实验一 存储器实验

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存储器实验

存储器实验

一、实验目的[1]理解计算机存储子系统的工作原理。

[2]掌握静态随机存储器RAM的工作特性和读写方法。

二、实验内容本实验旨在通过搭建静态随机存储器电路,使用M6116芯片,并结合74LS245和74LS373等器件,实现对存储器的读写操作。

具体实验内容包括存储器的基本读写操作和扩展实验要求的IO内存统一和独立编址增加4K的IO地址。

三、实验原理芯片介绍:•74LS245:8位双向缓冲传输门,用于连接数据总线和存储器地址输入。

•74LS373:8位透明锁存器,用于存储地址信息。

•M6116:2K*8位静态随机存储器,具有片选、读使能和写使能等控制线。

操作原理:•写操作:通过设定地址和数据,控制M6116的写使能和数据输入,将数据写入指定存储单元。

•读操作:设置地址并启用读使能,从M6116读取存储单元的数据,并通过数据总线输出。

四、实验步骤及结果(附数据和图表等)1. 基本实验步骤1.电路搭建:o根据图3.4搭建实验电路,连接M6116、74LS245、74LS373等器件。

o设置好数据开关(SW7-SW0)、数码管显示和总线连接。

2.预设置:o将74LS373的OE(——)置0,保证数据锁存器处于工作状态。

o设置M6116的CE(——)=0,使其处于选中状态。

o关闭74LS245(U1),确保数据总线不受影响。

3.电源开启:o打开实验电源,确保电路供电正常。

4.存储器写操作:o依次向01H、02H、03H、04H、05H存储单元写入数据。

o以01H为例:▪设置SW7~SW0为00000001,打开74LS245(U1),将地址送入总线。

▪将74LS373的LE置1,将地址存入AR,并观察地址数码管。

▪将LE置0,锁存地址到M6116的地址输入端。

▪设置数据开关为要写入的数据,打开74LS245(U4),将数据送入总线。

▪将M6116的WE(——)由1转为0,完成数据写入操作。

▪关闭74LS245(U4)。

嵌入式系统实验一 存储器实验

嵌入式系统实验一 存储器实验

嵌入式系统实验一存储器实验嵌入式系统实验一-存储器实验2022春季嵌入式系统课程实验报告《嵌入式系统》课程实验报告学生姓名:班级:讲师:记分及评价:项目满分:5分一、实验名称记忆实验二、实验目的了解S3C2410X处理器的内部存储空间分配;掌握存储区域配置方法;掌握对存储区进行读写访问的方法。

