半导体物理 第七章 金半接触
半导体物理第七章金属与半导体的接触

eV kT
⎞ ⎟⎠
J
V<0 当e|V|>>kT J = − J ST
V
-J0
反向饱和电流JsT与外加电压无关,强烈依赖温度
热场发射理论:
适用于平均自由程较长,迁移率较高材料,如硅锗等
半导体物理
25
三. 镜像力(image force)的影响
理论与实际的偏差
当半导体中的电子到达金属-半导体的界面附近时,该 电子将在金属表面感生正电荷。由于金属表面的电力线 必须垂直于表面,因此该电子在金属表面感生电荷的总 和必定等价于金属内部与该电子镜面对称处的一大小相 等的正电荷。
P
E0
E0
型
半
Wm
导
EC
Ws
Wm
EC
Ws Ef
体
Ef
EV
EV
反阻挡层
半导体物理
阻挡层
8
表面态对接触势垒的影响
理想肖特基势垒接触: qΦB = Wm − χ
金属与半导体接触是否形成接触势垒,取决于它们的功函 数大小。
同一种半导体与不同金属接触时,形成的势垒高度同金属 的功函数成正比。
实际金-半接触: 90%的金属和半导体接触形成势垒,与功函数关系不大。
2o Wm < Ws 时仍有肖特基势垒
半导体物理
肖特基势垒
Φ BN
=
EC
− EFs =
2 Eg 3
13
势垒区的电势分布
假设: (耗尽层近似) 空间电荷区载流子全耗尽;
d 2V dx 2
=
⎪⎧− ⎨ ⎪⎩
qN D
ε 0ε r
0
0≤ x≤d x>d
E( x) = − dV = qN D (x − d )
第七章-金属和半导体的接触

解上方程并代入边界条件:
得到 J J SD e
2qN D
qV k 0T
1 13
qV D k 0T
其中
J SD
r 0
VD V e
14
其中,
0
qn0 n
电流密度变化的讨论:
J J SD e
二、金属和半导体的功函数Wm
1、金属的功函数Wm
、Ws
表示一个起始能量等于费米能级的电子, 由金属内部逸出到表面外的真空中所需 要的最小能量。
即:Wm E0 ( EF )m
Wm (EF)m
E0
功函数大小标致电子在金属中被束缚的强弱
2、半导体的功函数Ws
E0与费米能级之差称为半导体 的功函数。
新的物理效应 和应用
三、金属与半导体的接触及接触电势差
1. 阻挡层接触
设想有一块金属和一块n型半导体,并假定 金属的功函数大于半导体的功函数,即:
Wm Ws
即半导体的费米能EFs 高于金属的费米能EFm
金属的传导电子的浓度 很高,1022~1023cm-3 半导体载流子的浓度比 较低,1010~1019cm-3
金属和p型半导体Wm<Ws 空穴阻挡层
E0 Wm
EFm Ws EFs Ev
电场 E
EF
Ec
Ec
Ev
接触后
qVd
xd
半导体一边的势垒高度是:qVD=Ws-Wm
金属-p型半导体接触的反阻挡层
金属与P型半导体接触时,若Wm>Ws,即金属的 费米能级比半导体的费米能级低,半导体的电 子流向金属,使得金属表面带负电,半导体表 面带正电,半导体表面能带向上弯曲。在半导 体表面的多子(空穴)浓度较大,高电导区, 形成反阻挡层。
半导体第七章金属和半导体的接触PPT课件

假设Wm>Ws,半导体外表形成正的空间电荷区, 电场由体内指向外表,Vs<0,形成外表势垒〔阻 挡层〕。
χ
Wm qΦns
qVD
Ec
En
(EF)s
Ev
能带向上弯曲,形成外表势垒。势垒区电子浓度 比体内小得多→高阻区(阻挡层)。
• 假设Wm<Ws,电子从金属流向半导体,半导体外 表形成负的空间电荷区,电场由外表指向体内, Vs>0。形成高电导区〔反阻挡层〕。
Wm E0 (EF )m E0为真空中静止电子的能量。
金属功函数随原子序数的递增呈现周期性变化
关于功函数的几点说明:
对金属而言, 功函数Wm可看作是固定的. 功 函数Wm标志了电子在金属中被束缚的程度.
