等厚干涉原理和应用的主要误差

等厚干涉原理和应用的主要误差

1. 引言

等厚干涉是一种利用光的干涉现象来测量物体表面形态和厚度的方法。在等厚

干涉测量中,有一些主要误差会对测量结果产生影响。本文将重点介绍等厚干涉原理,并深入探讨等厚干涉测量中的主要误差以及其应对措施。

2. 等厚干涉原理

等厚干涉利用光的干涉现象实现对物体表面等厚线的测量。当平行光束通过透

明介质的不同厚度时,光经过介质的时间差产生了光程差,从而形成干涉条纹,进而可以测量出物体表面的等厚线。

3. 主要误差及应对措施

3.1 波前不平整引起的误差

波前不平整是等厚干涉测量中最常见的误差之一。当物体表面存在微小的不规

则形状、突起或异常厚度时,光波在通过这些区域时会发生折射、散射和反射,从而使得干涉条纹模糊或失真。为了减小波前不平整引起的误差,可以采取以下措施:

•在测量时,尽量选择表面平整度较高的区域进行测量。

•增加测量光的强度,以便克服光的散射和反射现象。

•使用较小的入射角度,减少光在界面上的反射和折射。

3.2 光源不完全平行引起的误差

在等厚干涉测量中,要求测量光束是平行光。然而实际光源往往并不是完全平

行的,这就会导致一定的误差。为了克服光源不完全平行带来的误差,可以采取以下措施:

•使用平行度较高的光源,以减小光源不平行引起的误差。

•在测量时,采用适当的补偿方法,对光束的不平行进行校正。

•使用轴向光源,使得光源尽可能的近似平行。

3.3 折射率不均匀引起的误差

折射率不均匀是指透明介质的折射率随空间位置的变化。在等厚干涉测量中,

折射率不均匀会引起光波的偏折和相位差的变化,进而导致测量结果产生误差。为了应对折射率不均匀带来的误差,可以采取以下措施:

•在测量时,尽量选择折射率比较均匀的材料进行测量。

•根据实际情况,对折射率不均匀引起的误差进行修正。

•使用补偿器件对折射率不均匀进行补偿。

3.4 表面反射引起的误差

表面反射是等厚干涉测量中一个重要的误差来源。当光波与物体表面发生反射时,会产生强烈的反射光,干扰了干涉条纹的形成。为了减小表面反射引起的误差,可以采取以下措施:

•使用较低反射率的涂层,减少表面反射。

•采用非干涉性测量方法,如调制投影法等,绕过表面反射。

4. 总结

在等厚干涉测量中,波前不平整、光源不完全平行、折射率不均匀和表面反射

是主要的误差来源。通过合理的措施,如选择平整度较高的区域、使用平行度较高的光源、采用补偿方法和修正策略等,可以有效减小这些误差的影响。只有在减小误差的基础上,等厚干涉测量才能得到准确且可靠的结果。

以上就是等厚干涉原理和应用的主要误差的相关内容,希望对读者有所帮助。

参考文献: - 张三,等厚干涉测量原理及应用[M]. 科学出版社,2005. - 李四,

等厚干涉测量中误差分析与校正[D]. 华南理工大学,2010.

等厚干涉实验报告资料

等厚干涉实验报告资料 等厚干涉实验是一种利用光的干涉现象来确定样品厚度的技术。其原理基于干涉仪的 干涉原理,通过光路调节使两束光在样品内发生干涉,观察到干涉条纹后测算出样品的厚度。等厚干涉实验具有非接触、无损、快速、准确等特点,适用于各种透明材料的表面形 貌和厚度测量。 1. 实验原理 光的干涉是指两束光相遇后的互相作用,使其中某些区域出现亮度变化的现象。等厚 干涉实验利用双色光源,一束为白光,一束为单色光,特定波长的光经过样品内部时,由 于光速与样品折射率的不同而发生相位变化,造成两束光相遇时发生干涉现象。 图1 等厚干涉实验示意图 等厚干涉实验通过调节干涉仪的光路使两束相干光在样品内部发生干涉,当两束光程 差相等时,光波能互相干涉而形成一系列黑白相间的等厚干涉条纹;当两束光程差增大时,色序向红移;当两束光程差减小时,色序向蓝移。 样品的厚度可以通过两色干涉线的波长差和光程差计算得到。假设样品厚度为d,两 束光在样品中的光程差为Δ,则可以用下列公式计算样品厚度: d = (m+n/2)λ/2 其中,λ是两种单色光的波长差,m是等厚干涉条纹数,n是横向平移的过半条纹 数。 2. 实验设备 等厚干涉仪由光源、分束器和合束器、干涉玻璃片、样品台、目镜、高度调节装置等 组成。 实验过程中主要使用的实验设备包括: (1)干涉仪 (2)光源 (3)电子显微镜 (4)样品 (5)计算机

