可控硅参数说明(精)

可控硅参数说明(精)
可控硅参数说明(精)

符号说明:

VRRM--反向重复峰值电压:在控制极断路和额定结温的条件下,可以重复加在可控硅上的交流电压。此电压小于反向最高测试电压100V。反向最高测试电压,规定为反向漏电流急速增加,反向特性曲线开始弯曲时的电压。

V RSM--反向不重复峰值电压;在控制极断路和额定结温的条件下,不允许加在可控硅上的交流电压。

V DRM――断态重复峰值电压;断态重复峰值电压是在门极断路而结温为额定值时,允许重复加在器件上的正向峰值电压.国标规定重复频率为50H,每次持续时间不超高10ms。规定断态重复峰值电压V DRM为断态不重复峰值电压(即断态最大瞬时电压UDSM的90%.断态不重复峰值电压应低于正向转折电压Ubo。

IT(AV/ IF(AV--通态/正向平均电流;在环境温度+40℃和额定结温下,导通角不小于170°阻性负载电路中,允许通过的50Hz正弦半波电流的平均值。

I T(RMS, I F(RMS――通态/正向方均根电流;是指在额定结温,允许流过器件的最大有效电流值,用户在使用中须保证,在任何条件下流过器件的电流有效值,不超过对应壳温下的方均根电流值

I TSM,I FSM--通态/正向浪涌电流;指由于电路异常情况引起的并使结温超过额定结温的不重复性最大正向过载电流(半个正弦波t=10ms, 50Hz

I2t--表示可控硅所通过的电流产生的能量,是电流的平方乘以时间,表示可控硅的发热特性。

P GM--门极峰值功率;门极触发电压与最大触发电流的乘积;

P G(AV --门极平均功率;门极触发电压与正常触发电流的乘积;

di/dt--通态电流临界上升率;指在额定结温下,可控硅能承受的最大通态电流上升率(如果电流上升太快,可能造成局部过热而使可控硅损坏

V ISO--绝缘电压;芯片与可控硅的底板之间的绝缘电压。

Tj--工作结温;可控硅在正常工作条件下允许的PN结温度。

Tjm--额定结温;可控硅在正常工作条件下允许的最高PN结温度。

Tstg--储存温度;能保证可控硅正常工作的储存温度。

Md--安装力矩/电极连接力矩;在安装过程中超过此规定,将造成可控硅的损坏。

IDRM--断态重复峰值电流;为晶闸管在阻断状态下,承受断态重复峰值电压VDRM和反向重复峰值电压VRRM时,流过元件的正反向峰值漏电流,该参数在器件允许工作的最高结温Tjm下测出。

I

RRM

--反向重复峰值漏电流;为晶闸管在阻断状态下承受断态重复峰值电压

V

DRM 和反向重复峰值电压V

RRM

时流过元件的正反向峰值漏电流该参数在器件

允许工作的最高结温Tjm下测出

V TM / V FM――通态/正向峰值电压;指器件通过规定正向峰值电流I

FM

或通态峰值

电流I

TM

时的峰值电压也称峰值压降,该参数直接反映了器件的通态损耗特性影响着器件的通态电流额定能力。

VGT--门极触发电压;在额定结温、在阳极和阴极加上正向电压(一般为6V时,使元件从阻断状态转为导通状态,控制极所需要的最大的直流电压。也就

是说当触发电路输出的的直流触发电压不小于Vg就能保证该型号的元件均能可靠的触发而导通。

V G D门极不触发电压;在额定结温、在阳极和阴极加上正向阻断峰值电压时,保证元件处于阻断状态所能加在门极上的最大直流电压。

I GD--不触发电流;在额定结温、在阳极和阴极加上正向阻断峰值电压时,保证元件处于阻断状态所能允许的,加在门极上的最大触发电流。

IGT--门极触发电流;在额定结温、在阳极和阴极加上一定正向电压(一般为6V 时,保证元件从阻断状态到导通状态,加在门极上的最大触发电流。

dv/dt--断态电压临界上升率;指在额定结温的门极断路的情况下,不导至可控硅从断态到通态转换的外加电压最大上升率

IH--维持电流;在门极断路时。规定环境温度和元件导通条件下,要保持元件能处于导通状态所必须的最小正向电流。

I L------擎住电流;擎住电流是晶闸管刚从断态转入通态,并移除了触发信号后,能维持通态所必需的最小主电流。擎住电流约为维持电流的2到4倍

电力电子课l练习题答案

1.电力电子器件一般工作在__开关__状态。 2.在通常情况下,电力电子器件功率损耗主要为__通态损耗__,而当器件开关频率较高时,功率损耗主要为__开关损耗__。 3.电力电子器件组成的系统,一般由__控制电路__、_驱动电路_、_主电路_三部分组成,由于电路中存在电压和电流的过冲,往往需添加_保护电路__。 4.按内部电子和空穴两种载流子参与导电的情况,电力电子器件可分为_单极型器件_、_双极型器件_、_复合型器件_三类。 5.电力二极管的工作特性可概括为_承受正向电压导通,承受反相电压截止_。 6.电力二极管的主要类型有_普通二极管_、_快恢复二极管_、_肖特基二极管_。 7.肖特基二极管的开关损耗_小于_快恢复二极管的开关损耗。 8.晶闸管的基本工作特性可概括为__正向电压门极有触发则导通、反向电压则截止__。 9.对同一晶闸管,维持电流IH与擎住电流IL在数值大小上有IL__大于__IH 。 10.晶闸管断态不重复电压UDSM与转折电压Ubo数值大小上应为,UDSM_大于__Ubo。 11.逆导晶闸管是将_二极管_与晶闸管_反并联_(如何连接)在同一管芯上的功率集成器件。的__多元集成__结构是为了便于实现门极控制关断而设计的。 的漏极伏安特性中的三个区域与GTR共发射极接法时的输出特性中的三个区域有对应关系,其中前者的截止区对应后者的_截止区_、前者的饱和区对应后者的__放大区__、前者的非饱和区对应后者的_饱和区__。 14.电力MOSFET的通态电阻具有__正__温度系数。 的开启电压UGE(th)随温度升高而_略有下降__,开关速度__小于__电力MOSFET 。16.按照驱动电路加在电力电子器件控制端和公共端之间的性质,可将电力电子器件分为_电压驱动型_和_电流驱动型_两类。 的通态压降在1/2或1/3额定电流以下区段具有__负___温度系数,在1/2或1/3额定电流以上区段具有__正___温度系数。 18.在如下器件:电力二极管(Power Diode)、晶闸管(SCR)、门极可关断晶闸管(GTO)、电力晶体管(GTR)、电力场效应管(电力MOSFET)、绝缘栅双极型晶体管(IGBT)中,属于不可控器件的是_电力二极管__,属于半控型器件的是__晶闸管_,属于全控型器件的是_GTO 、GTR 、电力MOSFET 、IGBT _;属于单极型电力电子器件的有_电力MOSFET _,属于双极型器件的有_电力二极管、晶闸管、GTO 、GTR _,属于复合型电力电子器件得有__ IGBT _;在可控的器件中,容量最大的是_晶闸管_,工作频率最高的是_电力MOSFET,属于

