小尺寸物体光学测量方法
光学测量方法
光学测量方法
光学测量方法是利用光学原理和设备进行物体尺寸、形状、位移、形变等参数的测量和分析的方法。
常见的光学测量方法包括以下几种：
1. 光学显微镜：利用光线的折射和反射原理，通过光学显微镜观察物体的形状、表面状况、颗粒分布、光学结构等细节信息。
2. 干涉测量法：利用光波的干涉现象进行测量。
包括菲涅尔衍射、弗洛涅尔衍射、迈克耳逊干涉等方法，可以精确测量物体的表面形貌、薄膜厚度等。
3. 拉曼光谱：通过激发物质分子的振动、转动等产生的光子能级变化，分析物质的组成和结构。
4. 光学屈光度测量：用于测量透明介质的折射率、光的传播速度等光学参数。
包括测量透镜、眼镜、晶体等的折射率和光学效应。
5. 光散射和荧光：通过测量光的散射、吸收和发射特性，分析物体的粒径分布、浓度、化学成分等信息。
常见的方法有动态光散射、静态光散射、拉曼散射等。
6. 光学干涉测量：通过利用光波的干涉现象，测量物体的位移、形变等信息。
包括Michelson干涉仪、白光干涉仪、激光干涉
仪等方法。
7. 光学投影测量：利用光学的成像原理，将物体的形状、尺寸投影到屏幕上的方法。
常见的方法有透视投影、正投影等。
以上是一些常见的光学测量方法，每种方法都有其特点和适用范围，具体的选择需要根据测量对象的性质和要求来确定。
光学测量原理和技术
光学测量原理和技术光学测量是利用光的特性进行测量的一种方法，广泛应用于工程领域、科学研究和医学等领域。
它通过利用光的传播速度、衍射、干涉、折射等原理，获得被测物体的各种参数，如尺寸、形状、速度、光学性质等。
本文将对光学测量的原理和常用的技术进行详细介绍。
光学测量的原理主要包括光的传播速度、干涉、衍射和折射等。
首先是光的传播速度原理。
光的传播速度是一个常数，通常在空气中为光速的近似值。
利用这一特性，可以通过测量光的传播时间来求得被测物体的距离。
这种方法常用于测量地理位置、道路长度等。
其次是干涉原理。
干涉是指两束或多束光相遇而产生干涉条纹的现象，常用于测量光的波长、被测物体的薄膜厚度等。
例如，杨氏干涉仪利用光的干涉原理测量光的波长。
Michelson干涉仪可以测量被测物体的位移。
再次是衍射原理。
衍射是指光通过物体边缘或孔隙时发生弯曲和散射的现象。
利用衍射原理，可以测量光的孔径、散斑、物体的形状等。
例如，通过测量衍射现象的图案特征可以推断物体的形状和大小。
最后是折射原理。
折射是指光从一种介质进入另一种介质时发生的方向变化。
利用折射原理，可以测量介质的折射率、曲率半径等。
例如，通过测量光经过透镜、棱镜等光学元件后的光线偏折角度可以计算出介质的折射率。
光学测量的技术主要包括激光测距、光栅测量、干涉测量、像散测量和光学断层扫描等。
激光测距技术是一种利用激光测量距离的方法。
利用激光器发射一束高度聚焦的激光束，测量激光束从发射到接收的时间差来计算出距离。
激光测距技术具有高精度、快速的特点，广泛应用于建筑测量、工业制造等领域。
光栅测量技术是利用光栅来测量物体位置和尺寸的方法。
光栅是一种具有规则周期结构的透明介质，在光线的照射下会产生明暗间断交替的光斑。
通过测量光栅上的光斑变化的位置和间距，可以计算出被测物体的位置和尺寸。
干涉测量技术是利用干涉现象进行测量的方法。
常见的干涉测量技术包括干涉仪、干涉计、Michelson干涉仪等。
物理中测量长度的方法
物理中测量长度的方法测量长度是物理实验和工程中非常重要的一个环节。
在物理学中，测量长度的方法主要有直尺法、游标卡尺法、光学干涉法和激光测距法等。
直尺法是最简单直观的测量长度的方法。
它是利用直尺的刻度来测量物体的长度。
直尺通常由金属或塑料制成，其一端有一个固定的刻度起点。