三、实验内容熟练使用命令脚本文件对arm存储控制器进行正确配置。

使用c语言编程,实现对ram的读写访问。

四、实验原理s3c2410a的存储器控制器提供访问外部存储器所需要的存储器控制信号,具有以下特性:●支持小/大端(通过软件选择)。

●地址空间:每个bank有128mb(总共有8个bank,共1gb)。

●除bank0只能是16/32位宽之外,其他bank都具有可编程的访问位宽(8/16/32位)。

●总共有8个存储器bank(bank0~bank7):一其中6个用于rom,sram等;一剩下2个用于rom,sram,sdram等。

●7个固定的存储器bank(bank0~bank6)起始地址。

●最后一个bank(bank7)的起始地址是可调整的。

●最后两个bank (bank6和bank7)的大小是可编程的。

● 所有内存库的访问周期都是可编程的。

● 可以通过插入外部等待来延长总线访问周期。

● 支持SDRAM的自刷新和断电模式。

《嵌入式系统》课程实验报告2021年春季五、实验结果超级终端上显示一下信息:六、练习编写程序对sram进行字节的读写访问。

#包括\voidmemory_test(void){因蒂;uint16tdata;intmemerror=0;uint16t*pt;2022春季嵌入式系统课程实验报告uart_printf(\0x00e00000,_ram_startaddress+0x00f00000);pt=(uint16t*)(_ram_startaddress+0x00e0000);//记忆书写while((uint32t)pt<(_ram_startaddress+0x00f00000)){*pt=(uint16t)pt;pt++;}//memoryreaduart_uuuprintf(\memorytest(%xh-%xh):rd\\n\uuu内存_uuuu起始地址+0x00e00000,uuu内存_uuu起始地址+0x00f00000);pt=(uint16t*)(_ram_startaddress+0x00e00000);而((uint32t)pt<(_ram_startaddress+0x00f00000)){data=*pt;如果(数据!=(uint16t)pt){memerror=1;uart_uPrintf(\break;}pt++;}if(memerror==0)uart_printf(\}。

静态存储器实验报告

静态存储器实验报告

静态存储器实验报告静态存储器实验报告引言静态存储器是计算机中重要的一部分,它用于存储和读取数据。

本实验旨在通过实际操作,深入了解静态存储器的原理和工作方式。

通过观察和分析实验结果,我们可以更好地理解计算机内存的工作原理,并且为日后的学习和研究打下基础。

实验目的本实验的主要目的是探究静态存储器的工作原理,并通过实际操作来验证理论知识。

具体的实验目标如下:1. 了解静态存储器的组成和结构;2. 掌握静态存储器的读写操作;3. 分析实验结果,深入理解静态存储器的工作原理。

实验器材与方法实验器材:1. 静态存储器芯片;2. 逻辑分析仪;3. 示波器;4. 电源供应器;5. 连接线等。

实验方法:1. 连接静态存储器芯片到逻辑分析仪和示波器上,确保信号传输的正确性;2. 使用逻辑分析仪和示波器监测存储器读写操作的时序信号;3. 进行一系列的读写操作,并记录实验数据;4. 分析实验结果,总结静态存储器的工作原理。