可控硅参数名词解释

晶闸管参数名词解释 1. 反向重复峰值电压(VRRM):反向阻断晶闸管两端出现的重复最大瞬时值反向电压,包括所有的重复瞬态电压,但不包括所有的不重复瞬态电压。 注:反向重复峰值电压(VRRM)是可重复的,值大于工作峰值电压的最大值电压,如每个周期开关引起的毛疵电压。 2. 反向不重复峰值电压(VRSM):反向阻断晶闸管两端出现的任何不重复最大瞬时值瞬态反向电压。 1)测试目的:在规定条件下,检验晶闸管的反向不重复峰值电压额定值。 2)测试条件:a)结温:25℃和125℃;b)门极断路;c)脉冲电压波形:底宽近似10mS 的正弦半波;d)脉冲重复频率:单次脉冲;e)脉冲次数:按有关产品标准规定;f)测试电压:反向不重复峰值电压 注:反向不重复峰值电压(VRSM)是外部因素偶然引起的,值一般大于重复峰值电压的最大值电压。通常标准规定VRSM =1.11VRRM。应用设计应考虑一切偶然因素引起的过电压都不得超过不重复峰值电压。 3. 通态方均根电流(IT(RMS)):通态电流在一个周期内的方均根值。 4. 通态平均电流(IT(AV)):通态电流在一个周期内的平均值。 5. 浪涌电流(ITSM):一种由于电路异常情况(如故障)引起的,并使结温超过额定结温的不重复性最大通态过载电流。 1)测试目的:在规定条件下,检验晶闸管的通态(不重复)浪涌电流额定值。 2)测试条件:a)浪涌前结温:125℃;b)反半周电压:80%反向重复峰值电压;d)每次浪涌的周波数:一个周波,其导通角应在160度至180度之间 6. 通态电流临界上升率(di/dt):在规定条件下,晶闸管能承受而无有害影响的最大通态电流上升率。 1)测试目的:在规定条件下,检验晶闸管的通态电流临界上升率额定值。 2)测试条件:a)加通态电流前结温:125℃;b)门极触发条件:IGM =3~5IGT;c)开通前断态电压VDM=2/3VDRM ;d)开通后通态电流峰值:2 IT(AV)~3IT(AV);e)t1≥1us;f)重复频率:50HZ;g)通态电流持续时间:5s。 7. I2t值:浪涌电流的平方在其持续时间内的积分值。 1)测试目的:在规定条件下,检验和测量反向阻断三级晶闸管的I2t值 2)测试条件:a)浪涌前结温:125℃;b)浪涌电流波形:正弦半波; 3) I2t测试实质是持续时间小于工频正弦波(1-10ms范围)的一种不重复浪涌电流测试。通过浪涌电流it对其持续时间t积分∫it2dt,即可求得I2t值。 8. 门极平均值耗散功率(PG(AV)):在规定条件下,门极正向所允许的最大平均功率。 1) 测试目的:在规定条件下,检验反向阻断三级晶闸管的门极平均功率额定值 2) 测试条件:a)结温:125℃;b)门极功率:额定门极平均功率;c)测试持续时间:3S;d)主电路条件:阳,阴极间断路。 3)测量程序:a)被测器件加热到规定结温;b)从零缓慢调整电源的输出,使电流表和电压表指示的数字的乘积达到额定门极平均功率PG(AV),并保持3S时间,然后将电源的输出调回零;c)测试后,进行门极触发电流和电压测量,如无异常,则PG(AV)额定值得到确认。 9. 反向重复峰值电流(IRRM):晶闸管加上反向重复峰值电压时的峰值电流。 10. 断态重复峰值电流(IDRM):晶闸管加上断态重复峰值电压时的峰值电流。

晶闸管及其应用讲解

晶闸管及其应用 课程目标 1 了解晶闸管结构,掌握晶闸管导通、关断条件 2 掌握可控整流电路的工作原理及分析 3 理解晶闸管的过压、过流保护 4 掌握晶闸管的测量、可控整流电路的调试和测量 课程内容 1 晶闸管的结构及特性 2 单相半波可控整流电路 3 单相半控桥式整流电路 4 晶闸管的保护 5 晶闸管的应用实例 6 晶闸管的测量、可控整流电路的调试和测量 学习方法 从了解晶闸管的结构、特性出发,掌握晶闸管的可控整流应用,掌握晶闸管的过压和过流保护方式,结合实物和实训掌握晶闸管管脚及好坏的判断,通过应用实例,了解晶闸管的典型应用。 课后思考 1晶闸管导通的条件是什么?导通时,其中电流的大小由什么决定?晶闸管阻断时,承受电压的大小由什么决定? 2为什么接电感性负载的可控整流电路的负载上会出现负电压?而接续流二极管后负载上就不出现负电压了,又是为什么? 3 如何用万用表判断晶闸管的好坏、管脚? 4 如何选用晶闸管?

