超短超强激光辐照靶物质产生K-alpha源简介(投稿:光谱学与光谱分析)

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RT 专业考试试题

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一. 选择题1.原子核外电子能级最高的是(a)a.外壳层 b.中间壳层 c.内壳层 d.以上均不是2.下列几种辐射中,哪种在空气中的电离效应最高?(a)a.α粒子b.β粒子c.中子d.α和Χ射线3.Χ射线、γ射线和α粒子有一个共同点,即它们都是(d)a.物质粒子辐射b.电磁辐射c.微波辐射d.电离辐射4.当射线波长一定时,下列哪种物质的μ值最大?(d)a.Fe b.Al c.Mg d.Cu5.放射性同位素衰变时,同位素的原子核以哪种方式蜕变?(d)a.粒子发射b.K俘获c.淹灭辐射d.a和b6.放射性同位素源的比活度取决于(d)a.核反应堆中照射的中子流b.材料在反应堆中的停留时间c.照射材料的特性(原子量、活化截面)d.以上全是7.γ射源的辐射输出,又称为特性强度,通常以有效输出表示,其单位为(c)a.R/h·cib.R/m·s·cic.m·R/h·cid.R/m·h·ci (注:1ci=3.7*1010B g)8.具有良好检出灵敏度的中子一般是指(b)a.冷中子 b.热中子 c.超热中子 d.快中子9.对于射线检验的防护而言,应着重考虑的是(c)a.眼晶体的非随机效应b.其它单个器官或组织的非随机效应c.全身均匀照射的随机效应d.以上都是10.当单色窄束X射线通过厚度为d的物质后,表示射线强度衰减规律的公式为(a)a.I=I0e-μdb.I=I0e-2μdc.I=-μdI0d.以上都不对11.设入射线强度为I0,透过射线强度为I,散射线强度为I s,则散射比n定义为(a)a.I s/Ib.I s/I0c.I/I0d.I0/I12.2000KV的X射线最短波长约为(b):a.0.093 b.0.062 c.0.093nm d.0.062nm13.与低能射线透照相比,高能射线透照具有以下特点(a)a.宽容度大b.对比度较高c.感光速度快d.散射线影响大14.设宽束X射线贯穿物体后,在某一点所接收到的射线总强度为I p=I+I s,则散射比为(a)a.I s/Ib.I s/I pc.I/I sd.I p/I s15.一般放射性比活度高的源较理想,因其自吸收(c)a.较高;b.相同;c.较低;d.无自吸收16.韧致辐射是指高速运动的电子同靶相碰撞时,与靶的什么相互作用而放出电子的能量,产生连续Χ射线的?(d)a.自由电子b.原子核的质子c.壳层电子d.原子核外库仑场17.用电磁铁和变压器配合,以环形轨迹加速电子的装置称为(d)a.静电加速器b.直线加速器c.电磁感应加速器d.回旋加速器18.直线加速器中,电子以何种方式加速?(a)a.高频电波b.加速磁铁c.中子轰击d.改变交流电磁铁磁场19.回旋加速器中,电子以何种方式加速?(b)a.场发射b.改变交流电磁铁磁场c.高频电波d.加速磁铁20.Χ射线管聚焦杯起电子透镜的作用,聚焦杯如何限制电子束尺寸?(d)a.俘获灯丝发射的杂散电子b.限制灯丝电流的最大安培值;c.减少靶散射的二次电子在玻璃管壁上产生的负电荷d.与负电位相接21.决定Χ射线管靶材适用性的两个因素是(d)a.拉伸强度和屈服强度b.焦点和磁强度c.电阻和抗氧化性能d.原子序数和熔点22.下列哪种辐射测量仪器的工作机理不是气体检测机理?(b)a.比例计数器b.半导体检测器c.电离室d.盖格-缪勒计数器23.气体受射线轰击后会发生电离,变成导电体的这一物理现象可用于(d)a.X射线机变压器b.X射线管c.密度计d.X射线计量检测仪器24.钨增感屏的优点是(d):a.清晰度高 b.不易出现伪像 c.使用寿命长 d.以上都是25.当其他操作条件不变,管电流的变化会引起X射线管发生的射线强度变化,其变化大致与管电流的变化成比例,是什么因素影响管电流与射线强度完全按比例变化?(b)a.波长变化不完全成比例b.管电压和X射线设备的电压波形随负载发生变化c.电流在线性比率上才能改变d.散射线不能按比率变化26.假定同位素放射源发射单一波长的γ射线,某时在离射源2米处测得其γ射线照射率,14天后同一时刻,再在离该源1.92米处测出其照射率与前同,则该源的半衰期为(a)a.118天b.33天c.75天d.50天27.中子能通过β衰变成为(b):a.电子 b.质子 c.α粒子 d.光子28.习惯上把能量在0.1MeV以上的中子叫做(a)a.快中子b.慢中子c.中能中子d.共振中子e.热中子f.冷中子29.习惯上把能量在10-2eV左右的中子叫做(e)a.快中子b.慢中子c.中能中子d.共振中子e.热中子f.冷中子30.目前较为成熟的中子射线照相应用的是(e)a.快中子b.慢中子c.中能中子d.共振中子e.热中子f.冷中子31.热中子照相系统包括(f)a.中子源b.慢化剂c.准直器d.被照物e.像探测器f.以上全部32.在热中子照相中采用直接曝光法所利用的转换屏材料应用最多且效果最好的是(d)a.镉b.锂c.硼d.钆33.在中子照相中需要使用转换屏,它在接受中子照射后能放出(d)辐射而使X射线胶片感光 a.α b.β c.γ d.以上都是34.在热中子照相中采用间接曝光法所利用的转换屏材料应用最多的是(e)a.铟b.镝c.铑d.金e.a和b35.将空气中一点上的照射量换算为该点上的空气吸收剂量的表达式为(a)a.D空气(rad)=0.87D x(R)b.D物质=fD xc.D人体=FD xd.以上都不对(式中:D空气-空气的吸收剂量;D物质-物质的吸收剂量;D人体-人体的吸收剂量;f-与光子能量及受照物质原子序数有关的系数;F-f与反映射线在人体内的吸收和散射作用系数的乘积)36.将受照射的某种物质中一点上测得的照射量换算为该点上该物质的吸收剂量,其表达式为(b) a.D空气(rad)=0.87D x(R) b.D物质=fD x c.D人体=FD x d.以上都不对(式中:D空气-空气的吸收剂量;D物质-物质的吸收剂量;D人体-人体的吸收剂量;f-与光子能量及受照物质原子序数有关的系数;F-f与反映射线在人体内的吸收和散射作用系数的乘积)37.将空气中某点的照射量换成人体若处于该位置时,在体内相应点上的吸收剂量,其表达式为(c) a.D空气(rad)=0.87D x(R) b.D物质=fD x c.D人体=FD x d.以上都不对(式中:D空气-空气的吸收剂量;D物质-物质的吸收剂量;D人体-人体的吸收剂量;f-与光子能量及受照物质原子序数有关的系数;F-f与反映射线在人体内的吸收和散射作用系数的乘积)38.低能光子在原子序数较高的物质中因(a)效应显著而被更多地吸收a.光电b.康普敦散射c.电子对生成d.以上都不是39.热释光型个人剂量监测的射线感受元件是(e)a.CaF:Mnb.LiFc.CaSO4:Mnd.MgF2:Mne.以上都是40.在中子射线防护中采用快中子减速方法,较好的中子减速剂是(d)a.氢气b.石蜡c.水d.以上都是41.在中子射线防护中采用热中子吸收方法,较好的吸收剂是(e)a.锂b.硼c.硼砂d.硼酸e.以上都是42.已知离射源1米处的照射率为5R/h,在该处放厚20毫米的钢板进行透照拍片,该射源对钢的半值层为10毫米,为了获得适当的底片黑度需要500mR,则每次拍片曝光时间应为多少分钟?(b):a.12 b.24 c.36 d.4843.用10居里的铱192射源在野外对距其1米处厚20毫米的钢进行透照拍片,已知该射源的电离常数为0.6rhm/Ci,对钢的半值层为10毫米,为了获得2.0黑度的底片需要曝光多少分钟?(b):a.10 b.20 c.30 d.4044.在离铱192源1米处的照射率为6R/h,透照距离0.5米处厚20毫米的钢,已知钢的吸收系数为0.693cm-1且不随吸收体厚度而变,散射因子为2,所使用胶片在获得300mR时可达到2.0黑度,则要获得2.0黑度的底片需要曝光多少分钟?(a)a.1b.5c.10d.1545.天津工业X射线胶片IV-C型是一种颗粒较细、高对比度、适应高温快显机器冲洗处理的胶片,适用于中等厚度重金属或较厚轻金属工件的射线照相,它相当于(d)胶片a.Agfa D7b.Kodak AA-5c.Fuji 100d.以上都是46.玻璃钢中含有的下列相同尺寸的夹杂物中,射线照相影像的对比度最大的是(b)a.铝b.铁c.棉布d.硬塑料47.X射线透照电压100千伏时,铝相对于钢的射线照相等效系数是0.08,对厚度120毫米的铝透照时,应采用厚度(b)毫米的钢的曝光量:a.4.8 b.9.6 c.6.0 d.2.448.