射线检测3级思考题(含答案)

问题1：射线照相灵敏度定义?

问题2：射线照相灵敏度与超声波检测灵敏度有什么差异？

两者属不同的概念——射线照相灵敏度对应于提高图像信噪比，灵敏度越高越有利于缺陷识别和检出；超声波检测灵敏度是指回波信号的放大倍数，与信噪比无关，灵敏度高并不意味缺陷检出率高。

问题3：什么是绝对灵敏度?

问题4：什么是相对灵敏度?

问题5：JB/T4730.2采用的是绝对灵敏度还是相对灵敏度？

问题6：什么是像质计灵敏度?

问题7：像质计灵敏度与自然缺陷灵敏度的关系如何?

问题8：为什么射线照相灵敏度≠缺陷检出率？

问题9：为什么“即使底片上像质计灵敏度很高，黑度、不清晰度符合要求，也会出现裂纹难于检出甚至完全不能检出的情况？”

问题10：除了裂纹以外，还有哪些缺陷的检出灵敏度与像质计灵敏度不符？

问题11：射线照相对比度、不清晰度、颗粒度是如何定义的?

问题12：射线照相灵敏度影响因素是如何归纳的？

问题13：底片对比度增大有哪些有利和不利影响?

问题14：如果缺陷中不是充满空气，公式是什么样？

ΔI / I =（μ-μ’）ΔT/ （1 + n )

问题15：②③条假设有何区别？

②是指IS不变，③是指n不变，因为n=Is/Ip，所以公式中Ip要用没有缺陷存在的透射线值。

问题16：怎样理解“在大多数情况下，以上假设引起的误差极小，因此公式是可以成立的。

只有缺陷尺寸较小时，讨论对比度才有意义。

问题17：公式由哪些参数构成？

问题18：公式的意义和用途是什么？

问题19：主因对比度和胶片对比度的关系？

问题20：放大系数为3-8是从哪儿得来的？

见第二章表2-13 胶片的分类；几种胶片的梯度。

问题21：ΔT与缺陷尺寸和透照方向关系？

问题22：其他影响透照厚度差ΔT的因素？

问题23：衰减系数μ与射线能量关系？

问题24：材质的哪些特性影响衰减系数μ

问题25：散射比有哪些影响因素？

问题26：使用高梯度胶片有哪些有利和不利影响?

问题27：提高黑度有哪些有利和不利影响?

问题28：改变显影条件变化有哪些有利和不利影响?

问题28：怎样理解“本影消失，对比度显著下降现象”？

问题29：射线照相不清晰度U是如何定义的？

问题30：什么叫黑度过渡区的趾部和肩部？

问题31：黑度过渡区的趾部和肩部是如何产生的？

问题32：几何不清晰度是如何定义的？

问题33：固有不清晰度是如何定义的？

问题34：U、Ug和Ui的关系?

问题35：公式（3-3）和（3-4）有什么不同？

问题36：JB/T4730怎样规定L1与Ug值的？

问题37：通过哪些方法可以减小Ug值？

问题38：在减小Ug值的同时会带来哪些不利影响？

问题39：焊缝上不同位置的Ug值受哪两大因素影响?

焦点投影，工件形状。

问题40：纵焊缝照相，底片上各点的Ug值不同是焦点投影造成的？还是几何条件造成的？

焦点投影造成，工件形状不产生影响。

问题41：环焊缝照相，底片上各点的Ug值不同是焦点投影造成的？还是几何条件造成的？

焦点投影和工件形状都产生影响。

问题42：X射线、γ射线、高能X射线的固有不清晰度大致在什么数量级范围？

问题43：比较正常情况下（焦距700mm，射源尺寸2mm），不同能量射线对不同厚度焊缝透照（100KV透照10mm焊缝、300KV透照30mm焊缝、Ir192透照50mm焊缝、Co60透照100mm焊缝）的Ug和Ui值的大小？

问题44：如何解释增感屏和胶片不贴紧导致固有不清晰度增大的现象？

问题4:5：JB/T4730对增感屏的使用是怎样规定的?

问题46：双丝像质计结构与用途？

问题47：什么叫颗粒性? 什么叫颗粒度? 颗粒度是怎样构成的?

问题48：颗粒几何尺寸和黑度起伏的关系？

问题49：为什么说颗粒度是随机的?

问题50：形成底片颗粒度的随机性有几种？

问题51：胶片噪声与哪些工艺参数相关?

问题52：量子噪声与哪些工艺参数相关?

问题53：怎样理解胶片粒度和感光速度对颗粒性的影响?

问题54：怎样理解射线能量对颗粒性的影响?

问题55：怎样理解颗粒度对细节显示的影响?

