(亥姆霍兹线圈 JK-50)霍尔效应实验仪

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亥姆霍兹线圈实验报告

亥姆霍兹线圈实验报告

亥姆霍兹线圈实验报告实验目的:本实验旨在通过对亥姆霍兹线圈的实验研究,探究其在物理学中的应用和原理,以及对磁场的产生和控制。

实验原理:亥姆霍兹线圈是由两个相同半径的同轴圆线圈组成,通过通电产生均匀磁场。

两个线圈之间的距离和电流的大小可以调节,从而控制磁场的强度和方向。

亥姆霍兹线圈可以被广泛应用于物理学实验和研究中,如电子束轨迹的研究、磁场对粒子的影响等。

实验材料和仪器:1. 亥姆霍兹线圈。

2. 直流电源。

3. 磁场测量仪。

4. 实验样品。

实验步骤:1. 将亥姆霍兹线圈连接至直流电源,调节电流大小和方向,使得线圈产生均匀磁场。

2. 使用磁场测量仪测量线圈产生的磁场强度和方向。

3. 将实验样品置于线圈中,观察其在磁场中的受力情况。

4. 调节线圈之间的距离和电流大小,观察磁场的变化对实验样品的影响。

实验结果:通过实验测量和观察,我们得出了以下结论:1. 亥姆霍兹线圈产生的磁场强度和方向可以通过调节电流大小和方向来控制。

2. 实验样品在不同磁场条件下表现出不同的受力情况,验证了磁场对物质的影响。

实验应用:亥姆霍兹线圈在物理学研究和应用中具有重要意义,其均匀磁场的特性使得其可以被广泛应用于磁场实验和研究中。

同时,亥姆霍兹线圈也被应用于医学成像、粒子加速器等领域。

总结:通过本次实验,我们对亥姆霍兹线圈的原理和应用有了更深入的了解,同时也掌握了实验操作和数据处理的方法。

亥姆霍兹线圈作为一种重要的实验工具,对于物理学研究和应用具有重要意义。

结语:通过本次实验,我们对亥姆霍兹线圈的原理和应用有了更深入的了解,同时也掌握了实验操作和数据处理的方法。

亥姆霍兹线圈作为一种重要的实验工具,对于物理学研究和应用具有重要意义。

希望通过今后的学习和实践,能够更好地应用亥姆霍兹线圈,推动物理学领域的发展和进步。

亥姆霍兹线圈实验报告

亥姆霍兹线圈实验报告

亥姆霍兹线圈实验报告亥姆霍兹线圈实验报告引言:亥姆霍兹线圈是一种由两个同轴圆形线圈组成的实验装置,广泛应用于物理学、电子学以及医学等领域。

本实验旨在通过观察亥姆霍兹线圈在不同电流条件下的磁场分布,探究其在磁场研究中的应用。

实验目的:1. 了解亥姆霍兹线圈的基本结构和工作原理;2. 掌握亥姆霍兹线圈的实验操作方法;3. 研究不同电流条件下亥姆霍兹线圈的磁场强度分布。

实验装置:1. 亥姆霍兹线圈:由两个同轴圆形线圈组成,线圈间距与半径相等;2. 电源:提供电流供给;3. 磁场测量仪器:如磁力计或霍尔效应传感器。

实验步骤:1. 将亥姆霍兹线圈放置在水平桌面上,并调整两个线圈的间距与半径相等;2. 将电源与亥姆霍兹线圈相连,确保电流正常通路;3. 将磁场测量仪器放置在亥姆霍兹线圈的中心位置,并进行校准;4. 开始实验前,先设置电流大小为零,观察磁场测量仪器的示数是否为零;5. 逐步增加电流,记录不同电流下磁场测量仪器的示数;6. 根据记录的数据,绘制电流与磁场强度的关系曲线。