下列元素对中子吸收最大的是(a):a.氢 b.铝 c.铁 d.铅49.下列元素对中子吸收最大的是(a):a.硼 b.铜 c.钨 d.铅50.在中子射线照相-直接曝光法中常使用的转换屏是(d):a.镝 b.铅 c.铑 d.钆51.在中子射线照相-间接曝光法中常使用的转换屏是(d):a.锂 b.铅 c.镉 d.铟52.下列各项中与品质因数相关的是(a)a.不同辐射产生的辐射生物效应不同b.辐射可以将部分或全部能量传给物体c.辐射可以引起空气电离d.以上都是53.按照危险度与权重因子规定的剂量当量限值是对于(c)规定的a.躯体效应b.远期效应c.随机效应d.非随机效应54.射线源的强度剂量、射线的照射剂量率和吸收剂量率之间是相互联系的,照射剂量率与射线强度剂量的关系可用下式表示(a)a.P=0.84m/r2 (R/h)b.P=0.84mr2 (R/h)c.P=0.84r2/m (R/h)d.以上都不对(式中:P-无遮挡、无吸收时的照射剂量率;m-射线源的强度剂量(克镭当量);r-测量点与射线源的距离(米))55.如果你处于射线剂量仪读数为200mR/h的辐射区3小时,则你接受到的剂量约为(b)mrem a.600 b.500 c.400 d.30056.如果你每小时接受0.02rad的α射线照射,4小时后你将接受到(b)rem的剂量a.3.2b.1.6c.0.8d.0.457.如果你每天在0.008R/h的γ辐射区工作半小时,则10天后你将接受(a)mrem的剂量a.33.6b.22.4c.11.2d.558.滤光片是高原子序数金属(如铜、钢、铅)制成,其作用是(d)a.吸收X软射线,达到过滤目的b.降低工件对比度,从而增大其宽容度c.减少由软射线所引起的散射线d.以上都是59.在散射线的分类中,一般把散射辐射与透射辐射所成的夹角等于小于90°时称之为(a)a.前散射b.背散射c.侧面散射d.以上都不是60.连续谱X射线透照工件时,随着透照厚度的增加,总的强度递减,而平均波长值(b)a.变小b.变大c.不变d.以上都不对61.射线照射到胶片上时,由于卤化银颗粒发生光化反应,在晶格缺陷处沉积出(b),形成潜像 a.卤化银分子 b.呈原子态的银 c.呈离子态的银 d.以上都不对62.射线照相中的安全控制是指(d)a.辐射源的安全控制b.环境的安全控制c.操作人员受照射的安全控制d.以上都是63.射线辐射方向与裂缝方向之间的夹角(射线角)超过(c)时,裂缝的检出程度就变得很低了 a.5° b.10° c.15° d.20°64.下面哪种方法属于中子射线照相方法(d)a.直接曝光法b.康普顿曝光法c.转移曝光法d.a和c65.透照有余高的焊缝时,射线底片对比度为(a)a.在某一线质时达到最大值b.射线能量越低,对比度越大c.不受散射比的影响d.以上都不是66.透照板厚一定且有余高的焊缝,散射比随有效能量的提高而(b)a.增大b.减小c.不变d.不一定67.用单壁外透法透照同一筒体时如不考虑焦点投影尺寸的变化,纵缝U g与环缝U g的重要区别是:在一张底片的不同部位(a)a.纵缝U g值各处都一样,而环缝U g值随部位而变化b.环缝U g值各处都一样,而纵缝U g值随部位而变化;c.无论纵缝、环缝,U g值在任何部位都相同,不发生变化d.以上都是68.用置于透照区中心附近的铂钨双丝透度计可从射线底片上测出一定管电压下的(c)a.吸收系数b.散射因子c.固有不清晰度d.形状修正系数69.当射源种类、Χ光胶片、增感屏种类一定时,底片上可识别的象质计钢丝直径与什么有关?(c)a.只取决于黑度Db.只取决于μp/1+nc.取决于D和μp/1+nd.与D或μp/1+n均无关70.如何提高射线胶片的信噪比?(a)a.增加曝光量b.提高管电压c.采用快速胶片d.提高显影液pH值71.用含锑6%的铅合金代替铅作增感屏其原因是这种增感屏(c)a.清晰度好b.斑点效高深莫测少c.比较耐磨损d.增感系数高72.192Ir的γ射线通过水泥墙后,照射率衰减到200mR/h,为使照射率衰减到10mR/h以下,至少还应复盖多厚的铅板?(d)(H Pb=0.5mm)a.30.5mmb.10.5mmc.40.6mmd.21.5mm73.制订放射性同位素与射线装置放射防护条例是为了(d)a.保障从事放射工作的人员和公众的健康与安全b.保护环境c.促进放射性同位素和射线技术的应用与发展d.以上都是74.线型像质计的像质指数Z和金属丝直径d之间的关系是(b)a.d=106-2/10b.d=10(6-2)/10c.Z=10(6-d)/10d.Z=106-d/1075.采用4.5x4.5mm方形有效焦点的X光机透照厚度100mm的工件,当焦距为1000mm 时,其“几何不清晰度”为(b) a.0.25mm b.0.5mm c.0.75mm d.1mm76.射线透照厚度1.25英寸的铸件,射线底片上显示出ASTM20#像质计的2T孔,则该底片的当量灵敏度为(b) a.0.8% b.1.6% c.2.4% d.3.2%77.像质计金属丝的“几何因素修正系数ζ”随几何间距与金属丝直径比值θ'/θ的急剧增大而(c) a.不变 b.增大 c.减小 d.以上都不是78.透照某工件时采用荧光增感,假定管电流为10mA,曝光时间40秒,可以得到理想的射线底片,若用5mA管电流得到同样黑度的底片,需要的曝光时间是(b)a.小于80秒b.大于80秒c.等于80秒d.以上都不对79.美国ASTM、ASME透度计2-1T号的等效灵敏度为(b)a.1.0%b.1.4%c.2.0%d.0.7%80.增大工件到胶片的距离将引起图像的几何放大,但这在什么情况下是可以采用的?(c)a.为了提高清晰度b.减小射源尺寸c.为了减少散射比d.做低倍射线照相81.筒形工件,当选用内源透照法时,若要获得对横向裂纹的最高检出率,射线源应放置在(a) a.内圆中心处 b.小于内半径处 c.大于内半径处 d.以上都不是82.220KV的X射线,对钢和铜进行射线照相,两者的厚度当量系数为1比1.4,若以21mm 厚的钢板进行射线照相时的曝光条件,对铜进行射线照相,则此铜板的厚度应该是多少?(c):a.20mm b.35mm c.15mm d.25mm83.220KV的X射线,对钢和铜进行射线照相,两者的厚度当量系数为1比1.4,若以10mm 厚的铜板进行射线照相时的曝光条件,对钢进行射线照相,则此钢板的厚度应该是多少?(b):a.6mm b.14mm c.28mm d.25mm84.当用观察灯观察底片时,为了获得更直观的效果,在曝光时采用不同方向摄取两张底片的特殊照相方法,称之为(b)a.荧光屏观察法b.立体射线照相法c.干板射线照相法d.闪烁计数法85.在同一张底片上作两个不同位置的X射线照相,根据缺陷影像的位置移动,相对于试样固定标志的影像,可以计算出缺陷的深度,这种方法称之为(a)a.深度定位视差法b.立体射线照相法c.荧光增感照相法d.立体投影法86.由于X射线在粗晶材料中可能发生衍射效应,因此散射的特殊形式表现为(b)a.底片的衬度差b.底片上出现斑点c.底片上发生严重灰雾d.底片的分辨率差87.在底片上出现特殊形状的斑点影像,又称为“劳埃斑”的可能原因是(a)a.X射线在粗晶材料中发生衍射效应所致b.X射线在粗晶材料中发生折射效应所致c.背散射所致d.侧面散射所致88.大晶粒金属零件射线照相时,用什么方法可以减轻衍射斑点的影响?(c)a.提高管电压并使用荧光增感屏b.降低管电压并使用铅箔增感屏c.提高管电压并使用铅箔增感屏d.降低管电压并使用荧光增感屏89.通常在透照哪些材料时容易产生衍射斑点?(d)a.较薄的大晶粒重元素合金铸件b.镍基高温合金铸件c.铸造单晶叶片d.以上都是90.对于包括轴、圆棒类、厚壁小孔圆管等圆形截面工件的透照,为了减少厚度差的影响,简单有效的方法是(d) a.制作专用托座 b.制作专用夹具 c.补偿物法 d.使用滤波板91.200千伏时,钢和铜的射线照相当量系数分别为1.0和1.4,对12毫米厚的铜板进行射线照相,需要用(a)厚的钢的曝光量:a.16.8mm b.8.4mm c.33.6mm d.25.4mm92.下列各种衍射斑纹在铸件中常见的是(c)a.线状衍射斑纹b.羽毛状衍射斑纹c.斑点状衍射斑纹d.以上都是93.判断射线照片上的影像斑纹是否是衍射斑纹的方法是(d)a.改变透照电压b.改变透照方向c.改变胶片与工件间距离d.以上都是94.在射线照相质量验收标准中经常重新作出规定的是(b)a.缺陷性质b.缺陷数量c.缺陷位置d.以上都是95.关于放大射线照相技术,下列叙述正确的是(b)a.