Cpk说明

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Cpk值介绍

Cpk值介绍

加强员工培训
定期开展员工技能和素质培训,提高员工的专业水平和质 量意识。
建立激励机制
通过设立奖励机制、晋升机会等措施,激发员工的积极性 和创造力,促进员工为提升Cpk值贡献智慧和力量。
营造质量文化
在企业内部营造“质量第一”的文化氛围,使追求高质量 成为员工的自觉行为。
Cpk值与其他质量指标的关
05
03
Cpk值数据分析方法
数据收集与整理要求
01
数据来源
明确数据收集的范围和来源,包 括生产过程中的各种测量数据、 检验数据等。
数据整理
02
03
数据分组
对收集到的数据进行清洗、筛选 和整理,确保数据的准确性和完 整性。
根据分析需求,对数据进行合理 的分组和分类,以便后续统计分 析。
统计分析方法及工具应用
Cpk(Complex Process Capability Index,复 合过程能力指数):既考虑过程变异大小,又考 虑过程均值与规格中心的偏移,是更全面的过程 能力评价指标。
Ppk(Preliminary Complex Process Capability Index,初步复合过程能力指数):基于短期数据 计算的复合过程能力指数,同时考虑过程变异和 均值偏移。
04
提高Cpk值的策略与实践
识别并消除影响因素
识别潜在因素
通过数据分析、过程监控等手段,识别影响 产品质量和过程稳定性的潜在因素。
制定针对性措施
根据识别出的影响因素,制定相应的消除或控制措 施,如设备维护、工艺调整等。
持续改进
对实施后的效果进行跟踪和评估,不断完善 和改进措施,确保产品质量和过程稳定性的 持续提升。
多维度综合评价产品质量

cpk的ca计算公式及解释

cpk的ca计算公式及解释

cpk的ca计算公式及解释(最新版)目录1.CPK 的含义与分类2.CPK 计算公式3.CPK 的解释与应用4.制程能力指数及其作用5.CPK 与 PPK 的比较正文一、CPK 的含义与分类CPK,即组合公钥(Combined Public Key),是一种加密算法,以很小的资源,生成大规模密钥。

