材料结构表征及应用
材料学中的材料结构与性能表征

材料学中的材料结构与性能表征引言材料学作为一门研究材料结构与性能的学科,对于现代科技和工程领域的发展起着至关重要的作用。
材料的结构与性能表征是材料学研究的核心内容之一,通过对材料的结构进行分析和表征,可以深入了解材料的性能特点,为材料的设计、制备和应用提供科学依据。
本教案将从材料结构与性能表征的基本原理、常用表征方法以及应用案例等方面进行论述,旨在帮助学生全面了解材料学中的材料结构与性能表征。
一、材料结构与性能的关系1.1 结构对性能的影响材料的结构是决定其性能的重要因素之一。
不同的结构特征会导致材料具有不同的物理、化学和力学性质。
例如,晶体结构的不同会影响材料的硬度、导电性和热导率等性能。
因此,了解材料的结构特征对于预测和改善材料性能至关重要。
1.2 结构与性能的相互作用材料的性能也会反过来影响其结构特征。
例如,材料的应力状态和温度会引起晶体结构的变化,从而改变材料的力学性能。
此外,材料的化学环境和加工工艺等因素也会对结构和性能产生重要影响。
因此,研究材料的结构与性能之间的相互作用是材料学研究的重要课题之一。
二、材料结构的表征方法2.1 光学显微镜观察光学显微镜是最常用的材料结构表征工具之一。
通过对材料的显微观察,可以获取材料的形貌、晶体结构和相组成等信息。
此外,还可以利用偏光显微镜观察材料的光学性质,如双折射现象和偏光图样等。
2.2 电子显微镜观察电子显微镜是一种高分辨率的材料结构表征工具,包括扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)。
SEM可以观察材料的表面形貌和微观结构,而TEM可以观察材料的原子尺度结构和晶体缺陷等。
2.3 X射线衍射分析X射线衍射是一种利用材料对X射线的衍射现象来研究其结构特征的方法。
通过测量材料的衍射图样,可以确定材料的晶体结构、晶格参数和晶体取向等信息。
此外,X射线衍射还可以用于分析材料的晶体缺陷和相变等现象。
2.4 核磁共振谱学核磁共振谱学是一种通过测量材料中原子核的共振信号来研究其结构和化学环境的方法。
材料表征技术的进展和应用

材料表征技术的进展和应用材料表征技术是一种分析材料性质和组分的方法,具有非常广泛的应用范围。
在大多数材料科学和工程领域中,材料表征技术都是研究材料及其性质的重要手段之一。
近年来,随着材料领域能力的提高和技术手段的不断发展,材料表征技术也获得了快速的发展。
在本文中,我们将探讨材料表征技术的进展和应用,包括常见的X射线衍射和扫描电子显微镜技术,以及新兴的拉曼光谱和质谱成像技术等。
一、X射线衍射技术X射线衍射技术是一种通过测量材料样品所散射的X射线的强度和角度来研究其晶体结构的方法。
该技术已经成为研究材料结构、物理和化学性质的重要手段之一。
X射线衍射技术可用于研究许多有机和无机材料,如晶体、玻璃、陶瓷、金属合金、纤维等。
实际上,X射线衍射在材料科学中具有广泛的应用价值。
例如,它可用于研究高温材料的结构和热力学性质,如氧化铝、硅酸盐和氧化锆等。
在研究金属材料方面,X射线衍射可以用于研究金属晶体中的缺陷、晶格畸变和金属相变等。
在研究材料的表面化学性质时,X射线衍射也可以用于表征表面化学反应中产生的物种及其电荷转移过程,例如在催化反应中的应用。
二、扫描电子显微镜技术扫描电子显微镜技术是一种显微镜技术,它通过传输电子束照射样品,在样品表面上发生反射、透射和散射等几个过程中来获得具有微观尺寸尺度和高分辨率的图像。
这些图像可以用来研究材料的微观结构,包括材料表面和内部特征。
扫描电子显微镜技术在材料科学中的应用非常广泛。
例如,在纳米材料领域,扫描电子显微镜技术可以用于研究纳米材料的尺寸和形态、纳米颗粒的晶体结构、纳米孔的形状等。
