补偿密度测井仪器刻度原理及应用
岩性密度测井方法及应用
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中国石油践行社会 主义核心价值体 系走在央企前列
ＯＰ Ｄ讯 ６ １日， 月 中宣 部副 部长 申维 辰一 行 ， 国务 院 国资委 党委 委员 、 在 副秘 书长 杜 渊泉 的 陪 同下 ， 到
集 团公司就 中国石油贯彻落实全国国有企业推进社会主义核心价值体系建设座谈会精神 ， 推进社会主义核 心价值体系建设的做法和经验进行调研 。集团公司党组书记、 董事长蒋洁敏主持调研汇报。 调研组参观 了中国石油展厅和油气调控 中心 ， 并听取集团公 司党组成员 、 副总经理李新华的工作汇报 ， 充分肯定集 团公司推进社会主义核心价值体系建设取得的突出成绩 ， 指出 ， 中国石油是传承大庆精神铁人精 神， 与时俱进 ， 推动科学发展的一面旗帜 ； 是发扬党的思想政治工作优 良传统 ， 打造铁人式队伍 的坚强堡垒 ； 是
（ ） 一 计算 密度
Ｌ Ｎ （ Ｒ ＋Ｈ Ｄ ） １ ．０ ０ ４ （ Ｈｒ Ｓ ＝Ｈ Ｄ１ Ｒ ２ ／（—０ ０ ０ （ ｔ ０ Ｓ １ ３＋１ Ｈ Ｄ ． ３ ） Ｒ ２＋Ｈ Ｄ１ Ｆ ２ ５ ｏ） Ｒ ＋Ｓ Ｔ ＋１ ｏ ） ； （） ５
Ｍ＝ ｌＮｄ 一 ｄ ／ ｂ ｍ＊ ａ ｎ Ｐ＝ Ｌ
光 电吸 收 系数 的方 法和手段 ， 使得 放射 性测 井在整 个测 井行 业具有不 可或缺 的地位 。
岩性密度测井仪工作原理与典型故障分析
岩性密度测井仪工作原理与典型故障分析岩性密度测井仪（简称密度仪）是一种测量地层岩石密度的工具，在石油勘探和生产中具有重要的应用价值。
其测井原理是基于射线吸收原理，通过测量射线经过地层物质的散射和吸收程度，确定地层的密度，从而间接推断出化学成分和物理性质。
岩性密度测井仪主要由辐射源、探头、检测器、信号放大器、计算机等组成。
其中，辐射源一般采用铯（Cs-137）或锶（Sr-90）等一定放射性元素，通过电子放射产生γ射线。
探头一般分为双探头和三探头。
双探头分为测量探头和参考探头，用于测量不同岩石密度。
三探头则分别测量低、中、高密度范围内的γ射线强度。
检测器用于接收γ射线，并将接收到的信号转换成电信号进行放大和输出，传送到计算机并进行数据处理和记录。
测井中，岩性密度测井仪应用时，放射源向地层发射脉冲γ射线，探头接收到地层反射的γ射线强度信号，这些信号经过处理后转化为地层密度数值。
密度仪所测量的深度范围一般从数百米至数千米不等，深度范围与测井工具的测井参数有关，同时会受到地层矿物组分、孔隙度、矿物晶格结构等因素的影响。
典型故障分析：1. 探头损坏：在测井运输中或使用过程中，探头可能会受到撞击损坏或失效。
这时，需要更换探头或维修探头，才能保证密度仪的正常使用。
2. 放射源衰减或下线：放射源衰减或下线是密度仪出现故障的主要原因之一。
如果检测到这种情况，需要及时更换放射源才能继续使用。
同时，在更换放射源过程中，必须采取严格的辐射防护措施。
3. 电路故障：电路故障也是密度仪出现故障的常见原因之一，可能会造成测量误差、信号干扰等问题。
在发现电路故障时，需要检查电路元件、维护电路接线等，以确保计算机系统和控制器正常运行。
4. 水分浸润：如果密度仪设备接触到水分，可能会造成设备内部元件短路或失效。
最好的解决方法就是绝缘处理和保持设备的干燥。
5. 软件错误：在使用电子设备及软件时，软件错误是不可避免的。
软件错误可能会导致计算机系统崩溃、数据丢失等问题。
地层密度测井-DEN-PE-Xiahq
γ射线
散射γ光子的射线E 散射γ光子的射线 1 的射线
