温器和铂金电阻测温电桥,测量PN 结结电压U 与热力学温度beT 关系,求得该传感器的灵敏度,并近似求得0K 时硅材料的禁带宽度。
【实验目的】1、在室温时,测量PN 结扩散电流与结电压关系,通过数据处理证明此关系遵循指数分布规律。
2、在不同温度条件下,测量玻尔兹曼常数。
3、学习用运算放大器组成电流一电压变换器测量10-6A 至10-8A 的弱电流。
4、测量PN 结结电压U be 与温度关系,求出结电压随温度变化的灵敏度。
5、计算在0K 时半导体(硅)材料的禁带宽度。
6、学会用铂电阻测量温度的实验方法和直流电桥测电阻的方法。
【实验仪器】FD-PN-4型PN 结物理特性综合实验仪(如下图),TIP31c 型三极管(带三根引线)一只,长连接导线11根(6黑5红),手枪式连接导线10根,3DG6(基极与集电极已短接,有二根引线)一只,铂电阻一只。
实验原理】1、PN 结伏安特性及玻尔兹曼常数测量由半导体物理学可知,PN 结的正向电流-电压式(1)中I 是通过PN 结的正向电流,I 0是反向饱和电流,在温度恒定是为常数,T 是热力学温度,e 是电子的电荷量,U 为PN 结正向压降。
由于在常温(300K )时,kT /e W026v ,而PN 结正向压降约为十分之几伏,则eeu/KT >>1,(1)式括号内-1项完全可关系满足:LeU/KT11(1)u 0=-K 0u i (3)以忽略,于是有:IIe eU/KT (2)也即PN 结正向电流随正向电压按指数规律变化。
若测得PN 结I-U 关系值,则利用(1)式可以求出e /kT 。
半导体PN结的物理特性测量 终定稿

半导体PN 结的物理特性测量实验目的(1) 了解用运算放大器测量弱电流的原理和方法。
(2) 测量PN 结结电压与电流关系,证明此关系符合指数分布规律,用作图法求玻尔兹曼常数。
实验仪器PN 结物理特性实验仪实验原理1.PN 结介于导体与绝缘体之间的物质叫半导体,在半导体中只有一种载流子导电,只有电子(负电荷)导电的半导体叫N 型半导体,只有空穴(正电荷)导电的半导体叫P 型半导体。
以一定的工艺制成的P 型半导体和N 型半导体相邻的交接处,由于自由扩散形成的结叫PN 结。
三极管制造工艺的特点:发射极高掺杂浓度;基极很薄几微米到十几微米,减小复合电流;集电极低掺杂浓度,面积较大,有利于接收电子。
发射结正向偏置,集电结反向偏置。
2.PN 结伏安特性及玻尔兹曼常数的测量半导体在常温下PN 结电压与电流有如下指数关系:0qUkTS I I e= (1)公式(1)中0I 为反向饱和电流,k 为玻尔兹曼常数,T 为热力学温度,q 为电子电量,U 为电压。
本实验用常规方法测量时,当PN 结电压较小时,PN 结没导通,通过的电流很弱,普通电流表很难准确测量,无法验证真实的电压电流关系和测量玻尔兹曼常数,而采用集成运放对弱电流放大可解决这些问题。
3. 弱电流测量实验装置如图1所示,所用PN 结由三极管提供,加在三极管B 、E 间的电压1U 则通过的电流为e I ,三极管电流分布满足eb c I I I =+,又因为b I 很小,所以e c I I ≈;LF356是一个高输入阻抗集成运算放大器,用它组成电流-电压变换器,把c I 放大成2U ,且它们之间满足线性关系,因此可以说1U 与2U 之间满足指数函数关系,那么1U 与流过PN 结的电流e I 也满足指数关系。