我们将直尺的刻度起点与物体的一端对齐，然后读取另一端的刻度值，即可得到物体的长度。
直尺法适用于较短的物体测量，但由于直尺的长度有限，对于较长的物体则不适用。
游标卡尺法是一种更精确的测量长度的方法。
它由一个主尺和一个游标组成。
主尺上有一系列固定的刻度，游标可以在主尺上滑动，用来精确测量物体的长度。
游标卡尺通常具有一个定位螺丝，用来固定游标在主尺上的位置。
我们将物体放入卡尺的两个测量腿之间，然后用定位螺丝将游标固定在物体的一端，读取游标所对应的刻度值，即可得到物体的长度。
游标卡尺法适用于各种长度的物体测量，并且具有较高的精度。
光学干涉法是一种基于光的波动性质来测量长度的方法。
它利用干涉现象来测量物体的长度。
在光学干涉法中，我们使用一个光源，将光通过一个分光镜分成两束光。
一束光照射到待测物体上，另一束光照射到一个参考物体上。
两束光再次汇聚到一个探测器上，通过观察干涉条纹的移动来测量物体的长度。
光学干涉法具有很高的精度，适用于微小长度的测量。
激光测距法是一种利用激光束测量长度的方法。
它利用激光的特性来测量物体的长度。
激光测距仪发射出一束激光束，激光束照射到物体上后会被物体反射回来。
测距仪通过测量激光的回程时间以及光速来计算物体的距离。
激光测距法具有高精度和非接触性的特点，广泛应用于建筑、地质勘探和工程测量等领域。
除了上述几种方法外，还有其他一些测量长度的方法，如声速法、电容法和磁感应法等。
这些方法在特定的实验和工程中也发挥着重要的作用。
无论采用哪种方法，我们都应该根据实际情况选择合适的测量方法，并注意测量的准确性和精度。
只有通过准确的测量，我们才能得到可靠的实验结果和工程数据，为科学研究和工程设计提供准确的依据。
物理实验技术中常用的光学测量方法与原理
物理实验技术中常用的光学测量方法与原理光学测量是物理实验技术中常用的一种测量方法，它利用光的传播和相互作用特性，通过光学仪器对待测物体进行测量。
光学测量方法广泛应用于材料科学、物理学等领域，并在工业生产中发挥着重要作用。
本文将介绍一些常用的光学测量方法与原理。
1. 散射光测量法：散射光测量法是通过测量物体发射或散射出的光的强度、频率等特性来获得物体的信息。
例如，在材料科学中，可以利用散射光测量物体的粒径、形状等物理特性。
散射光测量法的原理是利用物体表面或内部的不均匀性，使光发生散射或透射，然后通过光学仪器进行测量。
常用的散射光测量方法有动态光散射、静态光散射等。
2. 干涉测量法：干涉测量法是利用光的干涉现象来测量物体的形状、表面质量等。
干涉测量法的原理是将测量光和参考光进行相干叠加，通过干涉现象来获得物体的信息。
例如，在工业制造中，可以利用干涉测量法来检测零件的平整度、平行度等指标。
干涉测量法常用的技术有白光干涉、激光干涉等。
3. 折射测量法：折射测量法是通过测量光在物体内部的折射角、入射角等来获得物体的折射率、光学性质等。
折射测量法的原理是利用折射定律和光的传播特性进行测量。
在材料科学中，折射测量法常用于测量材料的折射率、透明度等参数。
具体的测量方法有自由空间测量法、腔内测量法等。
4. 光敏测量法：光敏测量法是利用材料对光的敏感性来进行测量。
光敏测量法的原理是通过测量材料对光的吸收、发射等特性，获得材料的光学性质。
例如，在光学器件制造中，可以利用光敏测量法来测量材料的吸收系数、光学响应时间等。
光敏测量法常用的技术有吸收光谱法、发射光谱法等。
总之，光学测量方法应用于物理实验技术中，可以从不同角度、不同测量原理来获取物体的信息。
散射光测量法、干涉测量法、折射测量法和光敏测量法都是常用的光学测量方法，它们在材料科学、物理学等领域起着重要作用。
通过不断研究和发展光学测量技术，我们可以更好地理解物质的性质和行为，为科学研究和工业生产提供有力支持。
测量物体长度方法
