超音波探头1
超声波探伤操作规程
超声波探伤操作规程超声波探伤是一种非破坏性检测技术，广泛应用于工业领域进行材料的质量检测。
下面将介绍超声波探伤操作规程，以保证探伤的安全和有效进行。
一、设备准备1. 选择适当的超声波探伤仪器，根据需要选择合适的传感器和探头。
2. 确保仪器和传感器的电源正常，并进行必要的校准。
3. 准备好超声波探伤液或耦合剂，确保其质量和适用性。
二、工作区域准备1. 确保工作区域的清洁，清除杂物和无关物品，以确保操作的安全和顺利进行。
2. 防止光线和噪音干扰，确保工作区域的环境条件良好。
三、工作人员准备1. 工作人员应熟悉超声波探伤仪器的操作原理和技术要点，并掌握相关知识和经验。
2. 工作人员应穿戴符合规定的个人防护装备，如防护眼镜、耳塞等。
3. 工作人员应具备良好的职业道德和责任心，严格按照操作规程进行操作。
四、探伤操作步骤1. 根据需要选择合适的探头和传感器，并连接好仪器。
2. 涂抹适量的超声波探伤液或耦合剂于待检测物体表面，确保传感器与被检测物体充分接触。
3. 设定仪器的工作参数，包括发射/接收增益、脉冲重复频率、脉冲宽度等。
4. 将探头与被检测物体表面垂直贴合，并保持稳定。
5. 轻轻移动探头，保持与被检测物体的接触性，确保多个位置的探测。
6. 观察仪器显示的波形图或闪烁信号，根据需要进行调整和判读。
7. 记录和保存检测数据，包括位置、缺陷特征、信号强度等信息。
8. 根据检测结果，进行必要的修复和维护措施，确保物体的安全和可靠性。
五、注意事项1. 操作人员需熟悉超声波探测技术原理和设备操作，严格按照规程进行操作。
2. 切勿疏忽或马虎，确保操作的精确和准确性。
3. 注意个人防护，避免超声波辐射和耳聋等危害。
4. 注意超声波探伤液或耦合剂的选择和使用，避免对被检测物体造成损伤。
5. 定期维护仪器和传感器，确保其正常工作和使用寿命。
以上是超声波探伤操作规程的一般步骤和注意事项，根据具体的工作情况和被检测物体的特点，还需根据实际需要进行调整和补充。
AWS D1.1超音波检测标准
AWS D1.1超音波检测标准(UT)Ultrasonic Examination Acceptance Standards一、检测程序1)母材直束检测銲道斜束检测前，应先以直束换能器检查扫描范围的母材内部有无影响斜束检测评估的瑕疵。
2)水平全尺度设定：调整荧幕水平全尺度(CRT)内至少出现第二个底面回波。
3)灵敏度设定：将换能器置于母材健全部，调整增益钮，使第一个底面回波为50%~80%垂直全尺度。
4)检测母材时，若有造成底面回波完全消失或瑕疵回波大于等于底面回波时，将会干扰斜束检测，则须记录此瑕疵的尺寸、位置、深度，作为斜束参考评估，并报告委托者处理。
二、銲道斜束检测1) 换能器选择：依据表2及表3所示，若銲道因母材中之夹层而无法依表2、3中所述之方法检测时，则可依下列替代方法执行检测。
(1) 磨平銲冠(2) 由A、B面两边检查(3) 使用其它角度之换能器若因受几何形状、尺寸限制或其他任何因素影响，以致不适合使用表2、表3所规定之探头或依图3所规定之检测面扫描时，须改用其他适用探头、检测面及技术。
表2：换能器之选择表3：检测角度代号之说明：X─从C面检查。
G─銲道磨平。
０─不需要检测F ─銲道与母材之接合面有显示应再另用70°、60°、45°换能器检查，视那一种换能器音束与接合面最接近垂直处。
P ─投补法：即采用两个同型式同折射角之换能器，一作发射，一作接收，而成一直线排列，同时移动扫描，如图4所示。
V─只有在第一列检测法中发现銲道与母材接合面有显示时，才需要。
VV─使用400mm或500mm之荧幕距离。
图4：投捕法三、入射点及折射角的校准(1)将斜束换能器置于IIW TYPEⅡ标准规块上100R弧面中心指示槽（图5位置D）附近，调整弧面回波大约为50~80％垂直全尺度，用稳定之压力操作换能器前后移动以得到100R之最大回波，固定换能器并在换能器侧面刻划对正100R中心点指示槽处作一明显记号，此即为换能器入射点。
