光学系统杂散光分析

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硬性内窥镜光学系统的杂散光分析与抑制

硬性内窥镜光学系统的杂散光分析与抑制
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Ab s t r a c t : On t h e s t r uc t u r e o f o pt i c al s ys t e m ,t he c au s e s o f s t r a y l i g ht o f a r i gi d e n d os c o pe a nd i t s s u p — pr e s s i on me t h od s we r e e x pl o r e d t o e l i mi n a t e t he s t r a y l i g ht a nd t o i mpr o ve i t s i ma g i ng p e r f o r ma nc e . Fi r s t l y,t he s t r a y l i gh t i n t h e o pt i c a l a n d me c h a ni c a l s y s t e m wa s s i m ul a t e d a nd a na l yz e d by r a y t r a c i n g i n Li g ht t oo l s . By a na l y s i s of t h e s t r a y l i g ht pa t h,i t po i nt s ou t t ha t t he s t r a y l i g ht of t h e o pt i c a l s ys —
第 2 2卷
第 3期
光学 精 密工程
Op t i c s a n d P r e c i s i o n En g i n e e r i n g

杂散光原因与处理方式ppt课件

杂散光原因与处理方式ppt课件
杂散光原因与 处理方式
杂散光产生原因
由像面离焦或者 是由明亮的光源 成鬼影一样的像
透镜表面反射
鬼像
解决办法:镜片镀膜
上双胶合透镜:有镀膜 下双交合:无镀膜
杂散光产生原因
直接 入射
视场以外的光线直接越 过次镜,穿越主镜的开 孔,从而以杂散光的形 式直接照射到焦平面上
杂散光产生原因
多次 散射
杂散 光源
一次 散射
部分散射光线经过 光学系统之后,会 照射到焦平面
设计遮光罩
项Байду номын сангаас中淆杂措施总 结 1.聚光镜中光阑优化
B
B
A
A
(a) 优化前
(b) 优化后
C
项目中淆杂措施总结
2.分光元件消杂处理
CCD 物镜 成像光线 物面 a b 光源
杂散光线
项目中淆杂措施总结
3.光拦形状优化
杂散光线 成像光线 杂散光线
B
C A
尺寸A
光通量
衬度较差 边缘处均匀性差 “漂白”现象
尺寸B
杂光反射次数
项目中淆杂措施总结
杂散光线 D
成像光线
杂散光线 C
B
A
消杂原理:反射消杂光
项目中淆杂措施总结
4.机械工艺
结合实验室仪器 散光螺纹—考虑制造工艺与实 验效果 表面氧化处理—反射系数0.05

星敏感器杂散光分析与抑制

星敏感器杂散光分析与抑制

摘要摘要在航空航天领域,用于确定飞行器姿态的星敏感器得到广泛的应用。

由于复杂的太空光环境导致进入星敏感器的杂散光较为复杂,杂散光的抑制水平决定了星敏感器的定姿精度。

杂散光对于暗弱目标的探测影响很大,到达探测器表面的杂散光会降低像面对比度,增加背景噪声,严重时使探测目标信号被湮没。

基于以上背景,在查阅大量文献的基础上,本文分析了复杂太空光环境的来源和路径,确定了杂散光分析的步骤,介绍了影响杂散光路径的散射模型并提出了杂散光抑制水平的评价函数。