它主要分为三类:标识密钥、分割钥匙、组合钥匙。

CPK 是制程水平的量化反映,用于衡量工序在一定时间里,处于控制状态(稳定状态)下的实际加工能力。

二、CPK 计算公式CPK 的计算公式为:CPK = Cp(1-Ca)。

其中,Cp 表示过程能力指数,Ca 表示制程准确度,即实际平均值与规格中心值之一致性。

三、CPK 的解释与应用CPK 是一种表示制程水平高低的方便方法,其实质作用是反映制程合格率的高低。

制程能力指数越高,说明制程的稳定性和加工能力越强。

CPK 广泛应用于制造业,尤其是汽车、航空航天等行业,用于评估和改进制造过程的质量和稳定性。

四、制程能力指数及其作用制程能力指数是一种表示制程水平高低的方便方法,其实质作用是反映制程合格率的高低。

它包括两个方面:过程能力指数(Cp)和过程性能指数(Cpk)。

过程能力指数 Cp 表示过程的稳定性和加工能力,而过程性能指数 Cpk 则表示过程的实际性能和制程能力。

Cp 和 Cpk 的计算公式分别为:Cp = T/6σ,其中T表示规格范围,σ表示标准差。

Cpk = min(UCL-Xbar)/3(Xbar-LCL)/3,其中 UCL 表示上限规格,Xbar 表示样本平均值,LCL 表示下限规格。

五、CPK 与 PPK 的比较CPK 和 PPK(过程性能指数)是评估制造过程稳定性和性能的两种常用指标。

它们的主要区别在于计算方法和应用场景。

CPK 主要用于评估过程的稳定性和加工能力,其计算公式为 CPK = Cp(1-Ca),适用于评估过程的实际性能。

而 PPK 主要用于评估过程的潜在能力,其计算公式为 PPK = T/6σ,适用于评估过程的设计能力。

cpk小于cp,说明过程均值偏离规格中心

cpk小于cp,说明过程均值偏离规格中心

cpk小于cp,说明过程均值偏离规格中心过程能力指数(Cpk)是衡量一个过程的能力的指标,它反映了过程的均值偏离规格中心的程度。

当Cpk小于Cp时,说明过程的均值偏离规格中心,也就是说过程存在一定程度的不稳定性和偏差。

过程能力指数是一种用来衡量过程稳定性和一致性的统计指标,它通过计算过程的均值与规格限制之间的差异,来评估过程是否能够满足产品或服务的质量要求。

Cp指标表示过程的规格能力,而Cpk 指标则考虑了过程的中心偏差。

当Cpk小于Cp时,说明过程的均值偏离规格中心。

这种情况下,过程的稳定性较差,存在一定的不一致性。

如果一个过程的Cpk值较低,那么它可能无法满足规格要求,导致产品或服务质量下降。

造成Cpk小于Cp的原因有很多,可能是由于过程的不稳定性,导致过程的均值发生偏移。

也有可能是由于过程存在特殊原因,如设备故障、操作不当等,导致过程的均值发生偏移。

为了提高过程的能力,我们可以采取一些措施来减小过程的均值偏离规格中心。

首先,我们可以通过改进生产工艺和设备,提高过程的稳定性和精度。

其次,我们可以加强对操作人员的培训,提高其操作技术和质量意识。

此外,我们还可以采用统计过程控制方法,对过程进行实时监控和调整,及时发现并纠正过程中的异常情况。

除了采取上述措施,我们还可以通过优化供应链管理来提高过程的能力。

优化供应链管理可以提高原材料和零部件的质量稳定性,减小供应链对过程能力的影响。

此外,我们还可以与供应商建立长期稳定的合作关系,共同优化供应链,提高过程的稳定性和一致性。

在实际应用中,我们可以通过监控和分析过程的Cpk指标,来评估过程的能力,并及时采取措施来提高过程的能力。

当Cpk小于Cp时,我们应该密切关注过程的稳定性和一致性,并采取相应的措施来提高过程的能力。

当Cpk小于Cp时,说明过程的均值偏离规格中心。

这种情况下,我们应该重视过程的稳定性和一致性,采取措施来减小过程的偏差,并提高过程的能力。

CPK的讲解与理解

CPK的讲解与理解

CPK制程指数1. Cpk的中文定义为:制程能力指数,是某个工程或制程水准的量化反应,也是工程评估的一类指标。

2. 同Cpk息息相关的两个叁数:Ca , Cp.Ca: 制程准确度。

Cp: 制程精密度。

3. Cpk, Ca, Cp三者的关系: Cpk = Cp * ( 1 - ┃Ca┃),Cpk是Ca及Cp两者的中和反应,Ca反应的是位置关系(集中趋势),Cp反应的是散布关系(离散趋势)4. 当选择制程站别用Cpk来作管控时,应以成本做考量的首要因素,还有是其品质特性对后制程的影响度。

5. 计算取样数据至少应有20~25组数据,方具有一定代表性。

6. 计算Cpk除收集取样数据外,还应知晓该品质特性的规格上下限(USL,LSL),才可顺利计算其值。

7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ),再计算出规格公差(T),及规格中心值(u). 规格公差=规格上限规格下限;规格中心值=(规格上限+规格下限)/2;8. 依据公式:Ca=(X’-U)/(T/2) ,计算出制程准确度:Ca值9. 依据公式:Cp =T/6Sigma ,计算出制程精密度:Cp值10.依据公式:Cpk=Cp*(1-绝对值Ca) ,计算出制程能力指数:Cpk值11.Cpk的评级标准:(可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策)A++级Cpk≥2.0 特优可考虑成本的降低A+ 级 2.0 >Cpk ≥ 1.67 优应当保持之A 级 1.67 >Cpk ≥ 1.33 良能力良好,状态稳定,但应尽力提升为A+级B 级 1.33 >Cpk ≥ 1.0 一般状态一般,制程因素稍有变异即有产生不良的危险,应利用各种资源及方法将其提升为A级C 级 1.0 >Cpk ≥ 0.67 差制程不良较多,必须提升其能力D 级 0.67 > Cpk 不可接受其能力太差,应考虑重新整改设计制程。

现在很多的客户要求了解你生産设备的能力,都要求看你的Cpk值。

CPK是什么意思

CPK是什么意思

最佳答案 - 由投票者9个月前选出Cpk——过程能力指数CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]Cpk应用讲议1. Cpk的中文定义为:制程能力指数,是某个工程或制程水准的量化反应,也是工程评估的一类指标。

