第4章 局部放电测量的基本原理
局部放电检测的基本原理
Ck Zd
Parallel circuit
o A
8
2. The Detection Impedance
Functions: (1) to transfer the impulse current into voltage and 取得局部放电所产生的高频脉冲信号 (2) to suppress the interferences of power frequency and harmonic from source.
Cv Cd Cx (1 Cd Ck )
灵敏度最大的条件为Cd≈0及Ck>>Cd
d
17
3. The Amplification of Impulses
3.1 Classification of amplifier
(1)wide-band and low-frequency amplifier 宽频带和低频放大
impulse become so sharp and will not be amplified fully in some amplifier, which
result in smaller impulse amplitude →sensitivity↘.
测量得到脉冲高度虽然与Rd无关，但降低Rd会使得脉冲下降变快，频谱变宽，对 放大器要求高，降低灵敏度.
Udm
1 fd 2 2RdCt
h
1 Rd Ct
3dB
ud m
U dm
2
t If considering the rising edge of impulse
h
fd2
, f
Frequency spectrum of RC circuit
电力设备局部放电检测原理分析
电力设备局部放电检测原理分析摘要：电力设备在绝缘材料完好时，其内部会有一定的场强分布不均，若其绝缘材料存在缺陷，运行后将加剧场强分布不均。
分布不均的电场造成设备内部存在电位差，在绝缘材料中部分区域引起电荷积累与释放，就是局部放电的过程。
局部放电初期只是电荷堆积，电荷堆积到局部放电点的场强超过介质击穿场强时，电力设备内部的绝缘材料会发生击穿放电，造成绝缘材料损坏。
局部放电检测是检测这些早期放电伴随的物理量，从而确定绝缘材料是否存在缺陷，防止早期的缺陷在局部放电的侵蚀下造成设备绝缘材料进一步损坏。
电力设备出现绝缘缺陷会产生局部放电进而侵蚀绝缘材料，如不及时处理，将导致绝缘材料被击穿，造成电力事故，有效的检修方式可以保证电力系统稳定运行。
定期巡检作为传统的检修方式，检修时间较长，不利于电网稳定运行。
因此，研究实时在线监测系统提高检修效率具有重要意义。
本文着重介绍了电力设备局部放电的检测原理。
关键词：局部放电；特高频；检测原理；1.引言随着经济的发展，我国对电能的需求逐年增长，保障安全稳定的供电成为了引人注目的重要一环。
近年来，世界各地屡有出现大面积停电及电网瓦解事故，不仅造成了较大的经济损失，还在一定程度上影响了人们正常生活，造成不良社会影响。
电力事故时有发生，设计绝缘缺陷在线监测系统，对电力设备绝缘状态进行实时监测并上报设备工作状态，可以及时发现电网设备绝缘隐患，从而保障电力安全。
变电站中包含变压器、开关设备、高压绝缘子等电气设备，而气体绝缘金属封闭开关系统（GIS）中包含包括断路器、互感器、避雷器、隔离开关及接地开关等电路元件，同时还涵盖了母线、连接元件、出线终端等部分，简言之，GIS是将除变压器以外的所有一次设备全封闭在充满了超过3个大气压强的六氟化硫气体的接地的金属外壳中，GIS的出现替代了许多传统老式变电站的裸露导线与电气设备连接的方式。
电力设备的检修技术要求很高，目前超声波检测在电力行业应用广泛，但超声波抗干扰能力弱易受机械振动干扰，存在检测效率低、检修不准确易报错故障等问题。
电力设备局部放电测试原理及布置、测试测点接线方式、局部放电信号、干扰信号典型图谱、放电量评价
a）电缆 10
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b）环网柜
c）变压器
图A.3 高频电流法现场测试布置图 A.3 超高频法现场测试原理及布置 A.3.1 测试原理