放大倍数存在最佳值b.工件与胶片的距离越小越好c.射线源与工件的距离越小越好d.以上都正确96.下列问题中适于康普顿背散射成像技术检验的是(d)a.金属表面的腐蚀裂纹b.原子序数低厚度小物体的层析射线照相c.厚度很大物体的表面层内部缺陷d.以上都是97.下列技术中适于检验厚度很大物体表面层缺陷的是(c)a.中子射线照相b.射线CT技术c.康普顿背散射成像技术d.以上都是98.电子射线照相技术采用单面乳剂胶片主要是因为(d)a.胶片的清晰度高b.增加电子的感光作用c.减少电子的散射d.减少胶片对X射线的吸收99.在下列问题中,更适于采用中子射线照相检验的是(d)a.厚大钢铸件的裂纹缺陷b.厚大钢铸件的缩孔缺陷c.厚大钢铸件的熔剂夹杂物d.以上都是100.对于例如铝蜂窝粘接结构的表面蒙皮与蜂窝芯体粘接情况之类的金属粘接质量检查,较适宜的无损检测方法是(c)a.X射线照相检测b.伽马射线照相检测c.中子射线照相检测d.α射线检测101.对于例如炮弹弹体内火药之类的金属外壳中含氢物质质量检查,较适宜的无损检测方法是(c) a.X射线照相检测 b.伽马射线照相检测 c.中子射线照相检测 d.α射线检测102.对于核反应堆的核燃料质量检查,较适宜的无损检测方法是(c)a.X射线照相检测b.伽马射线照相检测c.中子射线照相检测d.α射线检测103.线状衍射斑纹的一个重要特点使其一侧常伴随有(c)a.白线b.人字形斑纹c.以上都是104.当改变透照电压时,衍射斑纹在射线照片上的影像一般(b)a.无变化b.有明显变化c.衍射斑纹的形成与管电压无关105.线状、羽毛状衍射斑纹常出现在(d)的焊缝射线照片上a.不锈钢b.铝合金c.钛合金d.以上都是106.斑点状衍射斑纹常出现在(d)的铸件射线照片中a.轻合金b.不锈钢c.一般碳钢d.a和b107.在射线底片上的线状斑纹,在大多数情况下其影像具有清晰的形貌,影像的黑度也较大,这种显示很可能是(c) a.裂缝 b.夹渣 c.擦痕 d.以上都不是108.对非金属材料和复合材料工件进行射线照相时应特别注意(c)a.黑度b.管电压c.散射线防护d.曝光参数109.非金属材料和复合材料工件进行射线照相时散射线增多主要是因为它的成分中有较多(b)的物质 a.原子序数高 b.原子序数低 c.高密度 d.以上都不是110.在射线照相中,确定缺陷在工件中深度位置的方法是(d)a.在互相垂直的两个方向对工件作二次照相b.对工件作平移二次照相c.对工件作旋转二次照相d.以上都是111.已知某品牌的便携式X射线机(300KV,5mA)的穿透能力可达到53mmFe,已知300KV 的X射线对钛合金与钢的射线照相等效系数分别为0.6和1.0,则要透照90mm厚的钛合金饼坯,该X射线机能否胜任?(b)a.可以胜任b.已达到该X射线机的能力最高值,不宜使用c.无法确定d.以上都不对112.阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量的影响方面和丝型像质计相比(a)a.阶梯孔型像质计更灵敏些 b.丝型像质计更灵敏些 c.两者灵敏性相同 d.以上都不是113.阶梯孔型像质计的射线照相灵敏度规定为(a)a.S h=(h/T)x100%b.S h=(T/h)x100%c.S h=(h·T)x100%d.以上都不是(式中:S h-阶梯孔型像质计的射线照相灵敏度;h-可识别的最小孔所在的阶梯的厚度;T-工件的透照厚度)114.请判断图中的像质计属于什么类型的像质计(a)a.沟槽型b.阶梯型c.线型d.平板孔型115.请判断图中的像质计属于什么类型的像质计(b)a.沟槽型b.阶梯型c.线型d.平板孔型116.请判断图中的像质计属于什么类型的像质计(b)a.沟槽型b.阶梯孔型c.线型d.平板孔型117.请判断图中的像质计属于什么类型的像质计(b)a.沟槽型b.阶梯孔型c.线型d.平板孔型118.请判断图中的像质计属于什么类型的像质计(d)a.沟槽型b.阶梯孔型c.线型d.平板孔型119.请判断图中的像质计属于什么类型的像质计(d)a.沟槽型b.阶梯孔型c.线型d.平板孔型120.请判断图中的像质计属于什么类型的像质计(a)a.斜面型b.阶梯孔型c.线型d.平板孔型121.在主要考虑几何不清晰度与胶片固有不清晰度的情况下,底片总的不清晰度与几何不清晰度和胶片固有不清晰度的关系可以表达为(a)a.U2=Ug2+Ui2b.U2=Ug2-Ui2c.U=Ug2+Ui2d.以上都不对(式中:U-底片总的不清晰度;Ug-几何不清晰度;Ui-胶片固有不清晰度)122.下面关于恒电位X射线机的叙述中,错误的是(b)a.恒电位X射线机也简称为CP型X射线机b.恒电位X射线机可产生一个恒定能量的X射线束c.恒电位X射线机能提供更强的能量输出d.恒电位X射线机能延长射线管寿命和缩短曝光时间123.在用针孔测量法测量X射线管的有效焦点尺寸时,应使用(d)a.增感型胶片b.非增感型胶片+铅箔增感屏c.快速非增感型胶片d.非增感型的微粒胶片124.在X射线照相中使用相纸技术时,其黑度的测量是采用(b)a.透射式黑度计b.反射式黑度计c.以上都是d.以上都不是下数句子错误的是(c)a.60Co有较大的穿透力,适合检测厚件b.192Ir半衰期较短,检测前要知道其活性(居里数)c.75Se还在实验室阶段,不适合用于射线检测d.75Se能阶较低,适合检测薄件126.ASME孔洞型像质计之缺角代表(a):a.材质 b.编号 c.厚度 d.孔径127.按辐射防护规定,工作人员的最高许可等效剂量值(rem)的基本计算公式为(a)a.H=5(N-18) b.H=6(N-18) c.H=5(N-20) d.H=6(N-20)(式中:H-累积总等效剂量,rem;N-实足年龄)128.公司8月份新招聘的无损检测员工中发现一名新工人应该在12月31日年满18周岁,该名员工可否立即跟随参与放射性检测工作?(b)a.应先改做与放射性检测业务相关的工作b.应先改做不与放射性源接触的工作至满18周岁以后c.应改行做其他与放射性检测业务无关的工作d.可以立即跟随参与放射性检测工作129.按辐射防护规定,从事放射性工作的人员年龄必须年满(b)a.16周岁b.18周岁c.20周岁d.22周岁130.按辐射防护规定,一位35岁的女性工作人员可否参与临时性的应急照射检测工作?(a)a.不允许 b.可以参与 c.只要本人愿意就可以参与 d.以上都不对131.按辐射防护规定,一位45岁的女性工作人员可否参与临时性的应急照射检测工作?(a)a.不允许 b.可以参与 c.只要本人愿意就可以参与 d.以上都不对132.从事放射性检测工作的人员的剂量核算的各种资料至少应保存(d)年:a.10b.15c.20d.30133.从事放射性检测工作的人员的剂量核算的各种资料保存年限起计时间是(b)a.自其开始参与放射性检测工作之日起算b.自其停止参与放射性检测工作之日起算c.自18周岁起算d.自第一次测量其接受放射性辐射的照射剂量当量之日起算134.常用荧光增感屏的荧光物质是什么?(d):a.钨酸钙 b.硫酸铅钡 c.氯化钠 d.a和b 135.金属丝型像质计的灵敏度计算表达式为(a)a.(像质计在底片上显现的最小线径/被检物厚度)x100%b.(像质计在底片上显现的最大线径/被检物厚度)x100%c.(被检物厚度/像质计在底片上显现的最小线径)x100%d.(被检物厚度/像质计在底片上显现的最小线径)x100%136.孔洞型像质计的灵敏度计算表达式为(a)a.(AB/2)1/2b.(2/AB)1/2c.(AB/2)2d.(2/AB)2(式中:A=(像质计厚度/被检物厚度)x100%;B=(像质计在底片上所显现的最小孔径/被检物厚度)x100%)137.制作金属丝型像质计的衬板或封套、框架,其材质的射线吸收系数应比金属丝的射线吸收系数(b) a.大 b.小 c.相同 d.无所谓138.下面图例1是某公司生产的某型号便携式气绝缘定向曝光X光机的曝光曲线,其曝光条件为Agfa D7胶片,0.027mmPb增感,焦距700mm,底片黑度2.0,该X光机的额定管电流为6mA,试确定曝光量20-40之间对应220KV的厚度宽容量是多少毫米?(b)a.3b.5.5c.8d.无法确定139.下面图例是某公司生产的某型号便携式气绝缘定向曝光X光机的曝光曲线,其曝光条件为Agfa D7胶片,0.027mmPb增感,焦距700mm,底片黑度2.0,该X光机的额定管电流为6mA,试确定曝光量20-40之间对应300KV的厚度宽容量是多少毫米?(c)a.3b.5.5c.8d.无法确定10二.是非判断题1.不稳定的同位素在衰变期间,始终要辐射出γ射线。