3)光电效应(Eγ<0.2Mev) 3)光电效应(Eγ<0.2Mev) 光电效应(E
γ射线
光电子
二、物质对γ射线的吸收 物质对γ
吸收：射线粒子的消失(公式F3-1,3-2,3吸收：射线粒子的消失(公式F3-1,3-2,3-3) F3 吸收系数:单位长度的物质对γ射线的吸收概率. 吸收系数:单位长度的物质对γ射线的吸收概率.可表示为 减弱吸收系数表示符号
的差别最大， ②U的差别最大，U = Pe *ρb ； 的差别最大 ρ ③流体的Pe 流体的 相对骨架来讲是很小的 、U相对骨架来讲是很小的
降低， Ф增大，ρb降低 ， U降低，而对 e的影 增大， 降低 而对P 响很小，由此称Pe为岩性系数 为岩性系数。 响很小，由此称 为岩性系数。
2)计算泥质含量 计算泥质含量Vsh 计算泥质含量 根据岩石体积物理模型可写出U方程 根据岩石体积物理模型可写出 方程 3)计算由三矿物构成的复杂岩石中各矿物的 计算由三矿物构成的复杂岩石中各矿物的 相对含量 ρb= ρmaa(1- φ)+ ρf φ U=Umaa(1- φ)+Uf φ ρmaa= ρAVA+ ρBVB+ ρCVC Umaa= UAVA+ UBVB+ UCVC VA+VB+ VC=1
4)与其它测井资料组合确定粘土矿物的成分 与其它测井资料组合确定粘土矿物的成分 及其含量，用以下交会图确定: 及其含量，用以下交会图确定: 交会图; ①Pe--GR交会图 ; ②Pe--Th交会图 交会图 交会图 交会图; 交会图; ③Pe—K 交会图 ④Uma-ρma交会图 交会图 交会图; ⑥CEC-HI交会图 ⑤TH-K交会图 交会图 交会图 P202 Table 7-1, P203第2段 第 段 随钻密度测井ρLWD： **** 随钻密度测井ρLWD：目前比较常用的 P73是随钻方位密度测井(A (ADN), 是随钻方位密度测井(A N), CDN, P73例如图3 11,图 VISION 475/675/825 例如图3-11,图3-12
测井曲线基本原理及其应用测井曲线基本原理及其应用
测井曲线基本原理及其应用测井曲线基本原理及其应用一．国产测井系列1、标准测井曲线2．5m底部梯度视电阻率曲线。
地层对比，划分储集层，基本反映地层真电组率。
恢复地层剖面。
自然电位（SP）曲线。
地层对比，了解地层的物性，了解储集层的泥质含量。
2、组合测井曲线（横向测井）含油气层（目的层）井段的详细测井项目。
双侧向测井（三侧向测井）曲线。
深双侧向测井曲线，测量地层的真电组率（RT），试双侧向测井曲线，测量地层的侵入带电阻率（RS）。
0．5m电位曲线。
测量地层的侵入带电阻率。
0.45m底部梯率曲线，测量地层的侵入带电阻率，主要做为井壁取蕊的深度跟踪曲线。
补偿声波测井曲线。
测量声波在地层中的传输速度。
测时是声波时差曲线（AC）自然电位（SP）曲线。
井径曲线（CALP）。
测量实际井眼的井径值。
微电极测井曲线。
微梯度（RML），微电位（RMN），了解地层的渗透性。
感应测井曲线。
由深双侧向曲线计算平滑画出。
[L/RD]*1000=COND。
地层对比用。
3、套管井测井曲线自然伽玛测井曲线（GR）。
划分储集层，了解泥质含量，划分岩性。
中子伽玛测井曲线（NGR）划分储集层，了解岩性粗细，确定气层。
校正套管节箍的深度。
套管节箍曲线。
确定射孔的深度。
固井质量检查（声波幅度测井曲线）二、3700测井系列1、组合测井双侧向测井曲线。
深双侧向测井曲线，反映地层的真电阻率（RD）。
浅双侧向测井曲线，反映侵入带电阻率（RS）。
微侧向测井曲线。
反映冲洗带电阻率（RX0）。
补偿声波测井曲线（AC），测量地层的声波传播速度，单位长度地层价质声波传播所需的时间（MS/M）。
