是德科技携手北京中科国技推出MIMO OTA性能测量解决方案
统一的以太无损网络测试技术白皮书v2.0-2020.11.19

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能降低网络复杂度和运维成本,又能在 5G 时代做到云网融合,提高业务的拉 通效率。
图 6 独立组网与融合网络对比
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是德科技校准服务

具备高精度和高准确度的设备可增强用户对测量结果的信心–是德科技计量专家致力于指导标准电路板的制作,并开发校准程序中用到的测量不确定度计算方法,从而为用户提供卓越的是德科技校准服务–是德科技可向全球用户交付相同的全套校准测试服务,确保用户在全球任何地点均能享受一致服务–通过与优秀的供应商合作,全面详细地对设备的功能、适用范围及其测试点数加以测试,从而降低执行错误测量或装运缺陷产品的风险–享受已经通过了当地认可机构的 ISO 17025 认可的服务保证,以及已通过了内部质量团队审核的合规流程–当出现指标超差情况时,用户能通过符合 ISO 17025 标准的、完整的调整前和调整后校准数据报告获知详情快速专业的服务可延长设备的正常运行时间,使其性能恢复如新–自动校准流程可加速服务进程,使用户及时快速地收到设备–与那些必须将指标超差设备返回是德科技维修的服务提供商相比,是德科技校准服务内容包括校准过程中的精度调整,可为用户节省时间和资金–是德科技不断投入开发新技术和新流程,例如自动故障诊断、调整和验证分享专业经验,降低拥有成本–用户可利用是德科技的专业技术和服务知识,以获得更高的投资回报–用户可获得优质的校准服务和其他有价值的增值服务,包括预防性维护、最新的服务说明和固件更新等。
它们均经过验证,能够降低设备故障率,减少指标超差的情况–用户能够即时访问 Infoline 在线服务管理工具以优化审计准备过程,并能申请校准截止日期自动提醒服务、查看校准证书和测试数据–30 多家服务中心遍布全球,服务人员可使用您的母语为您提供服务,充分了解您的校准问题可完全追溯到国内和国际标准●●●●依照是德科技工程师所定义的技术指标进行全套功能测试●●●●校准证书、测试数据、溯源信息和标签●●●●发现指标超差情况时,提供完整的调整前和调整后校准数据报告●●●●发现指标超差情况时,可对仪器进行调整,不收取任何额外费用●●●●免费提供增值服务:–固件更新(仅在您需要时安装)–安全测试(验证设备是否正确接地)–安全协议(确保仪器免受计算机病毒和其他威胁的侵害)–小故障维修(例如,更换损坏的旋扭)–按照用户要求提供设备清洗、保养和检测等其它服务●●●●在线提供校准证书副本和测试数据●●●●包括测量不确定度●●●包括保护边带●●1订购校准选件校准保证方案2(适用于新购设备)–是德科技校准 + 不确定度–是德科技校准 + 不确定度 + 保护边带–认可校准年或10 年最经济、高效的计划未来校准方案的方法,确保审计合规校准协议2(适用于现有设备)–是德科技校准–是德科技校准 + 不确定度–CNAS 校准–是德科技校准 + 不确定度 + 保护边带–认可校准1 年或更久经济、高效的计划未来校准方案的方法,确保审计合规5 天批量现场校准–所有 1 年或更久通过现场校准将停机时间减至最少几小时按次校准 2–是德科技校准–是德科技校准 + 不确定度–CNAS 校准–是德科技校准 + 不确定度 + 保护边带–认可校准不适用灵活地按需支付费用一般是 10 天,加上 10 至 30 天的订单审批1. 由当地认可机构决定。
《硅光子设计:从器件到系统》笔记