实验结果:通过实验观察和数据记录,我们得到了电流与磁场强度之间的关系曲线。

根据曲线的形状,我们可以得出以下结论:1. 在亥姆霍兹线圈内部,磁场强度随着电流的增大而增大;2. 在亥姆霍兹线圈中心位置,磁场强度较为均匀,呈现出近似于匀强磁场的分布;3. 在亥姆霍兹线圈外部,磁场强度随着距离线圈中心的增加而减小。

讨论:亥姆霍兹线圈的实验结果与理论预期相符。

根据安培定律和比奥-萨伐尔定律,我们可以推导出亥姆霍兹线圈内部的磁场强度与电流的关系。

在实验中,我们观察到了磁场强度与电流成正比的关系,这与理论计算结果一致。

亥姆霍兹线圈的磁场分布特性使其在物理学研究中具有广泛的应用。

例如,在粒子加速器中,亥姆霍兹线圈可以用来产生稳定的磁场,用于粒子束的聚焦和偏转。

在医学影像学中,亥姆霍兹线圈被用于磁共振成像(MRI)设备中,通过产生均匀的磁场来激发人体组织中的核磁共振信号。

亥姆霍兹线圈磁场实验报告

亥姆霍兹线圈磁场实验报告

亥姆霍兹线圈磁场实验报告亥姆霍兹线圈磁场实验报告引言:磁场是我们日常生活中常常接触到的物理现象之一。

为了更好地理解和研究磁场的特性,科学家们进行了许多实验。

本实验报告将介绍亥姆霍兹线圈磁场实验的过程和结果,并探讨其在科学研究和应用中的意义。

实验目的:本实验的目的是通过制作亥姆霍兹线圈并测量其磁场强度,验证亥姆霍兹线圈的磁场特性,并了解磁场对物体的影响。

实验装置和原理:实验中使用的主要装置是亥姆霍兹线圈,它由两个平行的同轴线圈组成,每个线圈上有N个匝数。

当通过线圈的电流为I时,可以产生均匀的磁场。

亥姆霍兹线圈的磁场强度可以通过以下公式计算得出:B = (μ0 * N * I) / (2 * R)其中,B表示磁场强度,μ0是真空中的磁导率,N是线圈的匝数,I是通过线圈的电流,R是线圈半径。