超声波传感器及其测距原理
安全避障是移动机器人研究的一个基本问题。
障碍物与机器人之间距离的获得是研究安全避障的前提，超声波传感器以其信息处理简单、价格低廉、硬件容易实现等优点，被广泛用作测距传感器。
本超声波测距系统选用了SensComp公司生产的Polaroid 6500系列超声波距离模块和600系列传感器，微处理器采用了ATMEL公司的AT89C51。
本文对此超声波测距系统进行了详细的分析与介绍。
1、超声波传感器及其测距原理超声波是指频率高于20KHz的机械波[1]。
为了以超声波作为检测手段，必须产生超生波和接收超声波。
完成这种功能的装置就是超声波传感器，习惯上称为超声波换能器或超声波探头。
超声波传感器有发送器和接收器，但一个超声波传感器也可具有发送和接收声波的双重作用。
超声波传感器是利用压电效应[1]的原理将电能和超声波相互转化，即在发射超声波的时候，将电能转换，发射超声波；而在收到回波的时候，则将超声振动转换成电信号。
超声波测距的原理一般采用渡越时间法TOF（time of flight）[2]。
首先测出超声波从发射到遇到障碍物返回所经历的时间，再乘以超声波的速度就得到二倍的声源与障碍物之间的距离，即1、硬件电路设计我们设计的超声波测距系统由Polaroid 600系列传感器、Polaroid 6500系列超声波距离模块和AT89C51单片机构成。
2.1 Polaroid 600系列传感器此超声波传感器是集发送与接收一体的一种传感器。
传感器里面有一个圆形的薄片，薄片的材料是塑料，在其正面涂了一层金属薄膜，在其背面有一个铝制的后板。
薄片和后板构成了一个电容器，当给薄片加上频率为49.4kHz、电压为300VAC pk-pk的方波电压时，薄片以同样的频率震动，从而产生频率为49.4kHz的超声波。
当接收回波时，Polaroid 6500内有一个调谐电路，使得只有频率接近49.4kHz的信号才能被接收，而其它频率的信号则被过滤。
超声波传感器及应用PPT
常用的耦合剂有水、机油、甘油、水玻 璃、胶水、化学浆糊等。耦合剂的厚度 应尽量薄一些，以减小耦合损耗。
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耦合剂
超声探头与被测物体接触时，探头与被测物 体表面间存在一层空气薄层，空气将引起三个界面 间强烈的杂乱反射波，造成干扰，并造成很大的衰 减。为此，必须将接触面之间的空气排挤掉，使超 声波能顺利地入射到被测介质中。在工业中，经常 使用一种称为耦合剂的液体物质，使之充满在接触 层中，起到传递超声波的作用。常用的耦合剂有自 来水、机油、甘油、水玻璃、胶水、化学浆糊等。
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主要章节
9.1超声波及其物理性质 9.2超声波探头及耦合技术 9.3超声波传感器的应用
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9.1超声波及其物理性质
9.1.1 超声波的基本概念
1．超声波的概念和波形 机械振动在弹性介质内的传播称为波动，简称
为波。人能听见声音的频率为20Hz～20kHz， 即为声波，超出此频率范围的声音，即20Hz 以下的声音称为次声波，20kHz以上的声音称 为超声波，一般说话的频率范围为100Hz～ 8kHz。 超声波为直线传播方式，频率越高，绕射能力 越弱，但反射能力越强
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1.单晶直探头