X射线复习和思考题

X射线复习和思考题

X射线复习和思考题一、名词解释1物相分析:确定材料由哪些相组成(即物相定性分析)和确定各组成相的含量(常以体积分数或质量分数表示,即物相定量分析)。

2、零层倒易面:属于同一[uvw]晶带的各(HKL)晶面对应的倒易矢量r*HKL处于一个平面内.这是一个通过倒易点阵原点的倒易面,称为零层倒易面。

3、X射线:一种波长介于紫外线和射线之间的具有较短波长的电磁波。

4、射线与Ki射线:管电压增加到某一临界值(激发电压),使撞击靶材的电子能量(eV)足够大,可使靶原子K层产生空位,其外层电子向K层跃迁产生的X射线统称为K系特征辐射,其中由L层或M层或更外层电子跃迁产生的K系特征辐射分别顺序称为K , Q,…射线。

5、短波限:电子与靶材相撞,其能量(eV)全部转变为辐射光子能量,此时光子能量最大、波长最短,因此连续谱有一个下限波长.0,即称为短波限。

6、参比强度:参比强度是被测物相与刚玉(「-AI2O3)按1 : 1重量比混合时,被测相最强线峰高与刚玉(六方晶系,113衍射线)最强线峰高的比值。

7、质量吸收系数:设・m=出】(:7■为物质密度),称.A为质量吸收系数,为X射线通过单位质量物质时能量的衰减,亦称单位质量物质对X射线的吸收。

8、晶带:在晶体中如果若干个晶面同时平行于某一轴向时,则这些晶面属于同一晶带,而这个轴向就称为晶带轴。

9、光电效应:当入射X射线光子能量达到某一阈值,可击出物质原子内层电子,产生光电效应。

10、二次特征辐射(X射线荧光辐射):当高能X射线光子击出被照射物质原子的内层电子后,较外层电子填其空位而产生了次生特征X射线(称二次特征辐射)。

11、相干散射:相干散射是指入射电子与原子内受核束缚较紧的电子(如内层电子)发生弹性碰撞作用,其辐射出的电磁波的波长与频率与入射电磁波完全相同,新的散射波之间可以发生相互干涉。

二、简答,论述,计算题1、辨析点阵与阵胞、点阵与晶体结构、阵胞与晶胞的关系。

材料分析题库含答案.

材料分析题库含答案.

