材料结构的表征

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第四章 材料结构的表征20190515

第四章 材料结构的表征20190515
*晶态材料,应用射线结晶学等方法取得其晶体结 构方面的信息;
*固体材料进行组成鉴定和结构测定(晶态还是非 晶态)之后,还必须接着进行下列工作:
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a.晶态材料——确定是单晶还是多晶 多晶——确定晶粒的数目、大小、形状和分布的情况。 b.晶体结构的类型、点阵常数等。 c.晶体缺陷的性质、数目和分布以及晶格畸变 的情况; d.固体中结合键的类型和键力大小; e.杂质的含量及分布情况; f.表面结构,包括任何组成上的非均匀性或吸附的表面层。
细粉末压片或块。 为了获得样品的“平均”定量结果,可使电子束扫描几个
较大区域,并取不同区域的平均值。
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5、标样要求
在微米区域内成分均匀,成分准确; 物理和化学性能稳定;在真空中电子束轰击下稳定; 颗粒直径不小于0.2mm。
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6、EDS分析方法
(1) 点分析
● 将电子束固定在试样感兴趣的点上,进行定性或定 量分析。可对材料晶界、夹杂、析出相、沉淀物、 及材料的组成(扫描多个较大区域)等分析。
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(3)I=1/2的原子核 1H,13C,19F,31P
原子核可看作核电荷均匀分布的球体,并象陀 螺一样自旋,有磁矩产生,是核磁共振研究的主要 对象,C,H也是有机化合物的主要组成元素。
自旋量子数 I=1/2的原 子核(氢核),可当作电 荷均匀分布的球体,绕自 旋轴转动时,产生磁场, 类似一个小磁铁。
如果在相同的电子探针分析条件下,同时测量试样和标样
中A元素的同名X射线(如Kα)强度,经过修正计算,就可以
得出试样中A元素的相对百分含量CA:
CA
=(ZAF) I A I ( SA)
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4、试样要求
电子探针WDS分析需制备抛光的平试样,否则定量分析 误差较大,而EDS分析可采用如颗粒、断口及不能破坏的 零件等粗糙试样。虽然定量准确度较差,但许多情况下可 以满足要求。

材料化学导论第三章 材料结构的表征

材料化学导论第三章 材料结构的表征

.
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差热分析曲线反映了所测试样在不同的温度范 围内发生的一系列伴随热现象的物理或化学变化。 凡是有热量变化的物理和化学现象多可以借助于差 热分析的方法来进行精确的分析,并能定量地加以 描绘。
第三章
材料结构的表征
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1
材料的设计、制备和表征是材料研究的三个组
成部分,材料设计的重要依据来源于材料的结构分
析。材料制备的实际效果必须通过材料结构分析的
检验。因此可以说,材料科学的进展极大的依赖于
对材料结构分析表征的水平。
材料结构表征的主要手段:
热分析技术
显微技术
X射线衍射技术
波谱技术
材料结构的表征就其任务来说主要有三个:成分
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随后根据压力信号的变化,自动气体转换开关会
立即与空气气流接通,此时因聚苯醚分解产生的短链
碳化合物立即氧化成CO2,在TG曲线中出现第二个失重 台阶,对应的失重量约为29.50%。
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最后在712.4℃以上温度获得以稳定的平台,说 明剩余的残渣为惰性的无机填料或灰分,其质量含 量约为5.44%。因此由热重法测定获得的分析结果为: 聚苯醚65.31%,含碳量29.50%,残渣含量5.44%。
分析、结构测定、形貌观察。
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2
第一节 热分析技术
热分析:在程序控制温度条件下,测量材料物 理性质与温度之间关系的一种技术。从宏观性能的 测试来判断材料结构的方法。
程序控制温度:指用固定的速率加热或冷却。
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3
热分析技术被广泛用于固态科学中,凡是与热 现象有关的任何物理和化学变化都可以采取热分析 方法进行研究。如材料的固相转变、熔融、分解甚 至材料的制备等。同时,这些变化还能被定量的描 绘,可以直接测量出这些变化过程中所吸收或放出 的能量,如熔融热、结晶热、反应热、分解热、吸 附或解吸热、比热容、活化能、转变熵、固态转变 能等。