反映地层的致密程度。
补偿密度测井曲线（DEN），测量地层的体积密度（g/cm3），反映地层的总孔隙度。
补偿中子测井曲线（CN）。
测量地层的含氢量，反映地层的含氢指数（地层的孔隙度%）自然电位曲线（SP）自然伽玛测蟛曲线（GR），测量地层的天然放射性总量。
划分岩性，反映泥质含量多少。
第八章 密度测井
-0.24*(2.65-2.55)/(2.65-1.0)=0.22 地层视石灰岩孔隙度=(2.71-2.25)/(2.71-1.0)=0.27
不变的过渡带
计
密度增加
数
率
能量(kev) 图8-2 Z相同而密度不同地层的散射吸收伽马能谱响应
第二节 密度测井
一、密度测井的基本原理 1、井下仪
图8-3为补偿密度测井仪的示意图，它包 括一个伽马源，两个伽马光子探测器。它们 安装在滑板上，测井时将滑板推靠到井壁上 。在下井仪器的上方装有辅助电子线路。
图8-12 计数率比与Pe的关系曲线
由此，通过测量高能段、低能段的伽马光子数，即 可确定地层密度 、光电吸收截面指数和地层体积光 电吸收截面U。
岩性密度测井的输出为：地层密度、地层密度的 泥饼校正值、光电吸收截面指数Pe和地层体积光电 吸收截面U。如图8-13所示。
图8-13 实测的Pe曲线图
2）、密度曲线与中子测井曲线重叠识别气层。 气层：密度视石灰岩孔隙度大，密度低，中
子孔隙度低。
3）、密度-中子测井交会图确定地层岩性及孔隙 度。
第三节 岩性密度测井
岩性密度测井利用伽马射线与地层的光电效 应及康普顿效应，测定地层密度、孔隙度及岩 性。 一、岩性密度测井的基本原理
1、井下仪 岩性密度测井采用的井下仪与密度测井的相 似。测井时，井下仪的滑板被推倒井壁上，滑 板上装有铯伽马源和长、短源距的伽马光子探 测器。
Pe Z 3.6
其中：α为常数。
测井解释之孔隙度测井
判断气层：在密度测井探测范围内存在天然 气时，由于天然气密度小，且与水或油的密度有显 著的差异，因此，在密度曲线上气层显示为较低的 密度值。
二、补偿密度测井
3、密度测井资料的应用
• 康普顿吸收系数简化为：
k • b
k
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
e
N
A
Z A
为常数。
一、伽马射线与物质的作用
3、光电效应
低能量的伽马光子与原子核外的电子相互作用 时，把全部能量传给电子，使电子脱离电子壳层成 为自由电子（光电子），伽马光子本身消失（被吸 收），这种效应称为光电效应。
二、补偿密度测井
1、岩石的体积密度
每立方厘米（单位体积）体积岩石的质量， 叫做岩石的体积密度；单位：g/cm3 。
类似于物质的密度：
岩石质量 铜8.9
b 岩石体积 铁7.8
铝2.7
金钢石3.5
二、补偿密度测井
1、岩石的体积密度
密度是物质的基本物理属性之一。 不同岩石的体积密度不同，可以根据体积密度的变
化来识别岩性。
石英：2.65；方解石：2.71；白云石：2.87
通过岩石体积密度的变化来求取孔隙度。岩石体积 密度与孔隙度的关系：
测井解释之
孔隙度测井
一、伽马射线与物质的作用 二、补偿密度测井 三、岩性密度测井
密度测井
根据伽马射线与地层介质的康普顿效 应测定地层密度的测井方法称密度测井， 利用伽马射线的光电效应和康普顿效应测 量地层的岩性和密度的测井方法称岩性密 度测井。
密度测井属于孔隙度测井系列。
岩性密度测井仪工作原理与典型故障分析
岩性密度测井仪工作原理与典型故障分析岩性密度测井仪是一种利用核密度原理来测量地层密度的工具。
它是通过辐射源放射出的γ射线与地层中的原子核发生相互作用来测量地层密度的。
