检测限计算

我刚查到一些关于检测限计算的资料，但是我有不明白处，请大家讨论一下，空白标准偏差是怎么计算的？

检测下限的定义比较混乱，有人认为检测下限是方法能检出的最小含量（或最低浓度），计算方法也不一致；仪器制造厂商认为应该用仪器的噪声水平表示检测下限；有人认为用分析空白表示痕量分析的检测下限更为合理等等。

美国国家标准局有关方法，将检测下限分为以下三种类型：

1. 仪器检测下限

即相对于背景，仪器检测的可靠的最小信号，通常用信噪比来表示， 2N 或 3N 值定义为仪器的检测下限。

2. 方法检测下限（ MDL ）

即某种分析方法所能检测的最小浓度，也即方法的最小检测浓度。通常用外推法可求得方法的检测下限，其方法如下：

在标准溶液低浓度范围内，选择三个浓度，每一个浓度水平上分别重复测定，求出每个浓度水平的标准偏差 S1 、 S2 、 S3 。用线性回归法作出回归线，然后把回归线延长，外推至与终坐标相交，求得 S0 ，定义 3 S0 为方法的检测下限。其中， S0 为浓度为零时的空白样品的标准偏差。 MDL ＝ 3 S0 。3. 样品检测下限

即相对于空白可检测的最小样品含量，也就是样品最低检测浓度。定义样品检测下限为三倍空白标准偏差，即3σ 空。

4. 相互关系

仪器检测下限与方法检测下限这两个概念，在选择仪器和方法时，是重要的参数。样品检测下限不仅与方法检测下限有关，而且与空白样品中空白含量以及空白波动情况有关，只有当空白含量等于 0 ，样品检测下限等于方法检测下限，然而空白含量往往不等于 0 。

样品检测下限＝方法检测下限＋空白含量

因此，方法检测下限由外推法求得，可能是很低的浓度或含量，但由于空白含量的存在以及空白波动的存在，样品检测下限可能要比方法检测下限大得多。

在实际使用过程中，样品检测下限要比方法检测下限要有意义得多。当被测样品种类变化时，测定所用的试剂和环境变化时，即使用同一分析方法，样品检测下限可能要相差很大。

5. 定量检测下限

美国国家标准局定义 10 倍空白标准偏差为定量检测下限，即10σ 空。有关痕量分析中报告数据的准则，参见下表。

报告数据的准则

分析物浓度可靠性范围

＜3σ 空可疑检测范围（不能接受）

3σ 空样品检测下限（定性检出）

3σ 空~ 10σ 空半定量

10σ 空定量检测下限

＞10σ 空定量范围