材料结构表征

材料结构表征

X射线的特殊属性(1)能穿透黑纸及许多可见光不能穿透的物体。

(2)始终沿直线进行传播(不受电场、磁场影响)。

(3)肉眼不能识别,但能使底片感光,使物质原子外层电子跃迁产生可见光,能杀死生物细胞。

X 射线产生过程:钨丝(加热,高压)下产生自由电子,通过电子枪聚焦,经过高电场产生加速,电子撞击靶极(阳极),动能转化成热能及X射线。

其中热能由冷却水带走,产生的X射线可分为连续X射线、特征X射线。

晶体;原子(或分子)在三维空间作有规则的周期性重复排列的材料。

长程有序、有固定熔点、各相异性、自范性抽象出排列周期,物质点抽象为几何点称结点或等同点,结点在三维作周期排列构成空间点阵晶体结构=空间点阵+结构基元晶胞:为说明点阵排列的规律和特点,在点阵中取出一个具有代表性的基本单元(通常取最小的平行六面体)作为点阵的组成单元,称为晶胞。

•晶向:空间点阵中的结点直线•晶面:空间点阵中的结点平面•Miller(密勒)指数统一标定晶向指数和晶面指数确定晶面指数的方法•1、在以基矢abc构成的晶胞内,量出一个晶面在三个基矢上的截距,并用基矢长度abc为单位度量;•2、写出三个分数截距的倒数;•3、将三个倒数化为三个互质整数,并用小括号括起,即为该组平行晶面的晶面指数。

当一束X 射线以特定方向入射至某一晶体点阵结构时,在晶体背面底片上产生有规律分布的衍射斑点,称该现象为X射线衍射。

原因:由于晶体中原子在晶体中周期排列,由相邻不同原子产生的X射线散射线相互间存在固定位相关系,在空间特定方向产生干涉,使某些方向加强,某些方向则减弱。

2d sinθ=nλd- 晶面间距θ-掠射角(与晶面夹角)λ-波长n=0, ±1,±2,…产生衍射的极限条件•由布拉格公式2dsinθ=nλ可知,sinθ=nλ/2d,因sinθ<1,故nλ/2d <1。

•为使物理意义更清楚,现考虑n=1(即1级反射)的情况,此时λ/2<d,这就是能产生衍射的限制制条件。

3材料结构的表征讲解

3材料结构的表征讲解
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材料化学
材料结构的表征
*晶态材料,应用射线结晶学等方法取得其晶体结 构方面的信息; *固体材料进行组成鉴定和结构测定(晶态还是非 晶态)之后,还必须接着进行下列工作: a.晶态材料——确定是单晶还是多晶 多晶——确定晶粒的数目、大小、形状和分 布的情况。 b.晶体结构的类型、点阵常数等。
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材料化学
材料结构的表征
2.2 差热分析和差示扫描量热分析 差热分析(DTA,differentialthermal analysis) 在温度程序控制下测量试样与参比物之间的 温度差随温度或时间的变化的一种热分析技术。
参比物:整个实验温度范围内没有任何热效应,其导热系 数、比热等物理参数尽可能与试样相同,亦称 惰性物质或标准物质或中性物质。
2
材料化学
材料结构的表征
材料结构表征的内容 *晶体结构的研究和表征 化学成分相同,但晶体结构不同,或相组成不同时, 材料性能往往不同。而晶体结构相同的材料,由于局部 点阵常数的改变,有些场合也是材料特性变化的重要因 素。晶体中的缺陷、各种类型的固溶体、烧结体及合金 晶界附近原子排列的无序等都会导致局部晶格畸变。所 以测定点阵常数,可以帮助我们了解晶体内部微小的变 化以及它们对材料特性产生的影响。晶体结构、点阵常 数可用X射线衍射和电子衍射等实验手段进行研究和表征。
等温质量变 化的测定 热重法(TG) 动态 方法 微分热重法 (DTG)
记录物质的平衡质量在 挥发性产物的恒定分压 下随温度(T)的变化 记录物质在恒温下质 量对时间的依赖关系 记录物质在受控速率下加热 或冷却的环境中质量随时间 或温度变化的一种方法 是获得热重曲线对时 间或温度的一阶导数 的一种方法变化
如果试样加热过程这中无热效应产电势的正负,推知是吸热或放 热效应.在与参比物质对应的热电偶的冷端连接上温度指示装