材料分析试题库选择题:一、1. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称( B )A.Kα;B. Kβ;C. Kγ;D. Lα。

2. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选( C )A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。

3. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称( A )A.短波限λ0;B. 激发限λk;C. 吸收限;D. 特征X射线4.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生(D )A.光电子;B. 二次荧光;C. 俄歇电子;D. (A+C)二、1.最常用的X射线衍射方法是( B )。

A. 劳厄法;B. 粉末法;C. 周转晶体法;D. 德拜法。

2.射线衍射方法中,试样为单晶体的是(D )A、劳埃法B、周转晶体法C、平面底片照相法D、 A和B3.晶体属于立方晶系,一晶面截x轴于a/2、y轴于b/3、z轴于c/4,则该晶面的指标为( B)A、(364)B、(234)C、(213)D、(468)4.立方晶系中,指数相同的晶面和晶向(B )A、相互平行B、相互垂直C、成一定角度范围D、无必然联系5.晶面指数(111)与晶向指数(111)的关系是( C )。

A. 垂直;B. 平行;C. 不一定。

6.在正方晶系中,晶面指数{100}包括几个晶面( B )。

A. 6;B. 4;C. 2D. 1;。

7.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是( B )A.X射线透射学;B.X射线衍射学;C.X射线光谱学;D.其它三、1、对于简单点阵结构的晶体,系统消光的条件是( A )A、不存在系统消光B、h+k为奇数C、h+k+l为奇数D、h、k、l为异性数2、立方晶系{100}晶面的多重性因子为( D )A、2B、3C、4D、63、洛伦兹因子中,第一几何因子反映的是( A )A、晶粒大小对衍射强度的影响B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响D、试样形状对衍射强度的影响4、洛伦兹因子中,第二几何因子反映的是( B )A、晶粒大小对衍射强度的影响B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响D、试样形状对衍射强度的影响5、洛伦兹因子中,第三几何因子反映的是( C )A、晶粒大小对衍射强度的影响B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响D、试样形状对衍射强度的影响6、对于底心斜方晶体,产生系统消光的晶面有( C )A、112B、113C、101D、1117、对于面心立方晶体,产生系统消光的晶面有( C )A、200B、220C、112D、1118、热振动对x-ray衍射的影响中不正确的是(E )A、温度升高引起晶胞膨胀B、使衍射线强度减小C、产生热漫散射D、改变布拉格角E、热振动在高衍射角所降低的衍射强度较低角下小9、将等同晶面个数对衍射强度的影响因子称为( C )A、结构因子B、角因子C、多重性因子D、吸收因子四、1、衍射仪的测角仪在工作时,如试样表面转到与入射线成30度角时,计数管与入射线成多少度角?(B)A. 30度;B. 60度;C. 90度。

X射线荧光光谱分析仪基础知识

X射线荧光光谱分析仪基础知识

连续谱和特征谱
莫塞莱定律
阳极靶材不同产生的特征X射线不同。
为常数,均为特性系数随K,L,M,N等谱系而定。
所以通过测定X射线的能量和波长即可获知其为何种元素,识别物质组成。
特征谱线 L壳层 K壳层
Lα2
Lα1
Lβ1

K:p→s L:p→s, s→p, d→p,
电磁波谱
X射 线
X射线的产生
X射线管结构
X射线是高速运动的粒子与某种物质相撞击后猝然减速,且与该物质中的内层电子相互作用而产生的。 X射产生的条件: 产生并发射自由电子(加热钨灯丝)。 在真空中迫使自由电子朝一定方向高速运动(加一很高的管电压)。 在高速电子流的运动路程上设置一障碍物(阳极靶),使高速运动的电子突然受阻。
ML K
连续谱和特征谱
X特征谱Kα
当高速电子能量足够大时, 阳极中处于基态的K层电子被击出, 原子系统能量由基态升到K激发态, 高能级电子向K层空位填充时长生K 系辐射。L层电子填充空位时,产生 Kα 系辐射;M层电子填充空位时产 生Kβ辐射。
所以当电压不断提高至超过临界电压时,在某些固定的波长位置,形成远高于连续谱强度的 强度峰——特征峰。
荧光产额
一般而言随原子序数的增加,荧光产额显著上升,对轻元素,荧光产额很低,这也是利用XRF 分析轻元素比较困难的原因。
元素 C
不同元素的K系荧光产额
O
Na
Si
K
Ti
Fe Mo Ag Ba
ωK 0.0025 0.0085 0.024 0.047 0.138 0.219 0.347 0.764 0.83 0.901
因散射构成待测元素的背景,对元素的测定特别是痕量元素的测定带来不利的影响,然而利用散 射线作为内标,则可以校正基体的吸收效应和非均匀效应,因此研究X射线在物质中的散射现象是十 分重要的。

张永林第二版《光电子技术》课后习题答案

张永林第二版《光电子技术》课后习题答案

1.1可见光的波长、频率和光子的能量范围分别是多少? 波长:380~780nm 400~760nm 频率:385T~790THz 400T~750THz 能量:1.6~3.2eV1.2辐射度量与光度量的根本区别是什么?为什么量子流速率的计算公式中不能出现光度量? 为了定量分析光与物质相互作用所产生的光电效应,分析光电敏感器件的光电特性,以及用光电敏感器件进行光谱、光度的定量计算,常需要对光辐射给出相应的计量参数和量纲。

辐射度量与光度量是光辐射的两种不同的度量方法。

根本区别在于:前者是物理(或客观)的计量方法,称为辐射度量学计量方法或辐射度参数,它适用于整个电磁辐射谱区,对辐射量进行物理的计量;后者是生理(或主观)的计量方法,是以人眼所能看见的光对大脑的刺激程度来对光进行计算,称为光度参数。

因为光度参数只适用于0.38~0.78um 的可见光谱区域,是对光强度的主观评价,超过这个谱区,光度参数没有任何意义。

而量子流是在整个电磁辐射,所以量子流速率的计算公式中不能出现光度量.光源在给定波长λ处,将λ~λ+d λ范围内发射的辐射通量 d Φe ,除以该波长λ的光子能量h ν,就得到光源在λ处每秒发射的光子数,称为光谱量子流速率。

1.3一只白炽灯,假设各向发光均匀,悬挂在离地面1.5m 的高处,用照度计测得正下方地面的照度为30lx ,求出该灯的光通量。

Φ=L*4πR^2=30*4*3.14*1.5^2=848.23lx1.4一支氦-氖激光器(波长为632.8nm )发出激光的功率为2mW 。

该激光束的平面发散角为1mrad,激光器的放电毛细管为1mm 。

求出该激光束的光通量、发光强度、光亮度、光出射度。

若激光束投射在10m 远的白色漫反射屏上,该漫反射屏的发射比为0.85,求该屏上的光亮度。

32251122()()()6830.2652100.362()()22(1cos )()0.3621.15102(1cos )2(1cos 0.001) 1.4610/cos cos cos 0()0.3v m e v v v v v v v vv v vK V lm d I d S RhR R I cddI I I L cd m dS S r d M dS λλλλλππθλπθπθθπλ-Φ=Φ=⨯⨯⨯=Φ∆Φ==Ω∆Ω∆∆Ω===-∆Φ===⨯--∆∆====⨯∆Φ==52262 4.610/0.0005lm m π=⨯⨯'2'''222''2'2'100.0005(6)0.850.850.85cos 0.85155/cos 2v vvv v v v v l m r mP d r M E L dS lr L d dM l L cd m d dS d πθπθπ=>>=Φ===⋅⋅Φ====ΩΩ1.6从黑体辐射曲线图可以看书,不同温度下的黑体辐射曲线的极大值处的波长随温度T 的升高而减小。

分析化学第七版(仪器分析部分)课后答案.doc

分析化学第七版(仪器分析部分)课后答案.doc

电位法及永停滴定法1. 在25°C,将pH 玻璃电极与饱和甘汞电极浸入pH=6.87的标准缓冲溶液中,测得电动势为0.386V ;测 定另一未知试液时,测得电动势为0.508V o 计算未知试液的pHo2. 若K H+,Na +=l X 10'15,这意味着提供相同电位吋,溶液中允许Na+浓度是屮浓度的多少倍?若Na+浓度为 1.0 mol/L吋,pH= 13.00的溶液所引起的相对误差是多少?(1)K,Na+=l X IO*15时,意味着干扰离子Na*的活度比被测离子T 的活度高1 X 1(^倍时,两者才产生相 同的电位。