3. 实验步骤 实验前需首先调节干涉仪的光路使其达到最优状态,保证等厚干涉实验的准确性。接下来的实验步骤如下: 步骤一:设置样品 将待测样品放在样品台上,并确保样品表面平整、无明显瑕疵和气泡。 步骤二:调节干涉仪 开启干涉仪并采用最大亮度方法进行幅度调节。调节分束器和合束器使两束光经过样品传播后干涉线条清晰明显。 步骤三:测量样品厚度 通过目镜观察到等厚干涉条纹后,使用电子显微镜或计算机软件记录相应的干涉条纹数和横向平移过的条纹数,即可计算出样品厚度。 4. 实验注意事项 (1)样品需要保持平整、光洁,无气泡或明显瑕疵。 (2)在进行干涉实验时需保持实验环境安静,避免干涉仪光路被外来干扰所打断。 (3)根据不同的样品和实验要求,需根据干涉仪的调整实验参数,如光源强度、幅度调整等。 (4)如需用计算机进行数据处理和记录,需对计算机软件了解其基本操作和数据处理技巧。 5. 实验应用 等厚干涉实验在材料科学中广泛应用,如无机晶体、聚合物、光学器件等领域。它的一个主要应用是在玻璃、玻璃纤维和塑料薄膜等生产领域中提供快速、准确的品质检验。 6. 实验结论

光的等厚干涉实验原理

实验原理 1.等厚干涉 当光源照到一块由透明介质做的薄膜上时,光在薄膜的上表面被分割成反射和折射两束光(分振幅),折射光在薄膜的下表面反射后,又经上表面折射,最后回到原来的媒质中,在这里与反射光交迭,发生相干。只要光源发出的光束足够宽,相干光束的交迭区可以从薄膜表面一直延伸到无穷远。薄膜厚度相同处产生同一级的干涉条纹,厚度不同处产生不同级的干涉条纹。这种干涉称为等厚干涉。如图1 图1 2. 牛顿环测定透镜的曲率半径 当一个曲率半径很大的平凸透镜的凸面放在一片平玻璃上时,两者之间就形成类似劈尖的劈形空气薄层,当平行光垂直地射向平凸透镜时,由于透镜下表面所反射的光和平玻璃片上表面所反射的光互相干涉,结果形成干涉条纹。如果光束是单色光,我们将观察到明暗相间的同心环形条纹;如是白

色光,将观察到彩色条纹。这种同心的环形干涉条纹称为牛顿环。 本实验用牛顿环来测定透镜的曲率半径。如图2。设在干涉条纹半径r处空气厚度为e,那么,在空气层下表面B处所反射的光线比在A处所反射的光线多经过一段距离2e。此外,由于两者反射情况不同:B处是从光疏媒质(空气)射向光密媒质(玻璃)时在界面上的反射,A处则从光密媒质射向光疏媒质时被反射,因B处产生半波损失,所以光程差还要增加半个波长,即: δ=2e+λ/2 (1) 根据干涉条件,当光程差为波长整数倍时互相加强,为半波长奇数倍时互相抵消,因此: ()()22/122/22/2⎭ ⎬⎫-----------+=+---------------=+暗环明环λλλλk e k e 从上图中可知: r 2=R 2-(R-e)2=2Re-e 2 因R远大于e,故e2远小于2Re,e2可忽略不计,于是: e=r2 /2R (3)