材料学中的材料结构与性能表征

材料学中的材料结构与性能表征

材料学中的材料结构与性能表征引言材料学作为一门研究材料结构与性能的学科,对于现代科技和工程领域的发展起着至关重要的作用。

材料的结构与性能表征是材料学研究的核心内容之一,通过对材料的结构进行分析和表征,可以深入了解材料的性能特点,为材料的设计、制备和应用提供科学依据。

本教案将从材料结构与性能表征的基本原理、常用表征方法以及应用案例等方面进行论述,旨在帮助学生全面了解材料学中的材料结构与性能表征。

一、材料结构与性能的关系1.1 结构对性能的影响材料的结构是决定其性能的重要因素之一。

不同的结构特征会导致材料具有不同的物理、化学和力学性质。

例如,晶体结构的不同会影响材料的硬度、导电性和热导率等性能。

因此,了解材料的结构特征对于预测和改善材料性能至关重要。

1.2 结构与性能的相互作用材料的性能也会反过来影响其结构特征。

例如,材料的应力状态和温度会引起晶体结构的变化,从而改变材料的力学性能。

此外,材料的化学环境和加工工艺等因素也会对结构和性能产生重要影响。

因此,研究材料的结构与性能之间的相互作用是材料学研究的重要课题之一。

二、材料结构的表征方法2.1 光学显微镜观察光学显微镜是最常用的材料结构表征工具之一。

通过对材料的显微观察,可以获取材料的形貌、晶体结构和相组成等信息。

此外,还可以利用偏光显微镜观察材料的光学性质,如双折射现象和偏光图样等。

2.2 电子显微镜观察电子显微镜是一种高分辨率的材料结构表征工具,包括扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)。