其工作原理如图2所示,S I 为被测弱电流,r Z 为电路的等效输入阻抗,f R 为负反馈电阻,运放的开环放大倍数为0K ,运算放大器的输出电压为:00i U K U =- (2) 由于运放输入阻抗i r 为无限大,反馈电阻f R 流过的电流近似为S I ,00001()(1)i S f ffU U U I U R R R K -==-+≈-(3)只要测得输出电压0U 和已知f R 值,即可求得S I ,将上式代入0qU kTS I I e=可得:102qU kTU U Ae== (4)图2 电流-电压变换器实验内容(1)按图联接线路,调节电压1U ,取值在0.3V -0.5V 范围内,依次记下电压1U 和2U 的数值。
半导体pn结的物理特性及弱电流测量

半导体pn结的物理特性及弱电流测量半导体 PN 结的物理特性:1. 堆积区与耗尽区:在 PN 结中,PN 结两侧有一个堆积区和一个耗尽区。
堆积区是在 PN 接触处的一侧,其中 N 区的自由电子会向 P 区扩散,而 P 区的空穴会向 N 区扩散。
耗尽区是在堆积区的另一侧,其中电子和空穴被扩散后形成的正负离子互相吸引,形成一个没有可自由移动电荷的区域。
2. 正向偏置:当在 PN 结上施加正向电压时,电子从 N 区向 P 区移动,空穴从 P 区向 N 区移动,导致堆积区的宽度变窄。
此时电流从 P 区流向 N 区,称为正向电流。
3. 反向偏置:当在 PN 结上施加反向电压时,电子被吸引进 N 区,空穴被吸引进 P 区,导致堆积区的宽度增加。
这时几乎没有电流通过 PN 结,称为反向电流。
当反向电压过大时,会发生击穿现象,此时电流急剧增加。
4. PN 结的导电特性:在正向偏置下,PN 结导电特性近似于理想二极管,正向电流随着正向电压的增加呈指数型增长。
在反向偏置下,PN 结导电特性近似于理想断路器,基本没有电流通过。
弱电流测量:弱电流测量是指对非常小的电流进行测量。
由于电流非常微弱,存在一些测量上的困难和限制。
常见的弱电流测量方法有以下几种:1. 电流放大:由于弱电流不能直接测量,通常需要将其放大到可以测量的范围。
放大器可以选择放大电流,提高信号的幅度。
2. 高阻抗电路:在测量弱电流时,需要使用高阻抗电路,以最大程度地减小电流的流失。
高阻抗电路可以降低电流流过测量电路时的电压降,从而减小电流的误差。
3. 屏蔽环境干扰:由于弱电流非常微弱,容易受到环境中的电磁干扰影响。
屏蔽环境干扰可以采取一些措施,例如使用屏蔽罩、信号隔离等,减小干扰对弱电流测量结果的影响。
4. 温度控制:温度的变化也会对弱电流测量产生影响。
通常需要对测量环境进行温度控制,确保测量的稳定性和准确性。
需要注意的是,弱电流测量需要仪器设备的高灵敏度和高精度,同时也需要严密的实验条件和精确的操作技巧。
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物理实验报告
姓名: 石朝阳 专业: 班级: 学号: 实验日期: 2009-9-15下午 实验教室: 5102-1 指导教师: 【实验名称】 PN 结物理特性综合实验 【实验目的】
1. 在室温时,测量PN 结电流与电压关系,证明此关系符合波耳兹曼分布规律
2. 在不同温度条件下,测量玻尔兹曼常数
3. 学习用运算放大器组成电流-电压变换器测量弱电流
4. 测量PN 结电压与温度关系,求出该PN 结温度传感器的灵敏度
5. 计算在0K 温度时,半导体硅材料的近似禁带宽度 【实验仪器】
半导体PN 结的物理特性实验仪 资产编号:××××,型号:×××(必须填写) 【实验原理】
1.PN 结的伏安特性及玻尔兹曼常数测量 PN 结的正向电流-电压关系满足:
]1)/[ex p(0-=kT eU I I (1)
当()exp /1eU kT >>时,(1)式括号内-1项完全可以忽略,于是有:
0exp(/)I I eU kT = (2)
也即PN 结正向电流随正向电压按指数规律变化。
若测得PN 结I U -关系值,则利用(1)式可以求出
/e kT 。