⑵空% =込心poo%-竺兽3十%C g10"3. 某钙离子选择电极的选择系数Kc 砂皤=0.0016,测定溶液中C/+离子的浓度,测得浓度值为2.8X 10'4mol/L,若溶液中存在冇0.15mol/L 的NaCI,计算:①由于NaCl 的存在,产生的相对误差是多少?②若 要使相对谋差减少到2%以下,NaCl 的浓度不能人于多少?医% =心厂严灯00% = °・°°心(0」5芒xl00% = 12.89%C乞2.8x10 4A若要使相对谋差减少到2%以下,则解得NaCl 的浓度不能人于0.059mol/L4. 用下列电池按直接电位法测定草酸根离子浓度。

Ag | AgCl (固)|KC1(饱和 H 迸涣浓度)|Ag2C2O4 個)|Ag(1) 推导出PC2O4与电池电动势Z 间的炎紊式(AgzCzCti 的溶度积Ksp=2.95Xl ()7)(2) 若将一走知浓度的草酸钠溶液置入陀电解池,在25°C 测得电池电动势为0.402V, Ag-AgCI 电极为负极。

计算未知溶液的PC2O4值。

(审切八旳/A 厂+ 0」990V , ^Ag+/Ag =+0.7995V ) a c 2o 42~0.0591 ”0.0591crew 0.059“TI、0.059 厂八"爲念 + 丁临心 -一1侶~广=0.7995 +丁lg(2.95xl0 J +丁=0.4889 + 空愛 pC 2O 42E ~ WAg^CE Ag - 0/fg+"g 一 必皿+°・°59仗® Ag=0.4889 + pC 2O 4 一 0.1990 = 0.2899 + pC 2O 42 20.402 = 0.2899 + pC 2O ApH x = pHs +0.059= 6.87 +0.508-0.386~~0.059-= 8.94 2%>心n n x/nr UYxl00% =0.0016 x(Cj“2.8 x 10-4xlOO% 必 eg% =必他 +0・0591g% =必仏 +0.0591gpC2O, = 3.8045 -30- 115- 1 1 f :>N 0- <3 U--15 -■ f I / I I I・30-I-45 -C 5 10 15 20 25 30 35 4 024-20- 16- 12- 8-5101520 253035405、下列电池的电动势为0.460V,计算反应M 2++4Y«MY 42_生成配合物MY 广的稳定常数K 皿比-。

材料测试答案1(1)

1.名词解释:相干散射(汤姆逊散射):入射线光子与原子内受核束缚较紧的电子(如内层电子)发生弹性碰撞作用,仅其运动方向改变而没有能量改变的散射。

又称弹性散射;不相干散射(康普顿散射):入射线光子与原子内受核束缚较弱的电子(如外层电子)或晶体中自由电子发生非弹性碰撞作用,在光子运动方向改变的同时有能量损失的散射。

又称非弹性散射;荧光辐射:物质微粒受电磁辐射激发(光致激发)后辐射跃迁发射的光子(二次光子)称为荧光或磷光,吸收一次光子与发射二次光子之间延误时间很短(10-8~10-4s)称荧光,延误时间较长(10-4~10s)则为磷光;(有待确定)俄歇效应:如原子的退激发不以发射X射线的方式进行则将以发射俄歇电子的德方式进行,此过程称俄歇过程或俄歇效应;吸收限:当入射X射线光子能量达到某一阈值可击出物质原子内层电子时,产生光电效应。

与此能量阈值相应的波长称为物质的吸收限。

晶面指数与晶向指数:为了表示晶向和晶面的空间取向(方位),采用统一的标识,称为晶向指数和晶面指数;晶带:晶体中平行于同一晶向的所有晶面的总体干涉面:晶面间距为d HKL/n、干涉指数为nh、 nk、 nl的假想晶面称为干涉面X射线散射:X射线衍射:X射线反射:结构因子:晶胞沿(HKL)面反射方向的散射波即衍射波F HKL是晶胞所含各原子相应方向上散射波的合成波,表征了晶胞的衍射强度;多重因子:通常将同一晶面族中等同晶面组数P称为衍射强度的多重性因数。

罗仑兹因子:系统消光:因︱F︱2=0而使衍射线消失的现象称为系统消光。

2.讨论下列各组概念中二者之间的关系:1)同一物质的吸收谱和发射谱;答:当构成物质的分子或原子受到激发而发光,产生的光谱称为发射光谱,发射光谱的谱线与组成物质的元素及其外围电子的结构有关。

吸收光谱是指光通过物质被吸收后的光谱,吸收光谱则决定于物质的化学结构,与分子中的双键有关。

2)X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。

材料分析方法课后习题答案

材料分析测试方法复习题第一部分简答题:1. X射线产生的基本条件答:①产生自由电子;②使电子做定向高速运动;③在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。

2. 连续X射线产生实质答:假设管电流为10mA,则每秒到达阳极靶上的电子数可达6.25x10(16)个,如此之多的电子到达靶上的时间和条件不会相同,并且绝大多数达到靶上的电子要经过多次碰撞,逐步把能量释放到零,同时产生一系列能量为hv(i)的光子序列,这样就形成了连续X射线。

3. 特征X射线产生的物理机制答:原子系统中的电子遵从刨利不相容原理不连续的分布在K、L、M、N等不同能级的壳层上,而且按能量最低原理从里到外逐层填充。

当外来的高速度的粒子动能足够大时,可以将壳层中某个电子击出去,于是在原来的位置出现空位,原子系统的能量升高,处于激发态,这时原子系统就要向低能态转化,即向低能级上的空位跃迁,在跃迁时会有一能量产生,这一能量以光子的形式辐射出来,即特征X射线。

4. 短波限、吸收限答:短波限:X射线管不同管电压下的连续谱存在的一个最短波长值。

吸收限:把一特定壳层的电子击出所需要的入射光最长波长。

5. X射线相干散射与非相干散射现象答: 相干散射:当X射线与原子中束缚较紧的内层电子相撞时,电子振动时向四周发射电磁波的散射过程。

非相干散射:当X射线光子与束缚不大的外层电子或价电子或金属晶体中的自由电子相撞时的散射过程。

6. 光电子、荧光X射线以及俄歇电子的含义答:光电子:光电效应中由光子激发所产生的电子(或入射光量子与物质原子中电子相互碰撞时被激发的电子)。

荧光X射线:由X射线激发所产生的特征X射线。

俄歇电子:原子外层电子跃迁填补内层空位后释放能量并产生新的空位,这些能量被包括空位层在内的临近原子或较外层电子吸收,受激发逸出原子的电子叫做俄歇电子。

7. X射线吸收规律、线吸收系数答:X射线吸收规律:强度为I的特征X射线在均匀物质内部通过时,强度的衰减与在物质内通过的距离x成比例,即-dI/I=μdx 。

材料研究方法复习资料

材料研究方法复习1.X射线的本质是什么?是谁首先发现了X射线,谁揭示了X射线的本质?本质是一种波长很短的电磁波,其波长介于0.01-1000A。

1895年由德国物理学家伦琴首先发现了X射线,1912年由德国物理学家laue揭示了X射线本质。

2.试述连续X射线谱与特征X射线谱产生的机理连续X射线谱:从阴极发出的电子经高压加速到达阳极靶材时,由于单位时间内到达的电子数目极大,而且达到靶材的时间和条件各不相同,并且大多数电子要经过多次碰撞,能量逐步损失掉,因而出现连续变化的波长谱。

特征X射线谱: 从阴极发出的电子在高压加速后,如果电子的能量足够大而将阳极靶原子中内层电子击出留下空位,原子中其他层电子就会跃迁以填补该空位,同时将多余的能量以X射线光子的形式释放出来,结果得到具有固定能量,频率或固定波长的特征X射线。