晶闸管的结构及特性 一、晶闸管外形与符号: 图5.1.1 符号 图5.1.2 晶闸管导通实验电路图 为了说明晶闸管的导电原理,可按图5.1.2所示的电路做一个简单的实验。 (1)晶闸管阳极接直流电源的正端,阴极经灯泡接电源的负端,此时晶闸管承受正向电压。控制极电路中开关S断开(不加电压),如图5.1.2(a)所示,这时灯不亮,说明晶闸管不导通。 (2)晶闸管的阳极和阴极间加正向电压,控制极相对于阴极也加正向电压,如图5.1.2(b)所示.这时灯亮,说明晶闸管导通。 (3)晶闸管导通后,如果去掉控制极上的电压,即将图5.1.2(b)中的开关S断开,灯仍然亮,这表明晶闸管继续导通,即晶闸管一旦导通后,控制极就失去了控制作用。 (4)晶闸管的阳极和阴极间加反向电压如图5.1.2(C),无论控制极加不加电压,灯都不亮,晶闸管截止。 (5)如果控制极加反向电压,晶闸管阳极回路无论加正向电压还是反向电压,晶闸管都不导通。 从上述实验可以看出,晶闸管导通必须同时具备两个条件: (1) 晶闸管阳极电路加正向电压; (2) 控制极电路加适当的正向电压(实际工作中,控制极加正触发脉冲信号)。

晶闸管的结构以及工作原理

一、晶闸管的基本结构 晶闸管(SemiconductorControlled Rectifier 简称SCR )是一种四层结构(PNPN )的大功率半导体器件,它同时又被称作可控整流器或可控硅元件。它有三个引出电极,即阳极(A )、阴极(K )和门极(G )。其符号表示法和器件剖面图如图1所示。 图1 符号表示法和器件剖面图 普通晶闸管是在N 型硅片中双向扩散P 型杂质(铝或硼),形成211P N P 结构,然后在2P 的大部分区域扩散N 型杂质(磷或锑)形成阴极,同时在2P 上引出门极,在1P 区域形成欧姆接触作为阳极。 图2、晶闸管载流子分布 二、晶闸管的伏安特性 晶闸管导通与关断两个状态是由阳极电压、阳极电流和门极电流共同决定的。通常用伏安特性曲线来描述它们之间的关系,如图3所示。 图3 晶闸管的伏安特性曲线 当晶闸管AK V 加正向电压时,1J 和3J 正偏,2J 反偏,外加电压几乎全部降落在2J 结上,2J 结起到阻断电流的作用。随着AK V 的增大,只要BO AK V V <,通过阳极电流A I 都很小,因而称此区域为正向阻断状态。当AK V 增大超过BO V 以后,阳极电流突然增大,特性曲线过负阻过程瞬间变到低电压、大电流状态。晶闸管流过由负载决定的通态电流T I ,器件压降为1V 左右,特性曲线CD 段对应的状态称为导通状态。通常将BO V 及其所对应的BO I 称之为正向转折电压和转折电流。晶闸管导通后能自身维持同态,从通态转换到断态,通常是不用门极信号而是由外部电路控制,即只有当电流小到称为维持电流H I 的某一临界值以下,器件才能被关断。 当晶闸管处于断态(BO AK V V <)时,如果使得门极相对于阴极为正,给门极通以电流G I ,那么晶闸管将在较低的电压下转折导通。转折电压BO V 以及转折电流BO I 都是G I 的函数,G I 越大,BO V 越小。如图3所示,晶闸管一旦导通后,即使去除门极信号,器件仍然然导通。

重点-手机天线的基本参数

手机天线的基本参数 1,VSWR 驻波比 V oltage standing wave ratio. Measures the peak to peak voltage on the input transmission line.一般高频传输线上都是行驻波。电压驻波比是指传输线线相邻的电压振幅最大值和电压振幅最小值的绝对值的比值。 行波无反射状态,VSWR=1,为最佳情况。全反射状态,VSWR为无穷大。对于天线而言,我们希望反射的能量越少越好,那么就用驻波比来表示反射的多少,尽量接近1为最佳。VSWR=(1+反射系数)/(1-反射系数)。驻波比越小越好,表示反射系数越小越好。 驻波比反映了天馈系统的匹配情况。它是以天线作为发射天线时发射出去和反射回来的能量(对于天线而言,重点强调的是能量关系,而不像传输线那样强调的是电压之间的关系)的比来衡量天线性能的。驻波比是由天馈系统的阻抗决定的。天线的阻抗与馈线的阻抗与接收机的阻抗一致,驻波比就小。驻波比高的天馈系统,信号在馈线中的损失很大。驻波比跟反射系数,也可以说的回波损耗是成正比的,回波损耗强调能量关系。来自网络,仅供参考 2,Return Loss 回波损耗 The amount of power reflected by the antenna back to the generator. 回波损耗是指某一点(对于手机天线而言是指天线的馈点处)反射波的功率与入射波的功率之比的10*log值。也就是反射系数的平方的10*log值。回波损耗=10*log(反射系数平方值)。知道了驻波比,可以求出反射系数,进而就可以求出回波损耗。单位是dB,有时候回波损耗也当成是反射系数,即20*log(反射系数),由于反射系数小于1,所以回波损耗为负数。 3,Directivity 方向系数 Ratio of the power density in the direction of maximum power to the average power. 能够定量的表示天线定向辐射能力的电参数。定义:在同一距离及相同辐射功率的条件下,某天线在最大辐射方向上的辐射功率密度和无方向性天线(点源)的辐射功率密度之比。 方向系数与辐射功率在全空间的分布状态有关。要使天线的方向系数大,不仅要求主瓣窄,而且要求全空间的副瓣电平小。这个参数重点描述天线辐射性能的方向性。 方向系数的单位是dBi,理想点源天线的方向系数为10*log(1)=0dBi。一般非理想点源天线的方向系数都是大于0dBi的。 不是所有的天线都有方向性的。便携式收音机上的拉杆天线就没有方向性。偶极天线有弱的方向性,八木等定向天线可以得到较好的方向性。好的方向性意味着能够集中收集所需方向的电波,还有一个重要的能力就是能部分地减弱本地电台信号的影响。 但是定向天线并不是什么情况下都好。当没有目标而等待的时候,定向天线就有可能使你错过天线背面的信号。所以比较合理的方式,是用一个垂直天线和一付定向天线配合使用,用垂直天线等待,听到信号后,再用定向天线转过去对准了听。 对于手机天线而言,可以观察3D和2D的方向图,要求方向系数越弱越好,因为手机天线需要尽量做成全方向性(即没有方向性)的天线,而不是要求某个方向的辐射特别强。 4,Gain 增益 Directivity scaled by the efficiency of the antenna. 增益系数表示了天线的定向收益程度。定义:在同一距离及相同的输入功率的条件下,