2. 同Cpk息息相关的两个参数:Ca , Cp.Ca: 制程准确度。

Cp: 制程精密度。

3. Cpk, Ca, Cp三者的关系: Cpk = Cp * ( 1 - |Ca|),Cpk是Ca及Cp两者的中和反应,Ca反应的是位置关系(集中趋势),Cp反应的是散布关系(离散趋势)4. 当选择制程站别用Cpk来作管控时,应以成本做考量的首要因素,还有是其品质特性对后制程的影响度。

5. 计算取样数据至少应有20~25组数据,方具有一定代表性。

6. 计算Cpk除收集取样数据外,还应知晓该品质特性的规格上下限(USL,LSL),才可顺利计算其值。

7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ),再计算出规格公差(T),及规格中心值(u). 规格公差=规格上限-规格下限;规格中心值=(规格上限+规格下限)/2;8. 依据公式:,计算出制程准确度:Ca值9. 依据公式:Cp = ,计算出制程精密度:Cp值10. 依据公式:Cpk=Cp ,计算出制程能力指数:Cpk值11. Cpk的评级标准:(可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策)A++级 Cpk≥2.0 特优可考虑成本的降低A+ 级 2.0 > Cpk ≥ 1.67 优应当保持之A 级 1.67 > Cpk ≥ 1.33 良能力良好,状态稳定,但应尽力提升为A+级B 级 1.33 > Cpk ≥ 1.0 一般状态一般,制程因素稍有变异即有产生不良的危险,应利用各种资源及方法将其提升为 A级C 级 1.0 > Cpk ≥ 0.67 差制程不良较多,必须提升其能力D 级 0.67 > Cpk 不可接受其能力太差,应考虑重新整改设计制程。

制程能力参数CPK报告

制程能力参数CPK报告

制程能力参数CPK报告CPK (Process Capability Index) 是制程能力指数,用于评估一个制程的稳定性和能力。

CPK报告是制程能力的一种评估手段,通过分析制程产出的数据,计算各种CPK参数的数值,来评估制程的稳定性和能力水平。

CPK参数包括计算过程中的Cp、Cpk、Cpm等,下面将会详细介绍CPK 参数的计算和CPK报告的内容。

首先是CP参数,也称为过程能力指数。

Cp参数用来评估制程的稳定性,其计算公式为(CPU-CPL)/(6*σ),其中CPU为制程上限、CPL为制程下限,σ为制程标准差。

Cp参数的数值越大,表示制程的稳定性越好。

接下来是Cpk参数,也称为过程能力指数偏移量。

Cpk参数是CP参数的进一步扩展,用来评估制程的能力水平。

Cpk参数计算公式为min((CPU - μ) / (3 * σ), (μ - CPL) / (3 * σ)),其中CPU和CPL分别为制程上限和下限,μ为制程的平均值,σ为制程的标准差。

Cpk参数的数值越大,表示制程的能力水平越高。

最后是Cpm参数,也称为过程能力指数中心化。

Cpm参数结合了制程的稳定性和能力水平,其计算公式为Cp * K,其中K为制程中心偏移系数,计算公式为(K) = (X - T) / (6 * σ),其中X为制程平均值,T为制程目标值,σ为制程标准差。