等厚干涉原理和应用的主要误差

等厚干涉原理和应用的主要误差 1. 引言 等厚干涉是一种利用光的干涉现象来测量物体表面形态和厚度的方法。在等厚 干涉测量中,有一些主要误差会对测量结果产生影响。本文将重点介绍等厚干涉原理,并深入探讨等厚干涉测量中的主要误差以及其应对措施。 2. 等厚干涉原理 等厚干涉利用光的干涉现象实现对物体表面等厚线的测量。当平行光束通过透 明介质的不同厚度时,光经过介质的时间差产生了光程差,从而形成干涉条纹,进而可以测量出物体表面的等厚线。 3. 主要误差及应对措施 3.1 波前不平整引起的误差 波前不平整是等厚干涉测量中最常见的误差之一。当物体表面存在微小的不规 则形状、突起或异常厚度时,光波在通过这些区域时会发生折射、散射和反射,从而使得干涉条纹模糊或失真。为了减小波前不平整引起的误差,可以采取以下措施: •在测量时,尽量选择表面平整度较高的区域进行测量。 •增加测量光的强度,以便克服光的散射和反射现象。 •使用较小的入射角度,减少光在界面上的反射和折射。 3.2 光源不完全平行引起的误差 在等厚干涉测量中,要求测量光束是平行光。然而实际光源往往并不是完全平 行的,这就会导致一定的误差。为了克服光源不完全平行带来的误差,可以采取以下措施: •使用平行度较高的光源,以减小光源不平行引起的误差。 •在测量时,采用适当的补偿方法,对光束的不平行进行校正。 •使用轴向光源,使得光源尽可能的近似平行。 3.3 折射率不均匀引起的误差 折射率不均匀是指透明介质的折射率随空间位置的变化。在等厚干涉测量中, 折射率不均匀会引起光波的偏折和相位差的变化,进而导致测量结果产生误差。为了应对折射率不均匀带来的误差,可以采取以下措施: •在测量时,尽量选择折射率比较均匀的材料进行测量。

大学物理实验--等厚干涉

实验名称:等厚干涉 一.实验目的: 1. 理解牛顿环和劈尖干涉条纹的成因与等候干涉的含义: 2. 学会用等候干涉法测量薄膜厚度和透镜曲率半径,并熟练运用逐差法处理实验数据 3. 学习正确使用读数显微镜的方法。 二. 实验仪器 测量显微镜、牛顿环、钠光灯、劈尖装置和待测细丝。 三.实验原理 当一束单色光入射到透明薄膜上时,通过薄膜上下表面依次反射而产生两束相干光。如果这两束反射光相遇时的光程差仅取决于薄膜厚度,则同一级干涉条纹对应的薄膜厚度相等,这就是所谓的等厚干涉。 本实验研究牛顿环和劈尖所产生的等厚干涉。 1. 等厚干涉 如图3-17-1所示,玻璃板A 和玻璃板B 二者叠放起来,中间加有一层空气(即形成了空气劈尖)。设光线1垂直入射到厚度为d 的空气薄膜上。入射光线在A 板下表面和B 板上表面分别产生反射光线2和2′,二者在A 板上方相遇,由于两束光线都是由光线1分出来的(分振幅法),故频率相同、相位差恒定(与该处空气厚度d 有关)、振动方向相同,因而会产生干涉。我们现在考虑光线2和2′的光程差与空气薄膜厚度的关系。显然光线2′比光线2多传播了一段距离2d 。此外,由于反射光线2′是由光密媒质(玻璃)向光疏媒质(空气)反射,会产生半波损失。故总的光程差还应加上半个波长2/λ,即2/2λ+=?d 。 根据干涉条件,当光程差为波长的整数倍时相互加强,出现亮纹;为半波长的奇数倍时互相减弱,出现暗纹。 因此有: =+=?22λ d ?????? +?2)12(22λλK K 出现暗纹,,,出现亮纹 210,3,2,1==K K 光程差?取决于产生反射光的薄膜厚度。同一条干涉条纹所对应的空气厚度相同,故 称为等厚干涉。 2. 牛顿环 当一块曲率半径很大的平凸透镜的凸面放在一块光学平板玻璃上,在透镜的凸面和平板玻璃间形成一个上表面是球面,下表面是平面的空气薄层,其厚度从中心接触点到边缘逐渐增加。离接触点等距离的地方,厚度相同,等厚膜的轨迹是以接触点为中心的圆。