另外,扫描电子显微镜还可以用于研究材料的表面性质、材料的磁性、电性等,例如研究磁记录材料、电池材料和太阳能电池等。
三、拉曼光谱技术拉曼光谱是一种通过测量样品散射的激光光谱来检测样品的分子振动信息的技术。
拉曼光谱技术在材料科学中具有广泛的应用价值。
例如,它可以被用于材料表征和生化实验,用于识别材料和检测污染物。
东华大学材料结构表征及其应用作业答案

“材料研究方法与测试技术”课程练习题第二章红外光谱法1.为什么说红外光谱是分子振动光谱?分子吸收红外光的条件是什么?双原子基团伸缩振动产生的红外光谱吸收峰的位置主要与哪些因素有关?答案:这是由于红外光谱是由样品分子振动吸收特定频率红外光发生能级跃迁而形成的。
分子吸收红外光的条件是:(1)分子或分子中基团振动引起分子偶极矩发生变化;(2)红外光的频率与分子或分子中基团的振动频率相等或成整数倍关系。
双原子基团伸缩振动产生的红外光谱吸收峰的位置主要与双原子的折合质量(或质量)和双原子之间化学键的力常数(或键的强度;或键的离解能)有关。
2.用诱导效应、共轭效应和键应力解释以下酯类有机化合物的酯羰基吸收峰所处位置的范围与饱和脂肪酸酯的酯羰基吸收峰所处位置范围(1735~1750cm-1)之间存在的差异。
芳香酸酯:1715~1730cm-1α酮酯:1740~1755cm-1丁内酯:~1820cm-1答案:芳香酸酯:苯环与酯羰基的共轭效应使其吸收峰波数降低;α酮酯:酯羰基与其相连的酮羰基之间既存在共轭效应,也存在吸电子的诱导效应,由于诱导效应更强一些,导致酯羰基吸收峰的波数上升;丁内酯:四元环的环张力使酯羰基吸收峰的波数增大。
3.从以下FTIR谱图中的主要吸收峰分析被测样品的化学结构中可能存在哪些基团?分别对应哪些吸收峰?答案:3486cm-1吸收峰:羟基(-OH);3335cm-1吸收峰:胺基(-NH2或-NH-);2971cm-1吸收峰和2870cm-1吸收峰:甲基(-C H3)或亚甲基(-CH2-);2115cm-1吸收峰:炔基或累积双键基团(-N=C=N-);1728cm-1吸收峰:羰基;1604cm-1吸收峰、1526cm-1吸收峰和1458cm-1吸收峰:苯环;1108cm-1吸收峰和1148cm-1吸收峰:醚基(C-O-C)。
1232cm-1吸收峰和1247cm-1吸收峰:C-N。
第三章拉曼光谱法1. 影响拉曼谱峰位置(拉曼位移)和强度的因素有哪些?如果分子的同一种振动既有红外活性又有拉曼活性,为什么该振动产生的红外光谱吸收峰的波数和它产生的拉曼光谱峰的拉曼位移相等?答案:影响拉曼谱峰位置的因素主要有:样品分子的化学结构和样品的聚集态结构。
材料科学中的材料性能表征技术应用教程

材料科学中的材料性能表征技术应用教程一、引言材料性能表征是材料科学中的重要环节,它帮助科学家们深入了解材料的物理、化学和机械性质,从而推动材料科学的发展。
随着科技的进步,材料性能表征技术也得到了迅速的发展和应用。
本篇文章将重点介绍材料科学中常用的材料性能表征技术及其应用,以帮助读者更好地了解和应用这些技术。
二、常用的材料性能表征技术1. 透射电子显微镜(TEM)透射电子显微镜是一种高分辨率的显微镜技术,可被用于观察材料的微观结构。
通过透射电子显微镜,科学家们可以观察到材料的晶体结构、晶界、缺陷等微观特征。
此外,透射电子显微镜还可以通过选区电子衍射技术测定材料的晶体结构。
2. 扫描电子显微镜(SEM)扫描电子显微镜是另一种常用的显微镜技术,它通过扫描材料表面并观察所产生的二次电子或背散射电子来提供材料的表面形貌和微观结构。
扫描电子显微镜广泛应用于材料的结构、形貌和成分等方面的研究。
3. 能谱仪能谱仪是一种常用的材料分析技术,常见的有X射线能谱仪和电子能谱仪。
能谱仪通过分析材料中特定元素的能谱,可以确定材料中元素的种类和含量。