当电缆或者电缆附件内发生局放时，会向周围空间辐射出高频电磁波，理论研究表明，该电磁波频 率高达GHz。在运行现场，可以采用超高频法检测局部放电，并选择在信噪比高的频段进行测量，从而 可以有效避免干扰的影响。超高频检测法可通过超宽频频带天线或传感器来检测。值得注意的是，超高 频下信号的衰减要比低频信号严重的多，一般只能在电缆中传输几米，所以安装传感器时尽量安装在靠 近电缆的接头或端部处。由于超高频检测法无法准确获得放电电压相位信息，因此多采用内同步方式获 得电压相位参考信息。 A.3.2 传感器布置
表 E.1 一些电力设备的局部放电注意值
名称 电力变压器 电力电缆
开关柜 旋转电机
电压等级/kV 10 10
3～10 3～10
高频测试注意值/pC 500 100 200 500
超声波测试注意值/mV 100 80 100 100
特高频测试注意值/mV 150 80 150 120
E.2 现场检测方法
测试点；
20
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c) 对发现异常信号的测试点（接头）两边相邻的电缆附件进行测试，通过 3 个测试点的检测信号 比较分析，如信号幅值、上升沿时间、频率分布等来判断信号源的位置来自于哪一侧方向；
d) 对逐个中间接头测试，找到离局放源位置最近的电缆附件，然后通过分析该电缆附件检测到的 波形特征、频率分布、反射波时间等信息初步综合判断出局放源的位置；
局部放电的测量《高电压技术》课件知识介绍
03
局部放电的测量仪器
脉冲电流法测量仪器
脉冲电流法测量仪器是利用局部放电 时产生的脉冲电流信号来检测局部放 电的一种仪器。
该仪器具有较高的灵敏度和分辨率， 能够准确反映局部放电的特征和变化 趋势。
它通常由电流传感器、信号处理单元 和显示单元等组成，能够实时监测和 记录局部放电的强度、频率等信息。
电测法
总结词
通过测量局部放电产生的电信号来检测局部放电的方法。
详细描述
电测法是最常用的局部放电测量方法，通过在试品两端施加一定电压，测量试 品中的电信号，如电流、电压等参数的变化，从而判断局部放电的存在和程度。
光测法
总结词
通过测量局部放电产生的光信号来检测局部放电的方法。
详细描述
光测法利用局部放电过程中产生的光信号进行检测，通过测 量光信号的强度、波长等参数，可以判断局部放电的存在和 程度。
光学测量仪器广泛应用于高压 电气设备的局部放电检测和故 障诊断。
超声波测量仪器
01 02 03 04
超声波测量仪器是利用局部放电时产生的超声波信号来检测局部放电 的一种仪器。
它通常由超声波传感器、信号处理单元和显示单元等组成，能够实时 监测和记录局部放电的超声波信号强度、频率等信息。
该仪器具有非接触、远程检测等优点，能够准确反映局部放电的特征 和变化趋势。
案例三：GIS设备局部放电的测量
总结词
GIS设备是一种封闭式的高压电气设备，局部放电的测量对于保障GIS设备的正常运行 具有重要意义。
详细描述
GIS设备局部放电的测量通常采用超高频法、超声波法等，通过测量GIS设备中产Байду номын сангаас的 电磁波或声波信号，可以判断GIS设备是否存在局部放电。在测量过程中，需要注意
局部放电的测量(共6张PPT)
高电压技术
Cm：其余大部分绝缘的电容局部放电的特点：
介质发生局部放电时，伴随着许多电学和非电学现象。
这又些分现 为象直都接可法以与用平来衡判法断。局部放电介是否质存在发，因生此检局测方部法也放可分电为电时的和，非电伴的两随类。着许多电学和非电学现象。如电
介Cm质：发其生余局大部部放分电绝时缘，的伴电随容着许多脉电学冲和非的电学产现象生。 、介质损耗的增大及电磁波放射；光、热、噪
试品与检测阻抗
相串联的回路
第6页，共6页。
电桥平衡回路
高电压技术
高电压技术
局部放电的测量
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高电压技术
局部放电的概念和特点：
局部放电的概念： Partial Discharge，指在一定外施电压作用下，电气设
备内部绝缘弱点处发生的局部重复击穿和熄灭现象。 局部放电的危害：
局部放电发生在一个或几个绝缘内部缺陷中（如气隙或 气泡），在这个小空间内电场强度很大。虽然其放电能量很 小，短期内对设备的绝缘强度并不造成影响，但在工作电压 的长期影响下，局部放电会逐步扩大，并产生不良化合物， 使绝缘慢慢损坏，导致整个绝缘被击穿，发生突发性故障。