岩性密度测井仪主要由辐射源、电子器件和控制装置组成。
辐射源通常使用钴60或铯137，它们放射的γ射线能够穿透岩石并与地层中的原子核发生弹性散射或吸收。
测井仪的探头包含了两个探测器：一个是接收γ射线散射后的弱射线，用于测量强度，另一个是接收γ射线完全通过地层后的强射线，用来校正强度。
测井仪的工作原理如下：1. 辐射源发出的γ射线穿过地层时，与地层中的原子核发生弹性散射或吸收。
2. 一部分散射射线经过散射后，射线的强度会减小，这部分射线经由接收器接收并测量强度。
4. 测量到的两个射线强度之比可以表示地层的密度。
然后，将测量到的数据通过信号处理等装置，转化为岩石密度的数字或曲线，以便地质工作者进行分析和解释。
在使用岩性密度测井仪时，可能会出现一些典型故障，常见的故障有：1. 接收器故障：接收器不能正常接收射线信号，导致测量数据异常或无法得到正确的结果。
2. 辐射源故障：辐射源发生失效或能量减小，导致射线强度不足，无法进行准确测量。
3. 电子器件故障：测井仪内部的电子器件发生故障，导致数据采集、信号处理等功能不能正常工作。
4. 数据传输故障：测井仪与数据采集系统之间的传输线路故障，导致数据传输不稳定或中断。
对这些故障的解决方法主要包括：更换故障的部件、修理故障的部件、进行系统校准和调试、检查传输线路等。
岩性密度测井仪通过测量地层中的射线散射和吸收，来获取地层密度的数据，并通过电子器件和控制装置进行处理和解释。
在使用过程中可能会出现一些故障，需要及时进行检修和维护，以保证测量结果的准确性和可靠性。
密度计的原理和应用
密度计的原理和应用1. 密度计的原理密度计是一种用来测量物体密度的仪器。
它基于物质的质量和体积之间的关系来计算或测量密度。
密度计的原理可以采用多种方法，包括浮力法、声波法、压力法等。
•浮力法：浮力法是基于物体在液体中浮力的大小与物体的密度相关的原理。
通过测量物体在液体中的浮力可以确定其密度。
这种方法适用于固体和液体的密度测量。
•声波法：声波法是利用声速与介质的密度和压力有关的原理。
通过测量声波在物体或液体中传播的速度可以推导出物体或液体的密度。
•压力法：压力法是利用压力和物质的密度之间的关系来测量密度的原理。
通过测量压力的变化可以计算物质的密度。
2. 密度计的应用密度计在许多领域都有着广泛的应用。
下面列举了一些常见的应用场景：•材料科学：在材料科学中，密度计被用来测量材料的密度。
通过测量材料的密度，可以评估其质量、纯度以及结构特性。
这对于材料的选择、设计和生产非常重要。
•化学工业：在化学工业中，密度计被广泛应用于液体和固体的测量。
通过测量溶液的密度可以确定其浓度，从而控制反应过程。
密度计还可用于检测石油、化学品和药品等的密度，确保生产过程的质量控制。
•食品行业：在食品行业中，密度计用来测量食品的密度。
通过测量食品的密度，可以评估其质量、含水量以及新鲜度。
密度计还可以用来检测食品中的杂质和控制食品加工过程中的质量。
•医药行业：在医药行业中，密度计被广泛用于药品和药物的研究和生产过程中。
通过测量药物的密度可以评估其纯度和质量。
密度计还可以用来检测药物中的不溶物和控制药物配方的制备。
•环境保护：在环境保护领域，密度计被应用于水质和大气污染监测。
通过测量水体和空气中的物质的密度，可以评估其污染程度，并采取相应的环境保护措施。
•航天航空：在航天航空领域，密度计被用来测量燃料的密度。
通过测量燃料的密度，可以确定其能量密度和性能指标。
这对于研发、设计和生产航天器和飞机非常重要。
3. 总结密度计是一种测量物体密度的重要工具。
中子密度测井
快中子从发出到10-8~10-6秒内发生非弹性散射 在10-6~10-3秒发生弹性散射。
12