用于固体介质的单晶直探头（俗称直探 头），压电晶片采用PZT压电陶瓷材料 制作，外壳用金属制作，保护膜用于防 止压电晶片磨损。保护膜可以用三氧化 二铝（钢玉）、碳化硼等硬度很高的耐 磨材料制作。阻尼吸收块用于吸收压电 晶片背面的超声脉冲能量，防止杂乱反 射波产生，提高分辨力。阻尼吸收块用 钨粉、环氧树脂等浇注。
根据发射和接收换能器的功能，传感器又可分 为单换能器和双换能器。单换能器的传感器发 射和接收超声波均使用一个换能器，而双换能 器的传感器发射和接收各由一个换能器担任。
超声波仪器、探头性能指标及其测试方法
超声波仪器、探头主要组合的性能测定主要性能测试项目及其性能指标1、电噪声电平（%）仪器灵敏度置最大，发射置强，抑制置零或关，增益置最大，衰减器置“0”，深度粗调、深度微调置最大。
读取时基线噪声平均值，用百分数表示。
2、灵敏度余量（dB）a)使用2.5MHz、Φ20直探头和CS－1－5或DB--PZ20—2型标准试块。
b)连接探头并将仪器灵敏度置最大，发射置强，抑制置零或关，增益置最大。
若此时仪器和探头的噪声电平(不含始脉冲处的多次声反射)高于满辐的10％，则调节衰减或增益，使噪音电平等于满辐度的10％记下此时衰减器的读数S0。
图1 直探头相对灵敏度(灵敏度余量)测量c)将探头置于试块端面上探测200mm处的i2平底孔，如图17所示。
移动探头使中Φ2平底孔反射波辐最高，并用衰减器将它调至满辐度的50％，记下此时衰减器的微S l，则该探头及仪器的探伤灵敏度余量S为：S=S1--S0(dB)3、垂直线性误差测量（%）(1)连接探头并在试块上探测任一反射波(一般声程大于50mm)作为参照波，如图2所示。
调节探伤仪灵敏度，使参照波的辐度恰为垂直刻度的100％，且衰减器至少有30dB的余量。
测试时允许使用探头压块。
图2 垂直线性误差测量(2)用衰减器降低参照波的辐度，并依次记下每衰减2dB时参照波辐度的读数，直至衰减26dB以上。
然后将反射波辐度实测值与表l中的理论值相比较，取最大正偏差d(+)与最大负偏差d(-)，则垂直线性误差△d用式(1)计算：△d=｜d(+)｜+｜d(-)｜ (1)(3)在工作频率范围内，改用不同频率的探头，重复(1)和(2)的测试。
dB）(1)连接探头并在试块上探测任一反射波(一般声程大于50mm)作为参照波。
(2)调节衰减器降低参照波，并读取参照波辐度自垂直刻度的100％下降至刚能辨认之最小值(一般约为3～5％)时衰减器的调节量，此调节量则定为该探伤仪在给定频率下的动态范围。
(3)按(1)和(2)条方法，测试不同频率不同回波时的动态范围。
超声波传感器[研究材料]
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超声波的种类
超声波的发射方式不同，造成了超声波的种类不同， 大致可分为纵波，纵波（压缩波），横波，表面波，弯曲 波。
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表面波是质点的 振动介于横波与纵波 之间，沿着表面传播 的波。表面波随深度 增加衰减很快。表面 波振动轨迹是椭圆形， 在固体表面传播。
在沿泼进行方向 的中心线上介质粒子 进行横振动，接近介 质表面的粒子进行压 缩、伸张运动。
超声波是一种在弹性介质中的机械振荡，有两种形式： 横向振荡（横波）及纵和振荡（纵波）。在工业中应用主 要采用纵向振荡。超声波可以在气体、液体及固体中传播， 其传播速度不同。
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超声波传感器主要材料有压电晶体（电致伸缩）及镍铁 铝合金（磁致伸缩）两类。电致伸缩的材料有锆钛酸铅 （PZT）等。
压电晶体组成的超声波传感器是一种可逆传感器，它可 以将电能转变成机械振荡而产生超声波，同时它接收到超 声波时，也能转变成电能，所以它可以分成发送器或接收 器。有的超声波传感器既作发送，也能作接收。