介质发生局部放电时，伴随着许多电学和非电学现象。
局部放电发生在一个或几个绝缘内部缺陷中（如气隙或气泡），在这个小空间内电场强度放电的测量
(a)具有气泡的介质剖面
一般：Cm>>Cg >> Cb
(b)等值电路
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高电压技术
脉冲电流法测PD的基本回路：
试品通过Ck后与检测阻抗并 联的回路
为电的和非电的两类。
Cm：其余大部分绝缘的电容
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新版第4章超声波局部放电检测技术-新版-精选.pdf
第四章超声波局部放电检测技术目录第一节超声波局部放电检测技术概述 (3)一、发展历程 (3)二、技术分类及特点 (4)三、应用情况 (5)第二节超声波局部放电检测技术基本原理 (6)一、超声波的基本知识 (6)二、超声波局部放电检测基本原理 (8)三、超声波局部放电检测装置组成及原理 (10)（一）硬件系统 (11)（二）软件系统 (13)第三节超声波局部放电检测及诊断方法 (15)一、检测方法 (15)（一）概述 (15)（二）超声波局部放电带电检测方法 (15)二、诊断方法 (22)（一）正常判断依据 (22)（二）有明显缺陷的判断依据 (23)（三）疑似缺陷判断依据 (23)（四）不同类型设备超声波局部放电的缺陷诊断 (24)第四节典型超声波局部放电案例分析 (27)一、110kV GIS设备导向杆松动检测 (27)（一）案例经过 (27)（二）检测分析方法 (27)（三）经验体会 (30)二、500kV变压器内部放电缺陷检测 (30)（一）案例经过 (30)（二）检测分析方法 (31)（三）经验体会 (33)三、10kV开关柜局部放电检测 (33)（一）案例经过 (33)（二）检测分析方法 (33)（三）经验体会 (36)参考文献 (37)第一节超声波局部放电检测技术概述一、发展历程超声波局部放电检测技术凭借其抗干扰能力及定位能力的优势，在众多的检测法中占有非常重要的地位。
超声波法用于变压器局部放电检测最早始于上世纪40年代，但因为灵敏度低，易于受到外界干扰等原因一直没有得到广泛的应用。
上世纪80年代以来随着微电子技术和信号处理技术的飞速发展，由于压电换能元件效率的提高和低噪声的集成元件放大器的应用，超声波法的灵敏度和抗干扰能力得到了很大提高，其在实际中的应用才重新得到重视。
挪威电科院的L.E.Lundgaard.从上世纪70年代末开始研究局部放电的超声检测法，并于1992年发表了介绍超声检测局部放电的基本理论及其在变压器、电容器、电缆、户外绝缘子、空气绝缘开关中的应用情况的文章。
局部放电试验原理
三、放电量与各参数间的关系
一个脉冲真实放电量qr,Ug Ur等参数在实际试品中是不可知的，同时绝缘缺陷各不相同,
故真实放电量是不可以直接测量的。
3规定的局部放电量值：
在规定的电压下，对给定的试品，在规程或规范中规定的局部放电参量的数值。
4局部放电起始电压Ui:
试品两端出现局部放电时，施加在试品两端的电压值。
5局部放电熄灭电压Ui:
试品两端局部放电消失时
的电压值。（理论上比起始电
压低一半，但实际上要低很多
5%-20%甚至更低）
二、局部放电机理：
局部放电试验
第一节局部放电特性及原理
一、局部放电测试目的及意义
局部放电：是指设备绝缘系统中部分被击穿的电气放电，这种放电可以发生在导体 附近，也可发生在其它位置。
局部放电的种类：
1绝缘材料内部放电（固体-空穴；液体-气泡）；
2表面放电；
3高压电极尖端放电。
局部放电的产生：设备绝缘内部存在弱点或生产过程中造成的缺陷， 重复击穿和熄灭现象-局部放电。
1.校正方法：注入qO=UN.Cq
试品的电容Cx为 已知，Cx两端的 电荷：qO=UN CxCq/Cx+Cq Cq<< Cx所以qO~UN.Cq一般Cq为固定值，调节UN得到不同的qO值。不论采用何种接线， 校准信号 必须从试品两端注入。
直测法。
仪器测得的信号Uf=Ua-Ub
检测阻抗：