等厚干涉实验报告

等厚干涉实验报告 大学物理实验(下)_____________实验名称: 等厚干涉____________ 学院: 信息工程学院专业班级: 学生姓名: 学号: _ 实验地点: 基础实验大楼B313 座位号: ___ 实验时间: 第6周星期三下午三点四五分_______ 一、实验目的:1、观察牛顿环和劈尖的干涉现象。2、了解形成等厚干涉的条件及特点。3、用干涉法测量透镜的曲率半径以及测量物体的微小直径或厚度。 二、实验原理:1、等厚干涉光的等厚干渉,是利用透明薄膜的上下两表面对入射光依次反射,反射光相遇时发生的物理现象,干涉条件取决于光程差,光程差又取决于产生反射光的薄膜厚度,同一干涉条纹所对应的薄膜厚度相等,所以叫做等厚干渉。当光源照到一块由透明介质做的薄膜上时,光在薄膜的上表面被分割成反射和折射两束光(分振幅),折射光在薄膜的下表面反射后,又经上表面折射,最后回到原来的媒质中,在这里与反射光交迭,发生相干。只要光源发出的光束足够宽,相干光束

的交迭区可以从薄膜表面一直延伸到无穷远。薄膜厚度相同处产生同一级的干涉条纹,厚度不同处产生不同级的干涉条纹。这种干涉称为等厚干涉。如图1 图 12、牛顿环测定透镜的曲率半径当一个曲率半径很大的平凸透镜的凸面放在一片平玻璃上时,两者之间就形成类似劈尖的劈形空气薄层,当平行光垂直地射向平凸透镜时,由于透镜下表面所反射的光和平玻璃片上表面所反射的光互相干涉,结果形成干涉条纹。如果光束是单色光,我们将观察到明暗相间的同心环形条纹;如是白色光,将观察到彩色条纹。这种同心的环形干涉条纹称为牛顿环。图3本实验用牛顿环来测定透镜的曲率半径。如图2。设在干涉条纹半径r处空气厚度为e,那么,在空气层下表面B处所反射的光线比在A处所反射的光线多经过一段距离2e。此外,由于两者反射情况不同:B处是从光疏媒质(空气)射向光密媒质(玻璃)时在界面上的反射,A处则从光密媒质射向光疏媒质时被反射,因B处产生半波损失,所以光程差还要增加半个波长,即:δ=2e+λ/2 (1)根据干涉条件,当光程差为波长整数倍时互相加强,为半波长奇数倍时互相抵消,因此:从上图中可知:r2=R2-(R-e)2=2Re-e2因R远大于e,故e2远小于2Re,e2可忽略不计,于是:e=r2/2R(3)上式说明e与r的平方成正比,所以离开中心愈远,光程差增加愈快,所看到的圆环也变得愈来愈密。把上面(3)式代入(2)式可求得明环和暗环的半径:如果已知入射光的波长λ,测出第k级

等厚干涉原理与应用实验报告doc

等厚干涉原理与应用实验报告 篇一:等厚干涉实验—牛顿环和劈尖干涉 等厚干涉实验—牛顿环和劈尖干涉 要观察到光的干涉图象,如何获得相干光就成了重要的问题,利用普通光源获得相干光的方法是把由光源上同一点发的光设法分成两部分,然后再使这两部分叠如起来。由于这两部分光的相应部分实际上都来自同一发光原子的同一次发光,所以它们将满足相干条件而成为相干光。获得相干光方法有两种。一种叫分波阵面法,另一种叫分振幅法。 1.实验目的 (1)通过对等厚干涉图象观察和测量,加深对光的波动性的认识。(2)掌握读数显微镜的基本调节和测量操作。 (3)掌握用牛顿环法测量透镜的曲率半径和用劈尖干涉法测量玻璃丝微小直径的实验方法(4)学习用图解法和逐差法处理数据。 2.实验仪器 读数显微镜,牛顿环,钠光灯 3.实验原理 我们所讨论的等厚干涉就属于分振幅干涉现象。分振幅干涉就是利用透明薄膜上下表面对入射光的反射、折射,将入射能量(也可说振幅)分成若干部分,然后相遇而产生干涉。分振幅干涉分两类称等厚干涉,一类称等倾干涉。

用一束单色平行光照射透明薄膜,薄膜上表面反射光与下表面反射光来自于同一入射 R r e (a)(b) 图9-1 牛顿环装置和干涉图样 光,满足相干条件。当入射光入射角不变,薄膜厚度不同发生变化,那么不同厚度处可满足不同的干涉明暗条件,出现干涉明暗条纹,相同厚度处一定满足同样的干涉条件,因此同一干涉条纹下对应同样的薄膜厚度。这种干涉称为等厚干涉,相应干涉条纹称为等厚干涉条纹。等厚干涉现象在光学加工中有着广泛应用,牛顿环和劈尖干涉就属于等厚干涉。下面分别讨论其原理及应用: (1)用牛顿环法测定透镜球面的曲率半径 牛顿环装置是由一块曲率半径较大的平凸玻璃透镜和一块光学平玻璃片(又称“平晶”)相接触而组成的。相互接触的透镜凸面与平玻璃片平面之间的空气间隙,构成一个空气薄膜间隙,空气膜的厚度从中心接触点到边缘逐渐增加。如图9-1(a)所示。 当单色光垂直地照射于牛顿环装置时(如图9-1),如果从反射光的方向观察,就可以看到透镜与平板玻璃接触处有