测量物体长度方法测量物体长度是物理实验中经常进行的一项实验，它的目的是通过使用一些方法和工具来确定物体的尺寸。
在科学研究和工程领域，准确测量物体长度是非常重要的，因为这对于解决问题和制定适当的解决方案是至关重要的。
下面将介绍一些测量物体长度的方法。
一、直尺法：直尺法是最基本的测量长度方法之一。
它可以通过使用直尺来测量物体的尺寸。
然而，直接使用直尺测量有一定的局限性，因为直尺的刻度间距可能不够精细，而且直尺本身可能会有一些误差。
二、游标卡尺法：游标卡尺是常用的测量长度的工具，它可以通过读取刻度上的数字来测量物体的长度。
游标卡尺有一个游标和一条刻度。
游标可以滑动沿着刻度来调整和测量物体的长度。
它比直尺测量更准确，刻度间距更小，误差也较小。
游标卡尺通常用于测量较小的物体。
三、卷尺法：卷尺也是一种常用的测量长度的工具，它通常用于测量较长的物体。
卷尺的一端有一个卷盘，另一端有一个钩子。
将卷尺的钩子固定在物体的一端，然后将卷尺展开并沿着物体的长度拉直，通过读取刻度上的数字来确定物体的长度。
卷尺通常有不同的长度和精度，根据需要选择适合的卷尺来测量不同长度的物体。
四、光学显微镜法：光学显微镜法可以用于测量微小物体的长度。
通过将物体放在光学显微镜下，调节显微镜的焦距和放大倍数，然后使用刻度尺或放大器读取物体在显微镜中所占的刻度长度，从而计算出物体的实际长度。
五、激光测距法：激光测距法是一种比较精确的测量长度的方法。
它利用激光束的传播速度和传播时间来测量物体的长度。
激光测距仪会发射一个激光束，当激光束照射到物体上时，它会被反射回来。
激光测距仪会测量激光束的传播时间，并通过乘以光速来计算出物体的距离。
激光测距仪通常精确到几毫米甚至更小。
总结起来，测量物体长度有很多种方法，选择适合的方法取决于物体的大小、形状和测量精度的要求。
直尺法、游标卡尺法、卷尺法适用于常见的长度测量，而光学显微镜法和激光测距法适用于微小和精确测量。
物理实验中微小位移量的几种光学测量方法
物理实验中微小位移量的几种光学测量方法光学测量是物理实验中常用的一种测量方法，它可以精确的测量微小的位移量。
在物理实验中，微小的位移量是非常重要的，因为它们可以提供关于物体运动和形状的关键信息。
在光学测量中有多种方法可以用来测量微小的位移量，这些方法包括干涉法、衍射法、激光测量法等。
本文将对这些光学测量方法进行详细介绍。
1.干涉法干涉法是一种光学测量方法，它利用光的干涉现象来测量微小的位移量。
当一个物体发生微小的位移时，会导致其表面或表面附近的光程发生变化，从而引起干涉条纹的移动。
通过观察干涉条纹的移动，可以测量出物体的位移量。
干涉法有许多种实现方式，常见的有薄膜干涉、朗伯干涉、迈克尔逊干涉等。
薄膜干涉是一种利用薄膜表面反射光产生干涉现象的方法。
当薄膜表面发生微小的位移时，会引起薄膜的光程发生变化，从而引起干涉条纹的移动。
通过测量干涉条纹的移动，可以计算出薄膜的位移量。
朗伯干涉是一种利用透过两个旋转角度不同的偏振镜的光产生干涉现象的方法。
当光通过两个旋转角度不同的偏振镜时，会产生两束光，这两束光之间会发生干涉现象。
通过测量干涉条纹的移动，可以计算出物体的位移量。
迈克尔逊干涉是一种利用分束镜将一束光分为两束光，并使其经过不同的光程，然后再通过合束镜使其重新合并产生干涉的方法。
通过改变一个光程使得两束光之间产生相位差，从而产生干涉现象。
通过测量干涉条纹的移动，可以计算出物体的位移量。
2.衍射法衍射法是一种利用光的衍射现象来测量微小的位移量的方法。
当光通过一个狭缝或者物体边缘时，会产生衍射现象。
当物体发生微小的位移时，会导致其衍射图样发生变化，从而可以通过测量衍射图样的变化来计算出物体的位移量。
衍射法有许多种实现方式，如菲涅尔衍射、菲索衍射等。