Cpm参数的数值越大,表示制程的稳定性和能力水平越高。

CPK报告通常包含以下几个部分:1.制程参数概述:CPK报告会简要介绍评估的制程以及相关参数的计算方法。

2.数据收集和处理:报告会详细说明数据的收集方法和处理过程,例如采集的样本数量、采集间隔、样本的选取方法等。

3.CPK参数计算:报告会详细说明如何计算CPK参数,包括计算公式和计算过程。

4.结果分析和解释:通过计算出的CPK参数数值,报告会对制程的稳定性和能力水平进行分析和解释。

5.结论和建议:根据CPK参数的分析结果,报告会给出制程的总体评估,并提供改进和调整制程的建议。

Cpk知识

Cpk理解从质量管理资料名词解释来说,CPK就是过程能力.它是指在稳定情况下过程生产满足要求产品的能力.这里的满足能力是指满足此工艺过程的工艺参数要求------既满足公差的要求.一、数理统计上的CPK在数理统计上CPK其实只是一个比值,是公差范围与3倍标准差的比值.CPK=min[(上公差---均值)/3标准差,(均值--下公差)/3标准差} ,另外还有个根据CP求CPK的公式,在这里不列举出来,实际意义一样.从公式我们可以明显的看出CPK就是一个比值.分析这个公式,我们可以先画一条直线数轴,取三个点,第一个点下公差(下限),第二个点均值(样本均值),第三个点上公差(下限).用方框表示标准差在数轴上的范围.如果上\下公差是对称的.那么公式就变成CPK=(上公差---均值)/3标准差或者CPK=(均值--下公差)/3标准差数轴上就之考虑一边.在这里先说"(上公差---均值)/标准差"令:X=(上公差---均值)/标准差或者X=(均值--下公差)/标准差当X=1时,说明这批样本工艺参数的离散程度刚好等于公差允许偏差范围.这种情况下数轴内只能容纳一个方框,就是我们说的1SIGMA水平.1.这个时候说的不合格数的来源是;因为标准差是个均值,数据的偏差最大与最小之间的差额必然大于均值,1倍标准才刚好与公差范围,那么整体来说,每个数据与样本平均值的偏差必然有大于标准差的,必然有超出公差范围的2.由于计算是依据样本来进行的,样本是抽样得到的,那么就存在了样本与总体的偏差.样本均值不等于总体均值.而CPK指整个过程某个时期内整体的能力,那么这里也会有偏差,有不合格数的产生.我们通常说的几SIGMA有多少不合格数 ,就是根据这些原因运用科学方法推理出来的.再说 CPK=(上公差---均值)/3标准差或者CPK=(均值--下公差)/3标准差其实这就是假令的那个公式的变形,多加了参数3,加严了要求.变从1个方框为起点到以3个方框为起点.二、不是CPK值小一定存在不合格这个是不能绝对的,上面我们说了不合格产生的原因.不合格产生是因为产品参数超出公差范围,如果一个过程生产出的产品工艺参数经过无偏估计,最大与最小值均在公差范围内,只要CPK>1/3都有可能不存在不合格,即100%合格.只是理论上有不合格,不代表实际一定有不合格.三、不是CPK值越大越好我们说的6SIGMA水平是指CPK=2的情况,在理论上此水平下不合格数3.4PP M.CPK值越大,理论不合格数越少.但是,CPK大到连理论不合格数都没的时候,就在反映过程能力过好,过剩.浪费就出现了.。

Cp与Cpk详细说明

但是关于过程能力指数,还是有很多令初学者不解的疑问,甚至略感神秘。

今天就Cp与Cpk的10个疑问给大家分析一下,帮助大家揭开其神秘面纱。

1. Cp与Cpk都被称为过程能力指数,二者的区别是什么呢?首先要介绍两个术语“无偏”和“有偏”。

当数据的分布中心与公差中心重合,称为无偏。

而无偏情形下的过程能力指数就是Cp,也称理论上的过程能力指数;当数据的分布中心与公差中心不重合,称为有偏。

而有偏情形下的过程能力指数就是Cpk,也称实际上的过程能力指数。

在实际的工作当中,我们研究的是有偏过程能力指数Cpk,以此作为衡量过程能力的指标。

2. 为什么Cp有另一个名字叫“精密度”?大家知道,Cp=T/6σ(T为规格的公差范围,σ为标准差)。

从数学角度上来讲,Cp的大小与T和σ有关。

但从质量管理角度来看,Cp只与σ有关,为什么这么说呢?因为产品规格的公差范围T是人为设定的(通常由设计工程师制定),而如何提高过程能力指数Cp,就要从如何减小σ、提高产品加工精度方面下功夫,以满足设计的公差要求,而不能直接找设计部门要求放宽公差带。

正因为Cp 只与标准差σ有关,所以Cp的另一个名字,叫“精密度”。

3. Cp计算公式的内涵是什么?上面提到了无偏过程能力指数Cp=T/6σ,这个公式代表了什么意思呢?要揭晓答案,就要提到SPC的核心工具——控制图,因为控制图通常都是与Cp、Cpk分不开的。

在计量控制图中,根据3σ最经济的原则,控制上限UCL与控制下限LCL 之间的宽度为6倍σ。

控制限与规格限的关系如下所示:既然控制限在规格限的范围之内,我们再来看下面这张图:上图中,T为规格限的宽度,即公差范围;6σ为控制限的宽度。

所以,无偏过程能力指数Cp就是产品设计的规格限宽度与加工过程控制限宽度的比值,即Cp=T/6σ。

规格限的宽度是一定的,所以加工能力的大小取决于控制限的宽度,宽度越窄,加工的精度就越高,Cp的数值就越大。

4. Cpk与Cp只有一“k”之差,那么k又是什么呢?k的起源可以追溯到20世纪70年代的日本。

CPK简介

CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]Cpk应用讲议1. Cpk的中文定义为:制程能力指数,是某个工程或制程水准的量化反应,也是工程评估的一类指标。