等厚干涉的原理特点和应用

等厚干涉的原理特点和应用 1. 原理介绍 等厚干涉是一种利用光的相干性进行干涉测量的方法。它基于杨氏干涉仪的原理,通过观察干涉条纹的变化来推断被测物体的形状或者表面的变化。 在等厚干涉中,使用的是在杨氏干涉仪中放置一层透明的等厚薄片或者涂有等厚膜的被测物体。当光通过这层等厚膜时,由于膜的厚度均匀,所以光在薄片上发生的反射和折射都是等厚的,从而形成了干涉现象。 2. 原理特点 •干涉条纹可观察性强:等厚干涉方法形成的干涉条纹较为清晰,易于观察和测量。 •高精度测量:由于等厚薄片的厚度是已知的,因此可以通过测量干涉条纹的变化来推算出被测物体的形状或者表面的变化。 •适用范围广:等厚干涉方法可以应用于多种物体表面形状的测量,如平面、球面、柱面和非球面等。 •非接触测量:等厚干涉方法是一种非接触测量方法,可以在不接触被测物体的情况下完成测量工作。 3. 应用领域 3.1 表面形状测量 利用等厚干涉方法可以测量物体表面的形状。通过测量干涉条纹的间距变化,可以推测出被测物体上某处的高度、凹凸等信息,从而获得整个表面的形状。 3.2 光学薄膜测量 等厚干涉方法还可以应用于光学薄膜的测量。通过测量薄膜表面产生的干涉条纹,可以得出薄膜的厚度信息,从而了解薄膜的光学特性和质量。 3.3 光学元件检测 等厚干涉方法在光学元件的检测中也有着广泛的应用。通过测量干涉条纹的变化,可以检验光学元件的形状、表面质量、光学性能等,确保元件的质量和性能符合要求。

3.4 物体的变形测量 等厚干涉方法还可以用于物体的变形测量。通过测量干涉条纹的变化,可以推算出物体在受力或者变形时的情况,从而获得物体的应力分布、变形情况等相关信息。 4. 总结 等厚干涉是一种基于光的相干性进行干涉测量的方法。它既能提供高精度的测量结果,又具有非接触、易观测等特点,因此在表面形状测量、光学薄膜测量、光学元件检测和物体变形测量等领域有着广泛的应用。随着光学技术的不断发展和进步,等厚干涉方法将会在更多领域展现出其独特的优势和潜力。

等厚干涉的原理与应用

等厚干涉的原理与应用 1. 原理介绍 等厚干涉是一种通过光的干涉现象来分析和测量透明薄片等厚度的技术方法。它基于光的干涉现象,利用光波传播过程中的干涉效应,通过观察干涉图样来研究物体的光学性质。 2. 实现方法 等厚干涉的实现方法通常包括以下几个步骤: 步骤一:光源准备 选择一种适合的光源,常用的有白光、钠光等。光源的选择应根据具体实验需求确定。 步骤二:准直光线 使用准直器对光线进行准直,确保光线平行且无散射。这是保证干涉实验的一个重要步骤。 步骤三:获取等厚干涉图样 将待观察的透明薄片(如玻璃片、水晶片等)放置在光路中,使光线通过薄片并发生干涉。通过相干光的叠加形成的干涉图样,可以观察到明暗条纹。 步骤四:分析干涉图样 观察干涉图样的亮度和条纹分布情况,并进行分析和测量。根据条纹的形态和数量可以推断出薄片的厚度等光学参数。 3. 等厚干涉的应用 等厚干涉技术在许多领域都有广泛的应用,在以下几个方面具有重要作用: 3.1 材料研究 等厚干涉可以用于测量透明薄片的厚度和折射率等光学参数,为材料研究提供了重要的手段。例如,在材料加工过程中可以通过等厚干涉技术来检测薄膜的厚度和均匀性,提高产品的质量。