SEM可以观察材料的表面形貌和微观结构,而TEM可以观察材料的原子尺度结构和晶体缺陷等。

2.3 X射线衍射分析X射线衍射是一种利用材料对X射线的衍射现象来研究其结构特征的方法。

通过测量材料的衍射图样,可以确定材料的晶体结构、晶格参数和晶体取向等信息。

此外,X射线衍射还可以用于分析材料的晶体缺陷和相变等现象。

2.4 核磁共振谱学核磁共振谱学是一种通过测量材料中原子核的共振信号来研究其结构和化学环境的方法。

《材料结构的表征》课件

《材料结构的表征》课件
《材料结构的表征》PPT 课件
欢迎来到《材料结构的表征》PPT课件!本课程将介绍材料结构的不同表征 方法,包括X射线衍射、电子显微镜技术、原子力显微镜技术等。
1. X射线衍射
1 原理
X射线通过物质后发生衍 射,通过分析衍射图案来 确定物质结构。
2 应用
X射线衍射广泛应用于晶 体学、材料科学等领域, 可用于分析晶体结构和晶 格参数。
原理
通过测量物质对不同波长的红外辐射的吸收、发射或散射,来确定物质的成分和结构。
应用
红外光谱广泛应用于化学、材料科学等领域,可用于鉴定化合物和分析有机物的功能基团。
示例
通过红外光谱可以鉴定食品中的添加剂,如防腐剂、甜味剂等。
5. 核磁共振
原理 应用 示例
核磁共振通过测量物质中原子核的能级跃迁和自 旋相互作用,得到原子核的谱线信息。
通过测量束缚与散射电子的能量 分布,研究材料表面的次表面组 分。
在湿润、低真空等环境下观察样品的显微结构。
3. 原子力显微镜技术
ห้องสมุดไป่ตู้
扫描隧道显微镜(STM)
原子力显微镜(AFM)
磁力显微镜
利用针尖与样品之间的隧道效应, 实现原子级别的表面成像。
通过感知样品表面的原子力变化, 实现高分辨率的微观成像。
利用样品表面的磁场分布,观察 磁性材料的磁场图像。
4. 红外光谱
3 示例
通过X射线衍射技术可以 确定金属合金中不同相的 含量和相间距离。
2. 电子显微镜技术
1
扫描电子显微镜(SEM)
利用射出的电子束与样品表面的相互作用,获取高分辨率的表面形貌信息。
2
透射电子显微镜(TEM)
通过射入样品的电子束与样品内部的相互作用,获取材料的内部结构信息。

材料结构表征及应用

材料结构表征及应用

材料结构表征及应用
材料结构表征及应用
材料结构表征是指材料结构特性之间的相互关系,它们决定了材料的性能。

材料结构表征包括材料的尺寸、形状、结构层次和热效应,这些结构特性可以通过材料的物理性能和机械性能来表示。

近年来,材料结构表征正变得越来越重要,在工业生产中得到了广泛应用。

材料结构表征对于提高材料性能和研发新材料至关重要。

材料结构表征可以更好地识别材料的特性,如耐磨性、耐腐蚀性和热稳定性,从而更好地满足应用材料的要求。

同时,材料结构表征还可以帮助研发新型材料,用于更多的应用领域。

材料结构表征在工业上被广泛应用,能够有效提高材料的性能。

它可以更准确地测量材料的厚度、宽度、形状和硬度,并用来检测材料表面缺陷、分析材料缺陷等,可以有效提高材料的效率和使用寿命。

同时,它还可以用来检测和控制工艺参数,如温度、时间和压力,以满足特定应用需求,并确保产品的高质量。

材料结构表征应用于许多不同领域,如航空航天、汽车制造、船舶制造、军事器材以及电子产品等,可以明显提升该领域的性能和效率。

此外,它还可以精确地测量金属材料、复合材料和非金属材料,以便在工业应用中更好地优化工艺,实现更高的性能。

材料结构表征是一项重要的技术,被广泛应用在工业生产中。

它提供了一种可靠的方式来测量材料的结构,可以明显提高材料的效率和使用寿命,满足工业需求,有助于提高整体的生产效率。

材料表征方法

材料表征方法

材料表征方法一、引言。

材料表征是材料科学研究中的一个重要环节,通过对材料进行表征可以了解材料的结构、性能和特性,为材料的设计、合成和应用提供重要依据。

本文将介绍常见的材料表征方法,包括显微结构表征、物理性能表征和化学性能表征。

二、显微结构表征。

1. 光学显微镜。

光学显微镜是最常用的显微结构表征方法之一,通过光学显微镜可以观察材料的表面形貌和微观结构,了解材料的晶体形态、晶粒大小和分布等信息。

2. 电子显微镜。

电子显微镜包括扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM),能够观察材料的微观形貌和晶体结构,对材料的晶体学性质进行详细表征。

三、物理性能表征。

1. X射线衍射。

X射线衍射是一种常用的物理性能表征方法,通过分析材料对X射线的衍射图样,可以得到材料的晶体结构信息,包括晶格常数、晶面指数和结晶度等。

2. 热分析。

热分析是通过对材料在不同温度下的热学性质进行测试,包括热重分析(TGA)、差热分析(DSC)和热膨胀分析(TMA),可以得到材料的热稳定性、热容量和热传导性等信息。