测量阻抗Zm测量阻抗是一个四端网络的元件，它可以是电阻R或电感L的单一元件，也
局部放电基本知识及测试技术
2.油浸式变压器局部放电试验
（1） 10kV, 35kV变压器局部放电试验
* 试验接线方式: *试验的加压程序：
（2） 66kV, 110kV变压器局部放电试验
* 试验接线方式:
*试验的加压程序：
四.局部放电的图形分析
局部放电的分析方法： 局放脉冲分析法 局放图形分析法
局部放电测量中的干扰分类： 连续性干扰： 脉冲性干扰：
五.局部放电测量中的抗干扰措施
干扰源的判断:
空间， 电源， 地线
对不同干扰源的处理对策：
JFD-2B检测系统的连接。
局部放电量的测量： (1)校准； (2)确定试验电压的零标； (3)测量。
三.变压器局部放电试验
相关标准： GB 7354－87 “局部放电测量” GB 1094.3-2003 “电力变压器” GB 6450－86 “干式变压器”
1.干式变压器的局部放电试验 （1）试验接线回路：
400
100 400 1500
400 1500 6000
1500 6000 25nF 6000pF 25nF 100nF
3 . 标准脉冲发生器
Uo: 脉冲的上升沿tr<100ns，下降沿tf>100μs C0: 10pF<C0<0.1Cx
4.局部放电检测系统的基本结构
5.局部放电的测量步骤：
测量回路的选定及连接。
平衡回路
2. RLC检测阻抗
检测阻抗的选择
当测量回路一经确定，测量回路的谐振电容
Ct
CX CK CX CK
测量系统的测量中心频率f0也是已知的。使
f0 1/ 2 LmCt
便可达到足够高的测量灵敏度。
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第4章 局部放电测量的基本原理脉冲电流法的基本原理可用图4.1所示电路阐述：当试品C X 产生一次局部放电时，脉冲电流经过耦合电容C k 在检测阻抗两端产生一个瞬时的电压变化，即脉冲电压 U ，脉冲电压经传输、放大和显示等处理，可以测量局部放电的基本参量。
脉冲电流法是对局部放电频谱中的较低频段（一般为数千赫兹至数百千赫兹或至多数兆赫兹，局部放电信号能量主要集中在该段频带内）成分进行测量，以避免无线电干扰。
传统的测量仪器一般配有脉冲峰值表指示脉冲峰值，并有示波管显示脉冲大小、个数和相位。
放大器增益很大，其测试灵敏度相当高，而且可以用已知电荷量的脉冲注入校正定量，从而测出放电量q 。
图4.1 脉冲电流法基本原理示意图4.1 脉冲电流法的基本测量线路（a ）并联法测量回路 （b ）串联法测量回路 （c ）平衡法测量回路图4.2 脉冲电流法的基本试验测量线路示意图脉冲电流法的基本试验测量线路有三种，如图4.2所示，其中图4.1（a ）、（b ）统称为直接法测量回路，（c ）称为平衡法测量回路。
每种测量回路应包括以下基本部分：（1）试验电压u ；（2）检测阻抗Z d ，将局部放电产生的脉冲电流转化为脉冲电压；（3）耦合电容C k ，与试品C x 构成使脉冲电流流通回路，并具有隔离工频高电压直接加在检测阻抗上Z d 的作用；（4）高压滤波器Z m ，一方面阻塞放电电流进入试验变压器，另一方面抑制从高压电源进入的谐波干扰。
（5）测量及显示检测阻抗输出电压的装置M 。
e并联法多用于试品电容较大或试品有可能被击穿的情况下，过大的工频电流不会流入检测阻抗Z d 而将Z d 烧损并在测试仪器上出现过电压的危险。
另外，某些试品在正常测量中无法与地分开，只能采用并联法测量线路。
串联法多用于试品电容较小情况下，耦合电容具有滤波作用，能够抑制外部干扰，而且测量灵敏度随C k /C x 的增大而提高。
在相同的条件下，串联法比并联法具有更高的灵敏度，这是因为高压引线的杂散电容及试验变压器入口电容（无电源滤波器时）也被利用充当耦合电容。
另外，C k 可利用高压引线杂散电容来充当，线路更简单，可以避免过多的高压引线以降低电晕干扰，在220kV 及更高电压等级的产品试验中多被采用。
平衡法需要两个相似的试品，其中一个充当耦合电容。
它是利用电桥平衡的原理将外来的干扰消除掉，因而抗干扰能力强。
电桥平衡的条件与频率有关，只有当C x 1与C x 2的电容量和介质损失角δtg 完全相等，才有可能完全平衡消除掉各种频率的外来干扰；否则，只能消除掉某一固定频率的干扰。