可控硅参数列表

March 2008 Rev. 21/9 AN2703 Application note Parameter list for SCRs, TRIACs, AC switches, and DIACS Introduction All datasheet parameters are rated as minimum or maximum values, corresponding to the product parameter distribution. In each datasheet, two classes of parameters are available:■ Absolute ratings, corresponding to critical parameters, not to be exceeded for safe operation. If the absolute rating is exceeded, the component may be damaged.■Electrical, thermal and static characteristics, defining limits on product https://www.360docs.net/doc/511472837.html,

Parameters AN2703 1 Parameters 2/9

AN2703Parameters 3/9I GM Peak gate current This is the maximum peak current allowed through gate and cathode, defined for a 20 μs pulse duration. If the absolute rating is exceeded, the component may be damaged. P G(AV)Average gate power dissipation This is the maximum average power that can be dissipated by the gate junction. If the absolute rating is exceeded, the component may be damaged. V RGM Peak reverse gate voltage This parameter is only defined for SCRs. It is the maximum reverse voltage than can be applied across gate and cathode terminals, without risk of destruction of the gate to cathode junction. V GM Peak positive gate voltage (with respect to the pin "COM") This parameter is only defined for ACSs. It is the maximum voltage than can be applied across gate and COM terminals without risk of destruction of the gate to COM junction.Table 2.Electrical characteristics parameters Parameter Name and description P Average power dissipation This is the average power dissipated by current conduction through the device for one full cycle operation. I GT Triggering gate current This is the current to apply between gate and cathode (or gate and electrode A1 for TRIAC) to turn-on the device. This parameter defines the sensitivity of the component. For a SCR, the gate current has always to be sunk by the gate. For a TRIAC, I GT is define for 3 or 4 quadrants corresponding to the different polarities of A2, A1 and gate: - Q1: I g sunk by the gate, V A2-A1 > 0 - Q2: I g sourced by the gate, V A2-A1 > 0 - Q3: I g sourced by the gate, V A2-A1 < 0 - Q4: I g sunk by the gate, V A2-A1 < 0 The I GT value is higher in Q4 quadrant. For ACS types, I GT is defined in two quadrants (Q2 and Q3). V GT Triggering gate voltage This is the voltage to apply across gate and cathode (or gate and electrode A1 for TRIAC) to reach the IGT current and then to trigger the device. V GD Non-triggering gate voltage V GD is the maximum voltage which can be applied across gate and cathode (or gate and electrode A1 for TRIAC) without causing undesired turn-on. This parameter is specified, for the worst case scenario, at the maximum junction temperature.Table 1.Absolute ratings parameters (continued) Parameter Name and description

晶闸管直流调速系统参数和环节特性的测定

晶闸管直流调速系统参数和环节特性的测定一、实验目的 (1)熟悉晶闸管直流调速系统的组成及其基本结构。 (2)掌握晶闸管直流调速系统参数及反馈环节测定方法。 二、实验原理 晶闸管直流调速系统由整流变压器、晶闸管整流调速装置、平波电抗器、电动机-发动机组等组成。 在本实验中,整流装置的主电路为三相桥式电路,控制电路可直接由给定电压U g作为触发器的移相控制电压U ct,改变U g的大小即可改变控制角α,从而获得可调直流电压,以满足实验要求。实验系统的组成原理如图1所示。 图1 晶闸管直流调速试验系统原理图

三、实验内容 (1) 测定晶闸管直流调速系统主电路总电阻值R 。 (2) 测定晶闸管直流调速系统主电路电感值L 。 (3) 测定直流电动机-直流发电机-测速发电机组的飞轮惯量GD 2。 (4) 测定晶闸管直流调速系统主电路电磁时间常数T d 。 (5) 测定直流电动机电势常数C e 和转矩常数C M 。 (6) 测定晶闸管直流调速系统机电时间常数T M 。 (7) 测定晶闸管触发及整流装置特性()ct d U f U =。 (8) 测定测速发电机特性()n f U TG =。 四、实验仿真 晶体管直流调速实验系统原理图如图1所示。该系统由给定信号、同步脉冲触发器、晶闸管整流桥、平波电抗器、直流电动机等部分组成。图2是采用面向电气原理图方法构成的晶闸管直流调速系统的仿真模型。下面介绍各部分的建模与参数设置过程。 4.1 系统的建模和模型参数设置 系统的建模包括主电路的建模与控制电路的建模两部分。 (1)主电路的建模与参数设置 由图2可见,开环直流调速系统的主电路由三相对称交流电压源、晶闸管整流桥、平波电抗器、直流电动机等部分组成。由于同步脉冲触发器与晶闸管整流桥是不可分割的两个环节,通常作为一个组合体来讨论,所以将触发器归到主电路进行建模。 ①三相对称交流电压源的建模和参数设置。首先从电源模块组中选取一个交流电压源模块,再用复制的方法得到三相电源的另两个电压源模块,并用模块标题名称修改方法将模块标签分别改为“A 相”、“B 相”、“C 相”,然后从元件模块