4. 连续X射线谱强度随管电压、管电流和阳极材料原子序数的变化规律?发生管中的总光子数(即连续X射线的强度)与:1 阳极原子数Z成正比;2 与灯丝电流i成正比;3 与电压V二次方成正比:I 正比于i Z V2可见,连续X射线的总能量随管电流、阳极靶原子序数和管电压的增加而增大5. Kα线和Kβ线相比,谁的波长短?谁的强度高?Kβ线比Kα线的波长短,强度弱8. X射线强度衰减规律是什么?质量吸收系数的计算?X射线通过整个物质厚度的衰减规律:I/I0 = exp(-μx)式中I/I0称为X射线穿透系数,I/I0 <1。

I/I0愈小,表示x射线被衰减的程度愈大。

μ为线性吸收系数吸收常用质量吸收系数μm表示,μm=μ/ρ如果材料中含多种元素,则μm=Σμmi w i其中w i为质量分数9.下列哪些晶面属于[111]晶带?(111)、(321)、(231)、(211)、(101)、(101)、(133),(-1-10),(1-12),(1-32),(0-11),(212),为什么?晶面(crystal plane)——晶体结构一系列原子所构成的平面。

IAEA-277号报告

电离室空气吸收剂量因子(美国医学物理学会(AAPM)规范作 N gas
水吸收剂量校准因子 电离室(剂量计)的空气比释动能校准因子 电离室(剂量计)的空气比释动能校准因子 考虑电离室中心极材料非空气等效的因子 考虑电离室 考虑电离室离子收集未饱和(由于离子复合损失)的因子 温度和气压偏离参考值造成的修正因子
4
hm HVL J air J20 J10
katt kh km ku
Kair Km M ND N D ,W NK NX Pcel Pu Ps PTP P
当测量的电离最大点是在材料 m 中而不是在水中须用的修正因子 半值层 电离室空气空腔中的平均特定电离 源皮距固定时 20 cm 深度和 10 cm 深度的电离比 电离室在校准照射时,考虑其壁衰减(吸收和散射)的因子 考虑电离室空腔中空气湿度的修正因子 考虑电离室壁和平衡帽材料在(校准辐射质下)非空气等效的因子 考虑电离室在校准时和被使用者用于水中测量时 X 射线谱分布变化 的因子 空气的比释动能(kerma) 受照射模体中某点的材料 m 的比释动能(kerma) 电离室测量系统的读数
1.2. 二级标准实验室和二级标准实验室(SSDLs)网的历史回顾
物理测量必须能够溯源到基准,这是通用法则。这样的基准由国家基准实验室和国际剂量局 (BIPM)建造和保存。电离辐射测量中,只有大约 20 个实验室有照射量和吸收剂量基准。一些国家 缺少校准设施导致 IAEA 和 WHO 考虑支持建立“二级标准实验室(SSDLs)”[11-13]。
─ 支持应用剂量学知识创作传播中心和实验室,改善剂量测定,特别是放射治疗剂量测定的精 确性和重复性;
─ 促进成员间的经验交流,接受会员,必要时互相支持; ─ 推动成员间的联系和与剂量学基准实验室(PSDLs)的联系,从而建立与国际辐射测量系统
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超短超强激光辐照靶物质产生K-alpha 源简介王向贤(巢湖学院物理与电子科学系 安徽 巢湖 238000)摘要:超短超强激光与物质相互作用产生的K-alpha 线辐射,有准单能、发射区域小、时间短等优点,具有广泛的应用前景。

介绍了超短超强激光辐照靶物质产生K-alpha 源的基本原理及其主要研究内容,讨论了该领域的研究热点。

关键词:超短超强激光;K-alpha 源;基本原理引言:超短超强激光与物质相互作用产生的K-alpha 线辐射。

有准单能(几十个keV )、发射区域小(微米量级),时间短(飞秒—皮秒量级)等优点[1,2]。

可广泛应用于惯性约束聚变背光照相,医学成像,光刻,时间分辨X 射线衍射等领域。

同时,超短超强激光与物质相互作用中超热电子辐射是强场物理的重要研究内容之一,而K-alpha 线的产生和超热电子直接相关,故可以通过研究K-alpha 线辐射研究超短超强激光与物质相关作用产生的超热电子。

一、超短超强激光辐照靶物质产生K-alpha 源的基本原理如图1所示,用超短超强激光脉冲辐照靶物质,如铝(Al )、铜(Cu )、金(Au )等,激光与靶物质的耦合将产生超热电子,超热电子向靶中输运,碰撞电离1S 轨道电子,使得1S 轨道产生空穴,此时2P 轨道电子将向1S 轨道跃迁,产生K-alpha 光子辐射,产生的K-alpha 线辐射包括K-alpha1线和K-alpha2线[3],分别对应于跃迁3/21/22221P S →和1/21/22221P S →。

图1 超短超强激光辐照靶物质产生K-alpha 光辐射的基本物理过程图2 超短超强激光辐照靶物质产生K-alpha光辐射的实验布局简图基于超短超强激光脉冲驱动的K-alpha源的实验布局如图2所示。

主激光经全反射镜反射后,被离轴抛面镜聚焦到铜等靶物质上。

X射线光谱仪(如:光子计数型CCD、晶体谱仪等)用于测量K-alpha线光谱,安装在与入射激光处于同一水平面的靶室法兰上(靶前、靶后位置均可),电子谱仪可同时在线测量实验产生的超热电子能谱。

二、超短超强激光辐照靶物质产生K-alpha源的主要研究内容:当前,国内外对超短超强激光与靶物质相互作用产生的K-alpha线辐射有较广泛的研究。

这些研究主要包括:激光偏振态对K-alpha线产额的影响;K-alpha 光辐射的角分布;K-alpha光的脉冲宽度;K-alpha光的空间尺度;K-alpha线产额、激光K-alpha光转化效率;预脉冲对K-alpha线产额的影响;靶材结构及靶表面粗糙度对K-alpha产额的影响;各种条件下K-alpha线辐射的优化以及K-alpha线的应用等等。

2.1 激光偏振状态对K-alpha线的影响[4]:由于P—偏振光与物质相互作用产生的超热电子的能量和产额远远高于S-偏振光与物质相互作用产生的超热电子的能量和产额。

因此P—偏转光与物质相互作用时X射线产额也远远高于S—偏振光与物质相互作用。

2.2 K-alpha 光辐射的角分布:Yoichiro Hironaka 等[5]将41fs 激光以600入射聚焦到Cu 靶上(聚焦后强度1721.310/W cm ⨯)。

用X 射线光电二极管测量硬X 射线(4-20keV)的产额,用Si 单晶衍射仪测量Cu 的K-alpha 线。

发现在激光为P —极化时,K 线辐射是各向同性的。

一般实验都假设K 线辐射是各向同性的。

2.3 K-alpha 光的脉冲宽度:X 射线脉冲宽度随着激光强度增加而增加。

T. Feurer 等[6]用80fs ,Ti :蓝宝石CPA 系统激光(最大能量200mJ )辐照Si 靶,测得X 射线脉冲宽度在200-640fs之间,并用PIC 和Monte-Carlo 电子输运程序模拟K 线辐射的时间特性,实验结果和计算符合的较好。

