插回损测试仪

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光回损测试原理

光回损测试原理

光回损测试原理引言:随着光纤通信的发展,高速光纤传输系统的广泛生产和应用(如SDH、大功率CATV等),必须具有很高的回波损耗,DF B激光器由于其线宽窄,输出特性很容易受回波损耗的影响。

从而严重影响系统的性能,即使是普通的激光器,也会不同程度地受回波损耗的影响,因此,系统中各种光纤器件的回波损耗的测试变得越来越重要。

关键词: 回波损耗菲涅尔反射瑞利散射偏振敏感性匹配负载1.回波损耗测试基本原理当光传输在某一光器件中时,总有部分光被反射回来,光器件中回波主要由菲涅尔反射(由于折射率变化引起)、后向瑞利散射(杂质微粒引起)以及方向性等因素产生的,则该器件的回波损耗RL为:RL(dB)=-10lg(反射光功率/入射光功率) (1)回波损耗的测试方法有基于OTDR和光功率计测试两种,OTDR测试方法速度快、显示直观可获得反射点的空间分布,且不需要末端匹配(短光纤仍需匹配),但成本高,重要的是某些场合不能使用(例如:光探测器的回波损耗测试等),如美国RIFOCS688及日本NTT-AT的AR-301型回波损耗测试仪。

光功率计法主要将被测器件反射回来的光分离出来引导至光功率计,简单实用,应用范围广,使用时须进行末端匹配。

本文主要介绍光功率计法测试的原理。

光功率计法回波损耗测试基本原理框图如下:图1光功率计法基本原理框图激光经光模块注入到被测器件,反射光再经光模块引导至光功率计,测试方法分为4步:a.测试端连接校准件测出反射功率值Pref,若光源输出功率为P L,光模块衰减系数为k,校准件反射率为Rref,则:Prel = PL.k.Rref +Pp (2)其中,Pp为附加反射功率(指光模块内部及测试端连接器的反射等)b.测出附加反射功率Pp:将测试端进行匹配,使得测试端反射功率为0,即可测出附加反射功率Pp。

c.测试端连接被测器件,测出反射值PmeasPmeas = ( PL×k) R被测+Pp (3)R被测为被测器件反射率。

插回损中文说明书(USB).

插回损中文说明书(USB).

目录1、概述-----------------------------------22、技术指标-------------------------------33、组成-----------------------------------44、功能说明-------------------------------45、使用说明-------------------------------66、测量数据记录---------------------------87、注意事项和常见故障----------------------98、维护及保养-----------------------------119、质量保证------------------------------121.概述插回损测试仪是集合自身多年的光纤无源器件和光通信检测仪表的生产和测试经验,充分借鉴了国内外仪表的优点和国内客户的需求,精心研制开发出来的一款精密光检测仪表。

它广泛应用于光纤光缆、光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试,是广大生产厂商、科研机构和运营商用于生产检测、研究开发和工程施工维护基本的测试仪器。