实验步骤:1. 制作亥姆霍兹线圈:根据实验要求,选择合适的线圈半径和匝数,使用导线绕制两个平行的同轴线圈,并将其固定在一个支架上。

2. 连接电路:将线圈的两端与电源连接,确保电流可以通过线圈。

3. 测量磁场强度:使用磁场强度计或霍尔效应传感器等仪器,在不同位置上测量磁场强度,并记录测量结果。

4. 改变电流强度:通过调节电源的电流大小,改变线圈的电流强度,再次测量磁场强度,并记录结果。

实验结果与分析:根据实验步骤,我们制作了亥姆霍兹线圈并进行了磁场强度的测量。

通过将磁场强度计放置在不同位置上,我们得到了一系列的测量结果。

随着距离线圈中心的距离增加,磁场强度逐渐减小,符合亥姆霍兹线圈的磁场分布特性。

通过改变线圈的电流强度,我们可以观察到磁场强度的变化。

根据磁场强度与电流的线性关系,我们可以验证亥姆霍兹线圈的磁场公式。

实验结果与理论计算值相符,进一步验证了亥姆霍兹线圈的磁场特性。

实验意义:亥姆霍兹线圈磁场实验是研究磁场特性的重要手段之一。

通过实验,我们可以更好地理解磁场的分布规律和影响因素。

亥姆霍兹线圈的磁场特性研究对于电磁学的发展和应用具有重要意义。

亥姆霍兹线圈磁场测量实验报告

亥姆霍兹线圈磁场测量实验报告

亥姆霍兹线圈磁场测量实验报告今天咱们要聊聊亥姆霍兹线圈,这可是个有趣的家伙!想象一下,两个线圈就像一对好朋友,相互靠近,默契十足。

它们的任务呢,就是创造一个均匀的磁场,听起来是不是很高大上?这实验的目的就是测量这个磁场,看看它到底有多“牛”。

我们就像探险者一样,带着一颗好奇的心,去揭开这个磁场的神秘面纱。

在实验开始之前,咱们得先准备好工具。

电源、线圈、磁场探测器……这些东西可少不了。

你知道的,电源就像这场派对的DJ,必须得有它才能让大家嗨起来。

线圈则是舞池中的主角,越转越欢,越转越带劲。

然后是磁场探测器,哎,这个小家伙可是个“侦探”,专门负责捕捉那些微妙的磁场变化,真是个靠谱的伙伴。

把线圈放在一起,调好距离,就像搭建一个小舞台。

之后连接电源,轻轻一按,瞬间就感觉到空气中弥漫着电流的气息。

线圈里开始流动着电,仿佛在欢快地跳舞,伴随着微微的电流声,真让人心情大好。

这时候,咱们的探测器就得派上用场了,慢慢地靠近,准备好记录下它的“表现”。

开始测量啦!每当探测器靠近线圈时,那磁场的变化就像一场奇妙的音乐会,时高时低,宛如交响乐在耳边回响。

测量的过程也是个技术活,得小心翼翼,别让这个小侦探失了分寸。

有时候数据就像个调皮的小孩,让你哭笑不得,跑来跑去,根本捉不住。

不过,没关系,科学就是这么有趣,充满了挑战和惊喜。

随着测量的深入,咱们逐渐收集到了很多数据。

这些数据就像拼图一样,只有把它们组合在一起,才能看到整个画面。

有时候感觉自己像个侦探,正在破解一个个小秘密,嘿,心里那个乐呀!不过,有些数据可能会让人皱眉,结果总是出乎意料,甚至与预期大相径庭。

可是,科学嘛,哪能总是一帆风顺呢?遇到困难才更能激发我们解决问题的灵感。

咱们终于整理出了完整的实验结果。

看着这些数据,心中不禁感慨万千。

原来,亥姆霍兹线圈的磁场竟然如此均匀,简直让人佩服得五体投地!这些数据不仅是数字,更像是一幅幅生动的画面,描绘出科学的奥妙。

通过这次实验,我们不仅学到了磁场的基本知识,更感受到了探索科学的乐趣。

亥姆霍兹线圈实验报告

亥姆霍兹线圈实验报告

一、实验目的1. 了解亥姆霍兹线圈的组成和原理。

2. 观察亥姆霍兹线圈中磁场的分布情况。

3. 验证磁场叠加原理。

4. 掌握霍尔效应原理及其在磁场测量中的应用。

二、实验原理亥姆霍兹线圈是由两个相同的线圈同轴放置,其中心间距等于线圈的半径。

当两个线圈通以同向电流时,磁场叠加增强,并在一定区域形成近似均匀的磁场;通以反向电流时,则叠加使磁场减弱,以至出现磁场为零的区域。

霍尔效应是指当电流垂直于磁场通过导体时,导体中会产生横向电压。

霍尔电压的高低与霍尔元件所在处的磁感应强度成正比,因而可以用霍尔元件测量磁场。

三、实验仪器1. 亥姆霍兹线圈演示仪2. 霍尔元件3. 稳压电源4. 数码显示屏5. 导轨6. 电流表7. 电流源四、实验步骤1. 打开数码显示屏后面板的开关,先对LED显示屏调零。