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超声波测量方法有很多其它方法不可比拟的优 点：（1）无任何机械传动部件，也不接触被测 液体，属于非接触式测量，不怕电磁干扰，不怕 酸碱等强腐蚀性液体等，因此性能稳定、可靠性 高、寿命长；（2）其响应时间短可以方便的实 现无滞后的实时测量。
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超声波传感器
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原理简述
超声波传感器是利用超声波的特性研制而成的传感 器。超声波是一种振动频 率高于声波的机械波，由换能 晶片在电压的激励下发生振动产生的，它具有频率高、波 长短、绕射现象小，特别是方向性好、能够成为射线而定 向传播等特点。超声波对液体、固体的穿透本领很大，尤 其是在阳光不透明的固体中，它可穿透几十米的深度。超 声波碰到杂质或分界面会产生显著反射形成反射成回波， 碰到活动物体能产生多普勒效应。
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原理简述
超声波传感器是利用超声波的特性研制而成的传感 器。超声波是一种振动频 率高于声波的机械波，由换能 晶片在电压的激励下发生振动产生的，它具有频率高、波 长短、绕射现象小，特别是方向性好、能够成为射线而定 向传播等特点。超声波对液体、固体的穿透本领很大，尤 其是在阳光不透明的固体中，它可穿透几十米的深度。超 声波碰到杂质或分界面会产生显著反射形成反射成回波， 碰到活动物体能产生多普勒效应。
超声波传感器主要采用直接反射式的检测模式。位于传 感器前面的被检测物通过将发射的声波部分地发射回传感 器的接收器，从而使传感器检测到被测物。
在工业方面，超声波的典型应用是对金属的无损探伤和 超声波测厚两种。
在日常生活中，随处都可以看到浪费 粮食的 现象。 也许你 并未意 识到自 己在浪 费，也 许你认 为浪费 这一点 点算不 了什么
压电式超声波接收器是有时就用同一个换能兼做发生和 接受器两种用途。
在日常生活中，随处都可以看到浪费 粮食的 现象。 也许你 并未意 识到自 己在浪 费，也 许你认 为浪费 这一点 点算不 了什么
压电陶瓷芯片
在日常生活中，随处都可以看到浪费 粮食的 现象。 也许你 并未意 识到自 己在浪 费，也 许你认 为浪费 这一点 点算不 了什么
在日常生活中，随处都可以看到浪费 粮食的 现象。 也许你 并未意 识到自 己在浪 费，也 许你认 为浪费 这一点 点算不 了什么
超 声 波 流 量 计 现 场 使 用
石料测量
在日常生活中，随处都可以看到浪费 粮食的 现象。 也许你 并未意 识到自 己在浪 费，也 许你认 为浪费 这一点 点算不 了什么
超声波传感器 资料
超声波传感器超声波传感器是利用超声波的特性研制而成的传感器。
超声波是一种振动频率高于声波的机械波，由换能晶片在电压的激励下发生振动产生的，它具有频率高、波长短、绕射现象小，特别是方向性好、能够成为射线而定向传播等特点。
超声波对液体、固体的穿透本领很大，尤其是在阳光不透明的固体中，它可穿透几十米的深度。
超声波碰到杂质或分界面会产生显著反射形成反射成回波，碰到活动物体能产生多普勒效应。
基于超声波特性研制的传感器称为“超声波传感器”，广泛应用在工业、国防、生物医学等方面。
中文名超声波传感器所属类别传感器物理学原理超声波的特性组件压电材料工作频率压电晶片的共振频率适用领域工业、国防、生物医学目录.1组成部分.2性能指标.▪工作频率.▪工作温度.▪灵敏度.▪指向性.3相关应用.▪主要应用.▪具体应用.4工作相关.▪工作原理.▪工作程式.▪工作模式.5系统构成.6检测方式.7检测好坏.8液位测试.9其他.▪区分.▪注意事项.▪暴露问题组成部分超声波探头主要由压电晶片组成，既可以发射超声波，也可以接收超声波。