问题56：什么是最小可见对比度？

问题57：怎样理解“ΔD是底片上的客观存在的量值，而ΔDmin不是？

问题58：对比度和最小可见对比度有什么关系？

问题59：底片上的缺陷在较暗的灯下未发现，而在较亮的灯下发现了，为什么会出现这样的情况？

问题60：哪些因素影响最小可见对比度？

问题61：讨论底片黑度、颗粒度、金属丝影像宽度等因素对最小可见对比度的影响，为什么要固定观片条件？

问题62：ΔDmin随底片黑度、颗粒度、金属丝影像宽度的变化趋势？

问题63:最佳黑度是否存在？

设想——拍摄不同黑度（从D=0到D=无法观察）的像质计底片，在观片灯亮度固定的条件下，观察这些底片，总会有一张底片的像质计灵敏度最高。则该底片的黑度就是该观片亮度下的最佳黑度。由于观片灯亮度不可能无限提高，所以最佳黑度是客观存在的。

问题63：（μ/1+n）代表什么？

代表影响对比度的透照条件（射线能量、材质和散射比），又称比衬度。

问题64：平板试件可识别最小线径d的黑度值大致在2.5左右”的结论的前提是什么？

观片灯亮度固定，2.5是当年试验时观片灯亮度水平得到的结果。

问题65：什么是“有余高焊缝试件透照的最佳黑度”什么是“有余高焊缝试件透照的最佳射线能量”？确定这两个数值的前提是什么？

问题66：如何解释“随着胶片颗粒度增大和梯噪比减小，像质计灵敏度变化不明显，但裂纹识别度却明显下降”？

问题67：为什么工业射线照相不再允许使用荧光增感屏和金属荧光增感屏？

问题68：JB/T4730对不同射线源配合使用的胶片类别是如何规定的？

问题69：如何认识“使用Ir192γ射线源的缺陷检出率明显低于X射线”这一现象？

问题70：JB/T4730为什么规定透照厚度比K，对纵缝和环缝的K值是如何规定的？

问题71：什么叫“小缺陷”？

问题72：怎样理解本影和半影的概念？

问题73：怎样理解W′/ W ＜1时缺陷有本影，W′/ W ＞1时缺陷无本影？

问题74：W′的计算公式是怎样推导的？

问题75：如何理解到达胶片上P点的射线会通过金属丝截面abcd部分”？

问题76：为什么要把“到达胶片上P点的射线通过金属丝截面abcd部分近似认为是通过a1b1c1d1部分“？

问题77：为什么要“假设焦点尺寸f范围内各点发出的射线强度是相同的。”

问题78：怎样理解”对胶片上P点作用的厚度差△X不是金属丝直径d，而应为d″在w′之间的平均值dm″？

问题79：计算σ值时，为什么“当w′≤d时，用公式（3-9 a）计算，当w′>d时用公式（3-9 b）计算？”w′≤d和w′>d各代表什么情况？

问题80：对比度修正系数σ的实质是什么？

问题81：小缺陷照相的对比度公式的和平板照相的对比度公式有什么差别？

问题82：如何理解“公式3.11的数学意义是进行了一次等面积代换”？

问题83：计算裂纹σ值时，为什么w′≤w和w′≥w时,要采用不同计算公式？

问题84：怎样理解裂纹的σ值比像质计的σ值下降得快？

问题85：裂纹高度、宽度、截面积对其影像对比度产生怎样的影响？

问题86：什么情况下会发生“焦点的两端部分区域发出的射线可不经过缺陷而直接到达P点”？

问题87：尝试画出W′/ W = 2，W′/ W = 3，W′/ W = 4的几何条件下，焦点的两端发出的射线不经过缺陷而直接到达P点的图，理解直接到达P点的焦点面积和穿过缺陷到达P 点的焦点面积与W′/ W的关系？

问题88：影像初始对比度σ0是w′= w时的对比度修正系数，对不对？

问题89：怎样理解“σ0与缺陷形状有关”？裂纹、条渣、气孔的σ0分别是多少？

问题90：是否能从物理意义上解释Ug（半影的宽度）影响对比度？公式3-19是否能够推导出来？

问题91：公式3-19无法推导，但为什么却可以实际应用?为什么说“式（3-19）实际上只是式（3-16）的一种近似表达？”

问题92：使用公式3-19，是否能描述出缺陷形状、宽度等参数对其影像对比度的影响？

问题93：几何因素导致小缺陷影像发生怎样的变化？

问题94：影响小缺陷影像对比度的几何因素一共有几个？

问题95：该试验中，为什么在焦距减小到大约600mm时，裂纹灵敏度曲线急剧下降