在阅读大量文献后,开展了以下几个方面的研究工作:1)运用不同类型的遮光罩和挡光环设计原理,确定不同位置挡光环的分布。

利用MATLAB软件将遮光罩和挡光环设计程序化,根据设计要求快速得到相关参数并导入ASAP软件中建模。

利用消光比和点源透射率两种评价方式,对系统中三种不同类型的遮光罩进行分析,绘出消光比和点源透射率关于光线离轴角的变化曲线,为遮光罩的设计提供理论分析依据。

利用遮光罩程序设计一种新型遮光罩,设计参数与系统内的遮光罩参数相同,对比两种遮光罩的消光比和点源透射率,得出新型遮光罩优于原遮光罩的结论。

2)采用蒙特卡罗法和重点区域采样法仿真分析。

利用散射特性测量仪器对结构的散射特性进行实测并建立多项式散射模型,散射模型建立的准确与否严重影响杂散光仿真分析的准确性。

讨论了透镜散射模型的建立和结构件散射模型方程的选择。

利用ASAP软件对工作波段为可见光的简单星敏感器系统和复杂星敏感器系统进行杂散光分析,在验证建模准确、散射模型准确、重点区域选择准确等前提下仿真得到不同光线离轴角下点源透射率的数值,与设计要求进行对比。