实验过程与结果在实验过程中,我们首先将静态存储器芯片正确连接到逻辑分析仪和示波器上,以确保信号传输的正确性。

然后,我们进行了一系列的读写操作,并使用逻辑分析仪和示波器监测了存储器读写操作的时序信号。

通过分析实验结果,我们观察到了以下几点:1. 静态存储器的读写操作是基于地址信号和数据信号的传输。

读操作时,通过给定地址信号,存储器将对应地址的数据输出;写操作时,通过给定地址信号和数据信号,存储器将对应地址的数据写入。

2. 存储器的读写操作需要一定的时间,这是由存储器芯片内部的电路结构和时序要求决定的。

我们通过示波器观察到了读写操作的时序信号,包括地址信号和数据信号的传输时间。

3. 存储器的读写操作是可靠的,我们进行了多次读写操作,并观察到了一致的实验结果。

讨论与分析通过本次实验,我们深入了解了静态存储器的工作原理和操作方法。

静态存储器是计算机内存的重要组成部分,它的性能和可靠性对计算机的整体性能有着重要影响。

存储器实验总结

存储器实验总结

存储器实验总结存储器是计算机系统中非常重要的组成部分,用于存储程序和数据。

在本次实验中,我们通过实际操控和操作存储器,加深了对存储器工作原理的理解,并学会了如何正确地使用存储器。

以下是我对本次实验的总结。

首先,在实验中,我们学会了如何选择适当的存储器型号和容量。

不同的计算机系统有不同的存储器需求,因此选择合适的存储器十分重要。

在实验中,我们分析了不同型号和容量的存储器的优缺点,并选择了最适合我们的计算机系统的存储器。

这一过程让我深入了解了存储器的工作原理和特点。

其次,在实验中,我们了解了存储器的层次结构。

存储器的层次结构是计算机系统中的一个重要概念,它以不同的速度和容量来组织存储器,以满足不同的存储需求。

在实验中,我们通过对比和分析不同层次的存储器的性能指标,如访问时间和存储容量,进一步理解了存储器层次结构的作用和优势。

这对于我们合理地设计和配置计算机系统的存储器十分重要。

第三,实验中我们学习了存储器的读写操作。

存储器的读写操作是计算机系统中的基本操作之一,因此我们必须掌握正确的读写操作方法。

在实验中,我们通过实际操作存储器,学会了如何正确地读取和写入存储器中的数据。

我们了解到存储器的读写速度是十分重要的,因此我们需要根据业务需求选择合适的存储器。

第四,在实验中,我们学会了存储器的容错措施。

存储器的容错措施是保证数据安全和可靠性的关键。

在实验中,我们学习了常见的存储器容错技术,如奇偶校验和纠错码等,以及如何正确地使用这些技术。

这对于我们保护存储器中的数据安全十分重要,特别是对于一些重要的计算机系统。

最后,在实验中,我们还学习了存储器的性能优化。

存储器的性能优化是提高计算机系统整体性能的重要手段之一。

在实验中,我们学习了存储器的性能瓶颈以及解决方法,如减少访问时间、提高带宽等。

这对于我们设计和配置高性能计算机系统的存储器十分重要。

总而言之,通过本次实验,我深入了解了存储器的工作原理和特点,学会了如何选择适当的存储器型号和容量,掌握了正确的存储器读写操作方法,学会了存储器的容错技术和性能优化方法。

储存器实验报告

储存器实验报告

储存器实验报告储存器实验报告一、引言储存器是计算机中重要的组成部分,它用于存储和读取数据。

在计算机科学领域,储存器的设计和性能对计算机的运行速度和效率有着重要的影响。

本实验旨在通过设计和实现一个简单的储存器,来深入了解储存器的工作原理和性能指标。

二、实验目的1. 了解储存器的基本概念和分类;2. 掌握储存器的存储原理和读写操作;3. 分析和评估储存器的性能指标。

三、实验过程1. 储存器的分类储存器按照存储介质的不同可以分为随机存储器(RAM)和只读存储器(ROM)。

RAM是一种易失性存储器,它可以随机读写数据。

ROM则是一种非易失性存储器,主要用于存储固定的程序和数据。

2. 储存器的存储原理储存器的存储原理是通过电子元件的状态来表示数据的存储状态。

在RAM中,每个存储单元由一个电容和一个晶体管组成。

当电容充电时表示存储单元存储的是1,当电容放电时表示存储单元存储的是0。

在ROM中,存储单元由一组可编程的开关组成,每个开关的状态决定了存储单元存储的数据。

3. 储存器的读写操作储存器的读操作是通过将地址信号传递给储存器来选择要读取的存储单元,然后将存储单元的数据输出。

储存器的写操作是通过将地址信号传递给储存器来选择要写入的存储单元,然后将要写入的数据输入。

四、实验结果在实验中,我们设计并实现了一个8位的RAM储存器。

通过对储存器进行读写操作,我们成功地将数据存储到储存器中,并成功地从储存器中读取数据。

实验结果表明,储存器的读写操作是可靠和有效的。

五、实验分析1. 储存器的性能指标储存器的性能指标包括存储容量、存取时间和存储器的可靠性。

存储容量是指储存器可以存储的数据量,通常以位或字节为单位。

存取时间是指从发出读写指令到数据可以被读取或写入的时间间隔。

存储器的可靠性是指储存器的故障率和故障恢复能力。

2. 储存器的应用储存器广泛应用于计算机、手机、平板电脑等电子设备中。

在计算机中,储存器用于存储程序和数据,是计算机的核心组件之一。

实验一 存储器和总线实验指导书

实验一 存储器和总线实验指导书

实验一 存储器和总线实验1.1 实验目的1.熟悉计算机组成原理教学实验系统Dais-CMH+的组成及其使用方法;2.掌握静态随机存储器RAM的工作原理及其使用方法;3.了解存储器和总线组成的硬件电路,了解与存储器有关的总线信号功能及使用方法;1.2 实验内容内部存储器(RAM 6116)读写实验在实验系统的手动工作方式下完成下列操作:(1) 内部总线数据写入存储器:向存储器01H、2EH两个地址单元中分别写入数据1AH、1BH,记录相关数据,填表2-1-4。