小功率超声探头多作探测作用。
它有许多不同的结构，可分直探头（纵波）、斜探头（横波）、表面波探头（表面波）、兰姆波探头（兰姆波）、双探头（一个探头发射、一个探头接收）等。
性能指标超声探头的核心是其塑料外套或者金属外套中的一块压电晶片。
构成晶片的材料可以有许多种。
晶片的大小，如直径和厚度也各不相同，因此每个探头的性能是不同的，我们使用前必须预先了解它的性能。
超声波传感器的主要性能指标包括：工作频率工作频率就是压电晶片的共振频率。
当加到它两端的交流电压的频率和晶片的共振频率相等时，输出的能量最大，灵敏度也最高。
工作温度由于压电材料的居里点一般比较高，特别是诊断用超声波探头使用功率较小，所以工作温度比较低，可以长时间地工作而不失效。
医疗用的超声探头的温度比较高，需要单独的制冷设备。
主要取决于制造晶片本身。
机电耦合系数大，灵敏度高；反之，灵敏度低。
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3.2 探头一、压电效应与压电材料某些单晶体和多晶体陶瓷材料在应力（压缩力和拉伸力）作用下产生异种电荷向正反两面集中而在晶体内产生电场，这种效应称为正压电效应。
相反，当这些单晶体和多晶体陶瓷材料处于交变电场中时，产生压缩或拉伸的应力和应变，这种效应称为负压电效应，如图所示。
负压电效应产生超音波，正压电效应接收超音波并转换成电信号。
常用的压电单晶有石英又称二氧化硅（SiO2）、硫酸锂（LiS04H20）、碘酸锂LiIO3）、铌酸锂（LiNbO3）等，除石英外，其余几种人工培养的单晶制造工艺复杂、成本高。
常用的压电陶瓷有钛酸钡（BaTi03）、锆钛酸铅（PZT）、钛酸铅（PbTiO3)、偏铌酸铅（PbNb2O4）等。
∙探头的基本架构压电超声探头的种类繁多，用途各异，但它们的基本架构有共同之处，如图所示。
它们一般均由芯片、阻尼块、保护膜（对斜探头来说是有机玻璃透声楔）组成。
此外，还必须有与仪器相连接的高频电缆插件、支架、外壳等。
四、直探头（一）直探头的保护膜∙压电陶瓷芯片通常均由保护膜来保护芯片不与工件直接接触以免磨损。
常用保护膜有硬性和软性两类。
氧化铝（刚玉）、陶瓷片及某些金属都属于硬性保护膜，它们适用于工件表面光洁度较高、且平整的情况。
用于粗糙表面时声能损耗达20～30dB。
∙软性保护膜有聚胺酯软性塑料等，用于表面光洁度不高或有一定曲率的表面时，可改善声耦合，提升声能传递效率，且探伤结果的重复性较好，磨损后易于更换，它对声能的损耗达6～7dB。
∙保护膜材料应耐磨、衰减小、浓度适当。
为有利于阻抗匹配，其声阻抗Zm应满足一定要求。
试验表明︰所有固体保护膜对发射声波都会产生一定的畸变，使分辨率变差、灵敏度降低，其中硬保护膜比软保护膜更为严重。
因此，应根据实际使用需要选用探头及其保护膜。
与陶瓷芯片相比，石英芯片不易磨损，故所有石英芯片探头都不加保护膜。
（二）直探头的吸收块为提升芯片发射效率，其浓度均应保证芯片在共振状态下工作，但共振周期过长或芯片背面的振动干扰都会导致脉波变宽、死区增大。
为此，在芯片背面充填吸收这类噪声能量的阻尼材料，使干扰声能迅速耗散，降低探头本身的杂乱的信号。
目前，常用的阻尼材料为环氧树脂和钨粉。
五、斜探头（一）架构与类型（二）透声楔斜探头都习惯于用有机玻璃作斜楔，以形成一个所需的声波入射角，并达到波型转换的目的。
一发一收型分割式双直探头和双斜探头也都以有机玻璃作为透声楔，这是因为有机玻璃声学性能良好、易加工成形，但它的声速随温度的变化有所改变又易磨损，所以对探头的角度应经常测试和修正。
水浸聚焦探头常以环氧树脂等材料作为声透镜材料。
六、芯片的浓度压电芯片的振动频率f即探头的工作频率，它主要取决于芯片的浓度T和超音波在芯片材料中的声速。