井壁中子测井
13
通过中子源发射快中子，照射地层减速形成热中子或者超热中子，中 子探测器探测热中子或者超热中子的密度。不同地层，减速能力不同， 计数率不同，以此来寻找储集层、确定孔隙度的一类测井方法，包括 热中子测井、补偿中子测井和超热中子测井（也称井壁中子），统称 中子孔隙度测井。
1）饱和淡水纯石灰岩的含H指数 H=Hma（1-por）+Hw*por 中子孔隙度测井在饱和淡水的纯石灰岩刻度井中进行含H指数刻度， 使它测量的含H指数即为饱和淡水纯石灰岩的por。 饱和淡水地层：砂岩： φN略小于φ；白云岩： ： φN略大于φ； 石灰岩： ： φN等φ；以上是骨架宏观减速能力不同造成（砂岩骨 架的宏观减速能力小于石灰岩，白云岩骨架的减速能力大于石灰 岩），这种差别是中子测井的岩性影响，也是识别岩性的依据。
15
2、孔隙度的影响 地层中所有核素中，H核减速能力远远超过其他核素。因此，地层减速能力取决于地层 总H含量，H主要存在于孔隙流体中，因此孔隙度增大，减速能力增强。 3、源距对计数率的影响 孔隙度、岩性不同，造成超热中子的空间分布不同。 孔隙度增大，减速长度越小，则在源附近的超热中子越多； 孔隙度越小，减速长度越大，则离源较远的空间超热中子越多。 探测器离源较近：孔隙度越大，计数率越高 探测器离源较远：孔隙度越大，计数率越低 探测器离源某一位置：计数率与孔隙度无关，对应零源距。实际应用的均为长源距中子 测井。 4、地层含H指数 氢是最重要的减速剂，因此，H含量的高低决定了地层的减速能力，实际应用含H指数 来反映地层中H元素的多少。根据规定，淡水含H指数为1，而任何其他物质的含H指数 将与其单位体16积内的H核素成正比。
国产数控测井系统测井原理与应用
• 井下上传声波波列信号经数控系统声波板卡处理，送入高速AD采集，高速AD把 采集数据直接送计算机；
• 井下上传的PCM编码信号经数控系统PCM解码板解码，变为并行数据送计算机；
六、具体单元组成框图
七、系统技术
• 接口技术
• 分布式处理技术； • 标准总线接口技术； • 所有板卡智能化技术； • 网络技术； • 信号分离和匹配技术；
八、系统软件组成
• 作业生成 • 作业选择 • 刻度 • 测井 • 回放 • 编辑 • 数据格式转换
九、作业生成功能
• 仪器参数输入 • 组合作业生成 • 自动生测井成服务表 • 自动生成测井过程
• 各种采集数据送入计算机后，计算机利用相应的刻度数据和计算公式，把各采集 量换算为相应的工程值，送磁盘记录、显示器显示、打印机打印。
第二章、国产数控系统软件介绍
• 任何数控测井系统都是由硬件和软件组 成，硬件完成对信号的传送、处理和采 集 ，软件则对信号的传送、处理和采集 进行正确控制，软件内的各种计算公式 则把采集量转换为测井解释需要的工程 量，如电阻率、孔隙度、密度值、声波 时差等。
A/D卡。 • 系统电源。 • 两个标准机架（含风扇、导轨、减振器）。 • 深度系统（双轮，双码盘马丁代克）。 • 接线控制/仪器接口单元。 • 模拟源。
第四章、SKD3000数控 测井系统
一、SKD-3000数控正视图
示波器
深度/射孔 取芯单元
显示器
显示器
前置采集机
热敏打印机 工控机 UPS
综合 控制箱 交流高压Fra bibliotek• 一、测后服务功能
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补偿密度测井仪器刻度原理及应用
摘要密度测井的主要用途是判断岩性和求孔隙度，在石油测井领域具有非常重要的意义。
本文介绍了补偿密度测井仪器的工作原理，详细阐述了密度测井仪器刻度的原理及刻度方法，分析了刻度时常见问题并提出了解决方案。