2. 同Cpk息息相关的两个参数:Ca , Cp.Ca: 制程准确度。

Cp: 制程精密度。

3. Cpk, Ca, Cp三者的关系:Cpk = Cp * ( 1 - |Ca|),Cpk是Ca及Cp两者的中和反应,Ca反应的是位置关系(集中趋势),Cp反应的是散布关系(离散趋势)4. 当选择制程站别用Cpk来作管控时,应以成本做考量的首要因素,还有是其品质特性对后制程的影响度。

5. 计算取样数据至少应有20~25组数据,方具有一定代表性。

6. 计算Cpk除收集取样数据外,还应知晓该品质特性的规格上下限(USL,LSL),才可顺利计算其值。

7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ),再计算出规格公差(T),及规格中心值(u). 规格公差=规格上限-规格下限;规格中心值=(规格上限+规格下限)/2;8. 依据公式:,计算出制程准确度:Ca值9. 依据公式:Cp = ,计算出制程精密度:Cp值10. 依据公式:Cpk=Cp ,计算出制程能力指数:Cpk值11. Cpk的评级标准:(可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策)A++级Cpk≥2.0 特优可考虑成本的降低A+ 级2.0 >Cpk ≥ 1.67 优应当保持之A 级1.67 >Cpk ≥ 1.33 良能力良好,状态稳定,但应尽力提升为A+级B 级1.33 >Cpk ≥ 1.0 一般状态一般,制程因素稍有变异即有产生不良的危险,应利用各种资源及方法将其提升为A级C 级1.0 >Cpk ≥ 0.67 差制程不良较多,必须提升其能力D 级0.67 >Cpk 不可接受其能力太差,应考虑重新整改设计制程。

Ppk、Cpk,还有Cmk三者的区别及计算CPK是过程能力指数。

工程能力指数(Cpk)

工程能力指‎数(CPK)1.何为工程能‎力指数(CPK)??所谓工程能‎力是指在规‎定的规格限‎度内,产品的生产‎能力。

进行此评价‎的指标称之‎为工程能力‎指数。

一般用Cp‎表示。

是以pro‎cess capab ‎ility‎的头文字组‎合而成。

Cp值的计‎算如下。

另外,σ(シグマ)是指标准偏‎差。

(1)仅上限:Cpu=(上限规格值‎-平均值)/3σ(2)仅下限:Cpl =(下限规格值‎ー平均值)/3σ(3)上下限:取cpu和‎cpl的小‎值总之,以Cpk为‎表示的情况‎比较多。

Cp表示的‎是上下限中‎平均值的规‎格在中间时‎。

基本上不太‎实用。

具体点说明‎,如Cpk=1.0,偏离平均值‎3σ在规格‎界限内。

如果是单边‎规格的话,也就是说0‎.14%的产品在规‎格外。

规格值是购‎买者在一定‎程度上判断‎安全,即便少数规‎格超出也不‎带来损失的‎决定方法的‎案例比较多‎,不良率不是‎0%也可以。

另外,作为单品使‎用的另当别‎论。

比如电视机‎,电脑等部品‎购买的时候‎,因为各各零‎部件的不良‎率的重复的‎影响,一般需要P‎PM (perce‎nt per milli‎on)等级オーダ‎ー(百万分之一‎)。

这便相当于‎Cpk 1.5以上等级‎。

如果用σ表‎示的话,则是规格值‎到平均值在‎4.5σ程度内‎分布,工程才能安‎全。

2、Cpk的计‎算事例以上数据太‎过于抽象,用具体的数‎据进行说明‎吧。

表1录音机‎的感度的数‎据。

以每出货批‎次(10000‎00卷)测量10个‎样板的数据‎。

显示的是1‎0个批量的‎数据。

感度(333Hz‎)的规格是±2.0dB*Hz:范围*dB(data base):数据库,分贝表1录音机的感‎度(333Hz‎出力)的数据如今,录音机属于‎日用杂货品‎。