芯片的共振频率（即基频）是其浓度的函数。
可以证明，芯片浓度T为其传播波长一半时即产生共振，此时，在芯片浓度方向的两个面得到最大振幅，芯片中心为共振的驻点。
七、芯片的浓度通常把芯片材料的频率f和浓度T的乘积称为频率常数Nt，若T=λ/2，则Nt = f T = C/2式中︰C为芯片材料中的纵波声速。
常用芯片材料如PZT的Nt =1800～2000m/s，石英芯片的Nt＝285Om/s，钛酸钡芯片的Nt＝2520m/s，钛酸铅芯片的Nt=2120m/s。
由式（2.65）可知，频率越高，芯片越薄，制作越困难，且Nt小的芯片材料不宜用于制作高频探头。
八特殊探头（一）水浸聚焦探头（二）可变角探头（三）充水探头（四）双晶探头︰a.双晶纵波探头 b.双晶横波探头（纵波全反射)（五）表面波探头3.3第四节︰试块∙一、试块的用途∙测试或校验仪器和探头的性能；∙确定探测灵敏度和缺陷大小；∙调整探测距离和确定缺陷位置；测定材料的某些声学特性。
∙二、试块的分类（主要分二类）∙标准试块∙对比试块（参考试块）其他叫法︰校验试块、灵敏度试块；平底孔试块、横孔试块、槽口试块；锻件试块、焊缝试块等。
∙三、试块简介1.荷兰试块∙1955年荷兰人提出；1958年国际焊接学会透过并命名为IIW试块；ISO组织推荐使用。
类似的有︰中国CSK-IA、日本STB-A1、英国BS-A、西德DIN54521……∙ 2.IIW2试块（三角形试块、牛角试块）∙适用于现场检验（体积小、轻、方便）；用途较IIW少∙ 3.CSK-IA试块︰中国的改型试块三、试块简介1.荷兰试块∙1955年荷兰人提出；1958年国际焊接学会透过并命名为IIW试块；ISO组织推荐使用。
类似的有︰中国CSK-IA、日本STB-A1、英国BS-A、西德DIN54521……∙ 2.IIW2试块（三角形试块、牛角试块）∙适用于现场检验（体积小、轻、方便）；用途较IIW少∙ 3.CSK-IA试块︰中国的改型试块CSK-IA试块的主要用途:∙R50、R100圆弧︰-斜探头入射点、前沿测定；-扫描线比例校准；上下表面刻度︰斜探头K值校准；φ50、φ44、φ40孔︰斜探头分辨率测定；89、91、100mm 台阶︰直探头分辨率测定；φ50孔︰死区测定。
4.CS-1和CS-2∙1986年透过，CS-1全套26块，CS-2全套66块；要求︰（1）D/L比不能太小，否则产生侧壁效应；（2）平底孔应足以分辨；（3）材质衰减要小。
注︰铸钢件试块与此形状相同、尺寸不同5.CSK-IIA / CSK-IIIA6.RB-1、RB-2、RB-37. 钢板试块8. 半圆试块9. 管子试块3.4第四节︰组合性能测试（检测系统的校准）一、水平线性1.定义︰仪器水平线性是示波屏上时基线的水平刻度与实际声程之间成正比的程度，即示波屏上多次底波等距离的程度。
水平线性对缺陷定位有较大的影响。
水平线性用水平线性误差表示。
2.测试步骤︰（1）将直探头置于CSK--1A试块的25mm浓大平底面上；（2）透过[微调][水平][脉波位移]等按钮，使屏上出现5次底波B1--B5，当底波B1和B5的幅度分别为50％满刻度时，将它们的前沿分别对准刻度2.0和10.0。
B1和B6的前沿位置在调整中如相互影响，则应反复进行调整。
a2、a3、a4分别为B2、B3、B4与4.0、6.0、8.0的偏差。
（3）水平线性误差计算︰例︰用IIW或CSK-1A试块测仪器的水平线性，现测得B1对准2.0，B5对准10.0时，B2、B3、B4与4.0、6.0、8.0的偏差分别为0.5、0.6、0.8;求其水平误差为多少？解︰0.8δ=------×100%=1%0.8×100二、垂直线性1.定义︰仪器垂直线性是示波屏上波高与探头接收的信号幅值之间成正比的程度。
它取决于仪器放大器的性能。
垂直线性用垂直线性误差表示。