3.2 光学元件检测 等厚干涉可以用于光学元件的检测和评价。通过观察干涉图样,可以判断光学元件的表面平整度、波前畸变等质量参数,从而保证光学元件的性能。 3.3 纳米技术 在纳米技术研究中,等厚干涉也发挥着重要的作用。通过等厚干涉技术可以测量纳米尺度结构的厚度和形态,从而提供了纳米级精确度的实验手段。 3.4 生物医学领域 在生物医学领域,等厚干涉可以应用于细胞生长、组织工程、药物传递等方面的研究。通过观察干涉图样可以得到有关细胞和组织的信息,进一步深入研究其特性和功能。 4. 结论 等厚干涉作为一种基于光的干涉现象的分析和测量方法,具有重要的理论和应用价值。它在材料研究、光学元件检测、纳米技术和生物医学等领域都有广泛的应用。随着科技的发展和创新,等厚干涉技术也将进一步完善和发展,为相关领域的研究和应用提供更多可能性。

光的等厚干涉实验报告误差分析

光的等厚干涉实验报告误差分析 光的等厚干涉实验是一种基于光的干涉原理而进行的实验。该实验的主要目的是研究 通过光的干涉现象来探究光波的性质。在进行实验的过程中,我们可以通过测量不同点的 干涉条纹的位置和间距来确定光波的波长和折射率等参数。不过,由于实验中可能存在的 各种误差的影响,我们在进行误差分析时需要注意以下几个方面。 首先,光的等厚干涉实验可能受到环境因素的影响。例如,由于实验室内温度和湿度 的变化,光路中的光路长度和光速可能会发生微小的改变,从而影响实验的准确性。因此,我们应该在实验前先对环境进行一定的控制,确保实验的稳定性。 其次,测量设备的精度也是影响实验结果的一个重要因素。例如,在测量干涉条纹的 位置时,可能由于读数盘的刻度不够精细或读数的误差等因素导致测量结果的误差。因此,我们需要使用具有高精度的测量设备,并在实验前进行校准,确保测量结果的准确性。 此外,样品的制备质量也可能会对实验结果产生影响。例如,在制备同一组样品时, 如果样品的厚度或形状存在一定的偏差,可能会导致实验结果产生误差。因此,我们需要 采用一定的制备工艺和技术,确保样品的制备过程和精度。 最后,实验者自身的操作技巧和经验也可能对实验结果产生影响。例如,在调节光路时,实验者需要具有一定的操作经验和技巧,才能确保光路稳定和测量准确。因此,我们 需要进行充分的实验前准备和实验者培训,提高实验者的操作技巧和经验,从而保证实验 结果的准确性。 总之,光的等厚干涉实验是一种非常精密和敏感的实验,其中可能存在各种误差的影响。只有在充分的实验前准备、精确的测量设备、优质的样品和熟练的操作技巧的基础上,才能保证实验结果的准确性和可靠性。

大物实验报告-光的等厚干涉

大学物理实验报告实验名称:光的等厚干涉 学院:机电工程学院 班级:车辆151班 姓名:吴倩萍 学号:5902415034 时间:第8周周三下午3:45开始 地点:基础实验大楼313

一、实验目的: 1.观察牛顿环和劈尖的干涉现象。 2.了解形成等厚干涉现象的条件及特点。 3.用干涉法测量透镜的曲率半径以及测量物体的微小直径或厚度。 二、实验仪器: 牛顿环装置、钠光灯、读数显微镜、劈尖等。 三、实验原理: 在平面玻璃板BB上放置一曲率半径为R的平凸透镜AOA,两者之间便形成一层空气薄层。当用单色光垂直照射下来时,从空气上下两个表面反射的光束1和光束2在空气表面层附近相遇产生干涉,空气层厚度相等处形成同一级的干涉条纹,这种干涉现象称为等厚干涉。 1.用牛顿环测量平凸透镜表面的曲率半径 (1)安放实验仪器。(2)调节牛顿环仪边框上三个螺旋,使在牛顿环仪中心出现一组同心干涉环。将牛顿环仪放在显微镜的平台上,调节45°玻璃板,以便获得最大的照度。(3)调节读数显微镜调焦手轮,直至在显微镜内能看到清晰的干涉条纹的像。适当移动牛顿环位置,使干涉条纹的中央暗区在显微镜叉丝的正下方,观察干涉条纹是否在显微镜的读数范围内,以便测量。(4)转动测微鼓轮,先使镜筒由牛顿环中心向左移动,顺序数到第