2. 打开稳压电源(已调好),同方向闭合两电键(使两线圈通以相同方向电流)。

3. 转动小手柄,使位于线圈轴线上的霍尔元件由导轨的一端缓慢移向另一端,观察两同向载流圆线圈磁场合成后的分布。

显示屏示数由小变大,中间一段基本不变,最后又由大变小。

4. 改变其中一个线圈的电流方向,重复步骤3的操作,观察两反向载流圆线圈磁场合成后的分布。

显示屏示数由小变大,由大变小,又由小变大,由大变小。

5. 将霍尔元件移动到两个线圈的中部,观察磁场分布情况。

五、实验结果与分析1. 当两个线圈通以同向电流时,磁场叠加增强,在中间区域形成近似均匀的磁场。

这是由于两个线圈的磁场在中间区域叠加,使得磁场强度较大,且方向相同。

2. 当改变其中一个线圈的电流方向时,磁场减弱,出现磁场为零的区域。

这是由于两个线圈的磁场在中间区域相互抵消,使得磁场强度减小,甚至为零。

3. 将霍尔元件移动到两个线圈的中部,观察到磁场分布情况。

在中间区域,磁场强度较大,且方向相同;在两端区域,磁场强度逐渐减小,方向逐渐发散。

六、实验误差分析1. 线圈参数误差:实验中使用的亥姆霍兹线圈参数可能与实际参数存在一定偏差,导致实验结果与理论值存在误差。

【2017年整理】亥姆霍兹线圈磁场测定-实验报告

【2017年整理】亥姆霍兹线圈磁场测定-实验报告

开放性实验实验报告——亥姆霍兹线圈磁场测定姓名学号班级亥姆霍兹线圈是一对相同的、共轴的、彼此平行的各有N匝的圆环电流。

当它们的间距正好等于其圆环半径R时,称这对圆线圈为亥姆霍兹线圈。

在亥姆霍兹线圈的两个圆电流之间的磁场比较均匀。

在生产和科研中经常要把样品放在均匀磁场中作测试,利用亥姆霍兹线圈是获得一种均匀磁场的比较方便的方法。

一、实验目的1. 熟悉霍尔效应法测量磁场的原理。

2. 学会亥姆霍兹磁场实验仪的使用方法。

3. 测量圆线圈和亥姆霍兹线圈上的磁场分布,并验证磁场的叠加原理二、实验原理同学们注意,根据自己的理解,适当增减,不要太多,有了重点就可以了。

1.霍尔器件测量磁场的原理图3—8—1 霍尔效应原理如图3—8—1所示,有-N型半导体材料制成的霍尔传感器,长为L,宽为b,厚为d,其四个侧面各焊有一个电极1、2、3、4。

将其放在如图所示的垂直磁场中,沿3、4两个侧面通以电流I,电流密度为J,则电子将沿负J方向以速度运动,此电子将受到垂直方向磁场B的洛仑兹力作用,造成电子在半导体薄片的1测积累过量的负电荷,2侧积累过量的正电荷。

因此在薄片中产生了由2侧指向1侧的电场,该电场对电子的作用力,与反向,当两种力相平衡时,便出现稳定状态,1、2两侧面将建立起稳定的电压,此种效应为霍尔效应,由此而产生的电压叫霍尔电压,1、2端输出的霍尔电压可由数显电压表测量并显示出来。

如果半导体中电流I是稳定而均匀的,则电流密度J的大小为(3—8—1)式中b为矩形导体的宽,d为其厚度,则bd为半导体垂直于电流方向的截面积。

如果半导体所在范围内,磁场B也是均匀的,则霍耳电场也是均匀的,大小为(3—8—2)霍耳电场使电子受到一与洛仑兹力F m相反的电场力F e,将阻止电子继续迁移,随着电荷积累的增加,霍耳电场的电场力也增大,当达到一定程度时,F m与F e大小相等,电荷积累达到动态平衡,形成稳定的霍耳电压,这时根据F m=F e有(3—8—3)将(3—8—2)式代入(3—8—3)式得(3—8—4)式中、容易测量,但电子速度难测,为此将变成与I有关的参数。