在实际测量中，试品电容的变化范围很大，若要找到与每个试品有相同条件的电容是困难的。
因而，往往采用两个同类试品作为电桥的两个高压臂以满足平衡条件。
4.2 检测阻抗检测阻抗，也称为输入单元，其主要作用是取得局部放电所产生的高频脉冲电流信号，并对试验电源的工频及其谐波低频信号则予以抑制。
检测阻抗是连接试品与仪器主体部分的关键部件，对仪器的频率特性与灵敏度有直接关系。
检测阻抗可分为RC 型及LCR 型两大类，如图4.3所示，图中电容C d 主要由至仪器主体连接电缆的电容、放大器输人电容等组成。
4.2.1 RC 型检测阻抗图4.3表示接有RC 型检测阻抗时的等效局部放电检测电路。
当试品C x 产生局部放电时，视在放电量为q ，C x 两端会产生一个脉冲电压u ∆，理想情况下u ∆是一个直角脉冲波，但在实际情况中u ∆具有一定的上升时间并具有以下的形式)1(t m f e U u α--=∆ （4.1）式中脉冲电压幅值)]/(/[d k d k x m C C C C C q U ++=，f α为放电衰减常数。
对于理想情况，在放电瞬间，电荷q 引起的C k 和C d 上响应的脉冲电压可认为按电容反比例分配，则C d 上的脉冲电压幅值为图4.3 检测阻抗图4.4 接RC 检测阻抗的测试回路xk d d d k k d k d k x d k k d C C C C qC C C C C C C C q C C C uu )/1()/(++=+⋅++=+∆=∆ （4.2） 当C d 上的脉冲电压到达幅值后经电阻d R 放电，则检测阻抗上脉冲电压为t vt d d d d e C q e u t u ατ--=∆=/)( （4.3） 式中)/(1t d d C R =α， )1(k d x d v C C C C C ++=，)(k x k x d t C C C C C C ++=。
通过对（4.3）的傅立叶变换求u d 的频率特性为2/122)()(-+=d vd C q U αωω （4.4） u d 的时间特性及频率特性分别如图4.5（曲线1）及4.6所示，其中，d h αω=。
如果考虑放电脉冲的上升时间，则u d 的时间特性如图图4.5中曲线2，且为)(/11)(/t t fd v t d d f d de e C q e u t u ααταα-----⋅=∆= （4.5） 衡量检测阻抗的品质，主要是根据测量的灵敏度、准确度以及分辨率三个因素。
在采用RC 型检测阻抗时，应考虑如下几点：（1）u d (t )的幅值与放电量q 成正比。
（2）在一定的q 下，减小C d 可以增大Δu ，即可提高灵敏度。
（3）R d 小则αd 大，u d 衰减快，频谱就会很宽。
如果放大器的频带不够宽，就会降低检测的灵敏度。
而宽带放大器在使用中易受到外界干扰的影响，这一点限制了它的实际使用。
（4）RC 型检测阻抗上的电压是非周期性的单向脉冲，每个脉冲与绝缘内局部放电脉冲一一对应。
脉冲持续时间短、分辨率高，即αd 愈大，分辨率愈高。
（5）采用积分式放大系统有利于测量视在放电量。
例如，（4.5）对时间的积分，有d v f d f d v d C q C q dt t u ααααα=⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛--=⎰∞11/11)(0 （4.6）图4.5 检测电压的（a ）时间特性及（b ）频率特性(a ) (b)可见u d (t )对时间的积分值与f α无关，与q 成正比，而低频放大器（带滤波器的放大器）就是一种积分式放大系统。
4.2.2 LCR 型检测阻抗LCR 型检测阻抗由电感L d 、电容C d 、电阻R d 组成，接LCR 型检测阻抗的测试回路如图4.6所示。
试品放电瞬间，脉冲电压u ∆按电容分配，局部放电衰减完后，检测阻抗C d 上电压通过R d 衰减，同时在L d 、C d 之间产生磁能和电能转换，于是在C d 上出现衰减振荡，并且衰减系数为)2/(1t d d C R =α，振荡角频率为t d d C L 1=ω。