关键词地层密度；补偿密度测井；探测器；刻度；解决方法
Compensated Density Logging Tool Calibration Principle and Application
LI Jianfei，HAO Guiqing
1.China Oilfield Services LimitedWell Tech，Beijing 101149
Abstract The main purpose of density logging is seeking to determine lithology and porosity in the oil exploration and survey work，it has very important significance in the logging areas. this paper introduces the principle of compensated density logging instrument，elaborated on the calibration principles and calibration methods of density logging instrument，analysis of the common problems and proposed solutions in actual calibration process.
KeywordsCompensated density; compensated density logging ; detector; calibration; solutions
0 引言
地层密度对于地层评价是一个非常有用和具有特征的参数，密度测井在石油勘探中具有非常重要的意义，是必不可少的一种测井方法。
密度测井的主要用途是判断岩性和求孔隙度，和其他测井资料结合起来，对地层的含油情况做出正确的评价，它还应用于地层压力预测和地震地层学的研究方面。
了解其技术原理、掌握刻度方法，对仪器的正确使用是非常重要的。
1 补偿密度测井仪的工作原理
补偿密度测井仪的基本结构都是由推靠器、探头、电路组成。
仪器的放射源和探测器装在探头上，在测井时，在推靠器的作用下，探头紧靠井壁，放射源向地层发射伽马射线，密度测井仪选用的是Cs137源，它发射的伽马射线能量为0.662MeV ，这些射线和地层物质发生康普顿散射，被散射的伽马射线被探测器记录。
记录值经过适当的标定，根据探测器的读数就可以确定地层的密度
值。
为了补偿泥饼对读数的影响，探头中设置了长、短探测器，为了避免泥浆对读数的影响，探头部分由推靠器推向井壁。
在短源距的探测器上贴有镉片，用于过滤低能伽马射线，使肋线的直线性更好。
探头内的屏蔽体是为了避免接收来的来自源的直接伽马射线和来自背面泥浆柱散射的伽马射线。
2 补偿密度测井仪刻度的原理
在密度测井仪中，对于选定的Cs137 放射源，光子和地层的相互作用中康普顿占绝对优势，当源强和源距选定后，地层的密度越大，探测器接收的伽马射线越少，计数率就越小。
地层的密度越小，探测器接收的伽马射线越多，计数率就越大。
在实际测井中，由于井壁不规则和推靠等因素，仪器测得的密度值（称为视密度）ρa，不仅与地层密度ρb有关，而且还与泥饼的厚度和密度及平均原子序数有关，所以为了消除泥饼的影响，使用双源距补偿的办法来求得地层密度。
使用双源距补偿的办法，可以由长、短源距的计数率直接给出地层的密度值，而不用考虑泥饼的影响。
根据康普顿效应原理，可以得出双源距密度测井的补偿方程：
ρ =｛（T-lnL）+[（T-lnL）-tgα（T-lnS）]tgβ/（tgα+ tgβ）｝/RL （1）