四、化学性能表征。

1. 质谱分析。

质谱分析是一种常用的化学性能表征方法,通过对材料中各种化合物的质谱进行分析,可以确定材料的组成和结构,了解材料的化学成分和分子结构。

2. 红外光谱。

红外光谱可以用于表征材料的化学成分和分子结构,通过分析材料在红外光谱下的吸收特征,可以得到材料中各种官能团的信息,包括羟基、羰基和氨基等。

五、结语。

材料表征是材料科学研究中的重要内容,通过对材料的显微结构、物理性能和化学性能进行全面表征,可以为材料的设计、合成和应用提供重要依据。

本文介绍了常见的材料表征方法,希望能够对材料科学研究者有所帮助。

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第三章
材料的表征
材料的设计、制备和表征是材料研究的三个组
成部分,材料设计的重要依据来源于材料的结构分
析。材料制备的实际效果必须通过材料结构分析的
检验。因此可以说,材料科学的进展极大的依赖于
对材料结构分析表征的水平。
材料表征的主要手段:
热分析技术
显微技术
X射线衍射技术
波谱技术
材料的表征就其任务来说主要有三个:成分
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4
差示扫描量热仪
功率补偿型DSC的主要特点是试样和参比物分别
具有独立的加热器和传感器,整个仪器由两个控制
电路进行监控。其中一条控制温度,使样品和参比
物在预定的速率下升温或降温,另一条用于补偿样
品和参比物之间所产生的温差。
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当试样发生热效应时,比如放热,试样温度高于
参比物温度,放置于它们下面的一组差示热电偶产生
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差热分析曲线反映了所测试样在不同的温度范 围内发生的一系列伴随热现象的物理或化学变化。 凡是有热量变化的物理和化学现象多可以借助于差 热分析的方法来进行精确的分析,并能定量地加以 描绘。
应用:
• 材料的鉴别和成分分析 • 材料相态结构的变化 • 材料的筛选 • 玻璃微晶化热处理 • 玻璃的析晶活化能的测定 • 聚合物热降解分析
Inτ=a×1/T+b
τ-寿命 T-材料的使用温度
计算出a和b值,即得到化纤助剂的寿命公式:
Inτ=7.624×103×1/T-13.172
通过该公式可求出其它温度下的失重10%的寿命值
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二、差热分析(DTA) 在程序控制温度下测定物质和参比物之间的温
度差和温度关系的一种热分析技术。 参比物:
在测定条件下不产生任何热效应的惰性物质。如 α-Al2O3、石英、硅油等。
6
1
进行热重分析的基本仪器为热天平,它包括天 平、炉子、程序控温系统、记录系统等几个部分。
由热重法记录的质量变化对温度的关系曲线称 为热重曲线(TG曲线)。TG曲线以质量为纵坐标,从 上到下表示减少,以温度或时间作横坐标,从左自 右增加。如图。
1—热重曲线
7
2—微分热重曲线 8
热重曲线显示了试样的绝对质量(W)随温度的 恒定升高而发生的一系列变化,如图中从质量W0到 W1,从W1到W2,从W2到0是三个明显的失重阶段,它 们表征了试样在不同的温度范围内发生的挥发性组 分的挥发以及发生的分解产物的挥发,从而可以得 到试样的组成、热稳定性、热分解温度、热分解产 物和热分解动力学等有关数据。
同时还可获得试样的质量变化率与温度关系曲线, 即微分热重曲线(DTG曲线),它是TG曲线对温度的一阶 导数。以物质的质量变化速率dm/dt对温度T作图,所 得的曲线。