晶闸管的基本检测方法

晶闸管的基本检测方法 1.判别单向晶闸管的阳极、阴极和控制极 脱开电路板的单向晶闸管,阳极、阴极和控制极3个引脚一般没有特殊的标注,识别各个脚主要是通过检测各个引脚之间的正、负电阻值来进行的。晶闸管各个引脚之间的阻值都较大,当检测出现唯一一个小阻值时,此时黑表笔接的是控制极(G),红表笔接的是阴极(K),另外一个引脚就是阳极(A)。 2.判别单向晶闸管的好坏 脱开电路板的单向晶闸管,阳极(A)、阴极(K)和控制极(G)明确标示;正常的单向闸管,阳极(A)、阴极(K)两个引脚之间的正、反向电阻,阳极(A)、控制极(G)两个引脚之间的正、反向电阻的阻值应该都很大,阴极(K)、控制极(G)两个引脚之间的正向电阻应该远小于反向电阻。并且阳极(A)、阴极(K)两个引脚之间的正向电阻越大,单向晶闸管阳极的正向阻断特性越好;反向电阻越大,单向晶闸管阳极的反向阻断特性越好。 3.判别双向晶闸管的好坏 脱开电路板的双向晶闸管,第一电极(T1)、第二电极(T2)、控制极(G)明确。判断双向晶闸管的好坏,主要是看短路前第二电极(T2)和第一电极(T1)之间阻值接近无穷大,第二电极(T2)与控制极(G)引脚短路,短路后晶闸管触发导通,第二电极(T2)·和第一电极(T1)之间的电阻变小,有固定值。可以断定该双向晶闸管具备双向触发能力,性能基本良好。 4.晶闸管的代换原则 晶闸管的品种繁多,不同的电子设备与不同的电子电路,采用不同类型的晶闸管。选用与代换晶闸管时,主要应考虑其额定峰值电压、额定电流、正向压降、门极触发电流及触发电压、开关速度等参数,额定峰值电压和额定电流均应高于工作电路的最大工作电压和最大工作电流1.5~2倍,代换时最好选用同类型、同特性、同外形的晶闸管替换。 普通晶闸管一般被用于交直流电压控制、可控整流、交流调压、逆变电源,开关电源保护等电路。 双向晶闸管一般被用于交流开关、交流调压、交流电动机线性凋速、灯具线性调光及固态继电器、固态接触器等电路。 逆导晶闸管一般被用于电磁灶、电子镇流器、超声波电路、超导磁能贮存系统及开关电源等电路。 光控晶闸管一般被用于光电耀合器、光探测器、光报警器、光计数器、光电逻辑电路及自动生产线的运行监控电路等。 BTC晶体管一般被用于锯齿波发生器、长时间延时器、过电压保护器及大功率晶体管触发电路等。 门极关断晶闸管一般被用于交流电动机变频调速、斩波器、逆变电源及各种电子开关电路等。

晶闸管参数说明

IEC标准中用来表征晶闸管、二极管性能、特点的参数有数十项,但用户经常用到的有十项左右,本文就晶闸管、二极管的主要参数做一简单介绍。 1.正向平均电流I F(A V)( 整流管) 通态平均电流I T(A V)( 晶闸管) 是指在规定的散热器温度THS或管壳温度T C时,允许流过器件的最大正弦半波电流平均值。此时,器件的结温已达到其最高允许温度Tjm。台基公司产品手册中均给出了相应通态电流对应的散热器温度THS或管壳温度T C值,用户使用中应根据实际通态电流和散热条件来选择合适型号的器件。 2.正向方均根电流I F(RMS)( 整流管) 通态方均根电流I T(RMS)( 晶闸管) 是指在规定的散热器温度THS或管壳温度TC 时,允许流过器件的最大有效电流值。用户在使用中,须保证在任何条件下,流过器件的电流有效值不超过对应壳温下的方均根电流值。3.浪涌电流I FSM(整流管)、I TSM(晶闸管) 表示工作在异常情况下,器件能承受的瞬时最大过载电流值。用10ms底宽正弦半波峰值表示,台基公司在产品手册中给出的浪涌电流值是在器件处于最高允许结温下,施加80% V RRM条件下的测试值。器件在寿命期内能承受浪涌电流的次数是有限的,用户在使用中应尽量避免出现过载现象。 4.断态不重复峰值电压V DSM 反向不重复峰值电压V RSM 指晶闸管或整流二极管处于阻断状态时能承受的最大转折电压,一般用单脉冲测试防止器件损坏。用户在测试或使用中,应禁止给器件施加该电压值,以免损坏器件。 5.断态重复峰值电压V DRM 反向重复峰值电压V RRM 是指器件处于阻断状态时,断态和反向所能承受的最大重复峰值电压。一般取器件不重复电压的90%标注(高压器件取不重复电压减100V标注)。用户在使用中须保证在任何情况下,均不应让器件承受的实际电压超过其断态和反向重复峰值电压。 6.断态重复峰值(漏)电流IDRM 反向重复峰值(漏)电流IRRM 为晶闸管在阻断状态下,承受断态重复峰值电压VDRM和反向重复峰值电压VRRM时,流过元件的正反向峰值漏电流。该参数在器件允许工作的最高结温Tjm下测出。 7.通态峰值电压V TM(晶闸管) 正向峰值电压V FM(整流管) 指器件通过规定正向峰值电流I FM(整流管)或通态峰值电流I TM(晶闸管)时的峰值电压,也称峰值压降。该参数直接反映了器件的通态损耗特性,影响着器件的通态电流额定能力。器件在不同电流值下的的通态(正向)峰值电压可近似用门槛电压和斜率电阻来表示: V TM=VTO+rT*I TM V FM=VFO+rF*I FM 台基公司在产品手册中给出了各型号器件的最大通态(正向)峰值电压及门槛电压和斜率电阻,用户需要时,可以提供该器件的实测门槛电压和斜率电阻值。 8.电路换向关断时间t q(晶闸管) 在规定条件下,在晶闸管正向主电流下降过零后,从过零点到元件能承受规定的重加电压而不至导通的最小时间间隔。晶闸管的关断时间值决定于测试条件,台基公司对所制造的快速、高频晶闸管均提供了每只器件的关断时间实测值,在未作特别说明时,其对应的测试条件如下: l 通态峰值电流ITM等于器件ITA V;