在测得温度T 后,就可以得到/e k ,把电子电量e 作为已知值代入,即可求得玻尔兹曼常数k 。
实验线路如图1所示。
2、弱电流测量
LF356是一个高输入阻抗集成运算放大器,用它组成电流-电压变换器(弱电流放大器),如图2所示。
其中虚线框内电阻r Z 为电流-电压变换器等效输入阻抗。
运算放大器的输入电压0U 为:
00i U K U =- (3)
式(3)中i U 为输入电压,0K 为运算放大器的开环电压增益,即图2中电阻f R →∞时的电压增益(f R 称反馈电阻)。
因而有:
00(1)
i i s f f
U U U K I R R -+=
= (4) 由(4)式可得电流-电压变换器等效输入阻抗x Z 为
00
1i f f x s U R R Z I K K =
=≈+ (5) 由(3)式和(4)式可得电流-电压变换器输入电流s I 与输出电压0U 之间的关系式,即:
图1 PN 结扩散电源与结电压关系测量线路图
图2 电流-电压变换器
i s f
r U U I Z R =
=- (6) 只要测得输出电压0U 和已知f R 值,即可求得s I 值。
3、PN 结的结电压be U 与热力学温度T 关系测量。
当PN 结通过恒定小电流(通常100I A μ=),由半导体理论可得be U 与T 的近似关系:
be go U ST U =+ (7)
式中 2.3/o
S mV C =-为PN 结温度传感器灵敏度。
由go U 可求出温度0K 时半导体材料的近似禁带宽度go go E qU =。
硅材料的go E 约为1.20eV 。
【实验内容】
(一)c be I U -关系测定,并进行曲线拟合计算玻尔兹曼常数(1be U U =)
1、在室温情况下,测量三极管发射极与基极之间电压1U 和相应电压2U 。
1U 的值约从0.30V 至0.50V 范围,每隔0.01V 测一相应电压2U 的数据,至2U 达到饱和(2U 变化较小或基本不变)。
在记录数据开始和结束时都要记录下变压器油的温度θ,取温度平均值θ-。
2、改变干井恒温器温度,待PN 结与油温一致时,重复测量1U 和2U 的关系数据,并与室温测得的结果进行比较。
3、曲线拟合求经验公式:运用最小二乘法将实验数据代入指数函数()21exp U a bU =。
求出相应的a 和b 值。
4、玻尔兹曼常数k 。
利用/b e kT =,把电子电量e 作为已知值代入,求出k 并与玻尔兹曼常数公认
图3 图4
值(23
0 1.38110k -=⨯)进行比较。
(二)be U T -关系测定,计算硅材料0K 时近似禁带宽度go E 值。
1、通过调节图3电路中电源电压,使上电阻两端电压保持不变,即电流100I A μ=。
同时用电桥测量铂电阻T R 的电阻值,得恒温器的实际温度。
从室温开始每隔5℃-10℃测一组be U 值,记录。
2、曲线拟合求经验公式:运用最小二乘法,将实验数据分别代入线性回归、指数回归、乘幂回归这三种常用的基本函数(它们是物理学中最常用的基本函数),然后求出衡量各回归程序好坏的标准差δ。
对已测得的1U 和2U 各对数据,以1U 为自变量,2U 作因变量,分别代入:(1)线性函数21U aU b =+;(2)乘
幂函数21b
U aU =;(3)指数函数21exp()U a bU =⋅,求出各函数相应的a 和b 值,得出三种函数式,究
竟哪一种函数符合物理规律必须用标准差来检验。
办法是:把实验测得的各个自变量1U 分别代入三个基本函数,得到相应因变量的预期值*
2U ,并由此求出各函数拟合的标准差:
δ=
用最小二乘法对be U T -关系进行直线拟合,求出PN 结测温灵敏度S 及近似求得温度为0K 时硅材料禁带宽度go E 。
【注意事项】