24暗环,再反向至第22暗环并使竖直叉丝对准暗环中间,开始记录。在整个测量过程中,鼓轮只能沿同一个方向依次测完全部数据。将数据填入表中,显然,某环左右位置读数之差即为该环的直径。用逐差法求出R,并计算误差。 2.用劈尖干涉法则细丝直径 (1)将被测细丝夹在两块平板玻璃的一端,另一端直接接触,形成劈尖,然后置于读数显微镜载物台上。(2)调节叉丝方位和劈尖放置方位,使镜筒移动方向与干涉条纹相垂直,以便准确测出条纹间距。(3)用读数显微镜测出20条暗条纹间的垂直距离l,再测出棱边到细丝所在处的总长度L,求出细丝直径d。(4)重复步骤3,各测三次,将数据填入自拟表格中。求其平均值。 四、实验内容: 观察牛顿环 (1)接通钠光灯电源使灯管预热。 (2)将牛顿环装置放置在读数显微镜镜筒下,并将下面的反射镜置于背光位置。 (3)待钠光灯正常发光后,调节光源的位置,使450半反射镜正对钠灯窗口,并且同高。 (4)在目镜中观察从空气层反射回来的光,整个视场应较亮,颜色呈钠光的黄色,如果看不到光斑,可适当调节45度半反射

光的等厚干涉

光的等厚干涉 填空题 1.牛顿环和劈形膜干涉都是由振幅分割法产生的干涉,并且是在膜的厚度相同的地方产生同一级干涉条纹,这种干涉称为等厚干涉。 2.用牛顿环法测平凸透镜的曲率半径,计算曲率半径的公式为 3.读数显微镜是一种非接触光学测量仪器,其读数鼓轮上的最小分度是 0.01mm 。 4.读数显微镜是利用鼓轮一丝杆结构移动显微镜筒完成测量。为了避免螺距误差, 应采用单方向移动测微鼓轮进行测量。 5.形成等厚干涉的条件是:①薄膜厚度(或折射率)不均匀。②光从垂直方向入射到薄膜上并在垂直于薄膜的方向上观察。 思考题 1.牛顿环的干涉条纹是由哪两束光线干涉而产生的?为什么这种干涉称为等厚干涉? 答:如图所示,当波长为λ的单色光垂直人射达到空 气薄膜的上表面时,一部分反射,另一部分透射继续前进 达到下表面并在下表面再次发生反射和折射。空气薄膜的 上下表面反射的两束光是从同一束光分出来的,因而它们 具有相干性。当两束光相遇时,它们之间就有了干涉效应。 干涉条纹定域于空气薄膜的上表面。 干涉场中某点的光强取决于光程差,而光程差与薄膜 厚度有关,所以干涉条纹恰描绘出薄膜的等厚线,同一条 (级)干涉条纹对应于薄膜厚度相同处的轨迹,故称为等 厚干涉条纹。 2.用读数显微镜进行测量时,如何调整读数显微镜? 调整读数显微镜:①调视度:调节目镜筒,看清分划板上的叉丝。②调焦:转动调焦手轮,由下至上移动显微镜筒,使牛顿环最清晰。 消除视差:左右移动眼睛,仔细调焦,直至叉丝与被测物之间无相对位移。 3.用读数显微镜进行测量时,为什么会产生螺距误差?如何避免螺距误差引入测量结果? 用读数显微镜进行测量时产生螺距误差的原因,是因为显微镜的移动是靠测微螺旋杆的推动,螺纹之间有间隙,反向移动过程中,虽然鼓轮读数发生了变化,但由于螺纹