9
10
DTG曲线的峰顶即失重速率的最大值,它与TG曲
线的拐点相对应,即样品失重在TG曲线形成的每一个
拐点,在DTG曲线上都有对应的峰。并且DTG曲线上的
应用:
DSC在高分子方面的应用主要有:
• 玻璃化转变温度Tg
• 分解温度
• 混合物和共聚物的组成
• 结晶温度Tc
• 结晶度Xc
• 增塑剂的影响
• 固化过程的研究
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第二节、显微技术
显微技术是一种直观表征材料微观外貌的方法, 显微技术是采用显微镜作为工具来进行材料分析, 最常用的显微镜有:
光学显微镜 透射电子显微镜 扫描电子显微镜 显微镜一般观察的对象是某一材料的表面或断面, 有时也可以是专门的制样,如切片等。光学显微镜分 辨率大于200nm,可观察到材料的裂纹、裂缝、气泡等。 电子显微镜具有更高的分辨率,能得到材料的立体表 面形态图像、结晶现象。
分析、结构测定、形貌观察。
1
2
材料组成: 化学分析、X射线能谱仪 材料结构: 1) 晶体结构:单晶(X射线单晶衍射仪)
粉末材料(X射线粉末衍射) 2) 材料显微:光学显微镜(OM)(0.8~150um)
透射电子显微镜(TEM)(0.001~5um) (0.1~0.2nm) 扫描电子显微镜(SEM) 3) 材料谱学:谱学结果可以反映材料中的组成元素原子的成键、价态及性能。 材料性能:热学、力学、电学、光学、磁学、化学、生物医学等性能。 1) 热学:TG、DSC、TM 2)电学:电导、电阻、温度系数、半导体的禁带宽度、电化学、光电化学 3)光学:荧光(化学发光) 4)磁性:
例如:根据一些聚合物在DTA曲线上所具有的特 征熔融吸收峰,对共混聚合物进行鉴定。
22
下图为七种聚合物的DTA曲线。这七种聚合物分别为:1高 压聚乙烯、2低压聚乙烯、3聚丙烯、4聚甲醛、5尼龙6、 6尼龙66和7聚四氟乙烯、
它们在DTA曲线上对应的特征熔融吸收峰峰顶温度分别为
108℃,127℃,165℃,170℃,220℃,257℃,340℃,
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一、透射电子显微镜
透射电子显微镜是由电子枪发射电子束,穿过 被研究的样品,经电子透镜聚焦放大,在荧光屏上 显示出高度放大的物像,还可作摄片记录的电子光 学仪器。它是材料科学研究的重要手段,能提供极 微细材料的组织结构、晶体结构和化学成分等方面 信息。透射电镜的分辨率为0.1~0.2nm,放大倍数 为几万~几十万倍。
热分析技术中,热重法(TG)、差热分析(DTA) 和差示扫描量热法(DSC)应用的最为广泛。
5
一、热重法(TG) 在程序控制温度条件下,测量物质的质量与温度
关系的一种热分析方法。
热重法通常有下列两种类型:
等温热重法—在恒温下测量物质质量变化与时间的 关系
非等温热重法—在程序升温下测量物质质量变化与 温度的关系
峰数目和TG曲线的台阶数目相等。由于DTG曲线上的
峰面积与样品的失重成正比,因此可以从DTG的峰面
积计算出样品的失重量。
11
应用:
1.材料成分测定
热重法测定材料成分 是极为方便的,通过热重 曲线可以把材料尤其是高 聚物的含量、含碳量和灰 分测定出来。
例如测定添加无机填料的聚苯醚的成分时,试样 先在氮气流中加热,达到聚苯醚的分解温度后,聚苯 醚样品开始分解。在TG曲线的455.7-522.7℃温度范 围内,出现一个失重台阶。该台阶对应着聚苯醚的分 解失重量为65.31%。
温差电势,经差热放大器放大后送入功率补偿放大器,
功率补偿放大器自动调节补偿加热丝的电流,使试样
下面的电流Is减小,参比物下面的电流IR增大,从而 降低试样的温度,增高参比物的温度,使试样与参比