这对于材料的组成分析和元素追溯非常重要。
4. X射线衍射仪(XRD)X射线衍射仪是一种用于材料结构表征的技术。
通过照射材料样品,衍射仪可以测量到X射线的衍射图案,从而确定材料的晶体结构、晶格常数等信息。
X射线衍射仪可以广泛应用于材料的结构分析、相变研究等方面。
5. 热重分析仪(TGA)热重分析仪是一种常用的热分析技术。
它通过测量材料在不同温度下的质量变化,可以分析材料的热稳定性、热分解性等热性能参数。
热重分析仪可用于材料的热性能研究、陶瓷材料的配方优化等方面。
6. 傅立叶变换红外光谱仪(FT-IR)傅立叶变换红外光谱仪是一种常用的光谱分析技术。
它通过测量材料在红外光波段的吸收谱线,可以分析材料的化学结构、功能基团等化学性质。
傅立叶变换红外光谱仪广泛应用于聚合物材料、有机材料等的研究中。
材料结构表征及应用知识点总结

材料结构表征及应⽤知识点总结第⼀章绪论材料研究的四⼤要素:材料的固有性质、材料的结构、材料的使⽤性能、材料的合成与加⼯。
材料的固有性质⼤都取决于物质的电⼦结构、原⼦结构和化学键结构。
材料结构表征的三⼤任务及主要测试技术:1、化学成分分析:除了传统的化学分析技术外,还包括质谱(MC)、紫外(UV)、可见光、红外(IR)光谱分析、⽓、液相⾊谱、核磁共振、电⼦⾃旋共振、⼆次离⼦⾊谱、X射线荧光光谱、俄歇与X射线光电⼦谱、电⼦探针等。
如质谱已经是鉴定未知有机化合物的基本⼿段;IR在⾼分⼦材料的表征上有着特殊重要地位;X射线光电⼦能谱(XPS)是⽤单⾊的X射线轰击样品导致电⼦的逸出,通过测定逸出的光电⼦可以⽆标样直接确定元素及元素含量。
2、结构测定:主要以衍射⽅法为主。
衍射⽅法主要有X射线衍射、电⼦衍射、中⼦衍射、穆斯堡谱等,应⽤最多最普遍的是X射线衍射。
在材料结构测定⽅法中,值得⼀提的是热分析技术。
3、形貌观察:光学显微镜、扫描电⼦显微镜、透射电⼦显微镜、扫描隧道显微镜、原⼦⼒显微镜。
第⼆章X射线衍射分析1、X射线的本质是电磁辐射,具有波粒⼆像性。
X射线的波长范围:0.01~100 ? 或者10-8-10-12 m 1 ?=10-10m(1)波动性(在晶体作衍射光栅观察到的X射线的衍射现象,即证明了X射线的波动性);(2)粒⼦性(特征表现为以光⼦(光量⼦)形式辐射和吸收时具有的⼀定的质量、能量和动量)。
2、X射线的特征:①X射线对物质有很强的穿透能⼒,可⽤于⽆损检测等。
②X射线的波长正好与物质微观结构中的原⼦、离⼦间的距离相当,使它能被晶体衍射。
晶体衍射波的⽅向与强度与晶体结构有关,这是X射线衍射分析的基础。
③X射线光⼦的能量与原⼦内层电⼦的激发能量相当,这使物质的X射线发射谱与吸收谱在物质的成分分析中有重要的应⽤。
⼀、X射线的产⽣1.产⽣原理⾼速运动的电⼦与物体碰撞时,发⽣能量转换,电⼦的运动受阻失去动能,其中⼀⼩部分(1%左右)能量转变为X射线,⽽绝⼤部分(99%左右)能量转变成热能使物体温度升⾼。
《材料结构表征及应用》思考题

第二章1、什么是贝克线?其移动规律如何?有什么作用?在两个折射率不同的物质接触处,可以看到比较黑暗的边缘,在这轮廓附近可以看到一条比较明亮的线细线,当升降镜筒时,亮线发生移动,这条明亮的细线称为贝克线。
贝克线的移动规律:提升镜筒,贝克线向折射率大的介质移动。
根据贝克线的移动,可以比较相邻两晶体折射率的相对大小。
2、单偏光镜和正交偏光镜有什么区别?单偏光下和正交偏光下分别可以观察哪些现象?单偏光(仅使用下偏光)下可以观察晶体的形态、结晶习性、解理、颜色以及突起、糙面、多色性和吸收性,比较晶体的折光率(贝克线移动),用油浸法测定折光率等,对矿物鉴定十分重要。
正交偏光镜:联合使用上、下偏光镜,且两偏光镜的振动面处于互相垂直位置。
可看到消光现象、球晶。