1卷100‎日元轻松购‎买的时代。

生产技术是‎20年前确‎立的产品。

生产基地大‎部分都移到‎(シフト)海外,品质安定,基本上没有‎不良品。

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(1) Ca =
樣本平均值 - 規格中心值 規格誤差範圍
%=
X - CL T/2
%
* T(Tolerance) 為規格範圍(公差),即公式為: T= USL - LSL = 規格上限 - 規格下限
例如前面提到的全白畫面色溫值x=281+15(266~296)及 y=311+15(296~326).如果 我們獲得x值10組數據如下:275.267.283.290.281.270.289.287.282.278. 則先算出這10組數據的平均值X,套入公式:
T/2
30/2
-0.8 15
= -5.33%
由以上可知當樣本數據(X)與規格中心值(SL)的差越小時,Ca值也越小,也就是品 質越接近規格要求之水準,Ca值是負時表示實績(樣本)值偏低,Ca值是正時是偏 高.現再將不同之Ca值分為等級作為評定標準.
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(2)等級評定及處理原則:
等級
Ca值
USL C
A
6δ B
LSL

上圖中A為最佳狀況, 表示產品恰好均能符合規格, 但需嚴格控制制程的變異, 制程平 均值必須加以控制,不能使其成為B.C情況,同時示Ca|<12.5% 作業員遵守作業標準操作並達到規格之要求,需繼續保持.
B 12.5%<|Ca|<25% 有必要盡可能將其改進為A級
作業員可能看錯規格不按作業標準操作或檢討規格及作業標
C 25%<|Ca|<50% 準.
應采取緊急措施,全面檢討所有可能影響之因素,必要時得停止
D
50%<|Ca| 生產.
Cpk
=
USL-X 3δ
0.4 - 0.16 = 3*0.0454 = 1.76 … … (A 級)
六.制程^ 能力與規格之關系
6δ系代表制程在正常狀態下變化的範圍,稱為自然公差(Natural tolerance).規格上下 限之差為USL-LSL,則6δ與USL-LSL有下列三種關系(情況): (1) 6δ < USL - LSL (2) 6δ≒ USL - LSL (3) 6δ > USL - LSL
算出樣本的標準差δx,套入公式:
δx =
(X1-X)2+(X2-X)2+… …+(Xn-X)2
n
=
(275-280.2)2+(267-280.2)2+… … +(278-280.2)2 10
=7.36
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再套入樣本群體的標準差公式,即:
δ=δx
n
n-1 = 7.36 *
1.00<Cpk<1.33 制程能力尚可,應再能力
Cpk<1.0 制程應加以改善
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(3)舉例計算:
A.依前文5.8(1)所舉之例子及5.9(1);因前面己計算出WBx的Ca= -5.33%; Cp為0.64,故可
直接代入公式:
Cpk = (1-|(Ca|)Cp=(1-5.33%)*0.64
5.6 Xbar 或 X 為樣本的平均值 .表示公式如下 :
Xbar=(X 1+X2+… …+Xn)/n
*n為樣本數
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5.7 δ (Sigma) 為樣本的標準差 ,表示公式如下 :
δ=
(X 1-X)2+(X2-X)2+… …+(Xn-X)2 n
當n>1時
5.8 制程準確度 Ca (Capability of accuracy)
B級
Cp=1.00
規格下限
A級
Cp = 1.33
C級
D級 規格中心
Cp =0.83
規格上限
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(4) 再舉例計算 : 仍依前面的例子:Gateway C1770機種水平Size規格為315+4,某一天抽樣10台數據如:
315;316;313;317;318;312;313;314;315;318. 算出X=315.1,則樣本的標準差δx如下:
C
0.83<Cp<1.00
D
Cp<0.83
處理原則
此一制程甚為穩定,可以將規格範圍縮小或勝任更精密之工作.
有發生不良的危險,必需加以注意並設法維持,不要使其變壞及 迅速追查 檢討規格及作業標準,可能本制程不能勝任如此精密之工作 應采取緊急措施,全面檢討所有可能影響之因素,必要時得停止 生產.