(一)特点(1)测试精度高通过内置高稳定的激光器,最先进的微电子技术和光检测设备,结合软件技术,使得仪器输出功率稳定、检测速度快、测试范围广。

(2)波长自动同步设定在回损模式下,光源与功率计波长同步切换,不需分别设定波长。

功率计模式时,可另行单独设定功率计测试波长。

(3)多种工作模式该测试仪表集成了回波损耗测试、光功率模块测试和插入损耗测试。

(4)操作简单方便回损/插损同步测量,无需按键切换。

回损/插损测试值分别在一台仪器上的两个液晶窗口同时显示,测试结果一目了然。

通过操作“Zero按键”。

和“Ref按键”程序会自动保存相应的校正数据,当仪器断电后再开机,被保存的数据立即生效不需要重复校准,简化测试过程。

(5)人体工学设计仪器采用高质量金属外壳,确保仪器性能不受生产环境下可能存在的电气干扰。

GR-326测试项目

GR-326测试项目
-60
5
2
试验结束
-40
-55
-60
5
2
插回损测试仪
3
高温老化试验
温度:850C(1850F)
湿度:无控制的
持续时间:168小时(7天)
插回损测试:测试开始前跟测试结束后
插回损变化量:测试完成前后测量值之间的差别
插回损测试仪
高温老化箱
4
高温循环试验
温度:-400C~+750C
湿度:无控制的
持续时间:21个周期,168小时(7天)
Ferrule曲率半径
7mm~ 25mm
R4-68
顶点偏移量
≤50μm
R4-69
(3D干涉仪)
2
新产品
光学性能标准:接续损失
试验
最大损失值
平均损失值
增加损失值
(R)
(O)
(R)
(O)
(R)
(O)
新产品
0.40
0.20
0.20
0.15
———
————
无负载,通过试验
0.50
0.30
0.30
0.20
0.30
c.移去负载,至少10秒钟后,测量损失和反射比。
d.沿着00角,施加6.8kgf(15 lbf)负载至少5秒钟。
e.移去负载,至少10秒钟后,测量损失和反射比。
900角侧边拉拔(900side pull):
f.沿着900角,施加2.3kgf(5.0 lbf)负载至少5秒钟。对于小型连接器,负载水平可以减至1.5kgf(3.3 lbf)
b.清洗连接器组件。
c.测量插回损以及变化量。
可以带T型防尘帽保护端面
夹具、测试仪

AI9508光回波损耗测试仪使用说明书

AI9508光回波损耗测试仪使用说明书

AI9508A/B/C型光回波损耗测试仪使用说明书安全警告使用本仪器之前请一定要仔细阅读安全警告和使用说明书,以确保仪器的正确使用。

阅读完使用说明书后,将它放置在一个容易拿到的地方,以便随时取阅。

使用环境的限制:为了防潮,请小心不要将水弄到仪器上。

以免导致火灾、电击或仪器故障的发生。

在潮湿的地方使用仪器时必须保证良好的接地。

使用条件的限制:不要在超过仪器规定的使用电压范围外使用仪器,否则将会导致火灾、电击或故障的发生。

把仪器连接到市电时,一定要将它直接连接到专用插座上,不要使用任何额外的连线,以免由于发热或着火引起危险。

拔电源插头时要注意用手拿住插头。

如果用手扯电源线将会弄坏电源线并有可能引起火灾或电击。

不要用潮湿的手插拔电源插头,以防引起电击。

不要将电源线靠近电热器,这样有可能使电源线受热熔化而导致火灾或电击。

为了避免发热或引起火灾,不要使电源插座过载。

确保电源插头和插线板的可靠接触。

如果金属片之类的东西碰到电源插线板上的金属片,将会引起火灾或电击。

如果将仪器安装在带有支架的台面或滑动台架上时,一定要锁定支架。

不能将仪器放置在不平的地方,如晃动的工作台或倾斜的地方,以避免仪器翻倒,如果仪器移动或翻倒,将会引起物理损坏。

不能将仪器放置在特别潮湿或多灰尘的地方。

否则将导致电击或故障。

不要从外部将金属片等物体插入或掉入仪器内,IAI9508A/B/C型光回波损耗测试仪使用说明书这样将会导致火灾、电击或故障的发生。

不要将仪器放置在被阳光直射的地方,这样的地方温度很高,而设备内部温度的升高有可能会引起火灾。

移动仪器时,必须先将电源插头从插座上拔出。

然后确保仪器的外部连线都被拿开,之后才能移动设备。

否则将损坏连线并有可能引起火灾或电击。

不要阻塞仪器的气孔会使热量在仪器内部积累,在一定时候会引起火灾。

不要损坏、剥开或重新焊接、弯曲、扭曲或用力拖拉电源线,如果有重物放置在电源线上或者加热或拖拽电源线时,电源线将会损坏,从而引起火灾或电击的发生。

插回损测量

插回损测量

1光器件的回损测量引言:随着宽带接入如 LTE, FTTX 的应用越来越多,骨干光纤通信带宽越来越大,光纤本身的和光 纤系统中的无源光器件都变得越来越复杂,光纤系统中无源器件的反射对更高速率的通信系统性 能的影响越发显著,人们对光纤无源器件回波损耗指标测试的关注度在持续上升。

光纤无源器件的回损测试方案自光纤通信系统开始就有了,早期的典型测试仪表如:JDSU 公 司的 RX Meter, Agilent 公司的 816xx 系列。

这些测试仪表的共同特点是:测试方法采用标准的连 续光方法,即 IEC 建议的 OCWR(Optical Continuous Wave Reflectometer)法,测量时通常需要用缠 绕光纤的方法消除额外反射,测量回损的范围在 70dB 以下。