菲涅尔衍射是一种利用衍射光产生的干涉现象来测量微小的位移量的方法。
当光通过一个狭缝或者物体边缘时，会产生衍射现象，而衍射光会产生干涉现象。
通过测量干涉条纹的移动，可以计算出物体的位移量。
目与微米微观尺度下的尺寸测量方法
目与微米微观尺度下的尺寸测量方法尺寸测量是科学研究和工程技术中必需的一项重要工作。
在现代微观尺度下，尺寸测量更加具有挑战性，因为人类肉眼无法观测到微米甚至纳米级别的物体。
本文将介绍目与微米微观尺度下的尺寸测量方法，并以实例说明其应用。
一、光学显微镜测量方法光学显微镜是一种常用的测量微观尺寸的工具。
通过放大目镜与物镜的组合，可以观察并测量目标尺寸。
光学显微镜可分为常规光学显微镜和薄膜显微镜两类。
常规光学显微镜适用于一般微观尺寸测量，而薄膜显微镜则能够进行更为精确的薄膜厚度测量。
二、扫描电子显微镜测量方法扫描电子显微镜（SEM）是通过扫描样品表面并检测电子束与样品相互作用所产生的信号来获得显像的一种高分辨率显微镜。
SEM可以使用较高的放大倍数观察微观结构，并通过图像分析软件进行尺寸测量。
其分辨率可达纳米级别，适用于微米、纳米尺度下的尺寸测量。
三、原子力显微镜测量方法原子力显微镜（AFM）是一种利用微细机械臂扫描样品表面实现测量的技术。
AFM可以测量样品表面的拓扑结构，并通过微探针之间的相互作用力来获得尺寸信息。
其分辨率可达原子级别，适用于纳米尺度下的尺寸测量。
四、扫描探针显微镜测量方法扫描探针显微镜（SPM）是一类利用探针扫描样品表面进行测量的显微镜。
SPM包括原子力显微镜、磁力显微镜、电子显微镜等。
通过探针与样品间的相互作用力来获得尺寸信息。
SPM具有高分辨率和多功能性的特点，适用于纳米尺度下的尺寸测量。
五、干涉法测量方法干涉法是一种基于光波干涉原理进行尺寸测量的方法。
常用的干涉法测量方法包括扩展白光干涉法、激光干涉法等。
通过测量干涉条纹的形态和数量，可以得到目标尺寸的信息。
干涉法具有高精度和非接触性的特点，适用于微米、纳米尺度下的尺寸测量。
六、散射法测量方法散射法是一种通过测量光或粒子在样品表面散射的特性来获得尺寸信息的方法。
常见的散射法测量方法包括X射线衍射法、中子散射法等。
散射法具有高灵敏度和广泛适用性的特点，适用于微米、纳米尺度下的尺寸测量。
大学物理实验-长度测量
大学物理实验-长度测量长度测量是物理学的基本实验之一，它是测量任何物体大小的基础。
在许多工业和科学领域，长度测量都是精度至关重要的，因此精确测量长度是在现代工程和技术中必不可少的技能。
本实验将向您介绍两种测量长度的方法：使用游标卡尺和使用光学测量仪器。
我们将探讨这些测量技术的优点和不足，并解释如何正确使用它们来获得最准确的测量结果。
实验步骤：材料：- 游标卡尺- 黏土- 铅笔- 长钢板- 光学测量仪器- 纸张- 计算器步骤一：使用游标卡尺1. 在黏土中插入一根铅笔。
2. 将钢板放在桌子上，使其表面平整，然后用黏土将其固定在桌子上。
3. 用游标卡尺测量板的长度。
确保在测量之前，卡尺已完全关闭。
4. 可以使用铅笔标记板的两端。
5. 移动卡尺，使它与标记在钢板上的两端对准，并读取卡尺上的数字。
6. 重复几次，确保读数准确，并求出平均长度值。
步骤二：使用光学测量仪器1. 将光学测量仪器置于平坦表面上。
确保它稳定而不会移动。
如果需要，可以在表面下方垫一些垫子。
2. 打开测量仪器。
在某些情况下，您可能需要根据特定的测量程序调整设置。
3. 在纸张上绘制一条直线。
4. 将光学测量仪器的镜头对准将要测量的物体。
确保放置正确。
5. 在测量程度之前调整放置的物体位置。
确保它放置在稳定的位置上。
6. 在测量仪器上选择适当的测量单位，并开始测量。
优点和不足：游标卡尺的优点是可以测量物体的长度，便携，是一种简单、经济、可操作性强的测量工具。