垂直线性影响缺陷的检出和定量2.测试步骤︰（1）[抑制]至零，[衰减器]保留30dB衰减余量；（2）将直探头置于CSK--1A试块的25mm浓大平底面上，????? 恒定压力压住；（3）调节仪器使试块上某次底波位于示波屏中央，并达到100%幅度，作为“0”dB;（4）固定[增益]和其他旋钮，调衰减器，每次衰减2dB,并记下相应的波高H填入表中，直到底波消失；理想相对波高是△i=2、4、6dB……时的波高比（如△i=6dB时的理想相对波高是50.1%）三、计算垂直线性误差D=（|d1|+|d2| ）式中︰d1--实测值与理想值的最大正偏差d2--实测值与理想值的最大负偏差ZBY230--84规定︰仪器的垂直线性误差D≦8%∙三.探头灵敏度1.调节灵敏度的几个旋钮∙[发射强度] 调节发射脉波的输出幅度，发射强度大灵敏度高，但分辨率低；∙[增益] 调节接收放大器的放大倍数，增益大灵敏度高；∙[抑制] 限制检波后信号的输出幅度，主要用于抑制杂波、提升信噪比。
使用[抑制]会使仪器的垂直线性变坏，动态范围变小。
[抑制]增加，灵敏度降低，尽量不要用[抑制]；[衰减器] 电路内专用器件，用于定量地调节示波屏上的波高，它是步进旋钮。
分︰[粗调][细调]二檔，[粗调]步长10-20dB, [细调]步长1-2dB。
CTS-6型总衰减量50db;CTS-22型则为80dB;∙调节灵敏度的几个旋钮《ZB Y230--84? A型脉波反射超声探伤通用技术条件》中规定︰总衰减量不小于60dB;衰减误差︰1dB / 12dB.∙四、直探头+ 仪器的灵敏度余量测试∙探头对准200 / Φ2平底孔；∙[抑制]︰0；[发射强度] [增益]︰最大；∙调[衰减器]使Φ2孔最高回波达满刻度的50%（基准高），这时衰减量为N1dB;∙提起探头，用[衰减器]将电噪声电平衰减到10%以下，这时衰减量为N2dB;灵敏度余量N=N1-N2（dB）;直探头的灵敏度余量要求≧30dB∙五、斜探头+ 仪器的灵敏度余量测试∙探头对准IIW试块R100园弧面；∙[抑制]︰0；[发射强度] [增益]︰最大；∙调[衰减器]使R100回波达满刻度的50%（基准高），这时衰减量为N1dB;∙提起探头，用[衰减器]将电噪声电平衰减到10%以下，这时衰减量为N2dB;灵敏度余量N=N1-N2（dB）;斜探头的灵敏度余量要求≧40dB∙七、探头死区测定1 概念∙死区是指从探测面到能够发现缺陷处的最小距离，即始脉波宽度覆盖区的距离。
死区与近场区的区别︰死区是始脉波宽度与放大器引起的，而近场区是波的干涉引起的。
死区内缺陷一概不能发现，而近场区内缺陷可以发现但很难定量。
∙ 2 测定方法方法（1）︰∙先将直探头在灵敏度试块上用φ1平底孔调80%基准高。
将直探头放于死区试块上，能独立显示φ1平底孔回波的最小深度为死区。
∙方法（2）︰∙用IIW试块估算∙将直探头放于IIW上方︰能独立显示回波的，死区≦5mm。
无独立回波的，死区〉5mm。
将直探头放于IIW左侧︰能独立显示回波的，死区5～10mm。
无独立回波的，死区〉10mm。
∙八探头分辨率一、概念︰示波屏上区分相邻二缺陷的能力，能区分的相邻二缺陷的距离愈小，分辨率就愈高。
分辨率与仪器和探头的质量有关。
二、纵波直探头分辨率测定∙直探头放于IIW试块85、91、100处，[抑制]为0，左右移动探头，使屏上出现A、B、C波；若A、B、C不能分开，先将A、B等高，并取a1、b1值∙求︰a1X=20 lg---- (dB)b1然后用[衰减器]使B、C等高，取相应的a2、b2值求︰a2Y=20 lg---- (dB)b2X、Y值愈大分辨率愈高，一般X、Y ≧15dB九、横波斜探头分辨率测定如图,平行移动探头，使A、B等高则分辨率︰∙h1X=20lg-------(dB)h2平行移动探头，使B、C等高则分辨率︰h3Y=20lg------ (dB)h4要求︰X或Y≧6dB实测时，[衰减器]将h1衰减到h2即为X值，将h3衰减到h4即为Y值。