对半导体而言, 功函数与掺杂有关 功函数与外表有关. 功函数是一个统计物理量。
半导体的功函数Ws
在一个距离价带顶为qФ0的能级。 • 电子正好填满qФ0以下所有的外表态时,外表呈电
中性。假设qФ0以下外表态为空,外表带正电,呈 现施主型; • qФ0以上外表态被电子填充,外表带负电,呈现受 主型。对于大多数半导体,qФ0约为禁带宽度的三 分之一。
• 假设n型半导体存在外表态,费米能级高于qФ0,如果qФ0以上存 在有受主型外表态,在EF与qФ0之间的能级将被电子填满,外表 带负电。外表附近出现正的空间电荷区,形成电子势垒。势垒 高度qVD恰好使外表态上的负电荷与势垒区的正电荷相等。
m(V)
0.95 0.80 0.94
说明金属的功函数对势垒高度的影响并不显著。
原因:半导体外Leabharlann 存在外表态。巴丁〔Bardeen〕提出应该考虑到半导体外表存在密度相当大的 外表态。如果认为在金属和半导体之间存在原子线度的间隙,外 表态中的电荷可通过在间隙中产生的电势差对势垒高度起到钳制 作用。
金属和半导体的接触

表面态能级
:
大多数半导体旳
在Ev以上Eg/3旳地方。
2.表面态旳类型
1)施主型:
电子占满时呈中性,失去电子带正电。
下列旳表面态空着,表面带正电。
2)受主型:
能级空时为电中性,接受电子带负电。
以上旳表面态被电子填充,表面带负电。
3.表面态对接触势垒旳影响
且
趋于饱和。
• 阻挡层具有单向导电性——整流特征。
P型半导体
n型和p型阻挡层旳作用
• 阻挡层具有整流特征;
• 正向电流要求为半导体多子形成旳电流;
• n型: 金属极加正电压,V>0,
形成电子由半导体到金属旳正向电流;
电流方向:金属→半导体
• p型:金属极加负电压V<0,
形成空穴由半导体到金属旳正向电流;
材料)和小旳ni(相当于宽禁带材料)旳金属-半导体
系统 。
2、欧姆接触
1)欧姆接触:
不产生明显旳附加阻抗,电流在其上旳产生旳压
降远不大于在器件本身上所产生旳压降。
2)欧姆接触旳主要性:
作为器件引线旳电极接触,要求在金属和半导体
之间形成良好旳欧姆接触。在超高频和大功率器
件中,欧姆接触是设计和制造中旳关键问题之一。
3)n型: 金属极加正电压,V>0,
形成电子半导体 金属旳正向电流;
电流方向:从金属 半导体
半导体势垒区与中性区存在浓度梯度,所以有扩散电流。
有外加电压时,存在漂移电流。
根据:
利用:
得到:
同乘以
得到:
积分:
利用边界条件:
因为
只考虑在x=0附近
半导体物理第七章金属和半导体接触

(1)扩散理论
xd>> ln时,电子通过势垒区将发生多次碰撞。 势垒高度qVD>>k0T 时,势垒区内的载流子浓度近似 等于零。
耗尽层中的电荷密度:
q0ND
(0xxd) (xxd)
(1)
代入泊松方程 d 2V
dx 2
r 0
即
d 2V dx 2
qN D
r 0
0
(0 x xd ) (x xd )
将(3)式代入(4)式,则在xm处的电势降落为:
无镜象力
q
q ns
q
* ns
有镜象力
0 xm
x
镜象势能
qJ反向
q q ns ( q )V ( x m )
q2ND
r0
xm xd
1 4
4
2q7 N D
2
3 r
3 0
(V D
V)
q 可增见大金q反。属n*向一s 偏边q 压有和 效n掺势s杂垒q较高高度时将导半q致导势D V * 体垒 侧最q 有高(V 效点D 势降 垒落 高值度)
讨论
(1)V > 0 时
qV
如果 qVk0TJJSD ek0T
(2)V < 0 时
如果 q Vk 0T JJSD
I
0
V
Mg2Si-nSi与Al-nSi肖特基二极管V-I特性