(2) 读存储器中数据至总线:依次读出01H、2EH两个地址单元中的内容,查看其各单元中的内容是否与自己写入的内容一致,记录相关数据,填表2-1-5。

1.3实验要求内部存储器(RAM 6116)读写实验要求(1)根据实验原理图2-1-2,在实验设备平台上将存储器单元、地址总线单元、缓冲输入单元、时序启停单元的各控制信号用短线连接好;将各数据总线及地址总线也连好。

(2)按照实验内容完成实验项目。

(3)以表格形式记录实验中的写入/读出数据和对应的控制信号状态等信息。

1.4 实验器材1.Dais-CMH+ 计算机组成原理教学实验系统1台;2.8芯扁平排线2条,双头导线若干;3.逻辑笔,万用表等。

1.5 实验原理一、内部存储器(RAM 6116)读写实验本存储器实验的电路原理如图2-1-2所示,主要由RAM(6116)、地址寄存器AR(74LS273)、数据显示、地址显示、数据输入开关及其相关的控制信号(二进制开关单元)等组成。

其中,数据输入开关可用来设置地址或数据。

控制信号为逻1辑“1”时有效(开关拨向上方),否则无效。

静态随机存储器(RAM)由一片6116芯片构成,如图2-1-1所示。

6116的容量是2KB,有A10~A0共11条地址线。

在本实验系统中,只用到A7~A0这8条地址线,高3位地址线A10~A8接地,因此,其实际容量为256B。

D7~D0是6116的数据线。

存储器实验报告总结

存储器实验报告总结

存储器实验报告总结存储器实验报告一、实验设计方案实验框图文字说明实验原理:实验原理框图如图实验原理图所示,原理框图中的地址计数器PC可以接收数据开关产生数据,该数据作为地址信息发送到总线;也可以自动加1计数(用于连续读/写操作)产生地址信息。

地址寄存器AR,存放即将访问的存储单元的地址。

两组发光二极管显示灯中一组显示存储单元地址;另一组显示写入存储单元的数据或从存储单元读出的数据。

写入存储器的数据是由二进制开关设置并发送到总线上的。

存储器芯片中有片选信号menmenab,其值为1时则RAM被选中,可以对其进行读/写操作,反之则RAM未被选中,不能对其进行读写操作。

存储器芯片还有两个读/写控制端(RD、WE);片选信号有效(menmenab=1)以及时钟信号到达的情况下,WE=1,RD=0,则存储器进行写操作;反之,WE=0,RD=1,则存储器进行读操作。

一、功能验证1:a)实验仿真波形图:b)参数设置End Time: 2usGrid Time: 40nsc)初始数值设置sw_bus:1Pc_bus:1menmenab:1we: 0rd:0Ldar:0Pcclr:1Pcld|pcen:00input[7..0]:00Arout[7..0]:00d)信号功能描述及属性sw_bus:作为使能端控制数据的输入。