第三章1.电子透镜的分辨率受哪些条件的限制?透镜的分辨率主要取决于照明束波长儿其次还有透镜孔径半角和物方介质折射率。
2.透射电镜主要分为哪几部分?电子光线系统(镜筒)、电源系统、真空系统和操作控制系统。
3.透射电镜的成像原理是什么?透射电镜,通常采用热阴极电子枪来获得电子束作为照明源。
热阴极发射的电子,在阳极加速电压的作用下,高速穿过阳极孔,然后被聚光镜会聚成具有一定直径的束斑照到样品上。
具有一定能量的电子束与样品发生作用,产生反映样品微区厚度、平均原子序数、晶体结构或位向差别的多种信息。
透过样品的电子束强度,其取决于这些信息,经过物镜聚焦放大在其平面上形成一幅反映这些信息的透射电子像,经过中间镜和投影镜进一步放大,在荧光屏上得到三级放大的最终电子图像,还可将其记录在电子感光板或胶卷上。
4.请概述透射电镜的制样方法。
支持膜法,复型法、晶体薄膜法和超薄切片法。
高分子材料必要时还需染色、刻蚀。
5.扫描电镜的工作原理是什么?由三极电子枪发射出来的电子束,在加速电压作用下,经过2〜3个电子透镜聚焦后,在样品表面按顺序逐行进行扫描,激发样品产生各种物理信号,如二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线、俄歇电子等。
物质结构的表征方法

物质结构的表征方法一、按表征任务分类材料结构的表征就其任务来说主要有三个,即成分分析、结构测定和形貌观察。
1.1 化学成分分析材料的化学成分分析除了传统的化学分析技术外,还包括质谱、紫外、可见光、红外光谱分析,气、液相色谱,核磁共振,电子自旋共振、X射线荧光光谱、俄歇与X射线光电子谱、二次离子质谱,电子探针、原子探针(与场、离子显微镜联用)、激光探针等。
在这些成分分析方法中有一些已经有很长的历史,并且已经成为普及的常规的分析乎段。
如质谱已是鉴定未知有机化合物的基本手段之一,其重要贡献是能够提供该化合物的分子量和元素组成的信息。
色谱中特别是裂解气相色谱( PGC)能较好显示高分子类材料的组成特征,它和质谱、红外光谱、薄层色谱,凝胶色谱等的联用,大大地扩展了其使用范围。
红外光谱在高分子材料的表征上有着特殊重要地位。
红外光谱测试不仅方法简单,而且也由于积累了大量的已知化合物的红外谱图及各种基团的特征频率等数据资料而使测试结果的解析更为方便。
核磁共振谱虽然经常是作为红外光谱的补充,但其对聚合物的构型及构象的分析,对于立构异构体的鉴定,对于共聚物的组成定性、定量及序列结构测定有着独特的长处。
许多信息是其他方法难以提供的。
需要特别提及的是,近年来由于对材料的表面优化处理技术的发展,对确定表面层结构与成分的测试需求迫切。
一种以X射线光电子能谱、俄歇电子能谱、低能离子散射谱仪为代表的分析系统的使用日益重要。
其中X射线光电子能谱(XPS)也称为化学分析光电子能谱(ESCA),是用单色的软X射线轰击样品导致电子的逸出,通过测定逸出的光电子可以无标样直接确定元素及元素含量。
对于固体样品,XPS可以探测2~20个原子层深度的范围。
目前已成为从生物材料、高分子材料到金属材料的广阔范围内进行表向分析的不可缺少的工具之一:俄歇电子能谱(AES)是用一束汇聚电子束,照射固体后在表面附近产生了二次电子。
由于俄歇电子在样品浅层表面逸出过程中没有能量的损耗,因此从特征能量可以确定样品元素成分,同时能确定样品表面的化学性质。
材料结构表征与应用ppt课件

固体样品探 测深度
约0.4~2nm(俄歇电 约0.5~2.5nm(金属 子能量50~2000eV范 及金属氧化物);约 围内)(与电子能量 4~10nm(有机化合 及样品材料有关) 物和聚合物)。
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X射线衍射(X-ray diffraction,XRD)
