AFM原子力显微镜详解

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三种模式的比较
• • • 接触模式(Contact Mode): 优点:扫描速度快,是唯一能够获得“原子分辨率”图像的AFM垂直方向上有 明显变化的质硬样品,有时更适于用Contact Mode扫描成像。 缺点:横向力影响图像质量。在空气中,因为样品表面吸附液层的毛细作用 ,使针尖与样品之间的粘着力很大。横向力与粘着力的合力导致图像空间分 辨率降低,而且针尖刮擦样品会损坏软质样品(如生物样品,聚合体等)。 非接触模式(Non-Contact Mode): 优点:没有力作用于样品表面。 缺点:由于针尖与样品分离,横向分辨率低;为了避免接触吸附层而导致针 尖胶粘,其扫描速度低于Tapping Mode和Contact Mode AFM。通常仅用于 非常怕水的样品,吸附液层必须薄,如果太厚,针尖会陷入液层,引起反馈 不稳,刮擦样品。由于上述缺点,on-contact Mode的使用受到限制。 轻敲模式(Tapping Mode): 优点:很好的消除了横向力的影响。降低了由吸附液层引起的力,图像分辨 率高,适于观测软、易碎、或胶粘性样品,不会损伤其表面。 缺点:比Contact Mode AFM 的扫描速度慢。
哈尔滨奥瑞德光电技术有限公司
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原子力显微镜(atomic force microscope)
品质部 2015-05-18
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原子力显微镜的基本原理 • 将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定 ,另一端有一微小的针尖,针尖与样品表 面轻轻接触,由于针尖尖端原子与样品表 面原子间存在极微弱的排斥力,通过在扫 描时控制这种力的恒定,带有针尖的微悬 臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力 的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏 运动。利用光学检测法或隧道电流检测法 ,可测得微悬臂对应于扫描各点的位置变 化,从而可以获得样品表面形貌的信息。
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原子力显微镜
• 原子力显微镜(AFM)便是结合以上三个部分来 将样品的表面特性呈现出来的:在原子力显微镜 (AFM)的系统中,使用微小悬臂(cantilever) 来感测针尖与样品之间的相互作用,这作用力会 使微悬臂摆动,再利用激光将光照射在悬臂的末 端,当摆动形成时,会使反射光的位置改变而造 成偏移量,此时激光检测器会记录此偏移量,也 会把此时的信号给反馈系统,以利于系统做适当 的调整,最后再将样品的表面特性以影像的方式 给呈现出来。
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反馈系统
• 在原子力显微镜(AFM)的系统中,将信号经由 激光检测器取入之后,在反馈系统中会将此信号 当作反馈信号,作为内部的调整信号,并驱使通 常由压电陶瓷管制作的扫描器做适当的移动,以 保持样品与针尖保持一定的作用力。
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• 如上图所示,二极管激光器(Laser Diode)发出 的激光束经过光学系统聚焦在微悬臂(Cantilever )背面,并从微悬臂背面反射到由光电二极管构 成的光斑位置检测器(Detector)。在样品扫描 时,由于样品表面的原子与微悬臂探针尖端的原 子间的相互作用力,微悬臂将随样品表面形貌而 弯曲起伏,反射光束也将随之偏移,因而,通过 光电二极管检测光斑位置的变化,就能获得被测 样品表面形貌的信息。
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敲击模式
• 敲击模式介于接触模式和非接触模式之间,是一 个杂化的概念。悬臂在试样表面上方以其共振频 率振荡,针尖仅仅是周期性地短暂地接触/ 敲击样 品表面。这就意味着针尖接触样品时所产生的侧 向力被明显地减小了。因此当检测柔嫩的样品时 ,AFM的敲击模式是最好的选择之一。一旦AFM 开始对样品进行成像扫描,装置随即将有关数据 输入系统,如表面粗糙度、平均高度、峰谷峰顶 之间的最大距离等,用于物体表面分析。同时, AFM 还可以完成力的测量工作,测量悬臂的弯曲 程度来确定针尖与样品之间的作用力大小。
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Βιβλιοθήκη Baidu 位置检测部分
• 在原子力显微镜(AFM)的系统中,当针尖与样 品之间有了交互作用之后,会使得悬臂cantilever 摆动,所以当激光照射在微悬臂的末端时,其反 射光的位置也会因为悬臂摆动而有所改变,这就 造成偏移量的产生。在整个系统中是依靠激光光 斑位置检测器将偏移量记录下并转换成电的信号 ,以供SPM控制器作信号处理。
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接触模式
• 从概念上来理解,接触模式是AFM最直接的成像 模式。正如名字所描述的那样,AFM 在整个扫描 成像过程之中,探针针尖始终与样品表面保持紧 密的接触,而相互作用力是排斥力。扫描时,悬 臂施加在针尖上的力有可能破坏试样的表面结构 ,因此力的大小范围在10 - 10~10 - 6 N。若样 品表面柔嫩而不能承受这样的力,便不宜选用接 触模式对样品表面进行成像。
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原子力显微镜探针工作流程
• 原子力显微镜(atomic force microscope,简称AFM)利 用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间 的作用力,从而达到检测的目的,具有原子级的分辨率。
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原子力显微镜探针工作流程
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原子力显微镜仪器结构
• 在原子力显微镜(Atomic Force Microscopy, AFM)的系统中,可分成三个部分: • 力检测部分 • 位置检测部分 • 反馈系统
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力检测部分
• 在原子力显微镜(AFM)的系统中,所要检测的 力是原子与原子之间的范德华力。所以在本系统 中是使用微小悬臂(cantilever)来检测原子之间 力的变化量。微悬臂通常由一个一般100~500μm 长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。 微悬臂顶端有一个尖锐针尖,用来检测样品-针 尖间的相互作用力。这微小悬臂有一定的规格, 例如:长度、宽度、弹性系数以及针尖的形状, 而这些规格的选择是依照样品的特性,以及操作 模式的不同,而选择不同类型的探针。
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非接触模式
• 非接触模式探测试样表面时悬臂在距离试样表面 上方5~10 nm 的距离处振荡。这时,样品与针尖 之间的相互作用由范德华力控制,通常为10 - 12 N ,样品不会被破坏,而且针尖也不会被污染, 特别适合于研究柔嫩物体的表面。这种操作模式 的不利之处在于要在室温大气环境下实现这种模 式十分困难。因为样品表面不可避免地会积聚薄 薄的一层水,它会在样品与针尖之间搭起一小小 的毛细桥,将针尖与表面吸在一起,从而增加尖 端对表面的压力。
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工作模式
• 原子力显微镜的工作模式是以针尖与样品之间的 作用力形式来分类的。主要有以下3种操作模式: • 接触模式(contact mode) • 非接触模式( non - contact mode) • 和敲击模式( tapping mode)
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