手机配置参数详解

一、网络类型 【运营商与制式】 运营商与制式】 电信重组之前,负责移动运营的两家分别是中国移动和中国联通。 中国移动主要负责 GSM 业务 中国联通则负责运营 GSM 业务以及 CDMA 业务。当然,由于之前的网络 建设等问题,中国联通在移动运营服务上相对中国移动要差很多(尤其 是 CDMA 网络下)但资费相对便宜。
图为:电信重组方案示意图
经过电信重组,目前在国内的移动服务运营商一共有三家,分别是中国 移动、中国联通、中国电信,分别负责 2G 网络和 3G 网络的服务, GSM/TD-SCDMA, GSM/WCDMA, 中国移动为 GSM/TD-SCDMA, 中国联通为 GSM/WCDMA, 中国电信则为 CDMA 1X/CDMA2000。 1X/CDMA2000。

图为:电信重组方案历史回顾
由此一来, 算上 2G/3G 全网络范围内, 全网络范围内, GSM、 CDMA、 SCDMA、 TD由此一来, 手机一共分为 GSM、 CDMA、 -SCDMA、 TD 五种制式。 WCDMA 和 CDMA2000 五种制式。在选择了固定运营商的之后不能用与其他制式手 机产品兼容(通用) 而在同运营商范围内则可以实现 2G 与 3G 网络的自由切换。 网络的自由切换 自由切换。 机产品兼容(通用)。
【双网双卡双待机】 双网双卡双待机】 由于兼容性原因,往往一台手机不能实现全网络制式的覆盖。随之应运而生 的就是双待机手机。 在 2G 时代,所谓双待机手机可以分为两种种类:双卡双待、双网双待。一 般都会有以下搭配: 一张工作、 一张生活;一张打电话、 一张发短信;一张本地号、 一张异地号。 双卡双待就是一部手机里可以插两长电话卡, 两张卡必须是同一制式, 但两张卡必须是同一制式 比 两张卡必须是同一制式, 双卡双待 这样方便同时拥有两个号 码的用户使用。 如两张 GSM 卡或者两张 CDMA 卡, 双网 双待要相对高级一些, 可以在一部手机里插入两张电话卡而且一张是 GSM 卡,另 双待 外一张则是 CDMA 卡,这样可以满足拥有不同制式卡号的用 户,因为当年 2G 时 代,有一个比较奇怪的现象,移动的信号非常强大,但在有些犄角旮旯,反而是 联通的信号更有优势一点。

可控硅元件的工作原理及基本特性

可控硅元件的工作原理及基本特性 1、工作原理 可控硅是P1N1P2N2四层三端结构元件,共有三个PN结,分析原理时,可以把它看作由一个PNP管和一个NPN管所组成,其等效图解如图1所示 图1 可控硅等效图解图 当阳极A加上正向电压时,BG1和BG2管均处于放大状态。此时,如果从控制极G输入一个正向触发信号,BG2便有基流ib2流过,经BG2放大,其集电极电流ic2=β2ib2。因为BG2的集电极直接与BG1的基极相连,所以ib1=ic2。此时,电流ic2再经BG1放大,于是BG1的集电极电流ic1=β1ib1=β1β2ib2。这个电流又流回到BG2的基极,表成正反馈,使ib2不断增大,如此正向馈循环的结果,两个管子的电流剧增,可控硅使饱和导通。 由于BG1和BG2所构成的正反馈作用,所以一旦可控硅导通后,即使控制极G的电流消失了,可控硅仍然能够维持导通状态,由于触发信号只起触发作用,没有关断功能,所以这种可控硅是不可关断的。 由于可控硅只有导通和关断两种工作状态,所以它具有开关特性,这种特性需要一定的条件才能转化,此条件见表1 状态条件说明 从关断到导通1、阳极电位高于是阴极电位 2、控制极有足够的正向电压和电流 两者缺一不可 维持导通1、阳极电位高于阴极电位 2、阳极电流大于维持电流 两者缺一不可 从导通到关断1、阳极电位低于阴极电位 2、阳极电流小于维持电流 任一条件即可 2 可控硅的基本伏安特性见图2 图2 可控硅基本伏安特性 (1)反向特性 当控制极开路,阳极加上反向电压时(见图3),J2结正偏,但J1、J2结反偏。此时只能流过很小的反向饱和电流,当电压进一步提高到J1结的雪崩击穿电压后,接差J3结也击穿,电流迅速增加,图3的特性开始弯曲,如特性OR段所示,弯曲处的电压URO叫“反向转折电压”。此时,可控硅会发生永久性反向击穿。

晶闸管及其应用教案

课题 任务九晶闸管及其应用 9.1 单、双向晶闸管和单结晶闸管的认识和检测 课型 新课授课班级授课时数 2 教学目标 了解单向、双向晶闸管和单结晶体管的结构、引脚、主 要参数、基本特性 教学重点 万用表的正确使用方法 教学难点 单、双向晶闸管和单结晶闸管的认识和检测 学情分析 教学效果 教后记