游标卡尺的不足是精度受限制。
在长期使用中，可能会产生一些磨损，这会影响卡尺的准确度。
此外，可读性还取决于人眼的能力，因此有可能引起一定程度的误差。
与游标卡尺相比，光学测量仪器有更高的精确度。
它使用非接触式传感器，能够测量复杂曲面的长度、厚度、距离等。
这些仪器可以将数据直接传输至计算机上，以方便进一步数据分析。
另外，高质量的光学测量仪器可以通过加入其他测量模式和功能来扩展其测量范围和精确性。
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小尺寸物体光学测量方法
李闯闯
（华东师范大学，物理与材料学院，上海市，邮编：200000）
摘要：测量微小长度的方法很多，除了游标卡尺，螺旋测微器，读书显微镜等简单的长度测量方法外，利用激光强度高，干涉性好，方向性好的特点，设计出的光学测量方法也有很多，本文将先对实验中的线阵CCD测量物体尺寸进行简单介绍，然后再介绍两种其他的小尺寸物体光学测量方法：利用光学多道仪测量，照相法测量。
1.线阵CCD测量物体尺寸
随着科学技术的发展和工业自动化检测程度的提高，传统的人工接触式的测量由于测量精度和效率的限制已经无法满足大规模生产的需求。
高精度，高速度的在线非接触测量已经成为检测行业的发展趋势。
产于上世纪70年代的电荷耦合器件（CCD）是现代最重要的图像传感器的一种。
CCD是由一种高感光度的半导体材料制成的模拟集成电路芯片，借助光学系统和驱动电路，图像经光敏区后可以实现光电信号的转换、存储和传输，从而将空间域的光学图像转换为时间域的离散电压信号。
线阵CCD具有灵敏度高、光谱响应宽、集成度高、结构简单、成本低廉等诸多优点，因此在检测方面应用越来越广。
（1）线阵CCD测量原理
装置由远心照明光源系统，待测物体，线阵成像系统，线阵CCD图像采集系统和计算机数据处理系统构成。
远心照明光源发出平行光术均匀投射到待测物体，经成像物体成像在线阵CCD的光敏阵列上。
由于待测物体的成像面上光照度不同，线阵CCD光敏阵列上的照度分布也就不同，因此，输出信号中将包含待测物体的尺寸信息，如下图所示。
再通过线阵CCD及其驱动器将其转换为图二右侧所示的时序电压信号（N1，N2是待测物体的边缘信号）
为了提取图二所示的边缘信息，通常要对线阵CCD输出的信号进行二值化处理。
其方法有固定阈值法，浮动阈值法和微分阈值法。
实验中我们采用的是浮动阈值法。
软件采集到一行周期U0输出的数据之后，根据背景光信号的强度信号
设置阈值，该阈值可以根据背景光幅值的百分比来设置，因此所设置的阈值将跟随背景光的变化而变化，即随背景光的强弱浮动，这在一定程度上减小了误差。
（2）误差来源
在测量过程中，测量精度和误差会受到多方面的影响，主要有：线阵CCD像元的制造误差，照明光源的不稳定性，镜头焦距和孔径大小的选取，物体位置和透镜放大率，数据和采集速率等。
当光强发生变化时，线阵CCD得输出信号幅度会上下浮动，固定阈值二值化处理电路的输出脉冲的宽度将发生变化。
光照增强时，输出脉冲会变宽，但只要CCD不处于饱和状态，脉冲变宽就不会影响中心位置的测量。
但是如果处于饱和状态，因为饱和益处具有方向性，所以会引起中心位置测量产生偏移，最终在一定程度上影响测量结果的准确性。
因此，选择光强分布均匀的稳定照明光源对获得理想测量结果至关重要。
（3）优势
线阵CCD依据其自扫描功能，适用于动态快速测量及输出数字式信号的光电特性。
具有高精度，高速度，操作简单，稳定可靠等优点。
在实际生活中有较大的应用价值。
2.光学多道仪（OMA）测量微小物体尺寸
光学多道仪是一种通过测量衍射散射光强分布从而获得微小尺寸分布的方法。
（1）测量原理
OMA测量小尺寸物体是基于光散射的米氏理论。