随着光纤通信技术的进步,测试仪 表也在发展,使用 OCWR 方法的测试仪技术非常成熟,随着竞争产品的越来越多,这两种仪表都 早已停止生产。

使用 OCWR 方法测量回损存在许多限制,如:测试步骤多,需要过程复杂的系统校“零”, 不能一次连接进行插损/回损的测试,不能区分瑞利散射和菲涅尔反射回损,只适用于≤55dB 的 回损测量等[1]。

另一方面,由于这些限制,在很多应用场合下不适合或者无法使用 OCWR 法进行测量,如: 无法弯曲也不允许破坏接头的光缆接头盒,特种光缆,MPO 接头等。

图 1:无法弯曲的光纤接头 为了解决这些问题,我们需要采用其他的回损测量方法,如 OTDR 法。

为了比较 OCWR 和OTDR 两种测量方法,让我们首先回顾一下回损测试的原理以及 IEC61300‐3‐6 对回损测试方法的描 述。

1. 原理和测量方法1.1 回损的来源按照 IEC61300‐3‐6 的定义,回损是指在器件输入端、光纤接头或者定义的某一段光路上反射 光功率[mW]与入射光功率[mW]的比值。

23⎛ P ⎞ 即: RL = ­10 ⋅ log ⎜ r⎜ ,回损的值是正的。

G&H3000A型光插回损测试仪工作原理

G&H3000A型光插回损测试仪工作原理

G&H3000A型回损仪测试原理分析引言:随着光纤通信的发展,高速光纤传输系统的广泛生产和应用(如SDH、大功率CATV 等),必须具有很高的回波损耗,DFB激光器由于其线宽窄,输出特性很容易受回波损耗的影响。

从而严重影响系统的性能,即使是普通的激光器,也会不同程度地受回波损耗的影响,因此,系统中各种光纤器件的回波损耗的测试变得越来越重要。

关键词: 回波损耗菲涅尔反射瑞利散射偏振敏感性匹配负载1.回波损耗测试基本原理当光传输在某一光器件中时,总有部分光被反射回来,光器件中回波主要由菲涅尔反射(由于折射率变化引起)、后向瑞利散射(杂质微粒引起)以及方向性等因素产生的,则该器件的回波损耗RL为:RL(dB)=-10lg(反射光功率/入射光功率) (1)回波损耗的测试方法有基于OTDR和光功率计测试两种,OT DR测试方法速度快、显示直观可获得反射点的空间分布,且不需要末端匹配(短光纤仍需匹配),但成本高,重要的是某些场合不能使用(例如:光探测器的回波损耗测试等),如美国RIFOCS688及日本NTT-AT的AR-3 01型回波损耗测试仪。

光功率计法主要将被测器件反射回来的光分离出来引导至光功率计,简单实用,应用范围广,使用时须进行末端匹配。

本文主要介绍光功率计法测试的原理。

光功率计法回波损耗测试基本原理框图如下:图1光功率计法基本原理框图激光经光模块注入到被测器件,反射光再经光模块引导至光功率计,测试方法分为4步:a.测试端连接校准件测出反射功率值Pref,若光源输出功率为PL,光模块衰减系数为k,校准件反射率为Rref,则:Prel = PL.k.Rref +Pp (2)其中,Pp为附加反射功率(指光模块内部及测试端连接器的反射等)b.测出附加反射功率Pp:将测试端进行匹配,使得测试端反射功率为0,即可测出附加反射功率Pp。

c.测试端连接被测器件,测出反射值PmeasPm eas =( PL×k) R被测+Pp (3)R被测为被测器件反射率。

《插回损测试仪》word版

《插回损测试仪》word版

插回损测试仪1、概述------------------22、技术指标--------------33、组成------------------44、功能说明--------------45、使用说明--------------56、维护及保养-----------157、质量保证-------------151 / 11.概述YW-B330i插回损测试仪是玉炜科技集合自身多年的光纤无源器件和光通信检测仪表的生产和测试经验,并充分借鉴了国内外仪表的优点和国内客户的需求,潜心研制开发出来的一款精密光检测仪表。

它广泛应用于光纤光缆、光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试,是广大生产厂商、科研机构和运营商用于生产检测、研究开发和工程施工维护的基本和理想的测试仪器。