《硅光子设计:从器件到系统》阅读记录目录一、基础篇 (3)1.1 光子学基础知识 (4)1.1.1 光子的本质与特性 (4)1.1.2 光子的传播与相互作用 (5)1.2 硅光子学概述 (6)1.2.1 硅光子的定义与发展历程 (7)1.2.2 硅光子学的应用领域 (9)二、器件篇 (10)2.1 硅光子器件原理 (11)2.2 硅光子器件设计 (13)2.2.1 器件的结构设计 (14)2.2.2 器件的工艺流程 (15)2.3 硅光子器件的性能优化 (16)2.3.1 集成电路设计 (17)2.3.2 封装技术 (18)三、系统篇 (20)3.1 硅光子系统架构 (21)3.1.1 系统的整体结构 (22)3.1.2 系统的通信机制 (23)3.2 硅光子系统设计 (25)3.2.1 设计流程与方法 (26)3.2.2 设计实例分析 (27)3.3 硅光子系统的测试与验证 (29)3.3.1 测试平台搭建 (30)3.3.2 性能评估标准 (31)四、应用篇 (31)4.1 硅光子技术在通信领域的应用 (33)4.1.1 光纤通信系统 (34)4.1.2 量子通信系统 (35)4.2 硅光子技术在计算领域的应用 (36)4.2.1 软件定义光计算 (37)4.2.2 光子计算系统 (38)4.3 硅光子技术在传感领域的应用 (39)4.3.1 光学传感器 (40)4.3.2 生物传感与检测 (41)五、未来展望 (42)5.1 硅光子技术的发展趋势 (43)5.1.1 技术创新与突破 (44)5.1.2 应用领域的拓展 (45)5.2 硅光子技术的挑战与机遇 (47)5.2.1 人才培养与引进 (48)5.2.2 政策支持与产业环境 (49)一、基础篇《硅光子设计:从器件到系统》是一本深入探讨硅光子技术设计与应用的专著,涵盖了从基础理论到系统应用的全面知识。
在阅读这本书的基础篇时,我们可以对硅光子设计的核心概念有一个初步的了解。
是德科技发布802.11ah 物联网器件测试解决方案

和可复 验性 , 并 提高 效率 。
接 收机 均衡功 能可 以“ 打开” 被测 器 件 至 B E R T 误 码
决 方案 : 新增 3 2 Gb / s B E R T前 端 和集成 功能 , 可 以支 持更 高数据 速率 的测 试 。全 新集 成 功 能 可 以优 化研 发 测试 , 帮
助 测 试 工 程 师 表 征 下 一 代 数 据 中 心 和 长 距 离 通 信 应 用 的
KE YS ) 日前 发 布 N7 6 1 7 B S i g n a l S t u d i o f o r 8 0 2 . 1 1 WL AN 软
件 。作为业界首款灵活的 8 0 2 . 1 l a h信号 生成解决方 案 , 该软 件全 面兼容是 德科技矢 量信号发 生器 , 可 以提供灵 活的标准 波形 , 非 常适合 8 0 2 . 1 1 a h物联 网( 1 o T) 器件 测试 。N7 6 1 7 B 的 发布将进一步丰富 S i g n a l S t u d i o软件 , 进 而支持 8 0 2 . 1 1标准
的所 有 主 要 演 进 标 准 , 包括 8 0 2 . 1 l a / b / g / j / p和 8 0 2 . 1 1 n / a c 。 I E E E 8 0 2 . 1 l a h是 针对 运 行 在低 于 1 GHz不 需 要 许 可证 的频 带 上 的新 兴 WL AN 系 统 标 准 , 被 视 为 应 用 高 功 效、 远距 离且 可 扩展 Wi — F j 服 务 实 现 物 联 网 器 件 设 计 的 重 要基 础 。相 比运行频 率 2 . 4 GHz或 5 GHz的 现 有 8 0 2 . 1 1
德国电信股份公司选择bda高密度10GE测试解决方案

目 业 务推 广 策略 及 收益
31 推 广 策 略 .