当光强为I的平行光照射到各向同性的球形小粒子时，在散射角为θ，离散射体为r处的散射光强为：
①
i 1，i
2
都是米氏系数。
它与颗粒折射率和直径有关。
当散射为一根细丝时，
细丝的垂直方向一样可以看作颗粒，可以得到同样的散射分布。
当θ比较小的时候，散射成为前向小角散射，此处散射光强与颗粒的折射率及形状关系均不大，测量结果和被测物性无关。
测量时，采用前
向小角范围内的多
角折射，这样既有
好的动态特性，又
减少了折射率对实
验的影响。
测试系
统如右图所示：
激光器发出的
光经过扩束器照到被测物上，散射光信号经过透镜投影到二极管阵列探测器上。
由于阵列探测器收到的是多个粒子的散射光强叠加。
因此，在散射角为θ的方向上，所测得的总能量为：②
②式中，n（D）为尺寸分布函数，I（θ，m，D）是单颗粒的散射光强，可由①求得，对于两个角度的散射光由②可以得到，于是有：
③
式中，在前向小角范围内，折射率不考虑的情况下，只有平均直径D
m
未知，因此可求得颗粒的平均直径。
（2）注意事项
因为要选取很小的散射角才可以尽量减小折射率的影响，所以入射光的平行度是一个非常重要的指标。
（3）优势和使用范围
采用OMA测量是因为无需多次测量，这对于适应恶劣环境下的工作和降低成本有非常重要的意义。
因为细丝和相同宽度的狭缝具有同样的干涉条纹，所以可以测量细丝，单颗粒，以及狭缝的宽度。
3.利用照相法测量微小物体尺寸
（1）基本原理
照相测量法是基于当今成熟的数码照相技术所建立起来的。
先方便的提取到物体的轮廓，再用电脑进行编辑。
使用照相法最关键的两点：一是要清晰的将被测零件的轮廓照下来；二是要有一个测量基准，以便得到绝对尺寸。
（2）操作步骤
①在待测零件上放置一把尺子，尽量让尺的刻度与被测要素在同一平面，并且保持平行
②使用变形小，失真小的相机，在光线充足的情况下，拍下被测零件，尽可能使相机与被测零件平面垂直，被测要素在视野内，以减少失真。
③拍好的照片导入电脑，对照片进行适当校正，以使轮廓清晰，便于描画边界。
④有很多处理图像的软件，这里以AutoCAD为例，值得注意的是：最好要把照片1：1的插入到软件中。
⑤使零件的被测要素与坐标轴平行，便于测量
⑥将窗口进行放大，在看清零件轮廓边界的情况下，仔细地把被测要素的轮廓描画下来
⑦把照片上尺的刻度根据明暗关系，垂直刻度线上画好连线。
⑧测量并计算刻度线上单个的长度，并以此为比例尺，调整好零件被测要素的轮廓线，然后对各部进行尺寸注标或是测量，此时所得尺寸长度就是零件被测要素的尺寸。
（3）注意事项
①照相法只适合小尺寸测量，大尺寸测量会因为照相的成像原理而增加误差
②被测要素应该竟可能在一个平面内，否则不宜成像，会影响精度
③相机的成像质量影响很大，应该选用变形小，失真小的相机
④照相时，相机力求与被测平面垂直，主要被测要素应该在视野中央
⑤为了得到更加清晰的图像，可以进行着色或者光照处理
⑥为了得到准确的绝对尺寸，需要将一个准确的可读一起找到照片中，并且刻度应该与倍的要素同处于一个平面
（4）适用范围
照相法可以解决一些小尺寸或者软物体这些不方便用尺的问题，可以进行快速准确的测量。
比如对数电实验电路板中元件的测量，照相法就很实用。
结论：
小尺寸物体的光学测量方法有很多，除了本文中的线阵CCD测量、光学多道仪测量以及照相法测量，还有很多，比如利用改装迈克耳逊干涉仪测量小尺寸物体。
无论时哪一种测量方法，都是利用了激光强度高，干涉性好，方向性好的特点。
而要达到非常精密的测量，排除光的折射等其他因素是能否测量成功的关键。
利用光学方法测量小物件有其他物理方法所不具备的优势，比如大大减小了肉眼观察所带来的误差，同时很大程度上降低了时间成本，并且在一些物理方法难以测量的地方，激光测量起到了非常大的作用。