3)利用基于双柱罐的点源透射率测试方法,这是一种国外测量点源透射率较为普遍的测试方法。

介绍了点源透射率测试的设备、方法和测试步骤。

对可见光简单星敏感器光学系统的点源透射率实测,得出点源透射率的实测数据并绘制曲线与仿真分析数值对比,分析误差。

通过对比后,利用验证分析的评价指标,仿真值与分析值相互验证,实测表明仿真分析的正确性。

消除杂散光的技术

消除杂散光的技术

消除杂散光的技术在光学领域,杂散光一直是个让人头疼的问题。

就像不请自来的“捣蛋鬼”,总是在关键时刻出来捣乱,影响我们对目标物体的观测和分析。

先来说说杂散光到底是啥。

简单来讲,杂散光就是那些不应该出现在我们观测视野中的光。

它可能来自各种意想不到的地方,比如光学系统中的反射、散射,或者外部环境的干扰。

想象一下,你正在欣赏一场精彩的星空秀,突然一道莫名其妙的光闯入你的视野,瞬间破坏了整个美妙的画面。

这就是杂散光的“威力”。

那么,怎么消除这个讨厌的家伙呢?首先,我们可以从光学系统的设计入手。

就像盖房子要打好地基一样,一个好的光学系统设计是消除杂散光的关键。

在设计过程中,要尽量减少反射和散射的可能性。

比如说,可以采用特殊的涂层来降低表面反射,或者优化光学元件的形状和布局,避免不必要的光线反射。

这就好比给光学系统穿上了一层“隐形衣”,让杂散光无从下手。

其次,对光学元件进行严格的质量控制也是必不可少的。

如果光学元件本身存在缺陷,比如表面粗糙、有划痕等,就很容易产生杂散光。

所以,在选择光学元件时,一定要挑那些质量上乘、做工精细的“宝贝”。

可别为了省钱而随便选个“地摊货”,不然到时候被杂散光折磨得欲哭无泪可就后悔莫及了。

另外,外部环境的控制也不能忽视。

有时候,杂散光可能是从外部环境中偷偷溜进来的。

比如,在进行观测时,如果周围有强光照射,就很容易产生杂散光。

这时候,我们可以采取一些措施来遮挡外部光线,比如使用遮光罩、窗帘等。

就像给光学系统搭个“小帐篷”,让它免受外界干扰。

在实际操作中,我也有一些自己的小经验。

比如说,在安装光学系统时,一定要仔细检查各个部件的连接是否紧密,避免出现缝隙导致杂散光进入。

还有,定期对光学系统进行清洁和维护也是很重要的,不然灰尘和污渍也可能会成为杂散光的来源。

总之,消除杂散光是一项需要耐心和细心的工作。

只有从光学系统的设计、元件的选择、外部环境的控制等多个方面入手,才能有效地把这个“捣蛋鬼”赶走。

TracePro镜头杂散光分析优势

TracePro镜头杂散光分析优势

27.07.2020
讯技光电科技(上海)有限公司
7
Sort ray path
• 将到达观察面的光线作分类,可轻松判断并找出在那 个面上产生杂散光
鬼像由这两个面造成
27.07.2020
讯技光电科技(上海)有限公司
8
Ray History&Flux report
• 统计所有光线或是特定光线(可自选)所有数据,包 含光线自光源射出后至每个面的坐标位置、能量、方 向以及经过哪些表面等数据数据。并计算每个面所接 收到的能量、损失的能量或是吸收的能量等数据。
TracePro镜头杂散光分析优势
业务代表:angie@ 技术支持:support@
27.07.2020
讯技光电科技(上海)有限公司
1
镜头杂散光分析
• TracePro可以处理哪 些杂散光
• TracePro如何建立镜 头模型
• 如何描述散射模型 • 杂散光分析
小时,视场外的光也会通过A.S.到达成像面 – 红外系统中的自体辐射:由仪器本身的辐射热产
27.07.2020
讯技光电科技(上海)有限公司
3
轻松建立模型
• 利用OSLO,ZEMAX,CodeV等软件设计好镜头可直接转 入TracePro中,其中包含了材料的转换。
• 以SolidWorks或是Pro/E或其它CAD软件建立好机构模 型,再以TracePro轻松开启。(也可利用Solidworks bridge直接在Solidworks中设置模拟)
ห้องสมุดไป่ตู้
27.07.2020
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BitMap Source分析
• 可利用BMP或JPG图档转换为TracePro的光源,仿真实 际图像经过镜头后之成像效果

ASAP物理光学与杂散光分析 - 20140708

ASAP物理光学与杂散光分析 - 20140708

将照片变成光源来进行成像系统评估
Light Source Model from CCD camera (.bmp file imported into ASAP)
ASAP Optical System Model
2015/3/2
Copyright © Wuhan Asdoptics Science And Technology Co.,Ltd
2015/3/2 Copyright © Wuhan Asdoptics Science And Technology Co.,Ltd slide 2
经历
• He received a B.S. in mathematics from Yale University, and M.S. and Ph.D. in optical sciences from the University of Arizona under Dr. Roland Shack. • APART™ 传承下来的。 ASAP 当年不少软件中,唯一
slide 11
赋予导入模型的光学属性(材料和膜层)
散射和菲涅耳公式 光线分裂
2015/3/2
Copyright © Wuhan Asdoptics Science And Technology Co.,Ltd
slide 12
查看3D图形
2015/3/2
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2015/3/2
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slide 7
支持导入CAD文件

库克三反射离轴望远镜杂散光分析

库克三反射离轴望远镜杂散光分析

关键 词 点 源 透 过 率 杂散 光
散 射
反 射 离 轴望 远 镜
中图 法 分 类 号
T l3 文 献 标 识码 B3 :

离轴 反射 系统分 为有 和 没有 中间像 面两 类 : 有 中 间像 面 的一类 是 格 里哥 里 两反 射 系统 的延 伸 : 没 有 中间 像 面的 一类 为库克 反射 系统 . 阑加 在 光 次镜上 。从 杂散 光 的角度来 看 , 前者 优于 后者 。 近2 年来 , 来 越 多 的遥感 光学 系 统采 用 了离 0 越
特性分 析 的 文献很 少 。常 军 半 定 量化分 析 了有 中 间像 面 的一 类 离轴 反射 系 统 的杂 散 光特 性 , 论 结
镜、 次镜 和 镜 , 阑设 在 次镜 上 . 中 间 像 , 学 光 无 光
入 口处 设有遮 光 罩 . 扫描 镜 用于扩 大 视场
是可 以很好 地控 制 杂散 光 。 日本 先进 气象 卫星 成像
图 l 库 克 反 射 离 轴望 远 镜 的几 何 模 型
1 镜 面的 杂散 光模型 . 2
根据 镜 面 加工 T 艺 , 扫描 镜 、 主镜 、 镜 和 t镜 次 的镜 面粗 糙 度近 似 为9l 这 个粗 糙 度远 远 小 于 入 m, q 射 光 的波长 , 以用 哈维模 型描叙 杂散 光属性 : 可
2 2 83
率 , 为下跌 角 。 L 根据 镜 面加 工 工 艺 和一 些 公 开发 表 的 资料 . 可 以合理地 假定s 一 .,= . l 这样b= . 1 =1 LO 0, 5 O 01 4 。 7
11 12 1 14 16 1 :’ 18 '口 2 3 6 7 0 22 23 24 26 2B 2 28 29 7