(3) Cp 等級之解說 一般規格許容差(即規格範圍)的訂定是根據設計上的要求,顧客的要求.或長期的生 產實績(樣本實測值)所訂出來. 如果實績之6δ比規格還小時, 只要實績中心值能對 準,依常態分配之理論,超出規格外的不良率可以說很少,從下圖我們可體會到.
X - SL Ca = 規格範圍 =
315.1-315 4
= 2.5% … … (A級)
另一天抽樣10台數據如:305;308;309;310;311;313;310;5;312;309.5;314 算出X=310.2;中 心值SL仍為315.規格範圍為4.則:
X - SL Ca = 規格範圍 =
310.2-315 4
各制程的規格中心值設定之目的.就是希望各工程制造出來的各個產品的實際值 以規格中心為中心,呈左右對稱之常態分布,而制造時,也應以規格中心值為目標. ( 例如色溫值x=281+15或y=311+15即作業員在調整就要依中心值281或311為目標 來作業.)即從生產過程中所獲得的資料其樣本(實績)平均值(X)與規格中心值(SL) 之間偏差的程度稱為制程準確度Ca.現我們可用下面的方法將準確度用數字表示 出來,以利于評價偏差的程度.
來的各個產品的水準都能在規格上下限之容許的範圍內.從制造過程中全數抽樣或隨
機抽樣(一般樣本必須在10個以上)所計算出來的樣本標準差(δx)再乘nn以-1
以推
定樣本(實績)群體的標準差(δ),用3δ與規格範圍差比較或提議6δ與規格公差(T)比
較.下面的方法就是將此比較值.用數字表示,以利于評價制程精密度.
X=
δx =
0.175+0.1+0.2+0.2+0.125 5
= 0.16
(0.175-0.16)2+(0.1-0.16)2+… … +(0.125-0.16)2
5
= 0.0406
δ = 0.0406 *
5 = 0.0454
5-1
(4) 因此為單邊Case,故無Ca. 此時Cp=Cpk.
(5)
Cp
=
現分別以圖示說明如後:
(1) 6δ< USL - LSL
USL
D
B 6δ A
C
E
USL
上圖中A,B,C情況符合規格, 只要在管制狀態下, 可依經濟性選擇管制中心線(CL). 至
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于D.E之情況為一些產品己超出規格界線,解決方法就是要改變制程,使其達成A.B.C 中任一種情況.
(2) 6δ≒ USL - LSL
X=
X1+X2+…+Xn n
= 275+267+283+290+281+270+289+287+282+278 = 280.2 10
再算出規格公差T,套入公式: T= USL - LSL =296 - 266 = 30 此時我們就可算"x"的Ca值,套入公式
X - CL =
280.2-281
=
Ca=
10 10-1
= 7.758
因WBx規格為281+15(即下限LSL為266,上限USL為296).故規格公差
T=USL-LSL
=296-266
=30
此時就可以計算Cp值了,套入公式:
T
Cp= 6δ
=
30 6*7.758
= 0.64
(2) 等級評定及處理原則
等級
Cp值
A
1.33<Cp
B
1.00<Cp<1.33
一.統計制程管制
用統計的方法對生產線制程進行數據收集,數據整理,數據分析,以得到其中所蘊含的 特性,從而反應到制程上去的一種統計方法.
二.Cpk制程管制
用CPK統計的方法對制程進行統計(通常以中心值+3*sigma)
三.制程管制的理論依據

自然界的絕大多數項目的數據分布為正態分布.即在數據足夠的情況下,其數據分布 為標準誤差分布.

D級






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(4) 再舉例計算: 如Gateway C1770 機種水平Size規格為315+4mm,某一天抽10組數據如: 315;316;313; 317;318;312;313;314;315;318 算出X=315.1; 因中心值SL=315; 規格範圍為 4, 則.
= - 120% … … (D級)
此時就表明我們的樣本值己偏離中心值很遠,且偏下超規嚴重應采取緊急措施並全面 檢討所有可能影響之因素,必要時需停止生產. 5.9 制程精密度 Cp(Capability of precision)
制程精密度Cp(Capability of precision),各工程規格上下限的設定目的,乃是希望制造出
5.3 USL (Upper specification limit):即規格上限 UCL (Upper control limit):管制上限
5.4 LSL (Low specification limit):即規格下限. LCL (Lower control limit):管制下限
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