的 经 济 和社 会 效 益 。 截 至 2 1年 2 0 0 0 月2
日 ,发 展超 级 小 灵 通 用 户 约 4 户 ,超 万
() 费 策 略 1资
超级 小 灵 通业 务 月功 能费 免 收 。 当 呼叫 ( 短信 )到 超 级 小 灵 通业 务 的原 小 灵通号 码上 时 ,呼 叫 ( 信 ) 移 费用免 短 转 收 。由于超 级小 灵通业 务的原 小灵通 号码
品 以其 耐高 温 特 性使 之 容易 承 受对 切 割 工艺 的各 项 要 求 。借
助 黏 胶 剂 的均 衡特 性 。硅 晶圆 片可 以被理 想 地切 割 ,而且 硅 废 弃率 很低 。D L DU OX R 8 E O— OP M8 5和 D L D E O— UOP OX RM8 5 仅 适 用 于 浆 材 线锯 ,而 且尤 其 适 用 于 创 新 的 金 刚 4不 石 线锯 。与 用调 和 稀酸 就能 很 容 易清 除 的DE O— OP L DU OX
RM8 5 DEL 8 O—DUOPOX RM8 4 和 6 DEL o—DUO P OX
品系列 中未 曾推 出的高 密度 1 GE 硬件 ,但又 想利 用先前 0 在 IN X 软件 和测 试脚 本 方面所 做投 入 的客 户 ,N x 2 GY 硬
件 为他 们提 供 了无缝集 成方 案。N2 与 Ii X xa产 品系列 的这 种融合 ,履 行 了 I i xa在从Agi n l t收 购N2 e X平 台时所 发布 F SI U ON计划 的承诺 。
电信技
通 平 台将 用 户 呼 叫 转 移 到 留 号 转 网 平
台 , 留 号 转 网 平 台 播 放 改 号 提 示 语 音
是德科技与中国移动合作开发以太无损网络(RoCE)测试方案

敬请登录网站在线投稿(t o u g a o.m e s n e t.c o m.c n)2021年第3期31图5不同分配算法平均时延对比随机竞争分配算法使用竞争的机制来占用时隙,该算法使用二进制指数退避算法来解决冲突㊂当多个节点同时申请同一时隙时,随机退避一段时间,导致平均时延较高㊂而本文的时隙分配算法对动态时隙中的冲突采用树状冲突分解算法D Q协议来解决,通过用冲突分解队列和数据传输队列来减小平均时延,因此本文所提算法中平均时延增加得较为缓慢,而且比较稳定㊂3结语本文在L o R a自组网络中MA C层协议的基础上,提出了一种基于L o R a的多模式时隙分配算法,将时隙接入阶段分为普通模式和观察模式㊂在普通模式中根据业务需求将传感器分为两个等级,并结合固定时隙分配算法和竞争时隙分配算法合理地为其分配时隙;而在观察模式下针对动态修改的数据包发送频率,为其分配紧急时隙进行传输任务㊂为了减少平均时延,本文使用树状冲突分解算法D Q协议来解决冲突,而不是使用二进制指数退避算法㊂从实验结果中可以看出,相较于固定时隙分配算法和随机竞争时隙分配算法,本文时隙分配算法不仅降低了丢包率,提升了时隙利用率,而且减少了平均时延㊂参考文献[1]R I Z Z I M,F E R R A R I P,F L AMM I N I A,e t a l.U s i n g L o R a f o ri n d u s t r i a l w i r e l e s s n e t w o r k s[C]//P r o c e e d i n g s o f t h e13t h I n-t e r n a t i o n a l W o r k s h o p o n F a c t o r y C o mm u n i c a t i o n S y s t e m s. W a s h i n g t o n D.C.,U S A:I E E E P r e s s,2017:14. [2]S o r n i n N,L u i s M,E i r i c h T,e t a l.L o R a WA N S p e c i f i c a t i o n v1.0.2,2016.[3]孙若凡,冯勇华,杨奇,等.一种帧长优化的动态时隙A L O-HA算法[J].光通信研究,2017(1).[4]李民政,资文彬,王浩.L o R a无线网络MA C层T D MA时隙分配协议研究[J].