(2)热电子发射理论 xd<< ln时,电子通过势垒区的碰撞可以忽略。当电
子动能大于势垒顶部时,电子可以自由越过势垒进入另 一边——热电子发射。
N D exp
q (V D V ) k 0T
N c exp
q ns exp k 0T
qV k 0T
半导体物理第七章金属和半导体的接触

半导体的导电性能介于金属和绝缘体 之间。其内部存在一个或多个能隙, 使得电子在特定条件下才能跃迁到导 带。常见的半导体材料有硅、锗等。
接触的物理意义
01
金属和半导体的接触在电子器件 中具有重要应用,如接触电阻、 欧姆接触等。
02
理解金属和半导体的接触性质有 助于优化电子器件的性能,如减 小接触电阻、提高器件稳定性等 。
03
肖特基结模型适用于描述金属 和p型半导体之间的接触。
06
金属和半导体的接触实验 研究
实验设备和方法
实验设备
高真空镀膜系统、电子显微镜、 霍尔效应测量仪等。
实验方法
制备金属薄膜,将其与半导体材 料进行接触,观察接触表面的形 貌、电子输运特性等。
实验结果分析
接触表面的形貌分析
通过电子显微镜观察接触表面的微观结构, 了解金属与半导体之间的相互作用。
详细描述
当金属与半导体相接触时,由于金属和半导体的功函数不同,会产生电子的转移。这种电子的转移会 导致在接触区域形成一个势垒,阻碍电子的流动,从而产生接触电阻。接触电阻的大小与金属和半导 体的性质、接触面的清洁度、温度等因素有关。
热导率
总结词
热导率是指材料传导热量的能力,金属 和半导体的热导率差异较大,这会影响 它们之间的热交换效率。
详细描述
欧姆接触的形成需要满足一定的条件,包括金属与半导体之间要有良好的化学相容性和冶金相容性,以及半导体 内部载流子浓度要足够高。欧姆接触在集成电路和电子器件中具有广泛应用。
隧道结
总结词
隧道结是指金属和半导体之间形成的 具有隧道传输特性的结,当外加电压 达到一定阈值时,电流可以通过隧道 效应穿过势垒。
2
这个接触势垒会影响金属和半导体之间的电流传 输和热传导,进而影响电子器件的性能。
半导体物理:金属和半导体的接触
Wm<Ws
n型反阻挡层(理想欧姆接触)
半导体表面带负电,空间电荷区电场的方向由半导体表面指向 体内,表面电子的能量低于体内,能带向下弯曲,表面处电子 浓度远大于体内。所以此时的空间电荷区是一个很薄的高电导 层,称之为反阻挡层(表面电子积累),对半导体和金属的接 触电阻影响很小。
在空间电荷区内便存在一定的电场,造成能带弯曲,使半 导体表面和内部之间存在电势差Vs,即表面势。
这时接触电势差一部分降落在空间电荷区,另一部分降落 在金属和半导体表面之间。
Ws
Wm q
Vms
Vs
若D小到可以与原子间 距相比较,电子可自由 穿过间隙
接触电势差绝大部分降 落在空间电荷区。
电子亲合能X
定义:E0与Ec之差
E0 EC
半导体功函数
半导体功函数
Ws E0 (EF )s
电子亲合能,它表示要使半导
体导带底的电子逸出体外所 需要的
Ws [Ec (EF )s ] En
En Ec (EF )s
n
=
En q
半导体的功函数与杂质浓度的关系
的流动。
它们之间的电势差完全补偿了原来费米能级的不同
Vms
Vm
Vs Ws
Wm q
随着D的减小,靠近半导体一侧的金属表面负电荷密度增 加,同时,靠近金属一侧的半导体表面的正电荷密度也随 之增加。
由于半导体中电荷密度的限制,这些正电荷分布在半导体 表面相当厚的一层表面层内,即空间电荷区。
半导体中的电子将向金属流动,使金属表面带负电,半导体表
半导体物理西交课件-金属和半导体的接触
金半接触整流理论
所需vx方向最小速度为: 2q (VD − V ) vx 0 = * m n 所以从半导体到金属的电流密度为:
* n 3/ 2
(7-34)
* 2 2 mn ∞ ∞ ∞ (v x + vy + vz2 ) m J s →m = qn0 dvx ∫−∞ dvz ∫−∞ dv y ∫vx 0 vx exp − 2k0T 2π k0T (7-35) qφns qV * 2 = A T exp − exp k T k T 0 0 * 2 其中: 4 π qm * n k0 (7-36) A = 3
形式与扩散理论相同,不同的是 JsT 与外加电压无关, 却强烈依赖于温度
金半接触整流理论
n
镜像力和隧道效应的影响
q2 镜像势 = − 16πε 0 x 所以电子电势能:
qN D 2 2 − qφ ( x) = 镜像势 − qV ( x) = − ( x − 2 xxd + xd ) 2ε
镜像力影响:
(7-9)
金 属
N-半导体
肖特基势垒高度:
qφns
金半接触及其能带图
金属-n型接触 电子反阻挡层
Wm < Ws
金属-p型接触 空穴阻挡层
Wm > Ws
eφm
金属-p型接触 空穴反阻挡层
eχ
eφm
Ec Ec Ei EF Ev
EF
eφ ps
Wm < Ws
Ei EF Ev
金半接触及其能带图
n型和p型阻挡层形成条件
其中:
1 * 2 E − Ec = mn v 2 * dE = mn vdv
第七章 金属-半导体接触
若 xd0 xm, 从上式得到
xm
1
4(NDxd0)1/2
势能的极大值小于qΦns。这说明,镜象力使 势垒顶向内移动,并且引起势垒的降低 q 。
q q2 rN 0 Dm m xd1 4 2 q 27N r 3D 0 3V D V 1/4
镜像力所引起的势垒降低量随反向电压的增加 而缓慢地增大 当反向电压较高时,势垒的降低变得明显, 镜像力的影响显得重要。
E F E V ( 0 ) ( E C E F )
则 p(0) 值应和 n0 值相近,n(0)也近似等于p0
势垒中空穴和电子所处的情况几乎完全相同,只 是空穴的势垒顶在阻挡层的内边界。
在加正向电压时,空穴将流向半导体,但它们并
不能立即复合,必然要在阻挡层内界形成一定的积 累,然后再依靠扩散运动继续进入半导体内部。
2、金属半导体接触整流理论
整流理论-阻挡层 平衡态阻挡层—无净电流
从半导体进入 金属的电子流
从金属进入 半导体的电子流
在金属和半导体之间
加上外加电压?
-q(Vs+V)
qVD
以n型半导体为例:
qΦns
Ec
阻挡层为高阻区域
—外加电压主要降落在阻挡层
(EF)s
平衡态时:表面势VS<0 势垒高度qVD=-qVs 外加正电压:V>0
2
xc
隧道效应引起的势垒降低为
2qr3N0DVDV1/2xc
反向电压较高时,势垒的降低才明显
④肖特基势垒二极管
肖特基势垒二极管: 利用金属-半导体整流接触特性制成的二极管。 肖特基势垒二极管与pn结二极管的区别: (1)多数载流子器件和少数载流子器件 (2)无电荷存贮效应和有电荷存贮效应 (3)高频特性好。 (4)正向导通电压小。
第七章 金属和半导体的接触
第七章金属和半导体的接触金属—半导体接触指由金属和半导体互相接触而形成的结构,简称M-S 接触。
主要的金属与半导体接触类型:1、单向导电性的整流接触2、欧姆接触§7.1M-S 接触的势垒模型一、功函数和电子亲和能要使一个电子能够逸出金属表面(即能够达到0E 以上的能级),需要给予电子的能量最少应为0m Fm W E E =−,m W 称为金属的功函数或逸出功。
半导体的功函数为0S FSW E E =−半导体的电子亲和势为0C E E χ=−,表示要使半导体导带底的电子逸出体外所需要的最小能量。