Pc_bus:控制地址数据输出到总线和地址寄存器。

menmenab:存储芯片的片选信号。

we: 写操作控制信号。

rd:读操作控制信号。

Ldar:控制地址寄存器中的数据传入RAM的控制信号。

Pcclr:地址数据的清零信号,当其值为0时地址清零。

Pcld|pcen:01时,将总线上的数据传入PC,11时,pc=pc+1;地址计数自动加1。

input[7..0]:地址数据输入端。

Arout[7..0]:寄存器输入RAM的地址数据。

e)波形说明和操作步骤1)0-80ns:进行初始化Sw|pc_bus:11:数据输入到总线的开关关闭,进入地址寄存器的控制开关关闭。

存储器读写实验实验总结

存储器读写实验实验总结

存储器读写实验实验总结
存储器读写实验是一种常见的电子实验,通过这个实验,我们可以了解存储器的读写原理以及存储器的工作方式。

本次实验中,我们使用了Arduino UNO开发板和24C02 EEPROM存储器芯片,下面对实验进行总结。

实验目的:
本次实验的目的是了解存储器的读写原理、存储器芯片的类型、接口方式、存储器操作等基本概念,并通过实验掌握使用Arduino控制EEPROM存储器读写操作的方法。

实验步骤:
1. 准备材料,包括Arduino UNO开发板、24C02 EEPROM存储器芯片、杜邦线等。

2. 将EEPROM存储器芯片与Arduino开发板连接,具体连接方式可以参考实验指导书。

3. 编写程序,在程序中定义存储器读写操作所需的引脚和操作函数。

4. 将程序烧录到Arduino开发板中。

5. 运行程序,进行存储器读写操作。

实验结果:
我们通过实验成功地实现了对EEPROM存储器芯片的读写操作,确认了存储器
芯片的工作状态和数据存储情况。

通过查看串口输出信息,我们可以看到读取的数据和写入的数据以及相应的内存地址信息。

实验体会:
本次实验让我们更加深入地了解了存储器的读写原理和存储器芯片的类型、接口方式、存储器操作等基本概念。

同时,我们通过实验也掌握了使用Arduino控制EEPROM存储器读写操作的方法,对我们今后的学习和工作都将有很大帮助。

总之,存储器读写实验是一项非常有意义的实验,通过实验的学习,我们可以更好地理解存储器的工作原理,为今后的学习和工作打下坚实的基础。

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实验一 存储器实验 1.FPGA中LPM_ROM定制与读出实验 一.实验目的 1、掌握FPGA中lpm_ROM的设置,作为只读存储器ROM的工作特性和配置方法。 2、用文本编辑器编辑mif文件配置ROM,学习将程序代码以mif格式文件加载于lpm_ROM中; 3、在初始化存储器编辑窗口编辑mif文件配置ROM; 4、验证FPGA中mega_lpm_ROM的功能。 二.实验原理 ALTERA的FPGA中有许多可调用的LPM (Library Parameterized Modules)参数化的模块库,可构成如lpm_rom、lpm_ram_io、lpm_fifo、lpm_ram_dq的存储器结构。CPU中的重要部件,如RAM、ROM可直接调用他们构成,因此在FPGA中利用嵌入式阵列块EAB可以构成各种结构的存储器,lpm_ROM是其中的一种。lpm_ROM有5组信号:地址信号address[ ]、数据信号q[ ]、时钟信号inclock、outclock、允许信号memenable,其参数都是可以设定的。由于ROM是只读存储器,所以它的数据口是单向的输出端口,ROM中的数据是在对FPGA现场配置时,通过配置文件一起写入存储单元的。图3-1-1中的lpm_ROM有3组信号:inclk——输入时钟脉冲;q[23..0]——lpm_ROM的24位数据输出端;a[5..0]——lpm_ROM的6位读出地址。 实验中主要应掌握以下三方面的内容: ⑴ lpm_ROM的参数设置; ⑵ lpm_ROM中数据的写入,即LPM_FILE初始化文件的编写; ⑶ lpm_ROM的实际应用,在GW48_CP+实验台上的调试方法。 三.实验步骤 (1)用图形编辑,进入mega_lpm元件库,调用lpm_rom元件,设置地址总线宽度address[]和数据总线宽度q[],分别为6位和24位,并添加输入输出引脚,如图3-1-1设置和连接。 (2)设置图3-1-1为工程。 (3)在设置lpm_rom数据参数选择项lpm_file的对应窗口中(图3-1-2),用键盘输入lpm_ROM配置文件的路径(rom_a.mif),然后设置在系统ROM/RAM读写允许,以便能对FPGA中的ROM在系统读写。 (4) 用初始化存储器编辑窗口编辑lpm_ROM配置文件(文件名.mif)。这里预先给出后面将要用到的微程序文件:rom_a.mif 。rom_a.mif中的数据是微指令码(图3-1-3)。 (5)全程编译。 (6)下载SOF文件至FPGA,改变lpm_ROM的地址a[5..0],外加读脉冲,通过实验台上的数码管比较读出的数据是否与初始化数据(rom_a.mif中的数据)一致。