亥姆霍兹线圈的应用原理

亥姆霍兹线圈的应用原理

亥姆霍兹线圈的应用原理1. 什么是亥姆霍兹线圈?亥姆霍兹线圈是一种由两个同轴的、相同半径和相同电流的环形线圈组成的装置。

它由德国物理学家赫尔曼·冯·亥姆霍兹于19世纪中叶发明,用于产生均匀的磁场。

亥姆霍兹线圈的两个线圈之间的间距等于它们的半径,线圈内部的电流方向相同,线圈外部的电流方向相反,以确保在线圈中心产生的磁场均匀。

2. 亥姆霍兹线圈的原理亥姆霍兹线圈的原理基于比奥-萨伐尔定律(Biot-Savart Law)和超议方程(Superposition Principle)。

根据比奥-萨伐尔定律,通过一个导线产生的磁场(B)与电流(I)、导线长度(L)以及观测点与导线距离(r)有关。

超议方程则指出多个导线产生的磁场可以通过矢量的叠加来求和。

亥姆霍兹线圈由两个同轴的线圈组成,每个线圈在其轴线上均匀分布。

当两个线圈上通过相同电流时,由每个线圈产生的磁场强度相等且方向相反,但相互叠加后仍然保持平行并且均匀。

3. 亥姆霍兹线圈的应用领域亥姆霍兹线圈由于其均匀的磁场特性在许多实际应用中得到广泛应用。

以下是几个常见的应用领域:3.1 医学影像设备亥姆霍兹线圈可以用于医学影像设备中的磁共振成像(MRI)系统。

在MRI系统中,亥姆霍兹线圈用于产生一个均匀的磁场,以确保成像结果的准确性和可重复性。

通过调节亥姆霍兹线圈的电流,可以控制生成的磁场的强度。

3.2 磁学实验亥姆霍兹线圈也被广泛应用于磁学实验中。

通过在亥姆霍兹线圈中通电,可以产生一个均匀的磁场,用于实验中对磁性材料的研究。

研究人员可以使用亥姆霍兹线圈提供的均匀磁场来观察和测量样本的磁性行为。

3.3 磁场校准亥姆霍兹线圈还可用于磁场校准。

由于亥姆霍兹线圈能够产生均匀的磁场,因此可以将其用于校准其他磁场传感器或测量设备。

通过将传感器或设备放置在亥姆霍兹线圈的中心区域,可以轻松地进行磁场测量和校准。

3.4 粒子束操控亥姆霍兹线圈在物理实验和粒子物理研究中也发挥着重要作用。

(亥姆霍兹线圈 JK-50)霍尔效应实验仪

(亥姆霍兹线圈 JK-50)霍尔效应实验仪

霍尔效应及其应用置于磁场中的载流体,如果电流方向与磁场垂直,则在垂直于电流和磁场的方向会产生一附加的横向电场,这个现象是霍普金斯大学研究生霍尔于1879年发现的,后被称为霍尔效应。

如今霍尔效应不但是测定半导体材料电学参数的主要手段,而且利用该效应制成的霍尔器件已广泛用于非电量的电测量、自动控制和信息处理等方面。

在工业生产要求自动检测和控制的今天,作为敏感元件之一的霍尔器件,将有更广泛的应用前景。

掌握这一富有实用性的实验,对日后的工作将有益处。

【实验目的】1.了解霍尔效应实验原理以及有关霍尔器件对材料要求的知识。

2.学习用“对称测量法”消除副效应的影响,测量试样的S H I ~V 和M H I ~V 曲线。

3.确定试样的导电类型。

【实验原理】1.霍尔效应:霍尔效应从本质上讲是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力作用而引起的偏转。

当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场方向上产生正负电荷的聚积,从而形成附加的横向电场,即霍尔电场H E 。

如图1所示的半导体试样,若在X 方向通以电流S I ,在Z 方向加磁场B ,则在Y 方向即试样A A '- 电极两侧就开始聚集异号电荷而产生相应的附加电场。

电场的指向取决于试样的导电类型。

对图1(a )所示的N 型试样,霍尔电场逆Y 方向,(b )的P 型试样则沿Y 方向。

即有)(P 0)Y (E )(N 0)Y (E H H 型型⇒>⇒<显然,霍尔电场H E 是阻止载流子继续向侧面偏移,当载流子所受的横向电场力H E e ∙与洛仑兹力B v e ∙∙相等,样品两侧电荷的积累就达到动态平衡,故有:B v e E e H ∙∙=∙ (1) 其中H E 为霍尔电场,v 是载流子在电流方向上的平均漂移速度。