此时半导体的功函数又可以表示为:[]S C FS n W E E E χχ=+−=+。
二、理想的M-S 接触的势垒模型假设:①在半导体表面不存在表面态;②M-S 接触之间没有绝缘层或绝缘层很薄(1020o~A )的紧密接触的理想情况。
以金属和n 型半导体的接触为例:1、S mW W <若m S W W >,电子从半导体一侧流向金属一侧,在半导体表面形成正的空间电荷区,产生自建电场,形成负的表面势(从半导体表面到半导体内部的电势之差),能带向上弯曲,形成表面势垒(阻挡层)。
用D V 表示从半导体内部到界面的电势差,则半导体一侧的电子所面临的势垒高度为:D S m s qV qV W W =−=−,称为表面势垒或肖特基势垒;金属一侧的电子所面临的势垒高度为ns D n m q qV E W φχ=+=−2、m SW W <在n 型半导体表面处形成一个高电导区,称为反阻挡层。
金属和p 型半导体接触时:当m S W W >时,表面处能带向上弯曲,形成空穴的反阻挡层;当m S W W <时,表面处能带向下弯曲,形成p 型阻挡层。
三、表面态对接触势垒的影响巴丁最早提出了M-S 接触中有表面态影响的模型,称为巴丁势垒模型。
在半导体表面处的禁带中存在着表面态,对应的能级称为表面能级。
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P型半导体阻挡层 型半导体阻挡层 由于(V 由于 s) 0>0, 正向电压和反向电压极性正好与n型阻挡层相反。 正向电压和反向电压极性正好与 型阻挡层相反。 型阻挡层相反 V<0 形成从半导体流到金属的正向电流; 形成从半导体流到金属的正向电流 半导体流到金属的正向电流; V>0 形成从金属流到半导体的反向电流 形成从金属流到半导体的反向电流 金属流到半导体的
Ws=χ+Ec-EF= χ+ En χ
若一块金属和一块n型半导体,具有共同的真空静止能级, 若一块金属和一块 型半导体,具有共同的真空静止能级, 型半导体 金属功函数) 半导体功函数)。 且(金属功函数)Wm>Ws (半导体功函数)。 接触前: 接触前: 接触后: 接触后:
特征: 特征:
特征: 接触后, 特征:1)接触后,半导体中
若半导体表面无表面态 若半导体表面无表面态
Ws =χ+En χ
若存在表面态,既使不与金属接触, 若存在表面态,既使不与金属接触, 也形成势垒, 也形成势垒,
Ws =χ+ qVD+ En χ
表面态浓度很高时
Ws =χ+ Eg + qφ0, 与受主浓度无关。 χ φ 与受主浓度无关。 N型半导体与金属接触时,流向金属的电子主要由表 型半导体与金属接触时, 型半导体与金属接触时 面态提供。 面态提供。
表面态浓度很高时,可放出足够多电子, 表面态浓度很高时,可放出足够多电子,半导体势垒区几乎不 发生变化。 发生变化。使半导体表面的势垒高度几乎与金属功函数无关
当半导体表面的密度很高时, 当半导体表面的密度很高时,可屏 蔽金属接触的影响, 蔽金属接触的影响,使半导体内的 势垒高度与金属的功函数无关, 势垒高度与金属的功函数无关, 基 本上由半导体表面的性质决定。 本上由半导体表面的性质决定。
V>0, qV>>k0T V<0, qV >>k0T
J = − J sD
JsD随电压而变化,并不饱和。 电压而变化,并不饱和。 对氧化亚铜,载流子迁移率小,平均自由程短,扩散理论适用。 对氧化亚铜,载流子迁移率小,平均自由程短,扩散理论适用。
7.2.2 热电子学发射理论 型阻挡层很薄, 电子平均自由程λ 当n型阻挡层很薄,使电子平均自由程λ>>xd时,电 型阻挡层很薄 子在势垒区的碰撞可忽略。 子在势垒区的碰撞可忽略。 当半导体中电子能量 势垒高度 当半导体中电子能量E>势垒高度,可越过势垒进入 电子能量 势垒高度, 金属。 金属。 同时。金属中电子也可以进入半导体。 同时。金属中电子也可以进入半导体。