A、导入新课 实物展示:向学生展示单向、双向晶闸管和单结晶体管,提出本次课任务。 B、新授课 基础知识 一、单向晶闸管 ㈠外形 单向晶闸管的外形如图9-1所示。 图9-1 单向晶闸管外形 ㈡结构与符号 单向晶闸管是由三个PN结及其划分为四个区组成,如图9-2所示。由外层的P型和N型半导体分别引出阳极A和阴极K,由中间的P型半导体引出控制极G。文字符号用“V”表示。 (a)结构(b)符号 图9-2 单向晶闸管的结构与符号展示法 (结合演示讲解) 实物展示

㈢工作特性 ⒈单向晶闸管的导通必须具备两个条件: ①在阳极(A)与阴极(K)之间必须为正向电压(或正向偏压);即: U AK>0; ②在控制极(G)与阴极(K)之间也应有正向触发电压;即:U GK >0。 ⒉晶闸管导通后,控制极(G)将失去作用,即:当U GK=0,晶闸管仍然导通。 ⒊单向晶闸管要关断时必须满足: 使其导通(工作)电流小于晶闸管的维持电流值或在阳极(A)与阴极(K)之间加上反向电压(反向偏压);即:I V<I H或U AK<0。 二、双向晶闸管 ㈠外形 双向晶闸管的外形如图9-3所示。 图 9-3 双向晶闸管外形 ㈡结构与符号 双向晶闸管的结构与符号如图9-4所示,它是一个NPNPN五层结构的半导体器件,其功能相当于一对反向并联的单向晶闸管,电流可以从两个方向通过。所引出的三个电极分别为第一阳极T1、第二阳极T2和控制极G。结合演示讲解 实物展示

晶闸管参数名词解释

晶闸管参数名词解释 1.反向重复峰值电压(V RRM):反向阻断晶闸管两端出现的重复最大瞬时值反向电压,包 括所有的重复瞬态电压,但不包括所有的不重复瞬态电压。 注:反向重复峰值电压(V RRM)是可重复的,值大于工作峰值电压的最大值电压,如每个周期开关引起的毛疵电压。 2.反向不重复峰值电压(V RSM):反向阻断晶闸管两端出现的任何不重复最大瞬时值瞬态 反向电压。 1)测试目的:在规定条件下,检验晶闸管的反向不重复峰值电压额定值。 2)测试条件:a)结温:25℃和125℃;b)门极断路;c)脉冲电压波形:底宽近似10mS 的正弦半波;d)脉冲重复频率:单次脉冲;e)脉冲次数:按有关产品标准规定;f)测试电压:反向不重复峰值电压 注:反向不重复峰值电压(V RSM)是外部因素偶然引起的,值一般大于重复峰值电压的最大值电压。通常标准规定V RSM=1.11V RRM。应用设计应考虑一切偶然因素引起的过电压都不得超过不重复峰值电压。 3.通态方均根电流:通态电流在一个周期内的方均根值。 4.通态平均电流:通态电流在一个周期内的平均值。 5.浪涌电流(I TSM):一种由于电路异常情况(如故障)引起的,并使结温超过额定结温 的不重复性最大通态过载电流。 1)测试目的:在规定条件下,检验晶闸管的通态(不重复)浪涌电流额定值。 2)测试条件:a)浪涌前结温:125℃;b)反半周电压:80%反向重复峰值电压;d)每次浪涌的周波数:一个周波,其导通角应在160度至180度之间 6.通态电流临界上升率(di/dt):在规定条件下,晶闸管能承受而无有害影响的最大通态 电流上升率。 1)测试目的:在规定条件下,检验晶闸管的通态电流临界上升率额定值。 2)测试条件:a)加通态电流前结温:125℃;b)门极触发条件:I GM=3~5I GT;c)开通前断态电压V DM=2/3V DRM ;d)开通后通态电流峰值:2 I T(A V)~3I T(AV);e)t1≥1us;f)重复频率:50HZ;g)通态电流持续时间:5s。 7.I2t值:浪涌电流的平方在其持续时间内的积分值。 1)测试目的:在规定条件下,检验和测量反向阻断三级晶闸管的I2t值 2)测试条件:a)浪涌前结温:125℃;b)浪涌电流波形:正弦半波; 3) I2t测试实质是持续时间小于工频正弦波(1-10ms范围)的一种不重复浪涌电流测试。 通过浪涌电流i t对其持续时间t积分∫i t2dt,即可求得I2t值。 8.门极平均值耗散功率(P G(A V)):在规定条件下,门极正向所允许的最大平均功率。 1)测试目的:在规定条件下,检验反向阻断三级晶闸管的门极平均功率额定值 2)测试条件:a)结温:125℃;b)门极功率:额定门极平均功率;c)测试持续时间:3S; d)主电路条件:阳,阴极间断路。 3)测量程序:a)被测器件加热到规定结温;b)从零缓慢调整电源的输出,使电流表和电压表指示的数字的乘积达到额定门极平均功率P G(A V),并保持3S时间,然后将电源的输出调回零;c)测试后,进行门极触发电流和电压测量,如无异常,则P G(A V)额定值得到确认。 9.反向重复峰值电流(I RRM):晶闸管加上反向重复峰值电压时的峰值电流。 10.断态重复峰值电流(I DRM):晶闸管加上断态重复峰值电压时的峰值电流。 1)测试目的:在规定条件下,测量晶闸管的断态重复峰值电压下的断态重复峰值

当今智能手机参数解读 (1)