1. 数据处理时,对于扩散电流太小(起始状态)以及扩散电流接近或达到饱和时的数据,在处理数据时应删去,因为这些数据可能偏离公式(2)。
2. 必须观测恒温装置上温度计读数,待TIP31三极管温度处于恒定时(即处于热平衡时),才能记录1U 和2U 数据。
3. 本实验,TIP31型三极管温度可采用的范围为0-50℃。
4. 仪器具有短路自动保护,一般情况集成电路不易损坏,但请勿将二极管保护装置拆除。
【数据记录】(数据仅供参考)
1、c be I U -关系测定。
室温条件下:1θ =25.90℃,2θ =26.10℃,θ-
=26.00℃
2、电流I =100uA 时,be U T -关系测定。
【数据处理】
1、曲线拟合求经验公式,计算玻尔兹曼常数:
根据要求用最小二乘法处理数据,假设PN 结电流和电压的关系满足0exp(/)I I eU kT =,所以先要
对公式0exp(/)I I eU kT =进行线性化处理。
由于U 2和I 是线性关系,即I =A*U 2,A 可视为微小电流转换为电压的转换系数。
首先以U 2替换I ,公
式变化为A 201exp(/)U I eU kT =
两边取对数:201ln ln /U I eU kT =+-lnA, 令: lnU 2=y,U 1=x,ln Io -lnA=,e/Kt=b 上式变化为: y a bx =+
根据最小二乘法的计算公式:
2
2
)
(x x y x xy b x
b y a -⋅-=
-= )
)((2222y y x x y x xy r --⋅-=(P 27页)
,11i n i x n x ∑== ∑==n i i x n x 122
,1 ∑==k i i y k y 1,1 ∑==n i xy n xy 1
1
列表计算:(双击该表可见计算过程)
由此可知,相关系数r=0.99972,指数拟合的很好,也就说明PN 结扩散电流-电压关系遵循指 数分布规律。
计算玻尔兹曼常数,由表中数据得
4/38.79(273.1526.00) 1.16010/e k bT CK J ==⨯+=⨯
则:19-23
4
1.60210 1.3810/ / 1.16010
e k J K e k -⨯===⨯⨯测 2、求PN 结温度传感器的灵敏度S ,0K 时硅材料禁带宽度go E 。
用作图法对be U T -数据进行处理:(图省略)所画的直线的斜率,即PN 结作为温度传感器时
的灵敏度 2.30/s mV K =-,表明PN 结是负温度系数的。
截距 1.30go U V =(0K 温度); 则 1.30go E eU ==电子伏特。
【实验结果】
1、测量值-231.3810/ k J K =⨯测与公认值23
0 1.38110/k J K -=⨯相当一致。
-23
01.3810/A 100%0.08%k J K k k k ⎧⨯⎪
-⎨
⨯=⎪⎩
测0测== 2、硅在0K 温度时禁带宽度公认值 1.205go E =电子伏特,上述结果与实际大小基本吻合。
由于PN 结温度传感器的线性范围为-50℃--150℃,在常温时,非线性项将不可完全忽略,所以本实验测得
1.30go E =电子伏特是合理的。
【问题讨论】
谈谈自己对本实验的体会与建议等。
宽度(Band gap )是指一个能带宽度(单位是电子伏特(ev)).固体中电子的能量是不可以连续取值的,
而是一些不连续的能带。
要导电就要有自由电子存在。
自由电子存在的能带称为(能导电)。
被束缚的电子要成为自由电子,就必须获得足够能量从而跃迁到导带,这个能量的最小值就是禁带宽度。
锗的禁带宽度为0.66ev ;硅的禁带宽度为1.12ev ;的禁带宽度为1.43ev 。
禁带非常窄就成为金属了,反之则成为绝缘体。
半导体的反向耐压,正向压降都和禁带宽度有关。
实验结果:。