一般,K-alpha 线辐射的脉冲宽度约为入射激光宽度的3-10倍左右。

2.4 K-alpha 光的空间尺度[7,8]:Ch. Reich 等[8]用一二维的单色成像系统(6m μ分辨)研究了飞秒激光与Ti靶相互作用K 线辐射的空间特性。

K-alpha 线辐射的空间特性对高、低激光强度(大于或小于17210/W cm )有定性的不同。

低强度时,K-alpha 线的辐射由一宽的峰组成,而在高强度时,K-alpha 线峰值的中心被一大的弱K-alpha 线辐射的环围绕,它占K 线辐射的2/3。

当激光强度为182710/W cm ⨯时,K-alpha 线辐射区达400um ,峰值的半高宽为70um,而激光尺寸为3um 。

当激光强度增加时K-alpha 线辐射的峰值不再增加,甚至减小。

2.5 K-alpha 线产额、激光K-alpha 光转化效率[9—12]:D. Salzmann [10]等考虑光子的再吸收现象。

解析得出最优的产生K -alpha 线辐射的靶厚度和超热电子的能量及靶材的关系,发现最优的靶厚和电子的射程及光子的平均自由程相当。

此时,超热电子的能量应为K 壳层电离能的4~12倍(Cu为6倍)。

Ch. Reich [11]等考虑了K-alpha 线向靶前辐射时的再吸收效应,用一解析模型和PIC 程序模拟了最优的产生K 线辐射的激光强度。

解析模型得到的产生K 线辐射最优的激光强度为:9 4.4710opt I Z =⨯,PIC 模拟结果得到Cu 、Ag 的K-alpha 线辐射的最优辐照激光强度则分别为152710/W cm ⨯和162310/W cm ⨯, 其结果与解析模型结果有一定的偏差,这主要是由于考虑再吸收过程的近似处理造成的。

大多数实验结果[12]K-alpha 线产额约为109-1011(4πSr ),激光K-alpha 光的转化效率约为651010---。

2.6 预脉冲对K-alpha 线产额的影响:8921010/W cm -低的ASE 预脉冲虽然不能电离物质[13],但可以加热和气化靶材,当这些气体被激光的上升沿电离时,它可影响高强度激光与固体靶的相互作用。

Ch. Ziener 等[14]发现使用适当的预脉冲,K-alpha 线转换效率可以提高2~5倍。

预脉冲可以使K-alpha 线辐射增加,但会因为预脉冲使得K-alpha 线脉宽变宽。

2.7 靶材结构对K-alpha 线产额的影响: 靶的表面结构对X 射线的产额影响很大,故另一类现在广泛研究的办法是使用带一定表面结构的靶,如:刻槽(grating )靶, 胶体靶(Colloidal),天鹅绒靶(Velvet),多孔靶(Porous Si ),纳米圆孔阵列靶(Nanocylinder),以及金属纳米颗粒靶等等。

例如P. P. Rajeev 等[15]通过高压直流溅射法在铜基底上形成厚度约1m μ的球形和椭球形(比率为1.5)铜纳米粒子层。

用P 极化的100fs 钛宝石激光(1415210~10/W cm )以450入射到纳米粒子层,测量到10keV —200keV范围内的硬X 射线产额,相对于抛光的铜靶,最大有13倍的提高。

这些带表面结构的靶通过不同的机制,提高了激光到不同波长范围X 射线(软X 射线,中等硬X 射线和硬X 射线)的转化效率。

效率的提高在4倍到20倍不等,但脉冲宽度基本不变,可见带表面结构的靶在增强激光靶耦合方面的优势。

三、讨论研究清楚超短超强激光与靶物质相互作用产生K-alpha 线辐射的产额,转化效率与激光入射角、激光强度,靶厚度以及靶材结构的关系,是将其广泛应用的前提。

超短超强激光与物质相互作用产生K-alpha 线辐射的研究在很大程度上受到激光器激光能量的限制。

目前,超短超强激光与靶物质相互作用K-alpha 线辐射研究主要集中在:如何提高K-alpha 线产额,激光K-alpha 光转化效率,如:利用预脉冲和微结构靶或团簇是一种很好的解决途径;利用K-alpha 线辐射研究超热电子;K-alpha 线辐射的最优化条件等方面;随着超短超强激光器激光强度的不断提高,高强度激光与靶物质相互作用K-alpha线辐射也是研究的重点之一。

另外,超短超强激光与物质相互作用产生的K-alpha线辐射的应用也是主要研究内容之一。

主要参考文献:[1] Wang Xiang-xian. Experimental study of x-ray emission from interaction of ultra-short and ultra-intense laser with matter[D].Chengdu:Sichuan University,2006. 40~65.(王向贤. 超短超强激光与物质相互作用X射线辐射实验研究[D].成都:四川大学,2006. 40~65.)[2]Zhao Zong-Qing, Ding Yong-Kun, Gu Yu-Qiu, Wang Xiang-Xian et al. Monte Carlo Simulation of Ka Source Produced by Ultrashort and Ultrahigh Laser Interaction with Cu Targe[J]. Acta Phys. Sin,2007,56(12):7127—7231.(赵宗清,丁永坤,谷渝秋,王向贤等.超短超强激光与铜靶相互作用产生Kα源的蒙特卡罗模拟[J].物理学报,2007,56(12):7127—7231.)[3] Wang Xiang-xian, Lu Chao, Zhu Ren-yi et al. Research and Teaching Practice of the Teaching Software of Atomic Information of Ground State and K-alpha Ray[J]. Journal of Chaohu College, 2009,11(6):128—130.(王向贤,鲁超,朱仁义. 原子信息_基态和k_alpha线教学软件的研发与教学实践[J]. 巢湖学院学报, 2009, 11(6):128—130.)[4]U.Teubner, J.Bergmann, B.Van Wonterghen et al. Angle-Dependent of X-Ray Emission and Resonance Absorption in a Laser-Produced Plasma Generated by a High Intensity Ultrashort Pulse [J]. Phys.Rev.Lett, 1993, 70(6): 794~797.[5]Yoichiro Hironaka, Kazutaka G. Nakamura , Ken-ichi Kondo. Angular distribution of x-ray emission from a copper target irradiated with a femtosecond laser [J]. Appl. Phys. Lett, 2000, 77( 25): 4110~4111.[6]T. Feurer, A. Morak, I. Uschmann et al. Femtosecond silicon Ka pulses from laser-produced plasmas [J]. Phys. Rev. E, 2001, 65: 016412-1~016412-4.[7]N. Zhavoronkov, Y. Gritsai, M. Bargheer et al. Generation of ultrashort Ka radiation from quasipoint interaction area of femtosecond pulses with thin foils [J]. Appl. Phys. Lett, 2005, 86: 244107-1~244107-3.[8] Ch. Reich, I. Uschmann, F. Ewald et al. Spatial characteristics of K a x-rayemission from relativistic femtosecond laser plasmas [J]. Phys. Rev. E, 2003, 68: 056408-1~056408-5.[9]L. M. Chen, P. Forget, S. Fourmaux et al. Study of hard x-ray emission from intense femtosecond Ti:sapphire laser–solid target interactions[J].Phys. Plasmas, 2004, 11(9): 4439~4445.[10]D. Salzmann,Ch. Reich,I. Uschmann et al. Theory of K a generation by femtosecond laser-produced hot electrons in thin foils[J]. Phys. Rev. E, 2002, 65: 036402-1~036402-7.[11]Ch. Reich, P. Gibbon, I. Uschmann et al. Yield Optimization and Time Structure of Femtosecond Laser Plasma Ka Sources [J].Phys. Rev. Lett, 2000, 84(21): 4846~4849.[12]J. A. King,K. Akli,R. A. Snavely et al. Characterization of a picosecond laser generated 4.5 keV Ti K-alpha source for pulsed radiography [J]. Rev. Sci. Instrum, 2005, 76: 076102-1~076102-3.[13]K. B. Wharton, C. D. Boley, A. M. Komashko et al. Effects of nonionizing prepulses in high-intensity laser-solid interactions[J]. Phys. Rev. E, 2001, 64: 025401-1~025401-4.[14]Ch. Ziener,I. Uschmann,G. Stobrawa et al. Optimization of K a bursts for photon energies between 1.7 and 7 keV produced by femtosecond-laser-produced plasmas of different scale length [J]. Phys. Rev. E, 2002, 65: 066411-1~066411-8. [15]P. P. Rajeev, S. Banerjee, A. S. Sandhu et al. Role of surface roughness in hard-x-ray emission from femtosecond-laser-produced copper plasmas [J]Phys. Rev. A, 2002, 65:052903-1~052903-5.。

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