YW-B330i实现光源模块与光功率计模块的波长联动,有效减少操作步骤,还可以对损耗测量设定限定值,不同颜色显示测试数据,一目了然。

是光通信系统研究、开发和生产、维护等部门必备的基本测试仪器,也是光器件性能指标、光纤光缆及光无源器件性能测试的理想测试工具。

2.技术指标3.组成1.YW-B330i插回损测试仪----------------------1台2.操作说明书--------------------------------------1本3.FC/SC/ST/2.5通用/1.25通用接口--------1套4.保险丝(1A)-----------------------------------2只5.电源线(250V10A)----------------------------1根6.清洁棉签------------------------------------------1包4.功能说明按键说明标识 功能 λ 更改测试波长 Ref 测试插损时光源归零 BL 测试回损时归零 dBm/dB 切换功率显示单位 Set 进行损耗限定值设定 +损耗限定值设定时数字加操作光源输出口(单模)FCAPC 光源输出口(多模) FC-UPC测试接口插损显示回损显示-损耗限定值设定时数字减操作Enter损耗限定值设定时确认操作5.使用说明(1)选择标准跳线(下面简称标线)。

回损测量方法的比较

回损测量方法的比较

光回损测量方法的比较光回损测量有两种方法:OTDR法和OCWR法,这两种方法都是IEC61300-3-6建议的方法。

下面描述了两种方法的测量灵敏度差异和如何使用两种方法得到相同测试的结果。

OCWR(Optical Continuous Wave Reflectometry) 回损测量法具有很长的历史,是最接近RL定义的测试方法,根据IEC61300-3-6的描述,OCWR法适合测量≤55dB的回损类型。

OTDR法由于使用方便,无需缠绕,可以测量更大动态范围(>55dB),测试速度快等优点受到更多欢迎。

在讨论任何RL测试结果前必须强调,适当的检查和清洁是取得准确测试结果的前提,连接问题是我们大多数时间得到得到异常结果的原因。

只有在恰当的连接下才能准确测量到RL,RL的值会由于每次连接时连接表面的微小变化而受到影响。

图1: JDSU 基于OTDR法的插回损仪表回损来源回损是指在器件输入端、光纤接头或者定义的某一段光路上反射光与入射光功率的比值。

对于所有的RL测量,对于所有测量方法,DUT长度的定义是关键。

举例如下:对于两种方法,长度或者光路径的定义不同,反射反射是由于光从一种介质进入另一种折射率不同的介质造成的。

菲涅尔现象描述了这种反射因此通常称为菲涅尔反射。

对于光接头,造成反射的原因是机械接头的空气气隙、中心对齐误差和污染造成的微小颗粒。

图1 是两个个光纤接头通过适配器连接,接头连接的地方产生了由于局部不连续引起的回损。

图 2 : 光纤接头的局部,连接处产生了菲涅尔反射散射光束在光纤中前向传播时,遇到光纤中的不连续点会产生散射,产生不连续点的可能是制作光纤材料的杂质、微小的空气气隙甚至机械拉伸。

散射有许多种,最常见的是瑞利散射,其强度与光波长的4次方成反比。

瑞利散射和菲涅尔反射的主要差别是瑞利散射存在于整个光路径上。

举例说明:普通的2米长SMF-28单模光纤的回损是 69 ~ 70dB. 当我们比较两种回损测量方法时这个特征对于我们的比较十分重要(1)。

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插回损测试仪1、概述------------------22、技术指标--------------33、组成------------------44、功能说明--------------45、使用说明--------------56、维护及保养-----------157、质量保证-------------1511.概述YW-B330i插回损测试仪是玉炜科技集合自身多年的光纤无源器件和光通信检测仪表的生产和测试经验,并充分借鉴了国内外仪表的优点和国内客户的需求,潜心研制开发出来的一款精密光检测仪表。

它广泛应用于光纤光缆、光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试,是广大生产厂商、科研机构和运营商用于生产检测、研究开发和工程施工维护的基本和理想的测试仪器。