计算机工程,2019,45(9).[5]秦茜.一种改进的动态T D MA时隙分配算法研究[J].无线电工程,2017,47(12).[6]姚引娣,王磊.基于L o R a组网的多优先级时隙分配算法[J].计算机工程与设计,2020,41(3).[7]舒华文,周鹏.手机与Z i g B e e结合的城市停车系统[J].计算机工程与设计,2015(3).[8]A L a y a,C K a l a l a s,F V a z q u e z G a l l e g o,e t a l.G o o d b y e,A L OHA[J].I E E E A c c e s s,2016(4):20292044.[9]P T u s e t P e i r o,F V a z q u e z G a l l e g o,J A l o n s o.L P D Q:A s e l f s c h e d u l e d T D MA MA C p r o t o c o l f o r o n e h o p d y n a m i c l o w p o w e r w i r e l e s s n e t w o r k s[J].P e r v a s i v e a n d M o b i l e C o m p u t i n g,2015(20):8499.成明磊(硕士),主要研究方向为嵌入式物联网;薛涛(教授),主要研究方向为分布式系统㊁云计算㊁大数据和物联网㊂(责任编辑:薛士然收稿日期:2020-09-07)是德科技与中国移动合作开发以太无损网络(R o C E)测试方案是德科技公司宣布与全球最大的移动运营商中国移动合作推进以太无损网络测试方案㊂是德科技是一家领先的技术公司,致力于帮助企业㊁服务提供商和政府客户加速创新,创造一个安全互联的世界㊂以太无损网络(R o C E)是I B T A(I n f i n i B a n d T r a d e A s s o c i a t i o n)定义的标准协议,支持通过以太网络更高效率地传输数据㊂此技术被广泛用于数据中心的数据传输,可以显著提高吞吐量并减少端到端时延㊂是德科技与中国移动合作开发了一种新的测试方案,该解决方案可提高无损网络(R o C E)性能的测试效率和可靠性㊂是德科技大中华区网络应用与安全事业部总经理修向鹏表示: 将是德科技的I x L o a d软件与高性能D C S(D a t a C e n t e r S t o r-a g e)测试单板相结合,创建精确且可重复的测试环境,从而显著提高测试执行效率以及结果的一致性和准确性㊂中国移动在有线和无线网络平台上使用是德科技的测试解决方案来加快网络服务部署,其中包括是德科技的5G测试解决方案,用于验证和优化5G N R设备㊁基站以及无线接入网络(R A N)㊁核心网和数据中心基础架构㊂中国移动研究院测试中心杨海俊主任表示: 我们很高兴与是德科技合作以支持以太网发展㊂R o C E技术是数据中心㊁融合存储区域网络(S A N)和云计算的理想传输技术㊂是德科技的高性能R o C E测试方案使我们能够加速在全球数字经济中的创新㊂ 是德科技在2020年年底在广州举行的2020中国移动全球合作伙伴大会上与中国移动研究院(C M R I)联合发布了‘统一的以太无损网络测试技术白皮书“和‘以太无损网络测试方法学“㊂白皮书详细介绍了新的R o C E测试方案如何基于是德科技的I x L o a d 软件以及D C S硬件,来改善统计指标和测试稳定性㊂是德科技R o C E测试方案已实现部分替代现有的服务器测试解决方案㊂。
是德科技 USB 2.0 和 3.0 协议分析仪

是德科技U4611A/B USB 2.0/3.0协议分析仪采用MegaZoom 技术的3.7.x 版本技术资料唯有是德科技能够提供深入、快速分析当前高性能超高速(SuperSpeed)USB 设计所必需的测试工具。
高性能分析–实时端点分析–实时链路分析–实时LTSSM–详细的性能记录–可定制的触发、计数、过滤即时访问捕获到的数据–分段存储器可更高效地保存多次事件捕获的结果–可捕获多达18 GB 的数据–直观的图形用户界面只需点击一下即可查看数据–面向规范的清晰数据解码概述Keysight U4611A/B USB 协议分析仪提供业界领先的实时性能分析、LTSSM 状态跟踪、最全面的触发系统以及高达18 GB 的可定制数据分析特性,从而将协议分析仪的易用性提升到更高水平。