注:下载sof示例文件至实验台上的FPGA,选择实验电路模式仍为NO.0,24位数据输出由数码8至数码3显示,6位地址由键2、键1输入,键1负责低4位,地址锁存时钟CLK由键8控制,每一次上升沿,将地址锁入,数码管8/7/6/5/4/3将显示ROM中输出的数据。发光管8至1显示输入的6位地址值。

图3-1-1 lpm_ROM的结构图 图3-1-2 设置在系统ROM/RAM读写允许 图3-1-3 rom_a.mif中的数据 (7)打开QuartusII的在系统存储模块读写工具,了解FPGA中ROM中的数据,并对其进行在系统写操作(图3-1-4)。

图3-1-4 在系统存储模块读写 四.实验要求 (1) 实验前认真复习LPM-ROM存储器部分的有关内容。 (2) 记录实验数据,写出实验报告,给出仿真波形图。 (3) 通过本实验,对FPGA中EAB构成的LPM-ROM存储器有何认识,有什么收获? 五.思考题 (1)如何在图形编辑窗口中设计LPM-ROM存储器?怎样设计地址宽度和数据线的宽度?怎样导入LPM-ROM的设计参数文件和存储LPM-ROM的设计参数文件? (2)怎样对LPM-ROM的设计参数文件进行软件仿真测试? (3)怎样在GW48实验台上对LPM-ROM进行测试? (4)学习LPM-ROM用VHDL语言的文本设计方法(顶层文件用VHDL表达)。 (5)了解LPM-ROM存储器占用FPGA中EAB资源的情况。 2.FPGA中LPM_RAM读写实验 一.实验目的 1、 了解FPGA中RAMlpm_ram_dq的功能, 2、 掌握lpm_ram_dq的参数设置和使用方法, 3、掌握lpm_ram_dq作为随机存储器RAM的工作特性和读写方法。 二.实验原理 在FPGA中利用嵌入式阵列块EAB可以构成存储器,lpm_ram_dq的结构如图3-2-1。数据从ram_dp0的左边D[7..0]输入,从右边Q[7..0]输出,R/W——为读/写控制信号端。数据的写入:当输入数据和地址准备好以后,在inclock是地址锁存时钟,当信号上升沿到来时,地址被锁存,数据写入存储单元。 数据的读出:从A[7..0]输入存储单元地址,在CLK信号上升沿到来时,该单元数据从Q[7..0]输出。 R/W——读/写控制端,低电平时进行读操作,高电平时进行写操作; CLK——读/写时钟脉冲; DATA[7..0]——RAM_dq0的8位数据输入端; A[7..0]——RAM的读出和写入地址; Q[7..0]——RAM_dq0的8位数据输出端。 三.实验步骤 (1)按图3-2-1输入电路图。并进行编译、引脚锁定、FPGA配置。 (2)通过键1、键2输入RAM的8位数据(选择实验电路模式1),键3、键4输入存储器的8位地址。键8控制读/写允许,低电平时读允许,高电平时写允许;键7(CLK0)产生读/写时钟脉冲,即生成写地址锁存脉冲,对lpm_ram_dq进行写/读操作。 (3)注意,lpm_ram_dq也能加入初始化文件(这里是5_ram.mif ,是后面将要用到的模型CPU执行微程序文件),注意此文件加入的路径表达和文件表达(3-2-2): ./ 5_ram.mif ,(后缀mif要小写),同时选择在系统读写RAM功能,RAM的ID名取为:ram1。 注:验证程序文件在DEMO5_lpm_ram目录,工程名是ram_dp1.bdf,下载ram_dp1.sof至实验台上的FPGA,选择实验电路模式为NO.1,按以上方式首先进行验证实验。首先控制读出初始化数据,与载入的初始化文件ram_dp1.mif中的数据进行比较,然后控制写入一些数据,再读出比较。使用在系统读写RAM的工具对其中的数据进行读写操作(图3-2-3),设置成连续读模式,将在系统读写工具窗口的数据与实验箱上数码管上显示的数据对照起来看。 四.实验要求 (1) 实验前认真复习存储器部分的有关内容; (2) 写出实验报告 五.思考题 (1)如何在图形编辑窗口中设计lpm_ram_dq存储器?怎样设定地址宽度和数据线的宽度?设计一数据宽度为6,地址线宽度为7的RAM,仿真检验其功能,并在FPGA上进行硬件测试。 (2)如何建立lpm_ram_dq的数据初始化,如何导入和存储lpm_ram_dq参数文件?生成一个mif文件,并导入以上的RAM中。 (3)怎样对lpm_ram_dq设计参数文件进行软件仿真测试? (4)使用VHDL文件作为顶层文件,学习lpm_ram_dq的VHDL语言的文本设计方法。 (5)了解lpm_ram_dq存储器占用FPGA中EAB资源的情况。 (6)使用系统读写RAM的工具对其中的数据进行读写操作。 (7)lpm_ram_dq存储器在CPU中有何作用?