物之间的温度始终保持相同。在此条件下测量补偿给
试样和参比物的功率之差随温度的变化。
27
差示扫描量热测定时记录的谱图称之为DSC曲线, 其纵坐标是试样与参比物的功率差dH/dt,也称作热 流率,单位为毫瓦(mW),代表试样放热或吸热的速度。 横坐标为温度(T)或时间(t)。
第一节 热分析技术 热分析:在程序控制温度条件下,测量材料物
理性质与温度之间关系的一种技术。从宏观性能的 测试来判断材料结构的方法。 程序控制温度:指用固定的速率加热或冷却。
4
热分析技术被广泛用于固态科学中,凡是与热 现象有关的任何物理和化学变化都可以采取热分析 方法进行研究。如材料的固相转变、熔融、分解甚 至材料的制备等。同时,这些变化还能被定量的描 绘,可以直接测量出这些变化过程中所吸收或放出 的热量,如熔融热、结晶热、反应热、分解热、吸 附或解吸热、比热容、活化能、转变熵、固态转变 能等。
14
在测定聚氯乙烯中增 塑剂含量的过程中,先以 每分钟160℃的升温速度 加热,达到200℃后等温 4nim,这4nim足以使98% 增塑剂扩散到样品表面而 挥发掉。这一阶段主要是 增塑剂的失重过程,失重 约29%。然后用每分钟80℃的升温速度加热,并且在 200℃以后通过气体转换阀将氮气流转化为氧气,以 保证有机物完全燃烧。该阶段主要是聚氯乙烯的失重 过程,失重约67%,最后剩下惰性无机填料约为3.5%。
21
应用DTA对材料进行鉴别主要是根据物质的相变 (包括熔融、升华和晶型转变)和化学反应(包括 脱水、分解和氧化还原等)所产生的特征吸热和放 热峰。有些材料常具有比较复杂的DTA曲线,虽然有 时不能对DTA曲线上所有的峰作出解释,但是它们像 “指纹”一样表征着材料的种类。
例如:根据石英的相态转变的DTA峰温可用于检 测天然石英和人造石英之间的差异
例如:玻璃化转变温度Tg的测定
绝大多数聚合物材料通常可处于以下三种物理 状态玻璃态、高弹态和粘流态。玻璃态时,材料为 为刚性固体状,与玻璃相似,质硬而脆。随着温度 升高,材料表现出高弹性质,此状态即为高弹态, 玻璃态开始向高弹态转变的温度称为玻璃化转变温 度Tg。玻璃化转变温度(Tg)是非晶态聚合物的一个 重要的物理性质,以玻璃化转化温度为界,高分子 聚合物呈现不同的物理性质:在玻璃化温度以下, 高分子材料为塑料;在玻璃化温度以上,高分子材 料为橡胶。
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2
随后根据压力信号的变化,自动气体转换开关会 立即与空气气流接通,此时因聚苯醚分解产生的短链 碳化合物立即氧化成CO2,在TG曲线中出现第二个失重 台阶,对应的失重量约为29.50%。
最后在712.4℃以上温度获得以稳定的平台,说
明剩余的残渣为惰性的无机填料或灰分,其质量含
量约为5.44%。因此由热重法测定获得的分析结果为:
聚苯醚65.31%,含碳量29.50%,残渣含量5.44%。
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2.材料中挥发性物质的测定
在材料尤其是塑料加工过程中溢出的挥发性物质, 即使极少量的水分、单体或溶剂都会产生小的气泡, 从而使产品的外观和性能受到影响。热重法能有效地 检测出在加工前塑料所含有的挥发性物质的总量。
如:聚氯乙烯(PVC)中增塑剂邻苯二辛酯(DOP)的 测定。如图所示:
由此可以鉴别出未知共混物由哪些聚合物共混而成。
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三、差示扫描量热法(DSC)
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