当今智能手机参数解读(走出选机误区) 在选购手机时,一些基本概念总能误导消费者的选购。比如处理器主频,一些朋友就认为处理器主频高,就代表手机性能的好坏。其实这样的想法是不对的,一款手机的实际性能,是整体硬件配合的体现,所以光凭处理器是带动不了整体运算的。此外,OMS、点心OS等变异系统,也被一些促销员吹嘘成与Android()系统等同的操作系统,这些基本概念会直接误导消费者。所以为帮助消费者选购,笔者特地奉上这篇基本概念解析,希望能对朋友们起到帮助。 时间过的真快,科技的涡轮已将智能手机核心硬件带向“G”时代,从而使广大消费者像关心电脑硬件一样,开始关心起智能手机的核心硬件。而最明显的体现就是,消费者在购买智能手机时都要问“这个手机处理器主频是多大的啊?有没有达到1GHz啊?这个手机处理器太低了我要买个高”等一些类问题。在这里笔者要说的是,处理器主频对整机性能的提升固然重要,但它要是没有其他硬件的辅助也会遇到性能瓶颈,以至于达不到预期性能。在上面笔者已经提到了,处理器要想性能最大化必须要有其他核心硬件的辅助,这些辅助硬件其实也很常见。比如RAM(运行内存)、GPU(图形处理芯片)等,它们肩负的责任丝毫不亚于处理器。首先我们先来说说RAM(运行内存),它对于处理器来说更像是一条高速公路,如果这条高速公路不够宽阔的话,就会出现堵车的情况,以至于运算数据不能抵达处理器,所以RAM(运行内存)同样决定一款手机的整体性能。 接下来就是上面提到的GPU(图形处理芯片),它更像处理器的孪生兄弟,它的工作主要负责图形数据处理。比如一款手机在运行高清视屏和3D手机游戏时,GPU(图形处理芯片)是和处理器并行运算的,处理器保证画面的流畅度,而GPU(图形处理芯片)则提供画面渲染,3D场景绘制等工作。如果没有GPU(图形处理芯片)的支持,处理器将面临双重考验。通过以上事例笔者要说明的是,朋友们在购买智能手机时不要盲目追求处理器主频,要从综合层面考虑,从而实现性能最大化。 “Android”这个词汇似乎已成为智能手机的代名词,它的出现让智能手机变得更加智能、更加互联、更加人性化。而由于它的开放特性,使各家厂商、运营商、第三方公司开始“重塑”它的肉身,这样的二次开发,也缔造除了OMS、点心OS等变异系统,还有一些如MOTO Blur、HTC Sense等一些列深度优化界面。其实这些修改并不重要,重要的是许多销售人员在推销智能手机时,硬要说OMS、点心OS等操作系统是跟原生Android操作系统没有区别的,可

单向晶闸管的基本结构及工作原理

单向晶闸管的基本结构及工作原理 晶闸管有许多种类,下面以常用的普通晶闸管为例,介绍其基本结构及工作原理。 单向晶闸管内有三个PN 结,它们是由相互交叠的4 层P区和N区所构成的.如图17-1(a) 所示。晶闸管的三个电极是从P1引出阳极A,从N2引出阳极K ,从P2引出控制极G ,因此可以说它是一个四层三端 半导体器件。 为了便于说明.可以把图17-1 (a) 所示晶闸管看成是由两部分组成的[见图17-1(b)],这样可以把晶闸管等效为两只三极管组成的一对互补管.左下部分为NPN型管,在上部分为PNP 型管[见图17-1 (c)]。 当接上电源Ea后,VT1及VT2都处于放大状态,若在G 、K 极间加入一个正触发信号,就相当于在V T1基极与发射极回路中有一个控制电流IC,它就是VT1的基极电流IB1。经放大后,VT1产生集电极电流ICI。此电流流出VT2 的基极,成为VT2 的基极电流IB2。于是, VT2 产生了集电极电流IC2。IC2再流入VT1 的基极,再次得到放大。这样依次循环下去,一瞬间便可使VT1和VT2全部导通并达到饱和。所以,当晶闸管加上正电压后,一输入触发信号,它就会立即导通。晶闸管一经导通后,由于导致VT1基极上总是流过比控制极电流IG大得多的电流,所以即使触发信号消失后,晶闸管仍旧能保持导通状态。只有降低电源电压Ea,使VT1、VT2 集电极电流小于某一维持导通的 最小值,晶闸管才能转为关断状态。 如果把电源Ea反接,VT1 和VT2 都不具备放大工作条件,即使有触发信号,晶闸管也无法工作而处于关断状态。同样,在没有输入触发信号或触发信号极性相反时,即使晶闸管加上正向电压.它也无法导通。 上述的几种情况可参见图17-2 。

可控硅参数说明(精)

符号说明: VRRM--反向重复峰值电压:在控制极断路和额定结温的条件下,可以重复加在可控硅上的交流电压。此电压小于反向最高测试电压100V。反向最高测试电压,规定为反向漏电流急速增加,反向特性曲线开始弯曲时的电压。 V RSM--反向不重复峰值电压;在控制极断路和额定结温的条件下,不允许加在可控硅上的交流电压。 V DRM――断态重复峰值电压;断态重复峰值电压是在门极断路而结温为额定值时,允许重复加在器件上的正向峰值电压.国标规定重复频率为50H,每次持续时间不超高10ms。规定断态重复峰值电压V DRM为断态不重复峰值电压(即断态最大瞬时电压UDSM的90%.断态不重复峰值电压应低于正向转折电压Ubo。 IT(AV/ IF(AV--通态/正向平均电流;在环境温度+40℃和额定结温下,导通角不小于170°阻性负载电路中,允许通过的50Hz正弦半波电流的平均值。 I T(RMS, I F(RMS――通态/正向方均根电流;是指在额定结温,允许流过器件的最大有效电流值,用户在使用中须保证,在任何条件下流过器件的电流有效值,不超过对应壳温下的方均根电流值 I TSM,I FSM--通态/正向浪涌电流;指由于电路异常情况引起的并使结温超过额定结温的不重复性最大正向过载电流(半个正弦波t=10ms, 50Hz I2t--表示可控硅所通过的电流产生的能量,是电流的平方乘以时间,表示可控硅的发热特性。 P GM--门极峰值功率;门极触发电压与最大触发电流的乘积; P G(AV --门极平均功率;门极触发电压与正常触发电流的乘积; di/dt--通态电流临界上升率;指在额定结温下,可控硅能承受的最大通态电流上升率(如果电流上升太快,可能造成局部过热而使可控硅损坏

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