CPK-Cp-Ca-介绍-计算-模板

仅定规格下限： Cp
X LSL ˆ 3σ
• 双边规格也可采用以下公式计算Cpk： Cpk=Cp*(1-Ca)
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3. 4 制成能力Cpk的计算
3.4.2 制成能力Cpk的等级定义
• Cpk等级的参考标准：
等级 A+ A B C D Cpk值 ≧1.67 1.33 ≦ Cpk ＜ 1.67 1.00 ≦ Cpk ＜ 1.33 0.67 ≦ Cpk ＜ 1.00 Cpk ＜ 0.67 处理原则
无缺点，制成优良，可考虑降低成本 状态良好，继续保持 制成能力稍欠缺，需改进至A级 制成不良较多，务必改进制成 制成很差，停线改进制成方可生产
• 一般制成要求：Cpk1.33
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3. 4 制成能力Cpk的计算
3.1. 相关参数的定义
介绍Cpk，Ca, Cp计算方式之前，先介绍一下以下几个概念：

USL (Upper specification limit):即规格上限 LSL (Low specification limit): 即规格下限 μ：规格中心 X=(X1+X2+… …+Xn)/n 平均值 (n为样本数) T=USL-LSL 规格公差 单边规格：只有规格上限和规格中心或只有下限或规格中心的规格;如考试成绩 不得低于80分，或浮高不得超过0.5mm等；此時数据越接近上限或下限越好
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d2取值附录表
d2系数表
n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 d2 1.128 1.693 2.059 2.326 2.534 2.704 2.847 2.970 3.078 3.173 3.258 3.336 3.407 3.472 n 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 30 35 40 45 d2 3.532 3.588 3.640 3.689 3.735 3.778 3.819 3.858 3.895 3.931 4.086 4.213 4.322 4.415 n 50 55 60 65 70 75 80 85 90 95 100 d2 4.498 4.572 4.639 4.699 4.755 4.806 4.854 4.898 4.939 4.978 5.015
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精确度
2. 概念定义
2.4 Ca, Cp, Cpk 的相互关系 • 制成能力的要求 : – 合格==>准确度要高 – 穩定==>精确度要好
A制成: 精确度与准确度两者都高
B制成: 准确度高但精确度差 C制成: 精确度高但准确度差
• 由以上的要求可知,
所有制成中, A是最理想
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3. Ca, Cp, Cpk 的计算
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2. 概念定义
2.3 Cp精确度 的定义
• 精确度Cp (Capability of Precision ) : – 品质特性的散步范围大小或集中程度称为精确度 – 在制程上，散步范围（或称变异）越小， 精确度越好，制成越理想
A制成: 精确度高, 制成较理想 B制成 : 精确度较低, 制成较不理想
CPK专题知识简介
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目录
1. 正态分布图简介 1.1 正态分布图简介 1.2 正态分布图注意事项 2. 概念定义 2.1 Cpk制成能力指数的定义 2.2 Ca准确度 的定义 2.3 Cp精确度 的定义 2.4 Ca, Cp, Cpk 的相互关系 4. 制成能力与不良率的对照关系
4.1 Ca, Cp 与不良率的关系
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2. 概念定义
2.2 Ca准确度 的定义
• 准确度Ca (Capability of Accuracy ) :
– 实际中心与规格中心的差异称为准确度 – 在制成上，实际中心与规划中心的 差异越小，准确度就越高，制成越理想
准确度
A制成 : 准确度较高, 制成较理想
B制成 : 准确度较低, 制成较不理想
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3. 3 精确度Cp的计算
3.3.2 精确度Cp的等级定义
• Cp等级参考标准 :
等级 Cp值 A+ ≧1.67 A 1.33 ≦ Cp ＜ 1.67 B 1.00 ≦ Cp ＜ 1.33 C 0.67 ≦ Cp ＜ 1.00 D Cp ＜ 0.67 处理原则
无缺点，制成能力过高，可考虑降低成本 状态良好，维持现状 状态不理想，需改进为A级 制程不良，必须提升制成能力 制成能力太差，必须分析原因，重新设计制成 制程
ˆ S σ
( Xi X )
i 1
n
2
n 1