图3-2-2 lpm_ram_dq加入初始化文件和选择在系统读写RAM功能 图3-2-1 lpm_ram_dp实验电路图 3. FIFO定制与读/写实验 一.实验目的 1. 掌握FPGA中先进先出存储器lpm_fifo的功能,工作特性和读写方法。 2. 了解FPGA中lpm_fifo的功能,掌握lpm_fifo的参数设置和使用方法。 3. 掌握lpm_fifo作为先进先出存储器FIFO的工作特性和读写方法。 二.实验原理 FIFO(First In First Out)是一种存储电路,用来存储、缓冲在两个异步时钟之间的数据传输。使用异步FIFO可以在两个不同时钟系统之间快速而方便地实时传输数据。在网络接口、图像处理、CPU设计等方面,FIFO具有广泛的应用。在FPGA中利用嵌入式阵列块EAB可以构成存储器,lpm_fifo的结构如图3-3-1所示。

WR — 写控制端,高电平时进行写操作; RD — 读控制端,高电平时进行读操作; CLK — 读/写时钟脉冲; CLR — FIFO中数据异步清零信号; D[7..0] — lpm_fifo的8位数据输入端; Q[7..0] — lpm_fifo的8位数据输出端;

U[7..0] — 表示lpm_fifo已经使用的地址空间 图3-3-1 lpm_fifo的实验结构图 图3-3-2 lpm_fifo的仿真波形图 三.实验步骤 1.编辑输入lpm_fifo实验电路(双击原理图3-3-1的FIFO元件,可进入该元件的编辑窗)。 2.将编译通过的文件下载到GW-48实验台,实验台选择工作模式NO.0; 3.通过实验台上的键1、键2输入数据,键3控制读/写允许WR(高电平写有效,低电平读有效,)、键7控制数据清0(高电平清0有效)、键8输入CLK信号,数码管4/3显示已占用地址,数码管2/1显示FIFO输出的数据: 4.将数据写入LPM-FIFO:键3置高电平(写允许);键7清0一次;键1、键2每输入一个新数据(数据显示于发光管D8-D1),键8就给出一个脉冲(按键0-1-0),将数据压入FIFO中;

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