XRD ,通过对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱, 获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态 等信息的研究手段。
XRD可以做定性,定量分析。即可以分析合金里面的相 成分和含量,可以测定晶格参数,可以测定结构方向、 含量,可以测定材料的内应力,材料晶体的大小等等。 一般主要是用来分析合金里面的相成分和含量。
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三种组织分析手段的比较
扫描探针显微镜 扫描电子显微镜
观察倍率 ×10000000 ×1000000
×100000
×10000
光学显微镜
×1000
×100
分辨率
1000 0 10
1000 1
×10
100
10
1
0.1 nm
0.1
0.01
0.001 0.0001 μm
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光学和电子显微镜
光学显微镜是利用光学原理,把人眼所不能分 辨的微小物体放大成像,以供人们提取微细结 构信息的光学仪器
应力分析等; (2)相变过程与产物的X射线研究:相变过程中产物
(相)结构的变化及最终产物、工艺参数对相变的影 响、新生相与母相的取向关系等; (3)固溶体的X射线分析:固溶极限测定、点阵有序化 (超点阵)参数、短程有序分析等; (4)高分子材料的X射线分析:高聚物鉴定、晶态与非 晶态及晶型的确定、结晶度测定、微晶尺寸测定等。
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关于点阵、倒易点阵及厄瓦尔德球
(1) 晶体结构是客观存在,点阵是一个数学抽象。晶体点 阵是将晶体内部结构在三维空间周期平移这一客观事实的 抽象,有严格的物理意义。 (2) 倒易点阵是晶体点阵的倒易,不是客观实在,没有特 定的物理意义,纯粹为数学模型和工具。 (3) 厄瓦尔德球本身无实在物理意义,仅为数学工具。但 由于倒易点阵和反射球的相互关系非常完善地描述了X射 线在晶体中的衍射,故成为有力手段。 (4) 如需具体数学计算,仍要使用布拉格方程。
一个电子对X射线的散射
电子在入射X射线电场矢量的作用下产生受迫振动而被加速,同时作为 新的波源向四周辐射与入射线频率相同并且具有确定相位关系的电磁波。 汤姆逊根据经典动力学导出,一个电荷为e,质量为m的自由电子,在强度 为I0的偏振X射线作用下,距其R处的散射波强度为:
布拉格定律的讨论—限制条件
由布拉格公式2dsinθ = nλ可知,sinθ = nλ/2d,因sinθ < 1,故nλ/2d < 1。 为使物理意义更清楚, 现考虑n = 1(即1级反射)的情 况,此时λ/2 < d, 这就是能产生衍射的限制制条件。
它说明用波长为的X射线照射晶体时,晶体中只有面间 距d > λ/2的晶面才能产生衍射。
X射线的强度
X射线衍射理论能将晶体结构与衍射花样有机地联系起来,
它包括衍射线束的方向、强度和形状。
衍射线束的方向由晶胞的形状大小决定, 衍射线束的强度由晶胞中原子的位置和种类决定, 衍射线束的形状大小与晶体的形状大小相关。 下面我们将从一个电子、一个原子、一个晶胞、一个晶体、 粉末多晶循序渐进地介绍它们对X射线的散射,讨论散射波 的合成振幅与强度。
面间距为dHKL的晶面不一定是晶体中的 原子面,而是为了简化布拉格公式而引入的 反射面,常将它称为干涉面。 干涉指数有公约数n,而晶面指数只能是 互质的整数。当干涉指数也互为质数时,它 就代表一组真实的晶面,因此,干涉指数为 晶面指数的推广,是广义的晶面指数。
晶面间距