等厚干涉实验现象

四川理工学院实验报告 成绩: 学号:11101030233 班级:网络工程一班 实验班编号: 姓名:赵鸿平 实验名称: 1.等厚干涉实验现象的研究; 实验目的: 1.通过实验加深对等厚干涉实验现象的理解; 2.掌握牛顿环测定透镜 3.通过实验熟悉读数显微镜的使用方法 实验仪器: 1数显微镜,2.牛顿环,3钠光灯,4劈尖装置 实验原理: 1.干涉原理;图反射光线2与平行(即方向相同),频率相同,频率差恒定,因而会产生干涉,根据干涉条件, 2.顿环:将半径很大的平面凸透镜的凸面放在光学平板玻璃上;当凸透镜R很大时在P点相遇的光线几何程差为该处空气缝隙d的两倍,由于两光线来自不同的光介质有一附加的半波损失两相干光的总光程差为由直角三角形性质与R>>d的性质可得出:代入公式可得,最终可获得公式 3.尖干涉:两块平面玻璃片,一端互相叠合,另一端夹一薄纸片,因此两玻璃片之间形成一劈尖形空气膜,称为空气劈尖。两玻璃片的交线为棱边。在平行于棱边的线上,劈尖的厚度是相等的。当平行单色光垂直入射时,在空气劈尖上下表面所引起的反射光线为相干光,在劈尖厚度为处e的两 光线光程差™ = 2e + ⎣ /

暗纹条件为 ™ = 2e + ⎣ / 2 = (2k + 1)⎣ / 2 k = 0,±1,±2, 数据记录:(要求在实验前画出实验表格) 实验步骤 1. 预热钠光灯; 2. 调节读数显微镜到出现清晰牛顿环; 3. 观测牛顿环干涉条纹:首先通过肉眼观察,调节牛顿环上的旋钮,将牛顿调至居中 4. 调节显微镜目镜看清叉丝,并使其一条线与标尺平行,调节焦鼓抡,使显微镜自下而上缓缓 上升,看到干涉条纹,移动牛顿环仪找到干涉环中心位置,对准测量环次仔细调焦; D

等厚干涉实验报告

南昌大学物理实验报告 课程名称:大学物理实验〔下〕_____________ 实验名称:等厚干预____________ 学院:信息工程学院专业班级: 学生姓名:学号:_ 实验地点:根底实验大楼B313 座位号:___ 实验时间:第6周星期三下午三点四十五分_______

一、实验目的: 1.观察牛顿环和劈尖的干预现象。 2.理解形成等厚干预的条件及特点。 3. 用干预法测量透镜的曲率半径以及测量物体的微小直径或厚度。 二、实验原理: 1.等厚干预 光的等厚干渉,是利用透明薄膜的上下两外表对入射光依次反射,反射光相遇时发生的物理现象,干预条件取决于光程差,光程差又取决于产生反射光的薄膜厚度,同一干预条纹所对应的薄膜厚度相等,所以叫做等厚干渉。 当光源照到一块由透明介质做的薄膜上时,光在薄膜的上外表被分割成反射和折射两束光〔分振幅〕,折射光在薄膜的下外表反射后,又经上外表折射,最后回到原来的媒质中,在这里与反射光交迭,发生相干。只要光源发出的光束足够宽,相干光束的交迭区可以从薄膜外表一直延伸到无穷远。薄膜厚度一样处产生同一级的干预条纹,厚度不同处产生不同级的干预条纹。这种干预称为等厚干预。如图1 图1 2. 牛顿环测定透镜的曲率半径

当一个曲率半径很大的平凸透镜的凸面放在一片平玻璃上时,两者之间就形成类似劈尖的劈形空气薄层,当平行光垂直地射向平凸透镜时,由于透镜下外表所反射的光和平玻璃片上外表所反射的光互相干预,结果形成干预条纹。假如光束是单色光,我们将观察到明暗相间的同心环形条纹;如是白色光,将观察到彩色条纹。这种同心的环形干预条纹称为牛顿环。 图3 本实验用牛顿环来测定透镜的曲率半径。如图2。设在干预条纹半径r处空气厚度为e,那么,在空气层下外表B处所反射的光线比在A处所反射的光线多经过一段间隔 2e。此外,由于两者反射情况不同:B处是从光疏媒质〔空气〕射向光密媒质〔玻璃〕时在界面上的反射,A处那么从光密媒质射向光疏媒质时被反射,因B处产生半波损失,所以光程差还要增加半个波长,即: δ=2e+λ/2 〔1〕 根据干预条件,当光程差为波长整数倍时互相加强,为半波长奇数倍时互相抵消,因此: ()()22/122/22/2⎭ ⎬⎫ -----------+=+---------------=+暗环明环λλλλk e k e 从上图中可知: r 2=R 2-(R-e)2=2Re-e 2 因R远大于e,故e2远小于2Re,e2可忽略不计,于是: e=r2/2R 〔3〕 上式说明e与r的平方成正比,所以分开中心愈远,光程差增加愈快,所看到的圆环也变得愈来愈密。

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