是德科技提供的协议分析仪是在复杂超高速USB 系统中查找间歇性问题的最佳工具。
对于当今的USB 开发商和集成商来讲,要想确保他们设计的产品与日益增长的无数USB 设备完全兼容是几乎不可能的任务。
通常,捕获大批量流量会遇到很多困难,例如迹线缓冲区空间有限、查看数据时等待时间过长、搜索和保存速度太慢等。
随着USB 3.0 设计不再局限于基本功能,USB 设计人员正力求使新的和现有的USB 器件发挥最佳性能。
MegaZoom™ 技术可实时分析USB 操作,并提供详细的操作性能显示。
Keysight U4611A/B USB 协议分析仪能够即时显示捕获到的数据,甚至拥有高达18 GB 的数据轨迹捕获深度,从而克服了这些限制。
通过硬件加速千兆位以太网(高达70 MB/s)或PCI Express(高达550 MB/s)将轨迹数据传输到主机,无需等待即可分析完全深度数据。
例如,只需15 秒便可获得完整18 GB 轨迹的直方图。
数据可以显示为变址前(Pre-indexed)和压缩轨迹数据形式,可通过多个分析处理器进行分析。
图 1. U4611A/B 分析仪以直通模式连接,并记录主机与被测器件之间交换的流量。
是德科技物联网测试解决方案

物联网上层业务性能和安全测试
物联网业务性能测试··································38 物联网安全测试方案·································38 Keysight 测试方案中的仪表·····················39
典型的行业测试方案
(GPS)
(TPMS)
(ESC, airbag)
(motion sensing)
(noise cancellation and voice recognition)
MEMS传感器很大的优势之一就是可以大规模生产。下图是一个 MEMS生产流程:首先是MEMS晶圆切片,之后进行封装,在发货 之前进行封装之后的final test。
MEMS wafer
Die Dicing
CMOS Packaging
Packaged Device
Final Test
Ship
封装前的 on-wafer 测试
如前所述,在封装之前越早检测出不合格的芯片就越能够降低测 试成本。其快速的过程反馈能够提高产品质量,是降低生产成本 的关键。
从测试方法上看:对于MEMS 产品,有两种输入方法驱动一个 MEMS 设备,一个是施加物理激励,比如压力或者加速度;另一 个方法是施加电激励。电激励在速度、可靠性、准确性和可重复 性上都有优势。对于 MEMS 输出信号,同样有两种方法进行测 量:一 种 是 使 用激 光 干 扰仪 直 接 测 量,另一 种 是电气 测 量。电气 测量适用于电容式或者压阻式 MEMS 传感器。虽然激光干扰仪 直接测量的方式比较直接,但电测量在重复性、准确性和可用性 上同样都有优势。对于生产来说,产量对于大规模生产非常重要, 因此,测试系统的速度和可重复性是选择测试方法的关键因素。
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法 ,用 8 通道信道模拟器重建出精确度非常接近标
准所要求 的 P A S , 为客户提供了更经济的解决方案 。
( 来 自是德 科技 )
量 产触 控 I C应用 产 品 。此 特殊 技 术最 初 于 2 0 1 2年
联想子公司 Z U K选 用
底于联华电子推出,是为晶圆代工领域第一个结合
1 0 m W。此外 , A S 3 4 1 5 无需接通任何电源便可启动
内部旁路模式, 确保用户在关闭主动降噪功能时, 仍
可通过音 频 输 出收 听音 乐 。
近 日, Z U K发 布 了 z 1 原 装 入 耳 式 耳 机—— Z 1 0 0 ,该耳机采用了艾迈斯半导体 A S 3 4 1 5 主动降
T r a n s m i t D i v e r s i t y O T A T e s t P l a n V e r s i o n 1 . 0 》 要求 ,