设试样的宽为b ,厚度为d ,载流子浓度为n ,则d b ve n I S ∙∙∙∙= (2)由(1)、(2)两式可得:dB I R d B I e n 1b E V S H S H H ∙∙=∙∙∙=∙= (3)即霍尔电压H V (A ,A '/电极之间的电压)与B I S ∙乘积成正比与试样厚度d 成反比。

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霍尔效应及其应用置于磁场中的载流体,如果电流方向与磁场垂直,则在垂直于电流和磁场的方向会产生一附加的横向电场,这个现象是霍普金斯大学研究生霍尔于1879年发现的,后被称为霍尔效应。

如今霍尔效应不但是测定半导体材料电学参数的主要手段,而且利用该效应制成的霍尔器件已广泛用于非电量的电测量、自动控制和信息处理等方面。

在工业生产要求自动检测和控制的今天,作为敏感元件之一的霍尔器件,将有更广泛的应用前景。

掌握这一富有实用性的实验,对日后的工作将有益处。

【实验目的】1.了解霍尔效应实验原理以及有关霍尔器件对材料要求的知识。

2.学习用“对称测量法”消除副效应的影响,测量试样的S H I ~V 和M H I ~V 曲线。

3.确定试样的导电类型。

【实验原理】1.霍尔效应:霍尔效应从本质上讲是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力作用而引起的偏转。

当带电粒子(电子或空穴)被约束在固体材料中,这种偏转就导致在垂直电流和磁场方向上产生正负电荷的聚积,从而形成附加的横向电场,即霍尔电场H E 。

如图1所示的半导体试样,若在X 方向通以电流S I ,在Z 方向加磁场B ,则在Y 方向即试样A A '- 电极两侧就开始聚集异号电荷而产生相应的附加电场。

电场的指向取决于试样的导电类型。

对图1(a )所示的N 型试样,霍尔电场逆Y 方向,(b )的P 型试样则沿Y 方向。

即有)(P 0)Y (E )(N 0)Y (E H H 型型⇒>⇒<显然,霍尔电场H E 是阻止载流子继续向侧面偏移,当载流子所受的横向电场力H E e ∙与洛仑兹力B v e ∙∙相等,样品两侧电荷的积累就达到动态平衡,故有:B v e E e H ∙∙=∙ (1) 其中H E 为霍尔电场,v 是载流子在电流方向上的平均漂移速度。

设试样的宽为b ,厚度为d ,载流子浓度为n ,则d b ve n I S ∙∙∙∙= (2)由(1)、(2)两式可得:dB I R d B I e n 1b E V S H S H H ∙∙=∙∙∙=∙= (3)即霍尔电压H V (A ,A '/电极之间的电压)与B I S ∙乘积成正比与试样厚度d 成反比。

比例系数en 1R H ∙=称为霍尔系数,它是反映材料霍尔效应强弱的重要参数。

只要测出)V (V H 以及知道)A (I S 、)mT (B 和)cm (d 可按下式计算)C /cm (R 3H :7S H H 10BI dV R ⨯∙∙=(4)上式中的710是由于磁感应强度B 用电磁单位(mT )而其它各量均采用CGS 实用单位而引入。

2.霍尔系数H R 与其它参数间的关系: 根据H R 可进一步确定以下参数:(1)由H R 的符号(或霍尔电压的正负)判断样品的导电类型。

判别的方法是按图1所示的S I 和B 的方向,若测得的,0V V A 'A H <=即点A 点电位高于点'A 的电位,则H R 为负,样品属N 型;反之则为P 型。

(2)由H R 求载流子浓度n 。

即eR 1n H ∙=。

应该指出,这个关系式是假定所有载流子都具有相同的漂移速度得到的,严格一点,如果考虑载流子的速度统计分布,需引入83π的修正因子(可参阅黄昆、谢希德著《半导体物理学》)。