晶面间距是指两个相邻的平行晶面间的垂直距离,通常用 dhkl或简写为d来表示。各晶系的面间距有不同的公式,如:
布拉格方程的导出
首先考虑一层原子面上散射X射线的干涉。当X射线以θ角入射到原 子面并以β角散射时,相距为a的两原子散射x射的光程差为:
a(cos cos )
当光程差等于波长的整数倍(nλ)时 ,在 角方向散射干涉加强。 即程差δ = 0,从上式可得 θ = β。也就是说, 当入射角与散射角相等时, 一层原子面上所有散射波干涉将会加强。与可见光的反射定律相类似, X射线从一层原子面呈镜面反射的方向,就是散射线干涉加强的方向, 因此,常将这种散射称从晶面反射。
S0 r H a K b L c
衍射矢量实际上相当于倒易矢量。
厄瓦尔德图解
衍射矢量方程可以用等腰矢 量三角形表达,它表示产生衍射 时,入射线方向矢量S0/λ衍射线 方向矢量S/λ和倒易矢量r*之间 的几何关系。这种关系说明,要 使(HKL)晶面发生反射,入射 线必须沿一定方向入射, 以保 证反射线方向的矢量S/λ端点恰 好落在倒易矢量r*的端点上,即 S/λ的端点应落在HKL 倒易点上。
线光谱学。该法除可进行光谱结构的研究外,从X射线的波长 还可确定试样的组成元素。电子探针就是按这原理设计的。
矢量衍射方程
X射线照射晶体产生的衍 射线束的方向,不仅可以用布 拉格定律描述,在引入倒易点 阵后,还能用衍射矢量方程描 述。
S - S0
在图中,P为原子面,N 为它的法线。假如一束X射线 被晶面反射,入射线方向的单 位矢量为S0,衍射线方向的单 位矢量为S,则称S - S0为衍射 矢量。
布拉格定律的讨论—干涉面和干涉指数
布拉格方程中的n称为反射级 数。由两个平行晶面反射出的X射 线束,其波程差用波长去量度所 得的整份数就等于n。假设X射线 照射到晶体的(100)面,而刚好 能发生二级反射,则: 2d100sinθ = 2λ (1)
假设在每两个(100)晶面中间插入一组原子分布与之完 全相同的面(200),此时相当于(200)发生了一级反射,则 有:2d200sinθ = λ 又可以写作:2 (d100/2) sinθ = 2λ 式(1)(2)相当。 (2)
3.则与反射球相交的倒易点所 对应的晶面均可产生衍射;
4.反射球球心C与倒易点的连线 即为衍射方向。
如果没有倒易点落在球面上,则无衍射发生。
为使衍射发生,常采用三种方法。
1. 用单色X射线照射转动晶体,相当于倒易点阵在运动,使反射球 永远有机会与某些倒易结点相交。该法称为转动晶体法或周转晶体法。 晶体绕晶轴旋转相当于其倒易点阵围绕过原点O并与反射球相切的 一根轴转动,于是某些结点将瞬时地通过反射球面。 凡是倒易矢量r*值小于等于反射球直径(r * = 1/d ≤ 2/λ )的那些 倒易点,都有可能与球面相遇而产生衍射。
布拉格定律的讨论—干涉面和干涉指数
为了使用方便, 常将布拉格公式改写成。
d hkl 2 sin n
如令 d HKL
d hkl n ,则
2d HKL sin
这样由(hkl)晶面的n级反射,可以看成由 面间距为的(HKL)晶面的1级反射,(hkl) 与(HKL)面互相平行。
布拉格定律的讨论—干涉面和干涉指数
2. 用连续X射线照射固定不动的单晶体。由于连续X射线有一定的波 长范围,因此就有一系列与之相对应的反射球连续分布在一定的区域,凡 是落在这个区域内的倒易结点都满足衍射条件。这种情况也相当于反射球 在一定的范围内运动,从而使反射球永远有机会与某些倒易节点相交。该 法称为单晶劳厄法。
连续谱的波长有一个范围,从λ0 (短波限)到λm。右图为零层倒易点阵 以及两个极限波长反射球的截面。 大球以B为中心,其半径为λ0的倒 数;小球以A为中心,其半径为λm的倒 数。在这两个球之间,以线段AB上的点 为中心有无限多个球,其半径从(BO) 连续变化到(AO)。凡是落到这两个球 面之间的区域的倒易结点,均满足布拉 格条件,它们将与对应某一波长的反射 球面相交而获得衍射。