对于理想局部放电脉冲波形，当d d ωα<时，)cos()(t e C q t u d t vd d ωα-=（4.7） 如果放电脉冲的前沿较缓慢，则 ]cos )cos([)/(11)(2ϕϕωαωααt d t f d v d f d e t e C q t u ----+=（4.8）式中)/(1f d tg αωϕ-=。
其波形如图3-7b 所示。
其幅值小于q/C V ，最大幅值也不一定在第一周期。
经傅氏变换得出其频率特性为()()[]()212222222122/⎥⎦⎤⎢⎣⎡+-++=d d d d d V d L R C qU αϕωωωαωω （4.9） 由以上分析可见：（1）通常d d d d L R ωαω<<<<，。
这样，U d (ω)的最大值出现在d ωω=时，如图4.7所示。
（2）与RC 检测阻抗一样，LCR 型检测阻抗u d (t )的峰值与放电量q 成正比。
（3）与RC 型检测阻抗不同的是LCR 型检测阻抗频谱中幅值较大的谐波分量都集中在ωd 附近。
因此，只要选用包括ωd 在内而频带不必很宽的放大器就可以得到被测信号中的大部分能量，从而获得足够高的测量灵敏度。
（4）从v C 的表达式和(4.7)可以看出，灵敏度最大的条件为C d ≈0及C k >>C d 。
故设计者应考虑尽最减小输入电容C d ；用户使用时应尽可能采用较大的耦合电容C k 。
图4.6 接RC 检测阻抗的测试回路4.2.3 检测回路的脉冲分辨时间脉冲分辨时间是指检测系统输出的两个相继脉冲之间由于波形重叠而造成的脉冲幅值误差不超过10%时的最小时间间隔。
放电脉冲在检测回路中造成检测阻抗输出脉冲波形重叠而引起的误差与检测阻抗的特性有紧密关系。
1、 RC 型检测阻抗由前可知，RC 型检测阻抗对局部放电脉冲的响应电压波是呈指数式衰减的单向脉冲波形，如果脉冲发生重叠，其结果总是相加。
由（4.3）和（4.5）可知，检测回路的衰减常数d α决定了波形衰减的快慢，是决定分辨时间的主要因素。
为了使脉冲能充分分辨，脉冲必须经过约三倍的时间常数间隔在出现另一脉冲，故脉冲分辨时间为t d d R C R t 3/3==α （4.10）2、 RCL 型检测阻抗由图4.7可以看到，RCL 型检测阻抗上的波形是衰减的振荡波，当脉冲叠加时，其结果可能增大，也可能减小。
同样为了使脉冲能充分分辨，脉冲分辨时间应该满足t d d R C R t 6/3==α （4.11）4.3 放电量的校正4.3.1 放电量校正的原理在局部放电的电测法中，如果未经放电量的校正，就无法知道检测仪的显示器上所显示的放电脉冲的幅值代表试品的多少放电量。
电测法局部放电检测系统的定量校正是根据视在放电量的定义，如果定量校正试品x C 产生的局部放电量，可以用幅值为0U 的方波电压源串联小电容0C 组成人工模拟支路并将产生的放电量0q 注入与x C 两端，此注入的电荷量为000C U q =，这时在局部放电检测仪的显示器上可测得脉冲高度0H ，则放电量的分度系数为000H q K = （4.12）经过校正后，应保持检测系统连接回路不变以及系统的放大倍数等其它参数都不改变，即保持检测系统分度系数不变。
曲调校正用的人工模拟支路后，对试品按试验规程施加试验电压。
lg ωu d (ω)（a ） （b ）图4.7 LCR 检测阻抗上的（a ）电压波形及（b ）电压的频谱示意图当试品产生放电时，在显示器上读得的脉冲高度为H ，则试品的视在放电量为H K q 0= （4.13）国家标准GB7354-87《局部放电测量》推荐了直接法和平衡法测量回路的直接校正电路，如图 所示。
如果将人工模拟支路产生的放电量0q 注入检测阻抗d Z 两端称为间接校正，采用间接校正方法得到的分度系数进行放电量标定时，实际的放电量是分度系数0K 、回路衰减系数l K 以及脉冲高度H 三者的乘积，其中回路衰减系数l K 通常以测量方式求得，其方法是：采用间接校正回路测得分度系数K ，采用直接校正回路测得分度系数K '，则K K K l /'= 且 1>l K （4.14）（a ）并联法直接校正回路 （b ）串联法直接校正回路 （c ）平衡法直接校正回路图4.8 直接校正回路示意图4.3.2 校正脉冲的特性对定量校正的影响一、校正脉冲上升时间的影响校正脉冲的电压波形应与实际局部放电所产生的脉冲电压波形相似，在测量中才会产生很大的误差。