3.霍尔效应与材料性能的关系:根据上述可知,要得到大的霍尔电压,关键是要选择霍尔系数大(即迁移率高、电阻率ρ亦较高)的材料。

因ρ∙μ=|R |H ,就金属导体而言,μ和ρ均很低,而不良导体ρ虽高,但μ极小,因而上述两种材料的霍尔系数都很小,不能用来制造霍尔器件。

半导体μ高,ρ适中,是制造霍尔元件较理想的材料,由于电子的迁移率比空穴迁移率大,所于霍尔元件多采用N 型材料,其次霍尔电压的大小与材料的厚度成反比,因此薄膜型的霍尔元件的输出电压较片状要高得多。

就霍尔器件而言,其厚度是一定的,所以实用上采用de n 1K H ∙∙=来表示器件的灵敏度,H K 称为霍尔灵敏度,单位为T )mV/(mA ∙。

4.实验方法:霍尔电压H V 的测量方法值得注意的是,在产生霍尔效应的同时,因伴随着各种副效应,以致实验测得的A 、A '两极间的电压并不等于真实的霍尔电压H V 值,而是包含着各种副效应所引起的附加电压,因此必须设法消除。

根据副效应产生的机理可知,采用电流和磁场换向的对称测量法,基本上能把副效应的影响从测量结果中消除。

即在规定了电流和磁场正、反方向后,分别测量由下列四组不同方向的S I 和B 组合的A 'A V (A ,'A 两点的电位差)即:S I ,B ++ 1A A V V ='S I ,B +- 2A 'A V V = S I ,B -- 3A 'A V V = S I ,B -+ 4A 'A V V =然后求1V 、2V 、3V 和4V 的代数平均值。

4V V V V V 4321H -+-=(6)上述的测量方法,虽然还不能消除所有的副效应,但其引入的误差不大,可以忽略不计。

【实验仪器】霍尔效应实验仪 1套 。

【实验内容】1.掌握仪器性能,连接测试仪与实验仪:(1)开机或关机前,应该将测试仪的“S I 调节”和“M I 调节”旋钮逆时针旋到底。

(2)连接测试仪与实验仪之间各组对应连接线。

注意:①霍尔传感器各电极引线与对应的电流换向开关(本实验仪器采用按钮开关控制的继电器)的连线已由制造厂家连接好,实验时不必自己连接;②严禁将测试仪的励磁电源“M I 输出”误接到实验仪的 “S I 输入”或“H V 输出”端,否则,一旦通电,霍尔元件即损坏!为此,JK-50型霍尔效应实验仪在设计时,充分考虑到这一因素,把励磁电流M I ,霍尔传感器工作电流S I 和霍尔电压H V 接口采用不同规格的插座和专用连接线,接线互换是插不到插座中的,这样一来,完全消除了接线错误的可能性。

霍尔片性脆易碎,电极甚细易断,严防撞击,或用手去摸,否则容易损坏! 霍尔片放置在亥姆霍兹线圈中间,在需要调节霍尔片位置时,亦需要小心谨慎。

(3)接通电源,预热数分钟,这时候,电流表显示“000.”,电压表显示为“00.0”。

按钮开关释放时,继电器常闭触点接通,相当于双刀双掷开关向上合,发光二极管指示出导通线路。

(4)先调节S I :从0逐步增大到mA 00.4,电流表所示的值即随“S I 调节”旋钮顺时针转动而增大,此时电压表所示读数为“不等势”电压值,它随S I 增大而增大,S I 换向,0H V 极性改号(此乃“不等势”电压值,可通过“对称测量法”予以消除)。

510FB 型霍尔效应实验仪H V 测试毫伏表设计有调零旋钮,通过它可把0H V 值消除。

2.测绘S H I V -曲线:顺时针转动“M I 调节” 旋钮,使A 500.0I M =固定不变,再调节S I ,从mA 50.0到mA 00.4,每次改变mA 50.0,将对应的实验数据H V 值记录到表格1中。