2
dV E ( x) = − dx
半导体内电场为零, 半导体内电场为零,E(xd)=0 选金属费米能级E 选金属费米能级 fm/(-q)为电势零点 为电势零点 V(0)=-φns φ
dV qN D E ( xd ) = − = ( x − xd ) dx ε 0ε r 1 2 V ( x) = ( xxd − x ) − φns 2 ε 0ε r
第七章 金属和半导体接触
7.1 金属半导体接触及其能级图; 金属半导体接触及其能级图; 7.2 金属半导体接触整流理论 7.3 少数载流子注入和欧姆接触
7.1 金半接触及其能带图
0k时,金属:E<EF时,能级填满 时 金属: 一定温度T下 金属中 一定温度 下,金属中EF附近电 子热激发,跃迁到E>EF的能级 E>EF时,能级全空 子热激发,跃迁到 金属内部的电子好像在势阱中 运动。 运动。
D很小时,Vs=(Ws –Wm)/q 很小时, 很小时 半导体一侧的势垒高度为: 半导体一侧的势垒高度为: qVD =-qVs=(Wm –Ws) 其中, 其中,Vs〈0
金属一侧的势垒高度为: 金属一侧的势垒高度为:
qφns=qVs +En= (Wm –Ws)+En φ = Wm –χ χ
Ws=χ+ En χ
施主表面态:释放电子呈正电性; 施主表面态:释放电子呈正电性; 正电性 受主表面态:接受电子呈负电性; 受主表面态:接受电子呈负电性; 负电性 表面态具有表面能级, 表面态具有表面能级,距价带顶qφ0 φ
电子正好填满qφ 以下所有表 电子正好填满 φ0 以下所有 表 电中性; 面态时,表面电中性 面态时,表面电中性; qφ0以下所有表面态空着时,表面带 φ 以下所有表面态空着时 表面态空着时, 正电,呈施主; 正电,呈施主; qφ0以上表面态被电子填满时,表面 φ 以上表面态被电子填满时 表面态被电子填满时, 带负电,呈受主; 带负电,呈受主;
3. 能带向下弯曲,表面形成势 能带向下弯曲, 3. 能带向上弯曲,表面形成势垒; 垒 能带向上弯曲,表面形成势垒; 4. 势垒区由电离施主而成,形成 4. 势垒区电子大于体内,形成 势垒区由电离施主而成, 势垒区电子大于体内, 高阻区,常称阻挡层 阻挡层。 高阻区,常称阻挡层。 高电导区,常称反阻挡层 反阻挡层。 高电导区,常称反阻挡层。
紧密接触时, 紧密接触时,接触电势差一部分降 落在半导体表面以内, 落在半导体表面以内,金属功函数 对表面势垒产生的影响程度不大。 对表面势垒产生的影响程度不大。 WM<WS时,也可形成阻挡层。 也可形成阻挡层。
7.2 金属半导体接触的整流理论 阻挡层的整流理论 金属半导体接触的整流理论-阻挡层的整流理论 金半接触动态平衡时,具有统一费米能级,无净电流流过。 金半接触动态平衡时,具有统一费米能级,无净电流流过。 势垒高度为 势垒高度为 -q(Vs) 0 (Vs) 0为半导体表面和内部的电势差 外加偏压V下 外加偏压 下, 电压主要降落在高阻 的阻挡层, 的阻挡层,无统一费米能级有净电流 流过 电子势垒高度为 电子势垒高度为 -q[(Vs) 0+V],
Vs〈0Vs>0 Nhomakorabea1. 电子从半导体流向金属,表 电子从半导体流向金属, 面形成正的空间电荷区; 面形成正的空间电荷区 2. E由体内指向表面; 由体内指向表面; 由体内指向表面
1. 电子从金属流向半导体,表 电子从金属流向半导体, 面形成负的空间电荷区; 面形成负的空间电荷区 2. E由表面指向体内; 由表面指向体内; 由表面指向体内