2 2 X i n X
n
i 1
n 1
– 若无适当的计算机运算，则标准差也可用下面的建议公式计算,该方法一般 适用于多组数据的情况下：
R ˆ d2
R : 极差的平均值（每组数值的极差总和的平均值）
极差=一组数据中的最大值-最小值 d2 : 请查阅附录d2系数表
LSL
USL
发音： μ : Mu σ : Sigma
(以 μ 为中心数据密集程度) σ : 标准差(Standard Deviation)
规格上限:USL (Upper Specification Limit) 规格下限:LSL (Lower Specification Limit) 落在规格上,下限外的斜线面积即为产品的不良率
-3 σ -2 σ -1 σ σ +3 σ σ +2 μ +1
中心位置参数
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3. 2 准确度Ca的计算
3.2.2 准确度Ca的等级定义 • Ca等级的参考标准 :
等级
A B C D
Ca值
|Ca|<12.5%
处理原则
作业员遵守作业标准操作，并达到规格之要求，需继续保持
12.5%<|Ca|<25% 有必要尽可能将其改造成A级 25%<|Ca|<50% 50%<|Ca|
X
• =
3.52 3.53 3.57 3.54 3.53 3.538 5
=0.0192,
Cp
0.2 1.73 0.0192 6
大于1.67，等级为A+，制成能力优秀，可降低制成，降低成本 – 练习题：若前一例的5個抽測值為3.51, 3.53, 3.53, 3.52, 3.52, 則Cp值是多 少?（ = 0.0084，Cp=3.97）
• 一般制成要求Cp1.33
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3. 3 精确度Cp的计算
3.3.3 精确度Cp的计算范例
• Cp练习范例一（双边规格）： – 产品规格设计值为3.5mm0.1mm, 今在稳定量产线上抽检5个样品，测量 值为： 3.52, 3.53, 3.57, 3.54, 3.53，则Cp计算如下： • T=3.6-3.4=0.2，
USL X ˆ 3σ
X LSL 仅定规格下限：Cp ˆ 3σ
X
(80- 80.71) 2 (85 - 80.71) 2 (78 - 80.71) 2 (82 - 80.71) 2 (84 - 80.71) 2 (77 - 80.71) 2 (79 - 80.71) 2 3.039 7 1 80.71 40 Cp 4.47 3 3.039
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1. 正态分布图简介
1. 1 正态分布图简介
由于CPK的来源基础为正态分布统计图，所以首先向大家介绍一下正态分布统计相关的知识。
由于实际的生产制程的品质不会一成不变，或多或少都会存在一些变异，而在生产制程稳定
的前提下，这些变异恰好满足统计学概率论中的泊松分布（也称正态分布）规律，具体见下图。 在质量体系中又称6σ体系，当然 6σ体系是一个庞大的体系，正态分布只是其中的一部分。 随机变数X
随机变数X
LSL
USL
-3 σ
-2 σ -1 σ
σ +3 σ σ +2 μ +1
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中心位置参数
2. 概念定义
2.1 Cpk制成能力指数的定义
Cpk的定义：制程能力指數，是Complex Process Capability index的缩写 是指製程在管制狀態下, 製程符合規格的能力 Cpk的意义： (1) 制程水准的量化反映; (2) 用一个数值来表达制程的水准; (3) 只有制程能力强的制程才可能生产出质量好、可靠性水平高的产品﹔ (4) 制程能力指数是一种表示制程水平高低的方便方法，其实质作用是反映制程 合格率的高低。 一般以下列的制成特性来衡量制成能力: • • 准确度(Capability of Accuracy )简称 Ca 精确度(Capability of Precision )简称 Cp
作业员可能看错规格，不按作业标准操作，需检讨规格及作业标 准 应采取紧急措施，全面检讨所有可能影响之因素，必要时停止生 产，待问题原因解决才能重启生产。
• 一般制成要求Ca12.5%
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3. 2 准确度Ca的计算
3.2.3 准确度Ca的计算范例
• Ca练习范例 : – 设计产品规格为3.5mm0.1mm, 今在量产线上抽测5个样品， 其测量值 如下：3.52, 3.53, 3.57, 3.54, 3.53，则Ca值计算如下: • U=3.50, T=3.6-3.4=0.2,
4.2 Cpk 与不良率的关系 4.3 Cpk 数值与不良率的对照表 5. Ca, Cp, Cpk的计算总结表 6. Cpk 计算的数据采集 7. Cpk 计算标准模板 8. 制成能力Cpk 的提升
3. Ca, Cp, Cpk 的计算
3.1 相关参数的定义 3.2 准确度Ca的计算 3.3 精确度Cp的计算 3.4 制成能力Cpk的计算
• T : 规格上限 – 规格下限 • USL : 规格上限 • LSL : 规格下限
-3 σ -2 σ -1 σ