例如的一组晶面间距从大到小的顺序:2.02Å,1.43Å, 1.17Å,1.01 Å,0.90 Å,0.83 Å,0.76 Å……当用波长为 λkα = 1.94Å的铁靶照射时,因λkα/2 = 0.97Å,只有四个d大 于它,故产生衍射的晶面组有四个。如用铜靶进行照射, 因λkα/2 = 0.77Å, 故前六个晶面组都能产生衍射。
厄瓦尔德图解
厄瓦尔德将等腰三角形置
于圆中便构成了非常简单的衍 射方程图解法。
以入射单位矢量S0/ 起点
C
S/ r*
2
C为中心(晶体所在位置), 以 1/ 为 半 径 作 一 球 面 , 使 S0/ 指向一点O*,称为原点 (倒易点阵原点)。该球称为 反射球(厄瓦尔德球)
S0 /
O*
厄瓦尔德球是三维 的球而非平面圆。 入射、衍射单位矢 量的起点永远处于C点, 末端永远在球面上。 随 2 的 变 化 , 散
3. 用单色X射线照射多晶体试样。多晶体中各晶粒的取向是杂乱分布 的,因此固定不动的多晶体就其晶粒的位向关系而言,相当于单晶体转动 的情况。该法称为多晶体衍射法或粉末法,这也是目前最常用的方法。 多晶体是数量众多的单晶, 是无数单晶体围绕所有可能的 轴取向混乱的集合体。 同一晶面族的倒易矢量长 度相等,位向不同,其矢量端 点构成倒易球面。不同晶面族 构成不同直径的倒易球。 倒易球与反射球相交的圆 环满足布拉格条件产生衍射,这 些环与反射球中心连起来构成 反射圆锥。
D A C
B
布拉格方程的导出
当光程差等于波长的整数倍时,相邻原子面散射波干涉加强
,即干涉加强条件(布拉格方程)为:
2 d s in n
式中:n-整数,“反射”级数(衍射级数)。一组(hkl)随n值 的不同,可能产生n个不同方向的反射线。 θ-掠射角、布拉格角、半衍射角。2θ称为衍射角。 d-晶面间距,λ-X射线波长。 这个关系式首先由布拉格父子导出,故称为布拉格方程。同 时期俄国晶体学家吴里夫(BУЈІБФ.T.B.)也独立地推导出
布拉格方程的应用
布拉格方程是X射线衍射分布中最重要的基础公式,它形 式简单,能够说明衍射的基本关系,所以应用非常广泛。从实 验角度可归结为两方面的应用: 一方面是用已知波长的X射线去照射晶体,通过衍射角的 测量求得晶体中各晶面的面间距d,这就是结构分析—— X射 线衍射学;
另一方面是用一种已知面间距的晶体来反射从试样发射出 来的X射线,通过衍射角的测量求得X射线的波长,这就是X射
了这个关系式,因此也称之为吴里夫-布拉格方程。
布拉格定律的讨论—选择反射
X射线在晶体中的衍射,实质上是晶体中各原子相干散 射波之间互相干涉的结果。但因衍射线的方向恰好相当于原 子面对入射线的反射,故可用布拉格定律代表反射规律来描 述衍射线束的方向。
在以后的讨论中,常用“反射”这个术语描述衍射问题, 或者将“反射”和“衍射”作为同义词混合使用。 但应强调指出,X射线从原子面的反射和可见光的镜面 反射不同,前者是有选择地反射,其选择条件为布拉格定律; 而一束可见光以任意角度投射到镜面上时都可以产生反射, 即反射不受条件限制。 因此,将X射线的晶面反射称为选择反射,反射之所以 有选择性,是晶体内若干原子面反射线干涉的结果。
2
2 H 2 K 2
a2
L2 2 c
K 2 L2 2 •斜方晶系 sin 2 2 2 4 a b c
2 H 2
从上面三个公式可以看出,波长选定后,不同晶系或同一晶系而 晶胞大小不同的晶体,其衍射线束的方向不相同。因此,研究衍射线 束的方向,可以确定晶胞的形状大小。另外,从上述三式还能看出, 衍射线束的方向与原子在晶胞中的位置和原子种类无关,只有通过衍 射线束强度的研究,才能解决这类问题。