YW-B330i实现光源模块与光功率计模块的波长联动,有效减少操作步骤,还可以对损耗测量设定限定值,不同颜色显示测试数据,一目了然。

是光通信系统研究、开发和生产、维护等部门必备的基本测试仪器,也是光器件性能指标、光纤光缆及光无源器件性能测试的理想测试工具。

22.技术指标光回波损耗测试工作波长1310/1550nm测试范围0 ~ 75 dB校准波长1310/1550nm测试精度0.25dB输出稳定性0.05dB/小时( @ 25℃) 接口类型FC/APC光插入损耗测试校准波长850/1310/1550nm测试范围+3 ~ -80 dBm测试精度0.25dB显示分辨率对数:0.001dB;线性:0.001nw/μW/mW 测试模式线形和非线性接口类型活动接口,FC/SC/ST/通用φ2.5mm/通用φ1.25mm等适配器总指标电源AC 100-240V工作温度-5℃~+55℃外观尺寸260X265X140mm重量3kg33.组成1.YW-B330i插回损测试仪----------------------1台2.操作说明书--------------------------------------1本3.FC/SC/ST/2.5通用/1.25通用接口--------1套4.保险丝(1A)-----------------------------------2只5.电源线(250V10A)----------------------------1根6.清洁棉签------------------------------------------1包4.功能说明光源输出口(单模)FCAPC 光源输出口(多模)FC-UPC测试接口插损显示回损显示4按键说明标识功能λ更改测试波长Ref 测试插损时光源归零BL 测试回损时归零dBm/dB 切换功率显示单位Set 进行损耗限定值设定+ 损耗限定值设定时数字加操作- 损耗限定值设定时数字减操作Enter 损耗限定值设定时确认操作5.使用说明(1)选择标准跳线(下面简称标线)。

根据被测跳线选择不同的标线。

若被测线是PC端面则选5择APC-PC标线,若被测线是APC端面则选择APC-APC标线。

(2)测量前光路插损标定。

按λ键切换至所需波长,把标线的APC端(即始端)接到光源输出接口,让标线线型舒展,把标线的末端插入光功率计接口,按Ref健。

如果测量双波长,按λ键切换光源波长,可按下Ref键。

6(3)测量前光路回损标定。

按λ键切换至所需波长,把标线的APC端(即始端)接到光源输出接口,用缠绕棒缠绕标线的另一端(即末端),按下BL键,此时回损显示区域闪动的数值应该小于等于-60dBm。

如果测量双波长,按λ键切换光源波长,再按下BL键。

(4)测量跳线端面的插损。

用标准适配器把标线的末端与被测跳线的被测端(始端)连接,被测跳线的另一端(末端)插入光功率计接口,此时,插损显示区里的插损测量值就是被测跳线7始端的插人损耗值。

如果测量双波长,按λ键查看另一个波长的插入损耗值.(5)测量跳线端面的回损。

用缠绕棒在靠近被测跳线始端处缠绕,此时,回损显示区里的回损测量值就是被测跳线始端处的回波损耗值。

如果测量双波长,按λ键查看另一个波长的回波损耗值。

8(6)进行下一个测试,只需要重复第(4)、(5)步即可。

(7)若更换标线需要从第(1)步重新操作。

(8)损耗限定值设定:按“Set”键进入损耗限定值设定状态,操作面板上红色指示灯亮;按“+”、“-”键进行数据加减操作,直至所需数值;按“Enter”键确认设定数值,退出设定状态,操作面板上红色指示灯熄灭。

测量数据记录(客户指定订做)(1)把脚踏开关连接到仪表后面板的数据接口,用USB线连接仪表和电脑。

(2)打开仪表电源开关,第一次连接电脑时提示找到新硬件,需要添加USB的驱动程序。

把仪表附带的光盘放入光驱,添加光盘中的USB驱9动程序。

(3)把光盘中的“Loss Meter.exe”文件复制到电脑并运行。

A.Serial Port为PC机USB端口,打开软件后应该先点击“Open Port”B.显示区域,同步显示仪表的插损和回损的信息C.ProductID区域中可以输入产品的编号,默认值:日期。

D.Export Data:将当前记录数据导出,导出格式10为Excell表格形式。

(4)测量过程中,需耍保存差损值和回损值时,将软件界面上的“Insertion Loss”和“Return Loss”前面的选择框打钩,踩下脚踏开关,会先记录插损数据,再次踩下会记录回损数据,然后是下一组数据。

(5)测试完成,点击Export Data保存测试记录。

注意事项和常见故障(1)激光器输出为不可见激光辐射,设备工作时,不可直视光源输出口及连接在光源输出口的跳线端面,避免灼伤眼睛和皮肤。

(2)仪表属于高精密设备,接到光源输出口的标线端面必须是APC端面,并且保持干净无划伤,否则很容易损坏仪表内部的光源输出APC端面11(3)测量前,建议使用光纤放大镜检测所有光纤端面,并用专用清洁器具清洁端面。