在式（1）中RL为长源距；L，S分别为长短源距计数值；α，β分别为脊角和肋角。
几种补偿密度仪器的工作原理基本相同，下面就以2218密度仪刻度为例来说明其刻度过程。
3 补偿密度测井仪的刻度方法及常见问题
3.1 补偿密度测井仪的刻度方法
几种补偿密度仪器的工作原理基本相同，下面就以2218密度仪刻度为例来说明其刻度方法。
刻度第一步：用镁块刻度。
令ρ=ρ1，Δρ=0。
其中ρ1=ρmg=2.2。
由补偿方程（1）可得ρ1=（T-lnL1），（T-lnL1）-tgα（T-lnS1）=0。
刻度第二步：用铝块刻度。
令ρ=ρ2，Δρ=0。
其中ρ2=ρal=2.8。
由补偿方程（1）可得ρ2=（T-lnL2）（2）
（T-lnL2）-tgα（T-lnS2）=0。
（3）
上述两点刻度后，就可在脊肋图中确定脊线和脊角。
刻度第三步：用反镁块刻度。
令ρ=ρ3，Δρ =0.2。
其中ρ3=ρ反mg=2.48。
由补偿方程（1）可得
ρ3={（T-ln3）+[（T-lnL3）-tgα（T-lnS3）]tgβ/（tgα+ tgβ）}/RL （4）
由上式（2）、（3）、（4）可得：
tgα=ln（L2/L1）/ln（S2/S1）（5）
RL=ln（L1/L2）/（ρ1- ρ2）（6）
由第三步得出的（5）式和（7）式，可确定肋线、肋角，如下图1所示：
令ΔL=lnL1-lnL2，则有eΔL =L1/L2，L1/L2即为刻度摘要中长短源距镁铝计数之比值。
若在某种情况下，刻度出仪器的长源距正常而短源距镁铝比值偏小，则对应于脊线II的情况，这时计数S1，S2分别变为S1′，S2′。
由图中可以看出ln S1′-ln S2′=ln（S1′/ S2′）<ln（S1/S2），脊线II的脊角则大于脊线I的脊角。
对其它密度仪器，其工作原理基本相同，刻度时比如2227和2228等都是四点刻度，但其刻度原理都基本类似。
3.2 补偿密度测井仪刻度时的常见问题及解决方法
在维修保养密度仪器时，长短源距信号必须调节到符合要求。
可是由于示波器，探针或经验等问题造成了密度信号的偏差从而导致在刻度密度仪器时，刻度值超出允许范围。
理解了上述刻度原理，我们就可以很快发现原因并找到对策。
假如某支仪器刻度时如上所述，长源距正常，短源距比值偏低。
短源距比值偏低说明ln（S1/S2）偏低，脊角增大，则S1，S2计数都偏低。
发生这种情况有下面几种原因：一是探测电路门槛过高；二是探测器性能降低；三是高压偏低。
要解决上述问题就只需从上述三个方面入手，检查哪一项不符合要求，或调低门槛值或更换探测器或使高压正常，从而解决问题。
如果在实验室内检查上述三项都正常，可仪器短源距比值仍然偏低，那就会判断出短源距的探测器的位置不准确，要重新调节，因为tgα=RL/RS，若RS偏小，就会使α变大，造成上述结果。
同理，长源距比值超范围，解决思路与上述基本相同。
4 结论
深刻理解了密度仪器的刻度原理，我们就能对密度仪器刻度中出现的问题比如刻度偏大或偏小等做到心中有数，对于发生问题的原因才能够迅速做出判断，对症下药，对相关的电路参数进行调节，从而快速解决问题，大大提高了工作效
率。
参考文献
[1]胡澍.地球物理测井仪器[M].北京：石油工业出版社，1990.
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[3]BAKER ATLAS. Documentation of Montrose Training Centreof BAKER ATLAS. 1992.
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