则会在 2 0 1 7 年第 1 季开始进入风险试产阶段。( 来
自C S I A)
以及中国《 终端 M I M O O T A天线性能要求和测量方
噪扬声 器驱 动芯 片 。A S 3 4 1 5使 Z 1 0 0在 嘈杂 的环 境
是德科技 E 7 5 1 5 A U X M 无 线 综 测 仪 是 面 向未
来技术演进的新一代无线综测仪 , 提供全面的 L T E
和L T E — A技术 的射 频设计 验证 和功 能测 试 。 该 仪表
1 2 V与 纯 铝后 段 ( B E o L) 工艺 , 以 因应 次 世 代 触 ห้องสมุดไป่ตู้
艾迈斯半导体 高性 能芯 片
日 前, 艾迈斯半导体 ( A M S ) 宣布联想集团旗下
控制器及物联 网应用产品的需求 。在整合更高密度
嵌入式闪存与 S R A M,以便用于各尺寸触控屏幕产 独 立 子 公 司 Z U K 已选 用 A S 3 4 1 5模 拟 扬 声 器 驱 动 品的微控制器 时 , 0 . 1 l m工艺 可提供 比 0 . 1 8 m 器为其首款 z 1 智能手机打造低 功耗且具有卓越降 工艺更小更快 的逻辑组件 , 并可达到更高效能。( 来
自联华 电子 ) 噪性能 的耳机 。
受惠于艾迈斯半导体先进 的模拟半导体技术 , A S 3 4 1 5主动降噪扬声 器驱动器具有高 达 3 0 d B的
是德科技携手北京 中科 国技
推出 …M 0 0 T A性能测量解决方案
是德科技公司 ( K e y s i g h t ) 日前宣布北京 中科 国 技信息系统有限公 司 ( H WA — T E C H) 已选用是德科
或在同一运算速度大降 2 5 ~ 3 0 %功耗。 可编程门阵 开 发 的 Z 6 0 0 0 A MI MO O T A性 能测 量 系 统 ,采 用标 列( F P G A) 大厂赛灵思 ( X i l i n x ) 已考 虑跳 过 l O n m 准1 6 通道信道仿真器 , 模拟出符合测试所需信道模
并 采用 台积 电 7 n m量 产高档 芯 片 。 台积 电预 计 今 年 底 1 0 n m 开始 试 产 , 2 0 1 6年 底 或2 0 1 7年初 正式进 入 量产 阶段 , 而下一 世 代 的 7 n m
型的功率 角 度谱 ( P A S ) ,符合 标准 《 3 G P P T R 3 7 . 9 7 7 V 0 2 . 0 》 , 《 M O s G 1 5 0 2 l 2 R 1 0一C T I A M I M O /
技 E 7 5 1 5 A U X M无 线 综测 仪 , 并 集 成其 于该 公 司开
发的 L T E M I MO O T A性 能 测量 系统 中 。
降噪性能 , 其有效降噪带宽高达 3 . 5 k H z 。在降噪模
式下 , 1 . 5 V 电 压 运 行 时 该 器 件 的 标 准 功 耗 仅 为
k● ■
, J …
^…
; …
…
台积 电利用 7 n m技术生产 出有效的静态随机 客 户现 有 4 G MI MO O T A 的测试 需 要 ,也 为未 来技 存取存储 器 ( w o r k i n g S R A M) , 7 n m除可比 1 0 n m缩 术演进留有升级潜力。 减4 0 — 4 5 %芯片尺寸,运算速度可提高 1 0 —1 5 %, 作为是德科技的系统集成合作伙伴 ,中科国技
法》 的标准要求 。同时, 中科 国技推 出了 Z 6 0 1 0 A优
化型 M I MO O T A性 能 测量 系 统 ,使 用 最 优化 的算
联华 电子采用 第一个 O . 1 1 u m
e F l a s h工艺量产触控 I C
联 华 电子 日前 宣布 已采用 0 . 1 1 m e F l a s h工 艺
噪声中仍可提供高保真音频输出 , 使用户无论是在
聆 听音乐 、 观看 视频 , 亦或 是接 听 电话 时 , 都 可 以享 受舒适 愉悦 的音 频体 验 。 ( 来 自A MS)
( 本 期新 闻 责任 编 辑 : 王喜 莲 )
内置 2个小 区 ,可实 现用 1台仪表 同时支持 4×
2 MI MO和 载波 聚合 的功能 , 其 强大 的性 能 可 以满 足