(4)建议使用1米长标线。

(5)缠绕棒建议使用直径约3到8毫米圆棒,缠绕圈数最少5圈。

(6)如果使用APC-PC的标线,在做完“测量前光路插损归零”这步后,把标线末端从光功率接口拔出,此时回损测量值显示应该在14dB到17dB之间可以视为正常值。

如果该值大于17dB 或小于14dB,原因如下:12A.标线没有线型舒展平稳。

B.标线末端面有污渍,需要清洗端面。

C.标线末端面已经划伤,需要更换新标线。

D.标线始端面有污渍,需要清洗端面。

E.标线始端面已经划伤,需要更换新标线。

F.仪表内部光源输出口端面有污渍,拆卸输出口清洗端面(7)在做“测量前光路回损标定”这步时,按下BL键,回损显示区域闪动的数值如果大于-60dBm,说明此时光路回波功率值过大,原因如下:A.缠绕不合格,缠绕棒过粗,缠绕的圈数不够。

B.用光纤放大镜检查标线的始端是否有污渍,是否划伤。

13C.标线由于不规范缠绕.可能已经损坏,更换新标线。

D.如果确定标线没有问题,检查仪表内的APC端面足否有污渍,是否划伤。

旋下光功率输出口的旋钮,轻轻拔出光纤,用光纤放大镜检查端面。

6.维护及保养1、插回损测试仪应在无明显震动的情况下工作;2、保持光源输出接口以及仪表测试接口端面清洁,不使用不清洁、非标准的光接头;3、插回损测试仪不用时,请盖上防尘帽;4、请小心插拔光接头;5、请定期清洁光源输出接口以及仪表测试接口,清洁时请使用专用棉签轻轻擦拭;6、轻拿轻放,防止插回损测试仪跌落、碰撞。

147、质量保证我们不赞成用户自行修理YW-B330i。

7.1仪表保修期自交货之日起十八个月内。

玉炜科技将对其所有产品的物料及工艺承诺,保修期为发货至用户收到之日起十八个月内有效。

当购买的产品在此期间被发现有质量问题,玉炜公司会做出适当的修理或更换的。

但在任何情况下,玉炜公司的责任是不会超出该产品的购买价。

7.2 如果仪表在使用过程中出现问题,根据常见故障提示的解决方法仍无法解决,用户不得擅自打开机壳,请与公司市场部及各地代理商联系。

7.3对于因生产缺陷而造成的质量故障,我司负责免费维修或更换仪表,此保证仅适用于仪表的正常使用,而且无损坏或使用不当的条件下。

15YW-B330i的保修并不包括由以下原因引致的问题/故障:1、对仪器进行无授权修理或修改2、非恰当使用、疏忽使用、或意外等保修单Warranty Registration随同玉炜的产品均有一张公司的保修单(warranty registration card)。

请您填好后连同购置发票复印件一起寄回玉炜公司市场部,以便日后我们需要对你的仪器进行维护、技术升级、校准等事情时,有一个原始记录。

16上海玉炜电子科技有限公司产品保修卡产品型号:产品序列号:购买日期:用户名称:电话:传真:地址:邮政编码:E-mail:盖章:(请保留此联,剪下下联并在此基础上寄出)…………………(请沿虚线剪下并寄回本公司)产品型号:产品序列号:购买日期:用户名称:电话:传真:地址:邮政编码:E-mail:备注:用户请在购货后一月内,将此部分寄回本公司方为有效。

17上海玉炜电子科技有限公司保修须知保修期:自购买之日起18个月内保修条款:一、保修期内,在正常状态下使用本产品而发生的故障,用户可以出示本保修卡和发票或收据(复印件),可享受无偿维修服务。

二、下列情形,需要付费维修,视情况收取一定的材料费、维修费及运费;1、在正常状态下使用本产品而发生的故障,但已超过保修期范围者。

2、未出示本保修卡,保修卡遗漏、涂改或未填写清楚者。

3、非正常状态下使用,例如人为损坏,或高温、高压、潮湿等非正常状态下使用,正常视损坏情况付费维修。

4、非产品本身质量问题而造成的故障和损坏。

5、未按照说明书中的使用方法和注意事项而造成的故障和损坏。

三、下列情况,本公司不予维修:1、未经本公司同意,对仪器进行无授权修理或修改。

2、非本公司生产、销售的产品。

18。

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