N型阻挡层, (Vs) 0<0, 型阻挡层, 型阻挡层 因此,加正向偏压(V>0),势垒高度降 因此,加正向偏压 , 为-q[(Vs) 0+V], 从半导体流到金属电子〉从金属流到半导 体的电子, 形成正向电流 正向电流。 体的电子 形成正向电流。 V越大,正向电流也越大。 越大, 越大 正向电流也越大。 加反向偏压(V<0),( (Vs) 0与V )同号, ,( 同号, 加反向偏压 势垒高度升为-q[(Vs) 0+V], 势垒高度升为 从半导体流到金属电子<从金属流到半 反向电流。 导体的电子, 形成反向电流 导体的电子, 形成反向电流。 由于金属中只有少部分电子越过高势垒 到半导体,反向电流很小。 到半导体,反向电流很小。
金属与p型半导体接触时,情况刚好相反。 金属与 型半导体接触时,情况刚好相反。 型半导体接触时
Vs>0
Vs〈0
1. 能带向下弯曲; 能带向下弯曲; 2. 形成 型阻挡层。 形成p型阻挡层。
1. 能带向上弯曲; 能带向上弯曲; 2. 形成 型反阻挡层。 形成p型反阻挡层。
对一定半导体,亲和势χ一定。 对一定半导体,亲和势χ一定。 理论上,金属材料不同,功函数Wm不 理论上, 金属材料不同, 功函数 势垒高度也不同。 同,势垒高度也不同。 实际上,虽然金属功函数W 实际上,虽然金属功函数 m差别较大 不同,势垒高度差别不大。 不同,势垒高度差别不大。 由于半导体表面存在表面态的缘故 由于半导体表面存在表面态的缘故 半导体表面存在表面态
正向电流均有多数载流子由半导体流到金属。 正向电流均有多数载流子由半导体流到金属。 多数载流子由半导体流到金属
7.2.1 扩散理论 N型半导体 型半导体 设势垒宽度x 设势垒宽度 d>ln; 厚阻挡层, 厚阻挡层,电子多次碰撞后通过 电子具有扩散和漂移运动
qN D (0 ≤ x ≤ xd ) d V − = ε 0ε r 2 dx 0( xd < x)
dn( x) J = q[n( x) µ n E ( x) + Dn ] dx
q µn = Dn k0T
qn( x) dV ( x) dn( x) = qDn [− + ] k0T dx dx
1 2 V ( x) = ( xxd − x ) − φns ε 0ε r 2 qN D
X=xd时
qN D 2 V ( xd ) = x d − φns 2ε 0ε r
D越小,靠近半导体的金属表面负电荷密度增加 越小,靠近半导体的金属表面负电荷密度增加 越小 靠近金属的半导体表面正电荷密度增加。 靠近金属的半导体表面正电荷密度增加。 正电荷密度增加 半导体表面的正电荷分布在一定厚的表面层内, 半导体表面的正电荷分布在一定厚的表面层内,即 正电荷分布在一定厚的表面层内 空间电荷区。空间电荷区内存在一定电场, 空间电荷区。空间电荷区内存在一定电场,造成能 弯曲。使表面和内部存在电势差V 带弯曲。使表面和内部存在电势差 s. 接触电势差= 接触电势差 Vs+Vms (Vs + VmS)=(Ws –Wm)/q D很小时, VmS很小,接触电 很小时, 很小, 很小时 势差主要降落在空间电荷区。 势差主要降落在空间电荷区。
V(xd)=-(φns+V) φ 而 φns= φn+ VD
qN D
2ε 0ε r (Vs 0 + V ) 1/ 2 xd = [ − ] qN D 2ε 0ε r (Vs 0 ) 1/ 2 xd V = 0 = xd 0 = [ − ] qN D
Xd是V的函数,当V与 的函数, 的函数 与 Vs0符号相同时,势垒升 符号相同时, 宽度(厚度 增加, 厚度)增加 高,宽度 厚度 增加, 厚度依赖于外加电压的势 垒,称为肖特基势垒