(注意,测量每一组数据时,都要将M I 和S I 改变极性,从而每组都有4个H V 值)。

3.测绘M H I V -曲线:调节mA 00.3I S =固定不变,然后调节M I , A 500.0~A 100.0I M =每次增加A 100.0,将对应的实验数据H V 值记录到表格2中。

极性改变同上。

4.确定样品导电类型:将实验仪二组双刀开关均掷向上方,即S I 沿X 方向,B 沿Z 方向,毫伏表测量电压为A A V '。

取A 500.0I ,mA 00.3I M S ==,测量A A V '大小及极性,由此判断样品导电类型。

5.求样品的H R 值:6.测单边水平方向磁场分布(mA 00.3I S =,A 500.0I M =):【数据与结果】1.数据记录参考表。

表1 测绘I ~V 实验曲线数据记录表 A 500.0I =表2 测绘I ~V 实验曲线数据记录表 mA 00.3I = 2.用毫米方格纸画绘S H 曲线和M H 曲线。

3.确定样品的导电类型(P 型还是N 型)。

4.自拟表格,测单边水平方向磁场分布(测试条件mA 00.3I S =,A 500.0I M =),测量点不得少于八点(不等步长),以磁心中间为相对零点位置,作X ~V H 图,另半边在作图时按对称原理补足。

【思考题】1.霍尔电压是怎样形成的?它的极性与磁场和电流方向(或载子浓度)有什么关系? 2.如何观察不等位效应?如何消除它? 3.测量过程中哪些量要保持不变?为什么?4.换向开关的作用原理是什么?测量霍尔电压时为什么要接换向开关? 5.S I 可否用交流电源(不考虑表头情怳)?为什么?【附录】霍尔器件中的副效应及其消除方法 1.不等势电压0V :这是由于测量霍尔电压的电极A ,A '位置难以做到在一个理想的等势面上,因此当有电流S I 通过时,即使不加磁场也会产生附加的电压r I V S 0∙=,其中r 为A ,A '所在的两个等势面之间的电阻(如图 3 所示)。

0V 的符号只与电流S I 的方向有关,与磁场B 的方向无关,因此,0V 可以通过改变S I 的方向予以消除。

2.温差电效应引起的附加电压E V :如图4所示,由于构成电流的载流子速度不同,若速度为v 的载流子所受的洛仑兹力与霍尔电场力的作用刚好抵消,则速度大于或小于v 的载流子在电场和磁场作用下,将各自朝对立面偏转,从而在Y 方向引起温差'A A T T -,由此产生的温差电效应。

在A ,A '电极上引入加电压E V ,且B I V S E ∙∝,其符号与S I 和B 的方向关系跟H V 是相同的,因此不能用改变S I 和B 方向的方法予以消除,但其引入的误差很小,可以忽略。

3.热磁效应直接引起的附加电压N V :因器件两端电流引线的接触电阻不等,通电后在接触点两处将产生不同的焦尔热,导致在X 方向有温度梯度,引起载流子沿梯度方向扩散而产生热扩散电流。

热流Q 在Z 方向磁场作用下,类似于霍尔效应在Y 方向上产生一附加电场N ε,相应的电压QB V N ∝,而N V 的符号只与B 的方向有关,与S I 的方向无关。

因此可通过改变B 的方向予以消除。

4.热磁效应产生的温差引起的附加电压RL V :如上所述的X 方向热扩散电流,因载流子的速度统计分布,在Z 方向的B 作用下,和2中所述同理将在Y 方向产生温度梯度'A A T T -,由此引入的附加电压QB V RL ∝,RL V 的符号只与B 的方向有关,亦能消除之。

综上所述, 实验中测得的A ,A '之间的电压除H V 外还包含,V ,V ,V RL N 0和E V 各个电压的代数和,其中,V ,V ,V RL N 0均可以通过S I 和B 换向对称测量法予以消除。

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