大功率激光光学系统杂散光分析的数据结构

大功率激光光学系统杂散光分析的数据结构
维普资讯
第3 2卷 第 5期
20 0 2年 1 O月
激 光 与 红 外
L E AS R & I RARED NF
Vo . 2. . 1 3 No 5 Oc o e , 0 2 tb r2 0
文 章 编 号 :0 15 7 ( 0 2 0 -2 50 10 -0 8 20 ) 50 9 -2
L iot g , E h ofn HE Z i ig , HU Q — u Z AN igq a IX a — n C N Z a . g , h— n Z i a , H G Q n —u n o e p h
( . t eKe a f d m pia nt m nain Z ei gUnvr t, a ghu3 0 2 , hn ; 1 Sa yL bo e O t lIs u e t o , hj n iesy H n zo 0 7 C ia t Mo c r t a i 1
2 R sac etro ae uin C E , ayn 2 9 0 C ia . eerhC ne f sr s , A P Mina g6 10 , hn ) L F o Abta tI ep prtem te a c o e a dagr m o t yl h a sd b lie e t ni g o e src : t a e a m t a m l n oi fs a gtcue ymutrf ci nhh pw r nh h h il d l t h r i —l o i
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近日,完成了成像和非成像方面完整的杂散光实例分析,并总结如下。

下文仅是一家之言,仅供大家参考。

谢绝转载。

杂散光(Stray light)是光学系统中不受欢迎的光线。

成像系统和非成像系统都存在杂散光问题,甚至人眼都有这个问题。

杂散光主要表现形式有:
鬼像(Ghost):由光学表面的多次反射光形成。

散射光线。

来源自光学元件,机械表面(主要来源):镜头外壳,固定支架,遮光罩,拦光挡片等。

遮光罩使用不当出现的漏光。

杂散光的其它来源:
衍射:由遮光罩边缘引起的衍射;另外,由于衍射元件通常只处理一阶衍射,其余阶就成为杂散光的来源了。

Lyout光栏是天文望远镜中消除衍射效应的典型器件。

热效应:探测器因环境因素,或机械结构和系统硬件引起的热效应而产生杂散信号。

杂光(Veiling Glare)是到达成像系统传感器的杂散光,会导致成像系统性能的衰减。

杂光主要有两种成分:散射光和鬼像。

一次反射鬼像影响最大的是高功率激光系统,二次反射鬼像主要影响成像系统和红外系统。

鬼像又分鬼像焦点像(ghost focus images)和鬼像光瞳像(Ghost pupil images)。

前者是由物面形成的,后者由光瞳形成的。

由于光瞳是系统全视场能量积分处,所以其影响可能也会很大。

对于高功率激光系统而言,除了要避免成像光路形成的内焦点,还要避免鬼像光路形成的鬼像内焦点。

鬼像分析可分为轴上点近轴光路分析和照明方式的分析。

前者就是用成像软件进行鬼像光路分析完成。

照明方式分析,实际就是采用商用照明软件所使用的“二叉树”(分裂光线)方法完成。

一般而言,应用成像软件进行鬼像光路分析,还可以优化光学系统结构,比如:ZEMAX、CODE V;照明可以完成杂光系数分析,当然,有一些照明软件也可以优化机械结构,比如LT、ASAP。

几种消杂光的办法如下:
1、更改光学类型,优化系统结构,或优化机械结构
2、增加消杂光光栏
3、用螺纹消杂光
4、对镜筒内壁采用无光发黑氧化,或者喷无光漆,或贴消光绒毛。

5、对产生严重鬼像的光学面镀增透膜。

6、使用合理的遮光罩
7、透镜镜片边缘涂黑处理。

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